JP2527881B2 - チップネットワ―ク抵抗器 - Google Patents

チップネットワ―ク抵抗器

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JP2527881B2
JP2527881B2 JP4140445A JP14044592A JP2527881B2 JP 2527881 B2 JP2527881 B2 JP 2527881B2 JP 4140445 A JP4140445 A JP 4140445A JP 14044592 A JP14044592 A JP 14044592A JP 2527881 B2 JP2527881 B2 JP 2527881B2
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滋 蒲原
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Rohm Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C1/00Details
    • H01C1/14Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Details Of Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チップネットワーク抵
抗器の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】複数の個別電極と共通電極(コモンライ
ン)を有するチップネットワーク抵抗器の等価回路を図
3に示す。この抵抗器は、8個の抵抗素子R1〜R8を
集積し、共通電極の一端部及び他端部(端子)T1、T
6と、複数の個別電極の端部(端子)T2〜T5、T7
〜T10とを有するものである。この抵抗器で、例えば
抵抗素子R1の抵抗値を測定するには、測定器の測定端
子を共通電極の端子T1と個別電極の端子T10、又は
共通電極の端子T6と個別電極の端子T10に接触させ
て行う。このように、この抵抗器では、各抵抗素子の抵
抗値測定には各々2通りの測定方法がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、測定器
側の端子と抵抗器の個別電極及び共通電極の端子との接
触抵抗が多大に影響するような非常に低い抵抗値の場
合、例えば抵抗素子R1の抵抗値が所定値であったとし
て、端子T1−T10間の測定では所定値を示して可と
なっても、端子T6−T10間の測定では接触抵抗が大
きくて不良となるような場合がある。このように測定箇
所によって抵抗値が異なると、製品の歩留りが低下して
しまう。
【0004】従って、本発明の目的は、抵抗値測定に際
して測定器の測定端子と共通電極の端子との接触抵抗を
低減したチップネットワーク抵抗器を提供することにあ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段及び作用】前記目的を達成
するために、本発明のチップネットワーク抵抗器は、矩
形状基板に共通電極及び複数の個別電極を形成し、各個
別電極と共通電極に跨がる抵抗素子を設け、基板の対向
する端縁に共通電極の一対の端部(端子)と個別電極の
端部(端子)を並設し、これらの電極端子間に電極
子を離隔する切欠きを形成したチップネットワーク抵抗
器において、前記矩形状基板の四隅には前記共通電極の
一対の端子と2つの個別電極の端子を設け、この四隅
の電極端子の基板上面の幅を矩形状基板の角まで延在さ
せることで四隅に位置しない電極端子の幅より広幅と
し、前記切欠きの形状を全て同じ形状にしたことを特徴
とする。
【0006】この抵抗器によれば、矩形状基板の角を利
用して四隅の電極端子の基板上面の幅を、四隅に位置し
ない他の電極端子の幅より広くすると共に、切欠きの形
状を全て同じ形状にしたので、共通電極の端子が幅広
(面積が大)になり、共通電極の端子と測定器の測定端
子が確実に接触するようになり、接触抵抗が減少し、測
定不良が低減する。又、実装時の認識性が向上しつつ、
実装時の固着力が向上するような電極形状とすることが
できる。
【0007】
【実施例】以下、本発明のチップネットワーク抵抗器を
実施例に基づいて説明する。その一実施例に係る抵抗器
の平面図を図1に、図1の矢印側から見た側面図を図2
に示す。この抵抗器は、図3に示すような等価回路を有
するものである。直角の角を有する矩形状(ここでは長
方形)の基板1の対向する一対の端縁(長手方向の端
縁)に、共通電極(コモンライン)の一端部及び他端部
(端子)T1,T6と複数の個別電極の端部(端子)T
2〜T5,T7〜T10を設け、各個別電極T2〜T
5,T7〜T10と共通電極に跨がる8個の抵抗素子R
1〜R8を設け、全ての抵抗素子R1〜R8を保護層2
で覆ってある。又、基板1の端縁には、端子T1〜T
5,T6〜T10間を離隔する切欠き3が形成され、切
欠き3の形状は全て同じ形状に設定されている。又、基
板1の端縁には、切欠き3によって複数(ここでは10
個)の凸部が形成され、それら凸部のうち、基板1の四
隅に位置する4個の凸部4は、四隅に位置しない他の6
個の凸部5より広幅に設定されている。
【0008】図1から分かるように、矩形状基板1の四
隅には、共通電極の端子T1,T6が対角線上に配置さ
れると共に、個別電極の端子T5,T10が同様に対角
線上に配置されている。共通電極の端子T1,T6と個
別電極の端子T5,T10は、それぞれ対応の直角の角
まで基板端縁方向に延在している(円形部分a参照)。
これにより、端子T1,T6と端子T5,T10の幅
は、端子T2〜T4、T7〜T9よりも基板端縁方向の
幅が拡張され、表面積が大きくなる。こうすることで、
例えば抵抗素子R1の抵抗値を測定する場合、測定器の
測定端子が共通電極の端子T1又はT6に確実に接触
し、接触抵抗が小さくなり、共通電極の端子T1と個別
電極の端子T10間、又は共通電極の端子T6と個別電
極の端子T10間のいずれで測定しても、抵抗値が相違
することが殆ど無くなり、測定不良が少なくなる。
【0009】なお、上記実施例に示した共通電極の端子
T1、T6及び個別電極の端子T5、T10の拡張形状
は、ほんの一例であり、端子T1、T6、T5、T10
が基板の角まで延在されて広幅になる限り、図に示す以
外の形状に変更することが可能である。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のチップネ
ットワーク抵抗器は、矩形状基板の角を利用して四隅の
電極端子の基板上面の幅を、四隅に位置しない他の電極
端子の幅より広くすると共に、切欠きの形状を全て同じ
形状にしたので、共通電極の端子が幅広(面積が大)に
なり、共通電極の端子と測定器の測定端子が確実に接触
するようになり、接触抵抗が減少し、測定不良が低減す
る。又、実装時の認識性が向上しつつ、実装時の固着力
が向上するような電極形状とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る抵抗器の平面図であ
る。
【図2】図1に示す抵抗器を矢印側から見た側面図であ
る。
【図3】図1に示す抵抗器の等価回路図である。
【符号の説明】
1 矩形状基板 3 切欠き 4,5 凸部 T1、T6 共通電極の端子 T2〜T5 個別電極の端子 T7〜T10 個別電極の端子 R1〜R8 抵抗素子

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】矩形状基板に共通電極及び複数の個別電極
    を形成し、各個別電極と共通電極に跨がる抵抗素子を設
    け、基板の対向する端縁に共通電極の一対の端部(端
    子)と個別電極の端部(端子)を並設し、これらの電極
    端子間に電極端子を離隔する切欠きを形成したチップ
    ネットワーク抵抗器において、 前記矩形状基板の四隅には前記共通電極の一対の端子と
    2つの個別電極の端子を設け、この四隅の電極端子の
    基板上面の幅を矩形状基板の角まで延在させることで四
    隅に位置しない電極端子の幅より広幅とし、前記切欠き
    の形状を全て同じ形状にしたことを特徴とするチップネ
    ットワーク抵抗器。
  2. 【請求項2】前記切欠きによって基板の端縁に形成され
    る凸部のうち、基板の四隅に位置する凸部の幅が基板の
    四隅に位置しない他の凸部の幅より広幅であることを特
    徴とする請求項1記載のチップネットワーク抵抗器。
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US5331305B1 (en) 1996-10-15
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