JPH07134026A - 対象反射物体検出装置 - Google Patents
対象反射物体検出装置Info
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- JPH07134026A JPH07134026A JP6145194A JP6145194A JPH07134026A JP H07134026 A JPH07134026 A JP H07134026A JP 6145194 A JP6145194 A JP 6145194A JP 6145194 A JP6145194 A JP 6145194A JP H07134026 A JPH07134026 A JP H07134026A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 対象反射物体からの反射光束と対象反射物体
に光学的に類似した非対象反射物体からの反射光束を確
実に識別することができる対象反射物体検出装置を提供
すること 【構成】 偏光照射光束を本体部より対象反射物体に向
けて照射し、該対象反射物体によって偏光方向が変えら
れて反射された偏光反射光束を上記本体部で受光して、
対象反射物体を検出する対象反射物体検出装置におい
て、本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出
する第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束
と異なった偏光光束を検出する第２検出手段とからな
り、第１検出手段の出力と第２検出手段の出力の比較か
ら偏光反射光束が対象反射物体からの偏光反射光束であ
るか否かを識別する対象反射物体検出装置。
に光学的に類似した非対象反射物体からの反射光束を確
実に識別することができる対象反射物体検出装置を提供
すること 【構成】 偏光照射光束を本体部より対象反射物体に向
けて照射し、該対象反射物体によって偏光方向が変えら
れて反射された偏光反射光束を上記本体部で受光して、
対象反射物体を検出する対象反射物体検出装置におい
て、本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出
する第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束
と異なった偏光光束を検出する第２検出手段とからな
り、第１検出手段の出力と第２検出手段の出力の比較か
ら偏光反射光束が対象反射物体からの偏光反射光束であ
るか否かを識別する対象反射物体検出装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、偏光照射光束を本体部
より対象反射物体に向けて照射し、該対象反射物体によ
って反射された反射光束を上記本体部で受光して、対象
反射物体を検出する対象反射物体検出装置に関する。
より対象反射物体に向けて照射し、該対象反射物体によ
って反射された反射光束を上記本体部で受光して、対象
反射物体を検出する対象反射物体検出装置に関する。
【０００２】
【従来技術】土木・建築の分野で高さの基準を決定する
ために、レーザ光束を水平面内で回転走査させるレーザ
回転照射装置が使用されるようになっている。最近は、
可視半導体レーザが実用化されて、これを使用したレー
ザ回転照射装置が出現している。しかし、半導体レーザ
の出力は作業者の安全性の確保の点から制約され、従っ
てレーザ光束の反射を目視により確認することを要する
高さ設定や測定の作業は、作業距離が比較的短いものに
限定されている。この作業距離を長くするために往復操
作するように構成したレーザ回転照射装置が提案されて
いる。例えば、特願平５−１５５６０８号公報において
は、レーザ回転照射装置からの出射光であるレーザ光に
より、所定の位置に配置された特定反射物体からの反射
光を受光することで位置を検出し、レーザ光が特定反射
物体を往復走査するように構成している。対象反射物体
であることを確実に識別するために、出射光は偏光と
し、出射光と反射光の偏光とは偏光方向を変えている。
これは、ガラス面等の非対象反射物体は偏光方向を保存
した状態で反射する性質があるため、それと識別するた
めである。
ために、レーザ光束を水平面内で回転走査させるレーザ
回転照射装置が使用されるようになっている。最近は、
可視半導体レーザが実用化されて、これを使用したレー
ザ回転照射装置が出現している。しかし、半導体レーザ
の出力は作業者の安全性の確保の点から制約され、従っ
てレーザ光束の反射を目視により確認することを要する
高さ設定や測定の作業は、作業距離が比較的短いものに
限定されている。この作業距離を長くするために往復操
作するように構成したレーザ回転照射装置が提案されて
いる。例えば、特願平５−１５５６０８号公報において
は、レーザ回転照射装置からの出射光であるレーザ光に
より、所定の位置に配置された特定反射物体からの反射
光を受光することで位置を検出し、レーザ光が特定反射
物体を往復走査するように構成している。対象反射物体
であることを確実に識別するために、出射光は偏光と
し、出射光と反射光の偏光とは偏光方向を変えている。
これは、ガラス面等の非対象反射物体は偏光方向を保存
した状態で反射する性質があるため、それと識別するた
めである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記した特願平５−１
５５６０８号公報のレーザ回転照射装置においては、対
象反射物体からの偏光反射光束に対応する検出手段によ
って反射光を検出している。しかし、出射光と反射光を
完全に分離して検出することは、対象反射物体における
偏光方向を変える手段と検出手段が理想状態の素材から
構成され、しかも理想状態で調整されていなければなら
ず、実際には非対象物体からの反射光もわずかではある
が検出してしまう。従って、レーザ回転照射装置からの
レーザ光が、本体から近い距離に、非対象物体である光
沢面部材がある場合、しかも、その対象反射物体に類似
する光沢面部材の反射面に垂直に当たり強い反射光が本
体検出部に入るようなとき、遠距離の強度の検出信号が
現われ、対象反射物体であると認識し、間違った位置で
往復操作すなわちスキャン動作を起こすことがある。
５５６０８号公報のレーザ回転照射装置においては、対
象反射物体からの偏光反射光束に対応する検出手段によ
って反射光を検出している。しかし、出射光と反射光を
完全に分離して検出することは、対象反射物体における
偏光方向を変える手段と検出手段が理想状態の素材から
構成され、しかも理想状態で調整されていなければなら
ず、実際には非対象物体からの反射光もわずかではある
が検出してしまう。従って、レーザ回転照射装置からの
レーザ光が、本体から近い距離に、非対象物体である光
沢面部材がある場合、しかも、その対象反射物体に類似
する光沢面部材の反射面に垂直に当たり強い反射光が本
体検出部に入るようなとき、遠距離の強度の検出信号が
現われ、対象反射物体であると認識し、間違った位置で
往復操作すなわちスキャン動作を起こすことがある。
【０００４】
【発明の目的】本発明は、従来の対象反射物体検出装置
の上述した問題点に鑑みてなされたものであって、対象
反射物体からの反射光束と対象反射物体に光学的に類似
した非対象反射物体からの反射光束を確実に識別するこ
とができる対象反射物体検出装置を提供することを目的
とする。
の上述した問題点に鑑みてなされたものであって、対象
反射物体からの反射光束と対象反射物体に光学的に類似
した非対象反射物体からの反射光束を確実に識別するこ
とができる対象反射物体検出装置を提供することを目的
とする。
【０００５】
【発明の構成】本発明は、偏光照射光束を本体部より対
象反射物体に向けて照射し、該対象反射物体によって、
反射された偏光反射光束を上記本体部で受光して、対象
反射物体を検出する対象反射物体検出装置において、上
記本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出す
る第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束と
異なった偏光光束を検出する第２検出手段とからなり、
第１検出手段の出力と第２検出手段の出力の比較から偏
光反射光束が対象反射物体からの偏光反射光束であるか
否かを識別することを特徴とする対象反射物体検出装置
である。本発明はまた、偏光照射光束を本体部より対象
反射物体に向けて照射し、該対象反射物体によって、反
射された偏光反射光束を上記本体部で受光して、対象反
射物体を検出する対象反射物体検出装置において、上記
本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出する
第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束と異
なった偏光光束を検出する第２検出手段と、第１検出手
段の出力と第２検出手段の出力と比較する比較手段を有
することを特徴とする対象反射物体検出装置である。
象反射物体に向けて照射し、該対象反射物体によって、
反射された偏光反射光束を上記本体部で受光して、対象
反射物体を検出する対象反射物体検出装置において、上
記本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出す
る第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束と
異なった偏光光束を検出する第２検出手段とからなり、
第１検出手段の出力と第２検出手段の出力の比較から偏
光反射光束が対象反射物体からの偏光反射光束であるか
否かを識別することを特徴とする対象反射物体検出装置
である。本発明はまた、偏光照射光束を本体部より対象
反射物体に向けて照射し、該対象反射物体によって、反
射された偏光反射光束を上記本体部で受光して、対象反
射物体を検出する対象反射物体検出装置において、上記
本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出する
第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束と異
なった偏光光束を検出する第２検出手段と、第１検出手
段の出力と第２検出手段の出力と比較する比較手段を有
することを特徴とする対象反射物体検出装置である。
【０００６】
【作用】偏光照射光束を本体部より対象反射物体に向け
て照射し、該対象反射物体によって反射された反射光束
を上記本体部の第１検出手段と第２検出手段とによって
検出する。第１受光手段は、特定反射物体からの偏光反
射光束のみを受光し、第２受光手段は対象反射物体から
の偏光反射光束以外の反射光束を受光する。両者の検出
出力の比較によって、その偏光反射光束が対象反射物体
からの偏光反射光束か非対象反射物体からの偏光反射光
束かを識別する。
て照射し、該対象反射物体によって反射された反射光束
を上記本体部の第１検出手段と第２検出手段とによって
検出する。第１受光手段は、特定反射物体からの偏光反
射光束のみを受光し、第２受光手段は対象反射物体から
の偏光反射光束以外の反射光束を受光する。両者の検出
出力の比較によって、その偏光反射光束が対象反射物体
からの偏光反射光束か非対象反射物体からの偏光反射光
束かを識別する。
【０００７】
【実施例】以下に、本発明の実施例の対象反射物体を包
含するレーザ回転照射装置を、図に基づいて説明する。
レーザ回転照射装置１は、本体部１０と、反射部１００
から構成される。本体部１０は、固定部１２と、固定部
１２に回動可能に支持された回動部５０とからなる。固
定部１２は、レーザ発光部１４と検出部１６とからな
る。レーザ発光部１４は、レーザ光源１７の光軸１８上
にコリメータレンズ２０、傾斜補正部２２、λ／４複屈
折部材２４を順次配置してなる。レーザ光源１７は、ほ
ぼ直線偏光のレーザ光を出射する半導体レーザを使用す
る。傾斜補正部２２は、レーザ光源１７の光軸１８が垂
直からずれて入射したとき、これを垂直に補正して射出
する作用を有する。λ／４複屈折部材２４は、入射した
直線偏光のレーザ光束を円偏光にして射出する。検出部
１６は、光軸１８が通過する部分に開口３０を設けた孔
開きミラー３２と、孔開きミラー３２の反射光軸３４上
に配置された偏光ビームスプリッタ３６と、コンデンサ
ーレンズ３８と、第１光電検出器４０と、上記偏光ビー
ムスプリッタ３６の反射光軸３９上に配置されたコンデ
ンサーレンズ４１と、第２光電検出器４２とを有する。
第１光電検出器４０と第２光電検出器４２のそれぞれの
直前には、ピンホール４０’、４２’を光軸上のそれぞ
れコンデンサレンズ３８、４１の焦点位置に配置したピ
ンホール板４０’’、４２’’が置かれ、不要な迷光す
なわちノイズ光を排除する。偏光ビームスプリッタ３６
は、対象反射物体からの偏光を透過し、非対象反射物体
からの偏光を反射する。
含するレーザ回転照射装置を、図に基づいて説明する。
レーザ回転照射装置１は、本体部１０と、反射部１００
から構成される。本体部１０は、固定部１２と、固定部
１２に回動可能に支持された回動部５０とからなる。固
定部１２は、レーザ発光部１４と検出部１６とからな
る。レーザ発光部１４は、レーザ光源１７の光軸１８上
にコリメータレンズ２０、傾斜補正部２２、λ／４複屈
折部材２４を順次配置してなる。レーザ光源１７は、ほ
ぼ直線偏光のレーザ光を出射する半導体レーザを使用す
る。傾斜補正部２２は、レーザ光源１７の光軸１８が垂
直からずれて入射したとき、これを垂直に補正して射出
する作用を有する。λ／４複屈折部材２４は、入射した
直線偏光のレーザ光束を円偏光にして射出する。検出部
１６は、光軸１８が通過する部分に開口３０を設けた孔
開きミラー３２と、孔開きミラー３２の反射光軸３４上
に配置された偏光ビームスプリッタ３６と、コンデンサ
ーレンズ３８と、第１光電検出器４０と、上記偏光ビー
ムスプリッタ３６の反射光軸３９上に配置されたコンデ
ンサーレンズ４１と、第２光電検出器４２とを有する。
第１光電検出器４０と第２光電検出器４２のそれぞれの
直前には、ピンホール４０’、４２’を光軸上のそれぞ
れコンデンサレンズ３８、４１の焦点位置に配置したピ
ンホール板４０’’、４２’’が置かれ、不要な迷光す
なわちノイズ光を排除する。偏光ビームスプリッタ３６
は、対象反射物体からの偏光を透過し、非対象反射物体
からの偏光を反射する。
【０００８】固定部１２はさらに、制御部４４を有す
る。制御部４４には、第１検出器４０と、第２検出器４
４と、回動部５０の回転駆動を制御するための駆動部４
６とが連結されている。制御部４４の作用については後
述する。駆動部４６によって駆動される回動部５０は、
垂直な光軸１８を中心に揺動あるいは回転するペンタプ
リズム５２を有する。ペンタプリズム５２は、λ／４複
屈折部材２４からその底面に入射した円偏光レーザ光束
を、水平面内で回転あるいは揺動運動させる。反射部１
００は、図２及び図３に示すように、基板１０６に、反
射板１０８、及びλ／４の位相差をもたらす複屈折部材
１１０を貼付してなる。反射板１０８は、再帰反射部材
であり、複数の微小なコーナキューブあるいは球反射体
等を配置したものである。図２に示すものは全面が反射
機能を有し、図３に示すものは左右両側が反射機能を有
するものである。円偏光のレーザ光束が反射部１００に
入射すると、複屈折部材１１０によって直線偏光に変換
され、反射板１０８によって反射され、再び複屈折部材
１１０に入射して逆方向の円偏光にされて、ペンタプリ
ズム５２に再入射する。
る。制御部４４には、第１検出器４０と、第２検出器４
４と、回動部５０の回転駆動を制御するための駆動部４
６とが連結されている。制御部４４の作用については後
述する。駆動部４６によって駆動される回動部５０は、
垂直な光軸１８を中心に揺動あるいは回転するペンタプ
リズム５２を有する。ペンタプリズム５２は、λ／４複
屈折部材２４からその底面に入射した円偏光レーザ光束
を、水平面内で回転あるいは揺動運動させる。反射部１
００は、図２及び図３に示すように、基板１０６に、反
射板１０８、及びλ／４の位相差をもたらす複屈折部材
１１０を貼付してなる。反射板１０８は、再帰反射部材
であり、複数の微小なコーナキューブあるいは球反射体
等を配置したものである。図２に示すものは全面が反射
機能を有し、図３に示すものは左右両側が反射機能を有
するものである。円偏光のレーザ光束が反射部１００に
入射すると、複屈折部材１１０によって直線偏光に変換
され、反射板１０８によって反射され、再び複屈折部材
１１０に入射して逆方向の円偏光にされて、ペンタプリ
ズム５２に再入射する。
【０００９】次に、上記構成のレーザ回転照射装置１の
作動について説明する。レーザ光源１７は、射出する直
線偏光面が光軸１８と反射光軸３４を含む面内になるよ
うに向きが設定されているものとする。この直線偏光で
あるレーザ光束は、λ／４複屈折部材２４によって円偏
光に変えられ、ペンタプリズム５２を介して反射部１０
０を照射する。反射部１００においては、λ／４複屈折
部材１１０によって直線偏光に変換され、反射板１０８
によって反射され、λ／４複屈折部材１１０によって再
び円偏光に戻されて、ペンタプリズム５２に入射する。
ただし、反射部１００によって戻された円偏光の位相
は、λ／４複屈折部材１１０に入射した円偏光に対し位
相が半波長ずれ、逆回転の円偏光になっている。非対象
反射物体からの反射光束は円偏光の回転方向が変化しな
い。そのため、ペンタプリズム５２に戻った円偏光レー
ザ光束は、λ／４複屈折部材２４によって、レーザ光源
１７から射出する直線偏光面と同じ面に偏光面を有する
直線偏光に戻される。偏光ビームスプリッタ３６は、光
軸１８と反射光軸３４を含む面内での偏光成分を透過
し、それと直交する面での偏光成分を反射するものであ
り、反射部１００からのレーザ光束の大部分は、偏光ビ
ームスプリッタ３６を透過し第１光電検出器に入射する
ことになり、図４に示すように、第１光電検出器４０の
出力はＡとなり、第２光電検出器４２の出力はＢとな
る。制御部４４は、これら２つの出力のピークの差を演
算して、これが所定値以上であれば、ペンタプリズム５
０が所定の反射部１００の方向を向いていると判定す
る。
作動について説明する。レーザ光源１７は、射出する直
線偏光面が光軸１８と反射光軸３４を含む面内になるよ
うに向きが設定されているものとする。この直線偏光で
あるレーザ光束は、λ／４複屈折部材２４によって円偏
光に変えられ、ペンタプリズム５２を介して反射部１０
０を照射する。反射部１００においては、λ／４複屈折
部材１１０によって直線偏光に変換され、反射板１０８
によって反射され、λ／４複屈折部材１１０によって再
び円偏光に戻されて、ペンタプリズム５２に入射する。
ただし、反射部１００によって戻された円偏光の位相
は、λ／４複屈折部材１１０に入射した円偏光に対し位
相が半波長ずれ、逆回転の円偏光になっている。非対象
反射物体からの反射光束は円偏光の回転方向が変化しな
い。そのため、ペンタプリズム５２に戻った円偏光レー
ザ光束は、λ／４複屈折部材２４によって、レーザ光源
１７から射出する直線偏光面と同じ面に偏光面を有する
直線偏光に戻される。偏光ビームスプリッタ３６は、光
軸１８と反射光軸３４を含む面内での偏光成分を透過
し、それと直交する面での偏光成分を反射するものであ
り、反射部１００からのレーザ光束の大部分は、偏光ビ
ームスプリッタ３６を透過し第１光電検出器に入射する
ことになり、図４に示すように、第１光電検出器４０の
出力はＡとなり、第２光電検出器４２の出力はＢとな
る。制御部４４は、これら２つの出力のピークの差を演
算して、これが所定値以上であれば、ペンタプリズム５
０が所定の反射部１００の方向を向いていると判定す
る。
【００１０】円偏光レーザ光束が反射部１００以外のも
のにより反射された場合には、反射レーザ光束は反射物
に入射される円偏光を同じ向きの円偏光であり、λ／４
複屈折部材２４を透過し、レーザ光源１７から射出する
直線偏光面と直交する偏光面を有する直線偏光に変換さ
れる。そのため、偏光ビームスプリッタ３６により反射
され、反射部１００以外のものにより反射されたレーザ
光束の大部分は第２検出器に入射することにより、例え
ば図５に示すように、第１光電検出器４０の出力はＡ’
となり、第２光電検出器４２の出力はＢ’となる。これ
らは主にノイズ成分であり、制御部４４は、これら２つ
の出力のピークの差を演算する。このピークの差が所定
値以下となると、対象反射物体でないと判定する。な
お、前述した実施例では、レーザ光源１７は、射出する
直線偏光面が光軸１８と反射光軸３４を含む面内になる
ように向きが設定されているものとして説明を行った
が、このレーザ光源１７の向きを９０°回転した場合に
は、反射部１００からの反射レーザ光束は偏光ビームス
プリッタ３６により反射され第２検出器に入射し、入射
部１００以外のものによって反射されたレーザ光束は第
１検出器に入射することになり、前述と同様に対象反射
物体からの光束であるか否かを判断することができる。
のにより反射された場合には、反射レーザ光束は反射物
に入射される円偏光を同じ向きの円偏光であり、λ／４
複屈折部材２４を透過し、レーザ光源１７から射出する
直線偏光面と直交する偏光面を有する直線偏光に変換さ
れる。そのため、偏光ビームスプリッタ３６により反射
され、反射部１００以外のものにより反射されたレーザ
光束の大部分は第２検出器に入射することにより、例え
ば図５に示すように、第１光電検出器４０の出力はＡ’
となり、第２光電検出器４２の出力はＢ’となる。これ
らは主にノイズ成分であり、制御部４４は、これら２つ
の出力のピークの差を演算する。このピークの差が所定
値以下となると、対象反射物体でないと判定する。な
お、前述した実施例では、レーザ光源１７は、射出する
直線偏光面が光軸１８と反射光軸３４を含む面内になる
ように向きが設定されているものとして説明を行った
が、このレーザ光源１７の向きを９０°回転した場合に
は、反射部１００からの反射レーザ光束は偏光ビームス
プリッタ３６により反射され第２検出器に入射し、入射
部１００以外のものによって反射されたレーザ光束は第
１検出器に入射することになり、前述と同様に対象反射
物体からの光束であるか否かを判断することができる。
【００１１】制御部４４は、例えば、検出部１６が対象
反射物体を検出すると、その位置で往復運動を続けるよ
うにペンタプリズム５２の回動を制御する。上記実施例
においては、円偏光レーザ光束を反射部を照射している
が、直線レーザ光束を反射部によって照射するように構
成してもよい。なお、偏光ビームスプリッタはダイクロ
ックミラーで構成してもよく、又ハーフミラーを用い、
それと検出部４０、４２の間に偏光フィルターを方向を
違えていることで構成してもよい。本発明の他の実施例
の対象反射物体検出装置は、図６に示されるが、図１に
示した構成と共通の構成については、共通の符号を付
し、その説明は省略する。孔開きミラー３０と偏光ビー
ムスプリッタ３６との間には、コンデンサーレンズ２０
０が配置され、図１におけるコンデンサーレンズ３８、
４１が除去されている。この実施例においては、コンデ
ンサーレンズがただ１個である利点がある。本発明のさ
らに他の実施例の対象反射物体検出装置は、図７に示さ
れるが、図６に示した構成と共通の構成については、共
通の符号を付し、その説明は省略する。孔開きミラー３
０と偏光ビームスプリッタ３６との間には、ピンホール
３００’を光軸上に配置したピンホール板３００’’が
置かれ、不要な迷光すなわちノイズ光を排除する。図６
におけるピンホール板４０’’、４２’’が除去されて
いる。この実施例においては、ピンホール板がただ１個
である利点がある。
反射物体を検出すると、その位置で往復運動を続けるよ
うにペンタプリズム５２の回動を制御する。上記実施例
においては、円偏光レーザ光束を反射部を照射している
が、直線レーザ光束を反射部によって照射するように構
成してもよい。なお、偏光ビームスプリッタはダイクロ
ックミラーで構成してもよく、又ハーフミラーを用い、
それと検出部４０、４２の間に偏光フィルターを方向を
違えていることで構成してもよい。本発明の他の実施例
の対象反射物体検出装置は、図６に示されるが、図１に
示した構成と共通の構成については、共通の符号を付
し、その説明は省略する。孔開きミラー３０と偏光ビー
ムスプリッタ３６との間には、コンデンサーレンズ２０
０が配置され、図１におけるコンデンサーレンズ３８、
４１が除去されている。この実施例においては、コンデ
ンサーレンズがただ１個である利点がある。本発明のさ
らに他の実施例の対象反射物体検出装置は、図７に示さ
れるが、図６に示した構成と共通の構成については、共
通の符号を付し、その説明は省略する。孔開きミラー３
０と偏光ビームスプリッタ３６との間には、ピンホール
３００’を光軸上に配置したピンホール板３００’’が
置かれ、不要な迷光すなわちノイズ光を排除する。図６
におけるピンホール板４０’’、４２’’が除去されて
いる。この実施例においては、ピンホール板がただ１個
である利点がある。
【００１２】
【発明の効果】本発明による対象反射物体検出装置によ
れば、特定反射物体からの反射光束と特定反射物体に光
学的に類似したそれ以外の非対象反射物体からの反射光
束を確実に識別することができる効果を有する。
れば、特定反射物体からの反射光束と特定反射物体に光
学的に類似したそれ以外の非対象反射物体からの反射光
束を確実に識別することができる効果を有する。
【図１】本発明の実施例の対象反射物体検出装置を包含
するレーザ回転照射装置の構造説明図である。
するレーザ回転照射装置の構造説明図である。
【図２】図１に示すレーザ回転照射装置の反射部の正面
図である。
図である。
【図３】図１に示すレーザ回転照射装置の他の構成の反
射部の正面図である。
射部の正面図である。
【図４】図１に示すレーザ光束が反射部で反射された時
の光電検出部の出力を示すグラフである。
の光電検出部の出力を示すグラフである。
【図５】図１に示すレーザ光束が反射部以外のもので反
射された時の光電検出部の出力を示すグラフである。
射された時の光電検出部の出力を示すグラフである。
【図６】本発明の他の実施例の対象反射物体検出装置を
包含するレーザ回転照射装置の構造説明図である。
包含するレーザ回転照射装置の構造説明図である。
【図７】本発明のさらに他の実施例の対象反射物体検出
装置を包含するレーザ回転照射装置の構造説明図であ
る。
装置を包含するレーザ回転照射装置の構造説明図であ
る。
１ レーザ回転照射装置 １０ 本体部１０ １２ 固定部 １４ レーザ発光部 １６ 検出部 １７ レーザ光源 １８ 光軸 ２０ コリメータレンズ ２２ 傾斜補正部 ２４ λ／４複屈折部材 ３０ 開口 ３２ 孔開きミラー ３６ 偏光ビームスプリッタ ３８ コンデンサーレンズ ４０ 第１光電検出器 ４０’ ピンホール ４０’’ ピンホール板 ４１ コンデンサーレンズ ４２ 第２光電検出器 ４２’ ピンホール ４２’’ ピンホール板 ４４ 制御部 ４６ 制御部 ５０ 回動部 ５２ ペンタプリズム １００ 反射部１００ １０６ 基板 １０８ 反射板 １１０ 複屈折部材 ２００ コンデンサーレンズ ３００’ ピンホール ３００’’ ピンホール板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西澤 裕之 東京都板橋区蓮沼町75番１号 株式会社ト プコン内 (72)発明者 吉野 健一郎 東京都板橋区蓮沼町75番１号 株式会社ト プコン内
Claims (6)
- 【請求項１】 偏光照射光束を本体部より対象反射物体
に向けて照射し、該対象反射物体によって偏光方向が変
えられて反射された偏光反射光束を上記本体部で受光し
て、対象反射物体を検出する対象反射物体検出装置にお
いて、 上記本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出
する第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束
と異なった偏光光束を検出する第２検出手段とからな
り、第１検出手段の出力と第２検出手段の出力の比較か
ら偏光反射光束が対象反射物体からの偏光反射光束であ
るか否かを識別することを特徴とする対象反射物体検出
装置。 - 【請求項２】 上記偏光照射光束が、円偏光であること
を特徴とする請求項１記載の対象反射物体検出装置。 - 【請求項３】 上記偏光照射光束が、直線偏光であるこ
とを特徴とする請求項１記載の対象反射物体検出装置。 - 【請求項４】 偏光照射光束を本体部より対象反射物体
に向けて照射し、該対象反射物体によって偏光方向が変
えられて反射された偏光反射光束を上記本体部で受光し
て、対象反射物体を検出する対象反射物体検出装置にお
いて、 上記本体部が、対象反射物体からの偏光反射光束を検出
する第１検出手段と、対象反射物体からの偏光反射光束
と異なった偏光光束を検出する第２検出手段と、第１検
出手段の出力と第２検出手段の出力と比較する比較手段
を有することを特徴とする対象反射物体検出装置。 - 【請求項５】 上記偏光照射光束が、円偏光であること
を特徴とする請求項１記載の対象反射物体検出装置。 - 【請求項６】 上記偏光照射光束が、直線偏光であるこ
とを特徴とする請求項１記載の対象反射物体検出装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23152293 | 1993-09-17 | ||
| JP5-231522 | 1993-09-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07134026A true JPH07134026A (ja) | 1995-05-23 |
| JP2939413B2 JP2939413B2 (ja) | 1999-08-25 |
Family
ID=16924811
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6145194A Expired - Lifetime JP2939413B2 (ja) | 1993-09-17 | 1994-03-30 | 対象反射物体検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2939413B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997016703A1 (fr) * | 1995-10-30 | 1997-05-09 | Kabushiki Kaisha Topcon | Systeme laser rotatif |
| US5751408A (en) * | 1994-06-21 | 1998-05-12 | Kabushiki Kaisha Topcon | Surveying apparatus |
| WO2017039170A1 (ko) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | (주)이오테크닉스 | 물체의 두께 또는 높이 변화를 측정하는 장치 및 방법 |
| CN111830533A (zh) * | 2019-04-16 | 2020-10-27 | 埃尔构人工智能有限责任公司 | 偏振敏感激光雷达系统 |
-
1994
- 1994-03-30 JP JP6145194A patent/JP2939413B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5751408A (en) * | 1994-06-21 | 1998-05-12 | Kabushiki Kaisha Topcon | Surveying apparatus |
| WO1997016703A1 (fr) * | 1995-10-30 | 1997-05-09 | Kabushiki Kaisha Topcon | Systeme laser rotatif |
| US5894123A (en) * | 1995-10-30 | 1999-04-13 | Kabushiki Kaisha Topcon | Laser rotary irradiating system for irradiating a laser beam |
| WO2017039170A1 (ko) * | 2015-09-03 | 2017-03-09 | (주)이오테크닉스 | 물체의 두께 또는 높이 변화를 측정하는 장치 및 방법 |
| CN111830533A (zh) * | 2019-04-16 | 2020-10-27 | 埃尔构人工智能有限责任公司 | 偏振敏感激光雷达系统 |
| CN111830533B (zh) * | 2019-04-16 | 2024-01-30 | Lg伊诺特有限公司 | 偏振敏感激光雷达系统 |
| US11947039B2 (en) | 2019-04-16 | 2024-04-02 | Lg Innotek Co., Ltd. | Polarization sensitive LiDAR system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2939413B2 (ja) | 1999-08-25 |
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