JP2558487B2 - 光学的記録媒体 - Google Patents

光学的記録媒体

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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は光ビームにより再生のみまたは記録・再生・
消去を行なうことが可能な光学的記録媒体に関し、特に
該媒体の両面あるいは片面に紫外線硬化型化合物からな
る保護層を有する光学的記録媒体に関するものである。
[従来の技術] 従来、光学的記録媒体においては、表面にプレフォー
マットパターンを有する基板上に記録層が設けられ、該
記録層を保護するために保護層が設けられているが、該
保護層としては光学的記録媒体の取扱い中に、表面に付
く傷やゴミの付着などに対して耐えることができるプラ
スチック部材が多く用いられている。
この様な保護層を形成するプラスチック部材の中で紫
外線硬化型化合物が用いられているが、該紫外線硬化型
化合物としては、例えば特開昭61−123593号公報、特開
昭61−133067号公報,特開昭61−139961号公報,特開昭
61−153844号公報等に示されている様にいずれもアクリ
レート系樹脂組成物が用いられている。
[発明が解決しようとする課題] 上記従来例では、光学的記録媒体の記録層あるいは記
録層上に無機誘電体材料層を形成し、その上に紫外線硬
化型化合物からなる保護層が設けられている。即ち、前
記記録層としては情報を光の反射率や偏光角の違いで記
録・再生するTe系化合物、メチン系有機化合物等やTbF
e、TbFeCo等の光磁気記録層が挙げられる。しかしなが
ら、この様な構成においては、保護層により外部からの
傷や汚れに対する保護という目的を達することができる
が、光学的記録媒体を高温,高湿あるいはそれに準ずる
条件下で取り扱う場合、例えば環境耐久試験(70℃,90
%RH,2000時間放置)を行うと記録特性の低下を生じる
という問題があった。特に、記録層として光磁気記録層
を用いた場合、ビットエラーレート(BER)が初期に比
べて増加し、即ち該記録層の孔食劣化が増加するという
問題があった。
本発明は、この様な従来技術の問題を解決するために
なされたものであり、特定の紫外線硬化型化合物からな
る保護層を用いることにより、外部からの傷や汚れを防
ぐと共に高温,高湿あるいはそれに準ずる条件下におい
て記録層に孔食が発生するのを防止した光学的記録媒体
を提供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段] 即ち、本発明は、基板上に記録層及び保護層が順次積
層されている光学的記録媒体において、該保護層が酸価
0.1(KOHmg/g)以下の紫外線硬化型樹脂の硬化物からな
ることを特徴とする光学的記録媒体である。
以下、本発明を詳細に説明する。
第1図は本発明の光学的記録媒体の一例を示す断面図
である。同第1図において、本発明の光学的記録媒体
は、案内溝及びプリフォーマット信号を有するポリカー
ボネート樹脂,アクリル樹脂,ポリスチレン樹脂,ポリ
オレフィン系樹脂等によりなる基板1上に、真空蒸着,
スパッタリング等の方法によりSiN,SiOx,ZnS,SiC等の誘
電体の一種あるいは二種以上を組み合わせた誘電体層2
を積層し、その上に記録層3としてGd−FeCo,Gd−Tb,Gd
TbFe,TbFeCo,GdTbFeCo等の非晶質磁気記録層を成膜し、
さらに該記録層3の上に前記誘電体層2と同様の誘電体
層4を成膜し、次に紫外線硬化型化合物を用いた保護層
5を形成してなるものである。
本発明において、保護層を形成する紫外線硬化型化合
物としては、プレポリマー成分(A),反応性希釈剤と
してのモノマー成分(B),光重合開始剤成分(C)の
組成よりなり、成分(A),(B),(C)の使用割合
は、(A)成分:(B)成分=5〜95:95〜5(重量
比)で、(C)成分は全量の0.1〜10重量%の濃度で組
み入れた組成物が用いられる。
(A)成分としては、ポリオールポリアクリレート
(多価アルコールまたはポリエーテルポリアクリレー
ト)で、特に3官能以上のポリオールポリアクリレート
(ペンタエリスリトールアクリレート,ジペンタエリス
リトールヘキサアクリレートなど)、あるいは変性ポリ
オールポリアクリレート(ポリオールをエポキシドやラ
クトンで変性した変性ポリオールのポリアクリレートま
たは多価フェノールであるビスフェノールAやビスフェ
ノールSにエポキシドを付加させた変性ジオールのジア
クリレート)、あるいはポリエステルアクリレート(多
価アルコール,多塩基酸またはその無水物およびアクリ
ル酸のコンデンゼイション テロメリゼイション[cond
ensation telomerization]により製造される)、ある
いはウレンタンアクリレート(ポリエーテルポリオー
ル,ポリエステルポリオールなどのポリオールとポリイ
ソシアネートとヒドロキシ基をもつアクリレートとを反
応させたもの)、あるいはエポキシアクリレート(エポ
キシ化合物にアクリル酸または末端カルボキシル基を有
するアクリレートを付加させて得られるオリゴマー)、
ビスフェノールAジグリシジルエーテル型、ノボラック
ポリグリシジルエーテル型などが挙げられる。特に、硬
化性に優れ、表面硬度の高い3官能以上のポリオールポ
リアクリレートが好ましい。
(B)成分としては、多価アルコールのアクリル酸エ
ステルが用いられ、特に多官能性アクリル系モノマーと
しては、エチレングリコールジアクリレート,ジエチレ
ングリコールジアクリレート,トリエチレングリコール
ジアクリレート,ポリエチレングリコールジアクリレー
ト,ブチレングリコールジアクリレート,ネオペンチル
グリコールジアクリレート,1,4−ブタンジオールジアク
リレート,1,4−ヘキサンジオールジアクリレート,ペン
タエリスリトールジアクリレート等のジアクリレート
類、ペンタエリスリトールトリアクリレート,トリメチ
ルロールプロパントリアクリレート等のトリアクリレー
ト類が挙げられる。(B)成分はこれらの一種または二
種以上の混合系でもよい。
(C)成分としては、公知のどのような光重合開始剤
でも使用できるが、配合後の貯蔵安定性のよいものが好
ましい。例えば、ベンゾインエチルエーテル,ベンゾイ
ンブチルエーテルなどのベンゾインアルキルエーテル
系、2,2′−ジエトキシアセトフェノン,4′−フェノキ
シ−2,2−ジクロロアセトフェノンなどのアセトフェノ
ン系、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、
4′−イソプロピル−2−ヒドロキシ−2−メチルプロ
ピオフェノンなどのプロピオフェノン系、ベンジルメチ
ルケタール、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケ
トン及び2−エチルアントラキノン,2−クロルアントラ
キノンなどのアントラキノン系,2,4−ジメチルチオキサ
ントン,ミヒラーケトンなどのチオキサントン系などが
挙げられる。これらの一種または二種以上を任意の割合
で混合して用いることができる。
前記紫外線硬化型化合物中のアクリル酸,アクリル酸
エステル類等の遊離酸成分の含有量の指標としては、酸
価(KOHmg/g)で示される。これは紫外線硬化型化合物
試料0.6gとトリエチレンジアミン(酸の解離触媒)0.3g
を40mlのDMFに溶解し、水2mlを加えた後、電位差滴定に
より0.1N KOHイソプロピルアルコール溶液で滴定し、下
式を用いて求められたものである。
A:試料の滴定量(ml) B:ブランクの滴定量(ml) f:0.1N KOHイソプロパノール溶液のファクター W:試料採取量(g) 本発明の光学的記録媒体の保護層として用いる前記紫
外線硬化型化合物は、酸価が0.1(KOHmg/g)以下、好ま
しくは0.01〜0.05(KOHmg/g)のものを用いるのが望ま
しい。この酸価が0.1(KOHmg/g)以下が望ましいこと
は、酸価と光学的記録媒体の環境耐久試験(70℃,90%R
H,2000時間放置)後の記録層の孔食増加との関係につい
て実験を行った結果見い出されたものであり、酸価が0.
1(KOHmg/g)をこえると媒体の環境耐久試験後の記録層
の孔食劣化の発生が多くなり、光学的記録媒体としての
機能が低下する。
保護層の厚さは特に限定はないが通常10μm以下、特
に2μm〜8μmが好ましい。
また、保護層は光学的記録媒体の種類により片面ある
いは両面のいずれにも設けることができる。
保護層を形成する方法は、紫外線硬化型化合物をスピ
ンコート塗布、スプレー塗布、バーコーター塗布、ディ
ッピング塗布等の方法で所定の厚さに塗布し、これを光
(主に紫外線)照射により硬化する等により行うことが
できる。
[作用] 本発明に係わる光学的記録媒体は、保護層として酸価
が0.1(KOHmg/g)以下のアクリル酸,アクリル酸エステ
ル類等の遊離酸成分の含有量が少ない紫外線硬化型化合
物からなる保護層を使用するので、特に記録層として非
晶質磁気記録層を使用した場合に、紫外線硬化型化合物
中に残存するアクリル酸,アクリル酸エステル類により
記録層中の希土類−遷移金属合金の遷移金属がイオン化
され溶解する劣化現象により記録層が孔食されのを抑制
することができ、光学的記録媒体の環境耐久試験後のビ
ットエラーレート(BER)の増加を防止することができ
るものと思われる。
[実施例] 以下、実施例を示し本発明をさらに具体的に説明す
る。
実施例1 第2図は本発明の第1の実施例の光学的記録媒体の作
成方法を示す断面図である。案内溝および/またはプリ
フォーマット信号を有するポリカーボネート基板1上に
スパッタリング法により層厚800ÅのSiN層からなる誘電
体層2を成膜し、次いで層厚400Åの非晶質Gd−FeCo,層
厚400Åの非晶質Tb−FeCoを積層し、磁気記録層3aを設
け、さらにその上に積層1000ÅのSiN層からなる誘電体
層4を成膜した。
次に、紫外線硬化型樹脂としてSD−17−2A(商品名:
大日本インキ化学(株)製,酸価0.1(KOHmg/g))を前
記SiN層からなる誘電体層4上にスピンコート(回転数4
000r.p.m.、7秒間)し、層厚5μmの樹脂層を形成し
た後、UVランプ6(照射面上233mW/cm2、波長365nm)を
30秒間照射し、該樹脂層を硬化し、これを保護層5とし
た光学的記録媒体を作成した。
実施例2 保護層として、紫外線硬化型樹脂SPC−110−2(商品
名:日本化薬(株)製、酸価0.05(KOHmg/g))を用い
る以外は実施例1と同様にして光学的記録媒体を作成し
た。
比較例1 保護層として紫外線硬化型樹脂SD−17(商品名:大日
本インキ化学(株)製、酸価0.05(KOHmg/g))を用い
る以外は実施例1と同様にして光学的記録媒体を作成し
た。
比較例2 保護層として紫外線硬化型樹脂アロニックスUV−3700
(商品名:東亜合成化学(株)製、酸価0.3(KOHmg/
g))を用いる以外は実施例1と同様にして光学的記録
媒体を作成した。
実施例1,2および比較例1,2により作成した光学的記録
媒体の環境耐久試験(70℃,90%RH)前後の該媒体の記
録層の孔食の発生の結果を第1表に示す。
第1表の結果から明らかなように、本発明の条件を満
たす紫外線硬化型化合物を保護層として用いて光学的記
録媒体を作成すれば、環境耐久試験後の記録層の孔食の
発生を防止することができる。
[発明の効果] 以上述べたように、本発明の条件を満たす紫外線硬化
型化合物を保護層として用いれば、外部からのキズや汚
れに対して強く、また長期信頼性を維持する光学的記録
媒体を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光学的記録媒体の一例を示す断面図お
よび第2図は実施例1の光学的記録媒体の作成方法を示
す説明図である。 1……基板、2,4……誘電体層 3……記録層、3a……磁気記録層 5……保護層、6……UVランプ

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に記録層及び保護層が順次積層され
    ている光学的記録媒体において、該保護層が酸価0.1(K
    OHmg/g)以下の紫外線硬化型樹脂の硬化物からなること
    を特徴とする光学的記録媒体。
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