JP2742360B2 - 貨幣パターン検出装置 - Google Patents
貨幣パターン検出装置Info
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- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/005—Testing the surface pattern, e.g. relief
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、現金取引装
置内に用いられる貨幣の真偽判別器に用いて好適な貨幣
パターン検出装置に関する。
置内に用いられる貨幣の真偽判別器に用いて好適な貨幣
パターン検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、貨幣に光を照射し、この反射
像をレンズ等によってイメージセンサ上に結像させて、
貨幣のパターンを読み込む、というパターン検出装置が
知られている。そして、読み込んだパターンを予め記憶
している基準パターンと比較することによって、貨幣の
真偽等が判別されるようになっている。最近では技術の
発達により、読み込むべきパターンが非常に細密化され
るようになり、上述したパターン検出装置にも、このよ
うな細密パターンを正確に読み取ることが要求されてい
る。例えば、500dpiの解像度が要求される場合に
は、パターンを約50×50μmの微小領域に離散化し
て読み込むことが必要となる。
像をレンズ等によってイメージセンサ上に結像させて、
貨幣のパターンを読み込む、というパターン検出装置が
知られている。そして、読み込んだパターンを予め記憶
している基準パターンと比較することによって、貨幣の
真偽等が判別されるようになっている。最近では技術の
発達により、読み込むべきパターンが非常に細密化され
るようになり、上述したパターン検出装置にも、このよ
うな細密パターンを正確に読み取ることが要求されてい
る。例えば、500dpiの解像度が要求される場合に
は、パターンを約50×50μmの微小領域に離散化し
て読み込むことが必要となる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
パターン検出装置にあっては、乱反射による迷光対策が
何らなされていないために、正確なパターン情報を得る
ことができない、という問題があった。つまり、迷光に
よって、イメージセンサによって検出されたパターンの
うちのあるピクセル情報には、対応する貨幣パターンの
微小領域だけでなく、その周辺の微小領域の情報までも
含んでしまうことがあり、この場合、読み込んだパター
ンの検出情報全体が、S/N比の悪いものとなってしま
う、という問題があった。この問題は、貨幣の表面に、
微妙な折れ曲がりや凹凸等が存在する場合に特に顕著と
なる。この発明は上述した問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、細密な貨幣のパターンを
正確に検出することができる貨幣パターン検出装置を提
供することにある。
パターン検出装置にあっては、乱反射による迷光対策が
何らなされていないために、正確なパターン情報を得る
ことができない、という問題があった。つまり、迷光に
よって、イメージセンサによって検出されたパターンの
うちのあるピクセル情報には、対応する貨幣パターンの
微小領域だけでなく、その周辺の微小領域の情報までも
含んでしまうことがあり、この場合、読み込んだパター
ンの検出情報全体が、S/N比の悪いものとなってしま
う、という問題があった。この問題は、貨幣の表面に、
微妙な折れ曲がりや凹凸等が存在する場合に特に顕著と
なる。この発明は上述した問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、細密な貨幣のパターンを
正確に検出することができる貨幣パターン検出装置を提
供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に記載の発明にあっては、貨幣に光を照射
するとともに、その反射光を検出手段により検出して、
この検出情報に基づき前記貨幣のパターンを検出する貨
幣パターン検出装置において、第1の端面からの入射光
を第2の端面から出射するとともに、第2の端面からの
入射光を第3の端面から出射する光ジャイレート手段
と、軸方向の光を透過させる光透過手段と、を具備し、
前記軸方向が前記第2の端面からの出射される光方向と
一致するように、前記光透過手段が前記光ジャイレート
手段と前記貨幣との間に介挿されるとともに、前記貨幣
の反射光が、前記光透過手段を透過し、前記光ジャイレ
ート手段の第2の端面から第3の端面に出射して、前記
検出手段によって検出されることを特徴としている。
に、請求項1に記載の発明にあっては、貨幣に光を照射
するとともに、その反射光を検出手段により検出して、
この検出情報に基づき前記貨幣のパターンを検出する貨
幣パターン検出装置において、第1の端面からの入射光
を第2の端面から出射するとともに、第2の端面からの
入射光を第3の端面から出射する光ジャイレート手段
と、軸方向の光を透過させる光透過手段と、を具備し、
前記軸方向が前記第2の端面からの出射される光方向と
一致するように、前記光透過手段が前記光ジャイレート
手段と前記貨幣との間に介挿されるとともに、前記貨幣
の反射光が、前記光透過手段を透過し、前記光ジャイレ
ート手段の第2の端面から第3の端面に出射して、前記
検出手段によって検出されることを特徴としている。
【0005】また、請求項2に記載の発明にあっては、
請求項1に記載の発明において、前記光透過手段が、そ
の軸方向を第2の端面からの出射される光方向と一致す
るように、前記光ジャイレート手段に組み込まれて配置
され、前記貨幣の反射光が、前記光ジャイレート手段の
第2の端面から入射して前記光透過手段を透過した後に
第3の端面から出射して前記検出手段によって検出され
ることを特徴とする。また、請求項3に記載の発明にあ
っては、請求項1または2に記載の発明において、前記
検出手段、前記光ジャイレート手段および前記光透過手
段を2組備え、前記貨幣の両面のパターンを検出するこ
とを特徴としている。請求項4に記載の発明にあって
は、請求項3に記載の発明において、同一光源による光
を分路して、それぞれ前記光ジャイレート手段に入射さ
せることを特徴としている。
請求項1に記載の発明において、前記光透過手段が、そ
の軸方向を第2の端面からの出射される光方向と一致す
るように、前記光ジャイレート手段に組み込まれて配置
され、前記貨幣の反射光が、前記光ジャイレート手段の
第2の端面から入射して前記光透過手段を透過した後に
第3の端面から出射して前記検出手段によって検出され
ることを特徴とする。また、請求項3に記載の発明にあ
っては、請求項1または2に記載の発明において、前記
検出手段、前記光ジャイレート手段および前記光透過手
段を2組備え、前記貨幣の両面のパターンを検出するこ
とを特徴としている。請求項4に記載の発明にあって
は、請求項3に記載の発明において、同一光源による光
を分路して、それぞれ前記光ジャイレート手段に入射さ
せることを特徴としている。
【0006】
【作用】請求項1、2に記載の発明によれば、貨幣から
の乱反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段に
よって遮断される。さらに、光透過手段を透過した光の
みが、光ジャイレート手段によって検出手段へと導かれ
る。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を受
けることなく、検出手段によって検出されるので、貨幣
の変形情報を含んだ、S/N比の極めて高い検出情報を
得ることが可能である。
の乱反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段に
よって遮断される。さらに、光透過手段を透過した光の
みが、光ジャイレート手段によって検出手段へと導かれ
る。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を受
けることなく、検出手段によって検出されるので、貨幣
の変形情報を含んだ、S/N比の極めて高い検出情報を
得ることが可能である。
【0007】さらに、請求項3に記載の発明によれば、
貨幣の両面パターンを同時に検出することができる。く
わえて、請求項4に記載の発明によれば、光源を共用で
きるので、その分構成が簡単になる。
貨幣の両面パターンを同時に検出することができる。く
わえて、請求項4に記載の発明によれば、光源を共用で
きるので、その分構成が簡単になる。
【0008】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例につ
いて説明する。図1は、この発明による第1の実施例の
要部構成を示す側面図である。この図において、aは、
予め直線偏光された単一波長の平行光束であり、偏光ビ
ームスプリッタ1の外表面に対し0度で入射する。偏光
ビームスプリッタ1は、直角プリズムの斜面どうしを互
いに張り合わせたキューブ状の偏光子であり、キューブ
の外表面に対し0度で入射した無偏光単一波長の光線
を、その張り合わせ面において偏光面が互いに直交する
2つの直線偏光した光線に分岐して、一方の光線を透過
し入射面とは反対の面から出射させるとともに、他方の
光線を入射方向に対し90度反射させて出射させるもの
である。出射される2つの光線の偏光面は、張り合わせ
面のコーティング層によって決定される。ここで、平行
光束aは、その偏光面が、偏光ビームスプリッタ1の入
射面とは反対の面から出射する光線の偏光面と一致する
ように、偏光させられている。
いて説明する。図1は、この発明による第1の実施例の
要部構成を示す側面図である。この図において、aは、
予め直線偏光された単一波長の平行光束であり、偏光ビ
ームスプリッタ1の外表面に対し0度で入射する。偏光
ビームスプリッタ1は、直角プリズムの斜面どうしを互
いに張り合わせたキューブ状の偏光子であり、キューブ
の外表面に対し0度で入射した無偏光単一波長の光線
を、その張り合わせ面において偏光面が互いに直交する
2つの直線偏光した光線に分岐して、一方の光線を透過
し入射面とは反対の面から出射させるとともに、他方の
光線を入射方向に対し90度反射させて出射させるもの
である。出射される2つの光線の偏光面は、張り合わせ
面のコーティング層によって決定される。ここで、平行
光束aは、その偏光面が、偏光ビームスプリッタ1の入
射面とは反対の面から出射する光線の偏光面と一致する
ように、偏光させられている。
【0009】2は1/4波長板であり、その光軸方向
は、偏光ビームスプリッタ1を透過した平行光束aにお
ける電界ベクトルの方向と±45度をなすように設定さ
れている。これにより、偏光ビームスプリッタ1、1/
4波長板を順次透過した平行光束aは直線偏光から円偏
光に変換される。3はファイバープレートであり、軸方
向の光のみを透過させる。4は硬貨であり、その上面に
検出すべきパターンが描かれている。一方、5はレシー
バ・レンズであり、偏光ビームスプリッタ1による反射
光線bを2次元イメージセンサ6に結像させる。ここ
で、前記偏光ビームスプリッタ1と1/4波長板2と
は、光ジャイレート手段20を構成する。すなわち、光
ジャイレート手段20は、偏光ビームスプリッタ1の一
外表面である第1の端面20aからの入射光を1/4波
長板2の一側面である第2の端面20bから出射すると
ともに、この第2の端面20bからの入射光を偏光ビー
ムスプリッタ1の外表面であって前記第1の端面20a
に対して直交する面である第3の端面20cから出射す
るものである。ただし、前記第1の端面20aから入射
する光は、前記したように予め直線偏光された単一波長
の平行光束である。
は、偏光ビームスプリッタ1を透過した平行光束aにお
ける電界ベクトルの方向と±45度をなすように設定さ
れている。これにより、偏光ビームスプリッタ1、1/
4波長板を順次透過した平行光束aは直線偏光から円偏
光に変換される。3はファイバープレートであり、軸方
向の光のみを透過させる。4は硬貨であり、その上面に
検出すべきパターンが描かれている。一方、5はレシー
バ・レンズであり、偏光ビームスプリッタ1による反射
光線bを2次元イメージセンサ6に結像させる。ここ
で、前記偏光ビームスプリッタ1と1/4波長板2と
は、光ジャイレート手段20を構成する。すなわち、光
ジャイレート手段20は、偏光ビームスプリッタ1の一
外表面である第1の端面20aからの入射光を1/4波
長板2の一側面である第2の端面20bから出射すると
ともに、この第2の端面20bからの入射光を偏光ビー
ムスプリッタ1の外表面であって前記第1の端面20a
に対して直交する面である第3の端面20cから出射す
るものである。ただし、前記第1の端面20aから入射
する光は、前記したように予め直線偏光された単一波長
の平行光束である。
【0010】次に、ファイバープレート3の詳細構成に
ついて図2を参照して説明する。この図に示すように、
ファイバープレート3は、微小半径(例えば、50μ
m)の光ファイバMFをマトリクス状に配列し、充分な
厚さを有する板状に形成したものである。また、各光フ
ァイバMFの光軸は、厚さ方向と平行となっている。各
光ファイバMFは、一方の端面において約10度以内で
入射した光を他方の端面から出射するようになってい
る。この際に、ファイバープレート3と硬貨4とを極め
て近接させると、パターンのある微小領域による反射光
が、特定の光ファイバMFのみに入射することになる。
すなわち、パターンの各微小領域が、それぞれ特定の光
ファイバMFに対して1:1の関係となり、各微小領域
の反射光がそれぞれ特定の光ファイバMFにのみ取り込
まれることになる。
ついて図2を参照して説明する。この図に示すように、
ファイバープレート3は、微小半径(例えば、50μ
m)の光ファイバMFをマトリクス状に配列し、充分な
厚さを有する板状に形成したものである。また、各光フ
ァイバMFの光軸は、厚さ方向と平行となっている。各
光ファイバMFは、一方の端面において約10度以内で
入射した光を他方の端面から出射するようになってい
る。この際に、ファイバープレート3と硬貨4とを極め
て近接させると、パターンのある微小領域による反射光
が、特定の光ファイバMFのみに入射することになる。
すなわち、パターンの各微小領域が、それぞれ特定の光
ファイバMFに対して1:1の関係となり、各微小領域
の反射光がそれぞれ特定の光ファイバMFにのみ取り込
まれることになる。
【0011】次に、この実施例の動作について、光線の
偏光状態を中心に説明する。平行光束aの偏光面は、偏
光ビームスプリッタ1の入射面とは反対の面から出射す
る光線の偏光面と一致するように、予め偏光させられて
いるので、平行光束aは偏光ビームスプリッタ1をその
まま透過する。なお、仮に、平行光束aを無偏光状態で
偏光ビームスプリッタ1に入射させると、偏光ビームス
プリッタ1を透過する光線に対しその偏光面に直交する
偏光光線が、2次元イメージセンサとは反対方向に出射
することになる。偏光ビームスプリッタ1を透過した平
行光束aは、前述したように1/4波長板2によって直
線偏光から円偏光に変換される。なお、円偏光の向き
は、1/4波長板の光軸角度によって決定される。
偏光状態を中心に説明する。平行光束aの偏光面は、偏
光ビームスプリッタ1の入射面とは反対の面から出射す
る光線の偏光面と一致するように、予め偏光させられて
いるので、平行光束aは偏光ビームスプリッタ1をその
まま透過する。なお、仮に、平行光束aを無偏光状態で
偏光ビームスプリッタ1に入射させると、偏光ビームス
プリッタ1を透過する光線に対しその偏光面に直交する
偏光光線が、2次元イメージセンサとは反対方向に出射
することになる。偏光ビームスプリッタ1を透過した平
行光束aは、前述したように1/4波長板2によって直
線偏光から円偏光に変換される。なお、円偏光の向き
は、1/4波長板の光軸角度によって決定される。
【0012】次に、円偏光に変換された光束は、ファイ
バプレート3に入射する。このときの入射光束は、すべ
て平行であり、かつその方向が光ファイバMF(図2参
照)の光軸と一致しているので、ファイバープレート3
を全透過し、硬貨4上面のパターンに照射される。
バプレート3に入射する。このときの入射光束は、すべ
て平行であり、かつその方向が光ファイバMF(図2参
照)の光軸と一致しているので、ファイバープレート3
を全透過し、硬貨4上面のパターンに照射される。
【0013】硬貨4に照射された光束は、パターンによ
って入射側とは逆回転の円偏光となって反射し、再びフ
ァイバープレート3に入射する。このとき、図3に示す
ように、硬貨が凸状に変形していると、反射光は乱反射
するが、ファイバープレート3の光軸に一致しないもの
は、ファイバープレート3を透過することができない。
凹状に変形していても同様である。すなわち、変形によ
って生じた乱反射光は、ファイバープレート3によって
遮断され、正反射光のみが透過することになる。ファイ
バープレート3を通過した反射光は、1/4反射板2を
通過する。この1/4反射板2を通過した光は、円偏光
から前記入射直線偏光に直交する直線偏光へと変換され
る。そして、この直線偏光は偏光ビームスプリッタ1に
よって完全に2次元イメージセンサ側へ向かうように反
射される。
って入射側とは逆回転の円偏光となって反射し、再びフ
ァイバープレート3に入射する。このとき、図3に示す
ように、硬貨が凸状に変形していると、反射光は乱反射
するが、ファイバープレート3の光軸に一致しないもの
は、ファイバープレート3を透過することができない。
凹状に変形していても同様である。すなわち、変形によ
って生じた乱反射光は、ファイバープレート3によって
遮断され、正反射光のみが透過することになる。ファイ
バープレート3を通過した反射光は、1/4反射板2を
通過する。この1/4反射板2を通過した光は、円偏光
から前記入射直線偏光に直交する直線偏光へと変換され
る。そして、この直線偏光は偏光ビームスプリッタ1に
よって完全に2次元イメージセンサ側へ向かうように反
射される。
【0014】したがって、この実施例では、平行光束a
を硬貨4に照射させる一方、硬貨4による正反射光のみ
の像を2次元イメージセンサ6に確実に結像させること
ができるので、S/N比の高いパターン情報を得ること
が可能である。さらに、硬貨が変形していた場合には、
ファイバープレート3による乱反射光の遮断によって2
次元イメージセンサ6に結像する光量が減少する。これ
を検出することによって、硬貨の変形を鑑別することも
できる。
を硬貨4に照射させる一方、硬貨4による正反射光のみ
の像を2次元イメージセンサ6に確実に結像させること
ができるので、S/N比の高いパターン情報を得ること
が可能である。さらに、硬貨が変形していた場合には、
ファイバープレート3による乱反射光の遮断によって2
次元イメージセンサ6に結像する光量が減少する。これ
を検出することによって、硬貨の変形を鑑別することも
できる。
【0015】次に、この発明の具体的な実施例について
説明する。図4はこの実施例の構成を示す側面図であ
る。この図において図1と同一部分には同一符号を付与
し、その説明を省略する。この実施例では、硬貨4の両
面のパターンを同時に検出するべく、前述した実施例の
構成が2組備えられる。すなわち、偏光ビームスプリッ
タ1,1/4波長板2、ファイバープレート3、レシー
バ・レンズ5および2次元イメージセンサ6が硬貨4の
上面パターンを検出するべく配置され、また、偏光ビー
ムスプリッタ1’,1/4波長板2’、ファイバープレ
ート3’、レシーバ・レンズ5’および2次元イメージ
センサ6’が硬貨4の下面パターンを検出するべく配置
される。そして、硬貨4は、図示せぬ搬送装置により導
入され、所定位置に載置される。
説明する。図4はこの実施例の構成を示す側面図であ
る。この図において図1と同一部分には同一符号を付与
し、その説明を省略する。この実施例では、硬貨4の両
面のパターンを同時に検出するべく、前述した実施例の
構成が2組備えられる。すなわち、偏光ビームスプリッ
タ1,1/4波長板2、ファイバープレート3、レシー
バ・レンズ5および2次元イメージセンサ6が硬貨4の
上面パターンを検出するべく配置され、また、偏光ビー
ムスプリッタ1’,1/4波長板2’、ファイバープレ
ート3’、レシーバ・レンズ5’および2次元イメージ
センサ6’が硬貨4の下面パターンを検出するべく配置
される。そして、硬貨4は、図示せぬ搬送装置により導
入され、所定位置に載置される。
【0016】この図において、10はレーザーダイオー
ドであり、単一波長・直線偏光の光を発する。この光の
偏光面は、偏光ビームスプリッタ1,1’の透過方向と
一致するように設定される。11はレーザーダイオード
10の光を平行光束にするコリメータレンズ、12はこ
の平行光束の径を硬貨4の外径に合うように調節するビ
ームエキスパンダである。13は半透鏡であり、ビーム
エキスパンダ12によって拡大された平行光束を透過と
反射との2光路に分路する。
ドであり、単一波長・直線偏光の光を発する。この光の
偏光面は、偏光ビームスプリッタ1,1’の透過方向と
一致するように設定される。11はレーザーダイオード
10の光を平行光束にするコリメータレンズ、12はこ
の平行光束の径を硬貨4の外径に合うように調節するビ
ームエキスパンダである。13は半透鏡であり、ビーム
エキスパンダ12によって拡大された平行光束を透過と
反射との2光路に分路する。
【0017】そして、半透鏡13によって透過された平
行光束aは、ミラー140 によって反射されて偏光ビー
ムスプリッタ1に対し入射角0度で入射する一方、半透
鏡13によって反射された平行光束a’は、ミラー1
4’0、14’1によって順次反射されて偏光ビームスプ
リッタ1’に対し入射角0度で入射する。前述したよう
に、平行光束a、a’の偏光面は、それぞれ偏光ビーム
スプリッタ1、1’の張り合わせ面によって規定される
偏光面のうちの、透過する方に合わせられているので、
この実施例では、両面のパターンを同時に検出すること
ができる。
行光束aは、ミラー140 によって反射されて偏光ビー
ムスプリッタ1に対し入射角0度で入射する一方、半透
鏡13によって反射された平行光束a’は、ミラー1
4’0、14’1によって順次反射されて偏光ビームスプ
リッタ1’に対し入射角0度で入射する。前述したよう
に、平行光束a、a’の偏光面は、それぞれ偏光ビーム
スプリッタ1、1’の張り合わせ面によって規定される
偏光面のうちの、透過する方に合わせられているので、
この実施例では、両面のパターンを同時に検出すること
ができる。
【0018】なお、上記各実施例では、1/4波長板2
を偏光ビームスプリッタ1とファイバープレート3との
間に介挿したが、硬貨4とファイバープレート3との間
に介挿しても良い。また、各実施例では、偏光ビームス
プリッタ1および1/4波長板2を用いて、平行光束a
を硬貨4に透過させる一方、硬貨4からの反射光のみを
2次元イメージセンサ6に導くようしたが、光サーキュ
レータを用いても同様な働きが可能である。すなわち、
入力光(平行光束a)と出力光(硬貨4からの反射光)
との間に可逆性のない光ジャイレータならば良い。
を偏光ビームスプリッタ1とファイバープレート3との
間に介挿したが、硬貨4とファイバープレート3との間
に介挿しても良い。また、各実施例では、偏光ビームス
プリッタ1および1/4波長板2を用いて、平行光束a
を硬貨4に透過させる一方、硬貨4からの反射光のみを
2次元イメージセンサ6に導くようしたが、光サーキュ
レータを用いても同様な働きが可能である。すなわち、
入力光(平行光束a)と出力光(硬貨4からの反射光)
との間に可逆性のない光ジャイレータならば良い。
【0019】また、前述した各実施例では、符号3とし
て図2に示すファイバープレートをそれぞれ採用した
が、符号3の部材には、次の光学特性を有するものであ
れば良い。すなわち、符号3に要求される光学特性と
は、硬貨4に近接した場合に、パターンのある微小領域
による反射光のみを一端面で入射して、他端面にて出射
することである。このような光学特性を有するものとし
ては、他にハニカム構造を有するものや、光ファイバM
Fの代わりに微小径パイプを2次元的に配列したものが
考えられる。
て図2に示すファイバープレートをそれぞれ採用した
が、符号3の部材には、次の光学特性を有するものであ
れば良い。すなわち、符号3に要求される光学特性と
は、硬貨4に近接した場合に、パターンのある微小領域
による反射光のみを一端面で入射して、他端面にて出射
することである。このような光学特性を有するものとし
ては、他にハニカム構造を有するものや、光ファイバM
Fの代わりに微小径パイプを2次元的に配列したものが
考えられる。
【0020】なお、上記各実施例では、偏光ビームスプ
リッタ1において、硬貨4への照射光を透過、硬貨4か
らの正反射光を反射となるように構成したが、硬貨4へ
の照射光を反射、硬貨4からの正反射光を透過となる構
成としても良い。この場合、平行光束aの偏光面は、上
記各実施例の場合とは直交するように設定される。ま
た、上記各実施例では、被検出物として貨幣4を例にと
って説明したが、被検出物は、紙葉類の印刷物、例え
ば、紙幣であっても良いことは言うまでもない。
リッタ1において、硬貨4への照射光を透過、硬貨4か
らの正反射光を反射となるように構成したが、硬貨4へ
の照射光を反射、硬貨4からの正反射光を透過となる構
成としても良い。この場合、平行光束aの偏光面は、上
記各実施例の場合とは直交するように設定される。ま
た、上記各実施例では、被検出物として貨幣4を例にと
って説明したが、被検出物は、紙葉類の印刷物、例え
ば、紙幣であっても良いことは言うまでもない。
【0021】
【発明の効果】以上説明したこの発明によれば、貨幣か
らの乱反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段
によって遮断される。さらに、光透過手段を透過した光
のみが、光ジャイレート手段によって検出手段へと導か
れる。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を
受けることなく、検出手段によって検出されるので、S
/N比の極めて高い検出情報を得ることが可能である
(請求項1、2)。また、貨幣の両面パターンを同時に
検出するので、より詳細な真偽判別を高速に行なうこと
ができる(請求項3)。さらに、光源を共用できるの
で、構成が簡単になり、その分装置全体のコストを低く
することができる(請求項4)。
らの乱反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段
によって遮断される。さらに、光透過手段を透過した光
のみが、光ジャイレート手段によって検出手段へと導か
れる。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を
受けることなく、検出手段によって検出されるので、S
/N比の極めて高い検出情報を得ることが可能である
(請求項1、2)。また、貨幣の両面パターンを同時に
検出するので、より詳細な真偽判別を高速に行なうこと
ができる(請求項3)。さらに、光源を共用できるの
で、構成が簡単になり、その分装置全体のコストを低く
することができる(請求項4)。
【図1】この発明による第1の実施例の要部構成を示す
側面図である。
側面図である。
【図2】同実施例におけるファイバープレート1の詳細
構成を示す斜視図である。
構成を示す斜視図である。
【図3】図1において硬貨4が変形した場合を説明する
ための図1の部分拡大図である。
ための図1の部分拡大図である。
【図4】この発明による第2の実施例の構成を示す側面
図である。
図である。
1……偏光ビームスプリッタ、2……1/4波長板(光
ジャイレート手段)、 3……ファイバープレート(光透過手段)、 4……硬貨 6……2次元イメージセンサ(光検出手段)20……光ジャイレート手段 20a……第1の端面 20b……第2の端面 20c……第3の端面
ジャイレート手段)、 3……ファイバープレート(光透過手段)、 4……硬貨 6……2次元イメージセンサ(光検出手段)20……光ジャイレート手段 20a……第1の端面 20b……第2の端面 20c……第3の端面
Claims (4)
- 【請求項1】 貨幣に光を照射するとともに、その反射
光を検出手段により検出して、この検出情報に基づき前
記貨幣のパターンを検出する貨幣パターン検出装置にお
いて、 第1の端面からの入射光を第2の端面から出射するとと
もに、第2の端面からの入射光を第3の端面から出射す
る光ジャイレート手段と、 軸方向の光を透過させる光透過手段と、 を具備し、 前記軸方向が前記第2の端面からの出射される光方向と
一致するように、前記光透過手段が前記光ジャイレート
手段と前記貨幣との間に介挿されるとともに、 前記貨幣の反射光が、前記光透過手段を透過し、前記光
ジャイレート手段の第2の端面から第3の端面に出射し
て、前記検出手段によって検出されることを特徴とする
貨幣パターン検出装置。 - 【請求項2】前記光透過手段が、その軸方向を第2の端
面からの出射される光方向と一致するように、前記光ジ
ャイレート手段に組み込まれて配置され、前記貨幣の反
射光が、前記光ジャイレート手段の第2の端面から入射
して前記光透過手段を透過した後に第3の端面から出射
して前記検出手段によって検出されることを特徴とする
請求項1記載の貨幣パターン検出装置。 - 【請求項3】 前記検出手段、前記光ジャイレート手段
および前記光透過手段を2組備え、前記貨幣の両面のパ
ターンを検出することを特徴とする請求項1または2に
記載の貨幣パターン検出装置。 - 【請求項4】 同一光源による光を分路して、それぞれ
前記光ジャイレート手段に入射させることを特徴とする
請求項3に記載の貨幣パターン検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4304182A JP2742360B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 貨幣パターン検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4304182A JP2742360B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 貨幣パターン検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06150104A JPH06150104A (ja) | 1994-05-31 |
JP2742360B2 true JP2742360B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=17930024
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4304182A Expired - Fee Related JP2742360B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 貨幣パターン検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2742360B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3652545B2 (ja) | 1999-04-26 | 2005-05-25 | ローレルバンクマシン株式会社 | 硬貨判別装置 |
DE19922489A1 (de) * | 1999-05-15 | 2000-11-23 | Nat Rejectors Gmbh | Verfahren zur Erkennung der räumlichen Konfiguration von Münzen |
JP3652558B2 (ja) | 1999-08-17 | 2005-05-25 | ローレルバンクマシン株式会社 | 硬貨判別装置 |
DE20004826U1 (de) * | 2000-03-16 | 2000-06-15 | Schäfter + Kirchhoff, 22761 Hamburg | Vorrichtung zur optischen Prüfung einer Münze |
JP4558607B2 (ja) * | 2005-08-24 | 2010-10-06 | ローレル精機株式会社 | 硬貨検出装置 |
JP5568798B2 (ja) * | 2010-05-25 | 2014-08-13 | 旭精工株式会社 | 硬貨選別装置および硬貨判別用二次元撮像装置 |
JP2012212221A (ja) | 2011-03-30 | 2012-11-01 | Fujifilm Corp | 撮像ユニット、及び硬貨識別装置 |
-
1992
- 1992-11-13 JP JP4304182A patent/JP2742360B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06150104A (ja) | 1994-05-31 |
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