JP2615078B2 - ディフェクト検出回路 - Google Patents
ディフェクト検出回路Info
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- JP2615078B2 JP2615078B2 JP62250265A JP25026587A JP2615078B2 JP 2615078 B2 JP2615078 B2 JP 2615078B2 JP 62250265 A JP62250265 A JP 62250265A JP 25026587 A JP25026587 A JP 25026587A JP 2615078 B2 JP2615078 B2 JP 2615078B2
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- Japan
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- low
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスクの表面上に生じた傷や指紋な
どのディフェクト（defect）によって高周波信号上に現
れる不要な信号成分からディフェクトを検出するディフ
ェクト検出回路に関する。
どのディフェクト（defect）によって高周波信号上に現
れる不要な信号成分からディフェクトを検出するディフ
ェクト検出回路に関する。
第４図は、CD（コンパクトディスク）などの光ディス
クに記録されている音楽情報などを再生する光ディスク
再生装置におけるピックアップ部およびトラッキング制
御部を示す。
クに記録されている音楽情報などを再生する光ディスク
再生装置におけるピックアップ部およびトラッキング制
御部を示す。
光ディスク（以下CDという）２は、モータ４で回転さ
せ、モータ４は、図示していない線速度（CLV）サーボ
の制御出力DCLVで一定の線速度に制御される。
せ、モータ４は、図示していない線速度（CLV）サーボ
の制御出力DCLVで一定の線速度に制御される。
ピックアップ６は、送りモータ８の回転によりアーム
10を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させるこ
とができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体として
のレーザー光14を、ハーフミラー16や対物レンズ18など
からなる光学系を通過させて集束させることによりCD2
に照射し、CD2からの反射光20を受光素子22、24、26で
受光し、電気信号に変換する。そして、光学系は、フォ
ーカスコイル28によってレーザー光14の焦点を調整し、
トラッキングコイル30によってトラック上にレーザー光
14の焦点を結ばせる。
10を通してCD2の直径方向の任意の位置に移動させるこ
とができ、レーザー光源12で発射させた検出媒体として
のレーザー光14を、ハーフミラー16や対物レンズ18など
からなる光学系を通過させて集束させることによりCD2
に照射し、CD2からの反射光20を受光素子22、24、26で
受光し、電気信号に変換する。そして、光学系は、フォ
ーカスコイル28によってレーザー光14の焦点を調整し、
トラッキングコイル30によってトラック上にレーザー光
14の焦点を結ばせる。
受光素子22はレーザー光14のメインビーム、受光素子
24、26はレーザー光14のサブビームの反射光20を電気信
号に変換するものであり、受光素子22によってメインビ
ームによる高周波（RF）信号が得られる。
24、26はレーザー光14のサブビームの反射光20を電気信
号に変換するものであり、受光素子22によってメインビ
ームによる高周波（RF）信号が得られる。
そして、受光素子22を通して電気信号に変換されて前
置増幅器32を通して得られたRF信号は、第５図のＡに示
すように、高周波成分Hfと、低周波成分（高周波成分Hf
のエンベロープ）Lfを以て構成され、その上限レベル側
に、CD2上に付けられた傷や指紋などによって不要なデ
ィフェクト（スクラッチ）信号成分DSを生じるのであ
る。
置増幅器32を通して得られたRF信号は、第５図のＡに示
すように、高周波成分Hfと、低周波成分（高周波成分Hf
のエンベロープ）Lfを以て構成され、その上限レベル側
に、CD2上に付けられた傷や指紋などによって不要なデ
ィフェクト（スクラッチ）信号成分DSを生じるのであ
る。
ところで、受光素子24、26によって得られた電気信号
は、トラッキングエラー検出手段である比較器34に加え
られて両者間のレベル比較が行われ、トラッキングエラ
ー信号TEが得られる。このトラッキングエラー信号TE
は、トラッキングサーボを行う制御部36に加えられ、そ
の制御出力が駆動部38で駆動信号としてトラッキングコ
イル30に加えられ、メインビームがCD2のトラック上に
制御されるのである。
は、トラッキングエラー検出手段である比較器34に加え
られて両者間のレベル比較が行われ、トラッキングエラ
ー信号TEが得られる。このトラッキングエラー信号TE
は、トラッキングサーボを行う制御部36に加えられ、そ
の制御出力が駆動部38で駆動信号としてトラッキングコ
イル30に加えられ、メインビームがCD2のトラック上に
制御されるのである。
そして、このようなトラッキングサーボにおいて、CD
2のトラック上に傷や指紋などのディフェクトが、トラ
ッキングサーボに影響を与えて誤動作を生じさせるの
で、この誤動作を防止するためにトラッキングサーボを
緩やかに制御することが行われている。そこで、このよ
うなミュート制御を行うため、その制御情報としてのデ
ィフェクトを検出するディフェクト検出回路40が設置さ
れている。
2のトラック上に傷や指紋などのディフェクトが、トラ
ッキングサーボに影響を与えて誤動作を生じさせるの
で、この誤動作を防止するためにトラッキングサーボを
緩やかに制御することが行われている。そこで、このよ
うなミュート制御を行うため、その制御情報としてのデ
ィフェクトを検出するディフェクト検出回路40が設置さ
れている。
このディフェクト検出回路40では、レベル設定回路42
を以て、第５図のＡに示すように、RF信号の上限レベル
であるピーク（Peak）レベルVPを検出して検出レベルVr
を設定する。レベル設定回路42は、npn型トランジスタ4
6、定電流源48およびキャパシタ50を以て、RF信号のピ
ークレベルVPを、キャパシタ50でピークレベルVPに対応
して設定された長い時定数τＰによって検出する。検出
されたピークレベルVPは、抵抗52、54の直列回路の一方
に加えられ、その他方にバイアス回路から加えられた基
準電圧VBを基準にして検出レベルVrが設定される。
を以て、第５図のＡに示すように、RF信号の上限レベル
であるピーク（Peak）レベルVPを検出して検出レベルVr
を設定する。レベル設定回路42は、npn型トランジスタ4
6、定電流源48およびキャパシタ50を以て、RF信号のピ
ークレベルVPを、キャパシタ50でピークレベルVPに対応
して設定された長い時定数τＰによって検出する。検出
されたピークレベルVPは、抵抗52、54の直列回路の一方
に加えられ、その他方にバイアス回路から加えられた基
準電圧VBを基準にして検出レベルVrが設定される。
一方、RF信号からディフェクト信号成分DSを含む低周
波成分Lfを検出するために低周波成分検出回路44が設置
されている。ディフェクト信号成分DSは、第５図のＡに
示すように、RF信号のピークレベルVPに到達するレベル
を以て連続した成分を持つものである。低周波成分検出
回路44は、npn型トランジスタ56、定電流源58およびキ
ャパシタ60を以て構成され、キャパシタ60を用いて、デ
ィフェクト信号成分DSの降下に応じて減少するレベルを
生じるように時定数τ０（ピークレベルVPに対応する時
定数τＰより小さい）を設定する。この結果、時定数τ
０に応じてディフェクトを表す低周波成分Lfが検出され
る。
波成分Lfを検出するために低周波成分検出回路44が設置
されている。ディフェクト信号成分DSは、第５図のＡに
示すように、RF信号のピークレベルVPに到達するレベル
を以て連続した成分を持つものである。低周波成分検出
回路44は、npn型トランジスタ56、定電流源58およびキ
ャパシタ60を以て構成され、キャパシタ60を用いて、デ
ィフェクト信号成分DSの降下に応じて減少するレベルを
生じるように時定数τ０（ピークレベルVPに対応する時
定数τＰより小さい）を設定する。この結果、時定数τ
０に応じてディフェクトを表す低周波成分Lfが検出され
る。
このようにして得られた低周波成分Lfおよび検出レベ
ルVrは、比較器62に加えられて比較されることにより、
第５図のＢに示すディフェクト検出信号DPがディフェク
ト情報として得られる。
ルVrは、比較器62に加えられて比較されることにより、
第５図のＢに示すディフェクト検出信号DPがディフェク
ト情報として得られる。
このディフェクト検出信号DPは、制御部36にミュート
制御信号として加えられ、トラッキングサーボに対して
ミュート制御を行うことにより、トラッキングの誤動作
を防止するのである。
制御信号として加えられ、トラッキングサーボに対して
ミュート制御を行うことにより、トラッキングの誤動作
を防止するのである。
ところで、このようなディフェクト検出回路では、第
５図のＡおよびＢに示すように、傷や指紋などによって
ディフェクト検出信号DPが得られるが、ディフェクト区
間が長い場合、そのディフェクト検出信号DPをトラッキ
ングサーボのミュート制御に用いると、ミュート制御区
間ではトラッキングサーボが解除されるため、そのディ
フェクト区間に応じてミュート時間が長いなり、トラッ
キングが乱れ、暴走してしまうおそれがあった。
５図のＡおよびＢに示すように、傷や指紋などによって
ディフェクト検出信号DPが得られるが、ディフェクト区
間が長い場合、そのディフェクト検出信号DPをトラッキ
ングサーボのミュート制御に用いると、ミュート制御区
間ではトラッキングサーボが解除されるため、そのディ
フェクト区間に応じてミュート時間が長いなり、トラッ
キングが乱れ、暴走してしまうおそれがあった。
そこで、この発明は、ディフェクトの検出について、
その検出信号が連続した信号となるのを防止したもので
ある。
その検出信号が連続した信号となるのを防止したもので
ある。
この発明のディフェクト検出回路は、第１図〜第３図
に例示するように、光ディスク（２）から検出された高
周波信号に含まれるディフェクト成分を検出し、前記光
ディスクのトラッキングサーボのミュート制御に用いら
れるディフェクト検出信号（DP0）を得るディフェクト
検出回路（40）であって、前記光ディスクからの反射光
を電気信号で変換する受光素子から得られた高周波信号
の上限レベル（VP）を検出し、この上限レベルを分圧し
て検出レベル（Vr）を設定するレベル設定手段（レベル
設定回路42）と、前記光ディスクにおけるディフェクト
によって生じているディフェクト信号成分を含む低周波
成分（Lf）に対応した時定数（τＰ）を備え、前記高周
波信号から前記低周波成分を検出する低周波成分検出手
段（低周波成分検出回路44）と、この低周波成分検出手
段で検出された前記低周波成分を連続した変動成分に変
換する高域通過フィルタ（64）と、この高域通過フィル
タで得られた前記変動成分と前記レベル設定手段で設定
された前記検出レベルとを比較し、前記検出レベルによ
ってスイッチングするディフェクト検出信号（DP0）を
得る比較手段（比較器62）とを備えたことを特徴とす
る。
に例示するように、光ディスク（２）から検出された高
周波信号に含まれるディフェクト成分を検出し、前記光
ディスクのトラッキングサーボのミュート制御に用いら
れるディフェクト検出信号（DP0）を得るディフェクト
検出回路（40）であって、前記光ディスクからの反射光
を電気信号で変換する受光素子から得られた高周波信号
の上限レベル（VP）を検出し、この上限レベルを分圧し
て検出レベル（Vr）を設定するレベル設定手段（レベル
設定回路42）と、前記光ディスクにおけるディフェクト
によって生じているディフェクト信号成分を含む低周波
成分（Lf）に対応した時定数（τＰ）を備え、前記高周
波信号から前記低周波成分を検出する低周波成分検出手
段（低周波成分検出回路44）と、この低周波成分検出手
段で検出された前記低周波成分を連続した変動成分に変
換する高域通過フィルタ（64）と、この高域通過フィル
タで得られた前記変動成分と前記レベル設定手段で設定
された前記検出レベルとを比較し、前記検出レベルによ
ってスイッチングするディフェクト検出信号（DP0）を
得る比較手段（比較器62）とを備えたことを特徴とす
る。
低周波成分検出手段（低周波成分検出回路44）は、光
ディスク２上の傷や指紋などのディフェクトによって生
じた低周波成分Lfに連続した信号成分を生じるが、この
成分は、高域通過フィルタ64によって変動成分（変動低
周波成分MLf）に変換されるので、比較手段（比較器6
2）から特定レベルで連続する信号部分を解消したディ
フェクト検出信号DP0を得ることができ、このようなデ
ィフェクト検出信号DP0を用いてトラッキングサーボに
ミュート制御を施した場合、トラッキングサーボの暴走
を確実に防止することができる。
ディスク２上の傷や指紋などのディフェクトによって生
じた低周波成分Lfに連続した信号成分を生じるが、この
成分は、高域通過フィルタ64によって変動成分（変動低
周波成分MLf）に変換されるので、比較手段（比較器6
2）から特定レベルで連続する信号部分を解消したディ
フェクト検出信号DP0を得ることができ、このようなデ
ィフェクト検出信号DP0を用いてトラッキングサーボに
ミュート制御を施した場合、トラッキングサーボの暴走
を確実に防止することができる。
第１図の（Ａ）は、この発明のディフェクト検出回路
の実施例を示す。
の実施例を示す。
前置増幅器32は、受光素子22で得られた電気信号であ
る第２図のＡに示すRF信号を増幅し、このRF信号をディ
フェクト検出回路40のレベル設定回路42および低周波成
分検出回路44に加える。
る第２図のＡに示すRF信号を増幅し、このRF信号をディ
フェクト検出回路40のレベル設定回路42および低周波成
分検出回路44に加える。
レベル設定回路42は、npn型トランジスタ46、定電流
源48およびキャパシタ50で構成され、第２図のＡに示す
ように、RF信号の上限レベルであるピーク（Peak）レベ
ルVPを検出し、このピークレベルVPを、基準電圧VBを基
準とする抵抗52、54の直列回路に加え、その分圧点で検
出レベルVrを設定する。この場合、ピークレベルVPは、
キャパシタ50で設定された長い時定数τＰによって検出
される。
源48およびキャパシタ50で構成され、第２図のＡに示す
ように、RF信号の上限レベルであるピーク（Peak）レベ
ルVPを検出し、このピークレベルVPを、基準電圧VBを基
準とする抵抗52、54の直列回路に加え、その分圧点で検
出レベルVrを設定する。この場合、ピークレベルVPは、
キャパシタ50で設定された長い時定数τＰによって検出
される。
また、低周波成分検出回路44は、CD2上の傷や指紋な
どのディフェクトによって生じたディフェクト信号成分
DSを含む低周波成分Lfを、npn型トランジスタ56、定電
流源58およびキャパシタ60を以て検出する。この場合、
キャパシタ60は、ディフェクト信号成分DSの降下に応じ
て減少するレベルを生じるように時定数τ０（ピークレ
ベルVPに対応する時定数τＰより小さい）を設定する。
換言すれば、低周波成分検出回路44は、積分回路を成
し、ピークレベルVPから降下する信号に応じて緩やかに
降下する低周波成分Lfであるディフェクト信号成分DSの
降下部分の検出を行う。
どのディフェクトによって生じたディフェクト信号成分
DSを含む低周波成分Lfを、npn型トランジスタ56、定電
流源58およびキャパシタ60を以て検出する。この場合、
キャパシタ60は、ディフェクト信号成分DSの降下に応じ
て減少するレベルを生じるように時定数τ０（ピークレ
ベルVPに対応する時定数τＰより小さい）を設定する。
換言すれば、低周波成分検出回路44は、積分回路を成
し、ピークレベルVPから降下する信号に応じて緩やかに
降下する低周波成分Lfであるディフェクト信号成分DSの
降下部分の検出を行う。
第２図のＢは、低周波成分検出回路44によって検出さ
れた低周波成分Lfを示しており、この変動レベルの中央
にレベル設定回路42によって検出レベルVrが設定されて
いる。
れた低周波成分Lfを示しており、この変動レベルの中央
にレベル設定回路42によって検出レベルVrが設定されて
いる。
そして、低周波成分検出回路44の出力側には、その出
力に現れる低周波信号中の連続した低周波成分Lfを変動
成分に変換するための信号変換手段として高域通過フィ
ルタ（HPF）64が設置されている。信号変換手段として
は、HPF64の他、微分回路などで構成でき、特定レベル
で連続する連続成分を変動成分に変換するのである。し
たがって、アナログ処理を基調とする場合、このHPF64
は、たとえば、第１図の（Ｂ）に示すように、キャパシ
タ66および抵抗68で構成し、第２図のＣに示すように、
低周波成分Lfから高域側成分である変動成分からなる変
動低周波成分MLfのみを取り出している。
力に現れる低周波信号中の連続した低周波成分Lfを変動
成分に変換するための信号変換手段として高域通過フィ
ルタ（HPF）64が設置されている。信号変換手段として
は、HPF64の他、微分回路などで構成でき、特定レベル
で連続する連続成分を変動成分に変換するのである。し
たがって、アナログ処理を基調とする場合、このHPF64
は、たとえば、第１図の（Ｂ）に示すように、キャパシ
タ66および抵抗68で構成し、第２図のＣに示すように、
低周波成分Lfから高域側成分である変動成分からなる変
動低周波成分MLfのみを取り出している。
このようにして得られた変動低周波成分MLfと、レベ
ル設定回路42によって設定された検出レベルVrとを信号
比較手段である比較器62に加えて比較し、第２図のＤに
示すディフェクト（スクラッチ）検出信号DP0をディフ
ェクト情報として得るのである。
ル設定回路42によって設定された検出レベルVrとを信号
比較手段である比較器62に加えて比較し、第２図のＤに
示すディフェクト（スクラッチ）検出信号DP0をディフ
ェクト情報として得るのである。
このようにすれば、第２図のＤおよび第５図のＢを比
較すれば明らかなように、等しいディフェクトを表す信
号成分に対して全く異なる時間幅を持つディフェクト検
出信号が得られる。したがって、このようなディフェク
ト検出信号DP0を以てトラッキングサーボに対してミュ
ート制御を行えば、ミュート制御の行き過ぎによるトラ
ッキングの暴走はなく、安定したトラッキング動作を得
ることができる。
較すれば明らかなように、等しいディフェクトを表す信
号成分に対して全く異なる時間幅を持つディフェクト検
出信号が得られる。したがって、このようなディフェク
ト検出信号DP0を以てトラッキングサーボに対してミュ
ート制御を行えば、ミュート制御の行き過ぎによるトラ
ッキングの暴走はなく、安定したトラッキング動作を得
ることができる。
そして、第１図に示したディフェクト検出回路の低周
波成分検出回路44に対して、第３図に示すように、トラ
ンジスタ56のベース・エミッタ間電圧VFを補償するため
のレベルシフター70を設置してもよい。
波成分検出回路44に対して、第３図に示すように、トラ
ンジスタ56のベース・エミッタ間電圧VFを補償するため
のレベルシフター70を設置してもよい。
レベルシフター70は、トランジスタ72、74、76、78お
よび定電流源80からなる差動段82を設置し、トランジス
タ72のベースにトランジスタ56のエミッタ出力を加え、
トランジスタ74のベース側にトランジスタ56と同等なト
ランジスタ84を設置し、このトランジスタ84に対して定
電流源58と等しい定電流源86を以て定電流を流す。そし
て、出力回路を成すトランジスタ88および定電流源90を
設置してトランジスタ88のエミッタとトランジスタ84の
ベースを接続することによって全帰還増幅器を構成し、
トランジスタ88のエミッタ側からトランジスタ56のベー
ス・エミッタ間電圧VFのレベルシフトを相殺させた低周
波成分Lfを得ることができる。この場合、レベル設定回
路42側にもレベルシフター70を設定してもよく、トラン
ジスタ84は、トランジスタ46と同等なもので構成する。
よび定電流源80からなる差動段82を設置し、トランジス
タ72のベースにトランジスタ56のエミッタ出力を加え、
トランジスタ74のベース側にトランジスタ56と同等なト
ランジスタ84を設置し、このトランジスタ84に対して定
電流源58と等しい定電流源86を以て定電流を流す。そし
て、出力回路を成すトランジスタ88および定電流源90を
設置してトランジスタ88のエミッタとトランジスタ84の
ベースを接続することによって全帰還増幅器を構成し、
トランジスタ88のエミッタ側からトランジスタ56のベー
ス・エミッタ間電圧VFのレベルシフトを相殺させた低周
波成分Lfを得ることができる。この場合、レベル設定回
路42側にもレベルシフター70を設定してもよく、トラン
ジスタ84は、トランジスタ46と同等なもので構成する。
したがって、このようなレベルシフター70の設置によ
って、トランジスタ56のベース・エミッタ間電圧VFの影
響を受けない低周波成分LfをHPF64に加えることがで
き、精度の高いディフェクト検出を実現することができ
る。
って、トランジスタ56のベース・エミッタ間電圧VFの影
響を受けない低周波成分LfをHPF64に加えることがで
き、精度の高いディフェクト検出を実現することができ
る。
この発明によれば、光ディスク上に生じた傷や指紋な
どのディフェクトによって生じた信号を検出してトラッ
キングサーボに対してミュート制御を施す場合、ディフ
ェクト検出信号に特定レベルで長時間に亘って連続する
信号成分を除くことができ、トラッキングの暴走を防止
でき、安定したトラッキング動作を実現できる。
どのディフェクトによって生じた信号を検出してトラッ
キングサーボに対してミュート制御を施す場合、ディフ
ェクト検出信号に特定レベルで長時間に亘って連続する
信号成分を除くことができ、トラッキングの暴走を防止
でき、安定したトラッキング動作を実現できる。
第１図はこの発明のディフェクト検出回路の実施例を示
す回路図であって、（Ａ）はディフェクト検出回路、
（Ｂ）はその高域通過フィルタの具体的な回路構成例、
第２図は第１図に示したディフェクト検出回路の動作を
示す図、第３図はこの発明のディフェクト検出回路の他
の実施例を示す回路図、第４図は従来の光ディスク再生
装置におけるピックアップ部およびトラッキング制御部
を示す回路図、第５図は第４図に示した従来の光ディス
ク再生装置におけるミュート制御のためのディフェクト
検出回路の動作を示す図である。 ２……光ディスク 14……レーザー光（光） 40……ディフェクト検出回路 42……レベル設定回路（レベル設定手段） 44……低周波成分検出回路（低周波成分検出手段） 62……比較器（比較手段） 64……高域通過フィルタ
す回路図であって、（Ａ）はディフェクト検出回路、
（Ｂ）はその高域通過フィルタの具体的な回路構成例、
第２図は第１図に示したディフェクト検出回路の動作を
示す図、第３図はこの発明のディフェクト検出回路の他
の実施例を示す回路図、第４図は従来の光ディスク再生
装置におけるピックアップ部およびトラッキング制御部
を示す回路図、第５図は第４図に示した従来の光ディス
ク再生装置におけるミュート制御のためのディフェクト
検出回路の動作を示す図である。 ２……光ディスク 14……レーザー光（光） 40……ディフェクト検出回路 42……レベル設定回路（レベル設定手段） 44……低周波成分検出回路（低周波成分検出手段） 62……比較器（比較手段） 64……高域通過フィルタ
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスクから検出された高周波信号に含
まれるディフェクト成分を検出し、前記光ディスクのト
ラッキングサーボのミュート制御に用いられるディフェ
クト検出信号を得るディフェクト検出回路であって、 前記光ディスクからの反射光を電気信号で変換する受光
素子から得られた高周波信号の上限レベルを検出し、こ
の上限レベルを分圧して検出レベルを設定するレベル設
定手段と、 前記光ディスクにおけるディフェクトによって生じてい
るディフェクト信号成分を含む低周波成分に対応した時
定数を備え、前記高周波信号から前記低周波成分を検出
する低周波成分検出手段と、 この低周波成分検出手段で検出された前記低周波成分を
連続した変動成分に変換する高域通過フィルタと、 この高域通過フィルタで得られた前記変動成分と前記レ
ベル設定手段で設定された前記検出レベルとを比較し、
前記検出レベルによってスイッチングするディフェクト
検出信号を得る比較手段と、 を備えたことを特徴とするディフェクト検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62250265A JP2615078B2 (ja) | 1987-10-03 | 1987-10-03 | ディフェクト検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62250265A JP2615078B2 (ja) | 1987-10-03 | 1987-10-03 | ディフェクト検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0192972A JPH0192972A (ja) | 1989-04-12 |
| JP2615078B2 true JP2615078B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=17205318
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62250265A Expired - Lifetime JP2615078B2 (ja) | 1987-10-03 | 1987-10-03 | ディフェクト検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2615078B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3595992B2 (ja) * | 1996-05-22 | 2004-12-02 | ソニー株式会社 | 記録媒体駆動装置および記録媒体駆動方法 |
| JPH1140694A (ja) | 1997-07-16 | 1999-02-12 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体パッケージおよび半導体装置とその製造方法 |
| JP4475833B2 (ja) * | 2001-03-02 | 2010-06-09 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | ミラー検出信号生成回路 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62117175A (ja) * | 1985-11-15 | 1987-05-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ドロツプアウト検出回路 |
-
1987
- 1987-10-03 JP JP62250265A patent/JP2615078B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0192972A (ja) | 1989-04-12 |
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