JP2598499B2 - 光ファイバ素線の間隔測定方法 - Google Patents
光ファイバ素線の間隔測定方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザ光を用いた、光ファイバテープ心線
内における光ファイバ素線の間隔測定方法に関する。
内における光ファイバ素線の間隔測定方法に関する。
〔従来の技術〕 加入者用の光ファイバケーブルとして、多数の光ファ
イバを高密度に収納したものが用いられている。高密度
光ファイバケーブルの一例を第３図に示す。この光ファ
イバケーブル12は、スロット形と呼ばれ、中心にテンシ
ョンメンバ18を内蔵する保持部14の周囲に溝部16を螺旋
状に形成し、その溝部16内に光ファイバテープ心線２を
４段重ねて収納し、全体をプラスチックなどの外被20で
覆ったものである。光ファイバテープ心線２は、第２図
に示すように、５本の光ファイバ素線４を横に並べ、周
囲を紫外線硬化型樹脂からなる二次被覆22により覆った
ものである。
イバを高密度に収納したものが用いられている。高密度
光ファイバケーブルの一例を第３図に示す。この光ファ
イバケーブル12は、スロット形と呼ばれ、中心にテンシ
ョンメンバ18を内蔵する保持部14の周囲に溝部16を螺旋
状に形成し、その溝部16内に光ファイバテープ心線２を
４段重ねて収納し、全体をプラスチックなどの外被20で
覆ったものである。光ファイバテープ心線２は、第２図
に示すように、５本の光ファイバ素線４を横に並べ、周
囲を紫外線硬化型樹脂からなる二次被覆22により覆った
ものである。
しかしながら従来は、光ファイバテープ心線２の製造
工程等において、光ファイバ素線４の間隔がばらつくこ
とがあった。すると、光ファイバテープ心線２の幅が広
がり溝部16に収納できなくなったり、また幅が小さくな
り溝部16に収納しても固定できなくなるという問題があ
った。更に、他の光ファイバテープ心線と接続する場
合、互いの光ファイバ素線４の間隔が不揃いで突き合わ
せができず、溶着接続ができないという問題点があっ
た。
工程等において、光ファイバ素線４の間隔がばらつくこ
とがあった。すると、光ファイバテープ心線２の幅が広
がり溝部16に収納できなくなったり、また幅が小さくな
り溝部16に収納しても固定できなくなるという問題があ
った。更に、他の光ファイバテープ心線と接続する場
合、互いの光ファイバ素線４の間隔が不揃いで突き合わ
せができず、溶着接続ができないという問題点があっ
た。
一方、上記問題を解決するため、光ファイバテープ心
線２の断面を検査して光ファイバ素線４の間隔を測定す
ることがあった。しかし、実際上は数百ｍから数kmの長
さの光ファイバテープ心線２を検査するため随時切断す
ることはできず、結局始端と終端でしか測定を行えず、
中間位置では全く測定できなかった。
線２の断面を検査して光ファイバ素線４の間隔を測定す
ることがあった。しかし、実際上は数百ｍから数kmの長
さの光ファイバテープ心線２を検査するため随時切断す
ることはできず、結局始端と終端でしか測定を行えず、
中間位置では全く測定できなかった。
そこで本発明では、光ファイバテープ心線の二次被覆
は透光性を有する材質からなり、且つ光ファイバ素線の
外被である緩衝層には着色が施されており、透過するレ
ーザ光を遮り弱めることに着目したものである。すなわ
ち、外層が光を遮る光ファイバ素線を少なくとも二本左
右方向に並列させて備え、それら光ファイバ素線の全体
の外周を透光性を有する被覆材で被覆してなる光ファイ
バテープ心線に対して、レーザ光を光ファイバ素線の並
列方向に横切るように走査させる（このとき透過するレ
ーザ光は、例えば第４図に示すように、光ファイバ素線
でその外層により弱められ、一方、被覆材ではその透光
性のために弱められないので、透過したレーザ光は光フ
ァイバ素線の位置や間隔に応じた強弱を有する。したが
って、透過レーザ光の強弱の検出で光ファイバ素線の位
置および間隔を認識しうる）。前記透過したレーザ光の
強弱を検出して光ファイバテープ心線内での光ファイバ
素線の位置や間隔を測定するようにしたのである。
は透光性を有する材質からなり、且つ光ファイバ素線の
外被である緩衝層には着色が施されており、透過するレ
ーザ光を遮り弱めることに着目したものである。すなわ
ち、外層が光を遮る光ファイバ素線を少なくとも二本左
右方向に並列させて備え、それら光ファイバ素線の全体
の外周を透光性を有する被覆材で被覆してなる光ファイ
バテープ心線に対して、レーザ光を光ファイバ素線の並
列方向に横切るように走査させる（このとき透過するレ
ーザ光は、例えば第４図に示すように、光ファイバ素線
でその外層により弱められ、一方、被覆材ではその透光
性のために弱められないので、透過したレーザ光は光フ
ァイバ素線の位置や間隔に応じた強弱を有する。したが
って、透過レーザ光の強弱の検出で光ファイバ素線の位
置および間隔を認識しうる）。前記透過したレーザ光の
強弱を検出して光ファイバテープ心線内での光ファイバ
素線の位置や間隔を測定するようにしたのである。
以下、本発明にかかる測定方法の一実施例について述
べる。
べる。
まず、測定しようとする光ファイバテープ心線につい
て述べる。光ファイバテープ心線２は、従来例において
述べたように５本の光ファイバ素線４を左右に並列に並
べ、外側を紫外線硬化型樹脂からなる二次被覆22で覆っ
たものである。（第２図に示す。）二次被覆22は透光性
を有し、外部から光ファイバ素線４が観察でき、又、光
ファイバ素線４は、中心に光ファイバ８を備え、その外
周には識別のため着色がなされた緩衝層10が被覆してあ
り、透過するレーザ光を遮って弱めるものである。
て述べる。光ファイバテープ心線２は、従来例において
述べたように５本の光ファイバ素線４を左右に並列に並
べ、外側を紫外線硬化型樹脂からなる二次被覆22で覆っ
たものである。（第２図に示す。）二次被覆22は透光性
を有し、外部から光ファイバ素線４が観察でき、又、光
ファイバ素線４は、中心に光ファイバ８を備え、その外
周には識別のため着色がなされた緩衝層10が被覆してあ
り、透過するレーザ光を遮って弱めるものである。
測定方法は、上記光ファイバテープ心線２の搬送途中
に、上方よりレーザ光を光ファイバテープ心線２を光フ
ァイバ素線の並列方向に横切るように走査し、下方で通
過光を測定する。第１図に測定装置の一例を示す。測定
装置30は、レーザ光１を発する発光部32とそれを受ける
受光部34、及び処理装置36などから構成され、受光部34
の上面を光ファイバテープ心線２が通る。37は、光ファ
イバテープ心線２の搬送用ローラである。前記発光部32
には、出力3mWの半導体レーザ（図示せず。）が収納し
てあり、波長780ミリのレーザ光１を発する。レーザ光
１は、受光部34に向けて平行に走査され、その走査回数
は一秒間に400回である。受光部34は、内部に検出部
（図示せず。）を備え、これでレーザ光１の強弱を感知
し、その検出値は処理装置36に送られる。例えば、第７
図に示すように光ファイバ素線４間に間隔の有る光ファ
イバテープ心線2bが測定装置30を通ると、受光部34は第
４図に示すような検出値を得る。そして、処理装置36で
は、この値を第５図に示す方形に処理し、図のBC間の距
離を検出する。
に、上方よりレーザ光を光ファイバテープ心線２を光フ
ァイバ素線の並列方向に横切るように走査し、下方で通
過光を測定する。第１図に測定装置の一例を示す。測定
装置30は、レーザ光１を発する発光部32とそれを受ける
受光部34、及び処理装置36などから構成され、受光部34
の上面を光ファイバテープ心線２が通る。37は、光ファ
イバテープ心線２の搬送用ローラである。前記発光部32
には、出力3mWの半導体レーザ（図示せず。）が収納し
てあり、波長780ミリのレーザ光１を発する。レーザ光
１は、受光部34に向けて平行に走査され、その走査回数
は一秒間に400回である。受光部34は、内部に検出部
（図示せず。）を備え、これでレーザ光１の強弱を感知
し、その検出値は処理装置36に送られる。例えば、第７
図に示すように光ファイバ素線４間に間隔の有る光ファ
イバテープ心線2bが測定装置30を通ると、受光部34は第
４図に示すような検出値を得る。そして、処理装置36で
は、この値を第５図に示す方形に処理し、図のBC間の距
離を検出する。
したがって、測定装置30によれば、通過した光ファイ
バテープ心線２の光ファイバ素線４間に間隔があるとき
は、その間隔が処理装置36で測定され、光ファイバ素線
４の状態を、光ファイバテープ心線２を損傷させること
なく任意の位置で得ることができる。それゆえ、光ファ
イバテープ心線２の不良を事前に検出でき、品質の向上
を図ることができる。
バテープ心線２の光ファイバ素線４間に間隔があるとき
は、その間隔が処理装置36で測定され、光ファイバ素線
４の状態を、光ファイバテープ心線２を損傷させること
なく任意の位置で得ることができる。それゆえ、光ファ
イバテープ心線２の不良を事前に検出でき、品質の向上
を図ることができる。
尚、上記実施例では、光ファイバテープ心線２を５芯
としたが、心線数は、これに限るものではない。更にレ
ーザ光１の走査回数は一秒間に400回に限るものではな
い。
としたが、心線数は、これに限るものではない。更にレ
ーザ光１の走査回数は一秒間に400回に限るものではな
い。
（実施例） 次に、本発明の測定結果を検証するため、当該方法で
測定した光ファイバテープ心線２を40m毎に切断し、断
面から光ファイバ素線４間の間隔を実際に測り比較し
た。
測定した光ファイバテープ心線２を40m毎に切断し、断
面から光ファイバ素線４間の間隔を実際に測り比較し
た。
第一の実験例は、第６図に示す光ファイバテープ心線
2aと第７図に示す光ファイバテープ心線2bについて行っ
た。光ファイバテープ心線2aは、光ファイバ素線４に間
隔がなく、光ファイバテープ心線2bには間隔が設けてあ
る。レーザ光１での結果を第８図に、実際に切断して得
た測定結果を第９図に示す。図中、Ａは光ファイバテー
プ心線2aを、Ｂは光ファイバテープ心線2bの結果を示
す。又、縦軸は光ファイバ素線４間の間隔を、横軸は光
ファイバテープ心線２の長さを表す（以下、同じ。）。
これによると、レーザ光１を用いた本発明による測定結
果は、直接測定した第９図の結果によく合致し、非常に
正しいことが確認できた。
2aと第７図に示す光ファイバテープ心線2bについて行っ
た。光ファイバテープ心線2aは、光ファイバ素線４に間
隔がなく、光ファイバテープ心線2bには間隔が設けてあ
る。レーザ光１での結果を第８図に、実際に切断して得
た測定結果を第９図に示す。図中、Ａは光ファイバテー
プ心線2aを、Ｂは光ファイバテープ心線2bの結果を示
す。又、縦軸は光ファイバ素線４間の間隔を、横軸は光
ファイバテープ心線２の長さを表す（以下、同じ。）。
これによると、レーザ光１を用いた本発明による測定結
果は、直接測定した第９図の結果によく合致し、非常に
正しいことが確認できた。
第二の実験例では、光ファイバテープ心線２を製造す
るに際して前工程と後工程に分け、前工程は第10図に示
すよう光ファイバ素線４の間隔を設けず、後工程は第11
図に示すように間隔を形成した。レーザ光１で測定した
結果を第12図に、実際に切断して得た測定結果を第13図
に示す。両図とも、後半に光ファイバ素線４の間隔が開
いたことを正確に示しており、これからも、本発明によ
る測定方法の結果が正しいことがわかる。
るに際して前工程と後工程に分け、前工程は第10図に示
すよう光ファイバ素線４の間隔を設けず、後工程は第11
図に示すように間隔を形成した。レーザ光１で測定した
結果を第12図に、実際に切断して得た測定結果を第13図
に示す。両図とも、後半に光ファイバ素線４の間隔が開
いたことを正確に示しており、これからも、本発明によ
る測定方法の結果が正しいことがわかる。
第三の実験例は、４芯の光ファイバテープ心線２を２
本組み合わせた場合である。第14図の光ファイバテープ
心線2aには２本の光ファイバテープ心線２の間に隙間が
あり、一方第15図の光ファイバテープ心線2bには隙間が
なくい。実験結果を第16図および第17図に示す。このよ
うな場合であっても、レーザ光１で測定した結果は実際
の値によく一致している。
本組み合わせた場合である。第14図の光ファイバテープ
心線2aには２本の光ファイバテープ心線２の間に隙間が
あり、一方第15図の光ファイバテープ心線2bには隙間が
なくい。実験結果を第16図および第17図に示す。このよ
うな場合であっても、レーザ光１で測定した結果は実際
の値によく一致している。
以上の実験結果から、本発明のレーザ光１を用いた測
定は、実際の状態を非常によく検出し、正確な値が得ら
れることがわかる。
定は、実際の状態を非常によく検出し、正確な値が得ら
れることがわかる。
更に本発明は、２カ所以上の隙間があってもよい。そ
の場合には、第18図に示すように立ち上がりの回数と図
中BC間およびDE間の間隔を測定し、光ファイバ素線４間
の隙間の数と間隔を検出する。又、第19図に示すよう
に、複数の光ファイバ素線４を集めた２本の光ファイバ
テープ心線２からなる光ファイバテープ心線2aの場合
で、光ファイバテープ心線２間の隙間のみ検出すればよ
いときには、グラフ50に示すように検出位置を限定して
図のBC間を測定し、光ファイバテープ心線２内の隙間を
示す数値をグラフ52からキャンセルしてもよい。
の場合には、第18図に示すように立ち上がりの回数と図
中BC間およびDE間の間隔を測定し、光ファイバ素線４間
の隙間の数と間隔を検出する。又、第19図に示すよう
に、複数の光ファイバ素線４を集めた２本の光ファイバ
テープ心線２からなる光ファイバテープ心線2aの場合
で、光ファイバテープ心線２間の隙間のみ検出すればよ
いときには、グラフ50に示すように検出位置を限定して
図のBC間を測定し、光ファイバテープ心線２内の隙間を
示す数値をグラフ52からキャンセルしてもよい。
本発明は、レーザ光を照射し、光ファイバテープ心線
を通過した光の強弱を測定して光ファイバ素線間の間隔
を検出することとしたので、連続した光ファイバテープ
心線の任意の位置において、且光ファイバテープ心線に
なんら損傷を与えることなく正確に光ファイバ素線間の
間隔を測定できる。
を通過した光の強弱を測定して光ファイバ素線間の間隔
を検出することとしたので、連続した光ファイバテープ
心線の任意の位置において、且光ファイバテープ心線に
なんら損傷を与えることなく正確に光ファイバ素線間の
間隔を測定できる。
第１図は、本発明の測定方法を実施するための測定装置
の一実施例を示す斜視図、 第２図は、テープファイバを示す断面図、 第３図は、光ファイバケーブルを示す断面図、 第４図は、透過レーザ光の検出値を示すグラフ、 第５図は、第４図の検出値を方形処理したグラフ、 第６図はおよび第７図は、２芯のテープファイバを示す
断面図、 第８図および第９図は、第６図および第７図のテープフ
ァイバの検出値を示すグラフ、 第10図および第11図は、４芯のテープファイバを示す断
面図、 第12図および第13図は、第10図および第11図のテープフ
ァイバの検出値を示すグラフ、 第14図および第15図は、８芯のテープファイバを示す断
面図、 第16図および第17図は、第14図および第15図のテープフ
ァイバの検出値を示すグラフ、 第18図は、５芯のテープファイバの断面図並びにその検
出結果を示すグラフ、 第19図は、８芯のテープファイバの断面図並びにその検
出結果を示すグラフである。 図面中 １……レーザ光、２……光ファイバテープ心線、４……
光ファイバ素線、８……、光ファイバ、10……緩衝層、
12……光ファイバケーブル、14……保持部、16……溝
部、18……テンションメンバ、20……外被、22……二次
被覆、30……測定装置、32……発光部、34……受光部、
36……処理装置。
の一実施例を示す斜視図、 第２図は、テープファイバを示す断面図、 第３図は、光ファイバケーブルを示す断面図、 第４図は、透過レーザ光の検出値を示すグラフ、 第５図は、第４図の検出値を方形処理したグラフ、 第６図はおよび第７図は、２芯のテープファイバを示す
断面図、 第８図および第９図は、第６図および第７図のテープフ
ァイバの検出値を示すグラフ、 第10図および第11図は、４芯のテープファイバを示す断
面図、 第12図および第13図は、第10図および第11図のテープフ
ァイバの検出値を示すグラフ、 第14図および第15図は、８芯のテープファイバを示す断
面図、 第16図および第17図は、第14図および第15図のテープフ
ァイバの検出値を示すグラフ、 第18図は、５芯のテープファイバの断面図並びにその検
出結果を示すグラフ、 第19図は、８芯のテープファイバの断面図並びにその検
出結果を示すグラフである。 図面中 １……レーザ光、２……光ファイバテープ心線、４……
光ファイバ素線、８……、光ファイバ、10……緩衝層、
12……光ファイバケーブル、14……保持部、16……溝
部、18……テンションメンバ、20……外被、22……二次
被覆、30……測定装置、32……発光部、34……受光部、
36……処理装置。
Claims (1)
- 【請求項１】外層が光を遮り弱める光ファイバ素線を少
なくとも二本左右方向に並列させて備え、それら光ファ
イバ素線の全体の外周を透光性を有する被覆材で被覆し
てなる光ファイバテープ心線にレーザ光を照射し、この
レーザ光を当該光ファイバ素線の並列方向に光ファイバ
テープ心線を横切るように走査させ、 該レーザ光の透過光の強弱を検出することにより当該光
ファイバテープ心線内での前記光ファイバ素線の配置を
測定することとした光ファイバ素線の間隔測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32046688A JP2598499B2 (ja) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | 光ファイバ素線の間隔測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32046688A JP2598499B2 (ja) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | 光ファイバ素線の間隔測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02167415A JPH02167415A (ja) | 1990-06-27 |
| JP2598499B2 true JP2598499B2 (ja) | 1997-04-09 |
Family
ID=18121768
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32046688A Expired - Lifetime JP2598499B2 (ja) | 1988-12-21 | 1988-12-21 | 光ファイバ素線の間隔測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2598499B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20170071178A1 (en) * | 2015-09-15 | 2017-03-16 | Philip J. Serocki | Rotating Swivel Assemblies for Outriggers |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4923255B2 (ja) * | 2006-11-07 | 2012-04-25 | 国立大学法人横浜国立大学 | 円柱体の直径、屈折率、中心軸間距離及び入射光軸と間隔のなす角の測定方法およびこれを用いた装置 |
-
1988
- 1988-12-21 JP JP32046688A patent/JP2598499B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20170071178A1 (en) * | 2015-09-15 | 2017-03-16 | Philip J. Serocki | Rotating Swivel Assemblies for Outriggers |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02167415A (ja) | 1990-06-27 |
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