JP2624125B2 - 測定装置 - Google Patents

測定装置

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JP2624125B2
JP2624125B2 JP5169041A JP16904193A JP2624125B2 JP 2624125 B2 JP2624125 B2 JP 2624125B2 JP 5169041 A JP5169041 A JP 5169041A JP 16904193 A JP16904193 A JP 16904193A JP 2624125 B2 JP2624125 B2 JP 2624125B2
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高志 河合
守夫 和田
順一 鈴木
吉信 杉原
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアナログ入力信号の測定
結果をトレンド表示する機能を有する測定装置に関し、
詳しくは、表示機能の改善に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、恒温槽などの電気炉の温度制御
にあたっては、例えば図3に示すように、時間に対する
所定の温度変化パターンが予め設定されたプログラムパ
ターン信号SVを発生するプログラム信号発生器1と、
プログラム信号発生器1から出力されるプログラムパタ
ーン信号SVと制御対象である電気炉2の温度を測定す
る温度センサ3の温度測定信号PVとに基づいて電気炉
2のヒータ4の発熱を制御するための操作信号MVを出
力するコントローラ5と、これらプログラム信号発生器
1から出力されるプログラムパターン信号SV,電気炉
2の温度センサ3の温度測定信号PVおよびコントロー
ラ5から出力される電気炉2のヒータ4の操作信号MV
を同一の記録紙上に記録する記録計6などが組み合わせ
て用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の構成によれば、各信号の変化の状態や相互関係は記
録計の記録紙の記録結果から読み取ることができるもの
の、記録結果の精度は記録紙の精度で決まることから測
定回路として高い測定精度が得られるように設計されて
いても記録紙の精度以上の記録精度を得ることはできな
い。
【0004】また、記録時間に比例して測定値の記録量
が増えて記録紙の記録長も長くなることから、記録結果
の分析,整理などに相当の工数を要することになり、記
録済みの記録紙の保存管理にも不便である。また、記録
紙には複数の測定信号の大きさが共通の時間軸でそれぞ
れの測定レンジに応じて記録されることから、特定信号
のみの時間軸の拡大,縮小は困難である。
【0005】また、測定データは記録紙上の記録結果と
して保存されるのみであり、測定値を演算可能な状態で
保存しておいて必要に応じて測定値を読み出して他のデ
ータと比較したり演算処理を行うことはできない。本発
明は、このような従来の問題点を解決するものであっ
て、その目的は、長期間にわたる複数の測定信号のトレ
ンドを任意の時間軸で縮小してグラフィック表示できる
測定装置を実現することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の測定装置は、
御対象の測定信号を含む複数のアナログ入力信号をデジ
タル信号に変換する測定部と、制御対象を操作するため
の操作信号を発生する信号発生部と、 これら測定部で変
換されたデジタル信号および操作信号を含む各種の信号
を格納するメモリと、このメモリに格納された各種の信
号の中から少なくとも一つを読み出して任意の時間軸で
トレンド表示する表示部と、メモリから読み出される
号のトレンドを任意の時間軸で拡大,縮小して表示する
ように表示部に表示条件を設定するパラメータ入力部、
とで構成されたことを特徴とする。
【0007】
【作用】パラメータ入力部は、メモリから読み出される
信号を任意の時間軸で拡大,縮小してトレンド表示する
ための表示条件を表示部に設定する。これにより、例え
ば時間軸を対数圧縮して表示することにより、長期間に
わたるアナログ入力信号の変化の状態を表示画面上のト
レンド表示から一目で把握できる。
【0008】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図1は本発明の一実施例の要部を示すブロック図で
あり、図3と同一部分には同一符号を付けている。図に
おいて、11は制御対象2の測定信号PVを含む複数の
アナログ入力信号をデジタル信号に変換する機能を有す
る測定部である。12はこの測定部11から出力される
デジタル信号に対して加減乗除,開平,平均などの測定
に関連した各種の演算処理を施す機能を有する演算処理
部であり、例えばマイクロプロセッサを用いる。13は
測定部11から出力されるデジタル信号および演算処理
部12の演算処理結果を格納するメモリである。このよ
うなメモリ13としては、光ディスク,磁気ディスク,
フロッピーディスク,大容量半導体メモリなどを用い
る。14は制御対象2のヒータ4を操作するための操作
信号MVを発生する信号発生部である。このような信号
発生部14としては、例えばマイクロプロセッサ,D/
A変換器,メモリなどで制御演算器として構成されたも
のを用いる。15は測定部11の測定条件,演算処理部
12の演算条件,信号発生部14の信号発生条件,後述
表示部16の表示条件などの所定のパラメータを入力す
るためのパラメータ入力部である。16は各種のパラメ
ータや操作メニューの他、少なくとも制御対象2の測定
信号PVに関連したトレンド波形および制御対象2の操
作に関連した操作信号MVのトレンド波形のいずれかを
グラフィック表示するCRT,LED,LCDなどを用
いた表示部である。
【0009】このように構成された装置の動作について
説明する。まず、表示部16のパラメータ表示を見なが
らパラメータ入力部15を操作して、各部に前述の所定
のパラメータを入力設定する。これにより、測定部11
は制御対象2の測定信号PVを含む複数のアナログ入力
信号を測定条件に従ってデジタル信号に変換し、変換さ
れたデジタル信号をメモリ13に格納する。
【0010】一方、演算処理部12は装置全体の動作を
制御するとともに必要に応じて演算条件に従ってメモリ
13に格納されているデジタル信号に対して所定の演算
処理を施し、演算結果を再度メモリ13に格納する。そ
して、信号発生部14は測定部11を介して加えられる
制御対象2の測定信号PV,パラメータ入力部15を介
して設定された制御対象2のヒータ4の温度設定信号S
VおよびPID演算パラメータなどの信号発生条件に従
ってヒータ4を加熱制御するための操作信号MVを発生
し制御対象2のヒータ4を駆動する。なお、信号発生部
14に設定されている温度設定信号SVおよび信号発生
部14から演算出力される操作信号MVは、必要に応じ
て逐次メモリ13に格納される。
【0011】波形表示部16は、前述のような各種のパ
ラメータや操作メニューの他、設定された表示条件に従
って、少なくとも制御対象2の測定信号PVに関連した
トレンド波形および制御対象2の操作に関連した操作信
号MVのトレンド波形のいずれかをメモリ13から読み
出して任意の時間軸および測定レンジでグラフィック表
示する。ここで、例えば時間軸を対数目盛とすることに
より、トレンド波形の時間軸を縮小して表示できる。こ
れにより、長期間にわたるアナログ入力信号の変化の状
態を表示画面上のトレンド表示から一目で把握できる。
【0012】このように構成することにより、図3に示
すような従来のシステムを1台の装置に組み込むことが
でき、装置全体の小型軽量化が図れ、スペースファクタ
も改善できる。また、測定および操作に関連した各種の
データは高い分解能のデジタルデータとして読み出し可
能な状態でメモリ13に格納されているので、必要に応
じて所望のデータを読み出して解析のための演算処理を
施すことができ、従来のように記録紙上の記録結果を読
み取って解析する方法に比べて高い精度で効率よく作業
を行うことができる。
【0013】また、各種のデータがデジタルデータとし
て記憶媒体に格納されていることから、記録紙の保管に
比べて管理は容易であり、データのコピーや編集も簡単
に行うことができる。なお、上記実施例では、信号発生
部として設定信号を発生するプログラム信号発生器の機
能と操作信号を発生するコントローラの機能を有するも
のを用いる例について説明したが、図2に示すように設
定信号を発生するプログラム信号発生器の機能のみを有
するものを用いてコントローラは外付けしてもよい。
【0014】また、上記実施例では、演算処理部と信号
発生部とをそれぞれ独立のマイクロプロセッサで構成す
る例を示したが、演算速度や処理能力が装置全体の性能
を満足する場合にはこれらを共通のマイクロプロセッサ
で構成してもよい。また、必要に応じてグラフィックプ
リンタを接続するためのインタフェース,各種の機能を
拡張するためのインタフェース,他のシステムとの間で
通信するためのインタフェースなどを設けることも可能
である。
【0015】また、上記実施例では、電気炉の温度制御
を制御対象とする例について説明したが、温度制御のみ
ではなく各種の制御にも適用できるものであり、複数の
制御対象を1台の装置で制御するように構成してもよ
い。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
メモリから読み出される信号のトレンドを任意の時間軸
拡大,縮小してグラフィック表示できる測定装置を実
現できる。例えば時間軸を対数圧縮して表示することに
より、長期間にわたるアナログ入力信号の変化の状態を
表示画面上のトレンド表示から一目で把握でき、長期間
にわたる各種の測定に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】本発明の他の実施例を示すブロック図である。
【図3】従来の測定制御システムの一例を示すブロック
図である。
【符号の説明】
2 制御対象(電気炉) 3 温度センサ 4 ヒータ 11 測定部 12 演算処理部 13 メモリ 14 信号発生部 15 パラメータ入力部 16 表示部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉原 吉信 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横 河電機株式会社内 (72)発明者 三浦 明 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横 河電機株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−171000(JP,A) 特開 昭60−93518(JP,A) 特開 昭59−164915(JP,A) 特開 昭53−77977(JP,A) 実開 昭56−122905(JP,U) 実開 昭59−70205(JP,U)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】制御対象の測定信号を含む複数のアナログ
    入力信号をデジタル信号に変換する測定部と、制御対象を操作するための操作信号を発生する信号発生
    部と、 これら測定部で変換されたデジタル信号および操作信号
    を含む各種の信号を格納するメモリと、 このメモリに格納された各種の信号の中から少なくとも
    一つを読み出して任意の時間軸でトレンド表示する表示
    部と、メモリから読み出される 信号のトレンドを任意の時間軸
    拡大,縮小して表示するように表示部に表示条件を
    定するパラメータ入力部、 とで構成されたことを特徴とする測定装置。
JP5169041A 1993-07-08 1993-07-08 測定装置 Expired - Fee Related JP2624125B2 (ja)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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