JP2531610B2 - X線診断装置 - Google Patents

X線診断装置

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JP2531610B2
JP2531610B2 JP59226481A JP22648184A JP2531610B2 JP 2531610 B2 JP2531610 B2 JP 2531610B2 JP 59226481 A JP59226481 A JP 59226481A JP 22648184 A JP22648184 A JP 22648184A JP 2531610 B2 JP2531610 B2 JP 2531610B2
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克也 菊池
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は被検体を透過したX線を基に診断に供される
X線像を得るX線診断装置に関する。
[発明の技術的背景とその問題点] X線診断装置においては、診断目的と装置の特性上の
制約とからX線撮影モードが選択され、選択されたX線
撮影モードに応じて、テレビカメラの走査モードが選択
されるようになっている。
ここに、テレビカメラの走査モードの項目としては、
走査線走査方式,走査線数,1画面の走査時間,連続動作
と間欠動作との別等が挙げられ、各項目において最適な
モードが選択される。
ところで、走査モードを変えると、テレビカメラに具
備される撮像管の入出力特性が変化する。以下これを第
3図及び第4図を基に説明する。
第3図は連続動作条件における各走査モードでの撮像
管の入出力特性図、第4図は間欠動作条件における各走
査モードでの撮像管の入出力特性図である。第3図,第
4図においてaは走査線数525本,飛越走査,走査時間3
3msecの場合であり、bは走査線数525本,順次走査,走
査時間33msecの場合であり、cは走査線数105本,順次
走査,走査時間132msecの場合である。第3図,第4図
より明らかなように、走査モードがa,b,cの如く変化す
ると、撮像管の飽和電流値が変化してしまう。このため
走査モードによっては撮像管の性能を十分に引き出すこ
とができず、得られるX線像のコントラスト分解能が低
下するといった不都合を生ずる。
[発明の目的] 本発明は上記事情に鑑みて成されたものであり、テレ
ビカメラの走査モードの変化にかかわらず、コントラス
ト分解能に優れた画像が得られるX線診断装置の提供を
目的とする。
[発明の概要] 上記の目的を達成するために本発明は、被検体に向け
てX線を曝射するX線管と、前記被検体を透過したX線
を光学像に変換する手段と、前記光学像を電気信号に変
換する撮像管を有するテレビカメラと、設定されたX線
撮影モードに応じて前記テレビカメラの走査モードを求
めるシステムコントローラと、前記システムコントロー
ラにより求められた走査モードに基づいて前記カメラを
コントロールするものであり、走査方式、走査線数、走
査時間、連続・間欠動作の少なくとも1つの切り換えに
伴って、前記撮像管の電子ビーム量が撮像管の出力電流
が飽和する値とほぼ一致するように前記電子ビーム量を
切り換えるカメラコントローラを具備することを特徴と
するX線診断装置を提供する。
[発明の実施例] 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説
明する。
第1図は本発明の一実施例たるX線診断装置のブロッ
ク図である。同図1は被検体Pに向って曝射されるX線
を発生するX線発生部、2は被検体Pを透過したX線を
光学像に変換するイメージインテンシファイア(以下、
I.Iと略称する)、3はこのI.I2の出力像を後述するテ
レビカメラに導く光学系、4はこの光学系3を介して入
射される光学像を電気信号に変換する撮像管を有して成
るテレビカメラ、5はこのテレビカメラ4よりの電気信
号をディジタル信号に変換するA/D(アナログ・ディジ
タル)変換器、6はこのA/D変換器5の出力を記憶する
メモリと所定の演算処理を行う演算手段とを有するプロ
セッサ、7はこのプロセッサ6よりの映像信号を基に前
記被検体PのX線像を表示するモニタ、8は本実施例装
置の各ブロックの動作制御を司るシステムコントローラ
であり、例えば、設定されたX線撮影条件に応じて、前
記X線発生部1のX線曝射制御及び前記プロセッサ6の
画像処理に関する制御を行うと共に、後述するカメラコ
ントローラに走査モードの選択信号を出力する。9はこ
のシステムコントローラ8よりの走査モードの選択信号
に応じて、前記テレビカメラ4の走査モードの設定及び
撮像管の電子銃より放出される電子ビーム量,ビームフ
ォーカスを調節するカメラコントローラである。
次に、第2図を参照しながら、前記テレビカメラ4及
びカメラコントローラ9の詳細について説明する。
第2図は第1図に示す装置におけるテレビカメラ及び
カメラコントローラの詳細を示すブロック図であり、同
図20はテレビカメラ4内に配置される撮像管、21はこの
撮像管20内の電子銃より放出される電子ビームのフォー
カスを可変するコイルである。また、22はカメラコント
ローラ9内に配置され、かつ、前記撮像管20の第1グリ
ッドに印加される電圧を可変することにより、電子ビー
ム量を制御するG1電圧コントローラ、23はカメラコント
ローラ9内に配置され、かつ、前記コイル21に流れる電
流を可変することにより、ビームフォーカスを制御する
フォーカス電流コントローラである。
次に、以上構成による実施例装置の作用について説明
する。
診断目的に応じて撮影モードが設定されると、システ
ムコントローラ8は設定された撮影モードに従いX線発
生部1,プロセッサ6,カメラコントローラ9を制御する。
このシステムコントローラ8の制御により前記X線発
生部1は被検体Pに向ってX線を曝射する。すると、被
検体Pを透過したX線がI.I2により光学像に変換され、
これが光学系3を介してテレビカメラ4内の撮像管20に
入射される。
一方、前記システムコントローラ8よりの走査モード
選択信号により前記カメラコントローラ9は、前記テレ
ビカメラ4の走査モードに応じて撮像管20の電子ビーム
量,ビームフォーカスを調節する。
ここに、各走査モードにおける電子ビーム量の調節
は、各走査モードにおいて、撮像管出力である信号電流
が飽和する際の電流値に電子ビーム量をほぼ一致させ
る。このように電子ビーム量を調整すれば、各走査モー
ド毎にテレビカメラ4の有するダイナミックレンジを最
大に利用することができる最低のビーム量に設定するこ
とができることから、ダイナミックレンジを最大限に利
用しながらも撮像管の寿命を延ばすことができる。
尚、電子ビーム量の調節は撮像管20の電子銃を構成す
る第1グリッドの印加電圧値を変えることで容易に行い
得る。
そして、撮像管20よりの電気信号はテレビカメラ4内
で適宜増幅され、A/D変換器5を介してプロセッサ6に
入力される。プロセッサ6は前記システムコントローラ
8の制御により画像処理に関する種々の演算を行い、そ
の演算処理結果が前記被検体PのX線像としてモニタ7
に表示される。
このように、本実施例装置によれば、システムコント
ローラ8による走査モードの制御に応じてテレビカメラ
4内の撮像管20のビーム量を制御するものであるから、
各走査モード毎にテレビカメラ4の有するダイナミック
レンジを最大限に利用でき、この結果、コントラスト分
解能に優れたX線像を得ることができる。また、電子ビ
ーム量を変えた場合であっても、システムコントローラ
8による走査モードの制御に応じて撮像管のビームフォ
ーカスを制御することにより、ビームフォーカスがずれ
るということがないから、空間分解能に優れたX線像を
得ることができる。
以上、本発明の一実施例について説明したが、本発明
は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨
の範囲内で適宜に変形して実施できるのはいうまでもな
い。
例えば上記実施例では、カメラコントローラ9をテレ
ビカメラ4の外部に配置したが、内部に配置することも
できる。
[発明の効果] 以上詳述したように本発明によれば、テレビカメラの
走査モードの変化にかかわらず、コントラスト分解能,
空間分解能に優れた画像が得られるX線診断装置を提供
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例たるX線診断装置のブロック
図、第2図は第1図に示す装置におけるテレビカメラ及
びカメラコントローラの詳細を示すブロック図、第3図
は連続動作条件における各走査モードでの撮像管の入出
力特性図、第4図は間欠動作条件における各走査モード
での撮像管の入出力特性図である。 4……テレビカメラ、8……システムコントローラ、9
……カメラコントローラ、20……撮像管。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検体に向けてX線を曝射するX線管と、 前記被検体を透過したX線を光学像に変換する手段と、 前記光学像を電気信号に変換する撮像管を有するテレビ
    カメラと、 設定されたX線撮影モードに応じて前記テレビカメラの
    走査モードを求めるシステムコントローラと、 前記システムコントローラにより求められた走査モード
    に基づいて前記カメラをコントロールするものであり、
    走査方式、走査線数、走査時間、連続・間欠動作の少な
    くとも1つの切り換えに伴って、前記撮像管の電子ビー
    ム量が撮像管の出力電流が飽和する値とほぼ一致するよ
    うに前記電子ビーム量を切り換えるカメラコントローラ
    を具備することを特徴とするX線診断装置。
  2. 【請求項2】前記カメラコントローラは、前記システム
    コントローラにより求められた走査モードに基づいてビ
    ームフォーカスを制御するものであることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載のX線診断装置。
JP59226481A 1984-10-26 1984-10-26 X線診断装置 Expired - Lifetime JP2531610B2 (ja)

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JPS61103376A JPS61103376A (ja) 1986-05-21
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2550581B2 (ja) * 1987-05-31 1996-11-06 株式会社島津製作所 ディジタルx線装置
JPS63307698A (ja) * 1987-06-08 1988-12-15 Toshiba Corp X線診断装置

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