JP2756403B2 - 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 - Google Patents
抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置Info
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- JP2756403B2 JP2756403B2 JP24318893A JP24318893A JP2756403B2 JP 2756403 B2 JP2756403 B2 JP 2756403B2 JP 24318893 A JP24318893 A JP 24318893A JP 24318893 A JP24318893 A JP 24318893A JP 2756403 B2 JP2756403 B2 JP 2756403B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は抵抗溶接機の溶接電流制
御方法および装置に関し、一層詳細には、溶接電流の通
電条件が異なる複数の溶接点を有する同一形状の複数の
ワークを連続的に溶接する抵抗溶接機の溶接電流制御方
法および装置に関する。
御方法および装置に関し、一層詳細には、溶接電流の通
電条件が異なる複数の溶接点を有する同一形状の複数の
ワークを連続的に溶接する抵抗溶接機の溶接電流制御方
法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、自動車の車体等のワークに対して
設定された複数の溶接点を抵抗溶接機で順次連続的に溶
接している。この場合、溶接されるワークの重ね枚数、
ワークの端部若しくは中央部等の溶接点の部位、溶接点
間のピッチ、溶接されるワークの厚さおよび溶接される
ワークの材質等、溶接点毎に条件が異なる場合は、溶接
点毎に溶接電流波形が設定され、この設定された電流波
形に通電電流を追従させる方法が用いられている。
設定された複数の溶接点を抵抗溶接機で順次連続的に溶
接している。この場合、溶接されるワークの重ね枚数、
ワークの端部若しくは中央部等の溶接点の部位、溶接点
間のピッチ、溶接されるワークの厚さおよび溶接される
ワークの材質等、溶接点毎に条件が異なる場合は、溶接
点毎に溶接電流波形が設定され、この設定された電流波
形に通電電流を追従させる方法が用いられている。
【０００３】一方、散り発生限界電流値近傍の溶接電流
を通電することにより、高い溶接強度が得られることが
知られており、さらに、高電流値と低電流値とからなる
波形の溶接電流を通電することにより、散りの発生を抑
止し、高品質のナゲットを得られることが知られてい
る。
を通電することにより、高い溶接強度が得られることが
知られており、さらに、高電流値と低電流値とからなる
波形の溶接電流を通電することにより、散りの発生を抑
止し、高品質のナゲットを得られることが知られてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術における溶接点毎に設定された波形の溶接電流に
よって溶接する方法では、電極チップの摩耗を検出する
ことができないため、溶接電流の通電条件が異なる複数
の溶接点を有する同一形状のワークを連続して溶接する
場合、夫々の溶接点毎に溶接電流波形の制御を充分に行
うことができず、高い溶接強度を安定して得ることがで
きないという問題がある。
来技術における溶接点毎に設定された波形の溶接電流に
よって溶接する方法では、電極チップの摩耗を検出する
ことができないため、溶接電流の通電条件が異なる複数
の溶接点を有する同一形状のワークを連続して溶接する
場合、夫々の溶接点毎に溶接電流波形の制御を充分に行
うことができず、高い溶接強度を安定して得ることがで
きないという問題がある。
【０００５】本発明はこのような従来の問題を解決する
ためになされたものであって、溶接電流の通電条件が異
なる夫々の溶接点において、最適な形状のナゲットを得
ることができる抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装
置を提供することを目的とする。
ためになされたものであって、溶接電流の通電条件が異
なる夫々の溶接点において、最適な形状のナゲットを得
ることができる抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装
置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明は、複数の溶接点を有する同一形状の
ワークを、ワーク毎に順次溶接する抵抗溶接機の溶接電
流制御方法において、予め記憶された波形の溶接電流を
前記ワークの所定の溶接点に供給して、溶接時における
散り発生の有無を検出し、当該散り発生の有無に基づい
て前記溶接電流の波形を修正する第１のステップと、前
記修正された波形に基づいて散り発生限界電流値を求め
る第２のステップと、前記散り発生限界電流値に基づい
て、前記散り発生限界電流値より大なる高電流値と前記
散り発生限界電流値より小なる低電流値からなる新たな
溶接電流波形を生成する第３のステップと、前記新たな
溶接電流波形の溶接電流を前記ワークの所定の溶接点と
同一部位の他のワークの溶接点に供給し、溶接時におけ
る散り発生の有無を検出する第４のステップと、前記第
４のステップで検出された散り発生の有無に基づいて前
記新たな溶接電流波形の前記高電流値を修正して、この
修正された波形に基づいて生成された溶接電流を同一形
状のワークの同一部位の溶接点に供給する第５のステッ
プと、からなることを特徴とする。
めに、第１の発明は、複数の溶接点を有する同一形状の
ワークを、ワーク毎に順次溶接する抵抗溶接機の溶接電
流制御方法において、予め記憶された波形の溶接電流を
前記ワークの所定の溶接点に供給して、溶接時における
散り発生の有無を検出し、当該散り発生の有無に基づい
て前記溶接電流の波形を修正する第１のステップと、前
記修正された波形に基づいて散り発生限界電流値を求め
る第２のステップと、前記散り発生限界電流値に基づい
て、前記散り発生限界電流値より大なる高電流値と前記
散り発生限界電流値より小なる低電流値からなる新たな
溶接電流波形を生成する第３のステップと、前記新たな
溶接電流波形の溶接電流を前記ワークの所定の溶接点と
同一部位の他のワークの溶接点に供給し、溶接時におけ
る散り発生の有無を検出する第４のステップと、前記第
４のステップで検出された散り発生の有無に基づいて前
記新たな溶接電流波形の前記高電流値を修正して、この
修正された波形に基づいて生成された溶接電流を同一形
状のワークの同一部位の溶接点に供給する第５のステッ
プと、からなることを特徴とする。
【０００７】さらに、第２の発明は、複数の溶接点を有
する同一形状のワークを、ワーク毎に順次溶接する抵抗
溶接機の溶接電流制御装置において、予め記憶された波
形の溶接電流が前記ワークの所定の溶接点に供給され、
溶接時に検出された散り発生の有無によって修正された
前記波形に基づいて散り発生限界電流値を求める散り発
生限界電流値演算手段と、前記散り発生限界電流値に基
づいて、前記散り発生限界電流値より大なる高電流値と
前記散り発生限界電流値より小なる低電流値とからなる
新たな溶接電流波形を生成する溶接電流波形生成手段
と、前記新たな溶接電流波形に基づいた溶接電流を前記
ワークの所定の溶接点と同一部位の他のワークの溶接点
に供給する溶接電流供給手段と、前記溶接電流供給手段
によってワークに供給された溶接電流による散り発生の
有無を検出する散り発生検出手段と、前記検出された散
り発生の有無に基づいて前記新たな溶接電流波形の前記
高電流値を修正する波形修正手段と、を備え、前記修正
された新たな溶接電流波形に基づいて生成された溶接電
流を同一形状のワークの同一部位の溶接点に供給するこ
とを特徴とする。
する同一形状のワークを、ワーク毎に順次溶接する抵抗
溶接機の溶接電流制御装置において、予め記憶された波
形の溶接電流が前記ワークの所定の溶接点に供給され、
溶接時に検出された散り発生の有無によって修正された
前記波形に基づいて散り発生限界電流値を求める散り発
生限界電流値演算手段と、前記散り発生限界電流値に基
づいて、前記散り発生限界電流値より大なる高電流値と
前記散り発生限界電流値より小なる低電流値とからなる
新たな溶接電流波形を生成する溶接電流波形生成手段
と、前記新たな溶接電流波形に基づいた溶接電流を前記
ワークの所定の溶接点と同一部位の他のワークの溶接点
に供給する溶接電流供給手段と、前記溶接電流供給手段
によってワークに供給された溶接電流による散り発生の
有無を検出する散り発生検出手段と、前記検出された散
り発生の有無に基づいて前記新たな溶接電流波形の前記
高電流値を修正する波形修正手段と、を備え、前記修正
された新たな溶接電流波形に基づいて生成された溶接電
流を同一形状のワークの同一部位の溶接点に供給するこ
とを特徴とする。
【０００８】
【作用】本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制御方法お
よび装置では、予め記憶された波形の溶接電流をワーク
の所定の溶接点に供給して、溶接時における散り発生の
有無に基づいて前記波形を修正し、当該修正された波形
に基づいて散り発生限界溶接電流値演算手段が散り発生
限界溶接電流値を求める。
よび装置では、予め記憶された波形の溶接電流をワーク
の所定の溶接点に供給して、溶接時における散り発生の
有無に基づいて前記波形を修正し、当該修正された波形
に基づいて散り発生限界溶接電流値演算手段が散り発生
限界溶接電流値を求める。
【０００９】次いで、前記散り発生限界電流値に基づい
て前記散り発生限界電流値より大なる高電流値と前記散
り発生限界電流値より小なる低電流値とからなる新たな
溶接電流波形を溶接電流波形生成手段が生成し、この新
たな溶接電流波形に基づいた溶接電流を溶接電流供給手
段が前記ワークの所定の溶接点と同一部位の他のワーク
の溶接点に供給し、散り発生検出手段が溶接電流の通電
時における散り発生の有無を検出する。
て前記散り発生限界電流値より大なる高電流値と前記散
り発生限界電流値より小なる低電流値とからなる新たな
溶接電流波形を溶接電流波形生成手段が生成し、この新
たな溶接電流波形に基づいた溶接電流を溶接電流供給手
段が前記ワークの所定の溶接点と同一部位の他のワーク
の溶接点に供給し、散り発生検出手段が溶接電流の通電
時における散り発生の有無を検出する。
【００１０】前記検出された散り発生の有無に基づいて
波形修正手段が前記新たな溶接電流波形の前記高電流値
を修正し、前記修正された波形に基づいて生成された溶
接電流を同一形状のワークの同一部位の溶接点に供給す
る。
波形修正手段が前記新たな溶接電流波形の前記高電流値
を修正し、前記修正された波形に基づいて生成された溶
接電流を同一形状のワークの同一部位の溶接点に供給す
る。
【００１１】従って、夫々の溶接点は同一部位毎に高電
流値が修正された波形の溶接電流で溶接される。
流値が修正された波形の溶接電流で溶接される。
【００１２】
【実施例】次に、本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制
御方法について、それを実施する装置との関係におい
て、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
御方法について、それを実施する装置との関係におい
て、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
【００１３】図１は本発明を実施する抵抗溶接機２０の
全体構成を示すブロック図である。
全体構成を示すブロック図である。
【００１４】抵抗溶接機２０は交流電源２１から出力さ
れる交流を直流に変換するコンバータ回路２２と、この
直流を高周波交流に変換するインバータ回路２４と、前
記高周波交流を変成し、且つ整流する溶接トランス回路
２６と、ワークＷを挟持する溶接ガン部２８と、ワーク
Ｗに通電される溶接電流を制御する溶接コントローラ３
０とを備える。
れる交流を直流に変換するコンバータ回路２２と、この
直流を高周波交流に変換するインバータ回路２４と、前
記高周波交流を変成し、且つ整流する溶接トランス回路
２６と、ワークＷを挟持する溶接ガン部２８と、ワーク
Ｗに通電される溶接電流を制御する溶接コントローラ３
０とを備える。
【００１５】さらに、抵抗溶接機２０は、溶接トランス
回路２６の１次側の電流（以下、１次電流という）Ｉ1
を検出する１次電流検出器３２と、溶接トランス回路２
６の２次側の電流（以下、２次電流という）Ｉ2 を検出
する２次電流検出器３４と、溶接コントローラ３０に溶
接条件等を入力するためのキーボード３６と、この溶接
条件を表示するディスプレイ装置３８と、外部記憶手段
であるフロッピデスクに対してデータを書き込む／読み
込むＦＤＤ３９とを備える。
回路２６の１次側の電流（以下、１次電流という）Ｉ1
を検出する１次電流検出器３２と、溶接トランス回路２
６の２次側の電流（以下、２次電流という）Ｉ2 を検出
する２次電流検出器３４と、溶接コントローラ３０に溶
接条件等を入力するためのキーボード３６と、この溶接
条件を表示するディスプレイ装置３８と、外部記憶手段
であるフロッピデスクに対してデータを書き込む／読み
込むＦＤＤ３９とを備える。
【００１６】前記溶接ガン部２８はワークＷを挟持する
可動ガンアーム４０および４１と、この可動ガンアーム
４０、４１に固着される電極チップ４２および４３と、
前記可動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシ
リンダ４４とからなり、該シリンダ４４には電磁切替弁
４６を介して空気圧源４８が接続される。前記電磁切替
弁４６の切替動作は前記溶接コントローラ３０によって
制御される。
可動ガンアーム４０および４１と、この可動ガンアーム
４０、４１に固着される電極チップ４２および４３と、
前記可動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシ
リンダ４４とからなり、該シリンダ４４には電磁切替弁
４６を介して空気圧源４８が接続される。前記電磁切替
弁４６の切替動作は前記溶接コントローラ３０によって
制御される。
【００１７】図２は溶接コントローラ３０の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【００１８】溶接コントローラ３０は前記１次電流検出
器３２に検出された１次電流Ｉ1 をデジタル値に変換す
るアナログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換回路
５０と、２次電流検出器３４に検出された２次電流Ｉ2
をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路５２と、前記Ａ
／Ｄ変換回路５０から出力される１次電流Ｉ1 、または
前記Ａ／Ｄ変換回路５２から出力される２次電流Ｉ2 の
いずれか一方を選択する検出電流選択回路５４と、検出
電流選択回路５４によって選択された１次電流Ｉ1 また
は２次電流Ｉ2 から散り発生の有無を検出する散り検出
回路５５と、後述する基準方形状波形の尖頭値ＩN を修
正する際の修正電流値ΔＩN 、前記方形状波形の溶接電
流の適否を判定するための散りの連続発生数ｍ1 、散り
の連続未発生数ｍ2 および基準散り発生限界電流値ＩSS
が記憶される溶接条件記憶回路５６とを備える。
器３２に検出された１次電流Ｉ1 をデジタル値に変換す
るアナログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換回路
５０と、２次電流検出器３４に検出された２次電流Ｉ2
をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路５２と、前記Ａ
／Ｄ変換回路５０から出力される１次電流Ｉ1 、または
前記Ａ／Ｄ変換回路５２から出力される２次電流Ｉ2 の
いずれか一方を選択する検出電流選択回路５４と、検出
電流選択回路５４によって選択された１次電流Ｉ1 また
は２次電流Ｉ2 から散り発生の有無を検出する散り検出
回路５５と、後述する基準方形状波形の尖頭値ＩN を修
正する際の修正電流値ΔＩN 、前記方形状波形の溶接電
流の適否を判定するための散りの連続発生数ｍ1 、散り
の連続未発生数ｍ2 および基準散り発生限界電流値ＩSS
が記憶される溶接条件記憶回路５６とを備える。
【００１９】溶接コントローラ３０は、中央処理装置
（以下、ＣＰＵという）５８と、このＣＰＵ５８から出
力される溶接電流の指令値Ｉcmd をアナログ値に変換す
るデジタル／アナログ（以下、Ｄ／Ａという）変換回路
６０と、該Ｄ／Ａ変換回路６０から出力される信号に基
づいてパルスを生成するパルス幅変調（以下、ＰＷＭと
いう）回路６２とを備え、ＰＷＭ回路６２に生成された
パルスは前記インバータ回路２４に対して出力される。
（以下、ＣＰＵという）５８と、このＣＰＵ５８から出
力される溶接電流の指令値Ｉcmd をアナログ値に変換す
るデジタル／アナログ（以下、Ｄ／Ａという）変換回路
６０と、該Ｄ／Ａ変換回路６０から出力される信号に基
づいてパルスを生成するパルス幅変調（以下、ＰＷＭと
いう）回路６２とを備え、ＰＷＭ回路６２に生成された
パルスは前記インバータ回路２４に対して出力される。
【００２０】さらに、溶接コントローラ３０は抵抗溶接
機２０を制御するための制御プログラムが記憶される読
み出し専用メモリ（以下、ＲＯＭという）６４と、前記
ＣＰＵ５８が演算中に演算結果を一時的に記憶する読み
書き可能なメモリ（以下、ＲＡＭという）６６と、溶接
電流の高電流値ＩH を生成するためのパラメータ、この
高電流値ＩH を通電する高電流通電時間ｔH 、前記高電
流値ＩH を修正する場合の修正電流値ΔＩH 、溶接電流
の低電流値ＩL を生成するためのパラーメータ、この低
電流値ＩL を通電する低電流通電時間ｔL 、溶接トラン
ス回路２６が供給可能な溶接電流の最大値ＩMAX とから
なる新溶接電流波形を生成するための波形生成パラメー
タを記憶する波形生成パラメータ記憶回路６８と、散り
発生限界電流値を演算する散り発生限界電流値演算回路
７０と、キーボード３６、ディスプレイ装置３８、ＦＤ
Ｄ３９および電磁切替弁４６とのインタフェース（以
下、Ｉ／Ｆという）回路７２とを備える。
機２０を制御するための制御プログラムが記憶される読
み出し専用メモリ（以下、ＲＯＭという）６４と、前記
ＣＰＵ５８が演算中に演算結果を一時的に記憶する読み
書き可能なメモリ（以下、ＲＡＭという）６６と、溶接
電流の高電流値ＩH を生成するためのパラメータ、この
高電流値ＩH を通電する高電流通電時間ｔH 、前記高電
流値ＩH を修正する場合の修正電流値ΔＩH 、溶接電流
の低電流値ＩL を生成するためのパラーメータ、この低
電流値ＩL を通電する低電流通電時間ｔL 、溶接トラン
ス回路２６が供給可能な溶接電流の最大値ＩMAX とから
なる新溶接電流波形を生成するための波形生成パラメー
タを記憶する波形生成パラメータ記憶回路６８と、散り
発生限界電流値を演算する散り発生限界電流値演算回路
７０と、キーボード３６、ディスプレイ装置３８、ＦＤ
Ｄ３９および電磁切替弁４６とのインタフェース（以
下、Ｉ／Ｆという）回路７２とを備える。
【００２１】さらにまた、溶接コントローラ３０は、通
電時間ｔと尖頭値ＩN とのデータからなる基準となる方
形状の溶接電流波形、すなわち、基準方形状波形が記憶
される溶接電流波形記憶回路７４と、この溶接電流波形
記憶回路７４に記憶された基準溶接電流波形等を散りの
発生状態によって修正する波形修正回路７６とを備え
る。
電時間ｔと尖頭値ＩN とのデータからなる基準となる方
形状の溶接電流波形、すなわち、基準方形状波形が記憶
される溶接電流波形記憶回路７４と、この溶接電流波形
記憶回路７４に記憶された基準溶接電流波形等を散りの
発生状態によって修正する波形修正回路７６とを備え
る。
【００２２】以上のように構成される抵抗溶接機２０に
おいて、複数の溶接点を有する同一形状の複数のワーク
Ｗを連続的に溶接する動作について、図３および図４の
フローチャートを参照して説明する。
おいて、複数の溶接点を有する同一形状の複数のワーク
Ｗを連続的に溶接する動作について、図３および図４の
フローチャートを参照して説明する。
【００２３】ワークＷに発生する散りを、例えば、２次
電流Ｉ2 によって検出することを示すデータがオペレー
タによってキーボード３６から入力されると、このデー
タはＩ／Ｆ回路７２を経由してＣＰＵ５８に入力され、
ＣＰＵ５８は２次電流Ｉ2 を検出する選択信号を検出電
流選択回路５４に対して出力する。
電流Ｉ2 によって検出することを示すデータがオペレー
タによってキーボード３６から入力されると、このデー
タはＩ／Ｆ回路７２を経由してＣＰＵ５８に入力され、
ＣＰＵ５８は２次電流Ｉ2 を検出する選択信号を検出電
流選択回路５４に対して出力する。
【００２４】この場合、図５に示すワークＷ1 の夫々の
溶接点Ｐ11・Ｐ12…Ｐ1nが溶接され、次にワークＷ2 の
夫々の溶接点Ｐ21〜Ｐ2n、…ワークＷn の夫々の溶接点
Ｐn1〜Ｐnnと順次溶接されるが、この溶接動作の中、本
実施例では夫々のワークＷ1〜Ｗn における同一部位の
溶接点、例えば、溶接点Ｐ11、Ｐ21、…Ｐn1の溶接動作
のみを例示して説明する。
溶接点Ｐ11・Ｐ12…Ｐ1nが溶接され、次にワークＷ2 の
夫々の溶接点Ｐ21〜Ｐ2n、…ワークＷn の夫々の溶接点
Ｐn1〜Ｐnnと順次溶接されるが、この溶接動作の中、本
実施例では夫々のワークＷ1〜Ｗn における同一部位の
溶接点、例えば、溶接点Ｐ11、Ｐ21、…Ｐn1の溶接動作
のみを例示して説明する。
【００２５】ＲＯＭ６４から読み出されたプログラムに
基づいてＣＰＵ５８から電磁切替弁４６の駆動信号が出
力されると、この駆動信号はＩ／Ｆ回路７２を介して電
磁切替弁４６に対して出力される。この駆動信号によっ
て電磁切替弁４６が開弁され、空気圧源４８からシリン
ダ４４に対して圧力空気が送給される。前記圧力空気に
よるシリンダ４４の動作によりガンアーム４０、４１が
閉動し、このガンアーム４０、４１に取着された電極チ
ップ４２、４３によってワークＷ1 の溶接点Ｐ 11が挟持
される。
基づいてＣＰＵ５８から電磁切替弁４６の駆動信号が出
力されると、この駆動信号はＩ／Ｆ回路７２を介して電
磁切替弁４６に対して出力される。この駆動信号によっ
て電磁切替弁４６が開弁され、空気圧源４８からシリン
ダ４４に対して圧力空気が送給される。前記圧力空気に
よるシリンダ４４の動作によりガンアーム４０、４１が
閉動し、このガンアーム４０、４１に取着された電極チ
ップ４２、４３によってワークＷ1 の溶接点Ｐ 11が挟持
される。
【００２６】次いで、溶接電流波形記憶回路７４に記憶
された方形状の基準溶接電流波形のデータがＣＰＵ５８
に読み出されて、この方形状波形の溶接電流の指令値Ｉ
cmdがＤ／Ａ変換回路６０に対して出力される。
された方形状の基準溶接電流波形のデータがＣＰＵ５８
に読み出されて、この方形状波形の溶接電流の指令値Ｉ
cmdがＤ／Ａ変換回路６０に対して出力される。
【００２７】前記溶接電流の指令値Ｉcmd はＤ／Ａ変換
回路６０でアナログ指令値Ｉf に変換されてＰＷＭ回路
６２に対して出力され、さらに、ＰＷＭ回路６２でパル
ス幅変調されて所定の周波数とデューティサイクルのパ
ルスとなり、インバータ回路２４に対して出力される。
インバータ回路２４は前記パルスに基づいて高周波交流
を生成し、この高周波交流は溶接トランス回路２６に対
して出力される。高周波交流は溶接トランス回路２６で
変成、且つ整流されて溶接ガン部２８を介してワークＷ
1 の溶接点Ｐ11に対して通電される（図６参照）（ス
テップＳ１）。
回路６０でアナログ指令値Ｉf に変換されてＰＷＭ回路
６２に対して出力され、さらに、ＰＷＭ回路６２でパル
ス幅変調されて所定の周波数とデューティサイクルのパ
ルスとなり、インバータ回路２４に対して出力される。
インバータ回路２４は前記パルスに基づいて高周波交流
を生成し、この高周波交流は溶接トランス回路２６に対
して出力される。高周波交流は溶接トランス回路２６で
変成、且つ整流されて溶接ガン部２８を介してワークＷ
1 の溶接点Ｐ11に対して通電される（図６参照）（ス
テップＳ１）。
【００２８】この通電により、２次電流検出器３４に検
出された２次電流Ｉ2 はＡ／Ｄ変換回路５２および検出
電流選択回路５４を介して散り検出回路５５に入力さ
れ、散り検出回路５５で散りが発生したか否かが判定さ
れる（ステップＳ２）。散りが発生したと判定されたと
き、ＣＰＵ５８によって散りの連続発生数Ｎ1 が設定値
ｍ1 に達したか否かが判定される（ステップＳ３）。
出された２次電流Ｉ2 はＡ／Ｄ変換回路５２および検出
電流選択回路５４を介して散り検出回路５５に入力さ
れ、散り検出回路５５で散りが発生したか否かが判定さ
れる（ステップＳ２）。散りが発生したと判定されたと
き、ＣＰＵ５８によって散りの連続発生数Ｎ1 が設定値
ｍ1 に達したか否かが判定される（ステップＳ３）。
【００２９】前記判定の結果、散りの連続発生数Ｎ1 が
設定値ｍ1 に達したとき、方形状波形の尖頭値ＩN が基
準散り発生限界電流値ＩSSよりも高いとＣＰＵ５８に判
定され、波形修正回路７６によって方形状波形の尖頭値
ＩN から修正電流値ΔＩN が減算される（ＩN ←ＩN −
ΔＩN ）（ステップＳ４）。
設定値ｍ1 に達したとき、方形状波形の尖頭値ＩN が基
準散り発生限界電流値ＩSSよりも高いとＣＰＵ５８に判
定され、波形修正回路７６によって方形状波形の尖頭値
ＩN から修正電流値ΔＩN が減算される（ＩN ←ＩN −
ΔＩN ）（ステップＳ４）。
【００３０】この修正によって得られた尖頭値ＩN はス
テップＳ１において、次に溶接されるワーク、例えば、
ワークＷi の溶接点Ｐi1を溶接する際の方形状波形の尖
頭値ＩN として用いられる（図６参照）。
テップＳ１において、次に溶接されるワーク、例えば、
ワークＷi の溶接点Ｐi1を溶接する際の方形状波形の尖
頭値ＩN として用いられる（図６参照）。
【００３１】一方、前記ステップＳ２において、散りが
発生しないと判定されたとき、ＣＰＵ５８は散りの連続
未発生数Ｎ2 が設定値ｍ2 に達したか否かを判定し（ス
テップＳ５）、設定値ｍ2 に達したとき、尖頭値ＩN が
散り発生限界電流値ＩS より著しく低いと判定する。こ
の判定に基づいて波形修正回路７６によって溶接電流の
尖頭値ＩN に修正電流値ΔＩN が加算される（ＩN ←Ｉ
N ＋ΔＩN ）（ステップＳ６）。
発生しないと判定されたとき、ＣＰＵ５８は散りの連続
未発生数Ｎ2 が設定値ｍ2 に達したか否かを判定し（ス
テップＳ５）、設定値ｍ2 に達したとき、尖頭値ＩN が
散り発生限界電流値ＩS より著しく低いと判定する。こ
の判定に基づいて波形修正回路７６によって溶接電流の
尖頭値ＩN に修正電流値ΔＩN が加算される（ＩN ←Ｉ
N ＋ΔＩN ）（ステップＳ６）。
【００３２】この修正によって得られた尖頭値ＩN はス
テップＳ１において、次に溶接されるワークＷi1の溶接
点Ｐi1を溶接する際の方形状波形の尖頭値ＩN として、
用いられる（図６参照）。
テップＳ１において、次に溶接されるワークＷi1の溶接
点Ｐi1を溶接する際の方形状波形の尖頭値ＩN として、
用いられる（図６参照）。
【００３３】以上説明したステップＳ１〜Ｓ６が繰り返
し実行されることにより方形状波形の尖頭値ＩN が修正
される。そして、前記ステップＳ３における判定の結
果、散りの連続発生数Ｎ1 が設定値ｍ1 に達していない
とき、若しくは、ステップＳ５における判定の結果、散
りの連続未発生数Ｎ2 が設定値ｍ2 に達していないと
き、散りが散発的に発生する最適な値の尖頭値ＩN によ
って溶接が行われているとＣＰＵ５８に判定され、この
ときの尖頭値ＩN と通電時間ｔとに基づいて散り発生限
界電流値ＩS が散り発生限界電流値演算回路７０によっ
て求められる（ステップＳ７）。
し実行されることにより方形状波形の尖頭値ＩN が修正
される。そして、前記ステップＳ３における判定の結
果、散りの連続発生数Ｎ1 が設定値ｍ1 に達していない
とき、若しくは、ステップＳ５における判定の結果、散
りの連続未発生数Ｎ2 が設定値ｍ2 に達していないと
き、散りが散発的に発生する最適な値の尖頭値ＩN によ
って溶接が行われているとＣＰＵ５８に判定され、この
ときの尖頭値ＩN と通電時間ｔとに基づいて散り発生限
界電流値ＩS が散り発生限界電流値演算回路７０によっ
て求められる（ステップＳ７）。
【００３４】次いで、波形生成パラメータ記憶回路６８
から溶接電流波形を生成するための波形生成パラメータ
がＣＰＵ５８によって読み出され、この波形生成パラメ
ータと、前記演算によって求められた散り発生限界電流
値ＩS とに基づいて高電流値ＩH と、この高電流値ＩH
に対して低い値の低電流値ＩL とからなる新たな新溶接
電流波形が決定される（ステップＳ８）。
から溶接電流波形を生成するための波形生成パラメータ
がＣＰＵ５８によって読み出され、この波形生成パラメ
ータと、前記演算によって求められた散り発生限界電流
値ＩS とに基づいて高電流値ＩH と、この高電流値ＩH
に対して低い値の低電流値ＩL とからなる新たな新溶接
電流波形が決定される（ステップＳ８）。
【００３５】波形生成パラメータに基づいて決定された
低電流値ＩL は、ステップＳ７における演算によって求
められた散り発生限界電流値ＩS より設定値Ｃ1 だけ低
い値であり、一方、新溶接電流波形の平均値ＩA が前記
散り発生限界電流値ＩS より設定値Ｃ2 だけ高い値とな
るように高電流値ＩH が決定される（図７参照）。
低電流値ＩL は、ステップＳ７における演算によって求
められた散り発生限界電流値ＩS より設定値Ｃ1 だけ低
い値であり、一方、新溶接電流波形の平均値ＩA が前記
散り発生限界電流値ＩS より設定値Ｃ2 だけ高い値とな
るように高電流値ＩH が決定される（図７参照）。
【００３６】このようにして、決定された新溶接電流波
形の溶接電流が前記ステップＳ１と同様の作用でワーク
Ｗ(i+1) の溶接点Ｐ(i+1)1に通電され（ステップＳ
９）、２次電流検出器３４によって検出された２次電流
Ｉ2 により散りが発生したか否かがＣＰＵ５８に判定さ
れる（ステップＳ１０）。
形の溶接電流が前記ステップＳ１と同様の作用でワーク
Ｗ(i+1) の溶接点Ｐ(i+1)1に通電され（ステップＳ
９）、２次電流検出器３４によって検出された２次電流
Ｉ2 により散りが発生したか否かがＣＰＵ５８に判定さ
れる（ステップＳ１０）。
【００３７】散りが発生しないと判定されたとき、波形
修正回路７６によって波形生成パラメータ記憶回路６８
から読み出された修正電流値ΔＩH が溶接電流の高電流
値Ｉ H に加算され（ＩH ←ＩH ＋ΔＩH ）（ステップＳ
１１）、この加算によって得られた高電流値ＩH が、溶
接トランス回路２６の供給可能な最大値ＩMAX 以下か否
かがＣＰＵ５８によって判定される（ステップＳ１
２）。
修正回路７６によって波形生成パラメータ記憶回路６８
から読み出された修正電流値ΔＩH が溶接電流の高電流
値Ｉ H に加算され（ＩH ←ＩH ＋ΔＩH ）（ステップＳ
１１）、この加算によって得られた高電流値ＩH が、溶
接トランス回路２６の供給可能な最大値ＩMAX 以下か否
かがＣＰＵ５８によって判定される（ステップＳ１
２）。
【００３８】前記判定の結果、ＩH ≦ＩMAX であれば、
加算によって得られた高電流値ＩHを溶接トランス回路
２６が供給し得ると判定され、この新溶接電流波形がス
テップＳ９において次に溶接されるワークＷ(i+2) の溶
接点Ｐ(i+2)1を溶接する際の新溶接電流波形として用い
られる。
加算によって得られた高電流値ＩHを溶接トランス回路
２６が供給し得ると判定され、この新溶接電流波形がス
テップＳ９において次に溶接されるワークＷ(i+2) の溶
接点Ｐ(i+2)1を溶接する際の新溶接電流波形として用い
られる。
【００３９】前記ステップＳ１２の判定の結果、ＩH ≦
ＩMAX ではないとき、ＣＰＵ５８は電極チップ４２、４
３が劣化してワークＷとの接触抵抗が増加して、加算に
よって得られた高電流値ＩH が、溶接トランス回路２６
が供給し得る最大値ＩMAX を越えたと判定し、電極チッ
プ４２、４３の研削（チップドレス）指示の信号をディ
スプレイ装置３８に対して出力して（ステップＳ１
３）、このフローチャートの実行を終了する。
ＩMAX ではないとき、ＣＰＵ５８は電極チップ４２、４
３が劣化してワークＷとの接触抵抗が増加して、加算に
よって得られた高電流値ＩH が、溶接トランス回路２６
が供給し得る最大値ＩMAX を越えたと判定し、電極チッ
プ４２、４３の研削（チップドレス）指示の信号をディ
スプレイ装置３８に対して出力して（ステップＳ１
３）、このフローチャートの実行を終了する。
【００４０】一方、ステップＳ１０の判定で散りが発生
したとき、溶接電流の高電流値ＩHが高いとＣＰＵ５８
に判定され、波形修正回路７６によって溶接電流の高電
流値ＩH から修正電流値ΔＩH が減算される（ＩH ←Ｉ
H −ΔＩH ）（ステップＳ１４）。
したとき、溶接電流の高電流値ＩHが高いとＣＰＵ５８
に判定され、波形修正回路７６によって溶接電流の高電
流値ＩH から修正電流値ΔＩH が減算される（ＩH ←Ｉ
H −ΔＩH ）（ステップＳ１４）。
【００４１】次いで、ＣＰＵ５８は前記減算によって得
られた高電流値ＩH 、高電流通電時間ｔH 、低電流値Ｉ
L および通電時間ｔ1 に基づいて平均値ＩA を演算し、
この平均値ＩA が前記ステップＳ７で得られた散り発生
限界電流値ＩS より大であるか否かを判定する（ステッ
プＳ１５）。
られた高電流値ＩH 、高電流通電時間ｔH 、低電流値Ｉ
L および通電時間ｔ1 に基づいて平均値ＩA を演算し、
この平均値ＩA が前記ステップＳ７で得られた散り発生
限界電流値ＩS より大であるか否かを判定する（ステッ
プＳ１５）。
【００４２】この判定の結果、ＩA ≧ＩS であれば、前
記減算によって得られた高電流値Ｉ H を含む新溶接電流
波形に基づいた溶接電流の通電で良質なナゲットを成長
させることができるとＣＰＵ５８に判定され、この波形
が、ステップＳ９において次に溶接されるワークＷ
(i+3) の溶接点Ｐ(i+3)1を溶接する際の新溶接電流波形
として用いられる。
記減算によって得られた高電流値Ｉ H を含む新溶接電流
波形に基づいた溶接電流の通電で良質なナゲットを成長
させることができるとＣＰＵ５８に判定され、この波形
が、ステップＳ９において次に溶接されるワークＷ
(i+3) の溶接点Ｐ(i+3)1を溶接する際の新溶接電流波形
として用いられる。
【００４３】前記ステップＳ１５において、ＩA ≧ＩS
ではないとき、ナゲットを充分に成長させることができ
ない、すなわち、充分な剪断引っ張り強さが得られない
とＣＰＵ５８に判定され、高電流値ＩH の通電開始時刻
が所定時刻ｔ1 シフトされた波形が波形修正回路７６に
よって生成される（ステップＳ１６）。
ではないとき、ナゲットを充分に成長させることができ
ない、すなわち、充分な剪断引っ張り強さが得られない
とＣＰＵ５８に判定され、高電流値ＩH の通電開始時刻
が所定時刻ｔ1 シフトされた波形が波形修正回路７６に
よって生成される（ステップＳ１６）。
【００４４】次いで、高電流値ＩH の通電開始時刻がシ
フト可能な限界に達したか否かが判定され（ステップＳ
１７）、限界に達しない場合はステップＳ９において前
記シフトされた波形に基づいた溶接電流がワークＷに供
給され、一方、通電開始時刻がシフト可能な限界に達し
た場合は、ステップＳ１に戻り、再び、溶接電流波形記
憶回路７４に記憶された基準方形状波形に基づいた電流
の通電が実行され、ステップＳ７の実行によって新たな
散り発生限界電流値ＩS が求められる。
フト可能な限界に達したか否かが判定され（ステップＳ
１７）、限界に達しない場合はステップＳ９において前
記シフトされた波形に基づいた溶接電流がワークＷに供
給され、一方、通電開始時刻がシフト可能な限界に達し
た場合は、ステップＳ１に戻り、再び、溶接電流波形記
憶回路７４に記憶された基準方形状波形に基づいた電流
の通電が実行され、ステップＳ７の実行によって新たな
散り発生限界電流値ＩS が求められる。
【００４５】このように、ステップＳ８〜Ｓ１７が繰り
返し実行され、高電流値ＩH と低電流値ＩL とからなる
新溶接電流波形に基づいて生成された溶接電流がワーク
Ｗに供給され、散り発生が抑止され、且つ高品質のナゲ
ットが得られる。
返し実行され、高電流値ＩH と低電流値ＩL とからなる
新溶接電流波形に基づいて生成された溶接電流がワーク
Ｗに供給され、散り発生が抑止され、且つ高品質のナゲ
ットが得られる。
【００４６】以上説明したように、本実施例ではワーク
Ｗ1 の夫々の溶接点Ｐ11〜Ｐ1Nが順次溶接され、次にワ
ークＷ2 の夫々の溶接点Ｐ21〜Ｐ2n、…ワークＷn の夫
々の溶接点Ｐn1〜Ｐnnと順次溶接されるとき、夫々のワ
ークＷ1 、ワークＷ2 、…ワークＷn における同一部位
の溶接点、例えば、溶接点Ｐ11、Ｐ21、…Ｐn1に通電さ
れる溶接電流の波形は、同一部位の溶接点を溶接した際
に修正された波形に基づいて通電される。
Ｗ1 の夫々の溶接点Ｐ11〜Ｐ1Nが順次溶接され、次にワ
ークＷ2 の夫々の溶接点Ｐ21〜Ｐ2n、…ワークＷn の夫
々の溶接点Ｐn1〜Ｐnnと順次溶接されるとき、夫々のワ
ークＷ1 、ワークＷ2 、…ワークＷn における同一部位
の溶接点、例えば、溶接点Ｐ11、Ｐ21、…Ｐn1に通電さ
れる溶接電流の波形は、同一部位の溶接点を溶接した際
に修正された波形に基づいて通電される。
【００４７】従って、ワークＷにおける夫々の溶接点
が、ワークＷの重ね枚数、端部若しくは中央部等のワー
クＷにおける溶接点の部位、溶接点間のピッチ、溶接さ
れるワークＷの厚さ、および溶接されるワークＷの材質
等、溶接点毎に溶接電流の通電条件が異なる場合であっ
ても、夫々の溶接点は通電条件が同一である他のワーク
Ｗの同一部位を溶接した際に修正された夫々の新溶接電
流波形に基づいた溶接電流の通電によって溶接すること
ができる。
が、ワークＷの重ね枚数、端部若しくは中央部等のワー
クＷにおける溶接点の部位、溶接点間のピッチ、溶接さ
れるワークＷの厚さ、および溶接されるワークＷの材質
等、溶接点毎に溶接電流の通電条件が異なる場合であっ
ても、夫々の溶接点は通電条件が同一である他のワーク
Ｗの同一部位を溶接した際に修正された夫々の新溶接電
流波形に基づいた溶接電流の通電によって溶接すること
ができる。
【００４８】なお、本実施例では散り発生の有無を２次
電流Ｉ2 によって検出したが、１次電流Ｉ1 によっても
２次電流Ｉ2 と同様に散り発生の有無を検出することが
できる。
電流Ｉ2 によって検出したが、１次電流Ｉ1 によっても
２次電流Ｉ2 と同様に散り発生の有無を検出することが
できる。
【００４９】
【発明の効果】本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制御
方法および装置では、複数の溶接点を有する同一形状の
ワークをワーク毎に順次溶接するとき、夫々の溶接点
は、他のワークの同一部位の溶接によって高電流値が修
正された波形の溶接電流で溶接されるため、溶接点毎に
溶接電流の通電条件が異なる場合であっても夫々の溶接
点には最適な溶接電流が供給され、安定した形状のナゲ
ットを生成することができる。
方法および装置では、複数の溶接点を有する同一形状の
ワークをワーク毎に順次溶接するとき、夫々の溶接点
は、他のワークの同一部位の溶接によって高電流値が修
正された波形の溶接電流で溶接されるため、溶接点毎に
溶接電流の通電条件が異なる場合であっても夫々の溶接
点には最適な溶接電流が供給され、安定した形状のナゲ
ットを生成することができる。
【００５０】さらに、高電流値と低電流値とを有する波
形の高電流値を散り発生状態に基づいて修正することに
より、高い溶接強度を安定して得ることができるという
効果を奏する。
形の高電流値を散り発生状態に基づいて修正することに
より、高い溶接強度を安定して得ることができるという
効果を奏する。
【図１】本発明を実施する抵抗溶接機の全体構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】図１の抵抗溶接機における溶接コントローラの
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図３】図１の抵抗溶接機において、同一形状のワーク
の同一部位の溶接点を溶接する方法を説明するフローチ
ャトである。
の同一部位の溶接点を溶接する方法を説明するフローチ
ャトである。
【図４】図１の抵抗溶接機において、同一形状のワーク
の同一部位の溶接点を溶接する方法を説明するフローチ
ャトである。
の同一部位の溶接点を溶接する方法を説明するフローチ
ャトである。
【図５】図１の抵抗溶接機において、連続的に搬送され
る同一形状の夫々のワークを説明する図である。
る同一形状の夫々のワークを説明する図である。
【図６】図１の抵抗溶接機において、ワークに通電され
る方形状波形の溶接電流を説明する図である。
る方形状波形の溶接電流を説明する図である。
【図７】図１の抵抗溶接機において、ワークに通電され
る高電流値と低電流値とからなる波形の溶接電流を説明
する図である。
る高電流値と低電流値とからなる波形の溶接電流を説明
する図である。
２０…抵抗溶接機 ２４…インバー
タ回路 ２６…溶接トランス回路 ２８…溶接ガン
部 ３０…溶接コントローラ ３４…２次電流
検出器 ４０、４１…可動ガンアーム ４２、４３…電
極チップ ５０、５２…Ａ／Ｄ変換回路 ５４…検出電流
選択回路 ５５…散り検出回路 ５６…溶接条件
記憶回路 ５８…ＣＰＵ ６４…ＲＯＭ ６６…ＲＡＭ ６８…波形生成
パラメータ記憶回路 ７０…散り発生限界電流値演算回路 ７４…溶接電流
波形記憶回路 ７６…波形修正回路
タ回路 ２６…溶接トランス回路 ２８…溶接ガン
部 ３０…溶接コントローラ ３４…２次電流
検出器 ４０、４１…可動ガンアーム ４２、４３…電
極チップ ５０、５２…Ａ／Ｄ変換回路 ５４…検出電流
選択回路 ５５…散り検出回路 ５６…溶接条件
記憶回路 ５８…ＣＰＵ ６４…ＲＯＭ ６６…ＲＡＭ ６８…波形生成
パラメータ記憶回路 ７０…散り発生限界電流値演算回路 ７４…溶接電流
波形記憶回路 ７６…波形修正回路
Claims (2)
- 【請求項１】複数の溶接点を有する同一形状のワーク
を、ワーク毎に順次溶接する抵抗溶接機の溶接電流制御
方法において、 予め記憶された波形の溶接電流を前記ワークの所定の溶
接点に供給して、溶接時における散り発生の有無を検出
し、当該散り発生の有無に基づいて前記溶接電流の波形
を修正する第１のステップと、 前記修正された波形に基づいて散り発生限界電流値を求
める第２のステップと、 前記散り発生限界電流値に基づいて、前記散り発生限界
電流値より大なる高電流値と前記散り発生限界電流値よ
り小なる低電流値からなる新たな溶接電流波形を生成す
る第３のステップと、 前記新たな溶接電流波形の溶接電流を前記ワークの所定
の溶接点と同一部位の他のワークの溶接点に供給し、溶
接時における散り発生の有無を検出する第４のステップ
と、 前記第４のステップで検出された散り発生の有無に基づ
いて前記新たな溶接電流波形の前記高電流値を修正し
て、この修正された波形に基づいて生成された溶接電流
を同一形状のワークの同一部位の溶接点に供給する第５
のステップと、 からなることを特徴とする抵抗溶接機の溶接電流制御方
法。 - 【請求項２】複数の溶接点を有する同一形状のワーク
を、ワーク毎に順次溶接する抵抗溶接機の溶接電流制御
装置において、 予め記憶された波形の溶接電流が前記ワークの所定の溶
接点に供給され、溶接時に検出された散り発生の有無に
よって修正された前記波形に基づいて散り発生限界電流
値を求める散り発生限界電流値演算手段と、 前記散り発生限界電流値に基づいて、前記散り発生限界
電流値より大なる高電流値と前記散り発生限界電流値よ
り小なる低電流値とからなる新たな溶接電流波形を生成
する溶接電流波形生成手段と、 前記新たな溶接電流波形に基づいた溶接電流を前記ワー
クの所定の溶接点と同一部位の他のワークの溶接点に供
給する溶接電流供給手段と、 前記溶接電流供給手段によってワークに供給された溶接
電流による散り発生の有無を検出する散り発生検出手段
と、 前記検出された散り発生の有無に基づいて前記新たな溶
接電流波形の前記高電流値を修正する波形修正手段と、 を備え、前記修正された新たな溶接電流波形に基づいて
生成された溶接電流を同一形状のワークの同一部位の溶
接点に供給することを特徴とする抵抗溶接機の溶接電流
制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24318893A JP2756403B2 (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24318893A JP2756403B2 (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0796375A JPH0796375A (ja) | 1995-04-11 |
| JP2756403B2 true JP2756403B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=17100141
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24318893A Expired - Fee Related JP2756403B2 (ja) | 1993-09-29 | 1993-09-29 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2756403B2 (ja) |
-
1993
- 1993-09-29 JP JP24318893A patent/JP2756403B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0796375A (ja) | 1995-04-11 |
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