JPH08160051A - 鉛直配置された複数のインキュベータを有する分析器 - Google Patents
鉛直配置された複数のインキュベータを有する分析器Info
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 設置面積を著しく増加させることがなく、処
理能力の高い分析器を提供すること。 【構成】 生物学的液体内の分析試料を分析する分析器
において、分析器は互いに上下に配設された複数のイン
キュベータと、所定の水平面内でスライド試験要素を移
動させて該スライド試験要素をインキュベータに隣接す
る所定位置に移送するスライド試験移送装置とを具備し
ており、分析器は、更に、スライド試験要素をスライド
試験要素移送装置および複数のインキュベータの装填位
置に対して上動および下動させるエレベータを具備し、
エレベータが、スライド試験要素支持部と、スライド試
験要素移送装置からスライド試験要素をスライド試験要
素支持部へ押し出し、かつ、スライド試験要素支持部か
らインキュベータの何れか一方へ押し出す押接部材とを
具備している。
理能力の高い分析器を提供すること。 【構成】 生物学的液体内の分析試料を分析する分析器
において、分析器は互いに上下に配設された複数のイン
キュベータと、所定の水平面内でスライド試験要素を移
動させて該スライド試験要素をインキュベータに隣接す
る所定位置に移送するスライド試験移送装置とを具備し
ており、分析器は、更に、スライド試験要素をスライド
試験要素移送装置および複数のインキュベータの装填位
置に対して上動および下動させるエレベータを具備し、
エレベータが、スライド試験要素支持部と、スライド試
験要素移送装置からスライド試験要素をスライド試験要
素支持部へ押し出し、かつ、スライド試験要素支持部か
らインキュベータの何れか一方へ押し出す押接部材とを
具備している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、スライド試験要素を分
析器のある部分から低位置に設けられたインキュベータ
へ下動させ、或いは、高位置に設けられたインキュベー
タへ上動させるエレベータに関し、特に、積み重ねられ
たインキュベータで使用するためのエレベータに関す
る。
析器のある部分から低位置に設けられたインキュベータ
へ下動させ、或いは、高位置に設けられたインキュベー
タへ上動させるエレベータに関し、特に、積み重ねられ
たインキュベータで使用するためのエレベータに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】近時、分析処理量を増加させるために分
析器は大型化されている。これにより、試料を保持する
スライド試験要素のインキュベーション処理能力を増大
させるために複数のインキュベータを必要としている。
然しながら、インキュベータが増加すると、分析器を設
置するために必要な設置面積が増大する（例えば、米国
特許公報第４５１２９５２号に開示された３つのインキ
ュベータを備えた分析器の必要面積を、米国特許公報第
４２９６０７０号に開示された２つのインキュベータを
有する分析器の必要面積と比較すると理解される）。
析器は大型化されている。これにより、試料を保持する
スライド試験要素のインキュベーション処理能力を増大
させるために複数のインキュベータを必要としている。
然しながら、インキュベータが増加すると、分析器を設
置するために必要な設置面積が増大する（例えば、米国
特許公報第４５１２９５２号に開示された３つのインキ
ュベータを備えた分析器の必要面積を、米国特許公報第
４２９６０７０号に開示された２つのインキュベータを
有する分析器の必要面積と比較すると理解される）。
【０００３】米国特許公報第４５１２９５２号の分析器
の処理能力は、一時間当たり約７００のスライド試験要
素を処理可能である。この処理能力を１０００以上に増
加させるためには、例えば大型のインキュベータまたは
多数のインキュベータを搭載しなければならないので分
析器の搭載量が大きくなる。従って、設置面積が大きく
なる。狭い実験室では大きな設置面積を必要とする分析
器は利用できない。
の処理能力は、一時間当たり約７００のスライド試験要
素を処理可能である。この処理能力を１０００以上に増
加させるためには、例えば大型のインキュベータまたは
多数のインキュベータを搭載しなければならないので分
析器の搭載量が大きくなる。従って、設置面積が大きく
なる。狭い実験室では大きな設置面積を必要とする分析
器は利用できない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、こうした従
来技術の問題点を解決することを技術課題としており、
設置面積を著しく増加させることなく、処理能力の高い
（例えば、一時間当たり７００以上のスライド試験要素
を処理できる）分析器を提供することを目的としてい
る。
来技術の問題点を解決することを技術課題としており、
設置面積を著しく増加させることなく、処理能力の高い
（例えば、一時間当たり７００以上のスライド試験要素
を処理できる）分析器を提供することを目的としてい
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、生物学的液体
内の分析試料を分析する分析器において、前記分析器は
互いに上下に配設された複数のインキュベータと、所定
の水平面内でスライド試験要素を移動させて該スライド
試験要素を前記インキュベータに隣接する所定位置に移
送するスライド試験要素移送装置とを具備しており、前
記分析器は、更に、スライド試験要素を前記スライド試
験要素移送装置および前記複数のインキュベータの装填
位置に対して上動および下動させるエレベータを具備
し、前記エレベータが、スライド試験要素支持部と、前
記スライド試験要素移送装置からスライド試験要素を前
記スライド試験要素支持部へ押し出し、かつ、前記スラ
イド試験要素支持部から前記複数のインキュベータの何
れかへ押し出す押接部材とを具備して成る分析器を要旨
とする。
内の分析試料を分析する分析器において、前記分析器は
互いに上下に配設された複数のインキュベータと、所定
の水平面内でスライド試験要素を移動させて該スライド
試験要素を前記インキュベータに隣接する所定位置に移
送するスライド試験要素移送装置とを具備しており、前
記分析器は、更に、スライド試験要素を前記スライド試
験要素移送装置および前記複数のインキュベータの装填
位置に対して上動および下動させるエレベータを具備
し、前記エレベータが、スライド試験要素支持部と、前
記スライド試験要素移送装置からスライド試験要素を前
記スライド試験要素支持部へ押し出し、かつ、前記スラ
イド試験要素支持部から前記複数のインキュベータの何
れかへ押し出す押接部材とを具備して成る分析器を要旨
とする。
【０００６】
【実施例】以下、２つのインキュベータ、すなわち、一
方が他方の鉛直上方に互いに積み重ねられた２つのイン
キュベータを具備する分析器と関連して本発明の好まし
い実施例を説明する。この分析器は、好ましいスライド
試験要素と、該スライド試験要素の移送装置とを具備し
ている。更に、本発明は、スライド試験要素移送装置に
対してスライド試験要素を鉛直方向に移送するためにス
ライド試験要素移送装置から独立したエレベータが設け
られている限り、１つまたは２つのインキュベータが備
えられていても、或いは、各インキュベータまたはスラ
イド試験要素の形式および構成に拘わらず本発明は有効
である。
方が他方の鉛直上方に互いに積み重ねられた２つのイン
キュベータを具備する分析器と関連して本発明の好まし
い実施例を説明する。この分析器は、好ましいスライド
試験要素と、該スライド試験要素の移送装置とを具備し
ている。更に、本発明は、スライド試験要素移送装置に
対してスライド試験要素を鉛直方向に移送するためにス
ライド試験要素移送装置から独立したエレベータが設け
られている限り、１つまたは２つのインキュベータが備
えられていても、或いは、各インキュベータまたはスラ
イド試験要素の形式および構成に拘わらず本発明は有効
である。
【０００７】更に、本明細書において「上下」「水平」
「鉛直」「底部」等の用語は、添付図面において定義す
る。こうした方向に関する定義は説明の便宜上のもので
あって、本願発明を限定する趣旨ではない。
「鉛直」「底部」等の用語は、添付図面において定義す
る。こうした方向に関する定義は説明の便宜上のもので
あって、本願発明を限定する趣旨ではない。
【０００８】本発明を適用する分析器を図１に示すが、
これは本発明を限定する趣旨ではない。分析器１２は、
ステーション１４、１６に配設された１または２のスラ
イド試験要素のための供給部と、回転ステーション２０
に配設された患者の試料１９および使い捨てチップ２１
のための供給部と、回転ステーション２０に隣接させて
配設された試料液体吸引、分配装置１８と、スライド試
験要素を受承し、これを試料液体吸引、分配装置１８お
よび他の種々のインキュベータに移動させるために回転
ステーション２０の下側に配設されたスライド試験要素
移送装置３０と、スライド試験要素移送装置３０から受
承したスライド試験要素をインキュベーションするため
の少なくとも３つのインキュベータ２２、２４、２６
と、インキュベータの１つの側部に任意に配置されたイ
ンキュベーション後のスライド試験要素の分析部４２、
４４とを具備している。
これは本発明を限定する趣旨ではない。分析器１２は、
ステーション１４、１６に配設された１または２のスラ
イド試験要素のための供給部と、回転ステーション２０
に配設された患者の試料１９および使い捨てチップ２１
のための供給部と、回転ステーション２０に隣接させて
配設された試料液体吸引、分配装置１８と、スライド試
験要素を受承し、これを試料液体吸引、分配装置１８お
よび他の種々のインキュベータに移動させるために回転
ステーション２０の下側に配設されたスライド試験要素
移送装置３０と、スライド試験要素移送装置３０から受
承したスライド試験要素をインキュベーションするため
の少なくとも３つのインキュベータ２２、２４、２６
と、インキュベータの１つの側部に任意に配置されたイ
ンキュベーション後のスライド試験要素の分析部４２、
４４とを具備している。
【０００９】上記の代表的構成は、例えばイーストマン
コダック社から「エクタケム Ｅ７００（EKTACHEM E 7
00) （登録商標）」の商標名で既に市販されている分析
器で使用されている。このために、前記スライド試験要
素は、好ましくは検知用に色信号を発生する比色分析用
スライド試験要素用と、電位差測定式（potentiometer-
type）のスライド試験要素用が使用される。どちらのス
ライド試験要素もイーストマンコダック社から「エクタ
ケム（EKTACHEM) （登録商標）」の商標名で既に市販さ
れている。
コダック社から「エクタケム Ｅ７００（EKTACHEM E 7
00) （登録商標）」の商標名で既に市販されている分析
器で使用されている。このために、前記スライド試験要
素は、好ましくは検知用に色信号を発生する比色分析用
スライド試験要素用と、電位差測定式（potentiometer-
type）のスライド試験要素用が使用される。どちらのス
ライド試験要素もイーストマンコダック社から「エクタ
ケム（EKTACHEM) （登録商標）」の商標名で既に市販さ
れている。
【００１０】本発明では、図１のインキュベータ２６
が、一対の積み重ねられたインキュベータ３６、４０
（図２参照）と置換される。インキュベータ３６、４０
の取付方法はもとより、インキュベータ３６、４０それ
自体の構成は本発明の一部を構成しないので、従来の構
成によるインキュベータを含めてあらゆる構成のインキ
ュベータをインキュベータ３６、４０として使用するこ
とができる。従って、各インキュベータの周部に設けら
れた受承部４６、５０を除いてインキュベータ３６、４
０に関する説明を省略する。
が、一対の積み重ねられたインキュベータ３６、４０
（図２参照）と置換される。インキュベータ３６、４０
の取付方法はもとより、インキュベータ３６、４０それ
自体の構成は本発明の一部を構成しないので、従来の構
成によるインキュベータを含めてあらゆる構成のインキ
ュベータをインキュベータ３６、４０として使用するこ
とができる。従って、各インキュベータの周部に設けら
れた受承部４６、５０を除いてインキュベータ３６、４
０に関する説明を省略する。
【００１１】複数の受承部から、インキュベータ３６、
４０の各々の受承部４６、５０のみが図示されている。
受承部４６に関しては、停止部４８を図示するために一
部を破断して図示されている。停止部４８はスライド試
験要素Ｅの端部５２と当接する。スライド試験要素Ｅ
は、支持部４９においてインキュベータ３６にてインキ
ュベーションされる。スライド試験要素Ｅ′のための受
承部５０の支持部５１には上記の停止部は設けられてい
ない。と言うのは、図３を参照すると、スライド試験要
素Ｅ′は、受承部５０から回転支持部５１の内側に設け
られた排出部５３へ押し出されるためである。
４０の各々の受承部４６、５０のみが図示されている。
受承部４６に関しては、停止部４８を図示するために一
部を破断して図示されている。停止部４８はスライド試
験要素Ｅの端部５２と当接する。スライド試験要素Ｅ
は、支持部４９においてインキュベータ３６にてインキ
ュベーションされる。スライド試験要素Ｅ′のための受
承部５０の支持部５１には上記の停止部は設けられてい
ない。と言うのは、図３を参照すると、スライド試験要
素Ｅ′は、受承部５０から回転支持部５１の内側に設け
られた排出部５３へ押し出されるためである。
【００１２】図３を参照すると、インキュベータ４０は
インキュベータ３６の直上に配設されている（以下の説
明では上部インキュベータ４０、下部インキュベータ３
６と記載する）。上部インキュベータ４０と下部インキ
ュベータ３６の各々の回転軸線は一致する必要はない。
２つのインキュベータを鉛直方向に積み重ねることによ
り、一方のインキュベータの鉛直方向の投影面積が、他
方のインキュベータの投影面積を完全に囲繞する。上部
インキュベータ４０は、下部インキュベータ３６のカバ
ー部４２に適宜に取り付けることができる。その詳細な
構成は説明を省略する。
インキュベータ３６の直上に配設されている（以下の説
明では上部インキュベータ４０、下部インキュベータ３
６と記載する）。上部インキュベータ４０と下部インキ
ュベータ３６の各々の回転軸線は一致する必要はない。
２つのインキュベータを鉛直方向に積み重ねることによ
り、一方のインキュベータの鉛直方向の投影面積が、他
方のインキュベータの投影面積を完全に囲繞する。上部
インキュベータ４０は、下部インキュベータ３６のカバ
ー部４２に適宜に取り付けることができる。その詳細な
構成は説明を省略する。
【００１３】また、絶対的に必要な事項ではないが、好
ましくは、下部インキュベータ３６は、色信号を発生す
る比色分析用スライド試験要素Ｅ用のインキュベータで
あり、上部インキュベータ４０は、電位差を発生する電
位差測定式のスライド試験要素Ｅ′用のインキュベータ
である。こうして、スライド試験要素Ｅ、Ｅ′が選択さ
れる。
ましくは、下部インキュベータ３６は、色信号を発生す
る比色分析用スライド試験要素Ｅ用のインキュベータで
あり、上部インキュベータ４０は、電位差を発生する電
位差測定式のスライド試験要素Ｅ′用のインキュベータ
である。こうして、スライド試験要素Ｅ、Ｅ′が選択さ
れる。
【００１４】従来技術と同様に、スライド試験要素移送
装置３０（図２参照）は、１つの水平面５６内で回転軸
線５４を中心として回転して、スライド試験要素Ｅ、
Ｅ′を下部および上部インキュベータ３６、４０に隣接
する位置Ａへ、より詳細には、上部インキュベータ４０
の受承部５０のスライド支持部５１へ移送、供給する。
然しながら、スライド試験要素移送装置３０は平面５６
から外れることができない。すなわち、下部インキュベ
ータ３４の支持部４９の高さへは下がることができな
い。
装置３０（図２参照）は、１つの水平面５６内で回転軸
線５４を中心として回転して、スライド試験要素Ｅ、
Ｅ′を下部および上部インキュベータ３６、４０に隣接
する位置Ａへ、より詳細には、上部インキュベータ４０
の受承部５０のスライド支持部５１へ移送、供給する。
然しながら、スライド試験要素移送装置３０は平面５６
から外れることができない。すなわち、下部インキュベ
ータ３４の支持部４９の高さへは下がることができな
い。
【００１５】スライド試験要素移送装置３０は、その腕
部の各々の端部に設けられたスライドブロック６０と、
該スライドブロックの上方に配設された計量ハウジング
６２とを有している。スライドブロック６０はスライド
試験要素ＥまたはＥ′を一時的に保持する。計量ハウジ
ング６２は、従来技術と同様にスライド試験要素Ｅまた
はＥ′への試料または参照液体の分配を補助する。
部の各々の端部に設けられたスライドブロック６０と、
該スライドブロックの上方に配設された計量ハウジング
６２とを有している。スライドブロック６０はスライド
試験要素ＥまたはＥ′を一時的に保持する。計量ハウジ
ング６２は、従来技術と同様にスライド試験要素Ｅまた
はＥ′への試料または参照液体の分配を補助する。
【００１６】図２の実施例では、スライド試験要素移送
装置３０とは独立してエレベータ装置１００が設けられ
ている。エレベータ装置１００は、スライド試験要素Ｅ
を下部インキュベータ３６の支持部４９の高さへ下ろ
す。エレベータ装置１００は、また、スライド試験要素
Ｅ′をスライドブロック６０から上部インキュベータ４
０への装填を可能とする。
装置３０とは独立してエレベータ装置１００が設けられ
ている。エレベータ装置１００は、スライド試験要素Ｅ
を下部インキュベータ３６の支持部４９の高さへ下ろ
す。エレベータ装置１００は、また、スライド試験要素
Ｅ′をスライドブロック６０から上部インキュベータ４
０への装填を可能とする。
【００１７】エレベータ装置１００を上下動作させるた
めに、図４参照を参照すると、エレベータ装置１００
は、好ましくは、鉛直フレーム１０２と、モータ１０４
と、水平トラック１１０と、図４に示す押接部材１３０
のための移動台１１２と、ラック１１６を介して移動台
１１２を駆動するためのピニオンギア１１４と、後述す
るカバー１７０とを具備している。フレーム１０２と、
モータ１０４とラック１０６とピニオン１０８に代えて
他の従来技術による上下動機構を使用することもてきる
（図１５の実施例を参照）。鉛直フレーム１０２はフラ
ンジ１０３を有している。フランジ１０３はベアリング
ブロック１０５の間に配設される（図８参照）。モータ
１０４はラック１０６とピニオンギア１０８とを介して
フレーム１０２およびフランジ１０３を上下動させる。
ラック１１６は水平トラック１１０へ向けて突き出して
いる。
めに、図４参照を参照すると、エレベータ装置１００
は、好ましくは、鉛直フレーム１０２と、モータ１０４
と、水平トラック１１０と、図４に示す押接部材１３０
のための移動台１１２と、ラック１１６を介して移動台
１１２を駆動するためのピニオンギア１１４と、後述す
るカバー１７０とを具備している。フレーム１０２と、
モータ１０４とラック１０６とピニオン１０８に代えて
他の従来技術による上下動機構を使用することもてきる
（図１５の実施例を参照）。鉛直フレーム１０２はフラ
ンジ１０３を有している。フランジ１０３はベアリング
ブロック１０５の間に配設される（図８参照）。モータ
１０４はラック１０６とピニオンギア１０８とを介して
フレーム１０２およびフランジ１０３を上下動させる。
ラック１１６は水平トラック１１０へ向けて突き出して
いる。
【００１８】押接部材１３０は、好ましくは、水平に延
設された本体１３２と、本体１３２の一端に設けられた
一対の当接部１３４、１３６と、他端に設けられたバネ
を保持する欠切部１３８とを具備している（図４参
照）。欠切部１３８には圧縮バネ１４０が設けられてい
る（図５参照）。圧縮バネ１４０は欠切部１３８の端面
１４３と、移動台１１２の内面１４４とに押接力を作用
する。欠切部１３８の他方の端部１４６が、押接部材１
３０が移動台１１２内において前進し過ぎることを防止
する。
設された本体１３２と、本体１３２の一端に設けられた
一対の当接部１３４、１３６と、他端に設けられたバネ
を保持する欠切部１３８とを具備している（図４参
照）。欠切部１３８には圧縮バネ１４０が設けられてい
る（図５参照）。圧縮バネ１４０は欠切部１３８の端面
１４３と、移動台１１２の内面１４４とに押接力を作用
する。欠切部１３８の他方の端部１４６が、押接部材１
３０が移動台１１２内において前進し過ぎることを防止
する。
【００１９】図５、６を参照すると、本体１３２は、圧
縮バネ１４０の作用の下で、移動台１１２に設けられた
少なくとも一対の支持片１５０、１５２の間に摺動自在
に保持されている。詳細は後述する。
縮バネ１４０の作用の下で、移動台１１２に設けられた
少なくとも一対の支持片１５０、１５２の間に摺動自在
に保持されている。詳細は後述する。
【００２０】押接部材１３０が支持片１５０、１５２内
で動作不能となり圧縮バネ１４０の作用が無効となるこ
とを防止するために、解除ラグ１５４を設けてもよい
（図４参照）。解除ラグ１５４は、水平トラック１１０
の後端部１５８の近傍に固定された停止部１５６に押接
される（図６参照）。
で動作不能となり圧縮バネ１４０の作用が無効となるこ
とを防止するために、解除ラグ１５４を設けてもよい
（図４参照）。解除ラグ１５４は、水平トラック１１０
の後端部１５８の近傍に固定された停止部１５６に押接
される（図６参照）。
【００２１】他の構成の押接部材１３０を使用すること
もできる。例えば、長尺の本体は中実の棒部材や、可撓
性の板部材や、スライド試験要素を充分に押し出すこと
の可能な長さのカム機構（図示せず）と置換可能であ
る。
もできる。例えば、長尺の本体は中実の棒部材や、可撓
性の板部材や、スライド試験要素を充分に押し出すこと
の可能な長さのカム機構（図示せず）と置換可能であ
る。
【００２２】フレーム１０２はスライド試験要素支持部
を具備している。該スライド試験要素支持部は、本実施
例において、好ましくは、一対の支持レール１６２、１
６４により構成されている（図４、５参照）。支持レー
ル１６２、１６４は、その間を前記当接部１３４、１３
６が通過できる距離を以て互いに離隔している。スライ
ド試験要素ＥまたはＥ′が支持レール１６２、１６４の
間に支持される（図５参照）。このスライド試験要素が
上部インキュベータ４０用のスライド試験要素Ｅ′の場
合には、該スライド試験要素は停止することなくフレー
ム１０２を通過できるように支持される。上記スライド
試験要素が下部インキュベータ３６用のスライド試験要
素Ｅの場合には、該スライド試験要素は支持レール１６
２、１６４に載置されて下部インキュベータ３６へ下ろ
される。
を具備している。該スライド試験要素支持部は、本実施
例において、好ましくは、一対の支持レール１６２、１
６４により構成されている（図４、５参照）。支持レー
ル１６２、１６４は、その間を前記当接部１３４、１３
６が通過できる距離を以て互いに離隔している。スライ
ド試験要素ＥまたはＥ′が支持レール１６２、１６４の
間に支持される（図５参照）。このスライド試験要素が
上部インキュベータ４０用のスライド試験要素Ｅ′の場
合には、該スライド試験要素は停止することなくフレー
ム１０２を通過できるように支持される。上記スライド
試験要素が下部インキュベータ３６用のスライド試験要
素Ｅの場合には、該スライド試験要素は支持レール１６
２、１６４に載置されて下部インキュベータ３６へ下ろ
される。
【００２３】図４、７を参照すると、好ましくは、フレ
ーム１０２において支持レール１６２、１６４の上方に
カバー１７０が設けられる。このカバー１７０を受承す
るために、フレーム１０２には対設された二対の溝部１
７２、１７４が形成されている。溝部１７２、１７４は
支持レール１６２、１６４から上方に延設されており、
カバー１７０の側部フランジ１８２、１８４を受承す
る。側部フランジ１８４は前面プレート１８６の一部を
構成している。前面プレート１８６は端部１８７におい
て片持ち梁状に支持されており、図７において破線で示
すように、一定程度の可撓性を備えている。前面プレー
ト１８６から外側に突出する肩部１８８が設けられてい
る。肩部１８８は、フレーム１０２に設けれた２つの係
合溝１９０にスナップ式に係止される。肩部１８８が係
合溝１９０と係合するまで、カバー１７０が溝部１７
２、１７４に挿入されると、前面プレート１８６は破線
で示す位置まで撓む。
ーム１０２において支持レール１６２、１６４の上方に
カバー１７０が設けられる。このカバー１７０を受承す
るために、フレーム１０２には対設された二対の溝部１
７２、１７４が形成されている。溝部１７２、１７４は
支持レール１６２、１６４から上方に延設されており、
カバー１７０の側部フランジ１８２、１８４を受承す
る。側部フランジ１８４は前面プレート１８６の一部を
構成している。前面プレート１８６は端部１８７におい
て片持ち梁状に支持されており、図７において破線で示
すように、一定程度の可撓性を備えている。前面プレー
ト１８６から外側に突出する肩部１８８が設けられてい
る。肩部１８８は、フレーム１０２に設けれた２つの係
合溝１９０にスナップ式に係止される。肩部１８８が係
合溝１９０と係合するまで、カバー１７０が溝部１７
２、１７４に挿入されると、前面プレート１８６は破線
で示す位置まで撓む。
【００２４】カバー１７０には一対の底部レール１９
２、１９４が設けられている。該底部レール１９２、１
９４の肩部１８８からの距離Ｌ（図７）は、好ましく
は、底部レール１９２、１９４が、正確にスライド試験
要素ＥまたはＥ′の高さに一致する距離を以て支持レー
ル１６２、１６４の上方に配置されるように選択する。
これにより、支持レール１６２、１６４に２つのスライ
ド試験要素が偶然に積み重ねられることが防止される。
２、１９４が設けられている。該底部レール１９２、１
９４の肩部１８８からの距離Ｌ（図７）は、好ましく
は、底部レール１９２、１９４が、正確にスライド試験
要素ＥまたはＥ′の高さに一致する距離を以て支持レー
ル１６２、１６４の上方に配置されるように選択する。
これにより、支持レール１６２、１６４に２つのスライ
ド試験要素が偶然に積み重ねられることが防止される。
【００２５】押接部材１３０により押し出されたスライ
ド試験要素ＥまたはＥ′が、支持レール１６２、１６４
から前進し過ぎて前面プレート１８６から突き出すこと
を防止するために、底部レール１９２、１９４の各々の
下面に当接部２００を設けることができる（図７参
照）。当接部２００はスライド試験要素Ｅ、Ｅ′を前面
プレート１８６の後方で、押接部材の当接部１３４、１
３６と接触した状態で保持する。
ド試験要素ＥまたはＥ′が、支持レール１６２、１６４
から前進し過ぎて前面プレート１８６から突き出すこと
を防止するために、底部レール１９２、１９４の各々の
下面に当接部２００を設けることができる（図７参
照）。当接部２００はスライド試験要素Ｅ、Ｅ′を前面
プレート１８６の後方で、押接部材の当接部１３４、１
３６と接触した状態で保持する。
【００２６】エレベータ１００は、図９から図１４を参
照して詳細に説明するように、それ自体がスライド試験
要素移送装置３０のスライドブロック６０内に挿入され
（図８参照）、そして該スライドブロック内のスライド
試験要素をインキュベータから押し出す作用をなす。図
９において、エレベータ１００は最も高い位置に上動し
ており、移動台１１２は最も後退した位置に引き込まれ
て、スライド試験要素Ｅ′を保持するスライドブロック
６０の支持部２０２の下側で、かつ、内側に配置されて
いる。押接部材の当接部１３４、１３６はインキュベー
タ４０の支持部５１と同じ平面である支持部２０２の平
面内において、スライド試験要素Ｅ′と係合する位置に
ある。
照して詳細に説明するように、それ自体がスライド試験
要素移送装置３０のスライドブロック６０内に挿入され
（図８参照）、そして該スライドブロック内のスライド
試験要素をインキュベータから押し出す作用をなす。図
９において、エレベータ１００は最も高い位置に上動し
ており、移動台１１２は最も後退した位置に引き込まれ
て、スライド試験要素Ｅ′を保持するスライドブロック
６０の支持部２０２の下側で、かつ、内側に配置されて
いる。押接部材の当接部１３４、１３６はインキュベー
タ４０の支持部５１と同じ平面である支持部２０２の平
面内において、スライド試験要素Ｅ′と係合する位置に
ある。
【００２７】次いで、移動台１１２を左方へ前進させて
（図１０参照）、支持部２０２にあるスライド試験要素
Ｅ′を上部インキュベータ４０の支持部５１上に直接移
動させる（図１１参照）ために、ピニオンギア１１４が
回転、駆動される。図１０では、スライド試験要素Ｅ′
がカバー１７０の下側に位置するように図示されている
が、スライド試験要素が上部インキュベータ４０用のス
ライド試験要素Ｅ′である場合には、該スライド試験要
素Ｅ′は、ここに止まらずに図１１に示す位置に移動し
続ける。スライド試験要素が、下部インキュベータ３６
用のスライド試験要素Ｅである場合には、該スライド試
験要素は、移動台１１２を駆動するピニオンギア１１４
の作用により、支持レール１６２、１６４の上に載置さ
れて図１０に示す位置に停止することとなる。
（図１０参照）、支持部２０２にあるスライド試験要素
Ｅ′を上部インキュベータ４０の支持部５１上に直接移
動させる（図１１参照）ために、ピニオンギア１１４が
回転、駆動される。図１０では、スライド試験要素Ｅ′
がカバー１７０の下側に位置するように図示されている
が、スライド試験要素が上部インキュベータ４０用のス
ライド試験要素Ｅ′である場合には、該スライド試験要
素Ｅ′は、ここに止まらずに図１１に示す位置に移動し
続ける。スライド試験要素が、下部インキュベータ３６
用のスライド試験要素Ｅである場合には、該スライド試
験要素は、移動台１１２を駆動するピニオンギア１１４
の作用により、支持レール１６２、１６４の上に載置さ
れて図１０に示す位置に停止することとなる。
【００２８】スライド試験要素がスライド試験要素Ｅで
ある場合、すなわち、上部インキュベータ４０ではなく
下部インキュベータ３６用のスライド試験要素Ｅである
場合には、該スライド試験要素は支持レール１６２、１
６４に保持され（図１０）、エレベータ１００が下部イ
ンキュベータ３６へ下動する間、移動台１１２および押
接部材の当接部１３４、１３６はスライド部６０の後方
位置に保持される（図１２参照）。
ある場合、すなわち、上部インキュベータ４０ではなく
下部インキュベータ３６用のスライド試験要素Ｅである
場合には、該スライド試験要素は支持レール１６２、１
６４に保持され（図１０）、エレベータ１００が下部イ
ンキュベータ３６へ下動する間、移動台１１２および押
接部材の当接部１３４、１３６はスライド部６０の後方
位置に保持される（図１２参照）。
【００２９】次いで、図１３に示すように、エレベータ
１００がラック１０６とピニオンギア１０８とを介して
最も低い位置に移動する。このとき支持レール１６２、
１６４は下部インキュベータ３６の外側に隣接する位置
に移動する。移動台１１２が支持レール１６２、１６４
に支持されたスライド試験要素Ｅの後方で保持された位
置から前進させられる。一連のシーケンスにおけるこの
時点で、支持レール１６２、１６４は下部インキュベー
タ３６の支持部５１の平面と同一の水平面内に保持され
ている。
１００がラック１０６とピニオンギア１０８とを介して
最も低い位置に移動する。このとき支持レール１６２、
１６４は下部インキュベータ３６の外側に隣接する位置
に移動する。移動台１１２が支持レール１６２、１６４
に支持されたスライド試験要素Ｅの後方で保持された位
置から前進させられる。一連のシーケンスにおけるこの
時点で、支持レール１６２、１６４は下部インキュベー
タ３６の支持部５１の平面と同一の水平面内に保持され
ている。
【００３０】最後に、図１４に示すように、移動台１１
２が前進して、押接部材の当接部１３４、１３６および
他の構成要素がスライド試験要素Ｅを支持レール１６
２、１６４から停止部４８に当接するまで支持部５１へ
押し出す。このとき、スライド試験要素Ｅが停止部４８
まで完全に前進することを確実ならしめるために、移動
台１１２は必要以上に僅かに多く前進する。このとき、
押接部材１３０は、図５において破線で示すようにバネ
１４０の付勢力に対向して後退する。押接部材１３０は
過度にスライド試験要素Ｅを停止部４８に押し込むこと
はない。
２が前進して、押接部材の当接部１３４、１３６および
他の構成要素がスライド試験要素Ｅを支持レール１６
２、１６４から停止部４８に当接するまで支持部５１へ
押し出す。このとき、スライド試験要素Ｅが停止部４８
まで完全に前進することを確実ならしめるために、移動
台１１２は必要以上に僅かに多く前進する。このとき、
押接部材１３０は、図５において破線で示すようにバネ
１４０の付勢力に対向して後退する。押接部材１３０は
過度にスライド試験要素Ｅを停止部４８に押し込むこと
はない。
【００３１】エレベータ１００に被検知部材３０４等を
設け、この被検知部材３０４の位置からエレベータ１０
０の鉛直位置を検知するために、適切なセンサ３００、
３０２を下部インキュベータ３６の下側に配設すること
ができる。更に、水平トラック１１０による平面内で移
動台１１２が移動したときに、該移動台１１２の位置を
検知するために、同様のセンサ（図示せず）を配設する
ことができる。
設け、この被検知部材３０４の位置からエレベータ１０
０の鉛直位置を検知するために、適切なセンサ３００、
３０２を下部インキュベータ３６の下側に配設すること
ができる。更に、水平トラック１１０による平面内で移
動台１１２が移動したときに、該移動台１１２の位置を
検知するために、同様のセンサ（図示せず）を配設する
ことができる。
【００３２】以下、本発明の他の実施例を説明する。ス
ライド試験要素移送装置は上部インキュベータの上方に
配置され、エレベータによるスライド試験要素が、スラ
イド試験要素移送装置に対して直線上には配置されてい
ないインキュベータ装置へ下動するように図示されてい
たが、スライド試験要素移送装置を下部インキュベータ
よりも低い位置に配置して、スライド試験要素をスライ
ド試験要素移送装置に対して直線上には配置されていな
いインキュベータ装置へ上動するように構成してもよ
い。更に、本発明のエレベータは、上下に積み重ねられ
た２つのインキュベータに適合するために、単に上下動
作と水平移動のみを行う必要はない。
ライド試験要素移送装置は上部インキュベータの上方に
配置され、エレベータによるスライド試験要素が、スラ
イド試験要素移送装置に対して直線上には配置されてい
ないインキュベータ装置へ下動するように図示されてい
たが、スライド試験要素移送装置を下部インキュベータ
よりも低い位置に配置して、スライド試験要素をスライ
ド試験要素移送装置に対して直線上には配置されていな
いインキュベータ装置へ上動するように構成してもよ
い。更に、本発明のエレベータは、上下に積み重ねられ
た２つのインキュベータに適合するために、単に上下動
作と水平移動のみを行う必要はない。
【００３３】図１５を参照すると、図示するエレベータ
は斜めに積み重ねられた３つのインキュベータにスライ
ド試験要素を移送することができる。このエレベータ
は、移動台による水平方向の動作はもとより斜めに移動
可能であることが要求される。以下の説明では、既述の
実施例と同様の構成要素は、添字Ａを付して同じ参照番
号にて示されている。
は斜めに積み重ねられた３つのインキュベータにスライ
ド試験要素を移送することができる。このエレベータ
は、移動台による水平方向の動作はもとより斜めに移動
可能であることが要求される。以下の説明では、既述の
実施例と同様の構成要素は、添字Ａを付して同じ参照番
号にて示されている。
【００３４】図１５を参照すると、２つではなく３つの
インキュベータ３６Ａ、４０Ａ、３１６が、各々の中心
３１８、３２０、３２１が傾斜した軸線３２３に並ぶよ
うにして積み重ねられている。従って、上記インキュベ
ータの各々のロータ（図示せず）は３つの斜めにオフセ
ットされた水平面Ａ、Ｂ、Ｃ内で回転する。このよう
に、一のインキュベータを他のインキュベータの直上で
はなく斜めに配設することにより、上に配設されたイン
キュベータから、その下に配設されたインキュベータに
容易にアクセスすることが可能となる。と言うのは、常
に下側のインキュベータは上側のインキュベータにより
完全に覆われていないからである。
インキュベータ３６Ａ、４０Ａ、３１６が、各々の中心
３１８、３２０、３２１が傾斜した軸線３２３に並ぶよ
うにして積み重ねられている。従って、上記インキュベ
ータの各々のロータ（図示せず）は３つの斜めにオフセ
ットされた水平面Ａ、Ｂ、Ｃ内で回転する。このよう
に、一のインキュベータを他のインキュベータの直上で
はなく斜めに配設することにより、上に配設されたイン
キュベータから、その下に配設されたインキュベータに
容易にアクセスすることが可能となる。と言うのは、常
に下側のインキュベータは上側のインキュベータにより
完全に覆われていないからである。
【００３５】既述した実施例と同様に、スライド試験要
素移送装置は、インキュベータに隣接して固定された水
平面内に設けられたスライドブロック６０Ａと、エレベ
ータ１００Ａとを有している。エレベータ１００Ａはフ
レーム１０２Ａを具備している。フレーム１０２Ａは水
平トラック１１０Ａを支持している。水平トラック１０
０Ａには、押接部材１３０Ａを備えた移動台１１２Ａが
往復動自在に設けられている。押接部材１３０Ａは、既
述の実施例と同様に構成された当接部１３４Ａ、１３６
Ａを有している（図面を分かりやすくするためにカバー
は図示されていない）。支持レール１６２Ａ（一方のレ
ールのみ図示されている）が、既述の実施例と同様に、
スライド試験要素を支持するために使用される。
素移送装置は、インキュベータに隣接して固定された水
平面内に設けられたスライドブロック６０Ａと、エレベ
ータ１００Ａとを有している。エレベータ１００Ａはフ
レーム１０２Ａを具備している。フレーム１０２Ａは水
平トラック１１０Ａを支持している。水平トラック１０
０Ａには、押接部材１３０Ａを備えた移動台１１２Ａが
往復動自在に設けられている。押接部材１３０Ａは、既
述の実施例と同様に構成された当接部１３４Ａ、１３６
Ａを有している（図面を分かりやすくするためにカバー
は図示されていない）。支持レール１６２Ａ（一方のレ
ールのみ図示されている）が、既述の実施例と同様に、
スライド試験要素を支持するために使用される。
【００３６】然しながら、既述の実施例とは異なり、エ
レベータ１００Ａは、インキュベータ３４Ａ、３１６の
受承部３２２、３２４（インキュベータ４０Ａの受承部
は図示されていないが同様である）の外側に移動できる
ように、直線状に上下動作するのみならず斜めに移動す
る必要がある。従って、フレーム１０２Ａは傾斜レール
３３０に沿って移動できるように設けられている。傾斜
レール３３０はインキュベータの受承部の直近外側にお
いて水平面Ａ、Ｂ、Ｃと交差するように延設されてい
る。
レベータ１００Ａは、インキュベータ３４Ａ、３１６の
受承部３２２、３２４（インキュベータ４０Ａの受承部
は図示されていないが同様である）の外側に移動できる
ように、直線状に上下動作するのみならず斜めに移動す
る必要がある。従って、フレーム１０２Ａは傾斜レール
３３０に沿って移動できるように設けられている。傾斜
レール３３０はインキュベータの受承部の直近外側にお
いて水平面Ａ、Ｂ、Ｃと交差するように延設されてい
る。
【００３７】エレベータ１００Ａを傾斜レール３３０に
沿って移動させるために、エンドレスベルト３３４等の
コンベア装置が設けられている。エンドレスベルト３３
４はプーリー３３６とモータ３３８とにより駆動され
る。フレーム１０２Ａは、連結小片３４０介してエンド
レスベルト３３４に取り付けられており、エンドレスベ
ルト３３４と共に移動する。遊動プーリー３４２が他端
に設けられている。移動台１１２Ａは、エレベータ１０
０Ａと共に斜めに移動可能であるが、該移動台を前進さ
せることによりスライドブロック６０Ａを通過し、同移
動台を引き込むことによりスライドブロック６０Ａ内に
進入することができる。
沿って移動させるために、エンドレスベルト３３４等の
コンベア装置が設けられている。エンドレスベルト３３
４はプーリー３３６とモータ３３８とにより駆動され
る。フレーム１０２Ａは、連結小片３４０介してエンド
レスベルト３３４に取り付けられており、エンドレスベ
ルト３３４と共に移動する。遊動プーリー３４２が他端
に設けられている。移動台１１２Ａは、エレベータ１０
０Ａと共に斜めに移動可能であるが、該移動台を前進さ
せることによりスライドブロック６０Ａを通過し、同移
動台を引き込むことによりスライドブロック６０Ａ内に
進入することができる。
【００３８】このように構成することにより、スライド
試験要素をスライドブロック６０Ａから支持レール１６
２Ａへ移送し、次いで、エレベータを該スライド試験要
素を受承すべきインキュベータへ斜めに移動させること
が可能となる。エレベータ１００Ａが、何れかのインキ
ュベータの受承部へ移動すると、当接部１３４Ａ、１３
６Ａがエレベータ１００Ａの支持レール１６２Ａの間に
前進し、スライド試験要素を上記インキュベータに押し
出す。
試験要素をスライドブロック６０Ａから支持レール１６
２Ａへ移送し、次いで、エレベータを該スライド試験要
素を受承すべきインキュベータへ斜めに移動させること
が可能となる。エレベータ１００Ａが、何れかのインキ
ュベータの受承部へ移動すると、当接部１３４Ａ、１３
６Ａがエレベータ１００Ａの支持レール１６２Ａの間に
前進し、スライド試験要素を上記インキュベータに押し
出す。
【００３９】代替的に、フレーム１０２Ａと間隔を置い
て第２のフレーム（図示せず）を傾斜レール３３０に設
けて、処理能力を高めることもできる。上記第２のフレ
ームはエンドレスベルト３３４への連結手段によりフレ
ーム１０２Ａと連動して上下動する。
て第２のフレーム（図示せず）を傾斜レール３３０に設
けて、処理能力を高めることもできる。上記第２のフレ
ームはエンドレスベルト３３４への連結手段によりフレ
ーム１０２Ａと連動して上下動する。
【００４０】一例として、インキュベータ３６Ａ、４０
Ａは既述の実施例のインキュベータ３６、４０と同様の
インキュベータとし、インキュベータ３２０をインキュ
ベータ３６Ａでインキュベーションされたスライド試験
要素と異なる比色分析用インキュベータとすることがで
きる。
Ａは既述の実施例のインキュベータ３６、４０と同様の
インキュベータとし、インキュベータ３２０をインキュ
ベータ３６Ａでインキュベーションされたスライド試験
要素と異なる比色分析用インキュベータとすることがで
きる。
【００４１】更に、図２のラック１０６とピニオンギア
１０８または図１５のエンドレスベルト３３４をヘリカ
ルギアまたはウォームギアと置換してもよい。
１０８または図１５のエンドレスベルト３３４をヘリカ
ルギアまたはウォームギアと置換してもよい。
【００４２】
【発明の効果】既述の説明から明らかなように、本発明
は、鉛直方向に積み重ねられた複数のインキュベータ
と、異なる高さにおいて該インキュベータにスライド試
験要素を装填する装置とを具備する分析器を提供する。
本発明によれば、通常スライド試験要素を周囲に移送す
るスライド試験要素移送装置は、前記複数のインキュベ
ータの異なる高さの位置に上動、下動する必要はなくな
る。
は、鉛直方向に積み重ねられた複数のインキュベータ
と、異なる高さにおいて該インキュベータにスライド試
験要素を装填する装置とを具備する分析器を提供する。
本発明によれば、通常スライド試験要素を周囲に移送す
るスライド試験要素移送装置は、前記複数のインキュベ
ータの異なる高さの位置に上動、下動する必要はなくな
る。
【００４３】スライド試験要素を鉛直方向に積み重ねら
れた複数のインキュベータへ装填するための装置動作
は、上記の異なる高さへの鉛直方向の移動と、インキュ
ベータ内への水平方向の移動とに単純化される。
れた複数のインキュベータへ装填するための装置動作
は、上記の異なる高さへの鉛直方向の移動と、インキュ
ベータ内への水平方向の移動とに単純化される。
【図１】本発明の分析器の好ましい実施例の一部を破断
して示す略斜視図である。
して示す略斜視図である。
【図２】エレベータの好ましい実施例の側面図である。
【図３】積み重ねられたインキュベータおよび図２のエ
レベータの略斜視図である。
レベータの略斜視図である。
【図４】エレベータの分解斜視図である。
【図５】図４のエレベータを該エレベータに保持された
スライド試験要素と共に示す平面図である。
スライド試験要素と共に示す平面図である。
【図６】図５の矢視線ＶＩ−ＶＩに沿う断面図である。
【図７】図４に示すエレベータのカバーの側面図であ
る。
る。
【図８】スライド試験要素移送装置のスライドブロック
と係合するエレベータの略示平面図である。
と係合するエレベータの略示平面図である。
【図９】図８の矢視線Ｑ−Ｑに沿う断面図であり、エレ
ベータの動作を説明する図である。
ベータの動作を説明する図である。
【図１０】図８の矢視線Ｑ−Ｑに沿う断面図であり、エ
レベータの動作を説明する図である。
レベータの動作を説明する図である。
【図１１】図８の矢視線Ｑ−Ｑに沿う断面図であり、エ
レベータの動作を説明する図である。
レベータの動作を説明する図である。
【図１２】図８の矢視線Ｑ−Ｑに沿う断面図であり、エ
レベータの動作を説明する図である。
レベータの動作を説明する図である。
【図１３】図８の矢視線Ｑ−Ｑに沿う断面図であり、エ
レベータの動作を説明する図である。
レベータの動作を説明する図である。
【図１４】図８の矢視線Ｑ−Ｑに沿う断面図であり、エ
レベータの動作を説明する図である。
レベータの動作を説明する図である。
【図１５】本発明の第２の実施例の斜視図である。
３０…スライド試験要素移送装置 ３６…下部インキュベータ ４０…上部インキュベータ １００…エレベータ １３０…押接部材 １６２…支持レール １６４…支持レール Ｅ…スライド試験要素 Ｅ′…スライド試験要素
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 アレクサンダー ダブリュ．ハーシュ アメリカ合衆国，ニューヨーク 14617, ロチェスター，ウィノナ ブールバード 448 (72)発明者 マイケル ダブリュ．ラ ポラート アメリカ合衆国，ニューヨーク 14428, チャーチビル，キング ロード 136
Claims (1)
- 【請求項１】 生物学的液体内の分析試料を分析する分
析器において、 前記分析器は互いに上下に配設された複数のインキュベ
ータと、所定の水平面内でスライド試験要素を移動させ
て該スライド試験要素を前記インキュベータに隣接する
所定位置に移送するスライド試験要素移送装置とを具備
しており、 前記分析器は、更に、スライド試験要素を前記スライド
試験要素移送装置および前記複数のインキュベータの装
填位置に対して上動および下動させるエレベータを具備
し、 前記エレベータが、スライド試験要素支持部と、前記ス
ライド試験要素移送装置からスライド試験要素を前記ス
ライド試験要素支持部へ押し出し、かつ、前記スライド
試験要素支持部から前記複数のインキュベータの何れか
へ押し出す押接部材とを具備して成る分析器。
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|---|---|---|---|
| US236908 | 1994-04-29 | ||
| US08/236,908 US5419871A (en) | 1994-04-29 | 1994-04-29 | Analyzer elevator assembly |
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|---|---|
| JPH08160051A true JPH08160051A (ja) | 1996-06-21 |
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