JP2521090Y2 - 綾落ち検査装置 - Google Patents
綾落ち検査装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30124—Fabrics; Textile; Paper
Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、自動ワインダーで巻き取られたパッケージ
の検査装置に係り、特にパッケージ端面への綾落ちを検
査する綾落ち検査装置に関する。
の検査装置に係り、特にパッケージ端面への綾落ちを検
査する綾落ち検査装置に関する。
［従来の技術］ 自動ワインダーにおいては、精紡ボビンなどの糸をド
ラム上で回転するパッケージに巻き取って満巻パッケー
ジとしている。この巻取中、精紡ボビンからの走行糸を
左右に綾振ながらパッケージに巻き取るが、走行糸がパ
ッケージの端面に綾落ちした場合、後工程で糸を解じょ
する際に糸切れの原因となるためこれを検査する必要が
ある。本出願人は先にパッケージ検査処理装置（実願昭
62-170726号）にて、パッケージの種々の検査を自動的
に行うことを提案した。第６図はこのパッケージ検査処
理装置の斜視図を示し、図において、１はトレイ２に起
立されたパッケージＰを搬送する搬送ラインで、その途
中に検査ボックス３が設けられる。この検査ボックス３
にはパッケージＰの出入口４が形成され、その出入口４
に開閉扉５が設けられる。この検査ボックス３内には各
種検出手段６が設けられる。この検出手段６は、パッケ
ージＰの表面に紫外線を当てその品種混合を検査するた
めの品種混合カメラ6a、可視光線で綾落ちを検出する綾
落ち用カメラ6b、光源からの光を照射し、その反射光か
らバンチ巻き８の有無を検査するバンチ巻き用カメラ6c
からなっている。また検査ボックス３内の搬送ライン１
上にはトレイ２の外周と当接し、そのトレイ２を介して
パッケージＰを回転させて、そのパッケージＰの全周の
不良個所を検出するためのガイドローラ9,9と駆動ロー
ラ10とが設けられる。検査ボックス３の出口側の搬送ラ
イン１には、その搬送ライン１と直交して払出ライン11
が設けられ、その搬送ライン１と払出ライン11間に不良
のパッケージＰを搬送ライン１から払出ライン11に移す
ための回動レバー12などからなる払出手段13が設けられ
る。
ラム上で回転するパッケージに巻き取って満巻パッケー
ジとしている。この巻取中、精紡ボビンからの走行糸を
左右に綾振ながらパッケージに巻き取るが、走行糸がパ
ッケージの端面に綾落ちした場合、後工程で糸を解じょ
する際に糸切れの原因となるためこれを検査する必要が
ある。本出願人は先にパッケージ検査処理装置（実願昭
62-170726号）にて、パッケージの種々の検査を自動的
に行うことを提案した。第６図はこのパッケージ検査処
理装置の斜視図を示し、図において、１はトレイ２に起
立されたパッケージＰを搬送する搬送ラインで、その途
中に検査ボックス３が設けられる。この検査ボックス３
にはパッケージＰの出入口４が形成され、その出入口４
に開閉扉５が設けられる。この検査ボックス３内には各
種検出手段６が設けられる。この検出手段６は、パッケ
ージＰの表面に紫外線を当てその品種混合を検査するた
めの品種混合カメラ6a、可視光線で綾落ちを検出する綾
落ち用カメラ6b、光源からの光を照射し、その反射光か
らバンチ巻き８の有無を検査するバンチ巻き用カメラ6c
からなっている。また検査ボックス３内の搬送ライン１
上にはトレイ２の外周と当接し、そのトレイ２を介して
パッケージＰを回転させて、そのパッケージＰの全周の
不良個所を検出するためのガイドローラ9,9と駆動ロー
ラ10とが設けられる。検査ボックス３の出口側の搬送ラ
イン１には、その搬送ライン１と直交して払出ライン11
が設けられ、その搬送ライン１と払出ライン11間に不良
のパッケージＰを搬送ライン１から払出ライン11に移す
ための回動レバー12などからなる払出手段13が設けられ
る。
このパッケージ検査処理装置において、巻取パッケー
ジＰは検査ボックス３内に搬送され、そこで各種検出手
段６で種々の検査が行われた後、良品と不良品に識別さ
れ、良品はそのまま搬送ライン１で搬送されて梱包さ
れ、不良品は払出手段13にて払出ライン11に搬出され
る。
ジＰは検査ボックス３内に搬送され、そこで各種検出手
段６で種々の検査が行われた後、良品と不良品に識別さ
れ、良品はそのまま搬送ライン１で搬送されて梱包さ
れ、不良品は払出手段13にて払出ライン11に搬出され
る。
［考案が解決しようとする課題］ ところで、綾落ちを検出する綾落ち用カメラ6bは固体
撮像素子（CCDカメラ）からなり、そのカメラの画素デ
ータを二値化した後、そのデータより糸が斜めに連続し
ている箇所を探し出して綾落ち糸を検出するようにして
いるが、実際の綾落ち糸は、パッケージＰが回転される
ため円弧状になり、確実に綾落ちを検出できない問題が
ある。
撮像素子（CCDカメラ）からなり、そのカメラの画素デ
ータを二値化した後、そのデータより糸が斜めに連続し
ている箇所を探し出して綾落ち糸を検出するようにして
いるが、実際の綾落ち糸は、パッケージＰが回転される
ため円弧状になり、確実に綾落ちを検出できない問題が
ある。
すなわち第５図（ａ）に示すようパッケージＰの端面
14に、例えば二点鎖線Pdで示した径の時に綾落ちし、そ
の糸15を検出する場合、カメラ6bの撮像範囲16が図示の
点線で囲んだ位置にありパッケージＰが回転されると、
第５図（ｂ）に示したようにカメラ6bで撮像される画像
17には綾落ち糸15は円弧状となった線16となって現れ
る。従って単に斜めの線を検出したのでは綾落ち糸を確
実に検出できない問題がある。
14に、例えば二点鎖線Pdで示した径の時に綾落ちし、そ
の糸15を検出する場合、カメラ6bの撮像範囲16が図示の
点線で囲んだ位置にありパッケージＰが回転されると、
第５図（ｂ）に示したようにカメラ6bで撮像される画像
17には綾落ち糸15は円弧状となった線16となって現れ
る。従って単に斜めの線を検出したのでは綾落ち糸を確
実に検出できない問題がある。
本考案は上記事情を考慮してなされたもので、綾落ち
糸をより確実に検出できる綾落ち検査装置を提供するこ
とを目的とする。
糸をより確実に検出できる綾落ち検査装置を提供するこ
とを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本考案は、上記の目的を達成するために、パッケージ
を回転させると共にその端面に光を照射し、その端面を
CCDカメラで撮影して綾落ち糸を検査する綾落ち検査装
置において、CCDカメラの各走査ごと、画像情報を画素
毎に二値化する二値化回路と、その二値化されたデータ
を記憶する記憶回路と、二値化された画像情報より各走
査毎の各画素の「１」，「０」を検出し、一の走査
（ｙ）における画素の配列方向ｘで「０」から「１」と
なる点を起点Ｆ（x,y）としてこれより2,3画素「１」の
有無を検出すると共に「０」を検出したとき、その位置
（x1）を基準に、次の走査（ｙ＋１）のｘ方向の起点を
Ｆ（x1−1,y＋１）として数画素「１」の有無を検出
し、以下各走査ごと順次起点を代えながら「１」の有無
を検索し、x,y方向で「１」が所定長連続して検索され
るデータを綾落ち糸として検出する検索回路とを備えた
ものである。
を回転させると共にその端面に光を照射し、その端面を
CCDカメラで撮影して綾落ち糸を検査する綾落ち検査装
置において、CCDカメラの各走査ごと、画像情報を画素
毎に二値化する二値化回路と、その二値化されたデータ
を記憶する記憶回路と、二値化された画像情報より各走
査毎の各画素の「１」，「０」を検出し、一の走査
（ｙ）における画素の配列方向ｘで「０」から「１」と
なる点を起点Ｆ（x,y）としてこれより2,3画素「１」の
有無を検出すると共に「０」を検出したとき、その位置
（x1）を基準に、次の走査（ｙ＋１）のｘ方向の起点を
Ｆ（x1−1,y＋１）として数画素「１」の有無を検出
し、以下各走査ごと順次起点を代えながら「１」の有無
を検索し、x,y方向で「１」が所定長連続して検索され
るデータを綾落ち糸として検出する検索回路とを備えた
ものである。
［作用］ 上記の構成によれば、二値化した画素情報から綾落ち
糸を検出するにおいて、一の走査（ｙ）における画素の
配列方向ｘで数画素「１」，「０」の有無を検出し、そ
の有無に応じて次の走査（ｙ＋１）の起点を決めて数画
素「１」，「０」の有無を検出し、これを繰り返すこと
で、x,y方向で「１」が連続したデータが検出され、そ
のデータから、微細な凹凸から検出された不連続な画素
から区別して綾落ち糸を正確に検出できる。
糸を検出するにおいて、一の走査（ｙ）における画素の
配列方向ｘで数画素「１」，「０」の有無を検出し、そ
の有無に応じて次の走査（ｙ＋１）の起点を決めて数画
素「１」，「０」の有無を検出し、これを繰り返すこと
で、x,y方向で「１」が連続したデータが検出され、そ
のデータから、微細な凹凸から検出された不連続な画素
から区別して綾落ち糸を正確に検出できる。
［実施例］ 以下、本考案の好適実施例を添付図面に基づいて説明
する。
する。
第１図は綾落ち検査装置の概略を示し、図において20
は光源、21はスリット、22,22はミラー,23はCCDカメラ
である。またパッケージＰは、図には示していないが第
６図で説明したように駆動ローラで回転される。光源20
からの可視光線L0はスリット21で平行光L1にされ、ミラ
ー22を介して回転するパッケージＰの端面14の半径方向
に略線上に照射され、その反射光L2はミラー22を介して
CCDカメラ23に入射して撮像される。今パッケージＰの
端面14に綾落ち糸15がある場合、その糸15が端面14に影
を作るために、CCDカメラ23で撮像される画像中にその
糸15の影が現れることとなる。
は光源、21はスリット、22,22はミラー,23はCCDカメラ
である。またパッケージＰは、図には示していないが第
６図で説明したように駆動ローラで回転される。光源20
からの可視光線L0はスリット21で平行光L1にされ、ミラ
ー22を介して回転するパッケージＰの端面14の半径方向
に略線上に照射され、その反射光L2はミラー22を介して
CCDカメラ23に入射して撮像される。今パッケージＰの
端面14に綾落ち糸15がある場合、その糸15が端面14に影
を作るために、CCDカメラ23で撮像される画像中にその
糸15の影が現れることとなる。
第２図はCCDカメラ23からの画像情報を処理する回路
を示し、この回路はCCDカメラ23から出力される信号を
処理する処理回路24とその処理回路24からの画像情報
を、画素毎に二値化する二値化回路25と、その二値化さ
れた画像情報を記憶する記憶装置26と、その記憶装置26
の画像情報から綾落ち糸を検出する検索回路27とからな
る。先ずCCDカメラ23の出力は、信号処理回路24でCCDの
一走査ごとのデータが順次処理され、二値化回路25で一
定の閾値をもって、各画素（ドット）毎に「１」，
「０」に二値化されて記憶装置26に順次記憶される。検
索回路27は二値化された画像情報から画像情報から綾落
ち糸を検出するようになっている。この二値化された画
像情報は、第４図（ａ）に示すようになる。第４図
（ａ）においてｘ方向はCCDアレイの各ドットの
「１」，「０」データで、かつ走査方向を示し、またｙ
方向はパッケージの移動方向（回転方向）を示す。この
画像情報30はパッケージＰの端面14が微細な凹凸がある
ため、黒「１」と白「０」が点在した状態となるが、端
面14の微細な凹凸はランダムであり、この画像情報30よ
り第４図（ｂ）に示すように略円弧状に分布する規則的
な綾落ち糸のみのデータ31を上述した検索回路27により
抽出する。この検索回路27による綾落ち糸の検出は、基
本的には、二値化された画像情報より各走査毎の各画素
の「１」，「０」を検出し、一の走査（ｙ）における画
素の配列方向ｘで「０」から「１」となる点を起点Ｆ
（x,y）としてこれより数画素「１」の有無を検出する
と共に「０」を検出したとき、その位置（x1）を基準
に、次の走査（ｙ＋１）のｘ方向の起点をＦ（x1−1,y
＋１）として数画素「１」の有無を検出し、以下順次こ
れを繰り返して円弧状の綾落ち糸を検出するものであ
る。これを、さらに第３図により説明する。
を示し、この回路はCCDカメラ23から出力される信号を
処理する処理回路24とその処理回路24からの画像情報
を、画素毎に二値化する二値化回路25と、その二値化さ
れた画像情報を記憶する記憶装置26と、その記憶装置26
の画像情報から綾落ち糸を検出する検索回路27とからな
る。先ずCCDカメラ23の出力は、信号処理回路24でCCDの
一走査ごとのデータが順次処理され、二値化回路25で一
定の閾値をもって、各画素（ドット）毎に「１」，
「０」に二値化されて記憶装置26に順次記憶される。検
索回路27は二値化された画像情報から画像情報から綾落
ち糸を検出するようになっている。この二値化された画
像情報は、第４図（ａ）に示すようになる。第４図
（ａ）においてｘ方向はCCDアレイの各ドットの
「１」，「０」データで、かつ走査方向を示し、またｙ
方向はパッケージの移動方向（回転方向）を示す。この
画像情報30はパッケージＰの端面14が微細な凹凸がある
ため、黒「１」と白「０」が点在した状態となるが、端
面14の微細な凹凸はランダムであり、この画像情報30よ
り第４図（ｂ）に示すように略円弧状に分布する規則的
な綾落ち糸のみのデータ31を上述した検索回路27により
抽出する。この検索回路27による綾落ち糸の検出は、基
本的には、二値化された画像情報より各走査毎の各画素
の「１」，「０」を検出し、一の走査（ｙ）における画
素の配列方向ｘで「０」から「１」となる点を起点Ｆ
（x,y）としてこれより数画素「１」の有無を検出する
と共に「０」を検出したとき、その位置（x1）を基準
に、次の走査（ｙ＋１）のｘ方向の起点をＦ（x1−1,y
＋１）として数画素「１」の有無を検出し、以下順次こ
れを繰り返して円弧状の綾落ち糸を検出するものであ
る。これを、さらに第３図により説明する。
第３図は、綾落ち糸の近傍の画素情報32をx,y方向で
画素毎に拡大したもので、斜線を施した画素が「１」で
白抜きが「０」である。今、一の走査位置（ｙ）におけ
るｘ方向で、d1で示した画素が「０」で、次の画素が
「１」とし、さらにその隣の画素が「０」とすると、
「１」の画素を起点Ｆ（x,y）とする。次にこの起点Ｆ
（x,y）より隣の画素（ｘ＋１）は、「０」であるた
め、この画素位置（x1＝ｘ＋１）を基準に、次の走査
（ｙ＋１）での起点をＦ（x1−１＝x,y＋１）とし、こ
の起点Ｆ（x,y＋１）よりｘ方向に画素の「１」の有無
を検出する。この走査（ｙ＋１）での「０」は（ｘ＋３
＝x2）であり、次の走査（ｙ＋２）では、起点をＦ（x2
−１＝ｘ＋2,y＋２）とし、以下同様にこれを繰り返し
て綾落ち糸を検索する。
画素毎に拡大したもので、斜線を施した画素が「１」で
白抜きが「０」である。今、一の走査位置（ｙ）におけ
るｘ方向で、d1で示した画素が「０」で、次の画素が
「１」とし、さらにその隣の画素が「０」とすると、
「１」の画素を起点Ｆ（x,y）とする。次にこの起点Ｆ
（x,y）より隣の画素（ｘ＋１）は、「０」であるた
め、この画素位置（x1＝ｘ＋１）を基準に、次の走査
（ｙ＋１）での起点をＦ（x1−１＝x,y＋１）とし、こ
の起点Ｆ（x,y＋１）よりｘ方向に画素の「１」の有無
を検出する。この走査（ｙ＋１）での「０」は（ｘ＋３
＝x2）であり、次の走査（ｙ＋２）では、起点をＦ（x2
−１＝ｘ＋2,y＋２）とし、以下同様にこれを繰り返し
て綾落ち糸を検索する。
この検索で綾落ち糸は連続した画像を形成するため数
画素単位で「１」の有無を検出すれば確実に検出できる
と共に適宜各走査毎の起点を代えることで円弧状の綾落
ち糸が確実に検出できる。また微細な凹凸でできる画素
は連続していないため、起点を代えながら「１」の有無
を検索する間に「１」を検出できなくなり、数画素で検
索が終わるため、x,y方向で「１」が連続した綾落ち糸
と簡単に区別できる。
画素単位で「１」の有無を検出すれば確実に検出できる
と共に適宜各走査毎の起点を代えることで円弧状の綾落
ち糸が確実に検出できる。また微細な凹凸でできる画素
は連続していないため、起点を代えながら「１」の有無
を検索する間に「１」を検出できなくなり、数画素で検
索が終わるため、x,y方向で「１」が連続した綾落ち糸
と簡単に区別できる。
尚この起点からｘ方向の画素の「１」の有無を検出
は、CCDアレイのドット密度とそのアレイに結像される
実際のパッケージの大きさ及び糸の太さで変更されるこ
とは勿論であり、要は数画素の範囲に綾落ち糸の画像が
十分に収まれば良い。
は、CCDアレイのドット密度とそのアレイに結像される
実際のパッケージの大きさ及び糸の太さで変更されるこ
とは勿論であり、要は数画素の範囲に綾落ち糸の画像が
十分に収まれば良い。
［考案の効果］ 以上説明したことから明らかなように本考案によれば
次のごとき優れた効果を発揮する。
次のごとき優れた効果を発揮する。
（１） 二値化した画素情報から綾落ち糸を検出するに
おいて、一の走査（ｙ）における画素の配列方向ｘで数
画素「１」，「０」の有無を検出し、その有無に応じて
次の走査（ｙ＋１）の起点を決めて数画素「１」，
「０」の有無を検出し、これを繰り返すことで「１」の
連続したデータを抽出し、そのデータより綾落ち糸を正
確に検出できる。
おいて、一の走査（ｙ）における画素の配列方向ｘで数
画素「１」，「０」の有無を検出し、その有無に応じて
次の走査（ｙ＋１）の起点を決めて数画素「１」，
「０」の有無を検出し、これを繰り返すことで「１」の
連続したデータを抽出し、そのデータより綾落ち糸を正
確に検出できる。
（２） 綾落ち糸の自動検出が正確にできる。
第１図は本考案の一実施例を示す概略斜視図、第２図は
本考案における検出回路のブロック図、第３図は本考案
における検索を説明する図、第４図は本考案において二
値化された画素情報を示す要部拡大図、第５図はパッケ
ージの綾落ち糸とCCD画像で検出される画像の関係を示
す図、第６図は先願の考案を示す斜視図である。 図中、14はパッケージの端面、15は綾落ち糸、20は光
源、23はCCDカメラ、25は二値化回路、27は検索回路で
ある。
本考案における検出回路のブロック図、第３図は本考案
における検索を説明する図、第４図は本考案において二
値化された画素情報を示す要部拡大図、第５図はパッケ
ージの綾落ち糸とCCD画像で検出される画像の関係を示
す図、第６図は先願の考案を示す斜視図である。 図中、14はパッケージの端面、15は綾落ち糸、20は光
源、23はCCDカメラ、25は二値化回路、27は検索回路で
ある。
Claims (1)
- 【請求項１】パッケージを回転させると共にその端面に
光を照射し、その端面をCCDカメラで撮影して綾落ち糸
を検査する綾落ち検査装置において、CCDカメラの各走
査ごと、画像情報を画素毎に二値化する二値化回路と、
その二値化されたデータを記憶する記憶回路と、二値化
された画像情報より各走査毎の各画素の「１」，「０」
を検出し、一の走査（ｙ）における画素の配列方向ｘで
「０」から「１」となる点を起点Ｆ（x,y）としてこれ
より数画素「１」の有無を検出すると共に「０」を検出
したとき、その位置（x1）を基準に、次の走査（ｙ＋
１）のｘ方向の起点をＦ（x1−1,y＋１）としてこれよ
り数画素「１」の有無を検出し、以下各走査ごと順次起
点を代えながら「１」の有無を検索し、x,y方向で
「１」が所定長連続して検索されるデータを綾落ち糸と
して検出する検索回路とを備えたことを特徴とする綾落
ち検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990078203U JP2521090Y2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 綾落ち検査装置 |
| US07/732,103 US5224172A (en) | 1990-07-25 | 1991-07-18 | Cobwebbing detection device |
| ITRM910557A IT1249818B (it) | 1990-07-25 | 1991-07-23 | Dispositivo di rivelazione di posizione sfalsata di un filo in una rocca |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990078203U JP2521090Y2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 綾落ち検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0437164U JPH0437164U (ja) | 1992-03-27 |
| JP2521090Y2 true JP2521090Y2 (ja) | 1996-12-25 |
Family
ID=13655466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990078203U Expired - Lifetime JP2521090Y2 (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | 綾落ち検査装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5224172A (ja) |
| JP (1) | JP2521090Y2 (ja) |
| IT (1) | IT1249818B (ja) |
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