JP2630222B2 - Sar測定装置および測定方法 - Google Patents

Sar測定装置および測定方法

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JP2630222B2 JP5256418A JP25641893A JP2630222B2 JP 2630222 B2 JP2630222 B2 JP 2630222B2 JP 5256418 A JP5256418 A JP 5256418A JP 25641893 A JP25641893 A JP 25641893A JP 2630222 B2 JP2630222 B2 JP 2630222B2
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【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はSAR測定装置および測
定方法に関し、特に携帯無線機からの電波のSARを測
定するSAR測定装置および測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】SAR(Specific Absor
ption Rate、比吸収率)は、生体が電波の照
射を受けたことにより生じる単位質量当たりの吸収電力
を示すものであり、生体を電波の影響から防護する郵政
省の電波防護指針の基礎指針として用いられている。
【0003】従来、SARの測定には、人体などの生体
と誘電率および透磁率を等しくしたファントムと呼ばれ
る擬似生体模型を用い、このファントムに電波を照射す
るとファントムが照射電波のエネルギーを吸収して温度
上昇するので、その温度を測定してSARを算出する方
法が知られている。
【0004】この場合、ファントムの温度を測定するの
に、たとえば、ファントムの表面の複数カ所に温度測定
用のプローブを取り付け、各プローブから温度を測定す
る方法が知られている。また、特開昭3−73836号
公報には、赤外線サーモグラフィでファントムの温度を
測定する方法が開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の方法を用いたSAR測定装置では、携帯無線機のよう
に照射電波の放射電力が小さい場合にはファントムの温
度上昇が少ないため温度測定に困難が伴い測定誤差が大
きくなってしまうという問題がある。
【0006】そこで、携帯無線機の照射電波と同じ周波
数で放射電力がたとえば100倍の電波を照射し、この
場合のファントムの温度上昇を測定してSARを求め、
このSARを100で割って携帯無線機からの電波のS
ARとして求める方法が考えられるが、この場合では、
携帯無線機から通常の100倍の放射電力の電波を出力
することができないため、SARの測定に携帯無線機の
実物を使用することができず、特別に測定用の電波発生
装置を用意しなければならないという問題がある。
【0007】ところで、近年ファントムの外部磁界を測
定することによりSARを求める方法が提案されてお
り、たとえば、電子情報通信学会技術研究報告「EMC
J93−5、マイクロ波被曝の近傍磁界を用いた顔面S
ARの推定」には、ファントムの外部磁界の磁界強度の
二乗値がSARに比例することが報告されている。この
方法によるとファントムの温度測定が不要なため、簡易
な測定手法で且つ小さな測定誤差でSARを測定するこ
とが可能となる。
【0008】本発明は上記の点にかんがみてなされたも
ので、ファントムの外部磁界を測定する方法を用い、携
帯無線機からの電波のSARの測定を容易に行えるSA
R測定装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために、人体などの生体と誘電率および透磁率が
等しい擬似生体模型と、該擬似生体模型に固定された電
磁波発生手段と、前記擬似生体模型の周囲における前記
電磁波発生手段による磁界のうち互いに平行でない3以
上の方向の磁界の強度を測定する磁界検出手段と、前記
擬似生体模型と前記磁界検出手段との相対位置を互いに
平行でない3以上の方向に移動する移動手段とを備え、
前記移動手段が、前記擬似生体模型を載置するテーブル
と、該テーブル上に設けられ、前記擬似生体模型を中心
にして回転することができる円柱形枠と、該円柱形枠の
上面の円の直径方向に張り渡されたレールと、該レール
上を回転することによって前記レールに沿って(r軸方
向)移動する第1の歯車と、前記第1の歯車に取り付け
られて前記第1の歯車とともに前記レールに沿って移動
するとともに、前記磁界検出手段を取り付けた棒状のア
ームと、前記第1の歯車に取り付けられて前記第1の歯
車とともに前記レールに沿って移動するとともに、回転
することによって前記アームに取り付けられた前記磁界
検出手段を上下方向(z軸方向)に動かすことができる
第2の歯車と、回転することによって、前記円柱形枠
を、前記擬似生体模型を中心にして(θ軸方向)回転さ
せる第3の歯車とから成るようにSAR測定装置を構成
した。
【0010】
【作用】本発明は以上の構成によって、移動手段で擬似
生体模型と磁界検出手段との相対位置を互いに平行でな
い3以上の方向に移動しながら、擬似生体模型に固定さ
れた電磁波発生手段からの電磁波による磁界の強度を磁
界検出手段により検出し、この磁界強度に基づきSAR
算出手段が擬似生体模型の電磁波の吸収量を算出する。
【0011】
【実施例】以下本発明を図面に基づいて説明する。
【0012】図1は本発明によるSAR測定装置の一実
施例の斜視図である。
【0013】1は、人体の頭部と誘電率および透磁率を
等しくしたファントムであり、人体の頭部を模した形状
にしテーブル10上で円柱形枠8の中央に固定されてい
る。2は携帯無線機であり、ファントム1の近傍の携帯
無線機2を使用する場合の位置に取付けられている。本
実施例において、ファントム1は人体の頭部を模した形
状にしたが、より簡易な測定を行う場合には円柱形や球
形などのファントムを用いてもよい。3は磁界検出プロ
ーブであり、合成樹脂等の絶縁体で覆われて球形になっ
ており、棒状のアーム4の先端に固定されている。
【0014】アーム4は、歯車5を回転させることによ
り上下方向(z軸方向)に動かすことができるようにな
っている。また、アーム4と歯車5とは、歯車6を回転
させることにより円柱形枠8の上面の円の直径方向(r
軸方向)に張り渡されたレール7に沿って動かすことが
できるようになっている。歯車9はその回転軸がテーブ
ル10に固定されており、歯車9を回転させることによ
り円柱形枠8をファントム1のまわり(θ軸方向)で回
転させられるようになっている。
【0015】図2は本発明によるSAR測定装置のブロ
ック図である。
【0016】磁界検出プローブ3はファントム1の周囲
の磁界強度に応じて起電力を生じる。11は、磁界検出
プローブ3に接続された電圧測定手段であり、たとえば
スペクトラムアナライザが用いられる。SAR算出手段
12は、電圧測定手段11で測定した電圧に基づいて磁
界強度を算出し、この磁界強度に基づいてSARを算出
する。このSAR算出手段12はたとえばマイクロコン
ピュータで構成される。
【0017】磁界検出プローブ3は、互いに直交する3
方向の磁界強度を検出するために3つの磁界検出素子か
ら成る。
【0018】図3は、図1に示した磁界検出プローブ3
内の磁界検出素子を示し、(a)は1つの磁界検出素子
の断面図であり、(b)は磁界検出素子の(a)に示し
たC−C′断面図である。
【0019】磁界検出素子30は、銅線などの導線31
と、導線31のまわりを円柱状に覆う絶縁体34と、銅
線などをメッシュにして絶縁体34の周囲を覆った導体
32と、円筒状の導体32の円の部分の直径と同じ太さ
の銅棒などの導体33とから成り、導線31と導体33
とは点Gで接続され全体が円形に形成されおり、磁界検
出素子30のC−C′断面は、図3(b)に示すよう
に、導線31のまわりに絶縁体34が設けられ、そのま
わりを導体32が覆うように構成されている。
【0020】導線31、導体32および導体33の材質
は導電率が互いに等しいものであればよく、銅の代りに
すべての導体の材質をたとえば真鍮にしてもよい。ま
た、導体32の長さnと導体33の長さmとは等しくな
るように構成されている。
【0021】この磁界検出素子30は、導線31、導体
32および導体33が形成する円に対して垂直方向の磁
束の変化が生じると、それに応じて導線31と導体33
に電流が発生し、端子Dと端子Fとの間に電位差を生じ
る。
【0022】図4は磁界検出素子30の導線31、導体
32および導体33が形成する円に対して電界が垂直方
向に存在する場合の電界による影響を説明する図であ
る。
【0023】図5は磁界検出素子30の導線31、導体
32および導体33が形成する円に対して磁界が垂直方
向に存在する場合の磁界による影響を説明する図であ
る。
【0024】図4に示すように、紙面の表から裏に向か
って電界Eが生じた場合には、導線31には電流I3
矢印の方向に流れ、導体32には電流I2 が矢印の方向
に流れ、導体33には電流I1 が矢印の方向に流れる。
この場合には、電流I1 の大きさと電流I3 の大きさと
が等しいため、互いに打ち消しあって端子Dと端子Fと
の間には電位差を生じない。
【0025】一方、図5に示すように、紙面の表から裏
に向かって磁界Hが生じた場合には、導線31には電流
6 が矢印の方向に流れ、導体32には電流I5 が矢印
の方向に流れ、導体33には電流I4 が矢印の方向に流
れる。この場合には、端子Dと端子Fとの間に磁界Hの
強度に応じた電位差を生じる。
【0026】すなわち、磁界検出素子30を図3(a)
に示すように構成することにより、電界を検出すること
なく磁界のみを検出することができる。
【0027】図6は、磁界検出プローブ3内の磁界検出
素子の配置を説明する図である。
【0028】本実施例では、磁界検出プローブ3は3つ
の磁界検出素子から成り、30a、30b、30cが、
それぞれ図3(a)に示した磁界検出素子30と同様の
磁界検出素子である。磁界検出素子30a、30b、3
0cは、それぞれの導体が形成する円の面どうしが互い
に直交し、それぞれの円の中心どうしがほぼ一致するよ
うに配置され、図6に示すように球形の骨格を形成す
る。
【0029】磁界検出プローブ3は、各磁界検出素子の
導体どうしが接触することがないように球形の骨格の周
囲を絶縁体で全体が球形となるように包んで形成され
る。磁界検出素子30a、30b、30cの各端子(図
3(a)の端子DおよびFに相当する端子)からは信号
線が出ており、これらの信号線は一束にして信号線Jと
して引き出される。この信号線Jは、図1に示したアー
ム4に沿って引き出され電圧測定手段11に接続され
る。
【0030】図7は、図3(a)に示した磁界検出プロ
ーブ3を用いて図1に示したファントム1の外部磁界を
測定する様子を説明する図である。図1および図6と同
じ構成部分には同じ参照番号を付してある。
【0031】3aは、図6に示したように球形の骨格を
形成する磁界検出素子30a、30b、30cの周囲を
包む絶縁体である。
【0032】ファントム1の表面の磁界の測定は、磁界
検出プローブ3をファントム1の表面に接するように表
面に沿って移動させながら行う。この移動は、図1に示
した歯車5、6、9を回転させることにより行う。
【0033】
【0034】磁界検出プローブ3は、磁界検出素子30
a、30b、30cのそれぞれの導体が形成する円の中
心から表面までの長さが一定値dとなるように半径dの
球形になっているので、磁界検出プローブ3をファント
ム1の表面に沿って移動させることにより、磁界強度測
定点をファントム1から等距離dに保持することが容易
になる。
【0035】磁界検出素子30a、30b、30cは3
方向の磁界強度に応じた起電力を生じる。この起電力は
信号線Jを介して図1に示した電圧測定手段11で測定
され、SAR算出手段12に入力される。
【0036】SAR算出手段12では、入力された3方
向の磁界に応じた起電力から磁界強度を算出した後、磁
界強度平均値を算出し、磁界強度平均値の二乗値がSA
Rに比例するということに基づいてSARを算出する。
【0037】図8は本発明によるSAR測定装置の別の
実施例の斜視図である。図1と同じ構成部分には同じ参
照番号を付してある。
【0038】磁界検出プローブ3とアーム4とは歯車5
を回転させることにより上下方向(z軸方向)に動かす
ことができる。支柱13と支柱14とにはレール15が
渡してあり、歯車6を回転させることにより磁界検出プ
ローブ3とアーム4と歯車5とを左右方向(r軸方向)
に動かすことができる。支柱13と支柱14との間には
ターンテーブル16が設けられており、その上にファン
トム1が固定されており、このターンテーブル16が回
転することによりファントム1が回転(θ軸方向)でき
るようになっている。
【0039】本実施例においてSARを測定する手順
は、図1および図2に示した実施例の場合と同様なので
説明は省略する。
【0040】ところで、上記の実施例では磁界検出手段
として図3(a)に示した磁界検出素子を用いたが、本
発明はこれに限らず、ホール素子等の半導体素子を用い
て互いに直交する3方向の磁界強度を検出するようにし
てもよい。
【0041】また、上記の実施例ではファントム1を固
定して磁界検出プローブ3を移動させたが、磁界検出プ
ローブ3を固定し、ファントム1を移動させてもよい。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ファントムの上昇温度ではなく外部磁界の強度からSA
Rを算出するので、携帯無線機の何倍もの放射電力の電
波を出力する測定用の電波発生装置などを特別に設ける
必要もなく、簡易な測定手法で且つ小さな測定誤差でS
ARを測定することが可能となる。
【0043】また、本発明によれば、互いに直交する3
方向の磁界強度を同時に測定することができるので、磁
界の測定を1回ですますことができ、測定が容易になる
とともに測定にかかる時間を短縮することができる。
【0044】さらに、本発明によれば、磁界検出手段と
しての磁界検出プローブは、磁界検出素子の導体が形成
する円の中心、すなわち磁界測定点から磁界検出プロー
ブの表面までの長さが一定になるように、絶縁体で覆わ
れているので、ファントムからの距離が一定の点におけ
る磁界強度の測定が容易に行える。
【0045】さらにまた、本発明によれば、磁界検出プ
ローブからの信号線が常にファントムと磁界検出プロー
ブの接する点の反対側の対向する位置にくるように磁界
検出プローブを移動させることができるので、ファント
ムの存在による電磁場の磁界検出プローブからの信号線
への影響を少なくするとともに、この影響を常に一定に
することができ、測定値のばらつきを少なくすることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるSAR測定装置の一実施例の斜視
図である。
【図2】本発明によるSAR測定装置のブロック図であ
る。
【図3】図1に示した磁界検出プローブ内の磁界検出素
子を示し、(a)は1つの磁界検出素子の断面図であ
り、(b)は磁界検出素子の(a)に示したC−C′断
面図である。
【図4】磁界検出素子の導体が形成する円に対して垂直
方向に存在する電界の影響の説明図である。
【図5】磁界検出素子の導体が形成する円に対して垂直
方向に存在する磁界の影響の説明図である。
【図6】磁界検出プローブ内の磁界検出素子の配置の説
明図である。
【図7】図3(a)に示した磁界検出プローブを用いて
図1に示したファントムの外部磁界を測定する様子の説
明図である。
【図8】本発明によるSAR測定装置の別の実施例の斜
視図である。
【符号の説明】
1 ファントム 2 携帯無線機 3 磁界検出プローブ 4 アーム 5、6、9 歯車 7 レール 8 円柱形枠 10 テーブル 11 電圧測定手段 12 SAR算出手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 IEEE TRANSACTIONS ON VEHICULAR TECH NOLOGY,41,〜1!(1992)P. 17−23

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 人体などの生体と誘電率および透磁率が
    等しい擬似生体模型と、 該擬似生体模型に固定された電磁波発生手段と、 前記擬似生体模型の周囲における前記電磁波発生手段に
    よる磁界のうち互いに平行でない3以上の方向の磁界の
    強度を測定する磁界検出手段と、 前記擬似生体模型と前記磁界検出手段との相対位置を互
    いに平行でない3以上の方向に移動する移動手段とを備
    え、前記移動手段が、 前記擬似生体模型を載置するテーブルと、 該テーブル上に設けられ、前記擬似生体模型を中心にし
    て回転することができる円柱形枠と、 該円柱形枠の上面の円の直径方向に張り渡されたレール
    と、 該レール上を回転することによって前記レールに沿って
    (r軸方向)移動する第1の歯車と、 前記第1の歯車に取り付けられて前記第1の歯車ととも
    に前記レールに沿って移動するとともに、前記磁界検出
    手段を取り付けた棒状のアームと、 前記第1の歯車に取り付けられて前記第1の歯車ととも
    に前記レールに沿って移動するとともに、回転すること
    によって前記アームに取り付けられた前記磁界検出手段
    を上下方向(z軸方向)に動かすことができる第2の歯
    車と、 回転することによって、前記円柱形枠を、前記擬似生体
    模型を中心にして(θ軸方向)回転させる第3の歯車と
    から成る ことを特徴とするSAR測定装置。
  2. 【請求項2】 人体などの生体と誘電率および透磁率が
    等しい擬似生体模型と、 該擬似生体模型に固定された電磁波発生手段と、 前記擬似生体模型の周囲における前記電磁波発生手段に
    よる磁界のうち互いに平行でない3以上の方向の磁界の
    強度を測定する磁界検出手段と、 前記擬似生体模型と前記磁界検出手段との相対位置を互
    いに平行でない3以上の方向に移動する移動手段とを備
    え、 前記移動手段が、 前記擬似生体模型を載置し、前記擬似生体模型ごと(θ
    軸方向)回転するターンテーブルと、 該ターンテーブルの外側に設けられた第1の支柱と、 該ターンテーブルの外側であり前記ターンテーブルを挟
    んで前記第1の支柱と対向する位置に設けられた第2の
    支柱と、 前記第1の支柱と前記第2の支柱とに渡されたレール
    と、 該レール上を回転することによって前記レールに沿って
    (r軸方向)移動する第1の歯車と、 前記第1の歯車に取り付けられて前記第1の歯車ととも
    に前記レールに沿って移動するとともに、前記磁界検出
    手段を取り付けた棒状のアームと、 前記第1の歯車に取り付けられて前記第1の歯車ととも
    に前記レールに沿って移動するとともに、回転すること
    によって前記アームに取り付けられた前記磁界検出手段
    を上下方向(z軸方向)に動かすことができる第2の歯
    車とから成ることを特徴とする SAR測定装置。
  3. 【請求項3】 前記磁界検出手段により得られた磁界強
    度に基づいて前記擬似生体模型の電磁波の吸収量を算出
    するSAR算出手段をさらに備えたことを特徴とする請
    求項1または2に記載のSAR測定装置。
  4. 【請求項4】 前記磁界検出手段が、互いに直交する3
    方向の磁界強度を同時に測定するものであることを特徴
    とする請求項1または2に記載のSAR測定装置。
  5. 【請求項5】 前記アームが棒状の絶縁体であることを
    特徴とする請求項1または2に記載のSAR測定装置。
  6. 【請求項6】 前記磁界検出手段が絶縁物で覆われてい
    ることを特徴とする請求項1または2に記載のSAR測
    定装置。
  7. 【請求項7】 前記移動手段が、前記磁界検出手段の信
    号出力端子側が前記擬似生体模型と常に反対の位置にく
    るように前記擬似生体模型または前記磁界検出手段を移
    動するものであることを特徴とする請求項1または2
    記載のSAR測定装置。
  8. 【請求項8】 前記移動手段が、前記擬似生体模型と前
    記磁界検出手段との相対位置を互いに直交する3方向に
    移動するものであることを特徴とする請求項1または2
    に記載のSAR測定装置。
  9. 【請求項9】 前記擬似生体模型が、円柱形、球形また
    は人体の頭部を模した形状のいずれかであることを特徴
    とする請求項1または2に記載のSAR測定装置。
  10. 【請求項10】 導線と、該導線のまわりを円柱状に覆
    う絶縁体と、メッシュにして前記絶縁体の周囲を覆った
    第1の導体と、円筒状の前記第1の導体の円の部分の直
    径と同じ太さの棒状の第2の導体とから成り、前記導線
    と前記第2の導体とは電気的に接続され全体が円形に形
    成されおり、前記導線と前記第1の導体と前記第2の導
    体の材質は導電率が互いに等しいものであり、前記第1
    の導体の長さと前記第2の導体の長さとは等しくなるよ
    うに構成された磁界検出素子を用意し、 前記磁界検出手段が、前記磁界検出素子を3つ備え、そ
    れぞれの前記第1の導体および第2の導体が形成する円
    の面どうしが互いに直交し、それぞれの前記円の中心ど
    うしがほぼ一致するように配置され、球形の骨格を形成
    することを特徴とする請求項1または2に記載の SAR
    測定装置。
  11. 【請求項11】 前記磁界検出手段が絶縁物で覆われて
    いることを特徴とする請求項1または2に記載のSAR
    測定装置。
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CA2300303A1 (en) 1998-07-14 2000-01-27 Deutsche Telekom Ag Apparatus for measuring the specific absorption rate
KR20030002957A (ko) * 2001-07-03 2003-01-09 한국전자통신연구원 전자기장에 노출된 인체의 국부 sar(전자파흡수율)평가 방법
JP4010869B2 (ja) * 2002-05-17 2007-11-21 松下電器産業株式会社 局所sar測定装置及び方法
KR100600476B1 (ko) * 2002-11-22 2006-07-13 충남대학교산학협력단 전자파흡수율 측정 시스템 및 그 방법
JP5669337B2 (ja) * 2006-10-23 2015-02-12 株式会社Nttドコモ 比吸収率を測定するためのシステム及び方法
KR101420190B1 (ko) * 2010-05-25 2014-07-21 한국전자통신연구원 기지국 전자파의 인체영향 평가 방법 및 장치
KR101313305B1 (ko) * 2011-12-28 2013-09-30 한국원자력의학원 회전식 듀얼 윈도우 팬텀
JP6246349B2 (ja) * 2014-06-06 2017-12-13 東芝三菱電機産業システム株式会社 3次元表面電位分布計測装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62247205A (ja) * 1986-04-19 1987-10-28 Toyo Seikan Kaisha Ltd 座屈缶の検出方法とその装置
JPH0285785A (ja) * 1988-09-22 1990-03-27 Ube Ind Ltd 磁束密度自動計測装置および磁束密度自動計測方法
JP2979231B2 (ja) * 1989-06-23 1999-11-15 株式会社技研サーモラックス 立体画像の形成方法
JP2670359B2 (ja) * 1989-08-14 1997-10-29 日本電信電話株式会社 生体ファントム
JPH04114631A (ja) * 1990-09-04 1992-04-15 Murata Mfg Co Ltd 固体ファントムの製造方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IEEE TRANSACTIONS ON VEHICULAR TECHNOLOGY,41,〜1!(1992)P.17−23

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JPH0792110A (ja) 1995-04-07

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