JP2727692B2 - サーミスタ素子 - Google Patents

サーミスタ素子

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JP2727692B2
JP2727692B2 JP27414389A JP27414389A JP2727692B2 JP 2727692 B2 JP2727692 B2 JP 2727692B2 JP 27414389 A JP27414389 A JP 27414389A JP 27414389 A JP27414389 A JP 27414389A JP 2727692 B2 JP2727692 B2 JP 2727692B2
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solder
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暢晴 香月
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は家電機器,住設機器,医療機器,自動車機器
などの温度センサ用素子として用いられ、特に小さなス
ペースに装着することが可能な小型のサーミスタ素子に
関するものである。
従来の技術 従来、この種のサーミスタ素子は、第2図aに示すよ
うな構造であり、第2図bに示すようなサーミスタチッ
プを用いていた。すなわち、円柱状または角柱状に焼成
されたサーミスタ焼成体をスライシングソーにより厚さ
200〜500μmウェハ状に切りだし、60〜80%Ag、3.5〜
7.0%ガラスフリット成分含有のペースト、または75〜8
5%Ag、0〜1%ガラスフリット成分含有のペーストを
前記サーミスタウェハの両面にそれぞれ印刷し焼き付け
ることにより電極5を形成し、前記サーミスタウェハを
200〜300℃の温度に保持された半田槽に浸漬させること
により前記サーミスタチップの電極面に半田層4を形成
する。さらに、前記サーミスタウェハをダイシングソー
により300〜700μm角のチップ形状に切断した後、一端
を半田アゲした二本のポリウレタンで被覆した銅線から
なるリード線2を前記サーミスタウェハ1の両面の電極
5上に形成した半田層4に接触させ、ヒータで前記リー
ド線2を加圧しつつ加熱することで接続した後、エポキ
シ樹脂3で前記リード線の一部を除く全体をコーティン
グした構成であった。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、このような従来の構成では、以下に記
す問題点があった。
(1) 60〜80%Ag、3.5〜7.0%ガラスフリット成分含
有のペーストをサーミスタウェハの両面に印刷し焼き付
けることで電極を形成した後、サーミスタウェハを半田
槽に浸漬させることでサーミスタウェハ電極面に半田層
を形成した場合、サーミスタウェハを半田槽に浸漬させ
ることによって電極のAg食われが発生し、素子完成品と
した場合の抵抗値のバラツキが大きく、安定した特性を
得ることができない。
(2) 75〜85%Ag、0〜1%ガラスフリット成分含有
のペーストをサーミスタウェハの両面に印刷し焼き付け
ることで電極を形成した後、サーミスタウェハを半田槽
に浸漬させることでサーミスタウェハ電極面に半田槽を
形成する場合、サーミスタウェハに対する電極の接着強
度が低いために半田層を形成した後、ダイシングソーで
チップ形状に切りだすときに電極の剥がれが発生し、素
子完成品とした場合の抵抗値のバラツキが大きく、安定
した特性を得ることができない。
本発明はこのような問題点を解決するもので、電極面
上の半田層形成時における電極のAg食われを防ぎ、且
つ、ダイシングソーによる切断時の電極剥がれを防ぐこ
とによって素子完成品としての抵抗値のバラツキを小さ
くおさえ、安定した特性を得ることができるサーミスタ
素子を提供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段 この問題点を解決するために本発明のサーミスタ素子
は、サーミスタチップの相対する両面に形成される電極
を二層構造としたものであり、電極下層が60〜80%Ag、
3.5〜7.0%ガラスフリット成分含有のペースト材を印刷
し焼き付けたことよりなる層であり、電極上層が75〜85
%Ag、0〜1%ガラッスフリット成分含有のペースト材
を印刷し焼き付けたことよりなる層であることを特徴と
するものである。
作用 本発明のサーミスタ素子は、サーミスタチップの電極
が二層からなる構造であり、電極下層を60〜80%Ag、3.
5〜7.0%ガラスフリット成分含有のペースト材を印刷し
焼き付けたことよりなる層とし、電極上層を75〜85%A
g,0〜1%ガラスフリット成分含有のペースト材を印刷
し焼き付けたことよりなる層とすることにより、電極上
層から電極面への半田層形成時における電極のAg食われ
を防ぎ、且つ、電極下層からダイシングソーによる切断
時の電極剥がれを防ぐことが可能となる。従って、この
2層構造の電極によって素子完成品としての抵抗値のバ
ラツキを小さくおさえ、安定した特性を有するサーミス
タ素子を実現することができる。
実施例 以下、本発明の一実施例について、第1図a,b,cを説
明する。
第1図a,bは本発明の一実施例によるサーミスタ素子
の断面図、およびサーミスタチップの断面図であり、円
柱状に焼成されたサーミスタをスライシングソーにより
厚さ200〜500μmのウェハ状に切りだし、60〜80%Ag、
3.5〜7.0%ガラスフリット成分含有のペーストをサーミ
スタウェハの両面にスクリーンにより印刷し焼き付ける
ことで電極下層6を形成する。さらに、サーミスタウェ
ハの両面に形成した電極下層6上に75〜85%Ag、0〜1
%ガラスフリット成分含有のペーストをスクリーンによ
り印刷し焼き付けることで電極上層7を形成した。この
ように2層構造の電極を形成したサーミスタウェハを20
0〜300℃に設定した半田槽の半田液中に浸漬させ電極上
層7上に半田層4を形成した後、ダイシングソーにより
300〜700μm角のチップ形状に切断した。さらに、一端
を半田アゲしたφ0.2mm程度の二本のポリウレタンで被
覆した銅線からなるリード線2をサーミスタチップ1の
両面の電極上層7上に形成した半田層4に接触させ、モ
リブデンからなるヒータで前記リード線2を加圧しつつ
220〜260℃で加熱することでリード線2の半田とサーミ
スタチップ1の半田を互いに溶融することで接続した。
その後エポキシ樹脂3で前記リード線2の一部を除く全
体をコーティングした。
ここで、下表1に従来例、及び、本実施例におけるリ
ード線接続後のリード線剥離強度、および、素子完成品
の抵抗値バラツキを示す。
上表1からわかるように、従来例に対し本実施例は抵
抗値のバラツキは小さくなり、リード線剥離強度も安定
していることがわかる。
また、下表2,3にAg含有量、及び、ガラスフリット含
有量と抵抗値バラツキの関係を示す。
上表2,3からわかるように、ペースト材のAg,および、
ガラスフリットの含有量は電極下層の形成にもちいるペ
ースト材は60〜80%Ag,3.5〜7.0%ガラスフリット成分
含有のペースト材が良好であり、電極上層の形成に用い
るペースト材は75〜85%Ag、0〜1%ガラスフリット成
分含有のペースト材が良好であることがわかる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、サーミスタチップの相
対する両面に形成する電極を二層構造とし、電極下層を
60〜80%Ag、3.5〜7.0%ガラスフリット成分含有のペー
スト材を印刷し焼き付けたことよりなる層とし、電極上
層を75〜85%Ag,0〜1%ガラスフリット成分含有のペー
スト材を印刷し焼き付けたことよりなる層とすること
で、電極面への半田層形成時における電極のAg食われを
防ぎ、且つ、ダイシングソーによる切断時の電極剥がれ
を防ぐことが可能となる。従って、この2層構造の電極
によって素子完成品としての抵抗値のバラツキを小さく
おさえ、安定した特性を有するサーミスタ素子を実現す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図aは本発明の一実施例によるサーミスタ素子の断
面図、第1図bは同素子のサーミスタチップの断面図、
第2図aは従来のサーミスタ素子を示す断面図、第2図
bは同素子のサーミスタチップの断面図である。 1……サーミスタチップ、2……ポリウレタンで被覆し
た銅線よりなるリード線、3……エポキシ樹脂、4……
半田層、6……電極下層、7……電極上層。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】サーミスタチップの相対する両面にそれぞ
    れ形成した2層構造の電極上に半田層を形成し、前記半
    田層にそれぞれ一端を半田で被覆したリード線を接合
    し、前記リード線の一部を除く全体を樹脂材料でコーテ
    ィングしたサーミスタ素子であって、前記二層構造の電
    極は、電極下層が60〜80%Ag、3.5〜7.0%ガラスフリッ
    ト成分含有のペースト材を印刷し焼き付けたことよりな
    る層であり、電極上層が75〜85%Ag、0〜1%ガラスフ
    リット成分含有のペースト材を印刷し焼き付けたことよ
    りなる層であることを特徴とするサーミスタ素子。
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