JP2622105B2 - テストストリップの評価装置および方法 - Google Patents
テストストリップの評価装置および方法Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はテストストリップを
評価するための装置に関する。さらに詳しくは、グラバ
（grabber） がテストストリップを該テストストリップ
の長手方向と垂直にテストストリップ支持体上を測定位
置まで移送し、さらには処分位置まで移送する移送ユニ
ットを有する装置に関する。前記グラバは、２以上の水
平面を有する垂直側面（vertical profile）、ガイドア
ームおよび駆動モータを有する駆動ユニットによって制
御される。前記駆動モータはガイドアームの基部を空間
上の一方向に移送する。ガイドアームのヘッドの動き
は、該ガイドアームのヘッドに取り付けられたグラバが
少なくとも空間上の二方向からなる動きを行うように、
垂直側面とかみあうガイドピンによって方向修正され
る。
評価するための装置に関する。さらに詳しくは、グラバ
（grabber） がテストストリップを該テストストリップ
の長手方向と垂直にテストストリップ支持体上を測定位
置まで移送し、さらには処分位置まで移送する移送ユニ
ットを有する装置に関する。前記グラバは、２以上の水
平面を有する垂直側面（vertical profile）、ガイドア
ームおよび駆動モータを有する駆動ユニットによって制
御される。前記駆動モータはガイドアームの基部を空間
上の一方向に移送する。ガイドアームのヘッドの動き
は、該ガイドアームのヘッドに取り付けられたグラバが
少なくとも空間上の二方向からなる動きを行うように、
垂直側面とかみあうガイドピンによって方向修正され
る。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】テス
トストリップの測光評価（photometric evaluation）は
基本的には尿、血液および血清のサンプルの臨床分析の
分野で使用される。従来のテストストリップは異なるサ
ンプル成分の測定のためのいくつかのテスト領域を有し
ている。一般に、テストストリップはサンプル液に浸漬
され、必要なら余分なサンプル液がぬぐい去られ、その
のちに評価装置の中に挿入される。一般には測光器、と
くに反射率測光器によって評価されるテスト領域の色
が、サンプル成分の反応によって変化する。テストスト
リップ評価装置は、使用者が使用しやすく、かつ評価精
度が高いことに対する要求が高い。テスト領域を測定ヘ
ッドの下方に正しく配置することは、測定精度にとって
重要であり、測定ヘッドとテスト領域とのあいだを所定
の距離に保持することは、評価精度にとってとくに重要
である。
トストリップの測光評価（photometric evaluation）は
基本的には尿、血液および血清のサンプルの臨床分析の
分野で使用される。従来のテストストリップは異なるサ
ンプル成分の測定のためのいくつかのテスト領域を有し
ている。一般に、テストストリップはサンプル液に浸漬
され、必要なら余分なサンプル液がぬぐい去られ、その
のちに評価装置の中に挿入される。一般には測光器、と
くに反射率測光器によって評価されるテスト領域の色
が、サンプル成分の反応によって変化する。テストスト
リップ評価装置は、使用者が使用しやすく、かつ評価精
度が高いことに対する要求が高い。テスト領域を測定ヘ
ッドの下方に正しく配置することは、測定精度にとって
重要であり、測定ヘッドとテスト領域とのあいだを所定
の距離に保持することは、評価精度にとってとくに重要
である。
【０００３】従来技術に関しては、テストストリップを
移送および配置することを可能にするテストストリップ
評価装置がヨーロッパ特許出願公開第０ ４３１ ４４
５号明細書に記載されている。当該明細書記載の装置を
用いることで、キャリアエレメントとテストストリップ
支持体との同期された動きによってテストストリップを
段階的に移送することが可能である。キャリアエレメン
トおよびテストストリップ支持体はそれぞれ独立したモ
ータによって駆動される。さらに、前記装置は多数のテ
ストストリップを同時に評価することを目的としてい
る。そのため、前記装置が単一のテストストリップを評
価するときは、使用者にはほとんど有利な点がない。ま
た、前記装置は多数のテストストリップを評価するよう
に構成されているので、その製造にはコスト高が伴う。
移送および配置することを可能にするテストストリップ
評価装置がヨーロッパ特許出願公開第０ ４３１ ４４
５号明細書に記載されている。当該明細書記載の装置を
用いることで、キャリアエレメントとテストストリップ
支持体との同期された動きによってテストストリップを
段階的に移送することが可能である。キャリアエレメン
トおよびテストストリップ支持体はそれぞれ独立したモ
ータによって駆動される。さらに、前記装置は多数のテ
ストストリップを同時に評価することを目的としてい
る。そのため、前記装置が単一のテストストリップを評
価するときは、使用者にはほとんど有利な点がない。ま
た、前記装置は多数のテストストリップを評価するよう
に構成されているので、その製造にはコスト高が伴う。
【０００４】本発明は、叙上の事情に鑑み、一個または
少数のテストストリップを評価することに適するととも
に、使用者が使用しやすく、かつ測定精度がよいことを
特徴とするテストストリップ評価装置を提供することを
目的とする。とくに、本発明は、簡便な駆動ユニットに
よって移送および配置の機能を果たす、テストストリッ
プ評価装置のための移送ユニットを提供することを目的
とする。
少数のテストストリップを評価することに適するととも
に、使用者が使用しやすく、かつ測定精度がよいことを
特徴とするテストストリップ評価装置を提供することを
目的とする。とくに、本発明は、簡便な駆動ユニットに
よって移送および配置の機能を果たす、テストストリッ
プ評価装置のための移送ユニットを提供することを目的
とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的は、グラバがテ
ストストリップを当該テストストリップの長手方向に垂
直に測定位置までテストストリップ支持体上を移送し、
さらには処分位置まで移送する移送ユニットを有するテ
ストストリップ評価装置によって達成される。前記グラ
バは、２以上の水平面を有する垂直側面、ガイドアーム
および駆動モータを有する駆動ユニットによって制御さ
れる。前記駆動モータはガイドアームの基部を空間上の
一方向に移送する。ガイドアームのヘッドの動きは、該
ガイドアームのヘッドに取り付けられたグラバが少なく
とも空間上の二方向の動きを行うように垂直側面とかみ
あうガイドピンによって方向修正される。
ストストリップを当該テストストリップの長手方向に垂
直に測定位置までテストストリップ支持体上を移送し、
さらには処分位置まで移送する移送ユニットを有するテ
ストストリップ評価装置によって達成される。前記グラ
バは、２以上の水平面を有する垂直側面、ガイドアーム
および駆動モータを有する駆動ユニットによって制御さ
れる。前記駆動モータはガイドアームの基部を空間上の
一方向に移送する。ガイドアームのヘッドの動きは、該
ガイドアームのヘッドに取り付けられたグラバが少なく
とも空間上の二方向の動きを行うように垂直側面とかみ
あうガイドピンによって方向修正される。
【０００６】また、本発明のテストストリップ評価装置
は、測定位置へのテストストリップの移送が手動ではな
く、移送ユニットによって実行されるようにして、少数
のテストストリップの評価をも容易にしている。移送ユ
ニットは、いくつかの協同する要素からなる。前記グラ
バは、テストエレメントと直接接触する、移送ユニット
の一つの要素である。本発明によるグラバは、長さが数
センチメートル、幅が数センチメートルおよび厚さが数
ミリメートルである薄い板形状をしている。グラバは、
その下方に配置されたテストエレメントのテスト領域に
アクセス可能な一体化された測定開口を有している。さ
らに、グラバは、テストストリップ支持体上をテストス
トリップを誘導し、かつ該テストストリップを整列する
ためのガイドエレメントを有する。該ガイドエレメント
は、前記グラバの底部に取り付けられた棒状物またはか
ぎ状物を含むものであってもよい。
は、測定位置へのテストストリップの移送が手動ではな
く、移送ユニットによって実行されるようにして、少数
のテストストリップの評価をも容易にしている。移送ユ
ニットは、いくつかの協同する要素からなる。前記グラ
バは、テストエレメントと直接接触する、移送ユニット
の一つの要素である。本発明によるグラバは、長さが数
センチメートル、幅が数センチメートルおよび厚さが数
ミリメートルである薄い板形状をしている。グラバは、
その下方に配置されたテストエレメントのテスト領域に
アクセス可能な一体化された測定開口を有している。さ
らに、グラバは、テストストリップ支持体上をテストス
トリップを誘導し、かつ該テストストリップを整列する
ためのガイドエレメントを有する。該ガイドエレメント
は、前記グラバの底部に取り付けられた棒状物またはか
ぎ状物を含むものであってもよい。
【０００７】前記グラバは、ガイドピンも取り付けられ
ているガイドアームのヘッドに取り付けられている。
ているガイドアームのヘッドに取り付けられている。
【０００８】接合エレメントがガイドアームのヘッドと
ガイドアームの基部とのあいだの弾性接合を与える。該
接合エレメントによって、テストストリップ支持体に対
して垂直方向の測定ヘッドの動きが可能になる。前記接
合エレメントが二重板バネとして形成されていることが
好ましい。一枚の板バネと比較して、前記二重板バネは
ガイドアームヘッドのねじれを防止する点で有利であ
る。ヘッド、基部および二重バネは、単一の一体化エレ
メントとして製造されることが好ましい。
ガイドアームの基部とのあいだの弾性接合を与える。該
接合エレメントによって、テストストリップ支持体に対
して垂直方向の測定ヘッドの動きが可能になる。前記接
合エレメントが二重板バネとして形成されていることが
好ましい。一枚の板バネと比較して、前記二重板バネは
ガイドアームヘッドのねじれを防止する点で有利であ
る。ヘッド、基部および二重バネは、単一の一体化エレ
メントとして製造されることが好ましい。
【０００９】駆動ユニットによって、前記ガイドアーム
の基部は空間上の一方向に動く。従来技術には、そのよ
うな空間上の一方向の動きをする多数の駆動ユニットが
記載されている。ガイドアームの基部がガイドレール上
を動くスライドの上に配置されることが、本発明にとっ
てとくに好ましい。スライドは、たとえば、該スライド
に連結された歯形ラック（tooth rack）によって前記ガ
イドレール上を動くことができる。配置精度に関して移
送ユニットに特殊な要件を課すばあいには、スロット板
（slotted plate） が駆動モータの偏心ピンとかみ合う
ことができる前記スライドに取り付けられることが好ま
しい。
の基部は空間上の一方向に動く。従来技術には、そのよ
うな空間上の一方向の動きをする多数の駆動ユニットが
記載されている。ガイドアームの基部がガイドレール上
を動くスライドの上に配置されることが、本発明にとっ
てとくに好ましい。スライドは、たとえば、該スライド
に連結された歯形ラック（tooth rack）によって前記ガ
イドレール上を動くことができる。配置精度に関して移
送ユニットに特殊な要件を課すばあいには、スロット板
（slotted plate） が駆動モータの偏心ピンとかみ合う
ことができる前記スライドに取り付けられることが好ま
しい。
【００１０】この形式の駆動ユニットは、比較的大きく
回転角が変化しても、スロット板、すなわち前記ガイド
アームがほんのわずかしか動かないような特定位置を有
する。前記駆動モータの運転に比較的大きな位置上の不
正確さ誤差を伴うばあいにおいてさえ、これらの特定位
置に非常に高精度で近づけることができる。そのため、
駆動モータに要する一般的なコストを低減することがで
きる。
回転角が変化しても、スロット板、すなわち前記ガイド
アームがほんのわずかしか動かないような特定位置を有
する。前記駆動モータの運転に比較的大きな位置上の不
正確さ誤差を伴うばあいにおいてさえ、これらの特定位
置に非常に高精度で近づけることができる。そのため、
駆動モータに要する一般的なコストを低減することがで
きる。
【００１１】前記ガイドアームが前記駆動モータによっ
て動くあいだ、ガイドアームのヘッドに取り付けられた
ガイドピンは、前記垂直側面とかみ合っている。該垂直
側面には、ガイドピンレールとしての溝が設けられてい
る。当該溝は、周囲が閉鎖されており、前記ガイドアー
ムは、所定の当初位置から所定の最終位置まで横方向に
動くあいだ前記溝の全長にそって動くことが好ましい。
前記溝の周囲が閉鎖されていることにより、前記ガイド
アームおよびとくにそのヘッドは、連続して周期運動を
行なうことができる。前記板バネを有するガイドアーム
のヘッドに前記基部が接合されているために、前記垂直
側面をとくに簡単な形状とすることができる。前記バネ
の張力によって、前記ガイドアームの垂直方向の動きに
所定の方向付けを行なうからである。
て動くあいだ、ガイドアームのヘッドに取り付けられた
ガイドピンは、前記垂直側面とかみ合っている。該垂直
側面には、ガイドピンレールとしての溝が設けられてい
る。当該溝は、周囲が閉鎖されており、前記ガイドアー
ムは、所定の当初位置から所定の最終位置まで横方向に
動くあいだ前記溝の全長にそって動くことが好ましい。
前記溝の周囲が閉鎖されていることにより、前記ガイド
アームおよびとくにそのヘッドは、連続して周期運動を
行なうことができる。前記板バネを有するガイドアーム
のヘッドに前記基部が接合されているために、前記垂直
側面をとくに簡単な形状とすることができる。前記バネ
の張力によって、前記ガイドアームの垂直方向の動きに
所定の方向付けを行なうからである。
【００１２】前記垂直側面の一つの実施態様は、溝が切
削加工によって設けられている実質的に長方形のプラス
チック製のブロックを含んでいる。前記溝は、実質的に
楕円形であって、前記ガイドピンの横方向の比較的長い
動きおよび垂直方向の比較的短い動きと関連する楕円形
の長手方向断面を有する。そして、前記溝の比較的短い
曲がり部によって、前記ガイドピンは垂直方向に強く動
くことができる。ガイドピンが前記溝の中を動くとき
は、該ガイドピンの空間上の一方向の動きが部分的に方
向修正されて、第二の方向に続けて動く。前記装置にお
いて、前記ガイド溝の目的は、前記ガイドピンの横方向
の動きを部分的に垂直方向の動きに変換することであ
る。そこで、この機構によって第二の方向の動きのため
の別個の駆動ユニットを不要にする。
削加工によって設けられている実質的に長方形のプラス
チック製のブロックを含んでいる。前記溝は、実質的に
楕円形であって、前記ガイドピンの横方向の比較的長い
動きおよび垂直方向の比較的短い動きと関連する楕円形
の長手方向断面を有する。そして、前記溝の比較的短い
曲がり部によって、前記ガイドピンは垂直方向に強く動
くことができる。ガイドピンが前記溝の中を動くとき
は、該ガイドピンの空間上の一方向の動きが部分的に方
向修正されて、第二の方向に続けて動く。前記装置にお
いて、前記ガイド溝の目的は、前記ガイドピンの横方向
の動きを部分的に垂直方向の動きに変換することであ
る。そこで、この機構によって第二の方向の動きのため
の別個の駆動ユニットを不要にする。
【００１３】前記装置に一体化された垂直側面は、前記
ガイドアームの横方向の動きに平行ないくつかの水平面
を有することが好ましい。これらの水平面は前記ガイド
アームのヘッドの様々な垂直方向の位置と関連してい
る。そのため、これらの様々な水平面は、前記ガイドア
ームの所定の位置における、つぎのような目的に役立
つ。
ガイドアームの横方向の動きに平行ないくつかの水平面
を有することが好ましい。これらの水平面は前記ガイド
アームのヘッドの様々な垂直方向の位置と関連してい
る。そのため、これらの様々な水平面は、前記ガイドア
ームの所定の位置における、つぎのような目的に役立
つ。
【００１４】(1) 前記グラバがテストストリップ支持体
上の前記テストストリップと接触しないように、該テス
トストリップ支持体から離れるようにグラバを動かす。
上の前記テストストリップと接触しないように、該テス
トストリップ支持体から離れるようにグラバを動かす。
【００１５】(2) 前記グラバを前記テストストリップ上
のある距離に誘導し、その距離を保ちつつ前記グラバが
前記テストストリップを動かし、測定位置まで移送す
る。
のある距離に誘導し、その距離を保ちつつ前記グラバが
前記テストストリップを動かし、測定位置まで移送す
る。
【００１６】(3) 前記グラバを前記テストストリップ上
に押しつけて、測定のための適切な位置に確実に配置す
る。
に押しつけて、測定のための適切な位置に確実に配置す
る。
【００１７】さらに、前記垂直側面は、前記装置が搬送
されるときまたは長期間使用されないばあいに、前記ガ
イドピンが入り込む拘束位置を有することができる。
されるときまたは長期間使用されないばあいに、前記ガ
イドピンが入り込む拘束位置を有することができる。
【００１８】本発明は、さらにテストストリップ評価装
置においてテストストリップを評価する方法を含み、該
方法はつぎのステップから構成される。
置においてテストストリップを評価する方法を含み、該
方法はつぎのステップから構成される。
【００１９】(1) テストストリップ支持体の上にテスト
ストリップを配置する。
ストリップを配置する。
【００２０】(2) グラバによって前記テストストリップ
を測定位置に向かう方向に移送する。
を測定位置に向かう方向に移送する。
【００２１】(3) 測定位置に前記テストストリップを固
定する。
定する。
【００２２】(4) 前記テストストリップを測光評価す
る。
る。
【００２３】(5) 前記テストストリップを処分位置まで
移送する。
移送する。
【００２４】前記方法は、前記グラバが垂直側面によっ
て動きが制御される前記ガイドアームに取り付けられ、
該ガイドアームがモータによって駆動されることによっ
て特徴づけられる。
て動きが制御される前記ガイドアームに取り付けられ、
該ガイドアームがモータによって駆動されることによっ
て特徴づけられる。
【００２５】前記のように、テストストリップ評価装置
は、前記方法を実行するために用いることができる。
は、前記方法を実行するために用いることができる。
【００２６】テストストリップが評価される前に、一般
には該テストストリップをサンプル液と接触させる。こ
れは、サンプル液の中に前記テストストリップを手動ま
たはロボットアームによって浸漬することによって実行
される。サンプル液をテストストリップのテスト領域に
たとえばピペットで適用することも可能である。前記サ
ンプル液が前記テスト領域の上にいったん適用される
と、余分のサンプル液はテストストリップからぬぐい去
られてもよい。このようにして準備されたテストストリ
ップは、つぎに前記テストストリップ評価装置の中に手
動または別の装置によって挿入される。本発明によれ
ば、テストストリップはテストストリップ支持体の上に
配置される。多くのテストストリップにおいては、該テ
ストストリップのサンプルに起因する変化は時間に依存
して発生する。そのため、多くのばあい、テストストリ
ップは評価に先だってテストストリップ支持体の上で培
養される。培養するために、テストストリップ支持体の
上の別の場所に前記グラバによってテストストリップを
移送することも可能である。こうして前記評価装置の処
理量を増加させる、いくつかのテストストリップの並行
処理が可能となる。
には該テストストリップをサンプル液と接触させる。こ
れは、サンプル液の中に前記テストストリップを手動ま
たはロボットアームによって浸漬することによって実行
される。サンプル液をテストストリップのテスト領域に
たとえばピペットで適用することも可能である。前記サ
ンプル液が前記テスト領域の上にいったん適用される
と、余分のサンプル液はテストストリップからぬぐい去
られてもよい。このようにして準備されたテストストリ
ップは、つぎに前記テストストリップ評価装置の中に手
動または別の装置によって挿入される。本発明によれ
ば、テストストリップはテストストリップ支持体の上に
配置される。多くのテストストリップにおいては、該テ
ストストリップのサンプルに起因する変化は時間に依存
して発生する。そのため、多くのばあい、テストストリ
ップは評価に先だってテストストリップ支持体の上で培
養される。培養するために、テストストリップ支持体の
上の別の場所に前記グラバによってテストストリップを
移送することも可能である。こうして前記評価装置の処
理量を増加させる、いくつかのテストストリップの並行
処理が可能となる。
【００２７】測定のために、前記グラバはテストストリ
ップをテストストリップ支持体を横切って測定位置の中
に移動させる。前記テストストリップはその長手方向軸
と直角方向に移送されることが好ましい。図１および２
ならびにそれに対応する記載によって、前記垂直側面に
よって前記テストストリップがどのように移送されるか
を説明する。前記テストストリップは、いったん測定位
置に配置されると、前記グラバによってその位置が固
定、すなわちその横方向および垂直方向の位置が前記グ
ラバのガイドエレメントによって正確に固定される。前
記テストストリップの測光評価は、好ましくは前記グラ
バの上面の上を測定ヘッドが動くことで実行される。前
記測定ヘッドは、前記テストストリップの垂直方向の位
置を正確に規定するように、グラバ、テストストリップ
およびテストストリップ支持体の配列の上に圧力をかけ
る。前記測定ヘッドは、テストストリップの個々のテス
ト領域のすべてを横断して動いたのちに、前記グラバか
ら離される。開放されたグラバは、前記テストストリッ
プを処分領域に移送する。本発明によれば、第一の測定
が完了したのちに、第二の測定が実行される第二の測定
位置に前記テストストリップを移送することも可能であ
る。検出反応の時間依存性は、テストストリップを二重
または多重に測定することによって決定することができ
る。
ップをテストストリップ支持体を横切って測定位置の中
に移動させる。前記テストストリップはその長手方向軸
と直角方向に移送されることが好ましい。図１および２
ならびにそれに対応する記載によって、前記垂直側面に
よって前記テストストリップがどのように移送されるか
を説明する。前記テストストリップは、いったん測定位
置に配置されると、前記グラバによってその位置が固
定、すなわちその横方向および垂直方向の位置が前記グ
ラバのガイドエレメントによって正確に固定される。前
記テストストリップの測光評価は、好ましくは前記グラ
バの上面の上を測定ヘッドが動くことで実行される。前
記測定ヘッドは、前記テストストリップの垂直方向の位
置を正確に規定するように、グラバ、テストストリップ
およびテストストリップ支持体の配列の上に圧力をかけ
る。前記測定ヘッドは、テストストリップの個々のテス
ト領域のすべてを横断して動いたのちに、前記グラバか
ら離される。開放されたグラバは、前記テストストリッ
プを処分領域に移送する。本発明によれば、第一の測定
が完了したのちに、第二の測定が実行される第二の測定
位置に前記テストストリップを移送することも可能であ
る。検出反応の時間依存性は、テストストリップを二重
または多重に測定することによって決定することができ
る。
【００２８】評価に適した測定ヘッドは、前記テストス
トリップのテスト領域を光線（radiation）に対して暴
露する発光体および該テスト領域によって反射される光
線を検知する検知器からなる。発光体としては、たとえ
ば、発光ダイオードを用いることが可能である。光線検
知器としては、光ダイオード（photodiodes） または光
電要素（photovoltaic element）が実際に用いられる。
測定ヘッドの構成は一般に従来技術から知ることができ
る。
トリップのテスト領域を光線（radiation）に対して暴
露する発光体および該テスト領域によって反射される光
線を検知する検知器からなる。発光体としては、たとえ
ば、発光ダイオードを用いることが可能である。光線検
知器としては、光ダイオード（photodiodes） または光
電要素（photovoltaic element）が実際に用いられる。
測定ヘッドの構成は一般に従来技術から知ることができ
る。
【００２９】評価に使用される光線は、一般に可視範囲
にある。しかしながら、赤外線または紫外線の使用も可
能である。
にある。しかしながら、赤外線または紫外線の使用も可
能である。
【００３０】
【発明の実施の形態】つぎに、本発明の評価装置およ
び、とくに垂直側面によるグラバの制御を図を参照しな
がらさらに詳細に説明する。
び、とくに垂直側面によるグラバの制御を図を参照しな
がらさらに詳細に説明する。
【００３１】図１は、テストストリップ評価装置のガイ
ドアームを示す説明図、図２は三つの水平面１３、１
４、１５を有するプロファイル（profile） が設けられ
た垂直側面の側面図、図３はテストストリップ評価装置
の斜視図、図４はテストストリップ評価装置の側面図、
図５はグラバの下面図である。
ドアームを示す説明図、図２は三つの水平面１３、１
４、１５を有するプロファイル（profile） が設けられ
た垂直側面の側面図、図３はテストストリップ評価装置
の斜視図、図４はテストストリップ評価装置の側面図、
図５はグラバの下面図である。
【００３２】図１は、テストストリップ評価装置１のガ
イドアーム８を示す。ガイドアーム８は、ガイドレール
２４上を動くスライド２３を含む。スロット板１８のス
ロット１９とかみ合うモータが、ガイドレール２４上の
ガイドアーム全体を空間上の一方向に動かす。スロット
板１８とガイドアームの基部１０は、スライド２３に剛
に接合されている。二重板バネ１２は、該二重板バネ１
２により設定される範囲内をガイドアーム８の動く方向
と垂直にガイドアームのヘッド１１を動かすように、ガ
イドアームの基部１０をガイドアームのヘッド１１に弾
性接合している。グラバ４は、スナップ接合によりヘッ
ド１１に接合されている。また、グラバ４は、該グラバ
４の下に位置するテストストリップのテスト領域にアク
セスできる測定開口１６を有している。
イドアーム８を示す。ガイドアーム８は、ガイドレール
２４上を動くスライド２３を含む。スロット板１８のス
ロット１９とかみ合うモータが、ガイドレール２４上の
ガイドアーム全体を空間上の一方向に動かす。スロット
板１８とガイドアームの基部１０は、スライド２３に剛
に接合されている。二重板バネ１２は、該二重板バネ１
２により設定される範囲内をガイドアーム８の動く方向
と垂直にガイドアームのヘッド１１を動かすように、ガ
イドアームの基部１０をガイドアームのヘッド１１に弾
性接合している。グラバ４は、スナップ接合によりヘッ
ド１１に接合されている。また、グラバ４は、該グラバ
４の下に位置するテストストリップのテスト領域にアク
セスできる測定開口１６を有している。
【００３３】図２は三つの平行な水平面１３、１４およ
び１５を有するプロファイル２２が設けられた垂直側面
７を示している。ガイドアーム８がガイドレール２４上
を動くときは、ガイドピン９は溝２５の中を動く。
び１５を有するプロファイル２２が設けられた垂直側面
７を示している。ガイドアーム８がガイドレール２４上
を動くときは、ガイドピン９は溝２５の中を動く。
【００３４】つぎに、図２についての実施例として評価
サイクルが説明される。
サイクルが説明される。
【００３５】前記装置が操作準備状態にあるばあい、ガ
イドピン９は通常、初期の位置２６に存在する。これ
は、グラバ４がテストストリップ支持体と接触していな
い位置と一致する。つぎにガイドアーム８は測定位置に
向かって動き、一方、ガイドピン９はプロファイル２２
に向かって移動し、そのあいだに傾斜部分２７によって
方向修正されて水平面１４の領域に到達する。ガイドピ
ン９が水平面１４の領域を動くとき、テストストリップ
支持体およびグラバ４は、該グラバ４のガイドエレメン
トがテストストリップを携行できる距離だけ離れてい
る。ガイドピン９が矢印の方向に動き続けると、曲がり
部にそって動いて水平面１５の領域に到達する。この水
平面上を動くとき、グラバ４とテストストリップ支持体
は接触している。すなわちグラバ４とテストストリップ
支持体のあいだに位置するテストストリップがテストス
トリップ支持体に押しつけられる。したがって、水平面
１５の領域の一部が測定位置と関係している。測定が終
了すると、ガイドアーム８すなわちガイドピン９は矢印
の方向に動き続け、逆進位置２８に到達する。二重板バ
ネ１２の作用により、ガイドアームのヘッド１１すなわ
ちガイドピン９は上向き、すなわち逆進レール２９と接
しつつ動く。逆進位置２８は、ガイドレール２４上を動
くガイドアーム８が方向を反転する点と一致している。
つぎに、ガイドピン９は水平面１３に向かって第２傾斜
部分３０を経由して動く。水平面１３は、グラバ４とテ
ストストリップ支持体とのあいだの距離が比較的大き
く、テストストリップ支持体の上に配置されたテストス
トリップがグラバ４のガイドエレメントと接触しないよ
うにされている。グラバ４は、水平面１３上を初期の位
置まで戻り、つぎのテストストリップを処理する。ガイ
ドピン９が第二逆進位置３１に到達すると、ガイドアー
ムのヘッド１１は、二重板バネ１２のバネ作用の結果と
して拘束位置２６に付勢される。この位置においてつぎ
の動作サイクルを始めることができる。
イドピン９は通常、初期の位置２６に存在する。これ
は、グラバ４がテストストリップ支持体と接触していな
い位置と一致する。つぎにガイドアーム８は測定位置に
向かって動き、一方、ガイドピン９はプロファイル２２
に向かって移動し、そのあいだに傾斜部分２７によって
方向修正されて水平面１４の領域に到達する。ガイドピ
ン９が水平面１４の領域を動くとき、テストストリップ
支持体およびグラバ４は、該グラバ４のガイドエレメン
トがテストストリップを携行できる距離だけ離れてい
る。ガイドピン９が矢印の方向に動き続けると、曲がり
部にそって動いて水平面１５の領域に到達する。この水
平面上を動くとき、グラバ４とテストストリップ支持体
は接触している。すなわちグラバ４とテストストリップ
支持体のあいだに位置するテストストリップがテストス
トリップ支持体に押しつけられる。したがって、水平面
１５の領域の一部が測定位置と関係している。測定が終
了すると、ガイドアーム８すなわちガイドピン９は矢印
の方向に動き続け、逆進位置２８に到達する。二重板バ
ネ１２の作用により、ガイドアームのヘッド１１すなわ
ちガイドピン９は上向き、すなわち逆進レール２９と接
しつつ動く。逆進位置２８は、ガイドレール２４上を動
くガイドアーム８が方向を反転する点と一致している。
つぎに、ガイドピン９は水平面１３に向かって第２傾斜
部分３０を経由して動く。水平面１３は、グラバ４とテ
ストストリップ支持体とのあいだの距離が比較的大き
く、テストストリップ支持体の上に配置されたテストス
トリップがグラバ４のガイドエレメントと接触しないよ
うにされている。グラバ４は、水平面１３上を初期の位
置まで戻り、つぎのテストストリップを処理する。ガイ
ドピン９が第二逆進位置３１に到達すると、ガイドアー
ムのヘッド１１は、二重板バネ１２のバネ作用の結果と
して拘束位置２６に付勢される。この位置においてつぎ
の動作サイクルを始めることができる。
【００３６】前述の実施例の利点は、連続評価のサイク
ル動作が可能になるように垂直側面７の中のガイドピン
９の通路が閉じられていることである。
ル動作が可能になるように垂直側面７の中のガイドピン
９の通路が閉じられていることである。
【００３７】垂直側面７によりグラバ４を比較的簡単に
誘導できることは、戻り位置において、二重板バネ１２
のバネ張力によってガイドピンの動作方向が明確に設定
されるという事実がもたらした結果でもある。水平面１
３、１４および１５上において、二重板バネ１２はプロ
ファイル２２にガイドピン９を押しつけるように作用す
る。傾斜部分２７および３０ならびにレベル１４と１５
とのあいだの曲がり部は、バネ張力を発生させるのに役
立つ。拘束位置２６はほぼバネの安定位置ともなってい
る。
誘導できることは、戻り位置において、二重板バネ１２
のバネ張力によってガイドピンの動作方向が明確に設定
されるという事実がもたらした結果でもある。水平面１
３、１４および１５上において、二重板バネ１２はプロ
ファイル２２にガイドピン９を押しつけるように作用す
る。傾斜部分２７および３０ならびにレベル１４と１５
とのあいだの曲がり部は、バネ張力を発生させるのに役
立つ。拘束位置２６はほぼバネの安定位置ともなってい
る。
【００３８】図３はテストストリップ評価装置１の斜視
図である。本図において、グラバ４は拘束位置２６にあ
る。テスト領域１７を有するテストストリップ３はテス
トストリップ支持体５の上に配置されている。本図から
テストストリップ支持体５が、平坦な表面だけでなく、
クロスバーおよび溝（groove）も備えていることがわか
る。テストストリップ３がテストストリップ支持体５を
横切って移送されるとき、グラバ４のガイドエレメント
がテストストリップ支持体５上でグルーブにかみ合うよ
うに、グラバ４はテストストリップ支持体５の上に降下
される。このようにして、テストストリップの移送を簡
単かつ損傷なく行うことが可能である。
図である。本図において、グラバ４は拘束位置２６にあ
る。テスト領域１７を有するテストストリップ３はテス
トストリップ支持体５の上に配置されている。本図から
テストストリップ支持体５が、平坦な表面だけでなく、
クロスバーおよび溝（groove）も備えていることがわか
る。テストストリップ３がテストストリップ支持体５を
横切って移送されるとき、グラバ４のガイドエレメント
がテストストリップ支持体５上でグルーブにかみ合うよ
うに、グラバ４はテストストリップ支持体５の上に降下
される。このようにして、テストストリップの移送を簡
単かつ損傷なく行うことが可能である。
【００３９】図３の破線は、測定位置におけるグラバ４
と移送ユニット２の配置を示している。処分領域６も測
定位置の後方に示されている。
と移送ユニット２の配置を示している。処分領域６も測
定位置の後方に示されている。
【００４０】図４はテストストリップ評価装置１の側面
図である。本図は、とくにガイドアームがスロット板１
８によってどのように動かされるかを示している。駆動
モータ２０は、二つの偏心ピン２１が取り付けられた回
転ディスクを備えている。偏心ピン２１はスロット板１
８のスロット１９にかみ合っている。図示の位置では、
駆動モータ２０の比較的大きい回転が、スロット板１８
すなわちガイドアームの比較的小さい動きと一致してい
る。駆動モータ２０が９０°回転した位置まで動くあい
だ、スロット板１８の変位と駆動モータ２０の回転角と
の比率は増加する。
図である。本図は、とくにガイドアームがスロット板１
８によってどのように動かされるかを示している。駆動
モータ２０は、二つの偏心ピン２１が取り付けられた回
転ディスクを備えている。偏心ピン２１はスロット板１
８のスロット１９にかみ合っている。図示の位置では、
駆動モータ２０の比較的大きい回転が、スロット板１８
すなわちガイドアームの比較的小さい動きと一致してい
る。駆動モータ２０が９０°回転した位置まで動くあい
だ、スロット板１８の変位と駆動モータ２０の回転角と
の比率は増加する。
【００４１】前記回転角の直線移動に対する伝達比率に
よって精度よく調整することが可能な選択位置は、駆動
モータとスロット板との相対位置および／または偏心ピ
ン２１同士の距離について適切な配置を選ぶことによっ
て選択される。とくに、その中のひとつの選択位置が測
定位置である。
よって精度よく調整することが可能な選択位置は、駆動
モータとスロット板との相対位置および／または偏心ピ
ン２１同士の距離について適切な配置を選ぶことによっ
て選択される。とくに、その中のひとつの選択位置が測
定位置である。
【００４２】図５は、グラバ４の下面図である。本図
は、測定開口１６およびとくにガイドエレメント３２を
示している。グラバ４がテストストリップ支持体上にそ
ってテストエレメントを移動させるときに、テストエレ
メントのテスト領域が測定開口１６と向き合って静止す
るように、テストエレメントはガイドエレメント３２を
横断してその前面に配置される。テストストリップが最
初にテストストリップ支持体上でまっすぐに配置されて
いないばあい、該テストストリップは、グラバ４によっ
て運ばれるときに、ガイドエレメント３２によって強制
的に動かされる。そして、テストストリップは測定開口
１６に関して所定の方向を向く。
は、測定開口１６およびとくにガイドエレメント３２を
示している。グラバ４がテストストリップ支持体上にそ
ってテストエレメントを移動させるときに、テストエレ
メントのテスト領域が測定開口１６と向き合って静止す
るように、テストエレメントはガイドエレメント３２を
横断してその前面に配置される。テストストリップが最
初にテストストリップ支持体上でまっすぐに配置されて
いないばあい、該テストストリップは、グラバ４によっ
て運ばれるときに、ガイドエレメント３２によって強制
的に動かされる。そして、テストストリップは測定開口
１６に関して所定の方向を向く。
【００４３】
【発明の効果】本発明のテストストリップ評価装置また
はそれを用いた方法によれば、テストストリップのテス
ト領域を測定ヘッドの下方に正しく配置して測定ヘッド
とテスト領域とのあいだを所定の距離に保持することが
できるので、使用者が使用しやすく、かつ評価の精度が
高い。また、一個または少数のテストストリップを評価
することも簡便に行なうことができる。
はそれを用いた方法によれば、テストストリップのテス
ト領域を測定ヘッドの下方に正しく配置して測定ヘッド
とテスト領域とのあいだを所定の距離に保持することが
できるので、使用者が使用しやすく、かつ評価の精度が
高い。また、一個または少数のテストストリップを評価
することも簡便に行なうことができる。
【図１】本発明のテストストリップ評価装置のガイドア
ームを示す説明図である。
ームを示す説明図である。
【図２】本発明の三つの水平面を有するプロファイルが
設けられた垂直側面の側面図である。
設けられた垂直側面の側面図である。
【図３】本発明のテストストリップ評価装置の平面図で
ある。
ある。
【図４】本発明のテストストリップ評価装置の側面図で
ある。
ある。
【図５】本発明におけるグラバの下面図である。
１ テストストリップ評価装置 ２ 移送ユニット ３ テストストリップ ４ グラバ ５ テストストリップ支持体 ６ 処分領域 ７ 垂直側面 ８ ガイドアーム ９ ガイドピン １０ ガイドアームの基部 １１ ガイドアームのヘッド １２ 二重板バネ １３ 第一水平面 １４ 第二水平面 １５ 第三水平面 １６ 測定開口 １７ テスト領域 １８ スロット板 １９ スロット ２０ 駆動モータ ２１ 偏心ピン ２２ プロファイル ２３ スライド ２４ ガイドレール ２５ 溝 ２６ 拘束位置 ２７ 傾斜部分 ２８ 逆進位置 ２９ 逆進レール ３０ 第二傾斜部分 ３１ 第二逆進位置 ３２ ガイドエレメント
Claims (2)
- 【請求項１】 グラバ（４）が、テストストリップ
（３）をテストストリップ支持体（５）上においてテス
トストリップ（３）の長手方向と垂直に測定位置まで移
送し、さらには処分領域（６）まで移送する移送ユニッ
ト（２）を有するテストストリップ評価装置（１）であ
って、 前記グラバ（４）が垂直側面（７）と、ガイドアーム
（８）と、駆動モータ（２０）とからなる駆動ユニット
によって制御され、 前記駆動モータ（２０）がガイドアーム（８）の基部
（１０）を空間上の一方向に動かし、 前記垂直側面（７）とかみ合うガイドピン（９）が、前
記ガイドアーム（８）のヘッド（１１）に取り付けられ
た前記グラバ（４）が少なくとも空間上の二方向からな
る動きをするように、ガイドアーム（８）のヘッド（１
１）の動きを方向修正することを特徴とするテストスト
リップ評価装置。 - 【請求項２】 テストストリップ支持体（５）上にテス
トストリップ（３）を配置するステップと、 グラバ（４）によって前記テストストリップ（３）を測
定位置に向かう方向に移送するステップと、 前記測定位置に前記テストストリップ（３）を固定する
ステップと、 前記テストストリップ（３）を測光評価するステップ
と、 前記テストストリップ（３）を処分位置まで移送するス
テップとからなる、テストストリップ評価装置における
テストストリップ評価方法であって、 前記グラバ（４）が、垂直側面（７）によって動きが制
御されるガイドアーム（８）に取り付けられ、該ガイド
アーム（８）が駆動モータ（２０）によって駆動させる
ことを特徴とするテストストリップ評価方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4425439A DE4425439A1 (de) | 1994-07-19 | 1994-07-19 | Teststreifenauswertegerät mit einer Transporteinheit für Teststreifen |
| DE4425439.3 | 1994-07-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0868797A JPH0868797A (ja) | 1996-03-12 |
| JP2622105B2 true JP2622105B2 (ja) | 1997-06-18 |
Family
ID=6523526
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7181383A Expired - Fee Related JP2622105B2 (ja) | 1994-07-19 | 1995-07-18 | テストストリップの評価装置および方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5686047A (ja) |
| EP (1) | EP0693688B1 (ja) |
| JP (1) | JP2622105B2 (ja) |
| KR (1) | KR0156654B1 (ja) |
| AT (1) | ATE238559T1 (ja) |
| DE (2) | DE4425439A1 (ja) |
| ES (1) | ES2198426T3 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE19645569C1 (de) * | 1996-11-05 | 1998-03-05 | Cell Diagnostica Ges Fuer Ange | Vorrichtung zum quantifizierenden und differenzierenden Nachweis verschiedener Biomoleküle in einem einzigen Testansatz |
| DE19715031A1 (de) * | 1997-04-11 | 1998-10-15 | Boehringer Mannheim Gmbh | Magazin zur Bevorratung von Testelementen |
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| DE19755529A1 (de) | 1997-12-13 | 1999-06-17 | Roche Diagnostics Gmbh | Analysensystem für Probenflüssigkeiten |
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| CN106290827B (zh) * | 2016-07-15 | 2018-01-30 | 安徽国科生物科技有限公司 | 一种上转发光材料试纸条联合检测智能系统和检测方法 |
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- 1995-07-14 EP EP95111145A patent/EP0693688B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-14 DE DE59510654T patent/DE59510654D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-14 ES ES95111145T patent/ES2198426T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-14 AT AT95111145T patent/ATE238559T1/de active
- 1995-07-18 US US08/503,693 patent/US5686047A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-07-18 JP JP7181383A patent/JP2622105B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-07-18 KR KR1019950021725A patent/KR0156654B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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