JPH0526765Y2 - - Google Patents
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- JPH0526765Y2 JPH0526765Y2 JP16279687U JP16279687U JPH0526765Y2 JP H0526765 Y2 JPH0526765 Y2 JP H0526765Y2 JP 16279687 U JP16279687 U JP 16279687U JP 16279687 U JP16279687 U JP 16279687U JP H0526765 Y2 JPH0526765 Y2 JP H0526765Y2
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Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この考案は、樹脂封止時の塗布レベルを均一に
するための改良を施した樹脂封止形電子部品用ク
リツプリードに関する。
するための改良を施した樹脂封止形電子部品用ク
リツプリードに関する。
(従来の技術)
従来、樹脂封止形の電子部品、例えばバイブリ
ツドIC等を製造する場合には、セラミツク等の
基板に回路パターンを形成し、チツプ実装すると
ともに、リードクリツプをチツプ周囲に半田付け
したもの(以下、ワークという)を封止剤に浸漬
させることにより、樹脂封止することが行われ
る。
ツドIC等を製造する場合には、セラミツク等の
基板に回路パターンを形成し、チツプ実装すると
ともに、リードクリツプをチツプ周囲に半田付け
したもの(以下、ワークという)を封止剤に浸漬
させることにより、樹脂封止することが行われ
る。
例えば、第6図に示すように、シングルインラ
インパツケージ形のハイブリツドICの場合には、
回路チツプが実装された基板1の片側の辺縁に複
数本のクリツプリード2が接続されたワーク10
を樹脂封止する。
インパツケージ形のハイブリツドICの場合には、
回路チツプが実装された基板1の片側の辺縁に複
数本のクリツプリード2が接続されたワーク10
を樹脂封止する。
樹脂封止の行程は、第7図A〜Cに示すよう
に、ホルダ3にクリツプリード2の解放端を挟持
して、ワーク10を鉛直線方向へ支持し、封止剤
5の入つた封止剤槽4の上方に持つて行き、同図
Bに示すように、ワーク10を封止剤5中へ振動
を与えつつ浸漬させる。その後、ワーク10を引
上げると、同図Cに示すように、基板1の周囲及
びクリツプリード2の基板への接続端部が、封止
剤層6により覆われて、樹脂封止が行われる。
に、ホルダ3にクリツプリード2の解放端を挟持
して、ワーク10を鉛直線方向へ支持し、封止剤
5の入つた封止剤槽4の上方に持つて行き、同図
Bに示すように、ワーク10を封止剤5中へ振動
を与えつつ浸漬させる。その後、ワーク10を引
上げると、同図Cに示すように、基板1の周囲及
びクリツプリード2の基板への接続端部が、封止
剤層6により覆われて、樹脂封止が行われる。
従来の樹脂封止装置としては、特開昭57−
110372号公報、特開昭57−1133603号公報、実開
昭57−94903号公報等に、ワークをホルダやベル
トに支持させて、鉛直線方向へ昇降させることに
より、封止剤槽中にワークを浸漬させる装置が開
示されている。
110372号公報、特開昭57−1133603号公報、実開
昭57−94903号公報等に、ワークをホルダやベル
トに支持させて、鉛直線方向へ昇降させることに
より、封止剤槽中にワークを浸漬させる装置が開
示されている。
(考案が解決しようとする問題点)
しかしながら、上記従来例にあつては、前記ク
リツプリードの形状が、第6図及び第8図に示す
ように、基板1に接続される端部が、三又に割れ
ており、中央のリード7と両側のリード8により
基板1の辺縁を挟持する構成になつている。そし
て、中央のリード7が基板1上の回路に導通する
ランド(図示略)に半田付けされる。
リツプリードの形状が、第6図及び第8図に示す
ように、基板1に接続される端部が、三又に割れ
ており、中央のリード7と両側のリード8により
基板1の辺縁を挟持する構成になつている。そし
て、中央のリード7が基板1上の回路に導通する
ランド(図示略)に半田付けされる。
このようなクリツプリード2が複数接続された
ワーク10を封止剤5に浸漬させると、封止剤5
の表面張力及び粘性により、第9図に示すよう
に、封止剤層6が、基板1の辺縁中央部で凹む形
に塗布される。
ワーク10を封止剤5に浸漬させると、封止剤5
の表面張力及び粘性により、第9図に示すよう
に、封止剤層6が、基板1の辺縁中央部で凹む形
に塗布される。
これは、基板1の中央部では、重力により封止
剤層6が下方へ引かれる度合いが大きいこと、及
び、封止剤5の表面張力及び粘性が高いため、水
面に物体を落としたときに中央が凹むことと同様
の原理によつて、基板1が封止剤5中に下降する
際に、封止剤5を下方へ押すため、中央が凹んで
しまうことが原因となつている。
剤層6が下方へ引かれる度合いが大きいこと、及
び、封止剤5の表面張力及び粘性が高いため、水
面に物体を落としたときに中央が凹むことと同様
の原理によつて、基板1が封止剤5中に下降する
際に、封止剤5を下方へ押すため、中央が凹んで
しまうことが原因となつている。
このような現象は、一般に、封止剤の材質とし
て、粘性の高い材質、例えばフエノール樹脂、エ
ポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコン樹脂等を使
用することが多いため、殊に顕著に現れる。
て、粘性の高い材質、例えばフエノール樹脂、エ
ポキシ樹脂、アクリル樹脂、シリコン樹脂等を使
用することが多いため、殊に顕著に現れる。
そして、前記のように、クリツプリード2の基
板1への接続部の上方へ封止剤層6が盛上がる量
(以下、塗布レベルという)が異なると、塗布レ
ベルの高い基板1の辺縁端部においては、プリン
ト基板への着装時に、半田の乗る部分が少なくな
り、半田付けの強度が低下することがある。ま
た、塗布レベルの低い基板1の辺縁中央部におい
ては、封止が十分に行われずに耐湿性不良が生じ
る場合がある。
板1への接続部の上方へ封止剤層6が盛上がる量
(以下、塗布レベルという)が異なると、塗布レ
ベルの高い基板1の辺縁端部においては、プリン
ト基板への着装時に、半田の乗る部分が少なくな
り、半田付けの強度が低下することがある。ま
た、塗布レベルの低い基板1の辺縁中央部におい
ては、封止が十分に行われずに耐湿性不良が生じ
る場合がある。
(問題点を解決するための手段)
上記問題点を解決するために、本考案は、樹脂
封止形電子部品の基板の辺縁に一端が固定されて
内部回路に接続され、該一端が基板と共に樹脂封
止される樹脂封止形電子部品用クリツプリードに
おいて、前記基板に固定される端部近傍に凹凸の
少なくとも一方を形成し、かつ、複数本のクリツ
プリードの各々の凹凸の形成位置を、前記基板の
辺縁中央部では基板より遠く、基板辺縁端部を行
く程基板に近くなるように設定したことを特徴と
する。
封止形電子部品の基板の辺縁に一端が固定されて
内部回路に接続され、該一端が基板と共に樹脂封
止される樹脂封止形電子部品用クリツプリードに
おいて、前記基板に固定される端部近傍に凹凸の
少なくとも一方を形成し、かつ、複数本のクリツ
プリードの各々の凹凸の形成位置を、前記基板の
辺縁中央部では基板より遠く、基板辺縁端部を行
く程基板に近くなるように設定したことを特徴と
する。
(作用)
上記構成により本考案は、封止剤の表面張力と
粘性により、前記凹凸部分に封止剤が絡み付き、
該凹凸部分が封止剤の上昇を抑える働きを呈する
ことにより、基板辺縁端部では、中央部よりも封
止剤の塗布レベルの上昇が抑えられる。
粘性により、前記凹凸部分に封止剤が絡み付き、
該凹凸部分が封止剤の上昇を抑える働きを呈する
ことにより、基板辺縁端部では、中央部よりも封
止剤の塗布レベルの上昇が抑えられる。
従つて、この作用と、本来の封止剤表面の中央
部が凹む減少とが相俟つて、封止剤の塗布レベル
が均一になる。
部が凹む減少とが相俟つて、封止剤の塗布レベル
が均一になる。
この結果、プリント基板への着装時に、半田の
のる部分が各クリツプリードについて均一にな
り、半田付けの強度の不均衡が発生することがな
く、また、封止不十分な部分が発生することを防
止でき、これにより、耐湿性不良となることを防
止できる。
のる部分が各クリツプリードについて均一にな
り、半田付けの強度の不均衡が発生することがな
く、また、封止不十分な部分が発生することを防
止でき、これにより、耐湿性不良となることを防
止できる。
(実施例)
第1図は、本考案の第1実施例の構成を示す図
であり、同図Aは正面図、同図Bは側面図であ
る。
であり、同図Aは正面図、同図Bは側面図であ
る。
本実施例のクリツプリード20Aは、正面形状
が羽子板状に形成された平板状の金属板であり、
幅厚側の端部(図中下端部)が三又に分割されて
中央のピン21が側面図に示されるように、屈曲
膨出している。
が羽子板状に形成された平板状の金属板であり、
幅厚側の端部(図中下端部)が三又に分割されて
中央のピン21が側面図に示されるように、屈曲
膨出している。
前記従来例と同様に、中央のピン21と両側の
ピン22の間に基板1を挟持し、中央のピン21
が基板1上の回路に導通するランドに半田付けす
ることにより、該クリツプリード20Aは、基板
1の辺縁に接続固定される。
ピン22の間に基板1を挟持し、中央のピン21
が基板1上の回路に導通するランドに半田付けす
ることにより、該クリツプリード20Aは、基板
1の辺縁に接続固定される。
そして、当該クリツプリード20Aの、前記リ
ード21,22の上方近傍には、円形の凹部24
が形成されている。この凹部24の底面は、クリ
ツプリード20Aの表面から膨出した凸部23に
なつている。
ード21,22の上方近傍には、円形の凹部24
が形成されている。この凹部24の底面は、クリ
ツプリード20Aの表面から膨出した凸部23に
なつている。
第2図は、本考案の第2実施例の構成を示す図
であり、同図Aは正面図、同図Bは側面図であ
る。
であり、同図Aは正面図、同図Bは側面図であ
る。
本実施例のクリツプリード20Bは、前記第1
実施例のクリツプリード20Aにおける凹部24
の代わりに、円形の透孔25を形成したことが、
第1実施例とは異なる。他の構成は同一である。
なお前記透孔25は、凹部の一種と言える。
実施例のクリツプリード20Aにおける凹部24
の代わりに、円形の透孔25を形成したことが、
第1実施例とは異なる。他の構成は同一である。
なお前記透孔25は、凹部の一種と言える。
第3図は、本考案の第3実施例の構成を示す図
であり、同図Aは正面図、同図Bは側面図であ
る。
であり、同図Aは正面図、同図Bは側面図であ
る。
本実施例のクリツプリード20Cは、リード2
1,22の上方近傍の両側に、半円形の切欠き2
6を形成したことが第1実施例とは異なる。他の
構成は同一である。なお前記切欠き26は、凹部
の一種と言える。
1,22の上方近傍の両側に、半円形の切欠き2
6を形成したことが第1実施例とは異なる。他の
構成は同一である。なお前記切欠き26は、凹部
の一種と言える。
第4図は、前記第1実施例のクリツプリード2
0Aを基板1に接続配列した状態を示す部分正面
図である。
0Aを基板1に接続配列した状態を示す部分正面
図である。
同図に示すように、各クリツプリード20Aに
形成された凹部24の位置は、基板1の辺縁中央
部に接続されるクリツプリード20Aの場合に
は、基板辺縁よりも遠く、基板1の辺縁端部に行
く程基板1辺縁に近くなるように設定されてい
る。
形成された凹部24の位置は、基板1の辺縁中央
部に接続されるクリツプリード20Aの場合に
は、基板辺縁よりも遠く、基板1の辺縁端部に行
く程基板1辺縁に近くなるように設定されてい
る。
各凹部24の中心を結ぶ線は、中央が高くなつ
た円弧状とすることが好ましいが、中央を頂点と
する三角形状、或いは、中央が上底となる台形状
としても良い。
た円弧状とすることが好ましいが、中央を頂点と
する三角形状、或いは、中央が上底となる台形状
としても良い。
第2実施例、第3実施例のクリツプリード20
B,20Cについても、同様に、透孔25若しく
は切欠き26の形成位置を基板1の辺縁中央部か
ら端部へ行くにつれて異ならしめ、第4図中の凹
部24の配列と同様の配列とする。
B,20Cについても、同様に、透孔25若しく
は切欠き26の形成位置を基板1の辺縁中央部か
ら端部へ行くにつれて異ならしめ、第4図中の凹
部24の配列と同様の配列とする。
前記第1実施例のクリツプリード20Aを基板
1に接続したワークを、従来例と同様に、第7図
A〜Cの手順で封止剤5中に浸漬すると、封止剤
5の表面張力と粘性により、前記凹部24と凸部
24に封止剤5が絡み付き、該凹凸部分が封止剤
5の上昇を抑える働きを呈する。
1に接続したワークを、従来例と同様に、第7図
A〜Cの手順で封止剤5中に浸漬すると、封止剤
5の表面張力と粘性により、前記凹部24と凸部
24に封止剤5が絡み付き、該凹凸部分が封止剤
5の上昇を抑える働きを呈する。
この働きにより、基板1辺縁端部では、中央部
よりも封止剤5の塗布レベルの上昇が抑えられ
る。
よりも封止剤5の塗布レベルの上昇が抑えられ
る。
従つて、この作用と、本来の封止剤5表面の中
央部が凹む減少とが相俟つて、第5図に示すよう
に、封止剤5の塗布レベルが均一になり、封止剤
層6の辺縁は直線的になる。
央部が凹む減少とが相俟つて、第5図に示すよう
に、封止剤5の塗布レベルが均一になり、封止剤
層6の辺縁は直線的になる。
第2実施例、第3実施例のクリツプリード20
B,20Cの場合も同様の効果が得られる。
B,20Cの場合も同様の効果が得られる。
このような効果は、封止剤5の粘性が高いた
め、小さな凹凸の存在でも、封止剤5の流動が阻
害される性質を利用したことにより得られるもの
である。
め、小さな凹凸の存在でも、封止剤5の流動が阻
害される性質を利用したことにより得られるもの
である。
なお、クリツプリードに形成する凹凸の形状は
前記実施例に限定されることはなく、三角形や四
角形等の他の形状でも良いし、一つのクリツプリ
ードに形成する凹凸の数も2以上であつても良
い。
前記実施例に限定されることはなく、三角形や四
角形等の他の形状でも良いし、一つのクリツプリ
ードに形成する凹凸の数も2以上であつても良
い。
また、クリツプリードの形状も前記実施例に限
定されることはなく、単なる平棒状のものでも、
丸棒状のものでも、本考案を適用することができ
ることは言うまでもない。
定されることはなく、単なる平棒状のものでも、
丸棒状のものでも、本考案を適用することができ
ることは言うまでもない。
さらに、本考案を適用する電子部品は、前記実
施例に示したシングルインラインパツケージ形の
もののみならず、樹脂封止形の電子部品であれ
ば、他のタイプのものでも良い。
施例に示したシングルインラインパツケージ形の
もののみならず、樹脂封止形の電子部品であれ
ば、他のタイプのものでも良い。
(考案の効果)
以上詳細に説明したように、本考案は、樹脂封
止形電子部品の基板に接続されるクリツプリード
の前記基板への固定端部近傍に凹凸の少なくとも
一方を形成し、かつ、複数本のクリツプリードの
各々の凹凸の形成位置を、前記基板の辺縁中央部
では基板より遠く、基板辺縁端部に行く程基板に
近くなるように設定したことにより、封止剤の表
面張力と粘性により、前記凹凸部分に封止剤が絡
み付き、該凹凸部分が封止剤の上昇を抑える働き
を呈することにより、基板辺縁端部では、中央部
よりも封止剤の塗布レベルの上昇が抑えられる。
止形電子部品の基板に接続されるクリツプリード
の前記基板への固定端部近傍に凹凸の少なくとも
一方を形成し、かつ、複数本のクリツプリードの
各々の凹凸の形成位置を、前記基板の辺縁中央部
では基板より遠く、基板辺縁端部に行く程基板に
近くなるように設定したことにより、封止剤の表
面張力と粘性により、前記凹凸部分に封止剤が絡
み付き、該凹凸部分が封止剤の上昇を抑える働き
を呈することにより、基板辺縁端部では、中央部
よりも封止剤の塗布レベルの上昇が抑えられる。
従つて、この作用と、本来の封止剤表面の中央
部が凹む減少とが相俟つて、封止剤の塗布レベル
が均一になる。
部が凹む減少とが相俟つて、封止剤の塗布レベル
が均一になる。
この結果、プリント基板への着装時に、半田の
のる部分が各クリツプリードについて均一にな
り、半田付けの強度の不均衡が発生することがな
く、また、封止不十分な部分が発生することを防
止でき、これにより、耐湿性不良となることを防
止できる。
のる部分が各クリツプリードについて均一にな
り、半田付けの強度の不均衡が発生することがな
く、また、封止不十分な部分が発生することを防
止でき、これにより、耐湿性不良となることを防
止できる。
また、前記塗布レベルが均一化されることによ
り、プリント基板への着装後に、震動が加わつて
も、各クリツプリードに均一に震動が加わるた
め、耐震性が向上する。同様に、プリント基板へ
の着装時に、半田付けによる熱応力が各クリツプ
リードにおいて均等なため、熱応力の差によるク
ラツクの発生も防止できる。
り、プリント基板への着装後に、震動が加わつて
も、各クリツプリードに均一に震動が加わるた
め、耐震性が向上する。同様に、プリント基板へ
の着装時に、半田付けによる熱応力が各クリツプ
リードにおいて均等なため、熱応力の差によるク
ラツクの発生も防止できる。
第1図はA,Bは本考案の第1実施例の構成を
示す正面図及び側面図、第2図A,Bは本考案の
第2実施例の構成を示す正面図及び側面図、第3
図A,Bは本考案の第3実施例の構成を示す正面
図及び側面図、第4図は前記第1実施例のクリツ
プリードの基板への接続配列状態を示す部分正面
図、第5図は前記第1実施例のクリツプリードを
取付けたワークの樹脂封止後の状態を示す部分正
面図、第6図は従来のクリツプリードを取付けた
ワークの正面図、第7図は樹脂封止の行程図、第
8図は従来のクリツプリードの側面図、第9図は
従来のクリツプリードを使用した電子部品の封止
状態を示す部分正面図である。 1……基板、5……封止剤、6……封止剤層、
20A,20B,20C……クリツプリード、2
4……凹部、23……凸部、25……透孔、26
……切欠き。
示す正面図及び側面図、第2図A,Bは本考案の
第2実施例の構成を示す正面図及び側面図、第3
図A,Bは本考案の第3実施例の構成を示す正面
図及び側面図、第4図は前記第1実施例のクリツ
プリードの基板への接続配列状態を示す部分正面
図、第5図は前記第1実施例のクリツプリードを
取付けたワークの樹脂封止後の状態を示す部分正
面図、第6図は従来のクリツプリードを取付けた
ワークの正面図、第7図は樹脂封止の行程図、第
8図は従来のクリツプリードの側面図、第9図は
従来のクリツプリードを使用した電子部品の封止
状態を示す部分正面図である。 1……基板、5……封止剤、6……封止剤層、
20A,20B,20C……クリツプリード、2
4……凹部、23……凸部、25……透孔、26
……切欠き。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 樹脂封止形電子部品の基板の辺縁に一端が固定
されて内部回路に接続され、該一端が基板と共に
樹脂封止される樹脂封止形電子部品用クリツプリ
ードにおいて、 前記基板に固定される端部近傍に凹凸の少なく
とも一方を形成し、 かつ、複数本のクリツプリードの各々の凹凸の
形成位置を、前記基板の辺縁中央部では基板より
遠く、基板辺縁端部を行く程基板に近くなるよう
に設定したことを特徴とする樹脂封止形電子部品
用クリツプリード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16279687U JPH0526765Y2 (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16279687U JPH0526765Y2 (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0167763U JPH0167763U (ja) | 1989-05-01 |
JPH0526765Y2 true JPH0526765Y2 (ja) | 1993-07-07 |
Family
ID=31446949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16279687U Expired - Lifetime JPH0526765Y2 (ja) | 1987-10-23 | 1987-10-23 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0526765Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009277959A (ja) * | 2008-05-16 | 2009-11-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
-
1987
- 1987-10-23 JP JP16279687U patent/JPH0526765Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0167763U (ja) | 1989-05-01 |
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