JP2669383B2 - 液晶表示パネルの検査方法 - Google Patents
液晶表示パネルの検査方法Info
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- JP2669383B2 JP2669383B2 JP4016995A JP4016995A JP2669383B2 JP 2669383 B2 JP2669383 B2 JP 2669383B2 JP 4016995 A JP4016995 A JP 4016995A JP 4016995 A JP4016995 A JP 4016995A JP 2669383 B2 JP2669383 B2 JP 2669383B2
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- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示パネルの検査
方法に関し、特にアクティブマトリクス型液晶表示パネ
ルの検査方法に関する。
方法に関し、特にアクティブマトリクス型液晶表示パネ
ルの検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＬＣＤパネルのパネル検査の方法
について説明する。従来技術による検査方法とそのため
の構成を図４に示す。パネルの表示部１の信号線３や走
査線２は適当な単位、例えば数１０本の単位でブロック
化されて直列または並列に結線され、かつそれらのブロ
ック毎に検査電極が与えられている。走査線２側には並
列接続のための接続線９が、そして信号線３側では直列
接続のための接続線１０が形成されている。走査線２側
では並列接続であるから検査端子１１はブロック毎に１
個、信号線３側では直列接続であるから検査端子１２は
ブロック毎に電極端子群の両端に２個ずつ配置されてい
る。検査時には適当な手段により走査信号を検査端子１
１に印加し、映像信号を２個の検査端子１２に印加して
パネルの表示検査を行なう。
について説明する。従来技術による検査方法とそのため
の構成を図４に示す。パネルの表示部１の信号線３や走
査線２は適当な単位、例えば数１０本の単位でブロック
化されて直列または並列に結線され、かつそれらのブロ
ック毎に検査電極が与えられている。走査線２側には並
列接続のための接続線９が、そして信号線３側では直列
接続のための接続線１０が形成されている。走査線２側
では並列接続であるから検査端子１１はブロック毎に１
個、信号線３側では直列接続であるから検査端子１２は
ブロック毎に電極端子群の両端に２個ずつ配置されてい
る。検査時には適当な手段により走査信号を検査端子１
１に印加し、映像信号を２個の検査端子１２に印加して
パネルの表示検査を行なう。
【０００３】なお、検査終了後に走査線や信号線を、ブ
ロック化して並列または直列に接続している接続線９，
１０は最終的には不要なため、除去を行なう。この接続
線は本端子の配線材料と同じＣｒやアルミニュームで作
られており、除去を行なうには本端子等を傷付けないよ
うに端子と端子のすき間（１００〜５０μｍ）をパネル
ゲート端子だけでも２００〜５００箇所、レーザーカッ
ト等の手段により除去を行なう（特開平３−１４６９９
３）。
ロック化して並列または直列に接続している接続線９，
１０は最終的には不要なため、除去を行なう。この接続
線は本端子の配線材料と同じＣｒやアルミニュームで作
られており、除去を行なうには本端子等を傷付けないよ
うに端子と端子のすき間（１００〜５０μｍ）をパネル
ゲート端子だけでも２００〜５００箇所、レーザーカッ
ト等の手段により除去を行なう（特開平３−１４６９９
３）。
【０００４】以上説明したように、従来技術では走査線
側（ゲート端子）を全端子一括して駆動して、パネルの
表示検査を行なっているため、モジュール駆動のように
端子１本１本を独立して第１本目から順番に駆動してい
ない構造である。
側（ゲート端子）を全端子一括して駆動して、パネルの
表示検査を行なっているため、モジュール駆動のように
端子１本１本を独立して第１本目から順番に駆動してい
ない構造である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この従来のパネルの表
示検査方法では、パネルの駆動方法が、端子にドライバ
ーＩＣを接続させたモジュール状態のモジュール駆動の
ように、ゲートラインを上から順番に線順次駆動するこ
とができないので、検査時の駆動条件が、パネル時とモ
ジュール時で異なり、モジュールにて発見される欠陥や
表示不良等をパネル表示検査の時点で見つけることがで
きないという問題点があった。
示検査方法では、パネルの駆動方法が、端子にドライバ
ーＩＣを接続させたモジュール状態のモジュール駆動の
ように、ゲートラインを上から順番に線順次駆動するこ
とができないので、検査時の駆動条件が、パネル時とモ
ジュール時で異なり、モジュールにて発見される欠陥や
表示不良等をパネル表示検査の時点で見つけることがで
きないという問題点があった。
【０００６】例えば従来方法であるゲート側一括駆動で
は「（１）Ｇ−Ｇショート。」、「（２）次段または前
段のゲート配線とピクセルとの寄生容量があるため、ピ
クセルの電位が変化し電圧条件がモジュール駆動と多少
異なるため、半明点等が検出できない。」、「（３）ゲ
ート配線がストレージ容量を兼ねるゲートストレージの
場合、ピクセルの電位がストレージの影響で変化してし
まい、電圧条件がモジュールの場合と異なるため点欠陥
等が検出できない。」等の欠点がある。また、パネル状
態でモジュール駆動を行なうにはゲート端子１本１本に
プローブを接触させて線順次駆動を行なう必要がある。
ゲートの端子数は通常２４０〜４８０本程あり、端子の
幅は、１００μｍ程なので、端子１本１本にプローブを
２４０〜４８０本の端子分を接触させて、ゲート配線の
線順次駆動を行なうには、プローブの接触する精度のバ
ラツキにより、うまく駆動信号が配線に伝えられないと
いう問題点があった。
は「（１）Ｇ−Ｇショート。」、「（２）次段または前
段のゲート配線とピクセルとの寄生容量があるため、ピ
クセルの電位が変化し電圧条件がモジュール駆動と多少
異なるため、半明点等が検出できない。」、「（３）ゲ
ート配線がストレージ容量を兼ねるゲートストレージの
場合、ピクセルの電位がストレージの影響で変化してし
まい、電圧条件がモジュールの場合と異なるため点欠陥
等が検出できない。」等の欠点がある。また、パネル状
態でモジュール駆動を行なうにはゲート端子１本１本に
プローブを接触させて線順次駆動を行なう必要がある。
ゲートの端子数は通常２４０〜４８０本程あり、端子の
幅は、１００μｍ程なので、端子１本１本にプローブを
２４０〜４８０本の端子分を接触させて、ゲート配線の
線順次駆動を行なうには、プローブの接触する精度のバ
ラツキにより、うまく駆動信号が配線に伝えられないと
いう問題点があった。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の表示パネル検査
の方法は、パネルの駆動方法をドライバーＩＣの接続さ
れたモジュール駆動方法に近づけた状態にすることであ
る。モジュール駆動であるゲートラインを上から順番に
線順次駆動できるようにするため、パネル検査の時点
で、液晶パネルのゲート配線群を数本置きに１まとめと
したパターンを作りこのパターンの延長線上に線順次駆
動用パッドを設けた構造とすることで、パネルの表示検
査の時点で線順次駆動用パッド１つ１つにゲート信号の
タイミングを変えて入力することが可能となり、疑似的
なモジュール駆動を行なうことができる。このため、パ
ネル検査の時点では見つからず、モジュール検査にて初
めて発見される点欠陥や表示不良等をパネル検査の時点
で見つけることができる。また、端子１本１本にプロー
ブを接触させるのと異なり、数本置きに１まとめとした
パターンの延長線上にパッドを設けた構造とすること
で、プローブの接触精度の問題点も改善することができ
る。
の方法は、パネルの駆動方法をドライバーＩＣの接続さ
れたモジュール駆動方法に近づけた状態にすることであ
る。モジュール駆動であるゲートラインを上から順番に
線順次駆動できるようにするため、パネル検査の時点
で、液晶パネルのゲート配線群を数本置きに１まとめと
したパターンを作りこのパターンの延長線上に線順次駆
動用パッドを設けた構造とすることで、パネルの表示検
査の時点で線順次駆動用パッド１つ１つにゲート信号の
タイミングを変えて入力することが可能となり、疑似的
なモジュール駆動を行なうことができる。このため、パ
ネル検査の時点では見つからず、モジュール検査にて初
めて発見される点欠陥や表示不良等をパネル検査の時点
で見つけることができる。また、端子１本１本にプロー
ブを接触させるのと異なり、数本置きに１まとめとした
パターンの延長線上にパッドを設けた構造とすること
で、プローブの接触精度の問題点も改善することができ
る。
【０００８】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の第１の実施例のパネル検査を行なう
ためのパネル構造を示すものである。このパネル構造
は、表示部１から出るゲート配線群２を端子４本おきに
一まとめとしたパターンを作り、このパターンの延長線
上には線順次駆動用パッド５を設けた構造としている。
ゲート配線群２はパネル組立工程完了までは、シャント
バスライン４に一括して接続され、高抵抗シャントパタ
ーン６によりＧＮＤに接続されているため、製造工程中
に受ける静電気等には強い構造としている。
る。図１は本発明の第１の実施例のパネル検査を行なう
ためのパネル構造を示すものである。このパネル構造
は、表示部１から出るゲート配線群２を端子４本おきに
一まとめとしたパターンを作り、このパターンの延長線
上には線順次駆動用パッド５を設けた構造としている。
ゲート配線群２はパネル組立工程完了までは、シャント
バスライン４に一括して接続され、高抵抗シャントパタ
ーン６によりＧＮＤに接続されているため、製造工程中
に受ける静電気等には強い構造としている。
【０００９】そして、パネル検査を行なう時は、図１に
示す切断位置７にてシャント切断を行なうことにより、
ゲート配線群２は４本おきに１まとめとした状態でそれ
ぞれのブロックごとに開放された状態となる。そこで４
個ずつの線順次駆動用パッド１つ１つにゲート信号のタ
イミングを変えて入力することが可能となるため疑似的
なモジュール駆動を行なうことができる。このため、従
来技術では見つけることのできなかったモジュールにお
いて発見される点欠陥や表示不良等をパネル検査の時点
で早期に見つけることができる。検査後、検査に必要だ
った線順次駆動用パッドや配線を除去する。
示す切断位置７にてシャント切断を行なうことにより、
ゲート配線群２は４本おきに１まとめとした状態でそれ
ぞれのブロックごとに開放された状態となる。そこで４
個ずつの線順次駆動用パッド１つ１つにゲート信号のタ
イミングを変えて入力することが可能となるため疑似的
なモジュール駆動を行なうことができる。このため、従
来技術では見つけることのできなかったモジュールにお
いて発見される点欠陥や表示不良等をパネル検査の時点
で早期に見つけることができる。検査後、検査に必要だ
った線順次駆動用パッドや配線を除去する。
【００１０】図２は本発明の第２の実施例の検査を行な
うためのパネル構造を示すものである。これはゲート配
線を左右に取り出した端子４辺取り出し構造のパネルの
場合を示すものであり、基本的な構造は第１の実施例と
同様である。
うためのパネル構造を示すものである。これはゲート配
線を左右に取り出した端子４辺取り出し構造のパネルの
場合を示すものであり、基本的な構造は第１の実施例と
同様である。
【００１１】図３は、本発明の第３の実施例のパネル検
査を行なうためのパネル構造を示すものである。第１，
第２の実施例と同様にゲート配線群２側は端子４本おき
に一まとめとしたパターンを作り、このパターンの延長
線上には、線順次駆動用パッド５を設けた構造とするこ
とで線順次駆動を行なうことにより疑似的なモジュール
駆動を行なっている。そして、本実施例ではさらにドレ
イン配線群３側も、実際のドライバーＩＣが接続される
配線ブロックごとを１まとめとしたパターンを作り、こ
のパターンの延長線上にはドレイン配線用パッド８を設
けた構造とすることで、パッド１つ１つに独立した信号
を入力することができるため、よりモジュール駆動に近
い方法でパネルの表示検査を行なうことができるので、
モジュールにて発見される点欠陥や表示不良等をパネル
検査の時点で、早期に見つけることが可能となる。
査を行なうためのパネル構造を示すものである。第１，
第２の実施例と同様にゲート配線群２側は端子４本おき
に一まとめとしたパターンを作り、このパターンの延長
線上には、線順次駆動用パッド５を設けた構造とするこ
とで線順次駆動を行なうことにより疑似的なモジュール
駆動を行なっている。そして、本実施例ではさらにドレ
イン配線群３側も、実際のドライバーＩＣが接続される
配線ブロックごとを１まとめとしたパターンを作り、こ
のパターンの延長線上にはドレイン配線用パッド８を設
けた構造とすることで、パッド１つ１つに独立した信号
を入力することができるため、よりモジュール駆動に近
い方法でパネルの表示検査を行なうことができるので、
モジュールにて発見される点欠陥や表示不良等をパネル
検査の時点で、早期に見つけることが可能となる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、液晶パネ
ルゲート配線群を数本置きに１まとめとしたパターンを
作りこのパターンの延長線上に線順次駆動用パッドを設
けた構造とすることで、パネルの表示検査の時点で、線
順次駆動用パッド１つ１つにゲート信号のタイミングを
変えて入力することが可能となり、疑似的なモジュール
駆動を行なうことができる。
ルゲート配線群を数本置きに１まとめとしたパターンを
作りこのパターンの延長線上に線順次駆動用パッドを設
けた構造とすることで、パネルの表示検査の時点で、線
順次駆動用パッド１つ１つにゲート信号のタイミングを
変えて入力することが可能となり、疑似的なモジュール
駆動を行なうことができる。
【００１３】このため、従来技術では見つけることので
きなかったモジュールにおいて発見される点欠陥や表示
不良等をパネルの表示検査の時点で早期に見つけること
が可能となる。また、端子１本１本にプローブを接触さ
せるのと異なり、数本置きに１まとめとしたパターンの
延長線上にパッドを設けた構造とすることで、プローブ
の接触精度のバラツキによる駆動信号の伝達精度が向上
する。
きなかったモジュールにおいて発見される点欠陥や表示
不良等をパネルの表示検査の時点で早期に見つけること
が可能となる。また、端子１本１本にプローブを接触さ
せるのと異なり、数本置きに１まとめとしたパターンの
延長線上にパッドを設けた構造とすることで、プローブ
の接触精度のバラツキによる駆動信号の伝達精度が向上
する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施例の検査をするためのパネ
ル構造図である。
ル構造図である。
【図２】本発明の第２の実施例の検査をするためのパネ
ル構造図である。
ル構造図である。
【図３】本発明の第３の実施例の検査をするためのパネ
ル構造図である。
ル構造図である。
【図４】従来技術の検査をするためのパネル構造図であ
る。
る。
１ 表示部 ２ ゲート配線群（走査線） ３ ドレイン配線群（信号線） ４ シャントバスライン ５ 線順次駆動用パッド ６ 高抵抗シャントパターン ７ 切断位置 ８ ドレイン配線用パッド ９ 走査線側の接続線（ゲート配線側） １０ 信号線側の接続線（ドレイン配線側） １１ 走査線側の検査端子（ゲート配線側） １２ 信号線側の検査端子（ドレイン配線側）
Claims (1)
- 【請求項１】 マトリクス状に配設した液晶表示素子か
ら出る複数本のゲート配線と複数本のドレイン配線を絶
縁層を介して互いに交差するように配置し、ゲート，ド
レイン配線それぞれについて、端子を基板端に取り出し
た構造の液晶表示パネルの検査方法において、端子部に
駆動用ドライバーＩＣを接続する前のパネル状態で、ゲ
ート配線について、端子部を数本置きに一まとめとした
パターンを作り、このパターンの延長線上にパッドを設
け、パッド１つ１つに独立した信号を入力して、数本置
きに一まとめとした端子群ごとに独立したパネル駆動を
行い検査することを特徴とする液晶表示パネルの検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4016995A JP2669383B2 (ja) | 1995-02-28 | 1995-02-28 | 液晶表示パネルの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4016995A JP2669383B2 (ja) | 1995-02-28 | 1995-02-28 | 液晶表示パネルの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08233888A JPH08233888A (ja) | 1996-09-13 |
| JP2669383B2 true JP2669383B2 (ja) | 1997-10-27 |
Family
ID=12573274
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4016995A Expired - Fee Related JP2669383B2 (ja) | 1995-02-28 | 1995-02-28 | 液晶表示パネルの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2669383B2 (ja) |
-
1995
- 1995-02-28 JP JP4016995A patent/JP2669383B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08233888A (ja) | 1996-09-13 |
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