JPH05337655A - 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 - Google Patents
抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置Info
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- JPH05337655A JPH05337655A JP14727692A JP14727692A JPH05337655A JP H05337655 A JPH05337655 A JP H05337655A JP 14727692 A JP14727692 A JP 14727692A JP 14727692 A JP14727692 A JP 14727692A JP H05337655 A JPH05337655 A JP H05337655A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】抵抗溶接において、安定し、且つ高い溶接強度
を得ることのできる抵抗溶接機の溶接電流制御方法およ
び装置を提供することを目的とする。 【構成】初期値記憶回路に記憶された初期データに従っ
てＣＰＵは方形状波形の溶接電流の指令値を出力すると
ともに、２次側電流検出器等を介して電極チップ間に通
電される溶接電流を検出し、該溶接電流から散り発生限
界電流値演算回路に散り発生限界電流値を演算させる。
次いで、予め通電パターン記憶回路に記憶された複数の
階段状波形の通電パターンから、前記散り発生限界電流
値に基づいて、所定の通電パターンを選択し、この通電
パターンに則った溶接電流の指令値を出力するととも
に、散り発生の有無を検出し、該検出結果に基づいて、
前記通電パターンを再選択する。
を得ることのできる抵抗溶接機の溶接電流制御方法およ
び装置を提供することを目的とする。 【構成】初期値記憶回路に記憶された初期データに従っ
てＣＰＵは方形状波形の溶接電流の指令値を出力すると
ともに、２次側電流検出器等を介して電極チップ間に通
電される溶接電流を検出し、該溶接電流から散り発生限
界電流値演算回路に散り発生限界電流値を演算させる。
次いで、予め通電パターン記憶回路に記憶された複数の
階段状波形の通電パターンから、前記散り発生限界電流
値に基づいて、所定の通電パターンを選択し、この通電
パターンに則った溶接電流の指令値を出力するととも
に、散り発生の有無を検出し、該検出結果に基づいて、
前記通電パターンを再選択する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は抵抗溶接機の溶接電流制
御方法および装置に関し、一層詳細には、散りの発生状
況により、溶接電流を散り発生限界値付近に制御する抵
抗溶接機の溶接電流制御方法および装置に関する。
御方法および装置に関し、一層詳細には、散りの発生状
況により、溶接電流を散り発生限界値付近に制御する抵
抗溶接機の溶接電流制御方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】産業界においては、種々のワークを溶接
するために、抵抗溶接装置が広範に用いられているが、
この種の抵抗溶接装置は溶接電流値、加圧力、および通
電時間を制御することによって溶接品質の管理が行われ
ている。
するために、抵抗溶接装置が広範に用いられているが、
この種の抵抗溶接装置は溶接電流値、加圧力、および通
電時間を制御することによって溶接品質の管理が行われ
ている。
【０００３】前記溶接電流値は散り発生限界電流値以内
で、且つ、散り発生限界電流値付近が最適な値であっ
て、この溶接電流値によって溶接が行われると、最高の
溶接強度（剪断引っ張り強度）となることが知られてい
る。
で、且つ、散り発生限界電流値付近が最適な値であっ
て、この溶接電流値によって溶接が行われると、最高の
溶接強度（剪断引っ張り強度）となることが知られてい
る。
【０００４】しかし、複数のポイントを連続的に溶接を
すると、電極チップの劣化等によって溶接条件が変化
し、散り発生限界電流値が変動するため、前記散り発生
限界溶接電流値を正確に把握することが困難である。
すると、電極チップの劣化等によって溶接条件が変化
し、散り発生限界電流値が変動するため、前記散り発生
限界溶接電流値を正確に把握することが困難である。
【０００５】この場合、溶接電流の不足は著しい溶接強
度の低下を招くとともに発見しずらいが、溶接電流の過
剰な通電により散りが発生した場合は、ＲＷＭＡ（米国
抵抗溶接機製造者協会）規格のＢ級またはＣ級程度の溶
接強度が得られるため、溶接現場では散り発生限界電流
値に予め設定された電流値を加算して通電し、ワークに
散りを発生させていた。
度の低下を招くとともに発見しずらいが、溶接電流の過
剰な通電により散りが発生した場合は、ＲＷＭＡ（米国
抵抗溶接機製造者協会）規格のＢ級またはＣ級程度の溶
接強度が得られるため、溶接現場では散り発生限界電流
値に予め設定された電流値を加算して通電し、ワークに
散りを発生させていた。
【０００６】さらに、連続的に溶接することによって電
極チップが劣化して、電極チップとワークとの接触抵抗
が増加し、散り発生限界電流値が上昇することによって
散りが発生しなくなった場合は、オペレータがマニュア
ル操作によって溶接電流を上昇させ、被溶接ワークに散
りを発生させていた。
極チップが劣化して、電極チップとワークとの接触抵抗
が増加し、散り発生限界電流値が上昇することによって
散りが発生しなくなった場合は、オペレータがマニュア
ル操作によって溶接電流を上昇させ、被溶接ワークに散
りを発生させていた。
【０００７】ところで、前記溶接電流を制御して、安定
した溶接強度を得ようとする技術的思想が特公昭５８−
４３１９２号の「スポット溶接法」に開示されている。
した溶接強度を得ようとする技術的思想が特公昭５８−
４３１９２号の「スポット溶接法」に開示されている。
【０００８】上記の従来技術における「スポット溶接
法」では、散り発生限界以上の初期電流を流し、ナゲッ
ト生成後は散り発生限界以下の電流値に下げるものであ
り、この方法によって、安定した溶接強度を得るもので
ある。
法」では、散り発生限界以上の初期電流を流し、ナゲッ
ト生成後は散り発生限界以下の電流値に下げるものであ
り、この方法によって、安定した溶接強度を得るもので
ある。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術における「スポット溶接法」では、安定した溶
接強度が得られるものの、溶接強度の値としては満足す
ることができないという問題がある。
従来技術における「スポット溶接法」では、安定した溶
接強度が得られるものの、溶接強度の値としては満足す
ることができないという問題がある。
【００１０】本発明はこのような従来の問題を解決する
ためになされたものであって、抵抗溶接において、安定
し、且つ高い溶接強度を得ることのできる抵抗溶接機の
溶接電流制御方法および装置を提供することを目的とす
る。
ためになされたものであって、抵抗溶接において、安定
し、且つ高い溶接強度を得ることのできる抵抗溶接機の
溶接電流制御方法および装置を提供することを目的とす
る。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明は、所定の溶接電流を電極チップ間に
供給して複数のポイントを連続的に溶接し、前記電極チ
ップ間の電流を検出して散り発生限界溶接電流値を求め
る第１のステップと、少なくとも前記散り発生限界溶接
電流値より大なる第１の溶接電流値と、前記散り発生限
界溶接電流値より小なる第２の溶接電流値とからなる複
数種類の通電パターンを設定する第２のステップと、前
記散り発生限界溶接電流値に基づいて前記第２のステッ
プで設定された溶接電流の通電パターンを選択する第３
のステップと、前記選択された通電パターンの溶接電流
を電極チップ間に供給して、溶接時における前記電極チ
ップ間の電流を検出し、散り発生の有無を検出する第４
のステップと、前記第４のステップで検出された散り発
生の有無に基づき、前記設定された第１または第２の溶
接電流値からなる新たな通電パターンを選択する第５の
ステップと、からなることを特徴とする。
めに、第１の発明は、所定の溶接電流を電極チップ間に
供給して複数のポイントを連続的に溶接し、前記電極チ
ップ間の電流を検出して散り発生限界溶接電流値を求め
る第１のステップと、少なくとも前記散り発生限界溶接
電流値より大なる第１の溶接電流値と、前記散り発生限
界溶接電流値より小なる第２の溶接電流値とからなる複
数種類の通電パターンを設定する第２のステップと、前
記散り発生限界溶接電流値に基づいて前記第２のステッ
プで設定された溶接電流の通電パターンを選択する第３
のステップと、前記選択された通電パターンの溶接電流
を電極チップ間に供給して、溶接時における前記電極チ
ップ間の電流を検出し、散り発生の有無を検出する第４
のステップと、前記第４のステップで検出された散り発
生の有無に基づき、前記設定された第１または第２の溶
接電流値からなる新たな通電パターンを選択する第５の
ステップと、からなることを特徴とする。
【００１２】さらに、第２の発明は、所定の溶接電流を
電極チップ間に供給するための初期データを記憶する初
期データ記憶手段と、電極チップ間に通電される溶接電
流を検出する溶接電流検出手段と、前記検出された溶接
電流から散り発生限界溶接電流値を求める散り発生限界
溶接電流値演算手段と、少なくとも前記散り発生限界溶
接電流値より大なる第１の溶接電流値と前記散り発生限
界溶接電流値より小なる第２の溶接電流値とからなる複
数種類の通電パターンを記憶する通電パターン記憶手段
と、初期データに基づいて通電された電極チップ間の溶
接電流を前記溶接電流検出手段から読み取り前記散り発
生限界溶接電流値演算手段に散り発生限界溶接電流値を
演算させ、当該散り発生限界溶接電流値に基づいて前記
通電パターンを選択し、該通電パターンにより通電され
る溶接電流を前記溶接電流検出手段から読み取り散り発
生の有無を検出し、前記検出された散り発生の有無デー
タに基づいて前記通電パターン記憶回路に記憶される新
たな通電パターンを選択する制御回路と、を備えること
を特徴とする。
電極チップ間に供給するための初期データを記憶する初
期データ記憶手段と、電極チップ間に通電される溶接電
流を検出する溶接電流検出手段と、前記検出された溶接
電流から散り発生限界溶接電流値を求める散り発生限界
溶接電流値演算手段と、少なくとも前記散り発生限界溶
接電流値より大なる第１の溶接電流値と前記散り発生限
界溶接電流値より小なる第２の溶接電流値とからなる複
数種類の通電パターンを記憶する通電パターン記憶手段
と、初期データに基づいて通電された電極チップ間の溶
接電流を前記溶接電流検出手段から読み取り前記散り発
生限界溶接電流値演算手段に散り発生限界溶接電流値を
演算させ、当該散り発生限界溶接電流値に基づいて前記
通電パターンを選択し、該通電パターンにより通電され
る溶接電流を前記溶接電流検出手段から読み取り散り発
生の有無を検出し、前記検出された散り発生の有無デー
タに基づいて前記通電パターン記憶回路に記憶される新
たな通電パターンを選択する制御回路と、を備えること
を特徴とする。
【００１３】
【作用】本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制御方法お
よび装置では、制御手段は初期データに基づいて通電さ
れた電極チップ間の溶接電流を溶接電流検出手段を介し
て読み取り、散り発生限界溶接電流値演算手段に散り発
生限界溶接電流値を演算させる。
よび装置では、制御手段は初期データに基づいて通電さ
れた電極チップ間の溶接電流を溶接電流検出手段を介し
て読み取り、散り発生限界溶接電流値演算手段に散り発
生限界溶接電流値を演算させる。
【００１４】次いで、制御手段は前記散り発生限界溶接
電流値に基づいて通電パターン記憶回路から通電パター
ンを選択し、該通電パターンにより通電される溶接電流
を前記溶接電流検出手段を介して読み取ることにより散
り発生の有無を検出し、当該散り発生の有無データに基
づいて前記通電パターン記憶回路に記憶される新たな通
電パターンを選択する。
電流値に基づいて通電パターン記憶回路から通電パター
ンを選択し、該通電パターンにより通電される溶接電流
を前記溶接電流検出手段を介して読み取ることにより散
り発生の有無を検出し、当該散り発生の有無データに基
づいて前記通電パターン記憶回路に記憶される新たな通
電パターンを選択する。
【００１５】従って、散り発生の有無データに基づいて
選択された最適な通電パターンの溶接電流が電極チップ
間に通電される。
選択された最適な通電パターンの溶接電流が電極チップ
間に通電される。
【００１６】
【実施例】次に、本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制
御方法について、それを実施する装置との関係におい
て、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
御方法について、それを実施する装置との関係におい
て、好適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
【００１７】図１は本発明を実施するインバータ式直流
抵抗溶接装置２０の全体構成を示すブロック図である。
抵抗溶接装置２０の全体構成を示すブロック図である。
【００１８】インバータ式直流抵抗溶接装置２０は交流
電源２１から出力される交流を全波整流するコンバータ
回路２２と、全波整流された直流を高周波交流に変換す
るインバータ回路２４と、前記高周波交流を変成し整流
する溶接トランス回路２６と、ワークＷを挟持する溶接
ガン部２８と、ワークＷに通電される溶接電流を制御す
る制御回路３０とを備える。
電源２１から出力される交流を全波整流するコンバータ
回路２２と、全波整流された直流を高周波交流に変換す
るインバータ回路２４と、前記高周波交流を変成し整流
する溶接トランス回路２６と、ワークＷを挟持する溶接
ガン部２８と、ワークＷに通電される溶接電流を制御す
る制御回路３０とを備える。
【００１９】さらに、インバータ式直流抵抗溶接装置２
０は、溶接トランス回路２６の１次側の溶接電流（以
下、１次側電流値という）Ｉ1 を検出するトロイダルコ
イルからなる１次側電流検出器３２と、溶接トランス回
路２６の２次側の溶接電流（以下、２次側電流値とい
う）Ｉ2 を検出する２次側電流検出器３４と、制御回路
３０に溶接条件等を入力するためのキーボード３６と、
表示手段としてのディスプレイ装置であるＣＲＴ３８
と、外部記憶手段であるＦＤＤ３９とを備える。
０は、溶接トランス回路２６の１次側の溶接電流（以
下、１次側電流値という）Ｉ1 を検出するトロイダルコ
イルからなる１次側電流検出器３２と、溶接トランス回
路２６の２次側の溶接電流（以下、２次側電流値とい
う）Ｉ2 を検出する２次側電流検出器３４と、制御回路
３０に溶接条件等を入力するためのキーボード３６と、
表示手段としてのディスプレイ装置であるＣＲＴ３８
と、外部記憶手段であるＦＤＤ３９とを備える。
【００２０】前記溶接ガン部２８はワークＷを挟持する
可動ガンアーム４０、４１と、この可動ガンアーム４
０、４１に固着される電極チップ４２、４３と、前記可
動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ
４４とからなり、該シリンダ４４には電磁切替弁４６を
介して空圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４６の
切替動作は前記制御回路３０によって制御される。
可動ガンアーム４０、４１と、この可動ガンアーム４
０、４１に固着される電極チップ４２、４３と、前記可
動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ
４４とからなり、該シリンダ４４には電磁切替弁４６を
介して空圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４６の
切替動作は前記制御回路３０によって制御される。
【００２１】図２は制御回路３０の構成を示すブロック
図である。
図である。
【００２２】制御回路３０は前記１次側電流検出器３２
から出力される１次側電流値Ｉ1 をデジタル値に変換す
るアナログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換回路
５０と、２次側電流検出器３４から出力される２次側電
流値Ｉ2 をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路５２
と、前記Ａ／Ｄ変換回路５０から出力される１次側電流
値Ｉ1 、または前記Ａ／Ｄ変換回路５２から出力される
２次側電流値Ｉ2 のいずれか一方を選択する検出電流選
択回路５４と、溶接に係る初期値が記憶される初期値記
憶回路５６とを備える。
から出力される１次側電流値Ｉ1 をデジタル値に変換す
るアナログ／デジタル（以下、Ａ／Ｄという）変換回路
５０と、２次側電流検出器３４から出力される２次側電
流値Ｉ2 をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換回路５２
と、前記Ａ／Ｄ変換回路５０から出力される１次側電流
値Ｉ1 、または前記Ａ／Ｄ変換回路５２から出力される
２次側電流値Ｉ2 のいずれか一方を選択する検出電流選
択回路５４と、溶接に係る初期値が記憶される初期値記
憶回路５６とを備える。
【００２３】さらに、制御回路３０は前記検出電流選択
回路５４、および後述するインタフェース回路（以下、
Ｉ／Ｆという）７２等を制御するとともに、前記初期値
記憶回路５６から溶接に係る初期値を読み出すＣＰＵ５
８と、このＣＰＵ５８から出力される溶接電流の指令値
Ｉcmd をアナログ値に変換するデジタル／アナログ（以
下、Ｄ／Ａという）変換回路６０と、該Ｄ／Ａ変換回路
６０から出力される信号に基づいたデューティのパルス
を生成するパルス幅変調（以下、ＰＷＭという）回路６
２を備え、このＰＷＭ回路６２は前記インバータ回路２
４を付勢する。
回路５４、および後述するインタフェース回路（以下、
Ｉ／Ｆという）７２等を制御するとともに、前記初期値
記憶回路５６から溶接に係る初期値を読み出すＣＰＵ５
８と、このＣＰＵ５８から出力される溶接電流の指令値
Ｉcmd をアナログ値に変換するデジタル／アナログ（以
下、Ｄ／Ａという）変換回路６０と、該Ｄ／Ａ変換回路
６０から出力される信号に基づいたデューティのパルス
を生成するパルス幅変調（以下、ＰＷＭという）回路６
２を備え、このＰＷＭ回路６２は前記インバータ回路２
４を付勢する。
【００２４】さらにまた、制御回路３０は前記ＣＰＵ５
８が前記夫々の回路を制御するための制御プログラム、
および制御に用いられる設定値を記憶するＲＯＭ６４
と、前記ＣＰＵ５８が制御中に演算結果を一次的に記憶
するＲＡＭ６６と、溶接電流の通電パターンを記憶する
通電パターン記憶回路６８と、通電される溶接電流の散
り発生限界電流値を演算する散り発生限界電流値演算回
路７０と、キーボード３６、ＣＲＴ３８、ＦＤＤ３９お
よび電磁切替弁４６のＩ／Ｆ７２とを備える。
８が前記夫々の回路を制御するための制御プログラム、
および制御に用いられる設定値を記憶するＲＯＭ６４
と、前記ＣＰＵ５８が制御中に演算結果を一次的に記憶
するＲＡＭ６６と、溶接電流の通電パターンを記憶する
通電パターン記憶回路６８と、通電される溶接電流の散
り発生限界電流値を演算する散り発生限界電流値演算回
路７０と、キーボード３６、ＣＲＴ３８、ＦＤＤ３９お
よび電磁切替弁４６のＩ／Ｆ７２とを備える。
【００２５】図３にＰＷＭ回路６２のブロック構成を示
す。
す。
【００２６】ＰＷＭ回路６２は同期パルスを生成するパ
ルス発生回路７４と、この同期パルスに同期して三角波
を生成する三角波発生回路７６と、前記三角波とＤ／Ａ
変換回路６０から出力される溶接電流の指令値Ｉcmd と
を比較して、この比較結果に応じたパルスを出力する比
較回路７８と、パルス発生回路７４から出力される同期
パルスに同期して前記比較回路７８から出力されるパル
ス列をドライブ回路８０、８１、８２、８３に振り分け
るパルス制御回路８４とを含む。
ルス発生回路７４と、この同期パルスに同期して三角波
を生成する三角波発生回路７６と、前記三角波とＤ／Ａ
変換回路６０から出力される溶接電流の指令値Ｉcmd と
を比較して、この比較結果に応じたパルスを出力する比
較回路７８と、パルス発生回路７４から出力される同期
パルスに同期して前記比較回路７８から出力されるパル
ス列をドライブ回路８０、８１、８２、８３に振り分け
るパルス制御回路８４とを含む。
【００２７】前記ドライブ回路８０〜８３は、前記イン
バータ回路２４を構成する図示しないトランジスタのベ
ースを付勢する。
バータ回路２４を構成する図示しないトランジスタのベ
ースを付勢する。
【００２８】以上のように構成されるインバータ式直流
抵抗溶接装置２０において、複数のポイントを連続的に
溶接する作用について、図１乃至図９を参照しながら説
明する。
抵抗溶接装置２０において、複数のポイントを連続的に
溶接する作用について、図１乃至図９を参照しながら説
明する。
【００２９】先ず、ワークＷに発生する散りを、例え
ば、２次側電流値Ｉ2 によって検出することを示すデー
タがオペレータによってキーボード３６から入力される
と（ステップＳ１）、このデータはＩ／Ｆ７２を経由し
てＣＰＵ５８に入力され、ＣＰＵ５８は２次側電流値Ｉ
2 を検出するための制御信号を検出電流選択回路５４に
出力する。
ば、２次側電流値Ｉ2 によって検出することを示すデー
タがオペレータによってキーボード３６から入力される
と（ステップＳ１）、このデータはＩ／Ｆ７２を経由し
てＣＰＵ５８に入力され、ＣＰＵ５８は２次側電流値Ｉ
2 を検出するための制御信号を検出電流選択回路５４に
出力する。
【００３０】次いで、オペレータによってキーボード３
６から設定された溶接のための初期値、例えば、溶接ト
ランス回路２６が供給することができる最大供給電流値
ＩMA X 、電極チップ４２および４３がワークＷを挟持す
る加圧力Ｐ、通電される溶接電流が方形状波形であるこ
とを示すデータ、前記方形状波形の実効電流値ＩN 、前
記実効電流値ＩN を補正する際の補正量ΔＩN 、溶接電
流の通電時間ｔ、複数のポイントを連続して溶接する場
合に散りが連続して発生したか否かを判定するための設
定値Ｎ1 、および複数のポイントを連続して溶接する場
合に散りが連続して発生しなかったか否かを判定するた
めの設定値Ｎ2 がＩ／Ｆ７２を介してＣＰＵ５８に読み
取られ、初期値記憶回路５６に記憶される。
６から設定された溶接のための初期値、例えば、溶接ト
ランス回路２６が供給することができる最大供給電流値
ＩMA X 、電極チップ４２および４３がワークＷを挟持す
る加圧力Ｐ、通電される溶接電流が方形状波形であるこ
とを示すデータ、前記方形状波形の実効電流値ＩN 、前
記実効電流値ＩN を補正する際の補正量ΔＩN 、溶接電
流の通電時間ｔ、複数のポイントを連続して溶接する場
合に散りが連続して発生したか否かを判定するための設
定値Ｎ1 、および複数のポイントを連続して溶接する場
合に散りが連続して発生しなかったか否かを判定するた
めの設定値Ｎ2 がＩ／Ｆ７２を介してＣＰＵ５８に読み
取られ、初期値記憶回路５６に記憶される。
【００３１】ＣＰＵ５８は前記初期値記憶回路５６から
読み出した加圧力Ｐのデータに基づいて、Ｉ／Ｆ７２を
介して電磁切替弁４６を付勢し、電極チップ４２および
４３にワークＷを挟持させるとともに、溶接電流の実効
電流値ＩN と通電時間ｔとを読み出し、これらのデータ
から方形状波形である溶接電流の指令値Ｉcmd をＤ／Ａ
変換回路６０に出力する。Ｄ／Ａ変換回路６０は前記指
令値Ｉcmd をアナログ指令値Ｉf に変換し、ＰＷＭ回路
６２に出力する。このアナログ指令値Ｉf はＰＷＭ回路
６２でパルス幅変調され、インバータ回路２４、溶接ト
ランス回路２６を介してワークＷに通電される（図７
参照）（ステップＳ２）。
読み出した加圧力Ｐのデータに基づいて、Ｉ／Ｆ７２を
介して電磁切替弁４６を付勢し、電極チップ４２および
４３にワークＷを挟持させるとともに、溶接電流の実効
電流値ＩN と通電時間ｔとを読み出し、これらのデータ
から方形状波形である溶接電流の指令値Ｉcmd をＤ／Ａ
変換回路６０に出力する。Ｄ／Ａ変換回路６０は前記指
令値Ｉcmd をアナログ指令値Ｉf に変換し、ＰＷＭ回路
６２に出力する。このアナログ指令値Ｉf はＰＷＭ回路
６２でパルス幅変調され、インバータ回路２４、溶接ト
ランス回路２６を介してワークＷに通電される（図７
参照）（ステップＳ２）。
【００３２】前記アナログ指令値Ｉf がＰＷＭ回路６２
でパルス幅変調される作用について、図３に示すＰＷＭ
回路６２のブロック構成図、および図４のタイミングチ
ャートを参照しながら説明する。
でパルス幅変調される作用について、図３に示すＰＷＭ
回路６２のブロック構成図、および図４のタイミングチ
ャートを参照しながら説明する。
【００３３】Ｄ／Ａ変換回路６０から出力されるアナロ
グ指令値Ｉf はＰＷＭ回路６２を構成する比較回路７８
の一方の入力端子に入力される（図４（Ａ）、図３参
照）。一方、ＰＷＭ回路６２の三角波発生回路７６はパ
ルス発生回路７４から出力されるパルスに同期して三角
波を生成し（図４（Ｂ））、この三角波を比較回路７８
の他方の入力端子に出力する。
グ指令値Ｉf はＰＷＭ回路６２を構成する比較回路７８
の一方の入力端子に入力される（図４（Ａ）、図３参
照）。一方、ＰＷＭ回路６２の三角波発生回路７６はパ
ルス発生回路７４から出力されるパルスに同期して三角
波を生成し（図４（Ｂ））、この三角波を比較回路７８
の他方の入力端子に出力する。
【００３４】ここで、比較回路７８は前記三角波と、前
記Ｄ／Ａ変換回路６０から出力されるアナログ指令値Ｉ
f とを比較し（図４（Ｃ））、三角波よりアナログ指令
値Ｉ f が大である期間だけ、出力端子にＨＩＧＨ（Ｈ）
レベルの信号を出力する（図４（Ｄ）参照）。
記Ｄ／Ａ変換回路６０から出力されるアナログ指令値Ｉ
f とを比較し（図４（Ｃ））、三角波よりアナログ指令
値Ｉ f が大である期間だけ、出力端子にＨＩＧＨ（Ｈ）
レベルの信号を出力する（図４（Ｄ）参照）。
【００３５】前記比較回路７８から出力されるパルス列
は、パルス制御回路８４に入力され、パルス制御回路８
４はパルス発生回路７４から出力される信号に同期して
前記パルス列をドライブ回路８０〜８３に分配する。こ
れらのドライブ回路８０〜８３がインバータ回路２４の
スイッチング素子である図示しない複数のトランジスタ
のべースを夫々駆動することにより、インバータ回路２
４から溶接電流が出力され、この溶接電流は溶接トラン
ス回路２６、溶接ガン部２８の可動ガンアーム４０、４
１および電極チップ４２、４３を介してワークＷに通電
されて、溶接がなされる。
は、パルス制御回路８４に入力され、パルス制御回路８
４はパルス発生回路７４から出力される信号に同期して
前記パルス列をドライブ回路８０〜８３に分配する。こ
れらのドライブ回路８０〜８３がインバータ回路２４の
スイッチング素子である図示しない複数のトランジスタ
のべースを夫々駆動することにより、インバータ回路２
４から溶接電流が出力され、この溶接電流は溶接トラン
ス回路２６、溶接ガン部２８の可動ガンアーム４０、４
１および電極チップ４２、４３を介してワークＷに通電
されて、溶接がなされる。
【００３６】このとき、ＣＰＵ５８は２次側電流検出器
３４に検出された２次側電流値Ｉ2をＡ／Ｄ変換回路５
２および検出電流選択回路５４を介して読み取り、散り
が発生したか否かを判定し（ステップＳ３）、散りが発
生したと判定された場合は、散りの連続発生数が予め設
定された設定値Ｎ1 に達したか否かを判定する（ステッ
プＳ４）。
３４に検出された２次側電流値Ｉ2をＡ／Ｄ変換回路５
２および検出電流選択回路５４を介して読み取り、散り
が発生したか否かを判定し（ステップＳ３）、散りが発
生したと判定された場合は、散りの連続発生数が予め設
定された設定値Ｎ1 に達したか否かを判定する（ステッ
プＳ４）。
【００３７】前記判定の結果、散りの連続発生数が設定
値Ｎ1 に達した場合は、溶接電流の実効電流値ＩN が高
いと判定し、この判定が初回であれば演算式（ＩN ←Ｉ
N −ｎ×ΔＩN ）のｎに１を代入して、溶接電流の実効
電流値ＩN から初期に設定された補正量ΔＩN を減ずる
（ＩN ←ＩN −１×ΔＩN ）（ステップＳ５）。 次い
で、ステップＳ２に戻り、前記演算によって得られた実
効電流値ＩN によって、次なるポイントに溶接電流の通
電を行う（図７参照）。
値Ｎ1 に達した場合は、溶接電流の実効電流値ＩN が高
いと判定し、この判定が初回であれば演算式（ＩN ←Ｉ
N −ｎ×ΔＩN ）のｎに１を代入して、溶接電流の実効
電流値ＩN から初期に設定された補正量ΔＩN を減ずる
（ＩN ←ＩN −１×ΔＩN ）（ステップＳ５）。 次い
で、ステップＳ２に戻り、前記演算によって得られた実
効電流値ＩN によって、次なるポイントに溶接電流の通
電を行う（図７参照）。
【００３８】一方、前記ステップＳ３において、散りが
発生しないと判定された場合は、連続して発生しなかっ
た数値が設定値Ｎ2 に達したか否かを判定し（ステップ
Ｓ６）、設定値Ｎ2 に達している場合は、実効電流値Ｉ
N が低いと判定する。
発生しないと判定された場合は、連続して発生しなかっ
た数値が設定値Ｎ2 に達したか否かを判定し（ステップ
Ｓ６）、設定値Ｎ2 に達している場合は、実効電流値Ｉ
N が低いと判定する。
【００３９】この判定が初回であれば演算式（ＩN ←Ｉ
N ＋ｎ×ΔＩN ）のｎに１を代入して、溶接電流の実効
電流値ＩN に初期設定された補正量ΔＩN を加算し（Ｉ
N ←ＩN ＋１×ΔＩN ）（ステップＳ７）、この演算に
よって得られた実効電流値Ｉ N が、溶接トランス回路２
６の供給可能な最大供給電流値ＩMAX 以下か否かを判定
して（ステップＳ８）、ＩN ≦ＩMAX であれば、溶接ト
ランス回路２６は演算された実効電流値ＩN を供給し得
ると判定し、この演算によって得られた実効電流値ＩN
を次なるポイントを溶接するための実効電流値ＩN と
し、ステップＳ２において、次なるポイントの通電を行
う（図７参照）。
N ＋ｎ×ΔＩN ）のｎに１を代入して、溶接電流の実効
電流値ＩN に初期設定された補正量ΔＩN を加算し（Ｉ
N ←ＩN ＋１×ΔＩN ）（ステップＳ７）、この演算に
よって得られた実効電流値Ｉ N が、溶接トランス回路２
６の供給可能な最大供給電流値ＩMAX 以下か否かを判定
して（ステップＳ８）、ＩN ≦ＩMAX であれば、溶接ト
ランス回路２６は演算された実効電流値ＩN を供給し得
ると判定し、この演算によって得られた実効電流値ＩN
を次なるポイントを溶接するための実効電流値ＩN と
し、ステップＳ２において、次なるポイントの通電を行
う（図７参照）。
【００４０】前記ステップＳ８の判定結果がＩN ≦Ｉ
MAX でなければ、電極チップ４２、４３が劣化してワー
クＷとの接触抵抗が増加したため、演算された実効電流
値ＩNが溶接トランス回路２６の最大供給電流値ＩMAX
以上となったと判定し、電極チップ４２、４３の研削
（ドレス）を行う指示をＣＲＴ３８に表示して（ステッ
プＳ９）、この溶接作業を終了する。この後、ステップ
Ｓ１から溶接作業を繰り返す。
MAX でなければ、電極チップ４２、４３が劣化してワー
クＷとの接触抵抗が増加したため、演算された実効電流
値ＩNが溶接トランス回路２６の最大供給電流値ＩMAX
以上となったと判定し、電極チップ４２、４３の研削
（ドレス）を行う指示をＣＲＴ３８に表示して（ステッ
プＳ９）、この溶接作業を終了する。この後、ステップ
Ｓ１から溶接作業を繰り返す。
【００４１】前記ステップＳ４における判定の結果、散
りの連続発生数が設定値Ｎ1 に達していない場合、若し
くは、ステップＳ６における判定の結果、散りが連続し
て発生しない数値が設定値Ｎ2 に達していない場合に、
散り発生限界電流値演算回路７０は実効電流値ＩN にお
ける溶接電流の散り発生限界電流値ＩS1を演算によって
求める（ステップＳ１０）。
りの連続発生数が設定値Ｎ1 に達していない場合、若し
くは、ステップＳ６における判定の結果、散りが連続し
て発生しない数値が設定値Ｎ2 に達していない場合に、
散り発生限界電流値演算回路７０は実効電流値ＩN にお
ける溶接電流の散り発生限界電流値ＩS1を演算によって
求める（ステップＳ１０）。
【００４２】この演算結果は実効電流値ＩN を一定とし
た方形状波形の溶接電流で溶接を行った場合の散り発生
限界電流値ＩS1となる。
た方形状波形の溶接電流で溶接を行った場合の散り発生
限界電流値ＩS1となる。
【００４３】次いで、ＣＰＵ５８は通電パターン記憶回
路６８から２段階の階段状波形の通電パターンを読み出
す（ステップＳ１１）。この読み出された通電パターン
の低電流値ＩL1は、ステップＳ１０で演算によって求め
られた散り発生限界電流値Ｉ S1より予め設定された値Ｗ
1 、例えば、２００（Ａ）乃至４００（Ａ）だけ低く、
また、読み出された通電パターンの実効値ＩA1は前記散
り発生限界電流値ＩS1より予め設定された値Ｗ2 、例え
ば、３００（Ａ）乃至５００（Ａ）だけ高い値に設定さ
れている（図８参照）。
路６８から２段階の階段状波形の通電パターンを読み出
す（ステップＳ１１）。この読み出された通電パターン
の低電流値ＩL1は、ステップＳ１０で演算によって求め
られた散り発生限界電流値Ｉ S1より予め設定された値Ｗ
1 、例えば、２００（Ａ）乃至４００（Ａ）だけ低く、
また、読み出された通電パターンの実効値ＩA1は前記散
り発生限界電流値ＩS1より予め設定された値Ｗ2 、例え
ば、３００（Ａ）乃至５００（Ａ）だけ高い値に設定さ
れている（図８参照）。
【００４４】前記通電パターン記憶回路６８に記憶され
る複数の通電パターンの一実施例を図９に示す。
る複数の通電パターンの一実施例を図９に示す。
【００４５】前記読み出された通電パターンによって、
実効値ＩA1の溶接電流がワークＷに通電され（ステップ
Ｓ１２）、ＣＰＵ５８は２次側電流検出器３４等を介し
て２次側電流値Ｉ2 を読み取り、散りが発生したか否か
を判定する（ステップＳ１３）。散りが発生した場合
は、散りの連続発生数が予め設定された設定値Ｎ3 に達
したか否かを判定して（ステップＳ１４）、散りの連続
発生数が設定値Ｎ3 に達しない場合は、電極チップ４
２、４３とワークＷとの間に塵等が混入することにより
発生した一過性の散りと判定して、ステップＳ１２に戻
り、同一の通電パターンによる溶接電流を通電する。
実効値ＩA1の溶接電流がワークＷに通電され（ステップ
Ｓ１２）、ＣＰＵ５８は２次側電流検出器３４等を介し
て２次側電流値Ｉ2 を読み取り、散りが発生したか否か
を判定する（ステップＳ１３）。散りが発生した場合
は、散りの連続発生数が予め設定された設定値Ｎ3 に達
したか否かを判定して（ステップＳ１４）、散りの連続
発生数が設定値Ｎ3 に達しない場合は、電極チップ４
２、４３とワークＷとの間に塵等が混入することにより
発生した一過性の散りと判定して、ステップＳ１２に戻
り、同一の通電パターンによる溶接電流を通電する。
【００４６】前記ステップＳ１４において、散りの連続
発生数が設定値Ｎ3 に達した場合は、溶接電流が過剰で
あると判定して、前記通電パターンより低い実効値ＩA2
の通電パターンが記憶されているか否かを判定し（ステ
ップＳ１５）、記憶されていれば、これを選択して（ス
テップＳ１６）、ステップＳ１０に戻り、前記選択され
た新たな通電パターンによって通電する。
発生数が設定値Ｎ3 に達した場合は、溶接電流が過剰で
あると判定して、前記通電パターンより低い実効値ＩA2
の通電パターンが記憶されているか否かを判定し（ステ
ップＳ１５）、記憶されていれば、これを選択して（ス
テップＳ１６）、ステップＳ１０に戻り、前記選択され
た新たな通電パターンによって通電する。
【００４７】また、前記ステップＳ１５において、全て
の通電パターンが既に選択されて、実行されていた場合
は、ステップＳ２に戻り、方形状波形による通電を再び
実行し、新たな散り発生限界電流値ＩS1を求める。
の通電パターンが既に選択されて、実行されていた場合
は、ステップＳ２に戻り、方形状波形による通電を再び
実行し、新たな散り発生限界電流値ＩS1を求める。
【００４８】一方、前記ステップＳ１３において、散り
が発生しないと判定された場合は、連続して発生しなか
った数値が設定値Ｎ4 に達したか否かを判定し（ステッ
プＳ１７）、連続して散りが発生しなかった数値が設定
値Ｎ4 に達するまで、同一の通電パターンによる通電を
実行する。また、連続して発生しなかった数値が設定値
Ｎ4 に達した場合はステップＳ２に戻り、方形状波形に
よる通電を再び実行し、新たな散り発生限界電流値ＩS1
を求める。
が発生しないと判定された場合は、連続して発生しなか
った数値が設定値Ｎ4 に達したか否かを判定し（ステッ
プＳ１７）、連続して散りが発生しなかった数値が設定
値Ｎ4 に達するまで、同一の通電パターンによる通電を
実行する。また、連続して発生しなかった数値が設定値
Ｎ4 に達した場合はステップＳ２に戻り、方形状波形に
よる通電を再び実行し、新たな散り発生限界電流値ＩS1
を求める。
【００４９】以上説明したように、複数のポイントを連
続して溶接する場合に、方形状波形の通電によって散り
発生限界電流値ＩS1を求め、この散り発生限界電流値Ｉ
S1に基づいて予め通電パターン記憶回路６８に設定され
た複数の通電パターンから所定の通電パターンを選択す
る。次いで、選択された通電パターンによって溶接電流
を通電し、この通電によって発生する散りの状態によっ
て、通電パターン記憶回路６８から新たな通電パターン
を選択する。
続して溶接する場合に、方形状波形の通電によって散り
発生限界電流値ＩS1を求め、この散り発生限界電流値Ｉ
S1に基づいて予め通電パターン記憶回路６８に設定され
た複数の通電パターンから所定の通電パターンを選択す
る。次いで、選択された通電パターンによって溶接電流
を通電し、この通電によって発生する散りの状態によっ
て、通電パターン記憶回路６８から新たな通電パターン
を選択する。
【００５０】このとき、選択される通電パターンの実効
値ＩA1〜ＩAnは方形状波形の通電によって得られた散り
発生限界電流値ＩS1、すなわち、方形状波形の実効値Ｉ
A より高く設定されたものであるが、階段状波形である
ため散りを発生することがない。
値ＩA1〜ＩAnは方形状波形の通電によって得られた散り
発生限界電流値ＩS1、すなわち、方形状波形の実効値Ｉ
A より高く設定されたものであるが、階段状波形である
ため散りを発生することがない。
【００５１】さらに、方形状波形の溶接電流の実効値Ｉ
A より高い実効値の溶接電流によって溶接が行われるた
め、溶接強度を向上することができる。
A より高い実効値の溶接電流によって溶接が行われるた
め、溶接強度を向上することができる。
【００５２】また、本実施例はインバータ式抵抗溶接装
置について説明したが、他の溶接装置、例えば、シーム
スポットウエルダ、およびプロジェクション溶接装置等
においても同様に実施することができる。
置について説明したが、他の溶接装置、例えば、シーム
スポットウエルダ、およびプロジェクション溶接装置等
においても同様に実施することができる。
【００５３】
【発明の効果】本発明に係る抵抗溶接機の溶接電流制御
方法および装置では、散り発生の有無データに基づいて
選択された最適な通電パターンの溶接電流が電極チップ
間に通電されるため、最適なナゲットを形成することが
可能となり、高い溶接強度を得ることができる。
方法および装置では、散り発生の有無データに基づいて
選択された最適な通電パターンの溶接電流が電極チップ
間に通電されるため、最適なナゲットを形成することが
可能となり、高い溶接強度を得ることができる。
【００５４】さらに、複数のポイントを連続して溶接を
するとき、散りが発生する直前の実効値となるように、
常時、通電パターンを選択するため、複数のポイントを
連続的に溶接して、散り発生限界溶接電流値が変動した
場合であっても、常に安定した形状のナゲットを形成す
ることが可能となり、安定し、且つ高い溶接強度を得る
ことができるという効果を奏する。
するとき、散りが発生する直前の実効値となるように、
常時、通電パターンを選択するため、複数のポイントを
連続的に溶接して、散り発生限界溶接電流値が変動した
場合であっても、常に安定した形状のナゲットを形成す
ることが可能となり、安定し、且つ高い溶接強度を得る
ことができるという効果を奏する。
【図１】本発明を実施するインバータ式直流抵抗溶接装
置の全体構成を示すブロック図である。
置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示す実施例の制御回路の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】図２に示す制御回路のＰＷＭ回路の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図４】図３に示すＰＷＭ回路の動作を説明するタイミ
ングチャートである。
ングチャートである。
【図５】図１に示す実施例の動作を示すフローチャトで
ある。
ある。
【図６】図１に示す実施例の動作を示すフローチャトで
ある。
ある。
【図７】図１に示す実施例において、ワークに通電され
る方形状の溶接電流波形を説明する図である。
る方形状の溶接電流波形を説明する図である。
【図８】図１に示す実施例において、ワークに通電され
る階段状の溶接電流波形を説明する図である。
る階段状の溶接電流波形を説明する図である。
【図９】図１に示す実施例において、通電パターン記憶
回路に記憶される通電パターンの種類を説明する図であ
る。
回路に記憶される通電パターンの種類を説明する図であ
る。
２０…インバータ式直流抵抗溶接装置 ２４…インバータ回路 ２６…溶接トランス回路 ２８…溶接ガン部 ３０…制御回路 ３２、３４…電流検出器 ３６…キーボード ４０、４１…可動ガンアーム ４２、４３…電極チップ ５０、５２…Ａ／Ｄ変換回路 ５４…検出電流選択回路 ５６…初期値記憶回路 ５８…ＣＰＵ ６０…Ｄ／Ａ変換回路 ６２…ＰＷＭ回路 ６４…ＲＯＭ ６６…ＲＡＭ ６８…通電パターン記憶回路 ７０…散り発生限界電流値演算回路
Claims (4)
- 【請求項１】所定の溶接電流を電極チップ間に供給して
複数のポイントを連続的に溶接し、前記電極チップ間の
電流を検出して散り発生限界溶接電流値を求める第１の
ステップと、 少なくとも前記散り発生限界溶接電流値より大なる第１
の溶接電流値と、前記散り発生限界溶接電流値より小な
る第２の溶接電流値とからなる複数種類の通電パターン
を設定する第２のステップと、 前記散り発生限界溶接電流値に基づいて前記第２のステ
ップで設定された溶接電流の通電パターンを選択する第
３のステップと、 前記選択された通電パターンの溶接電流を電極チップ間
に供給して、溶接時における前記電極チップ間の電流を
検出し、散り発生の有無を検出する第４のステップと、 前記第４のステップで検出された散り発生の有無に基づ
き、前記設定された第１または第２の溶接電流値からな
る新たな通電パターンを選択する第５のステップと、 からなることを特徴とする抵抗溶接機の溶接電流制御方
法。 - 【請求項２】請求項１記載の方法において、前記第３の
ステップで選択される通電パターンの実効値は、第１の
ステップで検出される散り発生限界溶接電流値よりも大
きい値であることを特徴とする抵抗溶接機の溶接電流制
御方法。 - 【請求項３】請求項１記載の方法において、前記第５の
ステップで選択される通電パターンは、散り発生ありと
判定された場合に、第１の溶接電流値が減少された通電
パターンであり、散り発生なしと判定された場合に、第
１の溶接電流値が増加された通電パターンであることを
特徴とする抵抗溶接機の溶接電流制御方法。 - 【請求項４】所定の溶接電流を電極チップ間に供給する
ための初期データを記憶する初期データ記憶手段と、 電極チップ間に通電される溶接電流を検出する溶接電流
検出手段と、 前記検出された溶接電流から散り発生限界溶接電流値を
求める散り発生限界溶接電流値演算手段と、 少なくとも前記散り発生限界溶接電流値より大なる第１
の溶接電流値と前記散り発生限界溶接電流値より小なる
第２の溶接電流値とからなる複数種類の通電パターンを
記憶する通電パターン記憶手段と、 初期データに基づいて通電された電極チップ間の溶接電
流を前記溶接電流検出手段から読み取り前記散り発生限
界溶接電流値演算手段に散り発生限界溶接電流値を演算
させ、当該散り発生限界溶接電流値に基づいて前記通電
パターンを選択し、該通電パターンにより通電される溶
接電流を前記溶接電流検出手段から読み取り散り発生の
有無を検出し、前記検出された散り発生の有無データに
基づいて前記通電パターン記憶回路に記憶される新たな
通電パターンを選択する制御回路と、 を備えることを特徴とする抵抗溶接機の溶接電流制御装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14727692A JPH05337655A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14727692A JPH05337655A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05337655A true JPH05337655A (ja) | 1993-12-21 |
Family
ID=15426553
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14727692A Pending JPH05337655A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 抵抗溶接機の溶接電流制御方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05337655A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5587091A (en) * | 1994-04-20 | 1996-12-24 | Nippondenso Co., Ltd. | Method and apparatus for controlling resistance welding |
| EP0780186A3 (en) * | 1995-12-21 | 1998-01-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Control apparatus for resistance welding machine |
| KR100263587B1 (ko) * | 1997-06-04 | 2000-08-01 | 김덕중 | 동 저항값을 이용한 점용접기의 전류 제어장치 및 방법 |
| KR100322345B1 (ko) * | 1999-06-14 | 2002-02-07 | 이준웅 | 점 용접기의 용접 전류 결정 방법 및 장치 |
| EP3290146A4 (en) * | 2015-04-27 | 2018-05-16 | JFE Steel Corporation | Resistance spot welding method |
-
1992
- 1992-06-08 JP JP14727692A patent/JPH05337655A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5587091A (en) * | 1994-04-20 | 1996-12-24 | Nippondenso Co., Ltd. | Method and apparatus for controlling resistance welding |
| DE19514687B4 (de) * | 1994-04-20 | 2007-04-26 | Denso Corp., Kariya | Verfahren zur Regelung des Widerstandsschweißens |
| EP0780186A3 (en) * | 1995-12-21 | 1998-01-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Control apparatus for resistance welding machine |
| US5892197A (en) * | 1995-12-21 | 1999-04-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Control apparatus for resistance welding machine |
| KR100263587B1 (ko) * | 1997-06-04 | 2000-08-01 | 김덕중 | 동 저항값을 이용한 점용접기의 전류 제어장치 및 방법 |
| KR100322345B1 (ko) * | 1999-06-14 | 2002-02-07 | 이준웅 | 점 용접기의 용접 전류 결정 방법 및 장치 |
| EP3290146A4 (en) * | 2015-04-27 | 2018-05-16 | JFE Steel Corporation | Resistance spot welding method |
| US10773334B2 (en) | 2015-04-27 | 2020-09-15 | Jfe Steel Corporation | Resistance spot welding method |
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