JP2723237B2

JP2723237B2 - ベクトルフォント再生装置

Info

Publication number: JP2723237B2
Application number: JP63006031A
Authority: JP
Inventors: 雅谷; 博浜田; 晃小松; 宏野村; 一朗奥井
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Computer Engineering Corp
Current assignee: Toshiba Corp; Toshiba Computer Engineering Corp
Priority date: 1988-01-14
Filing date: 1988-01-14
Publication date: 1998-03-09
Anticipated expiration: 2013-03-09
Also published as: JPH01181172A

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明は圧縮されたベクトルフォントデータを伸長処
理してベクトルフォントを再生する装置に於いて、再生
されたフォントの輪郭線で囲まれる内側の領域を高速に
塗潰し処理するベクトルフォント再生装置に関する。

（従来の技術）デザイナーによって作られた原画（文字フォント）を
もとに生成したドットイメージデータを扱うシステムに
於いて、上記イメージデータをそのままの形で保存し転
送したのでは扱うデータ量が膨大なものとなり、記憶容
量、転送速度等、種々の面で実用上の問題が生じる。そ
こで、上記イメージデータの保存、転送等を効率良く行
なうためのデータ圧縮手段が必要とされる。これを実現
する手段として、デザイナーによって作られた文字フォ
ント等の原画をスキャンしてその輪郭を抽出し、同抽出
された輪郭ドットデータをもとにベクトルフォントデー
タを生成する手段が考えられる（特願昭62−21002号公
報，特願昭62−21003号公報，特願昭62−21004号公報参
照）。

この際、ベクトルフォント再生時に於いて、従来で
は、第３図（a1）乃至（c1）に示すように、ベクトルフ
ォントの輪郭情報をドット展開した後、その輪郭ドット
に対して１ライン毎に順次塗潰し処理を行なっていた。
このため従来ではベクトルフォント再生に多くの処理時
間を要していた。

（発明が解決しようとする問題点）上述したように従来では、ベクトルフォント再生装置
に於いて、従来ではベクトルフォントの輪郭情報をドッ
ト展開した後、その輪郭ドットに対して、１ライン毎に
順次塗潰し処理を行なっていたため、ベクトルフォント
再生に多くの処理時間を要していた。

本発明は上記実情に鑑みなされたもので、輪郭パター
ンの塗潰しパターンを生成するに際し、１行毎に複数ド
ット幅単位で塗潰しが行えるようにして、塗潰し処理の
高速化が図れるとともに、その塗潰しパターンの生成を
簡単な論理演算にて実行でき回路構成の簡素化が図れる
ベクトルフォント再生装置を提供することを目的とす
る。

［発明の構成］（問題点を解決するための手段及び作用）本発明のベクトルフォント再生装置は、圧縮ベクトル
データを伸長処理して得た再生フォントの輪郭を抽出し
輪郭パターンを取得する輪郭抽出手段と、前記輪郭抽出
手段により取得された輪郭パターンを格納する輪郭パタ
ーン格納手段と、ｎドット幅の１行分のパターンを一時
格納する一時格納手段と、前記輪郭パターン格納手段に
て格納されている輪郭パターンのうちドットの塗潰しの
対象とする塗潰対象行のパターンをｎドット幅分読み出
す読出手段と、前記読出手段により読み出された塗潰対
象行のパターンと前記一時格納手段に格納されているパ
ターンとを対応ドット毎に反一致論理和加算し、得られ
たパターンを前記一時格納手段に出力する反一致論理和
加算手段と、前記反一致論理和加算手段により得れられ
たパターンと前記塗潰対象行のｎドット幅分のパターン
とを対応ドット毎に論理和加算し、得られたパターンを
前記塗潰対象行のｎドット幅分の輪郭塗潰しパターンと
して前記輪郭パターン格納手段に出力する論理和加算手
段と備えて、輪郭パターンの塗潰しパターンを生成する
に際し、１行毎にｎドットずつ塗潰しが行えるようにし
たことを特徴とする。

（実施例）以下図面を参照して本発明の一実施例を説明する。

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図である。

図中、１は再生すべき文字フォントを圧縮されたベク
トルフォントデータとして格納している外部記憶、例え
ばハードディスク装置（HDD）である。２は上記ハード
ディスク装置１より読出された圧縮化ベクトルフォント
データ（原画のパターンデータ）を圧縮前の演算処理可
能なデータフォーマットに戻す伸長回路、３は同回路２
で伸長処理されたデータの黒ドット／白ドット判別を行
なう伸長ベクトル判別回路である。４は同回路３の判別
結果に応じて、白ドット処理（ベクトル計数後の仮想ド
ットセット処理）、及び黒ドット処理（ベクトル計算後
の実ドットセット処理）を実行し、輪郭抽出されたパタ
ーンデータを得るドット処理回路である。

５は上記ドット処理回路４で得られる輪郭抽出された
パターンデータ、更には同パターンデータを塗潰し処理
した再生文字フォントパターン等が展開されるドットイ
メージ展開バッファであり、輪郭線内閉塞面の塗潰し処
理時に於いて、展開されたパターンデータを、装置で扱
うデータの１語長（ここでは２バイト＝16ビット）単位
をもって行（ライン）を更新しながら読出す。

６は上記ドットイメージ展開バッファ５上に展開され
た輪郭パターンをもとにその輪郭線内の閉塞面をｎドッ
ト（ここではｎ＝16ドット）並列に塗潰し処理する輪郭
塗潰し処理回路である。

第２図は上記輪郭塗潰し処理回路６の論理演算部の構
成を示す回路ブロック図である。

図中、61はドットイメージ展開バッファ５から読出さ
れた16ドット幅のパターンデータとレジスタ62に貯えら
れたパターンデータを対応ドット毎に同時並行して反一
致論理和加算するエクスクルシーブオア回路（以下EXオ
ア回路と称す）、62は上記EXオア回路61の出力データを
ドットイメージ展開バッファ５のメモリリードサイクル
で発生するメモリリード信号MRに従いラッチする16ビッ
ト構成のレジスタ（RA）、63はドットイメージ展開バッ
ファ５から読出された16ドット幅のパターンデータを上
記メモリリード信号MRに従いラッチする16ビット構成の
レジスタ（RB）、64は上記各レジスタ62,63の出力デー
タを対応ドット毎に同時並行して論理和加算するオア回
路である。このオア回路64の出力データが塗潰しパター
ンとしてドットイメージ展開バッファ５に書込まれる。
更にこのデータ書込み毎にレジスタ63がリセットされ、
１文字分のライン数だけ16ドット単位の塗潰しパターン
を生成した後（第３図（c2）参照）、レジスタ62がリセ
ットされる。

第３図乃至第５図はそれぞれ上記実施例の動作を説明
するための図である。このうち、第３図は輪郭線内閉塞
面の塗潰し処理手順を上述した従来技術と本発明による
塗潰し処理とで対比して示したもので、同図（a1），
（b1），（c1）は従来の塗潰し処理手順、同図（a2），
（b2），（c2）は本発明の実施例による塗潰し処理手順
を示している。従来では１ラインずつｘ方向に順次ドッ
ト単位で塗潰し処理してゆくのに対し、本発明の実施例
では装置のデータ転送幅（１語16ビット）に従う16ドッ
ト単位でｙ方向に塗潰し処理してゆく。

第４図は上記実施例に従う第３図（c2）の円で囲んだ
ライン（ラインＡ〜Ｎ）部分の輪郭パターンを示す図で
ある。

第５図（ａ）乃至（ｅ）はそれぞれ上記実施例に於け
る第４図の各ライン処理毎のレジスタ（RA）62、及びレ
ジスタ（RB）63のデータ内容を示す図である。

ここで、上記第１図乃至第５図を参照して本発明の一
実施例による動作を説明する。

ハードディスク装置１より読出された、修飾処理対象
となる原画パターンの圧縮化ベクトルデータは、伸長回
路２により、演算処理可能なデータフォーマットをもつ
圧縮前の単純化された［x,y］の絶対ベクトルデータに
変換され、更に伸長ベクトル判別回路３によりドット判
別（白ドット／黒ドット判別）された後、ドット処理回
路４に供給される。ドット処理回路４は伸長ベクトル判
別回路３の判別処理結果に応じて、黒ドット処理（ベク
トル計算後の仮想ドットセット処理）、及び白ドット処
理（ベクトル計算後の実ドットセット処理）を実行し、
第３図（b2）に示すような輪郭抽出された再生フォント
を修飾処理対象として一時的にドットイメージ展開バッ
ファ５上に展開する。

ドットイメージ展開バッファ５上に第３図（b2）に示
すような輪郭抽出されたパターンが展開された後、同展
開されたパターンデータが１行16ドット単位で順次行を
更新しながら読み出され、輪郭塗潰し処理回路６により
再生フォントの輪郭線内閉塞面が16ドット単位で同時に
塗潰し処理される。

この際の具体的な塗潰し処理を第３図（c2）と第４図
及び第５図を参照して説明する。

ドットイメージ展開バッファ５から読出された１ライ
ンの16ドットのパターンデータは同バッファ５のメモリ
リードタイミングで輪郭塗潰し処理回路６のレジスタ63
にラッチされるとともに、EXオア回路61を介してレジス
タ62にラッチされる。この際、EXオア回路61は、ドット
イメージ展開バッファ５から読出された16ドットのパタ
ーンデータとレジスタ62に貯えられたデータとを反一致
論理和加算してレジスタ62に供給する。最初のライン
（Ａ）入力ではレジスタ62の内容がクリア状態（即ち全
ドットが白であることを示すオール“0"）状態にあり、
ラインＡには第４図に示す如く輪郭ドット（黒ドット）
が存在しないことから、EXオア回路61を介してレジスタ
62にラッチされるデータに変化はなく、続くラインＢ乃
至ラインＤも第４図に示す如く輪郭ドットが存在しない
ことからレジスタ62にラッチされるデータに変化はな
い。

ラインＥの入力では、レジスタ62の内容がクリア状態
にあり、ラインＥの第13〜第16ドットが輪郭ドット（黒
ドット）であることから、EXオア回路61からは第13〜第
16ドットが黒のパターンデータが出力され、同パターン
データがレジスタ62にラッチされる。又、レジスタ63に
はラインＥのパターンデータがそのままラッチされる。
この際の各レジスタ状態を第５図（ａ）に示す。

上記各レジスタ62,63のパターンデータはオア回路64
で対応ビット毎に論理和加算され、輪郭塗潰しパターン
としてドットイメージ展開バッファ５に書込まれる。こ
の書込み後、レジスタ63がクリアされる。

ラインＦの入力では、ラインＦの第12ドットが輪郭ド
ット（黒ドット）であることから、EXオア回路61から
は、上記レジスタ62のパターンデータ（第13〜第16ドッ
トが黒）にラインＦのパターンデータを加えた、第12〜
第16ドットが黒のパターンデータが出力され、同パター
ンデータがレジスタ62にラッチされる。又、レジスタ63
にはラインＦのパターンデータがそのままラッチされ
る。この際の各レジスタ状態を第５図（ｂ）に示す。

上記各レジスタ62,63のパターンデータは上記同様に
オア回路64で対応ビット毎に論理和加算され、輪郭塗潰
しパターンとしてドットイメージ展開バッファ５に書込
まれる。この書込み後、レジスタ63がクリアされる。

ラインＧの入力では、ラインＧの第11ドットが輪郭ド
ット（黒ドット）であることから、EXオア回路61から
は、上記レジスタ62のパターンデータ（第12〜第16ドッ
トが黒）にラインＧのパターンデータを加えた、第11〜
第16ドットが黒のパターンデータが出力され、同パター
ンデータがレジスタ62にラッチされる。又、レジスタ63
にラインＧのパターンデータがそのままラッチされる。
この際の各レジスタ状態を第５図（ｃ）に示す。

ラインＭの入力では、ラインＭの第５ドットが輪郭ド
ット（黒ドット）であることから、EXオア回路61から
は、上記レジスタ62のパターンデータ（第６〜第16ドッ
トが黒）にラインＭのパターンデータを加えた、第５〜
第16ドットが黒のパターンデータが出力され、同パター
ンデータがレジスタ62にラッチされる。又、レジスタ63
にはラインＭのパターンデータがそのままラッチされ
る。この際の各レジスタ状態を第５図（ｄ）に示す。

ラインＮの入力では、ラインＮの第５ドットが輪郭ド
ット（黒ドット）であることから、EXオア回路61から
は、上記レジスタ62のパターンデータ（第５〜第16ドッ
トが黒）にラインＭのパターンデータを加えた、第６〜
第16ドットが黒のパターンデータが出力され、同パター
ンデータがレジスタ62にラッチされる。

即ち、この際は、レジスタ62の第５ドットとラインＭ
の第５ドットが共に、黒（“1"）であることから、EXオ
ア回路61からは、第１〜第５ドットが白（“0"）、第６
〜第16ドットが黒（“1"）のパターンデータが出力され
る。

又、レジスタ63にはラインＮのパターンデータがその
ままラッチされる。

この際の各レジスタ状態を第５図（ｅ）に示す。

上記各レジスタ62,63のパターンデータは上記同様に
オア回路64で対応ビット毎に論理和加算され、輪郭塗潰
しパターンとしてドットイメージ展開バッファ５に書込
まれる。ここでは上記したようにEXオア回路61で削られ
た輪郭ドット（第５ドット）がレジスタ63に貯えられた
輪郭ドットによって補われる。

この書込み後、レジスタ63がクリアされる。

このような処理が繰返し実行され、再生されたフォン
トの輪郭線で囲まれる内側の領域が１語長単位（16ドッ
ト単位）で高速に塗潰し処理される。これにより、従
来、ベクトルフォントを扱う装置に於いて問題とされて
いた処理速度が遅いという問題が一挙に解消され、極め
て高速の文字再生マシンが実現できる。

［発明の効果］以上詳記したように本発明のベクトルフォント再生装
置によれば、圧縮ベクトルデータを伸長処理して得た再
生フォントの輪郭を抽出し同輪郭パターンを展開保持す
る手段と、同保持されたパターンデータを１行ｎドット
幅で行更新しながら読出す手段と、ｎビット構成のレジ
スタと論理演算回路を有し、上記レジスタ上にて前回読
出した輪郭パターンと今回読出した輪郭パターンを対応
ドット毎に論理演算し今回読出した輪郭パターンに対応
する塗潰しパターンを生成する塗潰し回路とを備え、再
生フォントの輪郭線内閉塞面をｎドット単位で同時に塗
潰し処理する構成としたことにより、再生されたフォン
トの輪郭線で囲まれる内側の領域を高速に塗潰し処理す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
上記実施例に於ける輪郭塗潰し処理回路の論理演算部の
構成を示す回路ブロック図、第３図乃至第５図はそれぞ
れ上記実施例の動作を説明するためのもので、第３図は
輪郭線内閉塞面の塗潰し処理手順を従来技術と本発明に
よる塗潰し処理とで対比して示す図、第４図は上記第３
図（c2）の円で囲んだライン（ラインＡ〜Ｎ）部分の輪
郭パターンを示す図、第５図（ａ）乃至（ｅ）はそれぞ
れ上記第４図の各ライン処理毎のレジスタ（RA,RB）の
データ内容を示す図である。１……ハードディスク装置、２……伸長回路、３……伸
長ベクトル判別回路、４……ドット処理回路、５……ド
ットイメージ展開バッファ、６……輪郭塗潰し処理回
路、61……EX（エクスクルシーブ）オア回路、62……レ
ジスタ（RA）、63……レジスタ（RB）、64……オア回
路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者小松晃東京都青梅市末広町２丁目９番地株式会社東芝青梅工場内 (72)発明者野村宏東京都青梅市末広町２丁目９番地株式会社東芝青梅工場内 (72)発明者奥井一朗東京都青梅市末広町２丁目９番地東芝コンピュータエンジニアリング株式会社内

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】圧縮ベクトルデータを伸長処理して得た再
生フォントの輪郭を抽出し輪郭パターンを取得する輪郭
抽出手段と、前記輪郭抽出手段により取得された輪郭パターンを格納
する輪郭パターン格納手段と、ｎドット幅の１行分のパターンを一時格納する一時格納
手段と、前記輪郭パターン格納手段にて格納されている輪郭パタ
ーンのうちドットの塗潰しの対象とする塗潰対象行のパ
ターンをｎドット幅分読み出す読出手段と、前記読出手段により読み出された塗潰対象行のパターン
と前記一時格納手段に格納されているパターンとを対応
ドット毎に反一致論理和加算し、得られたパターンを前
記一時格納手段に出力する反一致論理和加算手段と、前記反一致論理和加算手段により得れられたパターンと
前記塗潰対象行のｎドット幅分のパターンとを対応ドッ
ト毎に論理和加算し、得られたパターンを前記塗潰対象
行のｎドット幅分の輪郭塗潰しパターンとして前記輪郭
パターン格納手段に出力する論理和加算手段とを具備することを特徴とするベクトルフォント再生装
置。