JP2563659Y2 - 半田付け検査用治具 - Google Patents
半田付け検査用治具Info
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- JP2563659Y2 JP2563659Y2 JP1991046347U JP4634791U JP2563659Y2 JP 2563659 Y2 JP2563659 Y2 JP 2563659Y2 JP 1991046347 U JP1991046347 U JP 1991046347U JP 4634791 U JP4634791 U JP 4634791U JP 2563659 Y2 JP2563659 Y2 JP 2563659Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は表面実装形電子部品の
半田付けの検査に用いる半田付け検査用治具、特に、Ｐ
ＬＣＣ（Ｐｌａｓｔｉｃ Ｌｅａｄｅｄ Ｃｈｉｐ Ｃ
ａｒｒｉｅｒ）あるいはＬＣＣ（Ｌｅａｄｌｅｓｓ Ｃ
ｈｉｐ Ｃａｒｒｉｅｒ）等のパッケージの半田付けの
検査に適する検査用治具に関する。
半田付けの検査に用いる半田付け検査用治具、特に、Ｐ
ＬＣＣ（Ｐｌａｓｔｉｃ Ｌｅａｄｅｄ Ｃｈｉｐ Ｃ
ａｒｒｉｅｒ）あるいはＬＣＣ（Ｌｅａｄｌｅｓｓ Ｃ
ｈｉｐ Ｃａｒｒｉｅｒ）等のパッケージの半田付けの
検査に適する検査用治具に関する。
【０００２】
【従来の技術】上記ＰＬＣＣ等に代表されるＩＣパッケ
ージ等の表面実装形電子部品はプリント基板の表面に半
田付けして設置されるが、この種の電子部品、例えばＰ
ＬＣＣはリードピッチが小さく半田付けによってブリッ
ジ等の不都合が生じやすい。このため、従来、電子部品
の半田付けを行った後は、技術員が目視により半田付け
の良否の検査を行っていた。そして、この目視検査にお
いては、リードとパッドとの半田付け部分がＰＬＣＣの
下部に位置するため、技術員は比較的小さな目視角α
で、すなわち目線が基板の表面と角度αを成すように斜
めに視て検査していた。
ージ等の表面実装形電子部品はプリント基板の表面に半
田付けして設置されるが、この種の電子部品、例えばＰ
ＬＣＣはリードピッチが小さく半田付けによってブリッ
ジ等の不都合が生じやすい。このため、従来、電子部品
の半田付けを行った後は、技術員が目視により半田付け
の良否の検査を行っていた。そして、この目視検査にお
いては、リードとパッドとの半田付け部分がＰＬＣＣの
下部に位置するため、技術員は比較的小さな目視角α
で、すなわち目線が基板の表面と角度αを成すように斜
めに視て検査していた。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の目視検査にあっては、技術員はＰＬＣＣの下部
を斜めに視なければならないため、目の位置が基板の大
きさに制約されて目とＰＬＣＣとが大きく離間し、作業
員の目の疲労が大きく、検査の能率が低いという問題が
あった。この考案は、上記問題を鑑みてなされたもの
で、作業員の目の疲労を軽減でき、検査の能率を改善で
きる検査用治具を提供することを目的とする。
た従来の目視検査にあっては、技術員はＰＬＣＣの下部
を斜めに視なければならないため、目の位置が基板の大
きさに制約されて目とＰＬＣＣとが大きく離間し、作業
員の目の疲労が大きく、検査の能率が低いという問題が
あった。この考案は、上記問題を鑑みてなされたもの
で、作業員の目の疲労を軽減でき、検査の能率を改善で
きる検査用治具を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この考案は、導体部をプリント配線基板の表面のパ
ッド部に半田付けすることにより略矩形板状の表面実装
形電子部品をプリント配線基板に固定した後に、この固
定された電子部品の導体部と前記プリント配線基板のパ
ッド部との半田付けの状態を目視検査するために用いる
半田付け検査用治具であって、この検査用治具は、前記
略矩形板状の表面実装形電子部品を囲う矩形枠状をな
し、各辺を透光性材料からなるプリズムで構成したもの
であり、 各プリズムは、プリント配線基板に垂直に且つ
検査対象の半田に臨ませる嵌合部と、この嵌合部の下縁
から前記半田から遠ざかる側へ斜めに立上げた傾斜面と
を備え、各傾斜面で反射させることで表面実装形電子部
品の四辺の半田付け部分を前記基板の上方から目視する
ことができるようにしたことを特徴とする。
め、この考案は、導体部をプリント配線基板の表面のパ
ッド部に半田付けすることにより略矩形板状の表面実装
形電子部品をプリント配線基板に固定した後に、この固
定された電子部品の導体部と前記プリント配線基板のパ
ッド部との半田付けの状態を目視検査するために用いる
半田付け検査用治具であって、この検査用治具は、前記
略矩形板状の表面実装形電子部品を囲う矩形枠状をな
し、各辺を透光性材料からなるプリズムで構成したもの
であり、 各プリズムは、プリント配線基板に垂直に且つ
検査対象の半田に臨ませる嵌合部と、この嵌合部の下縁
から前記半田から遠ざかる側へ斜めに立上げた傾斜面と
を備え、各傾斜面で反射させることで表面実装形電子部
品の四辺の半田付け部分を前記基板の上方から目視する
ことができるようにしたことを特徴とする。
【０００５】
【作用】この考案の半田付け検査用治具は、嵌合部を電
子部品に嵌合させることでプリズム部と電子部品との位
置合せができ、このプリズム部により電子部品の導体部
とプリント配線基板のパッド部との半田付け部分を上方
から接近して視ることができる。したがって、半田付け
部分の目視検査が容易かつ迅速に行え、作業員の負担を
軽減でき、また、検査の能率を向上できる。しかも、検
査用治具の底が傾斜面となっており、この傾斜面が直角
三角形の斜辺に相当する。直角三角形の斜辺若しくは他
の辺がプリント配線基板に接触するものに比べて、本考
案は直角三角形の頂点の１個のみがプリント配線基板に
接触し、斜辺の殆どはプリント配線基板から離れてい
る。従って、この斜辺（傾斜面）の下方に他の電子部品
があっても何ら問題がない。すなわち、本考案の検査用
治具は、電子部品が比較的密に配置されたプリント配線
基板であっても検査を実施することができる。
子部品に嵌合させることでプリズム部と電子部品との位
置合せができ、このプリズム部により電子部品の導体部
とプリント配線基板のパッド部との半田付け部分を上方
から接近して視ることができる。したがって、半田付け
部分の目視検査が容易かつ迅速に行え、作業員の負担を
軽減でき、また、検査の能率を向上できる。しかも、検
査用治具の底が傾斜面となっており、この傾斜面が直角
三角形の斜辺に相当する。直角三角形の斜辺若しくは他
の辺がプリント配線基板に接触するものに比べて、本考
案は直角三角形の頂点の１個のみがプリント配線基板に
接触し、斜辺の殆どはプリント配線基板から離れてい
る。従って、この斜辺（傾斜面）の下方に他の電子部品
があっても何ら問題がない。すなわち、本考案の検査用
治具は、電子部品が比較的密に配置されたプリント配線
基板であっても検査を実施することができる。
【０００６】
【実施例】以下、この考案の実施例を図面を参照して説
明する。図１および図３にはこの考案の一実施例にかか
る検査用治具を示し、図１がプリント配線基板とともに
示す断面図、図３が斜視図である。
明する。図１および図３にはこの考案の一実施例にかか
る検査用治具を示し、図１がプリント配線基板とともに
示す断面図、図３が斜視図である。
【０００７】図１において、１１はプリント配線基板、
１２はＩＣチップが収容されたＰＬＣＣ、１３は検査用
治具である。図示しないが、プリント基板１１には表面
に銅等の導電材からパッドが印刷等で形成される。
１２はＩＣチップが収容されたＰＬＣＣ、１３は検査用
治具である。図示しないが、プリント基板１１には表面
に銅等の導電材からパッドが印刷等で形成される。
【０００８】ＰＬＣＣ１２は、図３にも示すように、厚
みが小さい略平板状（フラットパッケージ）を成し、そ
の４辺の外縁部に複数のリード（導体部）１２ａが比較
的小さいピッチ（間隔）で内部から引き出されている。
このＰＬＣＣ１２のリード１２ａは、内側にＪ状に屈曲
し、上述したプリント配線基板１１の表面のパッドに半
田（Ｈ）付けされている。
みが小さい略平板状（フラットパッケージ）を成し、そ
の４辺の外縁部に複数のリード（導体部）１２ａが比較
的小さいピッチ（間隔）で内部から引き出されている。
このＰＬＣＣ１２のリード１２ａは、内側にＪ状に屈曲
し、上述したプリント配線基板１１の表面のパッドに半
田（Ｈ）付けされている。
【０００９】検査用治具１３は、ＰＬＣＣ１２の外形状
に対応した嵌合穴１３ａが形成された矩形枠状を成し、
アクリル等の透光性樹脂あるいはガラス等の透光性無機
材料から構成される。この検査用治具１３には、図３に
も示すように、一面に外縁側に前述した目視角αと対応
した所定角度θの傾斜面１３ｂが形成され、他面に平坦
な透光面１３ｃが形成される。上述の嵌合穴１３ａが嵌
合部に、また、傾斜面１３ｂと透光面１３ｃとがプリズ
ム部Ｐに相当する。
に対応した嵌合穴１３ａが形成された矩形枠状を成し、
アクリル等の透光性樹脂あるいはガラス等の透光性無機
材料から構成される。この検査用治具１３には、図３に
も示すように、一面に外縁側に前述した目視角αと対応
した所定角度θの傾斜面１３ｂが形成され、他面に平坦
な透光面１３ｃが形成される。上述の嵌合穴１３ａが嵌
合部に、また、傾斜面１３ｂと透光面１３ｃとがプリズ
ム部Ｐに相当する。
【００１０】この実施例にあっては、プリント配線基板
１１の表面のパッドにＰＬＣＣ１２のリード１２ａを半
田付けし、半田によってＰＬＣＣ１２を基板１１に固定
する。そして、検査時においては、検査用治具１３は傾
斜面１３ｂが形成された面をプリント基板１１の表面に
向けて嵌合穴１３ａにＰＬＣＣ１２を嵌合させ、嵌合穴
１３ａにＰＬＣＣ１２が嵌合した状態で検査を行う。
１１の表面のパッドにＰＬＣＣ１２のリード１２ａを半
田付けし、半田によってＰＬＣＣ１２を基板１１に固定
する。そして、検査時においては、検査用治具１３は傾
斜面１３ｂが形成された面をプリント基板１１の表面に
向けて嵌合穴１３ａにＰＬＣＣ１２を嵌合させ、嵌合穴
１３ａにＰＬＣＣ１２が嵌合した状態で検査を行う。
【００１１】ここで、図１に矢印に示すように、この状
態では検査用治具１３は透光面１３ｃから入射した光が
傾斜面１３ｂで反射して目視角αと同一の角度でＰＬＣ
Ｃ１２の側部を照射する。このため、作業員は基板１１
の上方から治具１３の透光面１３ｃを視るとリード１２
ａとパッドとの半田付けの状態を目視角αで視ることが
でき、半田付け部分の目視検査を容易に行え、作業員の
負担が軽減でき、また、検査を能率的に行える。特に、
この治具１３は、傾斜面１３ｂの傾斜角度θを目視角α
と対応させたため、最適な角度で半田付け部分を視るこ
とができ、目視検査を正確に行える。
態では検査用治具１３は透光面１３ｃから入射した光が
傾斜面１３ｂで反射して目視角αと同一の角度でＰＬＣ
Ｃ１２の側部を照射する。このため、作業員は基板１１
の上方から治具１３の透光面１３ｃを視るとリード１２
ａとパッドとの半田付けの状態を目視角αで視ることが
でき、半田付け部分の目視検査を容易に行え、作業員の
負担が軽減でき、また、検査を能率的に行える。特に、
この治具１３は、傾斜面１３ｂの傾斜角度θを目視角α
と対応させたため、最適な角度で半田付け部分を視るこ
とができ、目視検査を正確に行える。
【００１２】図２にはこの考案の他の実施例にかかる検
査用治具を示す。なお、この実施例では、上述した実施
例と同一の部分には同一の符号を付して説明を省略す
る。
査用治具を示す。なお、この実施例では、上述した実施
例と同一の部分には同一の符号を付して説明を省略す
る。
【００１３】この実施例は、電子部品として下部にパッ
ド２１ａを有するＬＣＣ２１を用い、このＬＣＣ２１が
パッド２１ａを基板１１のパッドに半田付けされて基板
１１に固定される。
ド２１ａを有するＬＣＣ２１を用い、このＬＣＣ２１が
パッド２１ａを基板１１のパッドに半田付けされて基板
１１に固定される。
【００１４】この実施例にあっても、検査時において
は、治具１３は嵌合穴１３ａにＬＣＣ２１を嵌合させて
使用され、作業員はＬＣＣ２１のパッド２１ａと基板１
１のパッドとの半田付け部分を上方から視ることができ
る。したがって、検査が容易であり、また、作業員の疲
労を軽減することもできる。
は、治具１３は嵌合穴１３ａにＬＣＣ２１を嵌合させて
使用され、作業員はＬＣＣ２１のパッド２１ａと基板１
１のパッドとの半田付け部分を上方から視ることができ
る。したがって、検査が容易であり、また、作業員の疲
労を軽減することもできる。
【００１５】なお、上述した実施例ではＩＣチップのパ
ッケージを例示するが、他の電子部品に付いてもこの考
案が適用できることは述べるまでもない。また、この考
案の治具は半田付け部分を拡大して視ることができるよ
うに構成すること、すなわちプリズム部Ｐを拡大レンズ
として構成することができ、このように構成すれば、作
業員の疲労をより軽減することができるようになる。
尚、図１において、検査用治具１３の底が傾斜面１３ｂ
となっており、この傾斜面が直角三角形の斜辺に相当す
る。直角三角形の斜辺若しくは他の辺がプリント配線基
板１１に直接接触するものに比べて、本考案は直角三角
形の頂点の１個のみがプリント配線基板１１に接触し、
斜辺（傾斜面１３ｂ）の殆どはプリント配線基板１１か
ら離れている。従って、この斜辺（傾斜面１３ｂ）の下
方に他の電子部品があっても何ら問題がない。
ッケージを例示するが、他の電子部品に付いてもこの考
案が適用できることは述べるまでもない。また、この考
案の治具は半田付け部分を拡大して視ることができるよ
うに構成すること、すなわちプリズム部Ｐを拡大レンズ
として構成することができ、このように構成すれば、作
業員の疲労をより軽減することができるようになる。
尚、図１において、検査用治具１３の底が傾斜面１３ｂ
となっており、この傾斜面が直角三角形の斜辺に相当す
る。直角三角形の斜辺若しくは他の辺がプリント配線基
板１１に直接接触するものに比べて、本考案は直角三角
形の頂点の１個のみがプリント配線基板１１に接触し、
斜辺（傾斜面１３ｂ）の殆どはプリント配線基板１１か
ら離れている。従って、この斜辺（傾斜面１３ｂ）の下
方に他の電子部品があっても何ら問題がない。
【００１６】
【考案の効果】以上説明したように本考案によれば、矩
形枠状の検査用治具を略矩形板状の表面実装形電子部品
にセットすることで、電子部品の半田付け部分を四辺と
もに、基板の上方から目視検査することができ、目視検
査を容易かつ能率的に行うことができ、作業員の疲労を
軽減できるようになる。しかも、検査用治具の四辺の底
が傾斜面となっており、この傾斜面の下方に他の電子部
品があっても何ら問題がない。すなわち、本考案の検査
用治具は、電子部品が比較的密に配置されたプリント配
線基板であっても検査を実施することができる。
形枠状の検査用治具を略矩形板状の表面実装形電子部品
にセットすることで、電子部品の半田付け部分を四辺と
もに、基板の上方から目視検査することができ、目視検
査を容易かつ能率的に行うことができ、作業員の疲労を
軽減できるようになる。しかも、検査用治具の四辺の底
が傾斜面となっており、この傾斜面の下方に他の電子部
品があっても何ら問題がない。すなわち、本考案の検査
用治具は、電子部品が比較的密に配置されたプリント配
線基板であっても検査を実施することができる。
【図１】この考案の一実施例にかかる検査用治具を示す
断面図
断面図
【図２】この考案の他の実施例にかかる検査用治具の断
面図
面図
【図３】図１に示す検査用治具の斜視図
１１・・・プリント配線基板、１２・・・ＰＬＣＣ（電子部
品）、１２ａ・・・リード（導体部）、１３・・・検査用治
具、１３ａ・・・嵌合穴（嵌合部）、１３ｂ・・・傾斜面（プ
リズム部）、１３ｃ・・・透光面（プリズム部）、２１・・・
ＬＣＣ（電子部品）、２１ａ・・・パッド（導体部）。
品）、１２ａ・・・リード（導体部）、１３・・・検査用治
具、１３ａ・・・嵌合穴（嵌合部）、１３ｂ・・・傾斜面（プ
リズム部）、１３ｃ・・・透光面（プリズム部）、２１・・・
ＬＣＣ（電子部品）、２１ａ・・・パッド（導体部）。
Claims (1)
- 【請求項１】 導体部をプリント配線基板の表面のパッ
ド部に半田付けすることにより略矩形板状の表面実装形
電子部品をプリント配線基板に固定した後に、この固定
された電子部品の導体部と前記プリント配線基板のパッ
ド部との半田付けの状態を目視検査するために用いる半
田付け検査用治具であって、 この検査用治具は、前記略矩形板状の表面実装形電子部
品を囲う矩形枠状をなし、各辺を透光性材料からなるプ
リズムで構成したものであり、 各プリズムは、 プリント配線基板に垂直に且つ検査対象
の半田に臨ませる嵌合部と、この嵌合部の下縁から前記
半田から遠ざかる側へ斜めに立上げた傾斜面とを備え、各 傾斜面で反射させることで表面実装形電子部品の四辺
の半田付け部分を前記基板の上方から目視することがで
きるようにしたことを特徴とする半田付け検査用治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991046347U JP2563659Y2 (ja) | 1991-05-23 | 1991-05-23 | 半田付け検査用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991046347U JP2563659Y2 (ja) | 1991-05-23 | 1991-05-23 | 半田付け検査用治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04130441U JPH04130441U (ja) | 1992-11-30 |
| JP2563659Y2 true JP2563659Y2 (ja) | 1998-02-25 |
Family
ID=31925877
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991046347U Expired - Fee Related JP2563659Y2 (ja) | 1991-05-23 | 1991-05-23 | 半田付け検査用治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2563659Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106546909B (zh) * | 2016-10-29 | 2024-03-15 | 宁波双林汽车部件股份有限公司 | 一种检查电路板芯片焊接质量的承载装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60247106A (ja) * | 1984-05-22 | 1985-12-06 | Fujitsu Ltd | 形状検査装置 |
| JPS63164231A (ja) * | 1986-12-25 | 1988-07-07 | Toshiba Corp | 半導体リ−ド外観検査装置 |
| JP2577805B2 (ja) * | 1989-12-27 | 1997-02-05 | 株式会社日立製作所 | はんだ付部検査方法とその装置並びに電子部品実装状態検査方法 |
-
1991
- 1991-05-23 JP JP1991046347U patent/JP2563659Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04130441U (ja) | 1992-11-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971104 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |