JP2611304B2 - 多層配線基板 - Google Patents
多層配線基板Info
- Publication number
- JP2611304B2 JP2611304B2 JP63030364A JP3036488A JP2611304B2 JP 2611304 B2 JP2611304 B2 JP 2611304B2 JP 63030364 A JP63030364 A JP 63030364A JP 3036488 A JP3036488 A JP 3036488A JP 2611304 B2 JP2611304 B2 JP 2611304B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- wiring board
- layer
- multilayer wiring
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、LSIチップを高密度実装する場合に使用し
て好適な多層配線基板の給電構造に関する。
て好適な多層配線基板の給電構造に関する。
一般に、多層配線基板は、外部一側に露呈する多数の
入出力ピンに接続する内部配線層を含み、入出力ピンと
反対側の面に多数にLSIチップが実装されている。
入出力ピンに接続する内部配線層を含み、入出力ピンと
反対側の面に多数にLSIチップが実装されている。
従来、この種の多層配線基板上に実装するLSIチップ
への給電は、信号入出力用のピンおよび電源供給用のピ
ンから内層配線層を介して行われている(例えば、米国
特許第4,612,602号明細書参照)。
への給電は、信号入出力用のピンおよび電源供給用のピ
ンから内層配線層を介して行われている(例えば、米国
特許第4,612,602号明細書参照)。
ところで、この種多層配線基板の給電構造において
は、入出力ピンの一部を信号入出用のピンとして、また
残りのものを電源供給用のピンとして割り当てているた
め、それだけ信号入出力用の電極および電源供給用の電
極が少なくなり、近年のLSIチップの高密度実装化に応
じることができないという問題があった。
は、入出力ピンの一部を信号入出用のピンとして、また
残りのものを電源供給用のピンとして割り当てているた
め、それだけ信号入出力用の電極および電源供給用の電
極が少なくなり、近年のLSIチップの高密度実装化に応
じることができないという問題があった。
本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、多層
配線基板における信号入出力用の電極および電源供給用
の電極の個数を増加させることができ、もって近年のLS
Iチップの高密度実装化に応じることができる多層配線
基板の給電構造を提供するものである。
配線基板における信号入出力用の電極および電源供給用
の電極の個数を増加させることができ、もって近年のLS
Iチップの高密度実装化に応じることができる多層配線
基板の給電構造を提供するものである。
本発明の多層配線基板は、セラミック積層配線基板の
裏面に設けられ、該セラミック積層配線基板内のスルー
ホールにより基板表面に接続された信号用の入出力ピン
と、セラミック積層配線基板の裏面に設けられ、該セラ
ミック積層基板内の導体層を介してスルーホールにより
基板表面に接続された電源供給用ピンと、セラミック積
層配線基板内の各導体層の面積を順次大きくするが順次
小さくすることにより基板の側面部に露出された段階状
の電源供給用のパッドとを含む。
裏面に設けられ、該セラミック積層配線基板内のスルー
ホールにより基板表面に接続された信号用の入出力ピン
と、セラミック積層配線基板の裏面に設けられ、該セラ
ミック積層基板内の導体層を介してスルーホールにより
基板表面に接続された電源供給用ピンと、セラミック積
層配線基板内の各導体層の面積を順次大きくするが順次
小さくすることにより基板の側面部に露出された段階状
の電源供給用のパッドとを含む。
第1図は本発明の第1の実施例の縦断面を含んだ斜視
図である。図中の内層に電源層を有するセラミック積層
基板を作る際、表面に導体層を印刷した層毎に面積の異
なる複数のセラミックシートを積層し、基板側面に段階
状に電源層を露出させ、これを電源供給用パッドとして
用いる。この時の1枚のセラミックシートの厚さは約10
0μm、導体層の厚さは約10μmで、金,銀−パラジウ
ムもしくはタングステン等の各種導体を成分とすること
ができる。
図である。図中の内層に電源層を有するセラミック積層
基板を作る際、表面に導体層を印刷した層毎に面積の異
なる複数のセラミックシートを積層し、基板側面に段階
状に電源層を露出させ、これを電源供給用パッドとして
用いる。この時の1枚のセラミックシートの厚さは約10
0μm、導体層の厚さは約10μmで、金,銀−パラジウ
ムもしくはタングステン等の各種導体を成分とすること
ができる。
露出させた外部との接続可能な段階状の電源供給用パ
ッド6は内装電源配線層5に接続され、セラミック積層
基板の裏面には固着された電源供給用ピン2が内装電源
配線層と同じ成分の導体を成分とし、穴径約200μmの
スルーホール4を介して内層電源配線層5に接続され
る。この時基板側面の電源供給用パッド6と電源供給用
ピン2は使用する電源の種類別に振り分けられ、セラミ
ック積層基板内の内層電源に接続される。電源は内層電
源層5からさらにスルーホール4を介して、セラミック
積層基板表面に形成された層間絶縁材にポリイミドを主
体として多層薄膜配線層7の幅の内部の配線網8に接続
されている。この配線網の線幅は約25μmである。外部
との接続可能な基板裏面に固着された信号用入出力ピン
3もスルーホール4を介して多層薄膜配線層7の中の配
線網8に接続されている。多層薄膜配線層7で接続され
た電源配線と信号配線は乗せ換えられ、薄膜多層薄膜配
線層7の表面まで接続され、この上に固着されているLS
Iチップ9のリード10に接続されている。セラミック積
層基板の周囲を1mmずつ階段状にして電源層を露出させ
ることにより基板周囲の電源パッドがピン約300本分に
相当し基板内の電圧ドロップを約20分の1程度にするこ
とができる。それと同時に従来電源供給用ピンとして振
り分けられていたものを、信号用の入出力ピンに振り分
けることが出来る様になる。
ッド6は内装電源配線層5に接続され、セラミック積層
基板の裏面には固着された電源供給用ピン2が内装電源
配線層と同じ成分の導体を成分とし、穴径約200μmの
スルーホール4を介して内層電源配線層5に接続され
る。この時基板側面の電源供給用パッド6と電源供給用
ピン2は使用する電源の種類別に振り分けられ、セラミ
ック積層基板内の内層電源に接続される。電源は内層電
源層5からさらにスルーホール4を介して、セラミック
積層基板表面に形成された層間絶縁材にポリイミドを主
体として多層薄膜配線層7の幅の内部の配線網8に接続
されている。この配線網の線幅は約25μmである。外部
との接続可能な基板裏面に固着された信号用入出力ピン
3もスルーホール4を介して多層薄膜配線層7の中の配
線網8に接続されている。多層薄膜配線層7で接続され
た電源配線と信号配線は乗せ換えられ、薄膜多層薄膜配
線層7の表面まで接続され、この上に固着されているLS
Iチップ9のリード10に接続されている。セラミック積
層基板の周囲を1mmずつ階段状にして電源層を露出させ
ることにより基板周囲の電源パッドがピン約300本分に
相当し基板内の電圧ドロップを約20分の1程度にするこ
とができる。それと同時に従来電源供給用ピンとして振
り分けられていたものを、信号用の入出力ピンに振り分
けることが出来る様になる。
このセラミック積層基板は、第2図に示されるよう
に、その周囲の電源供給用パッド6と接触できる形状を
持つコネクタ11が接続される。このコネクタ11はセラミ
ック積層基板の固定、及びセラミック積層基板上に実装
されたLSIチップ9の冷却を行うための冷却モジュール
の固定用フランジとしての機能をも有している。このコ
ネクタ11は、図に示すように、基板周囲の電源供給用パ
ッド6にバネ構造を有する電極12を押しつける応接型コ
ネクタであり、この電極12はセラミック積層基板をプリ
ント基板13に固定するときのビスに接続されている。こ
のようにビスをプリント基板13からの電源供給に使用す
ることにより、比較的大電流を流すことができ、しかも
ビスを締め付けることで接触不良も防ぐことができる。
に、その周囲の電源供給用パッド6と接触できる形状を
持つコネクタ11が接続される。このコネクタ11はセラミ
ック積層基板の固定、及びセラミック積層基板上に実装
されたLSIチップ9の冷却を行うための冷却モジュール
の固定用フランジとしての機能をも有している。このコ
ネクタ11は、図に示すように、基板周囲の電源供給用パ
ッド6にバネ構造を有する電極12を押しつける応接型コ
ネクタであり、この電極12はセラミック積層基板をプリ
ント基板13に固定するときのビスに接続されている。こ
のようにビスをプリント基板13からの電源供給に使用す
ることにより、比較的大電流を流すことができ、しかも
ビスを締め付けることで接触不良も防ぐことができる。
本実施例はセラミック積層基板内の内層電源配線層を
4層形成し、基板の表面にゆく程セラミックシートの面
積を小さくしたものであるが、これとは逆に基板の裏面
にゆる程面積を小さくしてゆくことも出来る(逆の段階
状)。
4層形成し、基板の表面にゆく程セラミックシートの面
積を小さくしたものであるが、これとは逆に基板の裏面
にゆる程面積を小さくしてゆくことも出来る(逆の段階
状)。
第3図は本発明の第2の実施例の一部破砕斜視図であ
る。同図において、セラミック製の多層配線基板1は、
タングステンを成分とし3層からなる内部電源層5と、
この内部電源層5にスルーホール4を介して接続されタ
ングステンを成分とする信号入出力用のピン3,電源供給
用のピン2と、これら両ピン3,2に前記内部電源層5,前
記スルーホール4を介して接続され金めっき製の配線網
8をその内部に有する薄膜層7とからなり、この薄膜層
7の上面には前記配線網8に接続するリード10を有する
LSIチップ9が実装されている。この多層配線基板1は
側面に前記内部電源層5が露呈されており、また前記薄
膜層7における各層間の絶縁材がポリイミド系の合成樹
脂によって形成されている。14は電源供給用のパッド
で、前記内部電源層5の外部露呈端面に3個設けられて
いる。これら全ての電源供給用のパッド14は、多層配線
基板1の製作後に内部電源層5の外部露呈端面にスパッ
タ膜を施してレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技
術によってレジストを溶解して一辺が2mmの導体膜にし
た後、金めっきすることにより形成することができる。
また、前記薄膜層7の配線網8は、導体にスパッタ膜を
施し、フォトリソグラフィ技術を用いることにより電源
供給用のパッド13と同様に形成することができる。な
お、前記配線網8の幅長は約25μmの寸法に、前記スル
ーホール4の口径は約200μmの寸法に、また前記内部
配線層5の厚さは約100μmの寸法に設定されている。
る。同図において、セラミック製の多層配線基板1は、
タングステンを成分とし3層からなる内部電源層5と、
この内部電源層5にスルーホール4を介して接続されタ
ングステンを成分とする信号入出力用のピン3,電源供給
用のピン2と、これら両ピン3,2に前記内部電源層5,前
記スルーホール4を介して接続され金めっき製の配線網
8をその内部に有する薄膜層7とからなり、この薄膜層
7の上面には前記配線網8に接続するリード10を有する
LSIチップ9が実装されている。この多層配線基板1は
側面に前記内部電源層5が露呈されており、また前記薄
膜層7における各層間の絶縁材がポリイミド系の合成樹
脂によって形成されている。14は電源供給用のパッド
で、前記内部電源層5の外部露呈端面に3個設けられて
いる。これら全ての電源供給用のパッド14は、多層配線
基板1の製作後に内部電源層5の外部露呈端面にスパッ
タ膜を施してレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技
術によってレジストを溶解して一辺が2mmの導体膜にし
た後、金めっきすることにより形成することができる。
また、前記薄膜層7の配線網8は、導体にスパッタ膜を
施し、フォトリソグラフィ技術を用いることにより電源
供給用のパッド13と同様に形成することができる。な
お、前記配線網8の幅長は約25μmの寸法に、前記スル
ーホール4の口径は約200μmの寸法に、また前記内部
配線層5の厚さは約100μmの寸法に設定されている。
このように構成された多層配線基板の給電構造におい
ては、多層配線基板1の一側に突出する入出力ピンのう
ち電源供給用のピン2の割り当て数を削減させ、信号入
出力用のピン3の割り当て数を増加させることができ、
多層配線基板1における信号入出力用の電極および電源
供給用の電極の個数を増加させることができる。
ては、多層配線基板1の一側に突出する入出力ピンのう
ち電源供給用のピン2の割り当て数を削減させ、信号入
出力用のピン3の割り当て数を増加させることができ、
多層配線基板1における信号入出力用の電極および電源
供給用の電極の個数を増加させることができる。
また、本実施例における電源供給用パッド14は電源供
給用のピン2の100本分に相当するため、電源供給用時
の基板内の電圧ドロップを約1/10程度にすることができ
る。
給用のピン2の100本分に相当するため、電源供給用時
の基板内の電圧ドロップを約1/10程度にすることができ
る。
この基板の電源供給パッド13は、第4図に示すよう
に、コネクタ15の電源およびビス16を介してプリント基
板13と電気的に接続されている。
に、コネクタ15の電源およびビス16を介してプリント基
板13と電気的に接続されている。
なお、本発明においては、電源供給用の電極が電源供
給用パッド14および電源供給用のピン2からなるが、こ
れら電極は使用する電源の種類に応じて使い分けられ
る。
給用パッド14および電源供給用のピン2からなるが、こ
れら電極は使用する電源の種類に応じて使い分けられ
る。
また、本発明における内部電源層5の層数および電源
供給用パッド14の個数を前述した実施例に限定されず、
例えば5個,6個,……としてもよく、その個数は適宜変
更することが自由である。
供給用パッド14の個数を前述した実施例に限定されず、
例えば5個,6個,……としてもよく、その個数は適宜変
更することが自由である。
以上説明した様に本発明は、セラミック積層基板の側
面部に電源層を露出させ、これを電源供給用パッドとし
て利用することにより、セラミック積層基板内の電圧ド
ロップを抑えることができ、かつLSIチップにつながる
セラミック積層基板裏面の外部との接続可能な電源供給
用ピンの数を減らす事ができ、信号入出力用ピンの数を
増やすことができる。
面部に電源層を露出させ、これを電源供給用パッドとし
て利用することにより、セラミック積層基板内の電圧ド
ロップを抑えることができ、かつLSIチップにつながる
セラミック積層基板裏面の外部との接続可能な電源供給
用ピンの数を減らす事ができ、信号入出力用ピンの数を
増やすことができる。
第1図は本発明の第1の実施例の断面図、第2図はプリ
ント基板との接続を示す図、第3図は本発明の第2の実
施例の斜視図および第4図はプリント基板との接続を示
す図である。 1……セラミック積層基板、2……電源供給用ピン、3
……信号入出力用ピン、4……スルーホール、5……内
層電源配線層、6……電源供給用パッド(階段状)、7
……薄膜多層配線層、8……配線網、9……LSIチッ
プ、10……リード。
ント基板との接続を示す図、第3図は本発明の第2の実
施例の斜視図および第4図はプリント基板との接続を示
す図である。 1……セラミック積層基板、2……電源供給用ピン、3
……信号入出力用ピン、4……スルーホール、5……内
層電源配線層、6……電源供給用パッド(階段状)、7
……薄膜多層配線層、8……配線網、9……LSIチッ
プ、10……リード。
Claims (2)
- 【請求項1】セラミック積層配線基板の裏面に設けら
れ、該セラミック積層配線基板内のスルーホールにより
基板表面に接続された信号用の入出力ピンと、 セラミック積層配線基板の裏面に設けられ、該セラミッ
ク積層基板内の導体層を介してスルーホールにより基板
表面に接続された電源供給用ピンと、 セラミック積層配線基板内の各導体層の面積を順次大き
くするか順次小さくすることにより基板の側面部に露出
された段階状の電源供給用のパッドとを含むことを特徴
とする多層配線基板。 - 【請求項2】その内部に電源層が形成され信号入出力用
のピンおよび電源供給用のピンを有する多層配線基板に
おいて、 前記多層配線基板の側面部に前記電源層を露出させ、こ
の露出した電源層に接続され複数の電位レベルの電圧が
供給される複数の電源供給用パッドを前記側面部に設け
たことを特徴とする多層配線基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63030364A JP2611304B2 (ja) | 1987-02-26 | 1988-02-12 | 多層配線基板 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4154587 | 1987-02-26 | ||
JP62-41545 | 1987-02-26 | ||
JP63030364A JP2611304B2 (ja) | 1987-02-26 | 1988-02-12 | 多層配線基板 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01794A JPH01794A (ja) | 1989-01-05 |
JPS64794A JPS64794A (en) | 1989-01-05 |
JP2611304B2 true JP2611304B2 (ja) | 1997-05-21 |
Family
ID=26368696
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63030364A Expired - Lifetime JP2611304B2 (ja) | 1987-02-26 | 1988-02-12 | 多層配線基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2611304B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0417951U (ja) * | 1990-06-01 | 1992-02-14 | ||
JP3162485B2 (ja) * | 1992-06-24 | 2001-04-25 | 株式会社東芝 | マルチチップモジュール |
JP4960854B2 (ja) * | 2007-12-27 | 2012-06-27 | 日本特殊陶業株式会社 | 電子部品検査装置用配線基板 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0098295B1 (en) * | 1982-01-13 | 1986-08-20 | Elxsi | Improved backplane power connection system |
JPS63284898A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-22 | Ibiden Co Ltd | 表面実装部品用シ−ルドパッケ−ジ |
-
1988
- 1988-02-12 JP JP63030364A patent/JP2611304B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS64794A (en) | 1989-01-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |