JP2519432B2 - 製品取出機の制御方法 - Google Patents

製品取出機の制御方法

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    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/76Measuring, controlling or regulating
    • B29C45/7626Measuring, controlling or regulating the ejection or removal of moulded articles
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、射出成形機の金型より成形された製品を取
出す製品取出機の制御方法に関する。
従来の技術 射出,保圧,冷却工程が終了し、金型が開いたとき、
一方の金型に付着している成形製品を自動的に取出す製
品取出機はすでに公知である。
発明が解決しようとする問題点 上記従来の製品取出機は、金型内から製品を取出し、
製品箱内に製品を収納したり、搬送コンベア上に載置す
るもので、単に製品を金型から取出す動作のみであっ
た。そして、成形された製品が良品か不良品かは製品取
出機で取出された後に、選別振分け作業を行わねばなら
ず、時間と労働を必要としていた。
特開昭57−159632号公報および特開昭57−167233号公
報では、射出成形機の射出条件の異常を検出して製品取
出機の搬送経路を変えることにより良品と不良品とを選
別するようにした不良成形品の排出方法が提案されてい
るが、このものは、良品用の製品取出プログラムと不良
品用の製品取出プログラムの各々を製品取出機の制御装
置に記憶させておき、射出成形機が射出異常を検出して
製品取出機の制御装置にエラー信号を出力することによ
り、その信号に基いて製品取出機の制御装置が自ら良品
用の製品取出プログラムまたは不良品用の製品取出プロ
グラムを選択して製品取出機を駆動制御するものであっ
たため、製品取出機毎に専用の制御装置を設ける必要が
あり、製品取出機の配備に費用がかさむといった問題が
あった。
そこで、本発明の目的は、金型から取出した製品が良
品が不良品かに応じて製品の選別取出しを行う製品取出
機を安価な価格で導入することのできる製品取出機の制
御方法を提供することにある。
問題点を解決するための手段と作用 本発明は、成形正常時の取出しシーケンスプログラム
と成形異常時の取出しシーケンスプログラムを射出成形
機の制御部に予め記憶させておき、射出成形機の制御部
は1成形サイクル終了毎に、該成形サイクルの正常,異
常を判別し、該判別に基いて上記いずれか一方のシーケ
ンスプログラムを選択して製品取出機を駆動制御するこ
とを特徴とした構成により製品取出機毎の制御装置を不
要とし、前記目的を達成した。
実施例 第1図は、本発明の一実施例の要部ブロック図で、符
号1は射出成形機本体及び製品取出機2を駆動制御する
ための数値制御装置(以下、NC装置という)である。2
は該NC装置1の入力回路20,出力回路21を介して接続さ
れた製品取出機、3はオペレータパネルコントローラ19
を介してNC装置のバスアービタコントローラ(以下、BA
Cという)13に接続された手動データ入力装置付表示装
置(以下、CRT/MDIという)である。
NC装置1はNC用のマイクロプロセッサ(以下、CPUと
いう)11と、プログラマブルマシンコントローラ(以
下、RMCという)用のCPU12を有しており、PMC用CPU12に
は射出成形機や後述する製品取出機2のシーケンスプロ
グラム等を記憶したROM15が接続され、NC用CPU11には射
出成形機を全体的に制御する管理プログラムを記憶した
ROM14及び射出用,クランプ用,スクリュー回転用,エ
ジェクタ用等の各軸のサーボモータMを駆動制御するサ
ーボ回路17がサーボインターフェイス16を介して接続さ
れている。なお、サーボモータM,サーボ回路17は第1図
には1つのみ図示している。また、18はバックアップ用
電源を有する不揮発性の共有RAMで、射出成形機の各動
作を制御するプログラムや各種設定値,パラメータ等を
記憶するものである。13は前述したBACで、該BAC13には
NC用CPU11及びPMC用CPU12,共有RAM18,入力回路20,出力
回路21の各バスが接続され、該BAC13によって使用する
バスを制御するようになっている。なお、22はNC用CPU1
1が各種処理中においてデータの一時記憶等に利用するR
AMであり、PMC用CPU12にもRAMは選択的に接続可能にさ
れており、本実施例においては接続されていない。ま
た、製品取出機2は従来の製品取出機を使用するが、該
製品取出機2には制御部がなく駆動部のみで構成されて
いる。本実施例では4軸の製品取出機2の例を示し、第
2図にその概要を示す。
該製品取出機2は第1のアーム25が矢印aで示すよう
に前後に移動し、また、第1のアーム25の先端に設けら
れた第2のアーム26は矢印bに示すように上下動し、該
第2のアーム26の先端に設けられたハンド27(27a,27
b)は矢印cのように開閉動作を行い、また、第2のア
ーム26は第1のアーム25を中心に矢印dに示すように回
転する4軸構成となっており、これらアーム25,26,ハン
ド27(27a,27b)の各々はエアシリンダで駆動され、こ
れらエアシリンダは電磁弁の切換えによって駆動される
ようになっている。
上記ROM15には、射出成形サイクルが正常に動作し、
成形された製品が良品と判断された場合の製品取出しシ
ーケンスプログラムと、射出成形サイクルの動作が異常
で、成形された製品が不良品と判断された場合の製品取
出しシーケンスプログラムが記憶されている。例えば、
第3図は良品として製品を取出す取出しシーケンスの一
例を示す説明図で、第4図は不良品の場合の取出シーケ
ンスの一例を示す説明図で、第3図,第4図において、
51は可動プラテン側の金型、50は固定プラテン側の金
型、Sは製品取出機2のハンド27の待機位置を示す。す
なわち、取出開始位置を示し、矢印と共に示されている
数字は製品取出機2のハンド27の動作順序を示すもので
ある。
第3図に示す製品が良品である場合の取出しシーケン
スは、まず待機位置Sより、(1)第2のアーム26が駆
動されてハンド27が下降し、(2)次に第1のアーム25
が駆動されハンド27が前進し、(3)ハンド27が閉じら
れ、可動プラテン側の金型51に付いている製品を把持
し、(4)その後第1のアーム25が後退し、(5)次に
第2のアーム26が上昇し、(6)第1のアーム25を中心
に反時計方向に回動された後、(7)第2のアーム26が
下降して、(8)ハンド27を開き、把持していた製品を
放出し、(9)第2のアーム26が上昇し、(10)第1の
アーム25を中心に時計方向に回動してハンド27は待機位
置Sに位置づけられる10工程の取出しシーケンスを示し
ている。
また、製品が不良品の場合は、第4図に示す取出しシ
ーケンスを行い、(1)ハンド27はまず下降し、(2)
次に前進して、(3)ハンド27を閉じ製品を把持した
後、(4)後退し、(5)後退した位置でハンド27を開
き、製品を落下させ、(6)次に上昇して待機位置Sに
達する6工程の取出しシーケンスよりなっている。
第3図,第4図に示すように、金型51から取出された
製品は良品か否かによって製品取出機から放出される位
置が異なり、これにより、製品取出機自体によって製品
が良品か否かを選別することとなる。
次に、本実施例の動作を第5図の動作フローチャート
と共に説明する。
自動射出成形指令が入力されると、PMC用CPU12はイニ
シャライズし、共有RAM18に設けられた計算異常フラグF
M,射出・保圧異常フラグFIを「0」にセットする(ステ
ップS1)。
一方、NC用CPU11は共有RAM18に設定された計量の各段
のスクリュー回転数を読出し、サーボインターフェイス
16を介してスクリュー回転用のサーボモータを駆動し、
設定回路数で回転させ、計量処理を行い(ステップS
2)、計量処理が終了すると、PMC用CPU12は、計量時に
異常動作が行われなかったか否か、すなわち、計量時間
が異常に長くないか、スクリュー位置が計量点からずれ
ていないか等を判断し(ステップS3)、異常が検出され
ると、計量異常フラグFMを「1」にセットする(ステッ
プS4)。
次に、射出・保圧処理を行い(ステップS5)、射出・
保圧処理が終了すると、射出・保圧処理に異常がないか
判断する(ステップS6)。例えば、クッション量が正常
か、ノズルの温度変化に異常はないか、または射出時間
が正常か等を判断し、射出・保圧動作に異常があると、
射出・保圧異常フラグFIを「1」にセットする(ステッ
プS7)。次に、型開き及び、必要ならばエジェクト動作
を開始させると共にPMC用CPU12は、計量異常フラグFM,
射出・保圧異常フラグFIが「1」か否か判断し(ステッ
プS9,S10)、両フラグFM,FIとも「1」でなければ、ROM
15に記憶されている製品取出機2の正常時の製品取出し
シーケンスプログラムを読出し、BAC13,出力回路21,入
力回路20を介して製品取出機2を制御し、例えば第3図
の取出しシーケンスを実行させる(ステップS12)。ま
た、計量異常フラグFM,射出・保圧異常フラグFIの少な
くとも一方が「1」であると、両フラグFM,FIをリセッ
ト(「0」)すると共に(ステップS11)、ROM15より異
常時の製品取出しシーケンスプログラムを読出し、製品
取出機2を制御する(ステップS13)。例えば、第4図
の取出しシーケンスを実行させる。そして、製品取出機
が製品を取出すことによって製品取出機2の制御は終了
する(ステップS14)。
このように、射出・保圧処理または計量処理のいずれ
か一方でも異常が検出されれば成形不良として判別する
ようにしているので、射出・保圧処理の異常のみを検出
して製品の良品を判別する従来の方法に比べて良品,不
良品の判別制度が高く、特にショートショット,オーバ
ーパッキング等の異常検出に有効であり、この判別結果
のみに基いて良品,不良品を適確に振り分けることがで
きるので、判別結果が不良品から良品に反転した後、更
に、射出成形動作が常態に復するまでの異常を見込んで
所定数の製品を無条件に不良扱いとする従来の方法に比
べ、歩留まりの良い作業を行うことが可能となる。
発明の効果 本発明は、射出成形機の制御部自体が成形された製品
の良,不良を判断し、製品取出機を直接駆動制御して製
品を金型から取出し、把持した製品の良,不良に応じて
放出する位置を変えるようにしたから、取出された製品
を再度良,不良品に選別する必要がないので射出成形作
業を効率的に行うことができる。しかも、射出成形機の
制御部自体が製品取出機を直接駆動制御するので製品取
出機毎に専用の制御装置を用意する必要がなく、設備投
資のコストダウンが図れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施する一実施例の要部ブロック図、
第2図は本実施例の製品取出機の動作を説明する説明
図、第3図,第4図は同製品取出機の製品取出しシーケ
ンスの動作説明図、第5図は、同実施例の動作処理フロ
ーチャートである。 1……数値制御装置、2……製品取出機、M……サーボ
モータ、25……第1のアーム、26……第2のアーム、27
……ハンド、50……固定プラテン側金型、51……可動プ
ラテン側金型。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−167233(JP,A) 特開 昭57−159632(JP,A) 特開 昭61−249732(JP,A) 特開 昭61−249723(JP,A) 特開 昭61−114833(JP,A) 実開 昭61−102518(JP,U)

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】射出成形機の制御部に成形正常時の取出し
    シーケンスプログラムと成形異常時の取出しシーケンス
    プログラムを予め記憶させておき、上記射出成形機の制
    御部で1成形サイクル終了毎に、該成形サイクルの正
    常,異常を判別すると共に、該判別に基いて上記いずれ
    か一方のシーケンスプログラムを選択して製品取出機の
    各駆動部を駆動制御することを特徴とした製品取出機の
    制御方法。
  2. 【請求項2】射出成形機の制御部は少なくとも計量時お
    よび射出時の異常を判別し、いずれか一方でも異常があ
    れば異常動作とすることを特徴とした特許請求の範囲第
    1項記載の製品取出機の制御方法。
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