JPH04130441U

JPH04130441U - 半田付け検査用治具

Info

Publication number: JPH04130441U
Application number: JP4634791U
Authority: JP
Inventors: 雅敏星
Original assignee: 株式会社電子技研
Priority date: 1991-05-23
Filing date: 1991-05-23
Publication date: 1992-11-30
Anticipated expiration: 2006-05-23
Also published as: JP2563659Y2

Abstract

(57)【要約】【目的】作業員の疲労を軽減し、検査の能率を向上す
ること。【構成】導体部１２ａをプリント配線基板１１の表面
のパッド部に半田付けして電子部品１２をプリント配線
基板１１に固定した後に、この固定された電子部品１２
の導体部１２ａと前記プリント配線基板１１のパッド部
との半田付けの状態を目視検査するために用いる半田付
け検査用治具１３であって、前記電子部品１２が嵌合す
る嵌合部１３ａと、この嵌合部１３ａの縁部分に設けら
れ透光性材料から構成され前記導体部１２ａと前記パッ
ド部との半田付け部分を前記基板１１の上方から視認可
能なプリズム部１３ｂ，１３ｃとを備える。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は表面実装形電子部品の半田付けの検査に用いる半田付け検査用治具、特に、ＰＬＣＣ（ＰｌａｓｔｉｃＬｅａｄｅｄＣｈｉｐＣａｒｒｉｅｒ）あるいはＬＣＣ（ＬｅａｄｌｅｓｓＣｈｉｐＣａｒｒｉｅｒ）等のパッケージの半田付けの検査に適する検査用治具に関する。

【０００２】

【従来の技術】

上記ＰＬＣＣ等に代表されるＩＣパッケージ等の表面実装形電子部品はプリント基板の表面に半田付けして設置されるが、この種の電子部品、例えばＰＬＣＣはリードピッチが小さく半田付けによってブリッジ等の不都合が生じやすい。このため、従来、電子部品の半田付けを行った後は、技術員が目視により半田付けの良否の検査を行っていた。そして、この目視検査においては、リードとパッドとの半田付け部分がＰＬＣＣの下部に位置するため、技術員は比較的小さな目視角αで、すなわち目線が基板の表面と角度αを成すように斜めに視て検査していた。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上述した従来の目視検査にあっては、技術員はＰＬＣＣの下部を斜めに視なければならないため、目の位置が基板の大きさに制約されて目とＰＬＣＣとが大きく離間し、作業員の目の疲労が大きく、検査の能率が低いという問題があった。この考案は、上記問題を鑑みてなされたもので、作業員の目の疲労を軽減でき、検査の能率を改善できる検査用治具を提供することを目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、この考案は、導体部をプリント配線基板の表面のパッド部に半田付けして電子部品をプリント配線基板に固定した後に、この固定された電子部品の導体部と前記プリント配線基板のパッド部との半田付けの状態を目視検査するために用いる半田付け検査用治具であって、前記電子部品が嵌合する嵌合部と、この嵌合部の縁部分に透光性材料から構成され前記導体部と前記パッド部との半田付け部分を基板の上方から視認可能なプリズム部とを有する。

【０００５】

【作用】

この考案の半田付け検査用治具は、嵌合部を電子部品に嵌合させることでプリズム部と電子部品との位置合せができ、このプリズム部により電子部品の導体部とプリント配線基板のパッド部との半田付け部分を上方から接近して視ることができる。したがって、半田付け部分の目視検査が容易かつ迅速に行え、作業員の負担を軽減でき、また、検査の能率を向上できる。

【０００６】

【実施例】

以下、この考案の実施例を図面を参照して説明する。図１および図３にはこの考案の一実施例にかかる検査用治具を示し、図１がプリント配線基板とともに示す断面図、図３が斜視図である。

【０００７】図１において、１１はプリント配線基板、１２はＩＣチップが収容されたＰＬＣＣ、１３は検査用治具である。図示しないが、プリント基板１１には表面に銅等の導電材からパッドが印刷等で形成される。

【０００８】ＰＬＣＣ１２は、図３にも示すように、厚みが小さい略平板状（フラットパッケージ）を成し、その４辺の外縁部に複数のリード（導体部）１２ａが比較的小さいピッチ（間隔）で内部から引き出されている。このＰＬＣＣ１２のリード１２ａは、内側にＪ状に屈曲し、上述したプリント配線基板１１の表面のパッドに半田（Ｈ）付けされている。

【０００９】検査用治具１３は、ＰＬＣＣ１２の外形状に対応した嵌合穴１３ａが形成された矩形枠状を成し、アクリル等の透光性樹脂あるいはガラス等の透光性無機材料から構成される。この検査用治具１３には、図３にも示すように、一面に外縁側に前述した目視角αと対応した所定角度θの傾斜面１３ｂが形成され、他面に平坦な透光面１３ｃが形成される。上述の嵌合穴１３ａが嵌合部に、また、傾斜面１３ｂと透光面１３ｃとがプリズム部Ｐに相当する。

【００１０】この実施例にあっては、プリント配線基板１１の表面のパッドにＰＬＣＣ１２のリード１２ａを半田付けし、半田によってＰＬＣＣ１２を基板１１に固定する。そして、検査時においては、検査用治具１３は傾斜面１３ｂが形成された面をプリント基板１１の表面に向けて嵌合穴１３ａにＰＬＣＣ１２を嵌合させ、嵌合穴１３ａにＰＬＣＣ１２が嵌合した状態で検査を行う。

【００１１】ここで、図１に矢印に示すように、この状態では検査用治具１３は透光面１３ｃから入射した光が傾斜面１３ｂで反射して目視角αと同一の角度でＰＬＣＣ１２の側部を照射する。このため、作業員は基板１１の上方から治具１３の透光面１３ｃを視るとリード１２ａとパッドとの半田付けの状態を目視角αで視ることができ、半田付け部分の目視検査を容易に行え、作業員の負担が軽減でき、また、検査を能率的に行える。特に、この治具１３は、傾斜面１３ｂの傾斜角度θを目視角αと対応させたため、最適な角度で半田付け部分を視ることができ、目視検査を正確に行える。

【００１２】図２にはこの考案の他の実施例にかかる検査用治具を示す。なお、この実施例では、上述した実施例と同一の部分には同一の符号を付して説明を省略する。

【００１３】この実施例は、電子部品として下部にパッド２１ａを有するＬＣＣ２１を用い、このＬＣＣ２１がパッド２１ａを基板１１のパッドに半田付けされて基板１１に固定される。

【００１４】この実施例にあっても、検査時においては、治具１３は嵌合穴１３ａにＬＣＣ２１を嵌合させて使用され、作業員はＬＣＣ２１のパッド２１ａと基板１１のパッドとの半田付け部分を上方から視ることができる。したがって、検査が容易であり、また、作業員の疲労を軽減することもできる。

【００１５】なお、上述した実施例ではＩＣチップのパッケージを例示するが、他の電子部品に付いてもこの考案が適用できることは述べるまでもない。また、この考案の治具は半田付け部分を拡大して視ることができるように構成すること、すなわちプリズム部Ｐを拡大レンズとして構成することができ、このように構成すれば、作業員の疲労をより軽減することができるようになる。

【００１６】

【考案の効果】

以上説明したように、この考案にかかる検査用治具によれば、電子部品の基板への半田付け部分を基板の上方から目視検査することができ、目視検査を容易かつ能率的に行うことができ、作業員の疲労を軽減できるようになる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案の一実施例にかかる検査用治具を示す
断面図

【図２】この考案の他の実施例にかかる検査用治具の断
面図

【図３】図１に示す検査用治具の斜視図

【符号の説明】

１１・・・プリント配線基板、１２・・・ＰＬＣＣ（電子部
品）、１２ａ・・・リード（導体部）、１３・・・検査用治
具、１３ａ・・・嵌合穴（嵌合部）、１３ｂ・・・傾斜面（プ
リズム部）、１３ｃ・・・透光面（プリズム部）、２１・・・
ＬＣＣ（電子部品）、２１ａ・・・パッド（導体部）。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】導体部をプリント配線基板の表面のパッ
ド部に半田付けして電子部品をプリント配線基板に固定
した後に、この固定された電子部品の導体部と前記プリ
ント配線基板のパッド部との半田付けの状態を目視検査
するために用いる半田付け検査用治具であって、前記電
子部品が嵌合する嵌合部と、この嵌合部の縁部分に透光
性材料から構成され、前記導体部と前記パッド部との半
田付け部分を前記基板の上方から視認可能なプリズム部
とを備えることを特徴とする半田付け検査用治具。