JPH06269955A - 直流抵抗溶接機の溶接方法 - Google Patents
直流抵抗溶接機の溶接方法Info
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- JPH06269955A JPH06269955A JP5750793A JP5750793A JPH06269955A JP H06269955 A JPH06269955 A JP H06269955A JP 5750793 A JP5750793 A JP 5750793A JP 5750793 A JP5750793 A JP 5750793A JP H06269955 A JPH06269955 A JP H06269955A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】連続的に溶接するとき、散りの発生を可及的に
抑止するとともに、高い溶接強度が安定して得られる直
流抵抗溶接機の溶接方法を提供する。 【構成】方形パターンの溶接電流で溶接して求めた散り
発生限界電流値に基づいて高電流と低電流とからなる階
段状パターンを生成する（ステップＳ２）。前記階段状
パターンの溶接電流で溶接し、高電流を増減して新たな
階段状パターンを生成し（ステップＳ３）、さらに、高
電流の発生タイミングが異なる複数の階段状パターンを
生成する（ステップＳ５）。次いで、前記階段状パター
ンの溶接電流が通電され、散り発生の有無に基づいて発
生タイミングが異なる階段状パターンのいずれかが選択
され、選択された階段状パターンの溶接電流が通電され
て連続的に溶接される（ステップＳ６）。
抑止するとともに、高い溶接強度が安定して得られる直
流抵抗溶接機の溶接方法を提供する。 【構成】方形パターンの溶接電流で溶接して求めた散り
発生限界電流値に基づいて高電流と低電流とからなる階
段状パターンを生成する（ステップＳ２）。前記階段状
パターンの溶接電流で溶接し、高電流を増減して新たな
階段状パターンを生成し（ステップＳ３）、さらに、高
電流の発生タイミングが異なる複数の階段状パターンを
生成する（ステップＳ５）。次いで、前記階段状パター
ンの溶接電流が通電され、散り発生の有無に基づいて発
生タイミングが異なる階段状パターンのいずれかが選択
され、選択された階段状パターンの溶接電流が通電され
て連続的に溶接される（ステップＳ６）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、直流抵抗溶接機の溶接
方法に関し、一層詳細には、階段状波形の溶接電流によ
って複数の溶接ポイントを連続的に溶接する直流抵抗溶
接機の溶接方法に関する。
方法に関し、一層詳細には、階段状波形の溶接電流によ
って複数の溶接ポイントを連続的に溶接する直流抵抗溶
接機の溶接方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、種々のワークを溶接するために、
直流抵抗溶接機が広範に用いられている。直流抵抗溶接
機を用いた溶接方法では、ガンアームがワークを挟持す
る際の加圧力、ワークに通電される溶接電流値、溶接電
流の通電時間および溶接電流波形によって溶接強度が管
理される。
直流抵抗溶接機が広範に用いられている。直流抵抗溶接
機を用いた溶接方法では、ガンアームがワークを挟持す
る際の加圧力、ワークに通電される溶接電流値、溶接電
流の通電時間および溶接電流波形によって溶接強度が管
理される。
【０００３】一方、溶接電流の通電波形を制御して、散
りの発生を抑止するとともに、安定した溶接強度を得よ
うとする技術的思想が特公昭５８−４３１９２号の「ス
ポット溶接法」に開示されている。この「スポット溶接
法」は、溶接電流通電時間の初期において散り発生限界
電流値以上の溶接電流を通電し、電極間電圧がピークを
通過したとき散り発生限界電流値以下の溶接電流を通電
する、いわゆる、階段状パターンの溶接電流によって溶
接するものである。
りの発生を抑止するとともに、安定した溶接強度を得よ
うとする技術的思想が特公昭５８−４３１９２号の「ス
ポット溶接法」に開示されている。この「スポット溶接
法」は、溶接電流通電時間の初期において散り発生限界
電流値以上の溶接電流を通電し、電極間電圧がピークを
通過したとき散り発生限界電流値以下の溶接電流を通電
する、いわゆる、階段状パターンの溶接電流によって溶
接するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来技術における溶接方法では、設定された値の溶接電
流によって複数の溶接ポイントを連続的に溶接すると、
ワークを挟持する電極チップの先端部が磨耗し、その結
果、溶接電流が不足して溶接強度が低下するという不都
合がある。
従来技術における溶接方法では、設定された値の溶接電
流によって複数の溶接ポイントを連続的に溶接すると、
ワークを挟持する電極チップの先端部が磨耗し、その結
果、溶接電流が不足して溶接強度が低下するという不都
合がある。
【０００５】一方、上記「スポット溶接法」では、階段
状パターンの溶接電流を通電して溶接することによって
安定した溶接強度が得られるものの、平均電流値が低い
場合は溶接強度の不足を招き、平均電流値が高い場合は
散りが発生するとともに溶接強度が低下するという問題
がある。
状パターンの溶接電流を通電して溶接することによって
安定した溶接強度が得られるものの、平均電流値が低い
場合は溶接強度の不足を招き、平均電流値が高い場合は
散りが発生するとともに溶接強度が低下するという問題
がある。
【０００６】本発明はこのような従来の問題を解決する
ためになされたものであって、複数の溶接ポイントを連
続的に溶接するとき、散りの発生を可及的に抑止すると
ともに、高い溶接強度が安定して得られる直流抵抗溶接
機の溶接方法を提供することを目的とする。
ためになされたものであって、複数の溶接ポイントを連
続的に溶接するとき、散りの発生を可及的に抑止すると
ともに、高い溶接強度が安定して得られる直流抵抗溶接
機の溶接方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、第１の発明は、溶接電流によって複数の溶接ポイ
ントを連続的に溶接する溶接方法であって、方形パター
ンの溶接電流をワークに通電して溶接し、散り発生の有
無に基づいて前記方形パターンの最大値を増減して方形
パターンにおける散り発生限界電流値を求める第１のス
テップと、前記散り発生限界電流値より大なる平均電流
値であって、且つ前記散り発生限界電流値より予め設定
された値だけ小なる第１溶接電流値と前記散り発生限界
電流値より大なる第２溶接電流値とからなる第１階段状
パターンを生成する第２のステップと、前記第１階段状
パターンの溶接電流を通電して溶接し、散り発生の有無
に基づいて前記第１階段状パターンの第２溶接電流値を
増減して第２階段状パターンを生成する第３のステップ
と、前記第３のステップによって生成された第２階段状
パターンの溶接電流をワークに通電して連続的に溶接す
る第４のステップと、からなることを特徴とする。
めに、第１の発明は、溶接電流によって複数の溶接ポイ
ントを連続的に溶接する溶接方法であって、方形パター
ンの溶接電流をワークに通電して溶接し、散り発生の有
無に基づいて前記方形パターンの最大値を増減して方形
パターンにおける散り発生限界電流値を求める第１のス
テップと、前記散り発生限界電流値より大なる平均電流
値であって、且つ前記散り発生限界電流値より予め設定
された値だけ小なる第１溶接電流値と前記散り発生限界
電流値より大なる第２溶接電流値とからなる第１階段状
パターンを生成する第２のステップと、前記第１階段状
パターンの溶接電流を通電して溶接し、散り発生の有無
に基づいて前記第１階段状パターンの第２溶接電流値を
増減して第２階段状パターンを生成する第３のステップ
と、前記第３のステップによって生成された第２階段状
パターンの溶接電流をワークに通電して連続的に溶接す
る第４のステップと、からなることを特徴とする。
【０００８】さらに、第２の発明は、溶接電流によって
複数の溶接ポイントを連続的に溶接する溶接方法であっ
て、方形パターンの溶接電流をワークに通電して溶接
し、散り発生の有無に基づいて前記方形パターンの最大
値を増減して方形パターンにおける散り発生限界電流値
を求める第１のステップと、前記散り発生限界電流値よ
り大なる平均電流値であって、且つ前記散り発生限界電
流値より予め設定された値だけ小なる第１溶接電流値と
前記散り発生限界電流値より大なる第２溶接電流値とか
らなる第１階段状パターンを生成する第２のステップ
と、前記第１階段状パターンの溶接電流を通電して溶接
し、散り発生の有無に基づいて前記第１階段状パターン
の第２溶接電流値を増減して第２階段状パターンを生成
する第３のステップと、前記第３のステップによって生
成された第２階段状パターンの溶接電流をワークに通電
して溶接し、散り発生の有無に基づいて各溶接ポイント
における第２溶接電流値の発生タイミングを溶接電流通
電時間内においてシフトした階段状パターンの溶接電流
によって連続的に溶接する第４のステップと、からなる
ことを特徴とする。
複数の溶接ポイントを連続的に溶接する溶接方法であっ
て、方形パターンの溶接電流をワークに通電して溶接
し、散り発生の有無に基づいて前記方形パターンの最大
値を増減して方形パターンにおける散り発生限界電流値
を求める第１のステップと、前記散り発生限界電流値よ
り大なる平均電流値であって、且つ前記散り発生限界電
流値より予め設定された値だけ小なる第１溶接電流値と
前記散り発生限界電流値より大なる第２溶接電流値とか
らなる第１階段状パターンを生成する第２のステップ
と、前記第１階段状パターンの溶接電流を通電して溶接
し、散り発生の有無に基づいて前記第１階段状パターン
の第２溶接電流値を増減して第２階段状パターンを生成
する第３のステップと、前記第３のステップによって生
成された第２階段状パターンの溶接電流をワークに通電
して溶接し、散り発生の有無に基づいて各溶接ポイント
における第２溶接電流値の発生タイミングを溶接電流通
電時間内においてシフトした階段状パターンの溶接電流
によって連続的に溶接する第４のステップと、からなる
ことを特徴とする。
【０００９】
【作用】本発明に係る直流抵抗溶接機の溶接方法では、
方形パターンの溶接電流をワークに通電して溶接し、散
り発生の有無に基づいて方形パターンの最大値を増減
し、方形パターンにおける散り発生限界電流値を求め、
当該散り発生限界電流値より大なる平均電流値であっ
て、且つ前記散り発生限界電流値より予め設定された値
だけ小なる第１溶接電流値と前記散り発生限界電流値よ
り大なる第２溶接電流値とからなる第１階段状パターン
を生成する。
方形パターンの溶接電流をワークに通電して溶接し、散
り発生の有無に基づいて方形パターンの最大値を増減
し、方形パターンにおける散り発生限界電流値を求め、
当該散り発生限界電流値より大なる平均電流値であっ
て、且つ前記散り発生限界電流値より予め設定された値
だけ小なる第１溶接電流値と前記散り発生限界電流値よ
り大なる第２溶接電流値とからなる第１階段状パターン
を生成する。
【００１０】次いで、前記第１階段状パターンの溶接電
流をワークに通電して溶接し、散り発生の有無に基づい
て第２溶接電流値を増減して最適な第２溶接電流値の第
２階段状パターンを生成する。そして、当該第２階段状
パターンの溶接電流をワークに通電して溶接し、次に、
散り発生の有無に基づいて各溶接ポイントにおける第２
溶接電流値の発生タイミングを溶接電流通電時間内にお
いてシフトした階段状パターンの溶接電流によって連続
的に溶接する。
流をワークに通電して溶接し、散り発生の有無に基づい
て第２溶接電流値を増減して最適な第２溶接電流値の第
２階段状パターンを生成する。そして、当該第２階段状
パターンの溶接電流をワークに通電して溶接し、次に、
散り発生の有無に基づいて各溶接ポイントにおける第２
溶接電流値の発生タイミングを溶接電流通電時間内にお
いてシフトした階段状パターンの溶接電流によって連続
的に溶接する。
【００１１】このため、第２溶接電流値が最適であっ
て、且つ第２溶接電流値の発生タイミングが最適な階段
状パターンの溶接電流によって連続的に溶接することが
できる。
て、且つ第２溶接電流値の発生タイミングが最適な階段
状パターンの溶接電流によって連続的に溶接することが
できる。
【００１２】
【実施例】次に、本発明に係る直流抵抗溶接機の溶接方
法について、それを実施する装置との関係において、好
適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細
に説明する。
法について、それを実施する装置との関係において、好
適な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細
に説明する。
【００１３】図１は本発明を実施するインバータ式直流
抵抗溶接機２０の全体構成を示すブロック図である。
抵抗溶接機２０の全体構成を示すブロック図である。
【００１４】インバータ式直流抵抗溶接機２０は、交流
電源２１から出力される交流を全波整流するコンバータ
回路２２と、コンバータ回路２２から出力される直流を
高周波交流に変換するインバータ回路２４と、前記高周
波交流を変成し整流する溶接トランス回路２６と、ワー
クＷを挟持する溶接ガン部２８と、ワークＷに通電され
る溶接電流ＩW を制御する溶接コントローラ３０とを備
える。
電源２１から出力される交流を全波整流するコンバータ
回路２２と、コンバータ回路２２から出力される直流を
高周波交流に変換するインバータ回路２４と、前記高周
波交流を変成し整流する溶接トランス回路２６と、ワー
クＷを挟持する溶接ガン部２８と、ワークＷに通電され
る溶接電流ＩW を制御する溶接コントローラ３０とを備
える。
【００１５】さらに、インバータ式直流抵抗溶接機２０
は、溶接トランス回路２６の１次側の電流（以下、１次
電流という）Ｉ1 を検出するトロイダルコイルからなる
１次側電流検出器３２と、溶接トランス回路２６の２次
側の電流（以下、２次電流という）Ｉ2 を検出する２次
側電流検出器３４と、溶接コントローラ３０に溶接条件
等を入力するためのキーボード３６と、表示手段として
のディスプレイ装置であるＣＲＴ３８と、外部記憶手段
であるフロッピディスクにデータを書き込みまたは読み
出すフロッピディスクドライバ（以下、ＦＤＤという）
３９とを備える。
は、溶接トランス回路２６の１次側の電流（以下、１次
電流という）Ｉ1 を検出するトロイダルコイルからなる
１次側電流検出器３２と、溶接トランス回路２６の２次
側の電流（以下、２次電流という）Ｉ2 を検出する２次
側電流検出器３４と、溶接コントローラ３０に溶接条件
等を入力するためのキーボード３６と、表示手段として
のディスプレイ装置であるＣＲＴ３８と、外部記憶手段
であるフロッピディスクにデータを書き込みまたは読み
出すフロッピディスクドライバ（以下、ＦＤＤという）
３９とを備える。
【００１６】前記溶接ガン部２８はワークＷを挟持する
可動ガンアーム４０、４１と、この可動ガンアーム４
０、４１に固着される電極チップ４２、４３と、前記可
動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ
４４とからなり、このシリンダ４４には電磁切替弁４６
を介して空気圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４
６の切替動作は前記溶接コントローラ３０によって制御
され、溶接コントローラ３０はマイクロコンピュータに
よって構成される。
可動ガンアーム４０、４１と、この可動ガンアーム４
０、４１に固着される電極チップ４２、４３と、前記可
動ガンアーム４０、４１を開閉自在に駆動するシリンダ
４４とからなり、このシリンダ４４には電磁切替弁４６
を介して空気圧源４８が接続される。前記電磁切替弁４
６の切替動作は前記溶接コントローラ３０によって制御
され、溶接コントローラ３０はマイクロコンピュータに
よって構成される。
【００１７】以上のように構成されるインバータ式直流
抵抗溶接機２０で階段状パターンを生成し、この階段状
パターンの溶接電流ＩW によって溶接する方法について
図２のメインフローチャートを参照しながら説明する。
抵抗溶接機２０で階段状パターンを生成し、この階段状
パターンの溶接電流ＩW によって溶接する方法について
図２のメインフローチャートを参照しながら説明する。
【００１８】予め設定された方形パターンの溶接電流Ｉ
W をワークＷに通電して溶接し、この溶接における散り
発生の有無に基づいて方形パターンの最大電流値ＩM1を
増減して方形パターンにおける散り発生限界電流値ＩS1
を求める（ステップＳ１）。
W をワークＷに通電して溶接し、この溶接における散り
発生の有無に基づいて方形パターンの最大電流値ＩM1を
増減して方形パターンにおける散り発生限界電流値ＩS1
を求める（ステップＳ１）。
【００１９】次いで、前記散り発生限界電流値ＩS1より
大なる平均電流ＩA であって、且つ散り発生限界電流値
ＩS1より予め設定された値だけ小なる低電流ＩL と前記
散り発生限界電流値ＩS1より大なる高電流ＩH とからな
る第１階段状パターンを生成する（ステップＳ２）。
大なる平均電流ＩA であって、且つ散り発生限界電流値
ＩS1より予め設定された値だけ小なる低電流ＩL と前記
散り発生限界電流値ＩS1より大なる高電流ＩH とからな
る第１階段状パターンを生成する（ステップＳ２）。
【００２０】前記第１階段状パターンの溶接電流ＩW を
通電して溶接し、散り発生の有無に基づいて高電流ＩH
を増減して最適な高電流ＩH1となる新たな第２階段状パ
ターンを生成する（ステップＳ３）。この生成された新
たな第２階段状パターンの溶接電流ＩW をワークＷに通
電して溶接する（ステップＳ４）。
通電して溶接し、散り発生の有無に基づいて高電流ＩH
を増減して最適な高電流ＩH1となる新たな第２階段状パ
ターンを生成する（ステップＳ３）。この生成された新
たな第２階段状パターンの溶接電流ＩW をワークＷに通
電して溶接する（ステップＳ４）。
【００２１】次に、ステップＳ１の散り発生限界電流値
ＩS1を求める方法について、図３のフローチャートを参
照しながら詳細に説明する。
ＩS1を求める方法について、図３のフローチャートを参
照しながら詳細に説明する。
【００２２】先ず、方形パターンの溶接電流ＩW を生成
するための条件がオペレータによってキーボード３６か
ら設定され、溶接コントローラ３０に配設された図示し
ない記憶回路に記憶される（ステップＳ１−１）。
するための条件がオペレータによってキーボード３６か
ら設定され、溶接コントローラ３０に配設された図示し
ない記憶回路に記憶される（ステップＳ１−１）。
【００２３】前記設定された条件は、 １．ワークＷに発生する散りを、例えば、２次電流Ｉ2
によって検出することを示すデータ、 ２．溶接電流通電時間Ｔ、 ３．電極チップ４２、４３がワークＷを挟持する加圧力
Ｐ、 ４．方形パターンの最大電流値ＩM1、 ５．複数の溶接ポイントを連続的に溶接する場合に、散
りが発生した連続溶接回数Ｎを判定するための設定値Ｎ
1 、および散りが発生しなかった連続溶接回数Ｎを判定
するための設定値Ｎ2 、である。
によって検出することを示すデータ、 ２．溶接電流通電時間Ｔ、 ３．電極チップ４２、４３がワークＷを挟持する加圧力
Ｐ、 ４．方形パターンの最大電流値ＩM1、 ５．複数の溶接ポイントを連続的に溶接する場合に、散
りが発生した連続溶接回数Ｎを判定するための設定値Ｎ
1 、および散りが発生しなかった連続溶接回数Ｎを判定
するための設定値Ｎ2 、である。
【００２４】次いで、これらの条件に基づいて方形パタ
ーン（図４（イ）参照）が生成され、この方形パターン
の溶接電流ＩW がワークＷに通電されて溶接される（ス
テップＳ１−２）。
ーン（図４（イ）参照）が生成され、この方形パターン
の溶接電流ＩW がワークＷに通電されて溶接される（ス
テップＳ１−２）。
【００２５】このとき、溶接コントローラ３０は２次側
電流検出器３４に検出された２次電流Ｉ2 を読み取り、
この２次電流Ｉ2 に基づいて散りが発生したか否かを判
定し（ステップＳ１−３）、散りが発生したと判定され
た場合は、散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ1
に達したか否かを判定する（ステップＳ１−４）。
電流検出器３４に検出された２次電流Ｉ2 を読み取り、
この２次電流Ｉ2 に基づいて散りが発生したか否かを判
定し（ステップＳ１−３）、散りが発生したと判定され
た場合は、散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ1
に達したか否かを判定する（ステップＳ１−４）。
【００２６】前記判定の結果、散りが発生した連続溶接
回数Ｎが設定値Ｎ1 に達した場合は、方形パターンの最
大電流値ＩM1が高いと判定し、この判定が初回であれば
演算式（ＩM1←ＩM1−ｎ×ΔＩM1）のｎに１を代入し
て、最大電流値ＩM1から補正量ΔＩM1を減算し（ＩM1←
ＩM1−１×ΔＩM1）、新たな最大電流値ＩM1を求める
（ステップＳ１−５）。この新たな最大電流値ＩM1によ
って（図４（ロ）参照）、次なる溶接ポイントが溶接さ
れる。
回数Ｎが設定値Ｎ1 に達した場合は、方形パターンの最
大電流値ＩM1が高いと判定し、この判定が初回であれば
演算式（ＩM1←ＩM1−ｎ×ΔＩM1）のｎに１を代入し
て、最大電流値ＩM1から補正量ΔＩM1を減算し（ＩM1←
ＩM1−１×ΔＩM1）、新たな最大電流値ＩM1を求める
（ステップＳ１−５）。この新たな最大電流値ＩM1によ
って（図４（ロ）参照）、次なる溶接ポイントが溶接さ
れる。
【００２７】一方、前記ステップＳ１−３において、散
りが発生しないと判定された場合は、散りが発生しない
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ2 に達したか否かを判定する
（ステップＳ１−６）。
りが発生しないと判定された場合は、散りが発生しない
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ2 に達したか否かを判定する
（ステップＳ１−６）。
【００２８】散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値
Ｎ2 に達した場合は、最大電流値Ｉ M1が低いと判定し、
この判定が初回であれば演算式（ＩM1←ＩM1＋ｎ×ΔＩ
M1）のｎに１を代入して、最大電流値ＩM1に補正量ΔＩ
M1を加算し（ＩM1←ＩM1＋１×ΔＩM1）、新たな最大電
流値ＩM1を求める（ステップＳ１−７）。
Ｎ2 に達した場合は、最大電流値Ｉ M1が低いと判定し、
この判定が初回であれば演算式（ＩM1←ＩM1＋ｎ×ΔＩ
M1）のｎに１を代入して、最大電流値ＩM1に補正量ΔＩ
M1を加算し（ＩM1←ＩM1＋１×ΔＩM1）、新たな最大電
流値ＩM1を求める（ステップＳ１−７）。
【００２９】この新たな最大電流値ＩM1が溶接トランス
回路２６の供給可能な最大電流値Ｉ MAX より大か否かを
判定し（ステップＳ１−８）、ＩM1＞ＩMAX であれば電
極チップ４２、４３が磨耗したと判定してＣＲＴ３８に
電極チップの研削（チップドレス）指示を表示して、溶
接電流ＩW の通電を中止する。また、ＩM1＞ＩMAX でな
ければ、前記ステップＳ１−７の演算で求められた最大
電流値ＩM1を新たな最大電流値ＩM1とした方形パターン
の溶接電流ＩW によって（図４（ハ）参照）、次なる溶
接ポイントが溶接される。
回路２６の供給可能な最大電流値Ｉ MAX より大か否かを
判定し（ステップＳ１−８）、ＩM1＞ＩMAX であれば電
極チップ４２、４３が磨耗したと判定してＣＲＴ３８に
電極チップの研削（チップドレス）指示を表示して、溶
接電流ＩW の通電を中止する。また、ＩM1＞ＩMAX でな
ければ、前記ステップＳ１−７の演算で求められた最大
電流値ＩM1を新たな最大電流値ＩM1とした方形パターン
の溶接電流ＩW によって（図４（ハ）参照）、次なる溶
接ポイントが溶接される。
【００３０】前記ステップＳ１−４において、散りが発
生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ1に達していないと判
定された場合、若しくは、ステップＳ１−６において、
散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ2 に達して
いないと判定された場合、すなわち、散りが散発的に発
生する状態であるなら、充分な溶接強度が得られる最大
電流値ＩM1で溶接されていると判定して、このときの最
大電流値ＩM1を方形パターンの溶接電流ＩW における散
り発生限界電流値ＩS1として図示しない記憶回路に記憶
する（ステップＳ１−９）。
生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ1に達していないと判
定された場合、若しくは、ステップＳ１−６において、
散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ2 に達して
いないと判定された場合、すなわち、散りが散発的に発
生する状態であるなら、充分な溶接強度が得られる最大
電流値ＩM1で溶接されていると判定して、このときの最
大電流値ＩM1を方形パターンの溶接電流ＩW における散
り発生限界電流値ＩS1として図示しない記憶回路に記憶
する（ステップＳ１−９）。
【００３１】次に、ステップＳ１−９で記憶された散り
発生限界電流値ＩS1に基づいて、高電流ＩH および低電
流ＩL からなる階段状パターンを溶接コントローラ３０
が生成するステップＳ２について説明する。
発生限界電流値ＩS1に基づいて、高電流ＩH および低電
流ＩL からなる階段状パターンを溶接コントローラ３０
が生成するステップＳ２について説明する。
【００３２】階段状パターンを生成するための条件がオ
ペレータによってキーボード３６から設定される。
ペレータによってキーボード３６から設定される。
【００３３】設定された条件は、 １．散り発生限界電流値ＩS1から階段状パターンの平均
電流ＩA を求めるための設定値Ｉd1であり、この場合、
平均電流ＩA は散り発生限界電流値ＩS1に設定値Ｉd1、
例えば、５００〜１０００アンペアを加算した値とな
る。 ＩA ＝ＩS1＋Ｉd1 …（１） ２．溶接電流通電時間Ｔにおける高電流ＩH1の通電時間
ｔ1 であり、この場合、例えば、ｔ1 ＝（１／５）Ｔが
設定される。 ３．散り発生限界電流値ＩS1から低電流ＩL を求めるた
めの設定値Ｉd2であり、この場合、低電流ＩL は散り発
生限界電流値ＩS1から設定値Ｉd2、例えば、２００アン
ペアを減算して求めた値となる。 ＩL ＝ＩS1−２００ …（２） このように設定された夫々の値から高電流ＩH を求める
と、 ＩA ×Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ …（３） が得られ、（３）式に（１）式を代入すると、 （ＩS1＋Ｉd1）Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ ＩS1＋Ｉd1＝（１／５）ＩH ＋（４／５）×ＩS1−１６０ ＩH ＝ＩS1＋５Ｉd1＋８００ …（４） となり、さらに、（４）式によって求められた高電流Ｉ
H を溶接電流通電時間Ｔの初期に通電するタイプ１の階
段状パターンが生成される（図５参照）。
電流ＩA を求めるための設定値Ｉd1であり、この場合、
平均電流ＩA は散り発生限界電流値ＩS1に設定値Ｉd1、
例えば、５００〜１０００アンペアを加算した値とな
る。 ＩA ＝ＩS1＋Ｉd1 …（１） ２．溶接電流通電時間Ｔにおける高電流ＩH1の通電時間
ｔ1 であり、この場合、例えば、ｔ1 ＝（１／５）Ｔが
設定される。 ３．散り発生限界電流値ＩS1から低電流ＩL を求めるた
めの設定値Ｉd2であり、この場合、低電流ＩL は散り発
生限界電流値ＩS1から設定値Ｉd2、例えば、２００アン
ペアを減算して求めた値となる。 ＩL ＝ＩS1−２００ …（２） このように設定された夫々の値から高電流ＩH を求める
と、 ＩA ×Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ …（３） が得られ、（３）式に（１）式を代入すると、 （ＩS1＋Ｉd1）Ｔ＝ＩH ×（１／５）Ｔ＋（ＩS1−２００）×（４／５）Ｔ ＩS1＋Ｉd1＝（１／５）ＩH ＋（４／５）×ＩS1−１６０ ＩH ＝ＩS1＋５Ｉd1＋８００ …（４） となり、さらに、（４）式によって求められた高電流Ｉ
H を溶接電流通電時間Ｔの初期に通電するタイプ１の階
段状パターンが生成される（図５参照）。
【００３４】次に、ステップＳ２で生成された階段状パ
ターンの溶接電流ＩW をワークＷに通電し、最適な溶接
強度が得られる階段状パターンを溶接コントローラ３０
が生成するステップＳ３の方法について図６のフローチ
ャートを参照して説明する。
ターンの溶接電流ＩW をワークＷに通電し、最適な溶接
強度が得られる階段状パターンを溶接コントローラ３０
が生成するステップＳ３の方法について図６のフローチ
ャートを参照して説明する。
【００３５】ステップＳ２で生成されたタイプ１の階段
状パターンの溶接電流ＩW をワークＷに通電して（ステ
ップＳ３−１）、散りが発生するか否かを判定し（ステ
ップＳ３−２）、散りが発生したと判定された場合は、
散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ3 に達したか
否かを判定する（ステップＳ３−３）。
状パターンの溶接電流ＩW をワークＷに通電して（ステ
ップＳ３−１）、散りが発生するか否かを判定し（ステ
ップＳ３−２）、散りが発生したと判定された場合は、
散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ3 に達したか
否かを判定する（ステップＳ３−３）。
【００３６】散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
3 に達した場合は、階段状パターンの高電流ＩH が高い
と判定し、この判定が初回であれば演算式（ＩH ←ＩH
−ｎ×ΔＩH ）のｎに１を代入して、高電流ＩH から補
正値ΔＩH 、例えば、１００アンペアを減算し、新たな
高電流ＩH を求め（ＩH ←ＩH −１×ΔＩH ）（ステッ
プＳ３−４）、高電流ＩH が新たな高電流ＩH となった
階段状パターンの平均電流ＩA1を演算によって求める
（ステップＳ３−５）。
3 に達した場合は、階段状パターンの高電流ＩH が高い
と判定し、この判定が初回であれば演算式（ＩH ←ＩH
−ｎ×ΔＩH ）のｎに１を代入して、高電流ＩH から補
正値ΔＩH 、例えば、１００アンペアを減算し、新たな
高電流ＩH を求め（ＩH ←ＩH −１×ΔＩH ）（ステッ
プＳ３−４）、高電流ＩH が新たな高電流ＩH となった
階段状パターンの平均電流ＩA1を演算によって求める
（ステップＳ３−５）。
【００３７】次いで、前記平均電流ＩA1が方形パターン
の散り発生限界電流値ＩS1より小か否かを判定し（ステ
ップＳ３−６）、ＩA1＜ＩS1であれば、ステップＳ１で
求められた散り発生限界電流値ＩS1が最適ではなかった
と判定し、ステップＳ１−２に戻り、再び方形パターン
の散り発生限界電流値ＩS1を求める。また、ＩA1＜Ｉ S1
でなければ、高電流ＩH を前記ステップＳ３−４で求め
られた新たな高電流Ｉ H とし、この新たな階段状パター
ンの溶接電流ＩW によって、次なる溶接ポイントを溶接
する。
の散り発生限界電流値ＩS1より小か否かを判定し（ステ
ップＳ３−６）、ＩA1＜ＩS1であれば、ステップＳ１で
求められた散り発生限界電流値ＩS1が最適ではなかった
と判定し、ステップＳ１−２に戻り、再び方形パターン
の散り発生限界電流値ＩS1を求める。また、ＩA1＜Ｉ S1
でなければ、高電流ＩH を前記ステップＳ３−４で求め
られた新たな高電流Ｉ H とし、この新たな階段状パター
ンの溶接電流ＩW によって、次なる溶接ポイントを溶接
する。
【００３８】一方、前記ステップＳ３−２において、散
りが発生しないと判定された場合は、散りが発生しない
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ4 に達したか否かを判定する
（ステップＳ３−７）。
りが発生しないと判定された場合は、散りが発生しない
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ4 に達したか否かを判定する
（ステップＳ３−７）。
【００３９】散りが発生しなかった連続溶接回数Ｎが設
定値Ｎ4 に達した場合は、高電流Ｉ H が低いと判定し、
この判定が初回であれば演算式（ＩH ←ＩH ＋ｎ×ΔＩ
H ）のｎに１を代入して、高電流ＩH に補正値ΔＩH 、
例えば、１００アンペアを加算し（ＩH ←ＩH ＋１×Δ
ＩH ）、新たな高電流ＩH を求める（ステップＳ３−
８）。 この新たな高電流ＩH が溶接トランス回路２６
の供給可能な最大電流Ｉ MAX より大か否かを判定し（ス
テップＳ３−９）、ＩH ＞ＩMAX であれば、チップドレ
ス指示をＣＲＴ３８に表示して、溶接電流ＩW の通電を
中止する。また、ＩH ＜ＩMAX でなければ、新たな高電
流ＩH を溶接トランス回路２６がワークＷに対して供給
可能と判定して、前記ステップＳ３−８で求められた新
たな高電流ＩH を含む新たな階段状パターンの溶接電流
ＩW によって、次なる溶接ポイントを溶接する。
定値Ｎ4 に達した場合は、高電流Ｉ H が低いと判定し、
この判定が初回であれば演算式（ＩH ←ＩH ＋ｎ×ΔＩ
H ）のｎに１を代入して、高電流ＩH に補正値ΔＩH 、
例えば、１００アンペアを加算し（ＩH ←ＩH ＋１×Δ
ＩH ）、新たな高電流ＩH を求める（ステップＳ３−
８）。 この新たな高電流ＩH が溶接トランス回路２６
の供給可能な最大電流Ｉ MAX より大か否かを判定し（ス
テップＳ３−９）、ＩH ＞ＩMAX であれば、チップドレ
ス指示をＣＲＴ３８に表示して、溶接電流ＩW の通電を
中止する。また、ＩH ＜ＩMAX でなければ、新たな高電
流ＩH を溶接トランス回路２６がワークＷに対して供給
可能と判定して、前記ステップＳ３−８で求められた新
たな高電流ＩH を含む新たな階段状パターンの溶接電流
ＩW によって、次なる溶接ポイントを溶接する。
【００４０】一方、前記ステップＳ３−３において、散
りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ3 に達していな
いと判定された場合、若しくは、ステップＳ３−７にお
いて、散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ4 に
達していないと判定された場合、すなわち、散りが散発
的に発生する場合には、充分な溶接強度が得られる階段
状パターンの溶接電流ＩW で溶接されていると判定し
て、このときの高電流Ｉ H を最適な高電流ＩH1と判定
し、この高電流ＩH1を含む階段状パターンが新たな階段
状パターンとして図示しない記憶回路に記憶される（ス
テップＳ３−１０）。
りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ3 に達していな
いと判定された場合、若しくは、ステップＳ３−７にお
いて、散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ4 に
達していないと判定された場合、すなわち、散りが散発
的に発生する場合には、充分な溶接強度が得られる階段
状パターンの溶接電流ＩW で溶接されていると判定し
て、このときの高電流Ｉ H を最適な高電流ＩH1と判定
し、この高電流ＩH1を含む階段状パターンが新たな階段
状パターンとして図示しない記憶回路に記憶される（ス
テップＳ３−１０）。
【００４１】次に、前記ステップＳ３−１０で記憶され
た最適な高電流ＩH1を含む階段状パターンの溶接電流Ｉ
W がワークＷに通電されて、ステップＳ４で連続的に溶
接される。
た最適な高電流ＩH1を含む階段状パターンの溶接電流Ｉ
W がワークＷに通電されて、ステップＳ４で連続的に溶
接される。
【００４２】以上説明したように、本実施例では、最適
な高電流ＩH1を含む階段状パターンの溶接電流ＩW によ
って溶接されることにより、散りの発生を抑止すること
ができるとともに、充分な溶接強度が得られる。
な高電流ＩH1を含む階段状パターンの溶接電流ＩW によ
って溶接されることにより、散りの発生を抑止すること
ができるとともに、充分な溶接強度が得られる。
【００４３】次いで、階段状パターンの溶接電流ＩW を
通電して溶接する他の実施例について、図７のメインフ
ローチャートを参照して説明する。なお、以下の説明に
おいて、前述の実施例と同一のステップについては、同
一のステップ番号を付し、その詳細な説明を省略する。
通電して溶接する他の実施例について、図７のメインフ
ローチャートを参照して説明する。なお、以下の説明に
おいて、前述の実施例と同一のステップについては、同
一のステップ番号を付し、その詳細な説明を省略する。
【００４４】図７のステップＳ３において、最適な高電
流ＩH1を含む階段状パターンが生成された後に、この階
段状パターンにおいて高電流ＩH1の発生タイミングが異
なる複数種類、例えば、タイプ１〜３の階段状パターン
が生成される（図８参照）（ステップＳ５）。生成され
たタイプ１〜３の階段状パターンの中、タイプ１の階段
状パターンの溶接電流ＩW によって溶接が開始され、こ
の溶接による散り発生の有無によって前記生成されたタ
イプ１〜３の階段状パターンのいずれかが選択され、選
択された階段状パターンの溶接電流ＩW によりワークＷ
が溶接される（ステップＳ６）。
流ＩH1を含む階段状パターンが生成された後に、この階
段状パターンにおいて高電流ＩH1の発生タイミングが異
なる複数種類、例えば、タイプ１〜３の階段状パターン
が生成される（図８参照）（ステップＳ５）。生成され
たタイプ１〜３の階段状パターンの中、タイプ１の階段
状パターンの溶接電流ＩW によって溶接が開始され、こ
の溶接による散り発生の有無によって前記生成されたタ
イプ１〜３の階段状パターンのいずれかが選択され、選
択された階段状パターンの溶接電流ＩW によりワークＷ
が溶接される（ステップＳ６）。
【００４５】次に、散りの発生状況によってタイプ１〜
３の階段状パターンのいずれかを選択し、選択された階
段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶接するステッ
プＳ６の方法について、図９のフローチャートを参照し
ながら説明する。
３の階段状パターンのいずれかを選択し、選択された階
段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶接するステッ
プＳ６の方法について、図９のフローチャートを参照し
ながら説明する。
【００４６】先ず、タイプ１の階段状パターンが選択さ
れて（ステップＳ６−１）、このタイプ１の階段状パタ
ーンの溶接電流ＩW がワークＷに通電される（ステップ
Ｓ６−２）。次いで、２次側電流検出器３４に検出され
た２次電流Ｉ2 によって、散りが発生したか否かが判定
される（ステップＳ６−３）。
れて（ステップＳ６−１）、このタイプ１の階段状パタ
ーンの溶接電流ＩW がワークＷに通電される（ステップ
Ｓ６−２）。次いで、２次側電流検出器３４に検出され
た２次電流Ｉ2 によって、散りが発生したか否かが判定
される（ステップＳ６−３）。
【００４７】散りが発生したと判定された場合は、散り
が発生した連続溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ5
に達したか否かが判定され（ステップＳ６−４）、設定
値Ｎ 5 に達しない場合は、電極チップ４２、４３とワー
クＷとの間に塵等が混入することにより突発的に散りが
発生したと判定して、タイプ１の階段状パターンの溶接
電流ＩW による溶接を継続する。散りが発生した連続溶
接回数Ｎが設定値Ｎ5に達した場合は、高電流ＩH1が高
いと判定し、ステップＳ１−２以降を再び実行して最適
な高電流ＩH1を求める。
が発生した連続溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ5
に達したか否かが判定され（ステップＳ６−４）、設定
値Ｎ 5 に達しない場合は、電極チップ４２、４３とワー
クＷとの間に塵等が混入することにより突発的に散りが
発生したと判定して、タイプ１の階段状パターンの溶接
電流ＩW による溶接を継続する。散りが発生した連続溶
接回数Ｎが設定値Ｎ5に達した場合は、高電流ＩH1が高
いと判定し、ステップＳ１−２以降を再び実行して最適
な高電流ＩH1を求める。
【００４８】一方、前記ステップＳ６−３において、散
りが発生しないと判定された場合は、散りが発生しない
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ6 に達したか否かを判定し
（ステップＳ６−５）、設定値Ｎ6 に達していない場合
は、散発的に散りが発生する、すなわち、充分な溶接強
度が得られる階段状パターンの溶接電流ＩW によって溶
接されていると判定して、タイプ１の階段状パターンの
溶接電流ＩW による溶接を継続する。また、前記ステッ
プＳ６−５の判定において、散りが発生しない連続溶接
回数Ｎが設定値Ｎ6 に達した場合は、タイプ１の階段状
パターンが適当ではないと判定し、タイプ２の階段状パ
ターンを読み出して、この階段状パターンの溶接電流Ｉ
W によって溶接する（ステップＳ６−６）。
りが発生しないと判定された場合は、散りが発生しない
連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ6 に達したか否かを判定し
（ステップＳ６−５）、設定値Ｎ6 に達していない場合
は、散発的に散りが発生する、すなわち、充分な溶接強
度が得られる階段状パターンの溶接電流ＩW によって溶
接されていると判定して、タイプ１の階段状パターンの
溶接電流ＩW による溶接を継続する。また、前記ステッ
プＳ６−５の判定において、散りが発生しない連続溶接
回数Ｎが設定値Ｎ6 に達した場合は、タイプ１の階段状
パターンが適当ではないと判定し、タイプ２の階段状パ
ターンを読み出して、この階段状パターンの溶接電流Ｉ
W によって溶接する（ステップＳ６−６）。
【００４９】このタイプ２の階段状パターンの溶接電流
ＩW による溶接で散りが発生したか否かを判定し（ステ
ップＳ６−７）、散りが発生した場合は、散りが発生し
た連続溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ7 に達した
か否かを判定する（ステップＳ６−８）。散りが発生し
た連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ7 に達しない場合は、充分
な溶接強度が得られる階段状パターンの溶接電流ＩW に
よって溶接されていると判定して、ステップＳ６−６に
戻り、タイプ２の階段状パターンの溶接電流Ｉ W による
溶接を繰り返し実行する。また、ステップＳ６−８の判
定において、散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
7 に達した場合は、高電流ＩH1の発生タイミングが遅い
と判定して、前記ステップＳ６−１に戻り、タイプ１の
階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶接する。
ＩW による溶接で散りが発生したか否かを判定し（ステ
ップＳ６−７）、散りが発生した場合は、散りが発生し
た連続溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ7 に達した
か否かを判定する（ステップＳ６−８）。散りが発生し
た連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ7 に達しない場合は、充分
な溶接強度が得られる階段状パターンの溶接電流ＩW に
よって溶接されていると判定して、ステップＳ６−６に
戻り、タイプ２の階段状パターンの溶接電流Ｉ W による
溶接を繰り返し実行する。また、ステップＳ６−８の判
定において、散りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
7 に達した場合は、高電流ＩH1の発生タイミングが遅い
と判定して、前記ステップＳ６−１に戻り、タイプ１の
階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶接する。
【００５０】一方、ステップ６−７において、散りが発
生しないと判定された場合、発生しない連続溶接回数Ｎ
が設定値Ｎ8 に達したか否かを判定し（ステップＳ６−
９）、設定値Ｎ8 に達していない場合は、散発的に散り
が発生する、すなわち、充分な溶接強度が得られる溶接
電流ＩW によって溶接されていると判定して、タイプ２
の階段状パターンの溶接電流ＩW による溶接を継続す
る。また、散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
8 に達した場合は、高電流ＩH1の発生タイミングが遅い
と判定してタイプ３の階段状パターンを読み出し、この
タイプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶
接する（ステップＳ６−１０）。
生しないと判定された場合、発生しない連続溶接回数Ｎ
が設定値Ｎ8 に達したか否かを判定し（ステップＳ６−
９）、設定値Ｎ8 に達していない場合は、散発的に散り
が発生する、すなわち、充分な溶接強度が得られる溶接
電流ＩW によって溶接されていると判定して、タイプ２
の階段状パターンの溶接電流ＩW による溶接を継続す
る。また、散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
8 に達した場合は、高電流ＩH1の発生タイミングが遅い
と判定してタイプ３の階段状パターンを読み出し、この
タイプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶
接する（ステップＳ６−１０）。
【００５１】次いで、タイプ３の階段状パターンの溶接
電流ＩW による溶接で散りが発生したか否かを判定し
（ステップＳ６−１１）、散りが発生した場合は、散り
が発生した連続溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ9
に達したか否かを判定する（ステップＳ６−１２）。散
りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ9 に達しない場
合は、散発的に散りが発生する充分な溶接強度が得られ
る溶接電流ＩW によって溶接されていると判定して、タ
イプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW による溶接を継
続する。
電流ＩW による溶接で散りが発生したか否かを判定し
（ステップＳ６−１１）、散りが発生した場合は、散り
が発生した連続溶接回数Ｎが予め設定された設定値Ｎ9
に達したか否かを判定する（ステップＳ６−１２）。散
りが発生した連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ9 に達しない場
合は、散発的に散りが発生する充分な溶接強度が得られ
る溶接電流ＩW によって溶接されていると判定して、タ
イプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW による溶接を継
続する。
【００５２】散りが発生する連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
9 に達した場合は、タイプ３の階段状パターンが最適で
はないと判定して前記ステップＳ６−６に戻り、タイプ
２の階段状パターンの溶接電流ＩW によって溶接する。
9 に達した場合は、タイプ３の階段状パターンが最適で
はないと判定して前記ステップＳ６−６に戻り、タイプ
２の階段状パターンの溶接電流ＩW によって溶接する。
【００５３】前記ステップ６−１１において、散りが発
生しないと判定された場合、発生しない連続溶接回数Ｎ
が設定値Ｎ10に達したか否かを判定し（ステップＳ６−
１３）、設定値Ｎ10に達しない場合は、散発的に散りが
発生する充分な溶接強度が得られる溶接電流ＩW によっ
て溶接されていると判定して、タイプ３の階段状パター
ンの溶接電流ＩW による溶接を継続する。また、設定値
Ｎ10に達した場合は、高電流ＩH1が最適ではなくなった
と判定して、ステップＳ１−２以降を再び実行し、最適
な高電流ＩH1を再び求める。
生しないと判定された場合、発生しない連続溶接回数Ｎ
が設定値Ｎ10に達したか否かを判定し（ステップＳ６−
１３）、設定値Ｎ10に達しない場合は、散発的に散りが
発生する充分な溶接強度が得られる溶接電流ＩW によっ
て溶接されていると判定して、タイプ３の階段状パター
ンの溶接電流ＩW による溶接を継続する。また、設定値
Ｎ10に達した場合は、高電流ＩH1が最適ではなくなった
と判定して、ステップＳ１−２以降を再び実行し、最適
な高電流ＩH1を再び求める。
【００５４】このようにステップＳ６では、連続的に溶
接するとき、散りの発生状況に応じてタイプ１〜タイプ
３の階段状パターンのいずれかを選択し、この選択した
階段状パターンの溶接電流ＩW をワークＷに通電して溶
接する。
接するとき、散りの発生状況に応じてタイプ１〜タイプ
３の階段状パターンのいずれかを選択し、この選択した
階段状パターンの溶接電流ＩW をワークＷに通電して溶
接する。
【００５５】なお、前記ステップＳ６−５において、散
りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ6 に達した場
合、若しくは、ステップＳ６−９において、散りが発生
しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ8 に達した場合、また
は、ステップＳ６−１３において散りが発生しない連続
溶接回数Ｎが設定値Ｎ10に達した場合は、夫々のステッ
プにおいて、夫々の階段状パターンの溶接電流ＩW によ
る溶接を所定の回数継続した後に、夫々の次なるステッ
プを実行する方法も、散りの発生を抑止するとともに充
分な溶接強度を安定して得る点において実質的に有効で
ある。
りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ6 に達した場
合、若しくは、ステップＳ６−９において、散りが発生
しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ8 に達した場合、また
は、ステップＳ６−１３において散りが発生しない連続
溶接回数Ｎが設定値Ｎ10に達した場合は、夫々のステッ
プにおいて、夫々の階段状パターンの溶接電流ＩW によ
る溶接を所定の回数継続した後に、夫々の次なるステッ
プを実行する方法も、散りの発生を抑止するとともに充
分な溶接強度を安定して得る点において実質的に有効で
ある。
【００５６】ところで、高電流ＩH と低電流ＩL とから
なる階段状パターンの溶接電流ＩWを通電してワークＷ
を溶接する場合に、平均電流ＩA および高電流ＩH の通
電時間ｔ1 が同一であっても、高電流ＩH の発生タイミ
ングを溶接電流通電時間Ｔ内において変化させると、散
り発生の抑止に効果的であるとともに、良質なナゲット
が形成されることが実験によって確認された。
なる階段状パターンの溶接電流ＩWを通電してワークＷ
を溶接する場合に、平均電流ＩA および高電流ＩH の通
電時間ｔ1 が同一であっても、高電流ＩH の発生タイミ
ングを溶接電流通電時間Ｔ内において変化させると、散
り発生の抑止に効果的であるとともに、良質なナゲット
が形成されることが実験によって確認された。
【００５７】さらに、複数の溶接ポイントを連続的に溶
接する初期においては、溶接電流通電時間Ｔの初期に高
電流ＩH を通電し、連続溶接回数Ｎが増加するに従って
溶接電流通電時間Ｔの終期に高電流ＩH の発生タイミン
グをシフトさせることにより、充分な溶接強度が安定し
て得られることが実験によって確認された。
接する初期においては、溶接電流通電時間Ｔの初期に高
電流ＩH を通電し、連続溶接回数Ｎが増加するに従って
溶接電流通電時間Ｔの終期に高電流ＩH の発生タイミン
グをシフトさせることにより、充分な溶接強度が安定し
て得られることが実験によって確認された。
【００５８】この実験に用いられた階段状パターンは前
記図８Ａ、図８Ｂおよび図８Ｃに示される階段状パター
ンと同一である。
記図８Ａ、図８Ｂおよび図８Ｃに示される階段状パター
ンと同一である。
【００５９】図８Ａに示すタイプ１は溶接電流通電時間
Ｔの初期に高電流ＩH を通電する階段状パターンであ
り、図８Ｂに示すタイプ２は溶接電流通電時間Ｔの略中
間に高電流ＩH を通電する階段状パターンであり、図８
Ｃに示すタイプ３は溶接電流通電時間Ｔの終期に高電流
ＩH を通電する階段状パターンである。
Ｔの初期に高電流ＩH を通電する階段状パターンであ
り、図８Ｂに示すタイプ２は溶接電流通電時間Ｔの略中
間に高電流ＩH を通電する階段状パターンであり、図８
Ｃに示すタイプ３は溶接電流通電時間Ｔの終期に高電流
ＩH を通電する階段状パターンである。
【００６０】また、図１０はタイプ１、図１１はタイプ
２、図１２はタイプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW
をワークＷに通電して溶接した場合の溶接強度（引張り
せん断強さ）の推移を夫々示す。
２、図１２はタイプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW
をワークＷに通電して溶接した場合の溶接強度（引張り
せん断強さ）の推移を夫々示す。
【００６１】前記図１０に示すように、タイプ１の階段
状パターンの溶接電流ＩW で連続的に溶接した場合は、
初回からｎ1 回、例えば、８００回において、散りが発
生することなく、且つ充分な溶接強度が安定して得られ
るが、８００回以降では溶接強度が不安定となり、さら
に溶接点数が増加すると溶接強度が著しく低下する。
状パターンの溶接電流ＩW で連続的に溶接した場合は、
初回からｎ1 回、例えば、８００回において、散りが発
生することなく、且つ充分な溶接強度が安定して得られ
るが、８００回以降では溶接強度が不安定となり、さら
に溶接点数が増加すると溶接強度が著しく低下する。
【００６２】タイプ２の階段状パターンの溶接電流ＩW
による溶接では、図１１に示されるように溶接点数がｎ
1 回からｎ2 回、例えば、８０１回から１２００回にお
いて、充分な溶接強度が安定して得られ、溶接点数が初
回から８００回の範囲では散りが多発し、一方、溶接点
数が１２００回以降では溶接強度が不安定となる。
による溶接では、図１１に示されるように溶接点数がｎ
1 回からｎ2 回、例えば、８０１回から１２００回にお
いて、充分な溶接強度が安定して得られ、溶接点数が初
回から８００回の範囲では散りが多発し、一方、溶接点
数が１２００回以降では溶接強度が不安定となる。
【００６３】さらにまた、図１２に示すようにタイプ３
の階段状パターンでは、溶接点数が初回から１２００回
で散りが多く発生し、１２００回以降の溶接点数におい
て充分な溶接強度が安定して得られる。
の階段状パターンでは、溶接点数が初回から１２００回
で散りが多く発生し、１２００回以降の溶接点数におい
て充分な溶接強度が安定して得られる。
【００６４】この場合、高電流ＩH の通電時間ｔ1 は溶
接電流通電時間Ｔの略１／５が好適であり、１／５より
著しく大きな場合は溶接点数に拘らず散りが多く発生
し、１／５より著しく小さな場合は高電流ＩH の発生タ
イミングをシフトさせても溶接強度に明確な違いが得ら
れないことが実験によって確認された。
接電流通電時間Ｔの略１／５が好適であり、１／５より
著しく大きな場合は溶接点数に拘らず散りが多く発生
し、１／５より著しく小さな場合は高電流ＩH の発生タ
イミングをシフトさせても溶接強度に明確な違いが得ら
れないことが実験によって確認された。
【００６５】これらの実験によって得られた結果に基づ
いて、ステッブＳ５では高電流ＩH1の発生タイミングが
異なるタイプ１〜３の階段状パターンが生成され、ステ
ップＳ６では前記生成されたタイプ１〜３の階段状パタ
ーンのいずれかが散り発生の有無に基づいて選択され、
選択された階段状パターンの溶接電流ＩW がワークＷに
通電されて連続的に溶接される。
いて、ステッブＳ５では高電流ＩH1の発生タイミングが
異なるタイプ１〜３の階段状パターンが生成され、ステ
ップＳ６では前記生成されたタイプ１〜３の階段状パタ
ーンのいずれかが散り発生の有無に基づいて選択され、
選択された階段状パターンの溶接電流ＩW がワークＷに
通電されて連続的に溶接される。
【００６６】従って、ステップＳ６における溶接では、
高電流ＩH1の発生タイミングが常に最適な階段状パター
ンの溶接電流ＩW によって溶接することができる。
高電流ＩH1の発生タイミングが常に最適な階段状パター
ンの溶接電流ＩW によって溶接することができる。
【００６７】なお、本実施例では、タイプ１、２および
３の階段状パターンのいずれかを散りの発生状況に応じ
て選択したが、散りの発生状況と高電流ＩH1の発生タイ
ミングとに関する詳細なルックアップテーブルを溶接コ
ントローラ３０に記憶することにより、高電流ＩH1の発
生タイミングを連続的に制御し、より一層緻密な制御を
することが可能となる。
３の階段状パターンのいずれかを散りの発生状況に応じ
て選択したが、散りの発生状況と高電流ＩH1の発生タイ
ミングとに関する詳細なルックアップテーブルを溶接コ
ントローラ３０に記憶することにより、高電流ＩH1の発
生タイミングを連続的に制御し、より一層緻密な制御を
することが可能となる。
【００６８】以上説明したように、本実施例によれば、
方形パターンの溶接電流ＩW を通電して散り発生限界電
流値ＩS1を求め、この散り発生限界電流値ＩS1より平均
電流ＩA1が大なる階段状パターンを生成する。さらに、
前記階段状パターンの高電流ＩH を散り発生の有無に基
づいて増減して最適な高電流ＩH1の階段状パターンを求
め、この階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶接
することにより、散りの発生を抑止することができると
ともに、充分な溶接強度を得ることができる。
方形パターンの溶接電流ＩW を通電して散り発生限界電
流値ＩS1を求め、この散り発生限界電流値ＩS1より平均
電流ＩA1が大なる階段状パターンを生成する。さらに、
前記階段状パターンの高電流ＩH を散り発生の有無に基
づいて増減して最適な高電流ＩH1の階段状パターンを求
め、この階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶接
することにより、散りの発生を抑止することができると
ともに、充分な溶接強度を得ることができる。
【００６９】さらに、高電流ＩH の発生タイミングが異
なるタイプ１〜３の階段状パターンを生成し、タイプ１
の階段状パターンの溶接電流ＩW によって溶接を開始す
る。このとき、散りの発生状況に応じてタイプ２または
タイプ３の階段状パターンのいずれかが選択されて、選
択された階段状パターンに基づいた溶接電流ＩW がワー
クＷに通電されることにより、充分な溶接強度を安定し
て得ることができる。
なるタイプ１〜３の階段状パターンを生成し、タイプ１
の階段状パターンの溶接電流ＩW によって溶接を開始す
る。このとき、散りの発生状況に応じてタイプ２または
タイプ３の階段状パターンのいずれかが選択されて、選
択された階段状パターンに基づいた溶接電流ＩW がワー
クＷに通電されることにより、充分な溶接強度を安定し
て得ることができる。
【００７０】なお、本実施例では２次電流Ｉ2 によって
散りの発生を検出したが、１次電流Ｉ1 、電極間電圧、
電極変位、電極変位加速度およびアコースティックエミ
ッション等の方法によって散りの発生を検出することも
可能である。
散りの発生を検出したが、１次電流Ｉ1 、電極間電圧、
電極変位、電極変位加速度およびアコースティックエミ
ッション等の方法によって散りの発生を検出することも
可能である。
【００７１】
【発明の効果】本発明に係る直流抵抗溶接機の溶接方法
では、第２溶接電流値が最適であって、且つ第２溶接電
流値の発生タイミングが最適な階段状パターンの溶接電
流によって連続的に溶接することができるため、散りの
発生を可及的に抑止し、溶接品質の向上が図れるととも
に、高い溶接強度を安定して得ることが可能となるとい
う効果が得られる。
では、第２溶接電流値が最適であって、且つ第２溶接電
流値の発生タイミングが最適な階段状パターンの溶接電
流によって連続的に溶接することができるため、散りの
発生を可及的に抑止し、溶接品質の向上が図れるととも
に、高い溶接強度を安定して得ることが可能となるとい
う効果が得られる。
【図１】本発明を実施するインバータ式直流抵抗溶接機
の全体構成を示すブロック図である。
の全体構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示すインバータ式直流抵抗溶接機によっ
てワークを溶接する方法を説明するメインフローチャー
トである。
てワークを溶接する方法を説明するメインフローチャー
トである。
【図３】図２のメインフローチャートに示すステップＳ
１において、方形パターンの溶接電流を通電して散り発
生限界電流値を求める方法を説明するフローチャートで
ある。
１において、方形パターンの溶接電流を通電して散り発
生限界電流値を求める方法を説明するフローチャートで
ある。
【図４】図３のフローチャートにおいて、散り発生限界
電流値が求められる動作を説明する図である。
電流値が求められる動作を説明する図である。
【図５】図２のメインフローチャートに示すステップＳ
２において、生成される階段状パターンを説明する図で
ある。
２において、生成される階段状パターンを説明する図で
ある。
【図６】図２のメインフローチャートに示すステップＳ
３において、新たな階段状パターンが求められる方法を
説明するフローチャートである。
３において、新たな階段状パターンが求められる方法を
説明するフローチャートである。
【図７】図１に示すインバータ式直流抵抗溶接機によっ
てワークを溶接する別の実施例を説明するメインフロー
チャートである。
てワークを溶接する別の実施例を説明するメインフロー
チャートである。
【図８】図８（Ａ）はタイプ１の階段状パターンを説明
する図である。図８（Ｂ）はタイプ２の階段状パターン
を説明する図である。図８（Ｃ）はタイプ３の階段状パ
ターンを説明する図である。
する図である。図８（Ｂ）はタイプ２の階段状パターン
を説明する図である。図８（Ｃ）はタイプ３の階段状パ
ターンを説明する図である。
【図９】図７のメインフローチャートに示すステップＳ
６において、タイプ１〜３の階段状パターンを選択し、
選択された階段状パターンの溶接電流によって溶接する
方法を説明するフローチャートである。
６において、タイプ１〜３の階段状パターンを選択し、
選択された階段状パターンの溶接電流によって溶接する
方法を説明するフローチャートである。
【図１０】図８（Ａ）に示すタイプ１の階段状パターン
の溶接電流によって、複数の溶接ポイントを連続的に溶
接した場合の溶接強度の推移を示す図である。
の溶接電流によって、複数の溶接ポイントを連続的に溶
接した場合の溶接強度の推移を示す図である。
【図１１】図８（Ｂ）に示すタイプ２の階段状パターン
の溶接電流によって、複数の溶接ポイントを連続的に溶
接した場合の溶接強度の推移を示す図である。
の溶接電流によって、複数の溶接ポイントを連続的に溶
接した場合の溶接強度の推移を示す図である。
【図１２】図８（Ｃ）に示すタイプ３の階段状パターン
の溶接電流によって、複数の溶接ポイントを連続的に溶
接した場合の溶接強度の推移を示す図である。
の溶接電流によって、複数の溶接ポイントを連続的に溶
接した場合の溶接強度の推移を示す図である。
２０…インバータ式直流抵抗溶接機 ２４…インバータ回路 ２６…溶接トランス回路 ２８…溶接ガン部 ３０…溶接コントローラ ３２、３４…電流検出器 ３６…キーボード ４０、４１…可動ガンアーム ４２、４３…電極チップ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成５年４月２３日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３９】散りが発生しなかった連続溶接回数Ｎが設
定値Ｎ4 に達した場合は、高電流Ｉ H が低いと判定し、
この判定が初回であれば演算式（ＩH ←ＩH ＋ｎ×ΔＩ
H ）のｎに１を代入して、高電流ＩH に補正値ΔＩH 、
例えば、１００アンペアを加算し（ＩH ←ＩH ＋１×Δ
ＩH ）、新たな高電流ＩH を求める（ステップＳ３−
８）。この新たな高電流ＩH が溶接トランス回路２６の
供給可能な最大電流ＩMA X より大か否かを判定し（ステ
ップＳ３−９）、ＩH ＞ＩMAX であれば、チップドレス
指示をＣＲＴ３８に表示して、溶接電流ＩW の通電を中
止する。また、Ｉ H ＞ＩMAX でなければ、新たな高電流
ＩH を溶接トランス回路２６がワークＷに対して供給可
能と判定して、前記ステップＳ３−８で求められた新た
な高電流Ｉ H を含む新たな階段状パターンの溶接電流Ｉ
W によって、次なる溶接ポイントを溶接する。
定値Ｎ4 に達した場合は、高電流Ｉ H が低いと判定し、
この判定が初回であれば演算式（ＩH ←ＩH ＋ｎ×ΔＩ
H ）のｎに１を代入して、高電流ＩH に補正値ΔＩH 、
例えば、１００アンペアを加算し（ＩH ←ＩH ＋１×Δ
ＩH ）、新たな高電流ＩH を求める（ステップＳ３−
８）。この新たな高電流ＩH が溶接トランス回路２６の
供給可能な最大電流ＩMA X より大か否かを判定し（ステ
ップＳ３−９）、ＩH ＞ＩMAX であれば、チップドレス
指示をＣＲＴ３８に表示して、溶接電流ＩW の通電を中
止する。また、Ｉ H ＞ＩMAX でなければ、新たな高電流
ＩH を溶接トランス回路２６がワークＷに対して供給可
能と判定して、前記ステップＳ３−８で求められた新た
な高電流Ｉ H を含む新たな階段状パターンの溶接電流Ｉ
W によって、次なる溶接ポイントを溶接する。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５０】一方、ステップ６−７において、散りが発
生しないと判定された場合、発生しない連続溶接回数Ｎ
が設定値Ｎ8 に達したか否かを判定し（ステップＳ６−
９）、設定値Ｎ8 に達していない場合は、散発的に散り
が発生する、すなわち、充分な溶接強度が得られる溶接
電流ＩW によって溶接されていると判定して、タイプ２
の階段状パターンの溶接電流ＩW による溶接を継続す
る。また、散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
8 に達した場合は、高電流ＩH1の発生タイミングが早い
と判定してタイプ３の階段状パターンを読み出し、この
タイプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶
接する（ステップＳ６−１０）。
生しないと判定された場合、発生しない連続溶接回数Ｎ
が設定値Ｎ8 に達したか否かを判定し（ステップＳ６−
９）、設定値Ｎ8 に達していない場合は、散発的に散り
が発生する、すなわち、充分な溶接強度が得られる溶接
電流ＩW によって溶接されていると判定して、タイプ２
の階段状パターンの溶接電流ＩW による溶接を継続す
る。また、散りが発生しない連続溶接回数Ｎが設定値Ｎ
8 に達した場合は、高電流ＩH1の発生タイミングが早い
と判定してタイプ３の階段状パターンを読み出し、この
タイプ３の階段状パターンの溶接電流ＩW を通電して溶
接する（ステップＳ６−１０）。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 友彦 埼玉県狭山市新狭山１−10−１ ホンダエ ンジニアリング株式会社内
Claims (5)
- 【請求項１】溶接電流によって複数の溶接ポイントを連
続的に溶接する溶接方法であって、 方形パターンの溶接電流をワークに通電して溶接し、散
り発生の有無に基づいて前記方形パターンの最大値を増
減して方形パターンにおける散り発生限界電流値を求め
る第１のステップと、 前記散り発生限界電流値より大なる平均電流値であっ
て、且つ前記散り発生限界電流値より予め設定された値
だけ小なる第１溶接電流値と前記散り発生限界電流値よ
り大なる第２溶接電流値とからなる第１階段状パターン
を生成する第２のステップと、 前記第１階段状パターンの溶接電流を通電して溶接し、
散り発生の有無に基づいて前記第１階段状パターンの第
２溶接電流値を増減して第２階段状パターンを生成する
第３のステップと、 前記第３のステップによって生成された第２階段状パタ
ーンの溶接電流をワークに通電して連続的に溶接する第
４のステップと、 からなることを特徴とする直流抵抗溶接機の溶接方法。 - 【請求項２】溶接電流によって複数の溶接ポイントを連
続的に溶接する溶接方法であって、 方形パターンの溶接電流をワークに通電して溶接し、散
り発生の有無に基づいて前記方形パターンの最大値を増
減して方形パターンにおける散り発生限界電流値を求め
る第１のステップと、 前記散り発生限界電流値より大なる平均電流値であっ
て、且つ前記散り発生限界電流値より予め設定された値
だけ小なる第１溶接電流値と前記散り発生限界電流値よ
り大なる第２溶接電流値とからなる第１階段状パターン
を生成する第２のステップと、 前記第１階段状パターンの溶接電流を通電して溶接し、
散り発生の有無に基づいて前記第１階段状パターンの第
２溶接電流値を増減して第２階段状パターンを生成する
第３のステップと、 前記第３のステップによって生成された第２階段状パタ
ーンの溶接電流をワークに通電して溶接し、散り発生の
有無に基づいて各溶接ポイントにおける第２溶接電流値
の発生タイミングを溶接電流通電時間内においてシフト
した階段状パターンの溶接電流によって連続的に溶接す
る第４のステップと、 からなることを特徴とする直流抵抗溶接機の溶接方法。 - 【請求項３】請求項１または２記載の方法において、第
１のステップで増減される方形パターンの最大値は、散
りが所定の回数、連続して発生しない場合に増加させ、
散りが所定の回数、連続して発生する場合に減少させる
ことを特徴とする直流抵抗溶接機の溶接方法。 - 【請求項４】請求項１または２記載の方法において、第
３のステップで増減される第１階段状パターンの第２溶
接電流値は、散りが所定の回数、連続して発生しない場
合に増加させ、散りが所定の回数、連続して発生する場
合に減少させることを特徴とする直流抵抗溶接機の溶接
方法。 - 【請求項５】請求項２記載の方法において、第４のステ
ップでシフトされる第２溶接電流値の発生タイミング
は、散りが所定の回数、連続して発生しない場合に溶接
電流通電時間内において遅延させ、散りが所定の回数、
連続して発生する場合に溶接電流通電時間内において早
めることを特徴とする直流抵抗溶接機の溶接方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5750793A JPH06269955A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | 直流抵抗溶接機の溶接方法 |
| FR9402002A FR2702691B1 (fr) | 1993-03-17 | 1994-02-22 | Procede de reglage d'un courant de soudage par points. |
| DE19944409186 DE4409186C2 (de) | 1993-03-17 | 1994-03-17 | Verfahren zum Steuern des Schweißstroms in einer Gleichstrom-Widerstandsschweißmaschine |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5750793A JPH06269955A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | 直流抵抗溶接機の溶接方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06269955A true JPH06269955A (ja) | 1994-09-27 |
Family
ID=13057654
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5750793A Pending JPH06269955A (ja) | 1993-03-17 | 1993-03-17 | 直流抵抗溶接機の溶接方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06269955A (ja) |
-
1993
- 1993-03-17 JP JP5750793A patent/JPH06269955A/ja active Pending
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