JPS6263313A - 測定制御装置 - Google Patents
測定制御装置Info
- Publication number
- JPS6263313A JPS6263313A JP60180238A JP18023885A JPS6263313A JP S6263313 A JPS6263313 A JP S6263313A JP 60180238 A JP60180238 A JP 60180238A JP 18023885 A JP18023885 A JP 18023885A JP S6263313 A JPS6263313 A JP S6263313A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- section
- signal
- measurement
- memory
- parameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Control Of Temperature (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、測定制御装置に関するものであり、詳しくは
、アナログ入力信号の測定様能および制御対象の操作機
能を有する装置に関するものである。
、アナログ入力信号の測定様能および制御対象の操作機
能を有する装置に関するものである。
［従来の技術］
一般に、恒温槽などの電気炉の４■制御にあたっては、
例えば第３図に示すように、時間に対する所定の温度変
化パターンが予め設定されたプログラムパターン信号Ｓ
■を発生するプログラム信号発生器１と、プログラム信
号発生器１から出力されるプログラムパターン信号Ｓｖ
と制御対槃である電気炉２の温度を測定する温度センサ
３の温咲測定信＠Ｐｖとに基づいて電気炉２のヒータ４
の発熱をシリ御するための操作信号ＭＶをコントローラ
５と、これらプログラム信号発土器１力日ろ出力される
プログラムパターン１８号ＳＶ、電気炉２ 。
例えば第３図に示すように、時間に対する所定の温度変
化パターンが予め設定されたプログラムパターン信号Ｓ
■を発生するプログラム信号発生器１と、プログラム信
号発生器１から出力されるプログラムパターン信号Ｓｖ
と制御対槃である電気炉２の温度を測定する温度センサ
３の温咲測定信＠Ｐｖとに基づいて電気炉２のヒータ４
の発熱をシリ御するための操作信号ＭＶをコントローラ
５と、これらプログラム信号発土器１力日ろ出力される
プログラムパターン１８号ＳＶ、電気炉２ 。
の温度センサ３の温度測定信号ＰＶおよびコン１−ロー
ラ５から出力される電気炉２のヒータ４の操作（パ号Ｍ
Ｖを同一の記ＬＡ紙上に記録する記録計６などが組み合
わされて用いられている。
ラ５から出力される電気炉２のヒータ４の操作（パ号Ｍ
Ｖを同一の記ＬＡ紙上に記録する記録計６などが組み合
わされて用いられている。
［発明が解決しようとする問題点］
しかし、このような従来の構成によれば、複数の装置を
組み合わせていることから電気炉２の周辺装置の占める
割合が大きくなり、スペースファククが悪い。
組み合わせていることから電気炉２の周辺装置の占める
割合が大きくなり、スペースファククが悪い。
また、各信号の変化の状態や相互関係は記録Ｂ１の記録
紙の記録結果から読み取ることができるものの、記録結
果の精度は記録紙のＩＩで決まることから測定回路とし
て高い測定精度が得られるように設計されていても記録
紙の精度以上の記録精度を得ることはできない。
紙の記録結果から読み取ることができるものの、記録結
果の精度は記録紙のＩＩで決まることから測定回路とし
て高い測定精度が得られるように設計されていても記録
紙の精度以上の記録精度を得ることはできない。
また、記録時間に比例して測定値の記録量が増えて記録
紙の記録長も長くなることから、記録結果の分析、Ｎ理
などに相当の工数を要することになり、記録済みの記録
紙の保存管理にも不便である。
紙の記録長も長くなることから、記録結果の分析、Ｎ理
などに相当の工数を要することになり、記録済みの記録
紙の保存管理にも不便である。
また、記録紙には複数の測定信号の大きさが共通の時間
軸でそれぞれの測定レンジに応じて記録されることから
、特定信号のみの時間軸の拡大。
軸でそれぞれの測定レンジに応じて記録されることから
、特定信号のみの時間軸の拡大。
縮少は困難である。
また、測定データは記録紙上の記録結果として保存され
るのみであり、測定値を＊＊可能な状態で保存しておい
て必要に応じて測定値を読み出して他のデータと比較し
たり演算処理を行うことはできない。
るのみであり、測定値を＊＊可能な状態で保存しておい
て必要に応じて測定値を読み出して他のデータと比較し
たり演算処理を行うことはできない。
本発明は、このような点に着目してなされたもので、そ
の目的は、小型軽量な構成で制御対象の操作を高精度で
行うことができ、長期間にわたる複数の測定信号のトレ
ンドが任意の時間軸および測定レンジでグラフィック表
示できる測定部ｎ装置を提供することにある。
の目的は、小型軽量な構成で制御対象の操作を高精度で
行うことができ、長期間にわたる複数の測定信号のトレ
ンドが任意の時間軸および測定レンジでグラフィック表
示できる測定部ｎ装置を提供することにある。
［問題点を解決するためのｆ段コ
このような目的を達成する本発明は、制御対象の測定信
号を含む？１２ａのアナログ入力信号をデジタル信号に
変換する機能を有する測定部と、測定部から出力される
デジタル信号に対して測定に関連した所定の演算処理を
施す演算処理部と、演算処理部の演算処理結果を格納す
るメモリと、制御対象の操作に関連した信号を発生する
信号発生部と、各部にパラメータを入力するパラメータ
入力部と、少なくともアナログ入力信号にｒＩＡ通した
波形および制御対象の操作にｒＭｌした信号の波形のい
ずれかを表示する表示部とを含むことを特徴とする。
号を含む？１２ａのアナログ入力信号をデジタル信号に
変換する機能を有する測定部と、測定部から出力される
デジタル信号に対して測定に関連した所定の演算処理を
施す演算処理部と、演算処理部の演算処理結果を格納す
るメモリと、制御対象の操作に関連した信号を発生する
信号発生部と、各部にパラメータを入力するパラメータ
入力部と、少なくともアナログ入力信号にｒＩＡ通した
波形および制御対象の操作にｒＭｌした信号の波形のい
ずれかを表示する表示部とを含むことを特徴とする。
［実施例〕
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例の要部を示すブロック図であ
り、第３図と同一部分には同一符号を付けている。第１
図において、１１は制御対！Ｊ１２の測定信号Ｐｖを含
む複数のアナログ入力信＠暮デジタル信号に変換する機
能を有する測定部である。
り、第３図と同一部分には同一符号を付けている。第１
図において、１１は制御対！Ｊ１２の測定信号Ｐｖを含
む複数のアナログ入力信＠暮デジタル信号に変換する機
能を有する測定部である。
１２はこの測定部１１から出力されるデジタル信号に対
して加減乗除、 １７ｔ１平、平均などの測定に開運し
た各種の演算処理を施す機能を有する演算処理部であり
、例えばマイクロプロセッサを用いる。１３は測定部１
１から出力されるデジタル信号および演算処理部１２の
演算処理結果を格納するメーモリである。このようなメ
モリ１３としては、光ディスク。
して加減乗除、 １７ｔ１平、平均などの測定に開運し
た各種の演算処理を施す機能を有する演算処理部であり
、例えばマイクロプロセッサを用いる。１３は測定部１
１から出力されるデジタル信号および演算処理部１２の
演算処理結果を格納するメーモリである。このようなメ
モリ１３としては、光ディスク。
磁気ディスク、フロッピーディスク、大容量半導体メモ
リなどを用いる。１４は制御対象２のヒータ４を操作す
るための操作信号ＭＶを発生する信号発生部である。こ
のような信号発生部１４としては、例えばマイクロプロ
セッサ、Ｏ／Δ変換器、メモリなどで制御演算器として
偶成されたものを用いる。、１５は測定部１１の測定条
件、演算処理部１２の演算条件、信号発生部１４の信号
発生条件、後述表示部１Ｇの表示条件などの所定のパラ
メータを入力するためのパラメータ入力部である。１Ｇ
は各種のパラメータや操作メニューの他、少なくとも制
御対＃！２の測定信号ＰＶに関連した波形Ｊ３よび制御
対象の操作に関連した操作信号ＭＶの波形のいずれかを
グラフィック表示するＣＲＴ、ＬＥＤ、ＬＣＤなどを用
いた表示部である。
リなどを用いる。１４は制御対象２のヒータ４を操作す
るための操作信号ＭＶを発生する信号発生部である。こ
のような信号発生部１４としては、例えばマイクロプロ
セッサ、Ｏ／Δ変換器、メモリなどで制御演算器として
偶成されたものを用いる。、１５は測定部１１の測定条
件、演算処理部１２の演算条件、信号発生部１４の信号
発生条件、後述表示部１Ｇの表示条件などの所定のパラ
メータを入力するためのパラメータ入力部である。１Ｇ
は各種のパラメータや操作メニューの他、少なくとも制
御対＃！２の測定信号ＰＶに関連した波形Ｊ３よび制御
対象の操作に関連した操作信号ＭＶの波形のいずれかを
グラフィック表示するＣＲＴ、ＬＥＤ、ＬＣＤなどを用
いた表示部である。
このように偶成された装置の勤１ヤについて説明する。
まず、表示器１６のパラメータ表示を児ながらパラメー
タ入力部１５を操作して各部に前述の所定のパラメータ
を入力設定する。これにより、測定部１１は制御対↑２
の測定信号ＰＶを含むｐｌ＠のアナログ入力信号を測定
条件に従ってデジタル信号に変換し、変換されたデジタ
ル信号をメモリ１３に格納する。一方、ｒＡ粋処理部１
２は装置全体の動作を制御するとともに必要に応じて演
算条件に従ってメモリ１３に格納されているデジタル信
号に対して所定の演算処理を胞し、演算結果を再度メモ
リ１３に格納する。そして、信号発生部１４は測定部１
１を介して加えられる制御対象２の測定信号ＰＶ、パラ
メータ入力部１５を介して設定された制御対象２のヒー
タ４の′Ａ度設定信号ＳｖおよびＰＩＤ演算パラメータ
などの信＠発生条件に従ってヒータ４を加熱制御するた
めの操作信号ＭＶを発生しルリクＤ対象２のヒータ４を
駆動する。なお、信号発生部１４に設定されている温度
設定信号Ｓｖおよび信号発生部１４から演算出力される
操作信号ＭＶは必要に応じて逐次メモリ１３に格納され
る。波形表示部１６は前述のような各種のパラメータや
操作メニューの他、設定された表示条件に従って少なく
とも制御対＠２の測定信号Ｐｖ１．：ｒｊＡ３ｉ！シた
波形および制御対象の操作に関連した操作信号ＭＶの波
形のいずれかのトレンドをメモリ１３から読み出して任
意の時間軸および測定レンジでグラフィック表示する。
タ入力部１５を操作して各部に前述の所定のパラメータ
を入力設定する。これにより、測定部１１は制御対↑２
の測定信号ＰＶを含むｐｌ＠のアナログ入力信号を測定
条件に従ってデジタル信号に変換し、変換されたデジタ
ル信号をメモリ１３に格納する。一方、ｒＡ粋処理部１
２は装置全体の動作を制御するとともに必要に応じて演
算条件に従ってメモリ１３に格納されているデジタル信
号に対して所定の演算処理を胞し、演算結果を再度メモ
リ１３に格納する。そして、信号発生部１４は測定部１
１を介して加えられる制御対象２の測定信号ＰＶ、パラ
メータ入力部１５を介して設定された制御対象２のヒー
タ４の′Ａ度設定信号ＳｖおよびＰＩＤ演算パラメータ
などの信＠発生条件に従ってヒータ４を加熱制御するた
めの操作信号ＭＶを発生しルリクＤ対象２のヒータ４を
駆動する。なお、信号発生部１４に設定されている温度
設定信号Ｓｖおよび信号発生部１４から演算出力される
操作信号ＭＶは必要に応じて逐次メモリ１３に格納され
る。波形表示部１６は前述のような各種のパラメータや
操作メニューの他、設定された表示条件に従って少なく
とも制御対＠２の測定信号Ｐｖ１．：ｒｊＡ３ｉ！シた
波形および制御対象の操作に関連した操作信号ＭＶの波
形のいずれかのトレンドをメモリ１３から読み出して任
意の時間軸および測定レンジでグラフィック表示する。
このよ−）に１３成することにより、第３図に示すよう
な従来のシステムを１台の装置に組み込むことができ、
小型軽量化が図れ、スペースフ７７クタも改善できる。
な従来のシステムを１台の装置に組み込むことができ、
小型軽量化が図れ、スペースフ７７クタも改善できる。
また、測定および操作に関連し、た各種のデータは高い
分解能のデジタルデータとして読み出し可能な状態でメ
ｅす１３に格納されているので、必要に応じて所望のデ
ータを読み出して解析のための演算処理を施すことがで
き、従来のように記録紙上の記録結果を読み取って解析
する方法に比べて高い精度で効率よく作業を行うことが
できる。
分解能のデジタルデータとして読み出し可能な状態でメ
ｅす１３に格納されているので、必要に応じて所望のデ
ータを読み出して解析のための演算処理を施すことがで
き、従来のように記録紙上の記録結果を読み取って解析
する方法に比べて高い精度で効率よく作業を行うことが
できる。
また、各種のデータがデジタルデータとして記憶媒体に
格納されていることから、記録紙の保管に比べて管理は
容易であり、データのコピーヤ】編集も簡単に行うこと
ができる。
格納されていることから、記録紙の保管に比べて管理は
容易であり、データのコピーヤ】編集も簡単に行うこと
ができる。
なお、上記実施例では、ｆｔ＠発生部として設定借りを
発生するプログラム信号発生器の機能と操作信号を発生
するコントローラの機能を有するものを用いる例につい
て説明したが、第２図に示すよ゛）に設定信号を発生す
るプログラム信号発生器の１３ｍ能のみを有するものを
用いてコントローラは外付すするようにしてもよい。
発生するプログラム信号発生器の機能と操作信号を発生
するコントローラの機能を有するものを用いる例につい
て説明したが、第２図に示すよ゛）に設定信号を発生す
るプログラム信号発生器の１３ｍ能のみを有するものを
用いてコントローラは外付すするようにしてもよい。
また、上記実施例では、演算処理部と信号発生部とをそ
れぞれ独立のマイクロプロセッサで構成する例を示した
が、演算速度や処理能力が装置全体の性能を満足する場
合にはこれらを共通のマイクロプロセッサで構成しても
よい。
れぞれ独立のマイクロプロセッサで構成する例を示した
が、演算速度や処理能力が装置全体の性能を満足する場
合にはこれらを共通のマイクロプロセッサで構成しても
よい。
また、必要に応じてグラフィックプリンｈを接続するた
めのインタフェース、各種の機能を拡張するためのイン
タフェース、他のシステムとの間で通信するためのイン
タフェースなどを段けることも可能である。
めのインタフェース、各種の機能を拡張するためのイン
タフェース、他のシステムとの間で通信するためのイン
タフェースなどを段けることも可能である。
また、上記実施例では、電気炉の温度制御を制御対象と
する例について説明したが、温度制御のみではなく６得
の制御にも適用できるものであり、複数の制御対象を１
台の装置で制御するように構成してもよい。
する例について説明したが、温度制御のみではなく６得
の制御にも適用できるものであり、複数の制御対象を１
台の装置で制御するように構成してもよい。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、小型軽量な構成
で制御対象の操作を高精度で行うことができ、長期間に
わたる複数の測定信号のトレンドが任意の時間軸および
測定レンジでグラフィック表示できる測定制御ｌ１ｉｘ
が実現でき、実用上の効果は大きい。
で制御対象の操作を高精度で行うことができ、長期間に
わたる複数の測定信号のトレンドが任意の時間軸および
測定レンジでグラフィック表示できる測定制御ｌ１ｉｘ
が実現でき、実用上の効果は大きい。
第１図は本発明の一実施例を示ずブロック図、第２図は
本発明の他の実施例を示すブロック口、第３図は従来の
測定ｆｉｌ Ｉｌｌシステムの一例を示すブロック図で
ある。 ２・・・制御対象（電気炉）、３・・・温度センサ、４
・・・ヒータ、１１・・・測定部、１２・・・演障処理
部、１３・・・メモリ、１４・・・信号発生部、１５・
・・パラメータ入力部、１６・・・波形表示部。
本発明の他の実施例を示すブロック口、第３図は従来の
測定ｆｉｌ Ｉｌｌシステムの一例を示すブロック図で
ある。 ２・・・制御対象（電気炉）、３・・・温度センサ、４
・・・ヒータ、１１・・・測定部、１２・・・演障処理
部、１３・・・メモリ、１４・・・信号発生部、１５・
・・パラメータ入力部、１６・・・波形表示部。
Claims (1)
- 制御対象の測定信号を含む複数のアナログ入力信号をデ
ジタル信号に変換する機能を有する測定部と、測定部か
ら出力されるデジタル信号に対して測定に関連した所定
の演算処理を施す演算処理部と、演算処理部の演算処理
結果を格納するメモリと、制御対象の操作に関連した信
号を発生する信号発生部と、各部にパラメータを入力す
るパラメータ入力部と、少なくともアナログ入力信号に
関連した波形および制御対象の操作に関連した信号の波
形のいずれかを表示する表示部とを含むことを特徴とす
る測定制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60180238A JPS6263313A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 測定制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60180238A JPS6263313A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 測定制御装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5169041A Division JP2624125B2 (ja) | 1993-07-08 | 1993-07-08 | 測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6263313A true JPS6263313A (ja) | 1987-03-20 |
Family
ID=16079781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60180238A Pending JPS6263313A (ja) | 1985-08-16 | 1985-08-16 | 測定制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6263313A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63300914A (ja) * | 1987-05-30 | 1988-12-08 | Toshiba Corp | プラント監視装置 |
| JPH02300631A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-12 | Toshiba Corp | プロセス表示装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171000A (ja) * | 1983-03-17 | 1984-09-27 | 富士フアコム制御株式会社 | Ｃｒｔトレンド画面のデジタル値変換方式 |
| JPS6093518A (ja) * | 1983-10-28 | 1985-05-25 | Hitachi Ltd | プラント運転履歴表示方式 |
-
1985
- 1985-08-16 JP JP60180238A patent/JPS6263313A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59171000A (ja) * | 1983-03-17 | 1984-09-27 | 富士フアコム制御株式会社 | Ｃｒｔトレンド画面のデジタル値変換方式 |
| JPS6093518A (ja) * | 1983-10-28 | 1985-05-25 | Hitachi Ltd | プラント運転履歴表示方式 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63300914A (ja) * | 1987-05-30 | 1988-12-08 | Toshiba Corp | プラント監視装置 |
| JPH02300631A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-12 | Toshiba Corp | プロセス表示装置 |
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