JP2629603B2 - 抵抗測定装置 - Google Patents
抵抗測定装置Info
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- JP2629603B2 JP2629603B2 JP15888294A JP15888294A JP2629603B2 JP 2629603 B2 JP2629603 B2 JP 2629603B2 JP 15888294 A JP15888294 A JP 15888294A JP 15888294 A JP15888294 A JP 15888294A JP 2629603 B2 JP2629603 B2 JP 2629603B2
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、オペアンプを用いた二
重積分Ａ／Ｄ変換回路による抵抗測定装置に関するもの
である。
重積分Ａ／Ｄ変換回路による抵抗測定装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来から、図２のような二重積分回路を
利用した抵抗測定装置が周知である。これは、ある一定
の基準時間Ｔrefの間、入力抵抗の両端の電圧ＶIN をバ
ッファ５０３を介して積分回路（抵抗Ｒ1、キャパシタ
Ｃ1、インバータ５０４）により積分する。次の期間基
準抵抗の両端の電圧−Ｅc で逆積分を行ない、ゼロコン
パレータ５０５、カウンタ５０６により比較しその間の
時間Ｔのクロック数を計算し、表示回路５０７により表
示することによって、得られる。式は、 Ｔ＝ＶIN＊Ｔref／Ｅc・・・（Ａ）で表される。
利用した抵抗測定装置が周知である。これは、ある一定
の基準時間Ｔrefの間、入力抵抗の両端の電圧ＶIN をバ
ッファ５０３を介して積分回路（抵抗Ｒ1、キャパシタ
Ｃ1、インバータ５０４）により積分する。次の期間基
準抵抗の両端の電圧−Ｅc で逆積分を行ない、ゼロコン
パレータ５０５、カウンタ５０６により比較しその間の
時間Ｔのクロック数を計算し、表示回路５０７により表
示することによって、得られる。式は、 Ｔ＝ＶIN＊Ｔref／Ｅc・・・（Ａ）で表される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような二重積分型Ａ／Ｄ変換回路によれば、インバータ
５０３、５０４のオフセットが出力されてしまい、抵抗
測定誤差が生じるという課題があった。
ような二重積分型Ａ／Ｄ変換回路によれば、インバータ
５０３、５０４のオフセットが出力されてしまい、抵抗
測定誤差が生じるという課題があった。
【０００４】本発明は、上記課題に鑑み、Ａ／Ｄ変換回
路におけるオフセットをキャンセルし、高精度な抵抗測
定装置を提供することを目的とする。
路におけるオフセットをキャンセルし、高精度な抵抗測
定装置を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の抵抗測定装置
は、被測定抵抗と基準抵抗とを直列に接続し、電源端子
に被測定抵抗または基準抵抗のうち一方の抵抗を接続
し、グランド端子に被測定抵抗または基準抵抗の他方の
抵抗を接続し、電源端子とグランド端子間に電圧を印加
してなる測定回路と、電源端子に接続された抵抗の両端
の電圧値を第１のバッファを介して第１の期間積分し、
グランド端子に接続された抵抗の両端逆電圧を第２のバ
ッファを介して第２の期間積分する二重積分回路と、第
１の積分を行った積分値と第２の積分を行った積分値と
を比較する比較手段と、該比較手段の出力により被測定
抵抗の測定値を表示する表示手段と、を備えた抵抗測定
装置において、電源端子に接続された抵抗の両端と前記
第１及び第２のバッファとの間に接続された第１のスイ
ッチと、該第１のスイッチから第１及び第２のバッファ
までのラインと、グランド端子間に接続された第２のス
イッチと、を備え、被測定抵抗を測定する前、第１のス
イッチをオフし第２のスイッチをオンし、第１及び第２
のバッファの入力にグランド電圧を印加し、被測定抵抗
を測定するとき、第１のスイッチをオンし第２のスイッ
チをオフすることを特徴とする。
は、被測定抵抗と基準抵抗とを直列に接続し、電源端子
に被測定抵抗または基準抵抗のうち一方の抵抗を接続
し、グランド端子に被測定抵抗または基準抵抗の他方の
抵抗を接続し、電源端子とグランド端子間に電圧を印加
してなる測定回路と、電源端子に接続された抵抗の両端
の電圧値を第１のバッファを介して第１の期間積分し、
グランド端子に接続された抵抗の両端逆電圧を第２のバ
ッファを介して第２の期間積分する二重積分回路と、第
１の積分を行った積分値と第２の積分を行った積分値と
を比較する比較手段と、該比較手段の出力により被測定
抵抗の測定値を表示する表示手段と、を備えた抵抗測定
装置において、電源端子に接続された抵抗の両端と前記
第１及び第２のバッファとの間に接続された第１のスイ
ッチと、該第１のスイッチから第１及び第２のバッファ
までのラインと、グランド端子間に接続された第２のス
イッチと、を備え、被測定抵抗を測定する前、第１のス
イッチをオフし第２のスイッチをオンし、第１及び第２
のバッファの入力にグランド電圧を印加し、被測定抵抗
を測定するとき、第１のスイッチをオンし第２のスイッ
チをオフすることを特徴とする。
【０００６】
【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を二重積
分型Ａ／Ｄ変換回路を用いて説明する。
分型Ａ／Ｄ変換回路を用いて説明する。
【０００７】図１に、二重積分回路を使用した本発明の
一実施例を示す。
一実施例を示す。
【０００８】抵抗測定に先立って、スイッチ６０１、６
０３、６０９がオフし、オートゼロ用アナログスイッチ
６０２，６０４がオンすることによって、オペアンプ６
１４、６１５の入力がグランド電位に落ち、オペアンプ
６１４、６１５、６１６、６１８のオフセット電圧がキ
ャンセルされる。次に、実際に抵抗測定を行う際は、ス
イッチ６０１、６０３、６０９、及び６０７または６０
８がオンし、オートゼロ用アナログスイッチ６０２，６
０４がオフする。このとき、Ｔrefの積分期間にＶINと
して、ＶIN＝Ｒin×Ｖref／（Ｒin＋ＲON＋Ｒref）が積
分される。また、逆積分期間の基準電圧−Ｅcとして、
−Ｅc＝−Ｒref×Ｖref／（Ｒin＋Ｒ0N＋Ｒref）で逆積
分される。これらの関係式から、Ｔ＝Ｒin＊Ｔref／Ｒ
refとなって抵抗測定がなされる。
０３、６０９がオフし、オートゼロ用アナログスイッチ
６０２，６０４がオンすることによって、オペアンプ６
１４、６１５の入力がグランド電位に落ち、オペアンプ
６１４、６１５、６１６、６１８のオフセット電圧がキ
ャンセルされる。次に、実際に抵抗測定を行う際は、ス
イッチ６０１、６０３、６０９、及び６０７または６０
８がオンし、オートゼロ用アナログスイッチ６０２，６
０４がオフする。このとき、Ｔrefの積分期間にＶINと
して、ＶIN＝Ｒin×Ｖref／（Ｒin＋ＲON＋Ｒref）が積
分される。また、逆積分期間の基準電圧−Ｅcとして、
−Ｅc＝−Ｒref×Ｖref／（Ｒin＋Ｒ0N＋Ｒref）で逆積
分される。これらの関係式から、Ｔ＝Ｒin＊Ｔref／Ｒ
refとなって抵抗測定がなされる。
【０００９】なお、本発明のオフセットキャンセルは、
二重積分型回路に限らず、パルス幅変調型回路、電圧−
周波数変換型（電荷並行型）回路を適用した抵抗測定装
置に応用できる。
二重積分型回路に限らず、パルス幅変調型回路、電圧−
周波数変換型（電荷並行型）回路を適用した抵抗測定装
置に応用できる。
【００１０】
【発明の効果】本発明の抵抗測定装置は、被測定抵抗を
測定する前、第１のスイッチをオフし第２のスイッチを
オンし、バッファの入力にグランド電圧を印加し、前記
被測定抵抗を測定するとき、前記第１のスイッチをオン
し前記第２のスイッチをオフするため、そのときのバッ
ファのオフセット分を検出でき、被測定抵抗を測定する
ときオフセット分をキャンセルでき、高精度な抵抗測定
装置を提供できる。
測定する前、第１のスイッチをオフし第２のスイッチを
オンし、バッファの入力にグランド電圧を印加し、前記
被測定抵抗を測定するとき、前記第１のスイッチをオン
し前記第２のスイッチをオフするため、そのときのバッ
ファのオフセット分を検出でき、被測定抵抗を測定する
ときオフセット分をキャンセルでき、高精度な抵抗測定
装置を提供できる。
【図１】二重積分型Ａ／Ｄ変換回路を用いた本発明の一
実施例を示す図。
実施例を示す図。
【図２】従来の二重積分型Ａ／Ｄ変換回路の概略図。
Ｒin・・被測定抵抗 Ｒ1、Ｒ2・・積分用抵抗 Ｃ1・・積分用コンデンサ ６０５，６０６，６０７，６０８、６０９・・レンジ切
換用スイッチ ６０２，６０４・・オートキャンセル用スイッチ ６１４，６１５・・バッファアンプ ６１６・・反転増幅用オペアンプ ６１８・・積分用オペアンプ ６２０・・コンパレータ ６２１・・カウンタ ６２２・・表示回路
換用スイッチ ６０２，６０４・・オートキャンセル用スイッチ ６１４，６１５・・バッファアンプ ６１６・・反転増幅用オペアンプ ６１８・・積分用オペアンプ ６２０・・コンパレータ ６２１・・カウンタ ６２２・・表示回路
Claims (1)
- 【請求項１】被測定抵抗と基準抵抗とを直列に接続し、
電源端子に前記被測定抵抗または前記基準抵抗のうち一
方の抵抗を接続し、グランド端子に前記被測定抵抗また
は前記基準抵抗の他方の抵抗を接続し、前記電源端子と
前記グランド端子間に電圧を印加してなる測定回路と、 前記電源端子に接続された抵抗の両端の電圧値を第１の
バッファを介して第１の期間積分し、前記グランド端子
に接続された抵抗の両端逆電圧を第２のバッファを介し
て第２の期間積分する二重積分回路と、 前記第１の積分を行った積分値と前記第２の積分を行っ
た積分値とを比較する比較手段と、 該比較手段の出力により前記被測定抵抗の測定値を表示
する表示手段と、 を備えた抵抗測定装置において、 前記電源端子に接続された抵抗の両端と前記第１及び第
２のバッファとの間に接続された第１のスイッチと、 該第１のスイッチから前記第１及び第２のバッファまで
のラインと、前記グランド端子間に接続された第２のス
イッチと、 を備え、 前記被測定抵抗を測定する前、前記第１のスイッチをオ
フし前記第２のスイッチをオンし、前記第１及び第２の
バッファの入力にグランド電圧を印加し、 前記被測定抵抗を測定するとき、前記第１のスイッチを
オンし前記第２のスイッチをオフすることを特徴とする
抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15888294A JP2629603B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15888294A JP2629603B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 抵抗測定装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58006971A Division JPH0731218B2 (ja) | 1983-01-19 | 1983-01-19 | 抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0755857A JPH0755857A (ja) | 1995-03-03 |
| JP2629603B2 true JP2629603B2 (ja) | 1997-07-09 |
Family
ID=15681451
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15888294A Expired - Lifetime JP2629603B2 (ja) | 1994-07-11 | 1994-07-11 | 抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2629603B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3807381B2 (ja) | 2003-03-05 | 2006-08-09 | セイコーエプソン株式会社 | Ａ／ｄ変換回路、温度センサ回路、集積回路、及び温度センサ回路の調整方法 |
| JP6270403B2 (ja) * | 2013-10-18 | 2018-01-31 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及び電子制御装置 |
| JP6553164B2 (ja) * | 2017-12-26 | 2019-07-31 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | アナログディジタル変換回路及び電子装置 |
-
1994
- 1994-07-11 JP JP15888294A patent/JP2629603B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0755857A (ja) | 1995-03-03 |
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