JP2617668B2 - 直流抵抗溶接機の溶接電流制御方法 - Google Patents
直流抵抗溶接機の溶接電流制御方法Info
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- JP2617668B2 JP2617668B2 JP4344727A JP34472792A JP2617668B2 JP 2617668 B2 JP2617668 B2 JP 2617668B2 JP 4344727 A JP4344727 A JP 4344727A JP 34472792 A JP34472792 A JP 34472792A JP 2617668 B2 JP2617668 B2 JP 2617668B2
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- B23K11/00—Resistance welding; Severing by resistance heating
- B23K11/24—Electric supply or control circuits therefor
- B23K11/25—Monitoring devices
- B23K11/252—Monitoring devices using digital means
- B23K11/257—Monitoring devices using digital means the measured parameter being an electrical current
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- Mechanical Engineering (AREA)
- Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、直流抵抗溶接機の溶接
電流制御方法に関し、一層詳細には、複数の溶接ポイン
トを連続して溶接する場合に、散りの発生状況または連
続溶接回数により、溶接電流波形を制御する直流抵抗溶
接機の溶接電流制御方法に関する。
電流制御方法に関し、一層詳細には、複数の溶接ポイン
トを連続して溶接する場合に、散りの発生状況または連
続溶接回数により、溶接電流波形を制御する直流抵抗溶
接機の溶接電流制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】産業界においては、種々のワークを溶接
するために、直流抵抗溶接装置が広範に用いられてい
る。この種の直流抵抗溶接装置を用いた溶接現場では、
溶接電流値、加圧力、および通電時間を制御することに
よって溶接品質の管理が行われている。これらの制御対
象の中、溶接電流値は散り発生限界電流値以内であり、
且つ、散り発生限界電流値付近が最適であって、この最
適な溶接電流値で溶接が行われると、散りが発生するこ
となく、且つ充分な溶接強度（剪断引っ張り強さ）を得
られることが知られている。
するために、直流抵抗溶接装置が広範に用いられてい
る。この種の直流抵抗溶接装置を用いた溶接現場では、
溶接電流値、加圧力、および通電時間を制御することに
よって溶接品質の管理が行われている。これらの制御対
象の中、溶接電流値は散り発生限界電流値以内であり、
且つ、散り発生限界電流値付近が最適であって、この最
適な溶接電流値で溶接が行われると、散りが発生するこ
となく、且つ充分な溶接強度（剪断引っ張り強さ）を得
られることが知られている。
【０００３】そこで、オペレータは溶接電流を徐々に上
昇若しくは減少させることにより散り発生限界電流値を
検出し、この値に基づいて最適な溶接電流値を求め、こ
の電流値によって溶接を行っている。
昇若しくは減少させることにより散り発生限界電流値を
検出し、この値に基づいて最適な溶接電流値を求め、こ
の電流値によって溶接を行っている。
【０００４】一方、前記溶接電流の通電波形を制御する
技術的思想が特公昭５８−４３１９２号の「スポット溶
接法」に開示されている。この「スポット溶接法」で
は、溶接電流の通電時間の初期において散り発生限界電
流値以上の溶接電流を通電し、ナゲット生成後は散り発
生限界電流値以下とすることにより、安定した溶接強度
を得ようとするものである。
技術的思想が特公昭５８−４３１９２号の「スポット溶
接法」に開示されている。この「スポット溶接法」で
は、溶接電流の通電時間の初期において散り発生限界電
流値以上の溶接電流を通電し、ナゲット生成後は散り発
生限界電流値以下とすることにより、安定した溶接強度
を得ようとするものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術における方法で設定された最適な溶接電流値に
よって、複数の溶接ポイントを連続的に溶接すると、電
極チップの劣化に伴って散り発生限界電流値が徐々に上
昇するため、初期設定された最適な溶接電流値では溶接
電流が不足し、溶接強度が低下するという問題がある。
従来技術における方法で設定された最適な溶接電流値に
よって、複数の溶接ポイントを連続的に溶接すると、電
極チップの劣化に伴って散り発生限界電流値が徐々に上
昇するため、初期設定された最適な溶接電流値では溶接
電流が不足し、溶接強度が低下するという問題がある。
【０００６】一方、上記の「スポット溶接法」では、安
定した溶接強度が得られるものの、連続打点性について
は問題がある。
定した溶接強度が得られるものの、連続打点性について
は問題がある。
【０００７】本発明はこのような従来の問題を解決する
ためになされたものであって、直流抵抗溶接機において
複数の溶接ポイントを連続的に溶接するとき、高い溶接
強度を安定して得ることのできる直流抵抗溶接機の溶接
電流制御方法を提供することを目的とする。
ためになされたものであって、直流抵抗溶接機において
複数の溶接ポイントを連続的に溶接するとき、高い溶接
強度を安定して得ることのできる直流抵抗溶接機の溶接
電流制御方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明は、第１の溶接電流値と、当該第１溶
接電流値より大なる第２の溶接電流値との少なくとも２
段階の溶接電流波形をワークに通電する直流抵抗溶接機
の溶接電流制御方法において、前記溶接電流波形の溶接
電流によって複数の溶接ポイントを連続的に溶接し、当
該溶接において散りが発生したとき、前記第２溶接電流
値の通電開始時刻を溶接電流の通電時間内において早
め、散りが発生しないとき、前記第２溶接電流値の通電
開始時刻を、溶接電流の通電時間内において遅らせるこ
とを特徴とする。
めに、第１の発明は、第１の溶接電流値と、当該第１溶
接電流値より大なる第２の溶接電流値との少なくとも２
段階の溶接電流波形をワークに通電する直流抵抗溶接機
の溶接電流制御方法において、前記溶接電流波形の溶接
電流によって複数の溶接ポイントを連続的に溶接し、当
該溶接において散りが発生したとき、前記第２溶接電流
値の通電開始時刻を溶接電流の通電時間内において早
め、散りが発生しないとき、前記第２溶接電流値の通電
開始時刻を、溶接電流の通電時間内において遅らせるこ
とを特徴とする。
【０００９】さらに、第２の発明は、第１の溶接電流値
と、当該第１溶接電流値より大なる第２の溶接電流値と
の少なくとも２段階の溶接電流波形をワークに通電する
直流抵抗溶接機の溶接電流制御方法において、複数の溶
接ポイントを連続して溶接するとき、任意の溶接打点数
毎に前記第２溶接電流値の通電開始時刻を、溶接電流の
通電開始時刻から順次シフトさせることを特徴とする。
と、当該第１溶接電流値より大なる第２の溶接電流値と
の少なくとも２段階の溶接電流波形をワークに通電する
直流抵抗溶接機の溶接電流制御方法において、複数の溶
接ポイントを連続して溶接するとき、任意の溶接打点数
毎に前記第２溶接電流値の通電開始時刻を、溶接電流の
通電開始時刻から順次シフトさせることを特徴とする。
【００１０】
【作用】本発明に係る直流抵抗溶接機の溶接電流制御方
法では、第１の溶接電流値と、当該第１溶接電流値より
大なる第２の溶接電流値との少なくとも２段階の溶接電
流波形をワークに通電して、複数の溶接ポイントを連続
的に溶接し、当該溶接において散りが発生したとき、前
記第２溶接電流値の通電開始時刻を溶接電流の通電時間
内において早め、散りが発生しないとき、前記第２溶接
電流値の通電開始時刻を通電時間内において遅らせる。
法では、第１の溶接電流値と、当該第１溶接電流値より
大なる第２の溶接電流値との少なくとも２段階の溶接電
流波形をワークに通電して、複数の溶接ポイントを連続
的に溶接し、当該溶接において散りが発生したとき、前
記第２溶接電流値の通電開始時刻を溶接電流の通電時間
内において早め、散りが発生しないとき、前記第２溶接
電流値の通電開始時刻を通電時間内において遅らせる。
【００１１】さらに、別の発明では、第１の溶接電流値
と、当該第１溶接電流値より大なる第２の溶接電流値と
の少なくとも２段階の溶接電流波形によって複数の溶接
ポイントを連続して溶接するとき、任意の溶接打点数毎
に前記第２溶接電流値の通電開始時刻を、溶接電流の通
電開始時刻から順次シフトさせる。
と、当該第１溶接電流値より大なる第２の溶接電流値と
の少なくとも２段階の溶接電流波形によって複数の溶接
ポイントを連続して溶接するとき、任意の溶接打点数毎
に前記第２溶接電流値の通電開始時刻を、溶接電流の通
電開始時刻から順次シフトさせる。
【００１２】従って、複数の溶接ポイントを連続して溶
接するとき、平均電流を変化させることなく、第２の溶
接電流値の通電開始時刻を変化させることで、良質のナ
ゲットを形成するために最適な溶接電流を供給すること
ができる。
接するとき、平均電流を変化させることなく、第２の溶
接電流値の通電開始時刻を変化させることで、良質のナ
ゲットを形成するために最適な溶接電流を供給すること
ができる。
【００１３】
【実施例】次に、本発明に係る直流抵抗溶接機の溶接電
流制御方法について、それを実施する装置との関係にお
いて、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら
以下詳細に説明する。
流制御方法について、それを実施する装置との関係にお
いて、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら
以下詳細に説明する。
【００１４】図１は本発明を実施するインバータ式直流
抵抗溶接装置２０の全体構成を示すブロック図である。
抵抗溶接装置２０の全体構成を示すブロック図である。
【００１５】インバータ式直流抵抗溶接装置２０は交流
電源２１から出力される交流を全波整流するコンバータ
回路２２と、全波整流された直流を高周波交流に変換す
るインバータ回路２４と、前記高周波交流を変成し整流
する溶接トランス回路２６と、ワークＷを挟持する溶接
ガン部２８と、ワークＷに通電される溶接電流を制御す
る溶接コントローラ３０とを備える。
電源２１から出力される交流を全波整流するコンバータ
回路２２と、全波整流された直流を高周波交流に変換す
るインバータ回路２４と、前記高周波交流を変成し整流
する溶接トランス回路２６と、ワークＷを挟持する溶接
ガン部２８と、ワークＷに通電される溶接電流を制御す
る溶接コントローラ３０とを備える。
【００１６】さらに、インバータ式直流抵抗溶接装置２
０は、溶接トランス回路２６の１次側の溶接電流（以
下、１次電流という）Ｉ1 を検出するトロイダルコイル
からなる１次側電流検出器３２と、溶接トランス回路２
６の２次側の溶接電流（以下、２次電流という）Ｉ2 を
検出する２次側電流検出器３４と、溶接コントローラ３
０に溶接条件等を入力するためのキーボード３６と、表
示手段としてのディスプレイ装置であるＣＲＴ３８と、
外部記憶手段であるフロッピディスクにデータを書き込
みまたは読み出すフロッピディスクドライバ（以下、Ｆ
ＤＤという）３９とを備える。
０は、溶接トランス回路２６の１次側の溶接電流（以
下、１次電流という）Ｉ1 を検出するトロイダルコイル
からなる１次側電流検出器３２と、溶接トランス回路２
６の２次側の溶接電流（以下、２次電流という）Ｉ2 を
検出する２次側電流検出器３４と、溶接コントローラ３
０に溶接条件等を入力するためのキーボード３６と、表
示手段としてのディスプレイ装置であるＣＲＴ３８と、
外部記憶手段であるフロッピディスクにデータを書き込
みまたは読み出すフロッピディスクドライバ（以下、Ｆ
ＤＤという）３９とを備える。
【００１７】前記溶接ガン部２８はワークＷを挟持する
可動ガンアーム４０、４１と、この可動ガンアーム４
０、４１に固着される電極チップ４２、４３と、前記可
動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ
４４とからなり、該シリンダ４４には電磁切替弁４６を
介して空圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４６の
切替動作は前記溶接コントローラ３０によって制御され
る。
可動ガンアーム４０、４１と、この可動ガンアーム４
０、４１に固着される電極チップ４２、４３と、前記可
動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ
４４とからなり、該シリンダ４４には電磁切替弁４６を
介して空圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４６の
切替動作は前記溶接コントローラ３０によって制御され
る。
【００１８】図２は溶接コントローラ３０の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【００１９】溶接コントローラ３０は前記１次側電流検
出器３２から出力される１次電流Ｉ 1 をデジタル値に変
換するアナログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換
回路５０と、２次側電流検出器３４から出力される２次
電流Ｉ2 をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路５２
と、前記Ａ／Ｄ変換回路５０から出力される１次電流Ｉ
1 、または前記Ａ／Ｄ変換回路５２から出力される２次
電流Ｉ2 のいずれか一方を選択する検出電流選択回路５
４と、溶接に関する初期値が記憶される設定値記憶回路
５６とを備える。
出器３２から出力される１次電流Ｉ 1 をデジタル値に変
換するアナログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換
回路５０と、２次側電流検出器３４から出力される２次
電流Ｉ2 をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路５２
と、前記Ａ／Ｄ変換回路５０から出力される１次電流Ｉ
1 、または前記Ａ／Ｄ変換回路５２から出力される２次
電流Ｉ2 のいずれか一方を選択する検出電流選択回路５
４と、溶接に関する初期値が記憶される設定値記憶回路
５６とを備える。
【００２０】さらに、溶接コントローラ３０は前記検出
電流選択回路５４、および後述するインタフェース回路
（以下、Ｉ／Ｆという）７０等を制御するとともに、前
記設定値記憶回路５６から溶接に関する初期値を読み出
す中央演算装置（以下、ＣＰＵという）５８と、このＣ
ＰＵ５８から出力される溶接電流の指令値Ｉcmd をアナ
ログ値に変換するデジタル／アナログ（以下、Ｄ／Ａと
いう）変換回路６０と、前記Ｄ／Ａ変換回路６０から出
力される信号に基づいたデューティのパルスを生成する
パルス幅変調（以下、ＰＷＭという）回路６２とを備
え、このＰＷＭ回路６２は前記インバータ回路２４を付
勢する。
電流選択回路５４、および後述するインタフェース回路
（以下、Ｉ／Ｆという）７０等を制御するとともに、前
記設定値記憶回路５６から溶接に関する初期値を読み出
す中央演算装置（以下、ＣＰＵという）５８と、このＣ
ＰＵ５８から出力される溶接電流の指令値Ｉcmd をアナ
ログ値に変換するデジタル／アナログ（以下、Ｄ／Ａと
いう）変換回路６０と、前記Ｄ／Ａ変換回路６０から出
力される信号に基づいたデューティのパルスを生成する
パルス幅変調（以下、ＰＷＭという）回路６２とを備
え、このＰＷＭ回路６２は前記インバータ回路２４を付
勢する。
【００２１】さらにまた、溶接コントローラ３０は前記
ＣＰＵ５８が前記夫々の回路を制御するための制御プロ
グラムを記憶する読み出し専用メモリ（以下、ＲＯＭと
いう）６４と、前記ＣＰＵ５８が制御中に演算結果を一
次的に記憶する読み出し／書き込みメモリ（以下、ＲＡ
Ｍという）６６と、複数の溶接電流波形を記憶する溶接
電流波形記憶回路６８と、前記キーボード３６、ＣＲＴ
３８、ＦＤＤ３９および電磁切替弁４６のＩ／Ｆ７０と
を備える。
ＣＰＵ５８が前記夫々の回路を制御するための制御プロ
グラムを記憶する読み出し専用メモリ（以下、ＲＯＭと
いう）６４と、前記ＣＰＵ５８が制御中に演算結果を一
次的に記憶する読み出し／書き込みメモリ（以下、ＲＡ
Ｍという）６６と、複数の溶接電流波形を記憶する溶接
電流波形記憶回路６８と、前記キーボード３６、ＣＲＴ
３８、ＦＤＤ３９および電磁切替弁４６のＩ／Ｆ７０と
を備える。
【００２２】インバータ式直流抵抗溶接装置２０は以上
のように構成されるが、ここで、本願発明者は、鋭意研
究の結果、高電流ＩH と低電流ＩL とからなる２段階の
溶接電流波形によって溶接がなされる場合に、高電流Ｉ
H の通過時間ｔ1 が同一であっても、溶接電流通電時間
Ｔ内における高電流ＩH の通電開始時刻によって散り発
生の抑止および良質なナゲットの形成に大きな効果があ
ることを突き止めた。
のように構成されるが、ここで、本願発明者は、鋭意研
究の結果、高電流ＩH と低電流ＩL とからなる２段階の
溶接電流波形によって溶接がなされる場合に、高電流Ｉ
H の通過時間ｔ1 が同一であっても、溶接電流通電時間
Ｔ内における高電流ＩH の通電開始時刻によって散り発
生の抑止および良質なナゲットの形成に大きな効果があ
ることを突き止めた。
【００２３】さらに、前記効果を応用することによっ
て、複数の溶接ポイントを連続的に溶接する初期におい
ては、溶接電流通電時間Ｔの初期に高電流ＩH を通電
し、連続溶接回数Ｎが増加するに従って高電流ＩH の通
電開始時刻をシフトさせることにより、安定した溶接強
度が得られることを実験によって確認した。
て、複数の溶接ポイントを連続的に溶接する初期におい
ては、溶接電流通電時間Ｔの初期に高電流ＩH を通電
し、連続溶接回数Ｎが増加するに従って高電流ＩH の通
電開始時刻をシフトさせることにより、安定した溶接強
度が得られることを実験によって確認した。
【００２４】この実験に用いられた溶接電流波形を図３
に示し、夫々の溶接電流波形によって得られた引っ張り
せん断強さのデータを図４〜図６に示す。
に示し、夫々の溶接電流波形によって得られた引っ張り
せん断強さのデータを図４〜図６に示す。
【００２５】図４はタイプ１の溶接電流波形で溶接した
場合、図５はタイプ２の溶接電流波形で溶接した場合、
図６はタイプ３の溶接電流波形で夫々複数の溶接ポイン
トを溶接した場合の溶接強度の推移を示す。
場合、図５はタイプ２の溶接電流波形で溶接した場合、
図６はタイプ３の溶接電流波形で夫々複数の溶接ポイン
トを溶接した場合の溶接強度の推移を示す。
【００２６】前記図４から容易に諒解されるように、タ
イプ１の溶接電流波形で複数の溶接ポイントを連続的に
溶接した場合は、初回からｎ1 回、例えば、８００回に
おいて、散りが発生することなく、且つ充分な溶接強度
が安定して得られるが、８００回以降では溶接強度が不
安定となり、さらに打点数が増加すると溶接強度が著し
く低下する。
イプ１の溶接電流波形で複数の溶接ポイントを連続的に
溶接した場合は、初回からｎ1 回、例えば、８００回に
おいて、散りが発生することなく、且つ充分な溶接強度
が安定して得られるが、８００回以降では溶接強度が不
安定となり、さらに打点数が増加すると溶接強度が著し
く低下する。
【００２７】さらに、タイプ２の溶接電流波形による溶
接では、図５に示されるように打点数が８０１回からｎ
2 回、例えば、１２００回において充分な溶接強度が安
定して得られ、連続溶接回数Ｎが初回から８００回の範
囲では散りが多発し、一方、１２００回以降では溶接強
度が不安定となる。
接では、図５に示されるように打点数が８０１回からｎ
2 回、例えば、１２００回において充分な溶接強度が安
定して得られ、連続溶接回数Ｎが初回から８００回の範
囲では散りが多発し、一方、１２００回以降では溶接強
度が不安定となる。
【００２８】さらにまた、図６に示すようにタイプ３で
は、初回から１２００回の打点数ではほとんど散りが発
生し、１２００回以降の打点数において安定した充分な
溶接強度が得られる。
は、初回から１２００回の打点数ではほとんど散りが発
生し、１２００回以降の打点数において安定した充分な
溶接強度が得られる。
【００２９】このような実験結果に基づいて、散りの発
生状況に応じて高電流ＩH の通電開始時刻を制御する実
施例について図７および図８のフローチャートを参照し
て説明する。
生状況に応じて高電流ＩH の通電開始時刻を制御する実
施例について図７および図８のフローチャートを参照し
て説明する。
【００３０】先ず、溶接を行うための夫々の初期値がオ
ペレータによって設定される（ステップＳ１）。
ペレータによって設定される（ステップＳ１）。
【００３１】すなわち、ワークＷに発生する散りを、例
えば、２次電流Ｉ2 によって検出することを示すデータ
がキーボード３６から入力されると、Ｉ／Ｆ７０を介し
て読み取ったＣＰＵ５８は、２次電流Ｉ2 を選択する選
択信号を検出電流選択回路５４に対して出力する。
えば、２次電流Ｉ2 によって検出することを示すデータ
がキーボード３６から入力されると、Ｉ／Ｆ７０を介し
て読み取ったＣＰＵ５８は、２次電流Ｉ2 を選択する選
択信号を検出電流選択回路５４に対して出力する。
【００３２】さらに、複数の溶接ポイントを連続して溶
接する場合に散りが連続して発生した連続溶接回数Ｎを
判定するための設定値Ｎ1 、Ｎ3 、Ｎ5 、および複数の
ポイントを連続して溶接する場合に散りが連続して発生
しなかった回数を判定するための設定値Ｎ2 、Ｎ4 、Ｎ
6 が入力されると、これらの設定値が設定値記憶回路５
６に記憶される。
接する場合に散りが連続して発生した連続溶接回数Ｎを
判定するための設定値Ｎ1 、Ｎ3 、Ｎ5 、および複数の
ポイントを連続して溶接する場合に散りが連続して発生
しなかった回数を判定するための設定値Ｎ2 、Ｎ4 、Ｎ
6 が入力されると、これらの設定値が設定値記憶回路５
６に記憶される。
【００３３】また、溶接電流通電時間Ｔ、２段階の溶接
電流波形の平均電流ＩA 、高電流Ｉ H の通電時間ｔ1 、
および低電流ＩL が設定されると、ＣＰＵ５８は下式に
基づいて高電流ＩH を求め、２段階の溶接電流波形を生
成する。
電流波形の平均電流ＩA 、高電流Ｉ H の通電時間ｔ1 、
および低電流ＩL が設定されると、ＣＰＵ５８は下式に
基づいて高電流ＩH を求め、２段階の溶接電流波形を生
成する。
【００３４】このとき、設定される平均電流ＩA は方形
状の溶接電流波形をワークＷに通電して求めた散り発生
限界電流値ＩS1に予め設定された値Ｉd1、例えば、５０
０〜１０００Ａを加算した値であり、高電流ＩH の通電
時間ｔ1 は、例えば、溶接電流通電時間Ｔの１／５であ
り、低電流ＩL は散り発生限界電流値ＩS1から予め設定
された値Ｉd2、例えば、２００Ａを減算して求めた電流
値であり、このように設定された夫々の値から２段階の
溶接電流波形における高電流ＩH を求めると、 ＩA ＝ＩS1＋Ｉd1 …（１） ＩA ×Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ …（２） （２）式に（１）式を代入すると、 （ＩS1＋Ｉd1）Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ ＩS1＋Ｉd1＝（１／５）×ＩH ＋（４／５）×ＩS1−１６０ ＩH ＝ＩS1＋５Ｉd1＋８００ となる。このようにして生成された２段階の溶接電流波
形を図９に示す。
状の溶接電流波形をワークＷに通電して求めた散り発生
限界電流値ＩS1に予め設定された値Ｉd1、例えば、５０
０〜１０００Ａを加算した値であり、高電流ＩH の通電
時間ｔ1 は、例えば、溶接電流通電時間Ｔの１／５であ
り、低電流ＩL は散り発生限界電流値ＩS1から予め設定
された値Ｉd2、例えば、２００Ａを減算して求めた電流
値であり、このように設定された夫々の値から２段階の
溶接電流波形における高電流ＩH を求めると、 ＩA ＝ＩS1＋Ｉd1 …（１） ＩA ×Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ …（２） （２）式に（１）式を代入すると、 （ＩS1＋Ｉd1）Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ ＩS1＋Ｉd1＝（１／５）×ＩH ＋（４／５）×ＩS1−１６０ ＩH ＝ＩS1＋５Ｉd1＋８００ となる。このようにして生成された２段階の溶接電流波
形を図９に示す。
【００３５】ＣＰＵ５８は前記２段階の溶接電流波形に
基づいて、高電流ＩH の通電開始時刻を溶接電流の通電
開始時刻から順次シフトさせたタイプ１〜タイプ３の溶
接電流波形を生成して（図３参照）、溶接電流波形記憶
回路６８に記憶する。
基づいて、高電流ＩH の通電開始時刻を溶接電流の通電
開始時刻から順次シフトさせたタイプ１〜タイプ３の溶
接電流波形を生成して（図３参照）、溶接電流波形記憶
回路６８に記憶する。
【００３６】次いで、溶接が開始されると、溶接電流波
形記憶回路６８から読み出されたタイプ１の溶接電流波
形に基づいて（図３（Ａ）参照）、溶接電流がワークＷ
に通電され（ステップＳ２）、ＣＰＵ５８は２次側電流
検出器３４を介して検出された２次電流Ｉ2 から、散り
が発生したか否かを判定する（ステップＳ３）。散りが
発生した場合は、連続溶接回数Ｎが予め設定された設定
値Ｎ1 に達したか否かを判定して（ステップＳ４）、設
定値Ｎ1 に達しない場合は、電極チップ４２、４３とワ
ークＷとの間に塵等が混入することにより、発生した散
りと判定して、再びタイプ１の溶接電流波形による溶接
を実行する。
形記憶回路６８から読み出されたタイプ１の溶接電流波
形に基づいて（図３（Ａ）参照）、溶接電流がワークＷ
に通電され（ステップＳ２）、ＣＰＵ５８は２次側電流
検出器３４を介して検出された２次電流Ｉ2 から、散り
が発生したか否かを判定する（ステップＳ３）。散りが
発生した場合は、連続溶接回数Ｎが予め設定された設定
値Ｎ1 に達したか否かを判定して（ステップＳ４）、設
定値Ｎ1 に達しない場合は、電極チップ４２、４３とワ
ークＷとの間に塵等が混入することにより、発生した散
りと判定して、再びタイプ１の溶接電流波形による溶接
を実行する。
【００３７】散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
1 に達した場合は、平均電流ＩA が高いと判定して、下
式に従って予め設定値記憶回路５６に記憶された値ΔＩ
A だけ平均電流ＩA を下げ（ステップＳ５）、この値が
予め設定値記憶回路５６に設定された最小平均電流Ｉ
AMIN以上か否かを判定する（ステップＳ６）。
1 に達した場合は、平均電流ＩA が高いと判定して、下
式に従って予め設定値記憶回路５６に記憶された値ΔＩ
A だけ平均電流ＩA を下げ（ステップＳ５）、この値が
予め設定値記憶回路５６に設定された最小平均電流Ｉ
AMIN以上か否かを判定する（ステップＳ６）。
【００３８】ＩA ←ＩA −ΔＩA …（３） ＩA −ΔＩA ＞ＩAMINであれば、新たな高電流ＩH1と低
電流ＩL1とからなる２段階の溶接電流波形が平均電流Ｉ
A −ΔＩA によって生成され、ステップＳ２において前
記平均電流ＩA −ΔＩA におけるタイプ１の波形で溶接
がなされ、ＩA−ΔＩA ＞ＩAMINでなければ異常と判定
してＣＲＴ３８に異常を表示する。
電流ＩL1とからなる２段階の溶接電流波形が平均電流Ｉ
A −ΔＩA によって生成され、ステップＳ２において前
記平均電流ＩA −ΔＩA におけるタイプ１の波形で溶接
がなされ、ＩA−ΔＩA ＞ＩAMINでなければ異常と判定
してＣＲＴ３８に異常を表示する。
【００３９】一方、前記ステップＳ３において、散りが
発生しないと判定された場合は、散りが発生しなかった
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ2 に達したか否かを判定し
（ステップＳ７）、設定値Ｎ2 に達していない場合は、
散発的に散りが発生する、すなわち、充分な溶接強度が
得られる平均電流ＩA によって溶接がなされていると判
定し、タイプ１の溶接電流波形による溶接を継続する。
発生しないと判定された場合は、散りが発生しなかった
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ2 に達したか否かを判定し
（ステップＳ７）、設定値Ｎ2 に達していない場合は、
散発的に散りが発生する、すなわち、充分な溶接強度が
得られる平均電流ＩA によって溶接がなされていると判
定し、タイプ１の溶接電流波形による溶接を継続する。
【００４０】また、散りが発生しなかった連続溶接回数
Ｎが設定値Ｎ2 に達した場合は、溶接電流波形記憶回路
６８からタイプ２の溶接電流波形を読み出して、この波
形の溶接電流を通電する（ステップＳ８）。
Ｎが設定値Ｎ2 に達した場合は、溶接電流波形記憶回路
６８からタイプ２の溶接電流波形を読み出して、この波
形の溶接電流を通電する（ステップＳ８）。
【００４１】この場合、タイプ２の溶接電流波形は、前
記タイプ１における時刻ｔ1 から溶接終了までの時間ｔ
2 の１／２、すなわち、ｔ2 ／２秒間を低電流ＩL によ
って通電し、ｔ2 ／２秒からｔ1 秒間は高電流ＩH を通
電した後、再び低電流ＩL をｔ2 ／２秒間通電する波形
である（図３（ｂ）参照）。
記タイプ１における時刻ｔ1 から溶接終了までの時間ｔ
2 の１／２、すなわち、ｔ2 ／２秒間を低電流ＩL によ
って通電し、ｔ2 ／２秒からｔ1 秒間は高電流ＩH を通
電した後、再び低電流ＩL をｔ2 ／２秒間通電する波形
である（図３（ｂ）参照）。
【００４２】ＣＰＵ５８は前記タイプ２の溶接電流波形
による溶接で散りが発生したか否かを判定し（ステップ
Ｓ９）、散りが発生した場合は、散りが発生した連続溶
接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ3 に達したか否かを
判定して（ステップＳ１０）、設定値Ｎ3 に達しない場
合は、充分な溶接強度が得られる平均電流ＩA によって
溶接がなされていると判定し、ステップＳ８に戻り、タ
イプ２の溶接電流波形による通電を繰り返し実行する。
による溶接で散りが発生したか否かを判定し（ステップ
Ｓ９）、散りが発生した場合は、散りが発生した連続溶
接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ3 に達したか否かを
判定して（ステップＳ１０）、設定値Ｎ3 に達しない場
合は、充分な溶接強度が得られる平均電流ＩA によって
溶接がなされていると判定し、ステップＳ８に戻り、タ
イプ２の溶接電流波形による通電を繰り返し実行する。
【００４３】散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
3 に達した場合は、高電流ＩH の通電開始時刻が遅いと
判定して、前記ステップＳ２に戻り、溶接電流波形をタ
イプ１に戻して、溶接電流を通電する。
3 に達した場合は、高電流ＩH の通電開始時刻が遅いと
判定して、前記ステップＳ２に戻り、溶接電流波形をタ
イプ１に戻して、溶接電流を通電する。
【００４４】前記ステップ９において、散りが発生しな
いと判定された場合、この発生しない連続溶接回数Ｎが
設定値Ｎ4 に達したか否かを判定し（ステップＳ１
１）、設定値Ｎ4 に達するまで、タイプ２の溶接電流波
形による溶接を継続し、設定値Ｎ 4 に達した場合にＣＰ
Ｕ５８は溶接電流波形記憶回路６８からタイプ３の溶接
電流波形を読み出して、このタイプ３の溶接電流波形に
よる溶接を行う（ステップＳ１２）。
いと判定された場合、この発生しない連続溶接回数Ｎが
設定値Ｎ4 に達したか否かを判定し（ステップＳ１
１）、設定値Ｎ4 に達するまで、タイプ２の溶接電流波
形による溶接を継続し、設定値Ｎ 4 に達した場合にＣＰ
Ｕ５８は溶接電流波形記憶回路６８からタイプ３の溶接
電流波形を読み出して、このタイプ３の溶接電流波形に
よる溶接を行う（ステップＳ１２）。
【００４５】この場合、タイプ３の溶接電流波形は、通
電開始からｔ2 秒間は散り発生限界電流値ＩS1より小な
る低電流ＩL を通電し、ｔ2 秒から通電終了までのｔ1
秒間は散り発生限界電流値ＩS1より大なる高電流ＩH を
通電する波形である（図３（ｃ）参照）。
電開始からｔ2 秒間は散り発生限界電流値ＩS1より小な
る低電流ＩL を通電し、ｔ2 秒から通電終了までのｔ1
秒間は散り発生限界電流値ＩS1より大なる高電流ＩH を
通電する波形である（図３（ｃ）参照）。
【００４６】ＣＰＵ５８は前記タイプ３の溶接電流波形
による溶接で散りが発生したか否かを判定し（ステップ
Ｓ１３）、散りが発生した場合は、散りが発生した連続
溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ5 に達したか否か
を判定する（ステップＳ１４）。設定値Ｎ5 に達しない
場合は、散発的に散りが発生しているため、充分な溶接
強度が得られる平均電流ＩA によって溶接がなされてい
ると判定して、ステップＳ１２に戻り、タイプ３の溶接
電流波形による通電を繰り返し実行する。
による溶接で散りが発生したか否かを判定し（ステップ
Ｓ１３）、散りが発生した場合は、散りが発生した連続
溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ5 に達したか否か
を判定する（ステップＳ１４）。設定値Ｎ5 に達しない
場合は、散発的に散りが発生しているため、充分な溶接
強度が得られる平均電流ＩA によって溶接がなされてい
ると判定して、ステップＳ１２に戻り、タイプ３の溶接
電流波形による通電を繰り返し実行する。
【００４７】散りが発生する連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
5 に達した場合は、高電流ＩH の通電開始時刻が遅いと
判定して、前記ステップＳ８に戻り、溶接電流波形をタ
イプ２に戻して溶接電流を通電する。
5 に達した場合は、高電流ＩH の通電開始時刻が遅いと
判定して、前記ステップＳ８に戻り、溶接電流波形をタ
イプ２に戻して溶接電流を通電する。
【００４８】前記ステップ１３において、散りが発生し
ないと判定された場合、散りが発生しない連続溶接回数
Ｎが設定値Ｎ6 に達したか否かを判定し（ステップＳ１
５）、設定値Ｎ6 に達しない場合は、散発的に散りが発
生する最適な溶接電流で溶接が行われていると判定し
て、タイプ３の溶接電流波形による溶接を継続する。
ないと判定された場合、散りが発生しない連続溶接回数
Ｎが設定値Ｎ6 に達したか否かを判定し（ステップＳ１
５）、設定値Ｎ6 に達しない場合は、散発的に散りが発
生する最適な溶接電流で溶接が行われていると判定し
て、タイプ３の溶接電流波形による溶接を継続する。
【００４９】また、散りが発生しない連続溶接回数Ｎが
設定値Ｎ6 に達した場合は、散り発生限界電流値ＩS1が
高くなったために溶接電流の平均電流ＩA が不足したと
判定して、下式に従って予め設定値記憶回路５６に記憶
された値ΔＩA だけ平均電流ＩA を上昇させる（ステッ
プＳ１６）。
設定値Ｎ6 に達した場合は、散り発生限界電流値ＩS1が
高くなったために溶接電流の平均電流ＩA が不足したと
判定して、下式に従って予め設定値記憶回路５６に記憶
された値ΔＩA だけ平均電流ＩA を上昇させる（ステッ
プＳ１６）。
【００５０】ＩA ←ＩA ＋ΔＩA …（４） この平均電流ＩA ＋ΔＩA が予め設定値記憶回路５６に
設定された最大平均電流ＩAMAX以上か否かを判定し（ス
テップＳ１７）、ＩA ＋ΔＩA ＜ＩAMAXであれば、平均
電流ＩA ＋ΔＩA に基づいて、新たな高電流ＩH2と低電
流ＩL2とからなる２段階の溶接電流波形が生成され、こ
の波形のタイプ１でステップＳ２に戻り溶接がなされ
る。ＩA ＋ΔＩA ＞ＩAMAXであれば、平均電流ＩA ＋Δ
ＩA が溶接トランス回路２６の通電し得る最大平均電流
ＩAMAX以上と判定してＣＲＴ３８に異常を表示する。
設定された最大平均電流ＩAMAX以上か否かを判定し（ス
テップＳ１７）、ＩA ＋ΔＩA ＜ＩAMAXであれば、平均
電流ＩA ＋ΔＩA に基づいて、新たな高電流ＩH2と低電
流ＩL2とからなる２段階の溶接電流波形が生成され、こ
の波形のタイプ１でステップＳ２に戻り溶接がなされ
る。ＩA ＋ΔＩA ＞ＩAMAXであれば、平均電流ＩA ＋Δ
ＩA が溶接トランス回路２６の通電し得る最大平均電流
ＩAMAX以上と判定してＣＲＴ３８に異常を表示する。
【００５１】また、ステップＳ１５において、散りが発
生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ 6 に達した場合、ス
テップＳ１６以降を実行せず、チップドレスの指示をＣ
ＲＴ３８に表示して、ステップＳ２に戻るサブルーチン
処理も考えられる。
生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ 6 に達した場合、ス
テップＳ１６以降を実行せず、チップドレスの指示をＣ
ＲＴ３８に表示して、ステップＳ２に戻るサブルーチン
処理も考えられる。
【００５２】さらに、ステップＳ７からステップＳ８に
移行する際、ステップＳ１１からステップＳ１２に移行
する際、およびステップＳ１５からステップＳ１６に移
行する際に、それぞれの各ステップＳ７、Ｓ１１、Ｓ１
５のときの溶接電流波形で所定の溶接回数を経てから、
次の各ステップＳ８、Ｓ１２、Ｓ１６に移行してもよ
い。
移行する際、ステップＳ１１からステップＳ１２に移行
する際、およびステップＳ１５からステップＳ１６に移
行する際に、それぞれの各ステップＳ７、Ｓ１１、Ｓ１
５のときの溶接電流波形で所定の溶接回数を経てから、
次の各ステップＳ８、Ｓ１２、Ｓ１６に移行してもよ
い。
【００５３】以上説明したように、本実施例によれば、
溶接が連続的に行われる場合に、散りの発生状況に応じ
て溶接電流波形記憶回路６８に記憶されたタイプ１〜タ
イプ３の溶接電流波形が選択され、この溶接電流波形に
基づいた溶接電流がワークに通電されることにより、散
りの発生を抑止し、充分な溶接強度を得ることのできる
溶接を安定して行うことが可能となる。
溶接が連続的に行われる場合に、散りの発生状況に応じ
て溶接電流波形記憶回路６８に記憶されたタイプ１〜タ
イプ３の溶接電流波形が選択され、この溶接電流波形に
基づいた溶接電流がワークに通電されることにより、散
りの発生を抑止し、充分な溶接強度を得ることのできる
溶接を安定して行うことが可能となる。
【００５４】なお、本実施例では、溶接電流波形記憶回
路６８に記憶されたタイプ１、２および３の溶接電流波
形を散りの発生状況に応じて選択したが、高電流ＩH の
通電開始時刻に関する指令をＣＰＵ５８から出力するこ
とにより、高電流ＩH の通電開始時刻を連続的に制御
し、より一層緻密な制御をすることが可能となる。
路６８に記憶されたタイプ１、２および３の溶接電流波
形を散りの発生状況に応じて選択したが、高電流ＩH の
通電開始時刻に関する指令をＣＰＵ５８から出力するこ
とにより、高電流ＩH の通電開始時刻を連続的に制御
し、より一層緻密な制御をすることが可能となる。
【００５５】また、本実施例では２次電流Ｉ2 によって
散りの発生を検出したが、１次電流Ｉ1 、電極間電圧、
電極変位、電極変位加速度およびアコースティックエミ
ッション等の方法によって散りの発生を検出することも
可能である。
散りの発生を検出したが、１次電流Ｉ1 、電極間電圧、
電極変位、電極変位加速度およびアコースティックエミ
ッション等の方法によって散りの発生を検出することも
可能である。
【００５６】次に、２段階の溶接電流波形によって溶接
する別の実施例について、図１０〜図１３を参照しなが
ら説明する。
する別の実施例について、図１０〜図１３を参照しなが
ら説明する。
【００５７】なお、以下の説明において、前述の実施例
と同一の構成要素には、同一の参照符号を付し、その詳
細な説明を省略する。
と同一の構成要素には、同一の参照符号を付し、その詳
細な説明を省略する。
【００５８】図１０はインバータ式直流抵抗溶接装置７
２の構成を示すブロック図であり、図１１は溶接コント
ローラ７４の構成を示すブロック図である。
２の構成を示すブロック図であり、図１１は溶接コント
ローラ７４の構成を示すブロック図である。
【００５９】溶接コントローラ７４は溶接電流波形を作
成するための初期値を記憶する設定値記憶回路７６と、
複数の溶接電流波形を記憶する溶接電流波形記憶回路７
８と、方形波形の溶接電流を通電することによって予め
求められた散り発生限界電流ＩS1を記憶する散り発生限
界電流記憶回路８０とを備える。
成するための初期値を記憶する設定値記憶回路７６と、
複数の溶接電流波形を記憶する溶接電流波形記憶回路７
８と、方形波形の溶接電流を通電することによって予め
求められた散り発生限界電流ＩS1を記憶する散り発生限
界電流記憶回路８０とを備える。
【００６０】以上のように構成されるインバータ式直流
抵抗溶接装置７４において、予め設定された連続溶接回
数ｎ1 およびｎ2 毎に２段階の溶接電流波形の中、高電
流Ｉ H の通電開始時間を変化させながら、複数の溶接ポ
イントを連続的に溶接する方法について、図１２のフロ
ーチャートを参照しながら説明する。
抵抗溶接装置７４において、予め設定された連続溶接回
数ｎ1 およびｎ2 毎に２段階の溶接電流波形の中、高電
流Ｉ H の通電開始時間を変化させながら、複数の溶接ポ
イントを連続的に溶接する方法について、図１２のフロ
ーチャートを参照しながら説明する。
【００６１】キーボード３６からオペレータによって連
続して溶接する回数ｎ、例えば、２０００回が設定され
ると（ステップＳ２１）、ＣＰＵ５８は連続して溶接す
る回数ｎが２０００回における散り発生限界電流ＩS1を
散り発生限界電流記憶回路８０から読み出し（図１３参
照）（ステップＳ２２）、この散り発生限界電流値Ｉ S1
に、予め設定値記憶回路７６に記憶された値を加算し
て、２段階の溶接電流波形の平均電流ＩA を演算する
（ステップＳ２３）。
続して溶接する回数ｎ、例えば、２０００回が設定され
ると（ステップＳ２１）、ＣＰＵ５８は連続して溶接す
る回数ｎが２０００回における散り発生限界電流ＩS1を
散り発生限界電流記憶回路８０から読み出し（図１３参
照）（ステップＳ２２）、この散り発生限界電流値Ｉ S1
に、予め設定値記憶回路７６に記憶された値を加算し
て、２段階の溶接電流波形の平均電流ＩA を演算する
（ステップＳ２３）。
【００６２】次いで、ＣＰＵ５８は前記平均電流Ｉ
A と、設定値記憶回路７６に記憶された溶接電流通電時
間Ｔ、高電流ＩH の通電時間ｔ1 および低電流ＩL とか
ら、高電流ＩH を求め、前記図９に示す２段階の溶接電
流波形を作成して（ステップＳ２４）、この高電流ＩH
の通電時間ｔ1 を通電開始時刻から通電終了時刻まで変
化させた図３に示すタイプ１〜タイプ３の溶接電流波形
を生成し（ステップＳ２５）、さらに、夫々の溶接電流
波形に連続溶接回数Ｎ、例えば、タイプ１は１＜連続溶
接回数Ｎ≦ｎ1 、タイプ２はｎ1 ＋１＜連続溶接回数Ｎ
≦ｎ2 、タイプ３はｎ2 ＋１＜連続溶接回数Ｎ≦ｎを設
定して、溶接電流波形記憶回路７８に記憶する。
A と、設定値記憶回路７６に記憶された溶接電流通電時
間Ｔ、高電流ＩH の通電時間ｔ1 および低電流ＩL とか
ら、高電流ＩH を求め、前記図９に示す２段階の溶接電
流波形を作成して（ステップＳ２４）、この高電流ＩH
の通電時間ｔ1 を通電開始時刻から通電終了時刻まで変
化させた図３に示すタイプ１〜タイプ３の溶接電流波形
を生成し（ステップＳ２５）、さらに、夫々の溶接電流
波形に連続溶接回数Ｎ、例えば、タイプ１は１＜連続溶
接回数Ｎ≦ｎ1 、タイプ２はｎ1 ＋１＜連続溶接回数Ｎ
≦ｎ2 、タイプ３はｎ2 ＋１＜連続溶接回数Ｎ≦ｎを設
定して、溶接電流波形記憶回路７８に記憶する。
【００６３】溶接が開始されると、ＣＰＵ５８はタイプ
１の溶接電流波形を溶接電流波形記憶回路７８から読み
出して（図３（ａ）参照）、この波形に基づいた溶接電
流をワークＷに供給するとともに（ステップＳ２６）、
連続溶接回数Ｎの計数を開始する。
１の溶接電流波形を溶接電流波形記憶回路７８から読み
出して（図３（ａ）参照）、この波形に基づいた溶接電
流をワークＷに供給するとともに（ステップＳ２６）、
連続溶接回数Ｎの計数を開始する。
【００６４】連続溶接回数Ｎがｎ1 、例えば、８００回
に達したとき（ステップＳ２７）、溶接電流波形をタイ
プ２とし（ステップＳ２８）、タイプ２の溶接電流波形
による連続溶接回数Ｎがｎ2 、例えば、１２００回に達
したとき（ステップＳ２９）、溶接電流波形をタイプ３
とし（ステップＳ３０）、タイプ２の溶接電流波形によ
る連続溶接回数Ｎが設定された２０００回に達したとき
（ステップＳ３１）、溶接を終了する。
に達したとき（ステップＳ２７）、溶接電流波形をタイ
プ２とし（ステップＳ２８）、タイプ２の溶接電流波形
による連続溶接回数Ｎがｎ2 、例えば、１２００回に達
したとき（ステップＳ２９）、溶接電流波形をタイプ３
とし（ステップＳ３０）、タイプ２の溶接電流波形によ
る連続溶接回数Ｎが設定された２０００回に達したとき
（ステップＳ３１）、溶接を終了する。
【００６５】なお、連続溶接回数Ｎが２０００回に達し
た後、チップドレスをし、ステップＳ２１に戻るように
してもよい。
た後、チップドレスをし、ステップＳ２１に戻るように
してもよい。
【００６６】以上説明したように、本実施例では、高電
流ＩH と低電流ＩL とからなる２段階の溶接電流波形の
高電流ＩH を、溶接電流の通電開始時刻から通電終了時
刻にシフトさせたタイプ１〜タイプ３の溶接電流波形を
生成し、夫々の波形に実験で得られた連続溶接回数Ｎ、
例えば、タイプ１は１≦Ｎ≦ｎ1 、タイプ２はｎ1 ＋１
≦Ｎ≦ｎ2 、タイプ３はｎ2 ＋１≦Ｎ＜ｎを設定する。
そして、連続溶接回数Ｎが夫々の設定値に達したとき、
タイプ１〜タイプ３の溶接電流波形を選択することによ
り、複数の溶接ポイントを連続して溶接する場合に充分
な溶接強度を安定して得ることが可能となる。
流ＩH と低電流ＩL とからなる２段階の溶接電流波形の
高電流ＩH を、溶接電流の通電開始時刻から通電終了時
刻にシフトさせたタイプ１〜タイプ３の溶接電流波形を
生成し、夫々の波形に実験で得られた連続溶接回数Ｎ、
例えば、タイプ１は１≦Ｎ≦ｎ1 、タイプ２はｎ1 ＋１
≦Ｎ≦ｎ2 、タイプ３はｎ2 ＋１≦Ｎ＜ｎを設定する。
そして、連続溶接回数Ｎが夫々の設定値に達したとき、
タイプ１〜タイプ３の溶接電流波形を選択することによ
り、複数の溶接ポイントを連続して溶接する場合に充分
な溶接強度を安定して得ることが可能となる。
【００６７】なお、本実施例ではタイプ１〜タイプ３の
３種類の波形によって溶接したが、さらに多種類の波形
を設定することによって、より一層、高品質の溶接を得
ることが可能となる。
３種類の波形によって溶接したが、さらに多種類の波形
を設定することによって、より一層、高品質の溶接を得
ることが可能となる。
【００６８】
【発明の効果】本発明に係る直流抵抗溶接機の溶接電流
制御方法では、２段階の溶接電流波形の溶接電流によっ
て複数の溶接ポイントを連続して溶接するとき、平均電
流を変化させることなく、第２溶接電流値の通電開始時
間を変化させることで、常に良質のナゲットを形成する
ことが可能となり、高い溶接強度を安定して得ることが
可能となるという効果が得られる。
制御方法では、２段階の溶接電流波形の溶接電流によっ
て複数の溶接ポイントを連続して溶接するとき、平均電
流を変化させることなく、第２溶接電流値の通電開始時
間を変化させることで、常に良質のナゲットを形成する
ことが可能となり、高い溶接強度を安定して得ることが
可能となるという効果が得られる。
【００６９】さらに、散りを発生させることがないた
め、溶接品質が向上するという効果を奏する。
め、溶接品質が向上するという効果を奏する。
【図１】本発明を実施するインバータ式直流抵抗溶接装
置の全体構成を示すブロック図である。
置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す実施例における溶接コントローラの
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図３】図２に示す溶接コントローラの溶接電流波形記
憶回路に記憶される溶接電流波形を示す図である。
憶回路に記憶される溶接電流波形を示す図である。
【図４】図３に示すタイプ１の溶接電流波形によって、
複数の溶接ポイントを溶接した場合の溶接強度の推移を
示す図である。
複数の溶接ポイントを溶接した場合の溶接強度の推移を
示す図である。
【図５】図３に示すタイプ２の溶接電流波形によって、
複数の溶接ポイントを溶接した場合の溶接強度の推移を
示す図である。
複数の溶接ポイントを溶接した場合の溶接強度の推移を
示す図である。
【図６】図３に示すタイプ３の溶接電流波形によって、
複数の溶接ポイントを溶接した場合の溶接強度の推移を
示す図である。
複数の溶接ポイントを溶接した場合の溶接強度の推移を
示す図である。
【図７】図１に示すインバータ式直流抵抗溶接装置にお
いて、散り発生の有無によって２段階の溶接電流波形を
選択する方法を説明するフローチャートである。
いて、散り発生の有無によって２段階の溶接電流波形を
選択する方法を説明するフローチャートである。
【図８】図１に示すインバータ式直流抵抗溶接装置にお
いて、散り発生の有無によって２段階の溶接電流波形を
選択する方法を説明するフローチャートである。
いて、散り発生の有無によって２段階の溶接電流波形を
選択する方法を説明するフローチャートである。
【図９】図２に示す溶接コントローラで生成された２段
階の溶接電流波形を説明する図である。
階の溶接電流波形を説明する図である。
【図１０】インバータ式直流抵抗溶接装置の別の実施例
の全体構成を示すブロック図である。
の全体構成を示すブロック図である。
【図１１】図１０に示す実施例における溶接コントロー
ラの構成を示すブロック図である。
ラの構成を示すブロック図である。
【図１２】図１０に示すインバータ式直流抵抗溶接装置
において、予め設定された連続溶接回数で溶接電流波形
を選択する方法を説明するフローチャートである。
において、予め設定された連続溶接回数で溶接電流波形
を選択する方法を説明するフローチャートである。
【図１３】図１２に示すフローチャートにおいて、設定
された連続溶接回数から散り発生限界電流を求める動作
を説明する図である。
された連続溶接回数から散り発生限界電流を求める動作
を説明する図である。
２０、７２…インバータ式直流抵抗溶接装置 ２４…インバータ回路 ２６…溶接トランス回路 ２８…溶接ガン部 ３０、７４…溶接コントローラ ３２、３４…電流検出器 ３６…キーボード ４０、４１…可動ガンアーム ４２、４３…電極チップ ５０、５２…Ａ／Ｄ変換回路 ５４…検出電流選択回路 ５６、７６…設定値記憶回路 ５８…ＣＰＵ ６０…Ｄ／Ａ変換回路 ６２…ＰＷＭ回路 ６４…ＲＯＭ ６６…ＲＡＭ ６８、７８…溶接電流波形記憶回路 ８０…散り発生限界電流記憶回路
フロントページの続き (72)発明者 矢口 幸宏 埼玉県狭山市新狭山１−10−１ ホンダ エンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−273574（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】第１の溶接電流値と、当該第１溶接電流値
より大なる第２の溶接電流値との少なくとも２段階の溶
接電流波形をワークに通電する直流抵抗溶接機の溶接電
流制御方法において、 前記溶接電流波形の溶接電流によって複数の溶接ポイン
トを連続的に溶接し、当該溶接において散りが発生した
とき、前記第２溶接電流値の通電開始時刻を溶接電流の
通電時間内において早め、散りが発生しないとき、前記
第２溶接電流値の通電開始時刻を、溶接電流の通電時間
内において遅らせることを特徴とする直流抵抗溶接機の
溶接電流制御方法。 - 【請求項２】第１の溶接電流値と、当該第１溶接電流値
より大なる第２の溶接電流値との少なくとも２段階の溶
接電流波形をワークに通電する直流抵抗溶接機の溶接電
流制御方法において、 複数の溶接ポイントを連続して溶接するとき、任意の溶
接打点数毎に前記第２溶接電流値の通電開始時刻を、溶
接電流の通電開始時刻から順次シフトさせることを特徴
とする直流抵抗溶接機の溶接電流制御方法。
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|---|---|---|---|
| JP4344727A JP2617668B2 (ja) | 1992-12-24 | 1992-12-24 | 直流抵抗溶接機の溶接電流制御方法 |
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|---|---|---|---|
| JP4344727A JP2617668B2 (ja) | 1992-12-24 | 1992-12-24 | 直流抵抗溶接機の溶接電流制御方法 |
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-
1992
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1993
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