KR0156654B1 - 시험 스트립에 대한 운반 장치를 갖는 시험 스트립을 위한 평가 기구 - Google Patents

시험 스트립에 대한 운반 장치를 갖는 시험 스트립을 위한 평가 기구 Download PDF

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아우그슈타인 만프레드
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베른트 콜프, 마르틴 크나우어
뵈링거 만하임 게엠베하
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Abstract

본 발명은 시험 스트립의 사용에 의한 샘플 액체의 분석 분야에 속하고, 그래버에의해 시험 스트립을 운반하는 시험 스트립 평가 기구에 관한 것이다. 그래버는 하나의 공간 방향으로 이동하는 가이드 아암에 부착된다. 재방향 메카니즘은 적어도 2개의 공간 방향으로 운동이 수행될 정도로 그래버에 가이드 아암의 운동을 가하는 역할을 한다.

Description

시험 스트립에 대한 운반 장치를 갖는 시험 스트립을 위한 평가 기구
제1도는 평가 기구의 가이드 아암의 개략도.
제2도는 3개의 평행한 표면을 갖는 종단면을 갖는 수직 종단면부의 개략도.
제3도는 시험 스트립 평가 기구의 상면도.
제4도는 시험 스트립 평가 기구의 측면도.
제5도는 그래버의 저측면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 시험 스트립 평가 기구 2 : 운반 장치
3 : 시험 스트립 4 : 그래버
5 : 시험 스트립 지지체 6 : 처리부분
7 : 수직 단면부 8 : 가이드 아암
9 : 가이드 핀 10 : 가이드 아암의 기부
11 : 가이드 아암의 헤드 12 : 이중 판 스프링
13 : 제1표면 14 : 제2표면
15 : 제3표면 16 : 측정 오프닝
17 : 시험 영역 18 : 구명 뚫린 판
19 : 슬롯 20 : 구동 모터
21 : 편심 핀 22 : 단면부
23 : 슬라이드 24 : 가이드 레일
25 : 홈 26 : 정지 위치
27 : 경사진 위치 28 : 역방향 위치
29 : 역방향 레일 30 : 제2경사진 위치
31 : 제2역방향 위치 32 : 가이드 부재
본 발명은 시험 스트립을 평가하기 위한 기구에 관한 것이다. 이 기구는 운반 장치를 가지며, 여기에서 그래버는 시험 스트립을 측정 위치까지 그리고 더 나아가 처리 부분까지 시험 스트립 위로 세로 연장부까지 수직으로 운반한다. 그래버는 수직 종단면부, 가이드 아암 및 구동 모터를 갖는 구동 장치에 의해 조절된다. 상기 구동 모터는 단일 공간 방향으로 가이드 아암의 기부를 이동시킨다., 가이드 아암 헤드의 운동은 가이드 아암의 헤드에 부착된 그래버가 적어도 2개의 공간 방향으로 이루어진 운동을 수행할 정도로 수직단면부에 맞물린 가이드 핀을 경유하여 가이드 아암의 운동의 새 방향을 잡는다.
시험 스트립의 사진 평가는 주로 요도, 혈액 및 혈청 샘플을 시험하기 위한 임상 실험 분야에 사용된다. 통상적인 시험 스트립은 서로다른 샘플 성분의 측정을 위한 수 가지 시험 영역을 갖는다. 일반적으로, 시험 스트립은 샘플 액체내에 침지되고, 과량의 샘플 액체는 세척되며, 필요하다면, 스트립은 평가 기구내에 삽입된다. 샘플 성분의 반응은 일반적으로 사진, 특히 반사율 사진의 사용에 의해 평가되는 시험 스트립의 색의 변화를 유도한다. 사용자의 평가의 친밀도 및 정확도에 대해 시험 스트립 평가 기구에 대한 높은 수요가 이루어진다. 측정 헤드 아래의 시험 영역의 정확한 위치는 평가의 정확도에 대해 임계적이며, 평가의 정확도를 위해 측정 헤드와 시험 영역 표면 사이의 규정된 거리의 유지가 특히 중요하다.
종래에, 시험 스트립의 운반 및 위치 선정을 제공하는 시험 스트립 평가 기구가 특허 출원 EP-A-0 431 455호로부터 공지되어 있다. 상기 특허 출원에 기술된 장치를 사용하여, 운반체 요소 및 시험 스트립 지지체의 동시 운동을 경유하여 시험 스트립이 단계적으로 운반되는 것이 가능하다. 운반체 요소 및 시험 스트립은 각각 분리 모터에 의해 구동한다. 더우기, 기술된 장치는 다수의 시험 스트립의 동시 평가를 위해 사용된다. 따라서, 상기 기구는 단일 시험 스트립이 평가되는 경우에 사용자에 대한 장점이 거의 없다. 다수의 시험 스트립의 평가를 위해 기구가 설계됨에 따라, 이것의 제조는 상응하게 높은 비용을 수반한다.
따라서, 본 발명의 목적은 개별적 또는 소수의 시험 스트립의 평가를 위해 적합하고, 동시에 고도의 사용자의 쾌적함 및 측정 정확도를 특징으로 하는 시험 스트립 평가 기구를 제공하는 데에 있다. 본 발명의 특별한 목적은 간단한 구동 장치의 사용에 의해 운반 및 위치 선정의 기능을 수해하는 시험 스트립 평가 기구를 위한 운반 장치를 제공하는 데에 있다.
상기 목적은 운반 장치를 갖는 시험 스트립 평가 기구에 의해 달성되며, 여기에서 그래버는 시험 스트립을 측정 위치까지 그리고 더 나아가 처리 부분까지 시험 스트립 위로 세로 연장부까지 수직으로 운반한다. 그래버는 수직 종단면부, 가이드 아암 및 구동 모터를 갖는 구동 장치에 의해 조절된다. 상기 구동 모터는 하나의 공간 방향으로 가이드 아암의 기부를 이동시킨다.
가이드 아암 헤드의 운동은 가이드 아암의 헤드에 부착된 그래버가 적어도 2개의 공간 방향으로 이루어진 운동을 수행할 정도로 수직 종단면부에 맞물린 가이드 핀을 경유하며 가이드 아암의 운동의 새 방향을 잡는다.
본 발명의 시험 스트립 평가 기구는 또한, 측정 위치내로의 시험 스트립의 운반이 수동으로 수행되지 않지만 운반 장치의 사용으로 수행된다는 점에서 소량의 시험 스트립의 평가를 촉진시킨다. 운반 장치는 수 개의 연동 부재로 이루어진다. 그래버는 시험 부재와 직접 접촉하게 되는 운반 장치의 한 부재이다. 본 발명에 따르는 그래버는 수 ㎝의 길이, 수 ㎝의 폭 및 수 ㎜의 두께를 갖는 형상을 갖는다. 그래버는 통합 측정 오프닝을 가지며, 이를 통해 그래버 아래에 위치한 시험 부재의 시험영역이 접근할 수 있다. 더욱이 그래버는 가이드부재를 가져서 시험 스트립 지지체 위로 시험 스트립을 안내하고, 상기 시험 스트립을 정렬시킨다. 가능한 가이드 부재는 그랩버의 바닥에 부착된 바아 또는 훅을 포함한다.
그래버는 가이드 핀이 또한 부착된 가이드 아암의 헤드에 부착된다.
연결 부재는 가이드 아암의 헤드와 가이드 아암의 기부 사이에 가요성 연결부 제공한다. 상기 연결 부재는 시험 스트립 지지체에 대한 헤드의 수직 운동을 혀용한다. 바람직한 방식으로, 상기 연결 부재는 이중 판 스프링으로서 배열된다. 단일 판 스프링과 비교하여, 상기 이중 스프링은 가이드아암의 꼬임이 방지된다는 장점을 갖는다. 유리하게는, 헤드, 기부 및 이중 판 스프링은 단일 통합 부재로서 제조된다. 구동 장치는 하나의 공간 방향으로 가이드 아암의 기부를 이동시킨다. 종래에 이러한 1차원 운동에 대해 매우 많은 구동장치가 기술되었다. 본 발명을 위해, 가이드 아암의 기부가 가이드 레일에서 움직이는 슬라이드상에 위치하는 경우가 특히 유용하다. 슬라이드는 예를 들어 슬라이드에 연결된 이모양 선반의 도움으로 가이드 레일 위에서 움직인다.
위치 선정의 정확성에 대해 운반 장치에 대해 이루어진 공간 요건으로 인해, 구도 모터의 편심 핀과 맞물릴 수 있는 슬라이드에 구멍 뚫린 판이 부착되는 경우가 유용한 것으로 입증되었다.
구동 장치의 유형은 특징 위치를 가지며, 여기에서 회전각의 비교적 큰 변화가 단지 구멍 뚫린 판 및 그에 따라 가이드 아암의 운동을 야기시킨다.
상기 특정 위치는, 구동 모터가 비교적 큰 위치 부정확도를 가지고 조작되는 경우에도, 매우 고도의 정확도에 근접할 수 있다. 따라서, 구동 모터에 대한 일반적 비용이 감소될 수 있다.
가이드 아암이 구동 모터에 의해 움직이는 반면, 가이드 아암의 헤드에 부착된 가이드 핀은 수직 종단면부에 맞물린다. 수직 종단면부는 가이드 아암의 측면 위치에 의존하여, 가이드 아암의 헤드의 수직 위치를 결정한다. 수직 종단면부에는 가이드 핀 레일로서 홈이 제공된다. 홈은 바람직하게는 패쇄 회로이어서, 가이드 아암이 주어진 초기 위치로부터 주어진 최종 위치로 그리고 역으로의 가이드 아암의 측면 운동 동안 홈의 완전한 길이를 따라 운동하게 된다. 판 스프링을 갖는 가이드 아암의 헤드에 대한 기부의 연결로 인하여, 수직 종단면부의 특히 간단한 구성을 갖는 것이 가능하다. 스프링의 신장은 수직 운동으로 규정된 방향으로 가이드 아암을 제공하는 역할을 한다.
수직 종단면부의 하나의 가능한 구현은 분쇄에 의해 홈이 포함된 본질적 직사각형 플라스틱 블록을 포함한다. 홈은 본질적으로 난형을 가지며, 난형의 더 긴 부분 단면은 가이드 핀의 더 긴 측면 운동 및 상기 핀의 더 짧은 수직 운동과 관련되고; 홈의 더 짧은 벤트 부분은 가이드 핀의 강한 수직 운동을 허용한다. 가이드 핀이 기술된 홈내에서 움직일 경우, 가이드 핀의 1차원 운동은 부분적으로 새로 방향을 잡아서 제2방향으로 계속된다. 기술된 장치에서 가이드 홈의 용도는 핀의 측면 운동을 부분적으로 수직 운동으로 전환시킨다. 따라서, 상기 매카니즘은 제2방향의 운동을 위한 분리 구동 장치를 보호하는 역할을 한다. 기구에 통합된 수직 종단면부는 바람직하게는 가이드 아암의측면 방향에 평행한 수 개의 표면을 갖는다. 상기 표면은 가이드 아암 헤드의 여러 수직 자세와 관련된다, 따라서, 여러 표면은 가이드 아암의 주어진 자세에서,
- 시험 스트립 지지체에 대한 시험 스트립을 갖는 그래버의 접촉이 방지될 정도로 상기 시험 스트립 지지체로부터 멀리 그래버를 이동시키기 위해,
- 시험 스트립 지지체 위로 일정 거리로 그래버를 안내하여, 시험 스트립을 운반 수단을 따라 측정 위치로 이동시키기 위해,
- 그래버를 시험 스트립상에 압착시켜서, 측정을 위한 적합한 위치 선정을 보장하기 위해 사용된다.
더욱이, 수직 종단면부는 기구가 운반되는 경우 또는 연장된 기간 동안 사용되지 않는 경우에, 가이드 핀이 이동하는 정지 자세를 갖는다.
본 발명은 더욱더 하기의 단계로 이루어지는, 시험 스트립 평가 기구에서 시험 스트립을 평가하는 방법을 포함한다.
- 시험 스트립 지지체상에 시험 스트립을 위치시키는 단계,
- 측정 위치를 향한 방향으로 그래버에 의해 시험 스트립을 운반시키는 단계,
- 측정 위치에 시험 스트립을 고정시키는 단계,
- 시험 스트립의 사진 평가 단계, 및
- 처리 부분내로 시험 스트립을 운반하는 단계.
상기 방법은 그래버가 가이드 아암에 부착되며, 이것의 운동이 수직 종단면부를 통해 조절되고, 반면에 상기 가이드 아암은 모터에 의해 구동됨을 특징으로 한다.
본 발명은 더욱더 하기의 단계로 이루어지는, 시험 스트립 평가 기구에서 시험 스트립을 평가하는 방법으로 이루어진다.
- 시험 스트립 지지체상에 시험 스트립을 위치시키는 단계,
- 측정 위치를 향한 방향으로 그래버에 의해 시험 스트립을 운반시키는 단계,
- 측정 위치에 시험 스트립을 고정시키는 단계,
- 시험 스트립의 사진 평가 단계, 및
- 처리 부분내로 시험 스트립을 운반하는 단계.
상기 방법은 그래버가 가이드 아암에 부착되며, 이것의 운동이 수직 종단면부를 통해 조절되고, 반면에 상기 가이드 아암은 모터에 의해 구동됨을 특징으로 한다.
상기 기술된 시험 스트립을 평가하기 위한 장치는 상기 방법을 수행하기 위해 사용된다.
시험 스트립을 평가하기 전에, 시험 스트립은 일반적으로 샘플 액체와 접촉하게 된다. 이것은 수동으로 또는 로보트 아암의 사용으로 샘플 액체에 시험 스트립을 침지시킴으로써 수행된다. 예를 들어 피펫에 의해 시험 스트립의 시험 영역에 샘플 액체를 도포하는 것이 또한 가능하다. 샘플 액체가 시험영역에 도포되면, 고량의 샘플 액체가 시험 스트립을 세척하게 된다. 이렇게 제조된 시험 스트립은 수동으로 또는 또다른 장치에 의해, 시험 스트립 평가 장치내에 삽입된다. 본 발명에 따라, 시험 스트립은 시험 스트립 지지체상에 위치한다, 많은 시험 스트립에서, 시간에 의존하여 시험 스트립의 샘플-유도변형이 일어난다. 많은 경우에, 시험 스트립은 시험 스트립 지지체상에서 평가에 앞서 인큐베이트된다. 인큐베이션을 위해 그래버에 의해 시험 스트립을 시험 스트립 지지체상의 또다른 자리로 운반하는 것이 또한 가능하다. 수 개의 시험 스트립을 평행하게 처리하여, 평가 기구의 출력을 증가시키는 것이 가능하다.
측정을 위해, 그래버는 시험 스트립을 시험 스트립 지지체를 가로질러 측정 위치로 이동시킨다. 시험 스트립은 바람직하게는 세로측에 교차적으로 운반된다. 시험 스트립이 수직 종단면부에 의해 어떻게 운반되는 지를 실험하게 위해, 제1도 및 2도 및 상응하는 설명이 언급된다. 측정 위치에서, 시험 스트립은 그래버에 의해 그 위치에서 고정된다. 즉, 이것의 측면 및 수직 위치가 실제로 그래버의 가이드 부재에 의해 고정된다. 바람직하게는, 측정 헤드가 그래버의 상부 측면 위로 이동한다는 점에서 시험 스트립의 평가가 수행된다. 측정 헤드는 그래버, 시험 스트립 및 시험 스트립 지지체의 배열상에 압력을 부과하여, 실재로 시험 스트립의 수직 위치를 규정한다. 측정 헤드가 시험 스트립의 모든 개별적 시험 영역을 가로 질러 움직인 후에, 이것은 그래버로부터 멀리 이동한다. 후퇴한 그래버는 시험 스트립을 처리 부분으로 운반한다. 본 발명에 따르면, 제1측정이 완결된 후에 시험 스트립이 제2측정 위치로 운반되어, 여기에서 제2측정이 수행되는 것이 가능해진다. 검출 반응의 시간 의존성이 시험 스트립의 중복 또는 다중 측정을 가짐에 의해 측정된다.
평가를 위해 적합한 측정 헤드는 스트립의 시험 영역을 방사선에 노출시키기 위한 방사선 원 및 시험 영역에 의해 반사된 방사선을 검출하기 위한 검출기를 포함한다. 가능한 방사선 원은 예를 들어 발광 다이오드이다. 실시상 사용되는 검출기는 포토다이오드 또는 광전지 요소이다. 측정 헤드의 설계는 통상적으로 종래로부터 공지되어 있다.
평가를 위해 사용되는 방사선은 일반적으로 가시광 범위에 있다. 그러나, 적외선 또는 자외선의 사용이 또한 가능하다.
평가 기구 및 특히 수직 종단면부를 통한 그래버의 조절은 도면을 참조하여 설명될 것이다.
제1도는 시험 스트립 평가 기구(1)의 가이드 아암(8)을 도시한 것이다. 가이드 아암(8)은 가이드 레일(24)상에서 움직이는 슬라이드(23)로 이루어진다. 구멍 뚫린 판(18)에서 슬롯(19)에 맞물린 모터가 하나의 공간 방향으로 가이드 레일(24)상에서 전체 가이드 아암(8)을 이동시킨다. 가이드 아암의 구멍 뚫린판(18) 및 기부(10)는 슬라이드(23)에 견고하게 연결된다. 이중 판 스프링(12)가 가이드 아암의 헤드에 가이드 아암의 기부를 신축성 있게 연결시켜서, 가이드 아암의 헤드(11)을 판 스프링에 의해 설정된 범위내에서 가이드아암(8)의 이동 방향으로 수직으로 이동시킨다. 수직 종단면부에 맞물린 가이드 핀(9)이 가이드 아암의 헤드(11)에서 제공된다. 그래버(4)가 조임 연결을 통해 헤드(11)에 연결된다. 그래버는 측정 오프닝을 가지며, 이를 통해 그래버(4) 아래에 위치한 스트립의 시험 영역이 접근된다.
제2도는 3개의 평행한 표면(13, 14, 15)를 갖는 단면(22)를 갖는 수직종단면부(7)을 도시한 것이다.
제2도와 관련하여, 평가 사이클이 설명된다.
기구가 조작을 위해 준비되는 경우, 가이드 핀(9)는 일반적으로 초기위치(26)에 있다. 이것은 시험 스트립 지지체와 접촉이 이루어지지 않는 그래버(4)의 위치에 상응한다. 가이드 아암은 측정 위치를 향해 이동하는 반면, 가이드 핀은 단면(22)를 향해 이동하면서, 경사진 위치(27)에 의해 재방향으로 잡아서 영역(14)에 도달한다. 가이드 핀이 영역(14) 위로 이동하는 경우, 시험 스트립 지지체 및 그래버는일정 거리에 있어서, 그래버의 가이드 부재가 시험 스트립을 운반하게 된다. 가이드 핀이 화살표의 방향으로 계속 이동한다면, 이것은 곡면부를 따라 이동하여 영역(15)에 도달한다. 상기 표면로 이동하는 경우, 그래버 및 시험 스트립 지지체는 접촉하게 된다. 즉, 그래버와 시험 스트립 지지체 사이에 위치한 시험 스트립이 시험 스트립 지지체 상에 압착되게 된다, 상응하게, 영역(15)의 일부가 측정 위치와 연통된다. 측정이 완결되면, 가이드 아암 및 그에 따른 가이드 핀이 화살표의 방향으로 계속 이동하여, 역방향 위치(28)에 도달한다. 이중 판 스프링(12)의 작용 때문에, 가이드 아암 및 그에 따른 가이드 핀이 상향으로, 즉 역방향 레일(29)를 향해 이동한다. 상기 역방향 위치(28)은 가이드 레일상에서 가이드 아암의 운동 방향의 반전과 일치한다. 가이드 핀은 제2의 경사진 위치(30)을 통해 표면(13)을 향해 이동한다. 표면(13)은 그래버와 시험 스트립 지지체 사이의 비교적 큰 거리에 상응하며, 여기에서, 시험 스트립 지지체상에 위치한 시험 스트립은 그래버의 가이드 부재와 접촉하지 않게 된다. 표면(13)에서, 그래버는 이것의 초기 위치로 되돌아 와서 또다른 시험 스트립을 처리한다. 가이드 핀이 제2의 역방향 위치(31)에 도달하면, 이중 판 스프링의 스프링 작용의 결과로서, 가이드 아암의 헤드가 이것을 정지 위치(26)으로 이동시킨다. 이동의 또다른 사이클은 이 위치에서 시작된다. 상기 기술된 구현의 하나의 장점은 수직 단면부(7)에서 가이드핀(9)의 경로가 페쇄되어 연속 평가 사이클의 주기적 이동을 허용한다는 점이다. 수직 단면부를 통한 그래버의 비교적 간단한 안내는 또한 환원 위치에서 가이드 핀의 이동 방향이 이중 판 스프링(12)의 스프링 팽창 때문에 명백하게 설정된다는 점의 결과이다. 표면(13, 14, 15)에서, 스프링은 이것이 단면부(12)에 대해 가이드 핀(9)을 압착시킬 정도로 작용한다. 경사진 영역(27, 30) 및 또한 표면(14, 15) 사이의 곡면 단면은 스프링 팽창을 발생시키는 역할을 한다. 정지 위치(26)은 또한 대략적으로 스프링의 정지 위치이다.
제3도는 시험 스트립 평가 기구(1)의 상면도이다. 이 도면에서, 그래버(4)는 정지 위치(26)에 있다. 시험 영역(17)을 갖는 시험 스트립(3)은 시험 스트립 지지체상에 위치한다. 도면으로부터, 시험 스트립 지지체(5)가 평평한 표면, 뿐만 아니라 크로스 바아 및 홈을 가짐을 특징으로 한다. 시험 스트립이 시험 스트립 지지체를 가로 질러 운반되는 경우, 그래버는 그래버의 가이드 부재가 시험 스트립 지지체상에 홈과 맞물릴 정도로, 시험 스트립 위로 하강한다.
시험 스트립의 간단하고 손상 없는 운반을 갖는 것이 가능하다.
제3도에서 파선은 측정 위치에서 그래버(4) 및 운반 장치(2)의 위치를 표시한다. 처리부분(6)은 또한 측정 위치 뒤에 표시된다.
제4도는 시험 스트립 평가기구(1)의 측면도이다. 도면은 특히 가이드 아암이 구멍뚫린 판(18)을 통해 어떻게 이동하는 지를 보여 준다. 구동 모터(20)은 2개의 편심 핀(21)이 부착된 회전 디스크(19)를 갖는다. 상기 편심 핀(21)은 구멍 뚫린 판(18)에서 슬롯(19)에 맞물린다. 도시된 위치에서, 모터의 비교적 큰 회전은 구멍 뚫린 판(19) 및 그에 따른 가이드 아암의 비교적 작은 운동에 상응한다. 모터는 90°까지 회전된 위치내로 계속 이동하는 반면, 구멍뚫린 판의 변위와 모터의 회전각 사이의 비는 증가한다.
회전각 대 선형 운동의 기술된 전동비로 인해 큰 정확도로 조절될 수 있는 선택된 위치는 모터 및 구멍 뚫린 판의 상대적 위치 및/또는 편심 핀(21)의 간격의 적합한 배열을 선택함으로써 선택된다. 하나의 선택된 위치는 특히 측정 위치이다. 제5도는 그래버(4)의 저면도이다. 도면은 측정 오프닝(16) 및 특히 가이드 부재(32)를 도시한 것이다. 그래버(4)가 시험 스트립 지지체상을 따라 시험 부재를 운반한다면, 시험 부재는 가이드 부재(32)의 전면에서 교차적으로 위치하여, 시험 부재의 시험 영역이 측정 오프닝(16)의 반대에서 정지하게 된다. 시험 스트립이 초기에 시험 스트립 지지체상에 곧게 위치하지 않는 경우에, 이것은 그래버를 따라 취할 때, 가이드 부재(32) 쪽으로 향하게 된다. 시험 스트립은 측정 오프닝(16)에 대한 규정된 배향을 보장한다.

Claims (11)

  1. 수직 단면부(7), 가이드 아암(8) 및 구동 모터(20)으로 이루어진 장치를 통해 조절될 수 있는, 시험 스트립(3)을 측정 위치까지 그리고 더 나아가 처리 부분까지 시험 스트립 위로 세로 연장부까지 수직으로 운반하는 그래버(4)를 갖는 운반 장치(2)를 갖는 시험 스트립 평가 기구(1)로서, 구동 모터(20)은 가이드 아암(8)의 기부(10)을 한 방향으로 이동시키고, 수직 단면부(7)에 맞물린 가이드 핀(9)는 가이드 아암(8)의 헤드(11)의 이동의 방향을 다시 잡아서, 가이드 아암(8)의 헤드(11)에 부착된 그래버(4)가 2개 이상의 공간 방향으로 이루어진 이동을 수행함을 특징으로 하는 시험 스트립 평가 기구(1).
  2. 제2항에 있어서, 판 스프링(12)가 가이드 아암의 헤드(11)을 가이드 아암의 기부(10)에 연결시킴을 특징으로 하는 시험 스트립 평가 기구(1).
  3. 제1항에 있어서, 수직 단면부(7)이 3개의 표면(13, 14, 15)를 가지며, 제1표면 (13)은 그래버(4)가 시험 스트립 지지체상에 위치한 시험 스트립과 접촉하지 않도록 그래버(4)와 시험 스트립 지지체(5) 사이의 거리를 규정하고, 제2표면(14)는 그래버(4)가 가이드 부재(32)에 의해 시험 스트립 지지체 위로 시험 스트립을 운반하는 거리를 규정하며, 제3표면(15)는 그래버가 시험 스트립 지지체상의 측정 위치에서 시험 부재를 유지시키는 거리를 규정함을 특징으로 하는 시험 스트립 평가 기구(1).
  4. 제1항 또는 3항중 어느 한 항에 있어서, 수직 단면부(7)에 의해 규정된 그래버(4)의 이동 경로가 폐쇄됨을 특징으로 하는 시험 스트립 평가 기구(10).
  5. 제 3항에 있어서, 가이드 아암의 헤드(11)이 상기 제1표면(13)에서 가이드 핀(9)를 경유하여 시험 스트립 지지체(5)를 향한 방향으로 수직 단면부(22)상에 힘을 부과하고, 상기 제3표면(15)에서 시험 스트립 지지체로부터 멀리 향하는 수직 단면부상에 힘을 부과함을 특징으로 하는 시험 스트립 평가기구(1).
  6. 제1항에 있어서, 그래버(4)가 시험 스트립을 시험 스트립 지지체(5)상에 운반하기 위한 가이드 부재(32), 및 시험 스트립(3)의 시험 영역(17)을 평가하기 위한 측정 오프닝(16)을 가짐을 특징으로 하는 시험 스트립 평가 기구(1).
  7. 제1항에 있어서, 구멍 뚫린 판(18)이 가이드 아암의 기부(10)에 부착되고, 이것의 슬롯(19)에 구동 모터(20)의 편심 핀(21)이 맞물림을 특징으로 하는 시험 스트립 평가 기구(1).
  8. 시험 스트립 지지체상에 시험 스트립을 위치시키는 단계, 측정 위치를 향한 방향으로 그래버(4)에 의해 시험 스트립을 운반시키는 단계, 측정 위치에 시험 스트립을 고정시키는 단계, 시험 스트립의 사진 평가 단계, 및 처리 부분내로 시험 스트립을 운반하는 단계로 이루어지는, 시험 스트립 평가 기구에서 시험 스트립을 평가하기 위한 방법으로서, 그래버(4)가 가이드 아암(8)에 부착되며, 이것의 운동이 수직 종단면부(7)를 통해 조절되고, 반면에 상기 가이드 아암은 모터(20)에 의해 구동됨을 특징으로 하는 방법.
  9. 제8항에 있어서, 모터(20)이 가이드아암의 기부(10)을 한 방향으로 이동시키고, 수직 단면부(7)이 2개 이상의 방향으로 가이드 아암의 헤드(11)의 이동의 재방향을 유발시킴을 특징으로 하는 방법.
  10. 제8항에 있어서, 시험 스트립 지지체상에 시험 스트립을 위치시킨후에, 시험 스트립을 측정 위치내로 계속 운반하기 전에 인큐베이션이 수행됨을 특징으로 하는 방법.
  11. 제8항에 있어서, 시험 스트립의 사진 평가를 위해, 측정 헤드가 그레버(4) 위로 이동하여, 그래버(4)의 측정 오프닝(16)을 통해 시험 스트립(3)의 시험영역(17)을 방사선에 노출시키고, 시험 영역에 의해 반사되는 방사선을 검출시킴을 특징으로 하는 방법.
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