JPH06150104A - 貨幣パターン検出装置 - Google Patents
貨幣パターン検出装置Info
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- JPH06150104A JPH06150104A JP4304182A JP30418292A JPH06150104A JP H06150104 A JPH06150104 A JP H06150104A JP 4304182 A JP4304182 A JP 4304182A JP 30418292 A JP30418292 A JP 30418292A JP H06150104 A JPH06150104 A JP H06150104A
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- Japan
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- coin
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- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D5/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
- G07D5/005—Testing the surface pattern, e.g. relief
Abstract
(57)【要約】
【目的】 細密な貨幣のパターンを正確に検出するこ
と。 【構成】 単一波長で直線偏光された平行光束ａを偏光
ビームスプリッタ１に入射させる。このとき平行光束ａ
の偏光面を偏光ビームスプリッタ１の透過する方向に設
定すると、平行光束ａは、１／４波長板２によって円偏
光に変換された後に、ファイバ−プレートを介して硬貨
４を照射する。硬貨４の正反射光だけが、ファイバープ
レート１を透過し、１／４波長板２によって平行光束ａ
とは直交する直線偏光に変換される。そして、この正反
射光は、偏光ビームスプリッタ１の張り合わせ面によっ
て全反射され、レシーバ・レンズ５によって２次元イメ
ージセンサに結像される。これによって、硬貨４の正反
射光のみのパターン情報を得ることができる。
と。 【構成】 単一波長で直線偏光された平行光束ａを偏光
ビームスプリッタ１に入射させる。このとき平行光束ａ
の偏光面を偏光ビームスプリッタ１の透過する方向に設
定すると、平行光束ａは、１／４波長板２によって円偏
光に変換された後に、ファイバ−プレートを介して硬貨
４を照射する。硬貨４の正反射光だけが、ファイバープ
レート１を透過し、１／４波長板２によって平行光束ａ
とは直交する直線偏光に変換される。そして、この正反
射光は、偏光ビームスプリッタ１の張り合わせ面によっ
て全反射され、レシーバ・レンズ５によって２次元イメ
ージセンサに結像される。これによって、硬貨４の正反
射光のみのパターン情報を得ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、現金取引装
置内に用いられる貨幣の真偽判別器に用いて好適な貨幣
パターン検出装置に関する。
置内に用いられる貨幣の真偽判別器に用いて好適な貨幣
パターン検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、貨幣に光を照射し、この反射
像をレンズ等によってイメージセンサ上に結像させて、
貨幣のパターンを読み込む、というパターン検出装置が
知られている。そして、読み込んだパターンを予め記憶
している基準パターンと比較することによって、貨幣の
真偽等が判別されるようになっている。最近では技術の
発達により、読み込むべきパターンが非常に細密化され
るようになり、上述したパターン検出装置にも、このよ
うな細密パターンを正確に読み取ることが要求されてい
る。例えば、５００ｄｐｉの解像度が要求される場合に
は、パターンを約５０×５０μｍの微小領域に離散化し
て読み込むことが必要となる。
像をレンズ等によってイメージセンサ上に結像させて、
貨幣のパターンを読み込む、というパターン検出装置が
知られている。そして、読み込んだパターンを予め記憶
している基準パターンと比較することによって、貨幣の
真偽等が判別されるようになっている。最近では技術の
発達により、読み込むべきパターンが非常に細密化され
るようになり、上述したパターン検出装置にも、このよ
うな細密パターンを正確に読み取ることが要求されてい
る。例えば、５００ｄｐｉの解像度が要求される場合に
は、パターンを約５０×５０μｍの微小領域に離散化し
て読み込むことが必要となる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
パターン検出装置にあっては、乱反射による迷光対策が
何らなされていないために、正確なパターン情報を得る
ことができない、という問題があった。つまり、迷光に
よって、イメージセンサによって検出されたパターンの
うちのあるピクセル情報には、対応する貨幣パターンの
微小領域だけでなく、その周辺の微小領域の情報までも
含んでしまうことがあり、この場合、読み込んだパター
ンの検出情報全体が、Ｓ／Ｎ比の悪いものとなってしま
う、という問題があった。この問題は、貨幣の表面に、
微妙な折れ曲がりや凹凸等が存在する場合に特に顕著と
なる。この発明は上述した問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、細密な貨幣のパターンを
正確に検出することができる貨幣パターン検出装置を提
供することにある。
パターン検出装置にあっては、乱反射による迷光対策が
何らなされていないために、正確なパターン情報を得る
ことができない、という問題があった。つまり、迷光に
よって、イメージセンサによって検出されたパターンの
うちのあるピクセル情報には、対応する貨幣パターンの
微小領域だけでなく、その周辺の微小領域の情報までも
含んでしまうことがあり、この場合、読み込んだパター
ンの検出情報全体が、Ｓ／Ｎ比の悪いものとなってしま
う、という問題があった。この問題は、貨幣の表面に、
微妙な折れ曲がりや凹凸等が存在する場合に特に顕著と
なる。この発明は上述した問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、細密な貨幣のパターンを
正確に検出することができる貨幣パターン検出装置を提
供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に記載の発明にあっては、貨幣に光を照射
するとともに、その反射光を検出手段により検出して、
この検出情報に基づき前記貨幣のパターンを検出する貨
幣パターン検出装置において、第１の端面からの入射光
を第２の端面から出射するとともに、第２の端面からの
入射光を第３の端面から出射する光ジャイレート手段
と、軸方向の光を透過させる光透過手段と、を具備し、
前記軸方向が前記第２の端面からの出射される光方向と
一致するように、前記光透過手段が前記光ジャイレート
手段と前記貨幣との間に介挿されるとともに、前記貨幣
の反射光が、前記光透過手段を透過し、前記光ジャイレ
ート手段の第２の端面から第３の端面に出射して、前記
検出手段によって検出されることを特徴としている。
に、請求項１に記載の発明にあっては、貨幣に光を照射
するとともに、その反射光を検出手段により検出して、
この検出情報に基づき前記貨幣のパターンを検出する貨
幣パターン検出装置において、第１の端面からの入射光
を第２の端面から出射するとともに、第２の端面からの
入射光を第３の端面から出射する光ジャイレート手段
と、軸方向の光を透過させる光透過手段と、を具備し、
前記軸方向が前記第２の端面からの出射される光方向と
一致するように、前記光透過手段が前記光ジャイレート
手段と前記貨幣との間に介挿されるとともに、前記貨幣
の反射光が、前記光透過手段を透過し、前記光ジャイレ
ート手段の第２の端面から第３の端面に出射して、前記
検出手段によって検出されることを特徴としている。
【０００５】また、請求項２に記載の発明にあっては、
請求項１に記載の発明において、前記検出手段、前記光
ジャイレート手段および前記光透過手段を２組備え、前
記貨幣の両面のパターンを検出することを特徴としてい
る。請求項３に記載の発明にあっては、請求項２に記載
の発明において、同一光源による光を分路して、それぞ
れ前記光ジャイレート手段に入射させることを特徴とし
ている。
請求項１に記載の発明において、前記検出手段、前記光
ジャイレート手段および前記光透過手段を２組備え、前
記貨幣の両面のパターンを検出することを特徴としてい
る。請求項３に記載の発明にあっては、請求項２に記載
の発明において、同一光源による光を分路して、それぞ
れ前記光ジャイレート手段に入射させることを特徴とし
ている。
【０００６】
【作用】請求項１に記載の発明によれば、貨幣からの乱
反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段によっ
て遮断される。さらに、光透過手段を透過した光のみ
が、光ジャイレート手段によって検出手段へと導かれ
る。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を受
けることなく、検出手段によって検出されるので、貨幣
の変形情報を含んだ、Ｓ／Ｎ比の極めて高い検出情報を
得ることが可能である。
反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段によっ
て遮断される。さらに、光透過手段を透過した光のみ
が、光ジャイレート手段によって検出手段へと導かれ
る。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を受
けることなく、検出手段によって検出されるので、貨幣
の変形情報を含んだ、Ｓ／Ｎ比の極めて高い検出情報を
得ることが可能である。
【０００７】さらに、請求項２に記載の発明によれば、
貨幣の両面パターンを同時に検出することができる。く
わえて、請求項３に記載の発明によれば、光源を共用で
きるので、その分構成が簡単になる。
貨幣の両面パターンを同時に検出することができる。く
わえて、請求項３に記載の発明によれば、光源を共用で
きるので、その分構成が簡単になる。
【０００８】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例につ
いて説明する。図１は、この発明による第１の実施例の
要部構成を示す側面図である。この図において、ａは、
予め直線偏光された単一波長の平行光束であり、偏光ビ
ームスプリッタ１の外表面に対し０度で入射する。偏光
ビームスプリッタ１は、直角プリズムの斜面どうしを互
いに張り合わせたキューブ状の偏光子であり、キューブ
の外表面に対し０度で入射した無偏光単一波長の光線
を、その張り合わせ面において偏光面が互いに直交する
２つの直線偏光した光線に分岐して、一方の光線を透過
し入射面とは反対の面から出射させるとともに、他方の
光線を入射方向に対し９０度反射させて出射させるもの
である。出射される２つの光線の偏光面は、張り合わせ
面のコーティング層によって決定される。ここで、平行
光束ａは、その偏光面が、偏光ビームスプリッタ１の入
射面とは反対の面から出射する光線の偏光面と一致する
ように、偏光させられている。
いて説明する。図１は、この発明による第１の実施例の
要部構成を示す側面図である。この図において、ａは、
予め直線偏光された単一波長の平行光束であり、偏光ビ
ームスプリッタ１の外表面に対し０度で入射する。偏光
ビームスプリッタ１は、直角プリズムの斜面どうしを互
いに張り合わせたキューブ状の偏光子であり、キューブ
の外表面に対し０度で入射した無偏光単一波長の光線
を、その張り合わせ面において偏光面が互いに直交する
２つの直線偏光した光線に分岐して、一方の光線を透過
し入射面とは反対の面から出射させるとともに、他方の
光線を入射方向に対し９０度反射させて出射させるもの
である。出射される２つの光線の偏光面は、張り合わせ
面のコーティング層によって決定される。ここで、平行
光束ａは、その偏光面が、偏光ビームスプリッタ１の入
射面とは反対の面から出射する光線の偏光面と一致する
ように、偏光させられている。
【０００９】２は１／４波長板であり、その光軸方向
は、偏光ビームスプリッタ１を透過した平行光束ａにお
ける電界ベクトルの方向と±４５度をなすように設定さ
れている。これにより、偏光ビームスプリッタ１、１／
４波長板を順次透過した平行光束ａは直線偏光から円偏
光に変換される。３はファイバープレートであり、軸方
向の光のみを透過させる。４は硬貨であり、その上面に
検出すべきパターンが描かれている。一方、５はレシー
バ・レンズであり、偏光ビームスプリッタ１による反射
光線ｂを２次元イメージセンサ６に結像させる。
は、偏光ビームスプリッタ１を透過した平行光束ａにお
ける電界ベクトルの方向と±４５度をなすように設定さ
れている。これにより、偏光ビームスプリッタ１、１／
４波長板を順次透過した平行光束ａは直線偏光から円偏
光に変換される。３はファイバープレートであり、軸方
向の光のみを透過させる。４は硬貨であり、その上面に
検出すべきパターンが描かれている。一方、５はレシー
バ・レンズであり、偏光ビームスプリッタ１による反射
光線ｂを２次元イメージセンサ６に結像させる。
【００１０】次に、ファイバープレート３の詳細構成に
ついて図２を参照して説明する。この図に示すように、
ファイバープレート３は、微小半径（例えば、５０μ
ｍ）の光ファイバＭＦをマトリクス状に配列し、充分な
厚さを有する板状に形成したものである。また、各光フ
ァイバＭＦの光軸は、厚さ方向と平行となっている。各
光ファイバＭＦは、一方の端面において約１０度以内で
入射した光を他方の端面から出射するようになってい
る。この際に、ファイバープレート３と硬貨４とを極め
て近接させると、パターンのある微小領域による反射光
が、特定の光ファイバＭＦのみに入射することになる。
すなわち、パターンの各微小領域が、それぞれ特定の光
ファイバＭＦに対して１：１の関係となり、各微小領域
の反射光がそれぞれ特定の光ファイバＭＦにのみ取り込
まれることになる。
ついて図２を参照して説明する。この図に示すように、
ファイバープレート３は、微小半径（例えば、５０μ
ｍ）の光ファイバＭＦをマトリクス状に配列し、充分な
厚さを有する板状に形成したものである。また、各光フ
ァイバＭＦの光軸は、厚さ方向と平行となっている。各
光ファイバＭＦは、一方の端面において約１０度以内で
入射した光を他方の端面から出射するようになってい
る。この際に、ファイバープレート３と硬貨４とを極め
て近接させると、パターンのある微小領域による反射光
が、特定の光ファイバＭＦのみに入射することになる。
すなわち、パターンの各微小領域が、それぞれ特定の光
ファイバＭＦに対して１：１の関係となり、各微小領域
の反射光がそれぞれ特定の光ファイバＭＦにのみ取り込
まれることになる。
【００１１】次に、この実施例の動作について、光線の
偏光状態を中心に説明する。平行光束ａの偏光面は、偏
光ビームスプリッタ１の入射面とは反対の面から出射す
る光線の偏光面と一致するように、予め偏光させられて
いるので、平行光束ａは偏光ビームスプリッタ１をその
まま透過する。なお、仮に、平行光束ａを無偏光状態で
偏光ビームスプリッタ１に入射させると、偏光ビームス
プリッタ１を透過する光線に対しその偏光面に直交する
偏光光線が、２次元イメージセンサとは反対方向に出射
することになる。偏光ビームスプリッタ１を透過した平
行光束ａは、前述したように１／４波長板２によって直
線偏光から円偏光に変換される。なお、円偏光の向き
は、１／４波長板の光軸角度によって決定される。
偏光状態を中心に説明する。平行光束ａの偏光面は、偏
光ビームスプリッタ１の入射面とは反対の面から出射す
る光線の偏光面と一致するように、予め偏光させられて
いるので、平行光束ａは偏光ビームスプリッタ１をその
まま透過する。なお、仮に、平行光束ａを無偏光状態で
偏光ビームスプリッタ１に入射させると、偏光ビームス
プリッタ１を透過する光線に対しその偏光面に直交する
偏光光線が、２次元イメージセンサとは反対方向に出射
することになる。偏光ビームスプリッタ１を透過した平
行光束ａは、前述したように１／４波長板２によって直
線偏光から円偏光に変換される。なお、円偏光の向き
は、１／４波長板の光軸角度によって決定される。
【００１２】次に、円偏光に変換された光束は、ファイ
バプレート３に入射する。このときの入射光束は、すべ
て平行であり、かつその方向が光ファイバＭＦ（図２参
照）の光軸と一致しているので、ファイバープレート３
を全透過し、硬貨４上面のパターンに照射される。
バプレート３に入射する。このときの入射光束は、すべ
て平行であり、かつその方向が光ファイバＭＦ（図２参
照）の光軸と一致しているので、ファイバープレート３
を全透過し、硬貨４上面のパターンに照射される。
【００１３】硬貨４に照射された光束は、パターンによ
って反射し、再びファイバープレート３に入射する。こ
のとき、図３に示すように、硬貨が凸状に変形している
と、反射光は乱反射するが、ファイバープレート３の光
軸に一致しないものは、ファイバープレート３を透過す
ることができない。凹状に変形していても同様である。
すなわち、変形によって生じた乱反射光は、ファイバー
プレート３によって遮断され、正反射光のみが透過する
ことになる。
って反射し、再びファイバープレート３に入射する。こ
のとき、図３に示すように、硬貨が凸状に変形している
と、反射光は乱反射するが、ファイバープレート３の光
軸に一致しないものは、ファイバープレート３を透過す
ることができない。凹状に変形していても同様である。
すなわち、変形によって生じた乱反射光は、ファイバー
プレート３によって遮断され、正反射光のみが透過する
ことになる。
【００１４】したがって、この実施例では、平行光束ａ
を硬貨４に照射させる一方、硬貨４による正反射光のみ
の像を２次元イメージセンサ６に確実に結像させること
ができるので、Ｓ／Ｎ比の高いパターン情報を得ること
が可能である。さらに、硬貨が変形していた場合には、
ファイバープレート３による乱反射光の遮断によって２
次元イメージセンサ６に結像する光量が減少する。これ
を検出することによって、硬貨の変形を鑑別することも
できる。
を硬貨４に照射させる一方、硬貨４による正反射光のみ
の像を２次元イメージセンサ６に確実に結像させること
ができるので、Ｓ／Ｎ比の高いパターン情報を得ること
が可能である。さらに、硬貨が変形していた場合には、
ファイバープレート３による乱反射光の遮断によって２
次元イメージセンサ６に結像する光量が減少する。これ
を検出することによって、硬貨の変形を鑑別することも
できる。
【００１５】次に、この発明の具体的な実施例について
説明する。図４はこの実施例の構成を示す側面図であ
る。この図において図１と同一部分には同一符号を付与
し、その説明を省略する。この実施例では、硬貨４の両
面のパターンを同時に検出するべく、前述した実施例の
構成が２組備えられる。すなわち、偏光ビームスプリッ
タ１，１／４波長板２、ファイバープレート３、レシー
バ・レンズ５および２次元イメージセンサ６が硬貨４の
上面パターンを検出するべく配置され、また、偏光ビー
ムスプリッタ１’，１／４波長板２’、ファイバープレ
ート３’、レシーバ・レンズ５’および２次元イメージ
センサ６’が硬貨４の下面パターンを検出するべく配置
される。そして、硬貨４は、図示せぬ搬送装置により導
入され、所定位置に載置される。
説明する。図４はこの実施例の構成を示す側面図であ
る。この図において図１と同一部分には同一符号を付与
し、その説明を省略する。この実施例では、硬貨４の両
面のパターンを同時に検出するべく、前述した実施例の
構成が２組備えられる。すなわち、偏光ビームスプリッ
タ１，１／４波長板２、ファイバープレート３、レシー
バ・レンズ５および２次元イメージセンサ６が硬貨４の
上面パターンを検出するべく配置され、また、偏光ビー
ムスプリッタ１’，１／４波長板２’、ファイバープレ
ート３’、レシーバ・レンズ５’および２次元イメージ
センサ６’が硬貨４の下面パターンを検出するべく配置
される。そして、硬貨４は、図示せぬ搬送装置により導
入され、所定位置に載置される。
【００１６】この図において、１０はレーザーダイオー
ドであり、単一波長・直線偏光の光を発する。この光の
偏光面は、偏光ビームスプリッタ１，１’の透過方向と
一致するように設定される。１１はレーザーダイオード
１０の光を平行光束にするコリメータレンズ、１２はこ
の平行光束の径を硬貨４の外径に合うように調節するビ
ームエキスパンダである。１３は半透鏡であり、ビーム
エキスパンダ１２によって拡大された平行光束を透過と
反射との２光路に分路する。
ドであり、単一波長・直線偏光の光を発する。この光の
偏光面は、偏光ビームスプリッタ１，１’の透過方向と
一致するように設定される。１１はレーザーダイオード
１０の光を平行光束にするコリメータレンズ、１２はこ
の平行光束の径を硬貨４の外径に合うように調節するビ
ームエキスパンダである。１３は半透鏡であり、ビーム
エキスパンダ１２によって拡大された平行光束を透過と
反射との２光路に分路する。
【００１７】そして、半透鏡１３によって透過された平
行光束ａは、ミラー１４0 によって反射されて偏光ビー
ムスプリッタ１に対し入射角０度で入射する一方、半透
鏡１３によって反射された平行光束ａ’は、ミラー１
４’0、１４’1によって順次反射されて偏光ビームスプ
リッタ１’に対し入射角０度で入射する。前述したよう
に、平行光束ａ、ａ’の偏光面は、それぞれ偏光ビーム
スプリッタ１、１’の張り合わせ面によって規定される
偏光面のうちの、透過する方に合わせられているので、
この実施例では、両面のパターンを同時に検出すること
ができる。
行光束ａは、ミラー１４0 によって反射されて偏光ビー
ムスプリッタ１に対し入射角０度で入射する一方、半透
鏡１３によって反射された平行光束ａ’は、ミラー１
４’0、１４’1によって順次反射されて偏光ビームスプ
リッタ１’に対し入射角０度で入射する。前述したよう
に、平行光束ａ、ａ’の偏光面は、それぞれ偏光ビーム
スプリッタ１、１’の張り合わせ面によって規定される
偏光面のうちの、透過する方に合わせられているので、
この実施例では、両面のパターンを同時に検出すること
ができる。
【００１８】なお、上記各実施例では、１／４波長板２
を偏光ビームスプリッタ１とファイバープレート３との
間に介挿したが、硬貨４とファイバープレート３との間
に介挿しても良い。また、各実施例では、偏光ビームス
プリッタ１および１／４波長板２を用いて、平行光束ａ
を硬貨４に透過させる一方、硬貨４からの反射光のみを
２次元イメージセンサ６に導くようしたが、光サーキュ
レータを用いても同様な働きが可能である。すなわち、
入力光（平行光束ａ）と出力光（硬貨４からの反射光）
との間に可逆性のない光ジャイレータならば良い。
を偏光ビームスプリッタ１とファイバープレート３との
間に介挿したが、硬貨４とファイバープレート３との間
に介挿しても良い。また、各実施例では、偏光ビームス
プリッタ１および１／４波長板２を用いて、平行光束ａ
を硬貨４に透過させる一方、硬貨４からの反射光のみを
２次元イメージセンサ６に導くようしたが、光サーキュ
レータを用いても同様な働きが可能である。すなわち、
入力光（平行光束ａ）と出力光（硬貨４からの反射光）
との間に可逆性のない光ジャイレータならば良い。
【００１９】また、前述した各実施例では、符号３とし
て図２に示すファイバープレートをそれぞれ採用した
が、符号３の部材には、次の光学特性を有するものであ
れば良い。すなわち、符号３に要求される光学特性と
は、硬貨４に近接した場合に、パターンのある微小領域
による反射光のみを一端面で入射して、他端面にて出射
することである。このような光学特性を有するものとし
ては、他にハニカム構造を有するものや、光ファイバＭ
Ｆの代わりに微小径パイプを２次元的に配列したものが
考えられる。
て図２に示すファイバープレートをそれぞれ採用した
が、符号３の部材には、次の光学特性を有するものであ
れば良い。すなわち、符号３に要求される光学特性と
は、硬貨４に近接した場合に、パターンのある微小領域
による反射光のみを一端面で入射して、他端面にて出射
することである。このような光学特性を有するものとし
ては、他にハニカム構造を有するものや、光ファイバＭ
Ｆの代わりに微小径パイプを２次元的に配列したものが
考えられる。
【００２０】なお、上記各実施例では、偏光ビームスプ
リッタ１において、硬貨４への照射光を透過、硬貨４か
らの正反射光を反射となるように構成したが、硬貨４へ
の照射光を反射、硬貨４からの正反射光を透過となる構
成としても良い。この場合、平行光束ａの偏光面は、上
記各実施例の場合とは直交するように設定される。ま
た、上記各実施例では、被検出物として貨幣４を例にと
って説明したが、被検出物は、紙葉類の印刷物、例え
ば、紙幣であっても良いことは言うまでもない。
リッタ１において、硬貨４への照射光を透過、硬貨４か
らの正反射光を反射となるように構成したが、硬貨４へ
の照射光を反射、硬貨４からの正反射光を透過となる構
成としても良い。この場合、平行光束ａの偏光面は、上
記各実施例の場合とは直交するように設定される。ま
た、上記各実施例では、被検出物として貨幣４を例にと
って説明したが、被検出物は、紙葉類の印刷物、例え
ば、紙幣であっても良いことは言うまでもない。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したこの発明によれば、貨幣か
らの乱反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段
によって遮断される。さらに、光透過手段を透過した光
のみが、光ジャイレート手段によって検出手段へと導か
れる。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を
受けることなく、検出手段によって検出されるので、Ｓ
／Ｎ比の極めて高い検出情報を得ることが可能である
（請求項１）。また、貨幣の両面パターンを同時に検出
するので、より詳細な真偽判別を高速に行なうことがで
きる（請求項２）。さらに、光源を共用できるので、構
成が簡単になり、その分装置全体のコストを低くするこ
とができる（請求項３）。
らの乱反射光は、軸方向のみの光を透過する光透過手段
によって遮断される。さらに、光透過手段を透過した光
のみが、光ジャイレート手段によって検出手段へと導か
れる。この結果、貨幣のパターンは、乱反射光の影響を
受けることなく、検出手段によって検出されるので、Ｓ
／Ｎ比の極めて高い検出情報を得ることが可能である
（請求項１）。また、貨幣の両面パターンを同時に検出
するので、より詳細な真偽判別を高速に行なうことがで
きる（請求項２）。さらに、光源を共用できるので、構
成が簡単になり、その分装置全体のコストを低くするこ
とができる（請求項３）。
【図１】この発明による第１の実施例の要部構成を示す
側面図である。
側面図である。
【図２】同実施例におけるファイバープレート１の詳細
構成を示す斜視図である。
構成を示す斜視図である。
【図３】図１において硬貨４が変形した場合を説明する
ための図１の部分拡大図である。
ための図１の部分拡大図である。
【図４】この発明による第２の実施例の構成を示す側面
図である。
図である。
１……偏光ビームスプリッタ、２……１／４波長板（光
ジャイレート手段）、３……ファイバープレート（光透
過手段）、４……硬貨 ６……２次元イメージセンサ（光検出手段）
ジャイレート手段）、３……ファイバープレート（光透
過手段）、４……硬貨 ６……２次元イメージセンサ（光検出手段）
Claims (3)
- 【請求項１】 貨幣に光を照射するとともに、その反射
光を検出手段により検出して、この検出情報に基づき前
記貨幣のパターンを検出する貨幣パターン検出装置にお
いて、 第１の端面からの入射光を第２の端面から出射するとと
もに、第２の端面からの入射光を第３の端面から出射す
る光ジャイレート手段と、 軸方向の光を透過させる光透過手段と、を具備し、 前記軸方向が前記第２の端面からの出射される光方向と
一致するように、前記光透過手段が前記光ジャイレート
手段と前記貨幣との間に介挿されるとともに、 前記貨幣の反射光が、前記光透過手段を透過し、前記光
ジャイレート手段の第２の端面から第３の端面に出射し
て、前記検出手段によって検出されることを特徴とする
貨幣パターン検出装置。 - 【請求項２】 前記検出手段、前記光ジャイレート手段
および前記光透過手段を２組備え、前記貨幣の両面のパ
ターンを検出することを特徴とする請求項１に記載の貨
幣パターン検出装置。 - 【請求項３】 同一光源による光を分路して、それぞれ
前記光ジャイレート手段に入射させることを特徴とする
請求項２に記載の貨幣パターン検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4304182A JP2742360B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 貨幣パターン検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4304182A JP2742360B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 貨幣パターン検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06150104A true JPH06150104A (ja) | 1994-05-31 |
| JP2742360B2 JP2742360B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=17930024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4304182A Expired - Fee Related JP2742360B2 (ja) | 1992-11-13 | 1992-11-13 | 貨幣パターン検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2742360B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1049054A2 (en) | 1999-04-26 | 2000-11-02 | Laurel Bank Machines Co., Ltd. | Coin discriminating apparatus |
| EP1077434A1 (en) * | 1999-08-17 | 2001-02-21 | Laurel Bank Machines Co., Ltd. | Coin discriminating apparatus |
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| EP2506223A1 (en) | 2011-03-30 | 2012-10-03 | Laurel Precision Machines Co. Ltd. | Imaging unit and coin identifying apparatus |
-
1992
- 1992-11-13 JP JP4304182A patent/JP2742360B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| CN102737434A (zh) * | 2011-03-30 | 2012-10-17 | 劳雷尔精机株式会社 | 成像单元和硬币识别装置 |
| US8561776B2 (en) | 2011-03-30 | 2013-10-22 | Laurel Precision Machines Co., Ltd. | Imaging unit and coin identifying apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2742360B2 (ja) | 1998-04-22 |
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