JP2519381B2 - 流体処理装置 - Google Patents

流体処理装置

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JP2519381B2
JP2519381B2 JP4328825A JP32882592A JP2519381B2 JP 2519381 B2 JP2519381 B2 JP 2519381B2 JP 4328825 A JP4328825 A JP 4328825A JP 32882592 A JP32882592 A JP 32882592A JP 2519381 B2 JP2519381 B2 JP 2519381B2
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    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/0085Apparatus for treatments of printed circuits with liquids not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46; conveyors and holding means therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/08Apparatus, e.g. for photomechanical printing surfaces

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は流体処理装置及びその方
法に関し、特に基板又は基板と同様のものを処理する流
体処理装置及びその方法について、情報処理システム
(コンピユータ)において回路部材として利用されるよ
うな金属基板をエツチングする際に適用して好適なもの
である。
【0002】
【従来の技術】1991年5月6日出願、米国特許出願第07
/696,435号「フレキシブル回路部材の作成方法」におい
てはフレキシブル回路部材を作成する方法が定義されて
おり、この明細書において複合構造(2つの導電素子に
よつて囲まれている誘電体を含み、一方の導電素子は銅
であり、他方の導電素子はステンレス鋼である)は塩化
第2銅のエツチ溶液を用いて同時にエツチされることに
より、これらの金属材料の所望の部分を効果的に除去し
て所望の柔軟性をもつ回路部材を形成する。
【0003】1990年7月19日出願、米国特許出願第07/5
54,487号「流体処理装置」においては流体処理装置につ
いて定義されており、この明細書においては対向する移
動ヘツド部材を利用し、一方のヘツド部材は定められた
第1の圧力で第1の流体(例えばエツチ液)を基板に対
して方向付け、他方のヘツド部材は第1の流体に近接し
た領域において第1の圧力以上に定められた第2の圧力
で第2の流体(例えば空気)を基板に対して方向付ける
ことにより、第1の流体が基板上の正確な位置にだけ衝
突するように第1の流体を阻止して制限する。ヘツド部
材は共に流体が適用されている間でも互いに移動できる
と同時に、指定された基板位置に第1の流体が正確に衝
突するように第1の流体を保持する。
【0004】種々の基板要素及び同様の部品を流体によ
り処理する幾つかの装置及び方法が当分野において知ら
れており、例えば米国特許第 4,555,302号、同第 4,99
9,079号、同第 4,557,785号、同第 3,502,519号及び同
第 5,002,627号に述べられている。また1975年、8月発
行「IBM・テクニカル・デイスクロージヤ・ブリテイ
ン」第18巻、第3号、 690頁及び 691頁、1969年、4月
発行「IBM・テクニカル・デイスクロージヤ・ブリテ
イン」第23巻、第4号、1362頁及び1363頁及び1972年、
2月発行「IBM・テクニカル・デイスクロージヤ・ブ
リテイン」第14巻、第9号、2605頁及び2606頁を参照。
これらの出版物には種々の装置及び方法が示されてお
り、これらの方法及び装置は幾つかの異なる処理形式を
提供することができ、例えば部品を被覆したり、洗浄し
たり、リンスしたり、化学的に反応させる(例えばエツ
チング)ような処理をする。従つて当該明細書において
用いられる語「流体処理」とは上述した機能(被覆、洗
浄及び化学的反応)だけでなく、めつきのような他の機
能も提供する本発明の能力を説明することを意味する。
この他の機能については当該明細書における教示から理
解することができる。当該明細書において用いられる語
「流体」とは液体(例えばエツチ液)及びガス(例えば
空気)の両方を含む。上述のように定義したように、特
に本発明は比較的薄い金属基板をエツチングする際に適
しており、この薄い金属基板は情報処理システム(コン
ピユータ)環境において用いられる際に、表面に回路を
もつている基板部材又は同様の基板の素子として用いら
れる。しかしながら本発明はこのような特定の場合だけ
に制限されるものではなく、例えば上述した被覆、めつ
きのような他の幾つかの場合にも容易に用いることがで
きる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、基板
を確実に且つ比較的簡単な構成で均一に効率よく処理す
ることができる流体処理装置を提供することである。
【0006】本発明の他の目的は、機械的強度が比較的
弱い薄い基板の場合でも、安定に基板を支持し、均一な
処理をすることができる流体処理装置を提供することで
ある。
【0007】
【0008】
【0009】
【0010】本発明の流体処理装置は、処理されるべき
基板を所定の走行方向に移動させるローラ手段と、基板
の少なくとも一方の表面の側に、基板表面に近接して設
けられた複数の流体ノズル列とを有する。各流体ノズル
列は、基板表面に向けて基板処理用の流体を噴射させる
複数の流体ノズルを含む。これらの流体ノズル列は、互
いに平行に配列され且つ基板の上記走行方向に対して所
定の鋭角をなすように配設される。また、流体ノズル列
は、互いに所定の間隔で分離された複数の流体ノズル列
グループに分けられ、ローラ手段は、基板の上記一方の
表面の側に互いに平行に設けられた複数の第1の軸、第
1の軸に取付けられた複数の第1のローラ、基板の他方
の表面の側に互いに平行に設けられた複数の第2の軸、
及び第2の軸に取付けられた複数の第2のローラを有す
る。ローラ手段は、少なくとも第1のローラが流体ノズ
ル列グループ間の上記間隔の領域において基板表面に接
触するように配設される。
【0011】
【作用】本発明では、基板表面に向けて基板処理用の流
体を噴射させる流体ノズル列は、互いに平行に配列され
且つ基板の走行方向に対して所定の鋭角をなすように配
設される。したがって基板は、走行期間に、走行方向及
び走行方向に垂直な方向において狭い噴射間隔で流体ノ
ズル列からの噴射を次々に受け、基板の全領域を一様に
流体噴射にさらすことができるから、処理の均一性を大
幅に改善し且つ処理効率を高めることができる。また、
流体ノズル列をグループに分け、ローラを流体ノズル列
グループ間の間隔の領域において基板表面に接触させる
ことにより、基板を安定に支持して移動させるのに必要
な数のローラ手段を設けた場合でも、ローラ手段と流体
ノズルとの干渉を回避することができるから、処理の均
一性及び効率を実質的に損なうことなく、安定な基板支
持及び基板移動を達成することができる。したがって、
機械的強度が比較的弱い基板の場合でも、確実に処理す
ることができる。/tt明細書
【0012】
【0013】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
【0014】図1及び図2は本発明の好適な実施例によ
る流体処理装置10を示す。流体処理装置10は、基板
11(図2)がこの流体処理装置10を通つて移動する
とき、この基板11を処理するように設計されている。
本発明の一実施例において基板11は薄い複合部材から
構成され、この複合部材はその一部として銅でなる薄い
層を含む。例えばこの複合部材の全体の厚さは約 0.152
〔cm〕であり、薄い銅層の厚さは約0.0061〔cm〕であ
る。2つの銅層が用いられており、それぞれ複合部材の
各側面に配設されている。他の例においては、約0.0127
〔cm〕の薄い基板が上手く処理された。図1に基板11
を示さなかつたのは図解が目的であるからである。流体
処理装置10はこの流体処理装置10を通るように基板
11を移動させる手段13を含み、好適な実施例におけ
る手段13は対応する複数の細長い軸17に一定の間隔
を置いて配設された複数のローラ15を含み、図1に示
すように細長い軸17は互いにほぼ平行である。実施例
において、各軸17は合計6個のローラ15を含み、こ
れらのローラ15は隣接するローラと約 9.525〔cm〕の
間隔を置いて配設されている。電気モータ21によつて
示される駆動手段19は各軸17の終端において個々の
滑車に物理的に結合され、この滑車23を用いて軸17
を望み通りに回転させる。電気的モータ21及び共通の
ベルト25をもつこのような滑車23を用いたのは、理
解し易いように図解の目的で示したのであり、本発明は
これに限定されることを意味するものではなく、他の幾
つかの手段を上手く利用してもよい。
【0015】図2に示すように流体処理装置10の上方
部分に配設された各ローラ15は基板11の上部の第1
の表面27と物理的に連動することにより、基板11を
予め決められた移動方向(図1の矢印「T」によつて示
す)に移動させる。またこの方向を図3に示す。図2に
おいてこの移動方向は図に対して垂直方向であり、観察
者とは離れていく方向であることが分かる。さらに図2
に示すように流体処理装置10は基板11の下方に配設
された個々の軸17′に一定の間隔を置いて配設された
第2の複数のローラ15′を含み、かくしてこのような
配列においては各ローラ15′は基板11の下部にある
第1の表面27と対向する第2の表面27′と物理的に
連動するように設計される。本発明の好適な実施例にお
いて、ローラ15及び15′は図2に示すようにそれぞ
れの表面27及び27′と互いに正反対に連動する。好
適には各ローラ15及び15′は硬質ゴム又は同様の材
料でなり、チタニウムでなる軸17及び17′に配設さ
れる。しかしながら本発明はこれらの材料に限定される
ものではなく、代わりに他の材料に容易に代えることが
できる。
【0016】さらに流体処理装置10は基板11の第1
の表面27に隣接して配設された堰手段31を含み、こ
の堰手段31は第1の流体33を集めて基板表面27の
上方の予め決められたレベルにこの第1の流体33を保
持するように設計されている。本発明の好適な実施例に
おいては、第1の流体33はエツチ液からなり、このエ
ツチ液は好適には塩化第2銅の水溶液である。さらに一
段と特定すると、この好適な第1の流体は1リツトル当
たり約 370〔g〕の塩化第2銅、1リツトル当たり約 1
06〔g〕の塩酸及び1リツトル当たり約23〔g〕の塩化
第1銅を含む水溶液である。この水溶液は好適にはカ氏
約 110〔°〕からカ氏約 130〔°〕の温度で使用され
る。
【0017】図1及び図2を比較すると分かるように、
堰手段31は一対の直立した側壁35(図2に1つだけ
示す)を含み、図2に示すようにこの側壁35は好適に
は基板11の外部縁に沿って垂直に配置される。好適に
は各側壁35は基板11の上部表面27の上方にわずか
な距離(例えば0.076 [cm])を置いて配置されることに
より、第1の流体33のうちの予め決められた量が流出
する。またこの予め決められた量の流体が流出すると、
基板と側壁35の下部面との間に「流体ベアリング」が
形成される。この空間を図2に符合37で示す。また図
2に示すように第1の流体33は側壁から溢れ、この溢
れは本発明の目的において非常に重要である(後述す
る)。他の実施例において流体処理装置10は、同時に
2つの別個の基板を処理することができる。この場合、
2つの基板は互いに隣接するように配置されるのが好ま
しい。このような配列においてはこの2つの基板の境界
に小さな隙間(例えば約 0.076〔cm〕)が存在し、これ
により第1の流体が最小量しか流出しない。この隙間は
図2に寸法「G」で示されている。
【0018】堰手段31は図1に示すように側壁35の
それぞれの端部分に接触する第2の一対の側壁39を含
み、これによつて合計4つの側壁を定義して基板11の
上方に第1の流体33を集めて保持する。かくして実質
的に固体である基板11はこの容器状の構造の底部壁と
して用いられる。本発明の1つの特徴によると、第1の
流体33は基板11の第1の平坦な表面27の上方約
2.540〔cm〕のレベルに保持される。また、以下に述べ
るように、各側壁39は好適にはマニホルドとして機能
し、再循環された第1の流体33を収容してこの流体3
3を本発明の流体ノズル(後述する)に分配する。した
がって各側壁39はこの目的のために中空にされるのが
好ましく、これについては、図3を参照してさらに詳細
に説明する。
【0019】さらに流体処理装置10は基板11の第1
の上部表面27にほぼ隣接して配設された複数の流体ノ
ズル41を含み、各流体ノズル41は基板11の上部表
面27における一定の間隔を置いた位置に複数の噴射流
体43(図2及び図4)を供給するように設計される。
各流体ノズル41は好適には対向する平行なマニホルド
39間を延びる細長い管を含み、各流体ノズル41はマ
ニホルド39のそれぞれの終端部分においてマニホルド
に機能的に結合される。これを同様の細長い管について
図3に部分的に最適に示し、基板の下部面27′を流体
により処理する必要があるとき、基板の下部面27′に
沿つて下部流体ノズル41′を設置する。流体ノズル4
1及び41′(図2)は共にそれ自身複数の開口51を
含み、図1(図1に示す開口はかなり小さく示してい
る)及び図3に示すように各管に沿つて長手方向模様に
配列される。本発明の一実施例においては、各流体ノズ
ル41及び41′をもつ管は全長約 30.48〔cm〕であ
り、適正なプラスチツク(例えばポリ塩化ビニル)でな
る。管41及び41′の各開口51は好適にはほぼ円筒
状の形状(特に図3を参照)を有し、実施例においては
直径がほんの約 0.089〔cm〕、最も近くに隣接した開口
から約 0.127〔cm〕から約 1.778〔cm〕の間隔を置いて
配設されている。図1に示す開口51は管41の下面に
配設されているので、この開口51は図1においては観
察者の方向に向いていないことが分かる。またこのこと
は図2及び図4に示す構造からも理解できる。
【0020】図1に最適に示すように各管41はそれぞ
れグループ55に配列され、その結果複数(例えば7
つ)のこのようなグループが形成される。各グループは
好適には図1に示すように合計4つ又は5つの管を含
む。上述のように管41(及び41′)はそれぞれ流体
処理装置10の上部又は下部内において互いに平行に配
列されている。従つてこのような管の各グループは最も
近くに隣接したグループとほぼ平行である。本発明の好
適な実施例においては、その中に幾つかの管を含んでい
る各グループは基板11の長手方向の移動方向「T」に
対してそれぞれ約10°から約30°の鋭角をなして配置さ
れる。また一段と角度が大きくてもよい。この鋭角は図
3において符号「A」で示されている。重要なのは、こ
のように管41及び41′並びにその中のそれぞれの開
口51を戦略的に位置決めすることにより、本発明によ
つて処理される基板11のすべての隣接する表面(27
及び27′)は、定義された流体ノズルから方向付けら
れた噴射流体を受けるので、これらの表面に均一に流体
が適用されることである。これは本発明の重要な特徴の
1つであり、これにより均一処理(例えばエツチング)
を提供することができ、これは情報処理システムにおい
て用いられる回路構造についての高精度回路技術におい
て不可欠であると考えられる。
【0021】図2に示すように基板11が流体処理装置
10を通つて移動する間、基板11の上部面及び下部
面、好適には基板の正反対の両面に噴射流体(43及び
43′)が適用される。さらに図示のように幾つかの細
長い各管41及び41′は一対のマニホルド(符号39
は流体処理装置10の上部、符号39′は流体処理装置
10の下部)に機能的に結合されることにより、適正な
圧力で所望の流体を受けるので、これらの流体は設けら
れた開口51を通つて基板11のそれぞれ隣接する表面
に直接衝突する。本発明の好適な実施例においては、各
管は、この管から流出される噴射流体を受けるそれぞれ
隣接する表面から約 0.152〔cm〕だけ離れて配設されて
いる。この距離を図4に符号「D」で示す。当該明細書
において定義した型式の基板を処理するとき及び当該明
細書において説明した型式のエツチ溶液を用いるとき
は、符号「D」の距離は約 0.165〔cm〕から約 0.660
〔cm〕の範囲にある。このような配列においては、各円
筒状の開口の軸は図4に示す符号「C」により示され、
これは基板11の隣接する平坦な表面にほぼ垂直であ
る。
【0022】さらに図1及び図2に示すように、定義さ
れた各ローラ15は管41の隣接するグループ55間に
それぞれ設けられた空間内に戦略的に位置決めされる
(これは流体処理装置10の下部に配設された管41′
についてのローラ15′に対しても同様である)。本発
明の実施例においては、各グループ55は約 1.588〔c
m〕の間隔で配設されているので各ローラ15を収容す
ることができる。重要なことは、このように間隔を置い
てそこにローラを配設することにより、基板11のそれ
ぞれの表面を流体で均一に効果的に処理することができ
ることである。
【0023】図2においてそれぞれ対になつているマニ
ホルド39及び39′の下に貯水槽61が配設され、こ
の貯水槽61は基板11に衝突した流体を集める。かく
して図2の実施例においては、基板表面27に衝突した
第1の流体33は基板の下部面27′に衝突した第2の
流体と同じであることが分かる。かくして基板の表面2
7及び27′に衝突するこれらの流体は貯水槽61に集
められ、それぞれのマニホルドに送られて永久的に再循
環される(例えば適正なポンプ63又は同様のものを用
いて)。図1に示すように好適には各マニホルドには2
つの管65が必要であるので本発明の4つのマニホルド
の場合合計8つの管が用いられる。
【0024】本発明は1つの流体だけを基板の対向する
両面に適用することに限定されるものではないことが分
かる。すなわち図2の好適な実施例においては、対向す
る表面27及び27′に衝突したそれぞれの流体を個別
に集める手段を提供することができ、従つてそれぞれ流
体を分配する流体ノズルとして用いられる一対のマニホ
ルドに各流体についての個別の再循環手段を提供するこ
とができる。かくして本発明は図2に示すような単一の
貯水槽61又は再循環手段63に限定されるものではな
い。
【0025】ポンプ63は流体を再循環させるために用
いられるので流体処理装置10のそれぞれの部分に流体
を供給し、かくしてこの流体を受けるマニホルド及びこ
のマニホルドに結合された管に適正な圧力が与えられる
ことにより、本発明の目的を達成することができる。本
発明の一実施例においては、当該明細書において定義し
た流体及び他の寸法(例えば開口51について)を用い
るとき、各4つのマニホルド39及び39′における流
体の圧力は好適には1〔cm2 〕当たり約0.62〔ポンド〕
から約3.10〔ポンド〕の範囲である。このような圧力下
においてこのようなエツチ液材料を用いると、定義した
薄い金属基板11は好適には毎分約 50.80〔cm〕から約
355.60〔cm〕の速度で流体処理装置10をほぼ水平方向
に移動し、この結果毎分約 0.00127〔cm〕から約0.0051
〔cm〕の速度で銅基板を均一にエツチする。
【0026】図3は本発明と共に用いられる下部にある
2つのマニホルド39′のうちの1つを部分的に示す。
マニホルド及びこれに結合した管は本発明の一部を形成
し、対応するマニホルド39及び細長い管とほぼ同様の
形状であり、かつ同様に配列され、このマニホルド39
及び細長い管が基板11の上部面27に流体を供給する
ことが分かる。図3には流体処理装置10の上部におい
てなされたように、流体を集める目的のために用いられ
る一対の側壁を除いてある。図2に示すように流体は基
板11の下部面27′に沿つて集められるのではなく、
方向付けられた噴射流体43′が表面27′に衝突し、
その後この衝突した流体は(引力によつて)貯水槽61
(又は基板の下部面に衝突した流体が第1の流体33の
流体と異なる場合には適正な別個の収集手段)内に落下
する。この下部にあるマニホルド及び管のアツセンブリ
に側壁がないのは幾つかの適正な支持手段内に細長い軸
17′を配設する必要があるからであり、軸17は上部
側壁35によつて支持される。軸17′には適正な支持
手段を容易に設けることができ、適正な支持手段は貯水
槽61の側壁から直立しているブラケツト又は同様のも
のを含む。かくして新たな定義をする必要はない。
【0027】図3において各管41′はそれぞれのマニ
ホルド39′内に延びる終端部分を含むように示されて
いる。従つてポンプ63から汲み上げられた流体は管6
7を通つてマニホルド内に定義された内部チヤンバ71
に向かい、その後各管41′に設けられた開口73を通
つて、マニホルド内に含まれた各管41′の終端部分に
向かう。重要なことは、この配列により、流体処理装置
10の下部にある、マニホルド内に含まれた管41′の
すべてに流体が確実に与えられ、各開口51から分配さ
れた流体は管41′の他のすべての開口に与えられた噴
射流体とほぼ同じ圧力で隣接するそれぞれの表面27′
に方向付けられる。同様に上部面27に適用された流体
も上部に配設された細長い管41の各開口51を通つて
ほぼ同じ圧力に保持される。上述のようにこの圧力は1
〔cm2 〕当たり約0.62〔ポンド〕から約3.10〔ポンド〕
の範囲にあるのが好ましい。
【0028】図4は表面27にそれぞれ噴射流体43を
供給する隣接する2つの管41を示す。実施例において
これらの管41は約 0.508〔cm〕から約 2.540〔cm〕の
間隔で配置されている(管の中心から隣接する管の中心
まで)。本発明の下部にある管41′は基板11のそれ
ぞれの下部面27′に対して同様に位置決めされること
が分かるが、ここでは示さない。重要なことは、管41
からの噴射流体43(同様に下部にある管41′からの
噴射流体43′)は基板11のそれぞれの表面を横切る
のに十分な流体速度を保持するような圧力及び速度で基
板11のそれぞれ隣接する表面に方向付けられ、これに
よりこの方向付けられた噴射流体43が最も近くに隣接
する流体ノズルから流出される流体と合流する前に、こ
れらの噴射流体43を取り囲む流体と混ざらないように
する手段を本発明が提供することである。上部面27に
噴射流体が方向付けられる場合、この噴射流体は管を通
り、これらの隣接する流体ノズル41間において衝突
(すなわち合流)が生ずるまでこれらの流体が混ざらな
いような方法で表面27に方向付けられることが分か
る。この衝突(すなわち合流)区域を図4に境界線「C
Z」で示す。この位置においてこれらの噴射流体が衝突
した後、この方向付けられた噴射流体43はこの噴射流
体を取り囲む、側壁35及びマニホルド39によつて保
持されて集められた第1の流体33と混ざることが分か
る。下部管41′から方向付けられた噴射流体の場合、
当該明細書において示すような実施例においてはこれら
の管41′はこれを取り囲む環境としての空間に配設さ
れるので、この方向付けられた噴射流体からの流体は下
方に配設された貯水槽61内に落下することが分かる。
しかしながらこのことは、図4に示した方法と同様の方
法により、隣接する噴射流体が衝突するまで発生しな
い。またこの方向付けられた噴射流体が貯水槽61内に
落下するのはこの噴射流体が隣接する噴射流体と衝突し
てからであるということは本発明の重要な特徴の1つで
あり、図4において説明した噴射流体の方向と同様に、
基板の隣接する表面全体に均一に流体が適用されること
により、確実に基板を均一に処理(例えばエツチング)
することができる。このことは、隣接する噴射流体が合
流する前にこの方向付けられた噴射流体とこれを取り囲
む集められた流体(例えば液体33)又は環境(例えば
空気)とが混ざつたときは、適正に均一に処理(例えば
エツチング)することができないことを確認できるとい
う点において本発明の重要な特徴を示している。上述の
ように情報処理システムにおいて用いられる回路構造の
ような高精度部品を製造するとき、このような均一処理
は重要であると考えられる。例えば隣接する噴射流体と
合流する前に、方向付けられた噴射流体とこれを取り囲
む流体とが混ざつた場合を図5に示す。図5において隣
接する管から方向付けられた噴射流体は開口の中央軸
「C」からの位置(図5の寸法「MZ」により示す)に
おいてこの噴射流体を取り囲む流体と混ざつている。図
5に示すように噴射流体とこの噴射流体を取り囲む流体
が混ざることは望ましくなく、重要なことは本発明の教
示によつてこの問題が克服されることである。
【0029】本発明の実施例においては、上述の流体及
び圧力を用いると、各噴射流体43が毎秒約 58.42〔c
m〕から約1270〔cm〕の速度で基板11の隣接するそれ
ぞれの表面を移動することが確認され、この水平移動の
位置は流体が垂直に衝突する適正な位置(軸「C」)と
衝突地点「CZ」すなわち衝突区域との間における区域
内に水平状態で発生する。
【0030】上述のように特に流体処理装置10はエツ
チング装置用として用いるのが適正であり、適正なエツ
チ液(例えば塩化第2銅)を用いて金属基板又は同様の
基板をエツチングする。また流体処理装置10を利用し
て容易に他の機能を実行できるので、エツチング装置用
として用いることに限定されない。例えば流体処理装置
10を用いて、エツチされた基板又はコーテイングされ
た基板をリンスして(例えば水を用いて)、基板から望
ましくない物質を除去する。従つて幾つかのこのうよう
な流体処理装置10が互いに隣接して配設されることに
より、全体が一段と大きい1つのアツセンブリが形成さ
れ、この1つの大きいアツセンブリにおいてこれらの流
体処理装置は当該明細書における独自の教示を用いて、
このアツセンブリを通る基板を順次流体で処理する。
【0031】上述の通り本発明をその最適な実施例に基
づいて図示、説明したが、本発明の精神及び範囲から脱
することなく詳細構成について種々の変更を加えてもよ
い。
【0032】
【発明の効果】本発明では、基板表面に向けて基板処理
用の流体を噴射させる流体ノズル列は、互いに平行に配
列され且つ基板の走行方向に対して所定の鋭角をなすよ
うに配設される。したがって基板は、走行期間に、走行
方向及び走行方向に垂直な方向において流体ノズル列か
らの噴射を次々に受け、基板の全領域を一様に流体噴射
にさらすことができるから、処理の均一性を大幅に改善
し且つ処理効率を高めることができる。また、流体ノズ
ル列をグループに分け、ローラを流体ノズル列グループ
間の間隔の領域において基板表面に接触させることによ
り、基板を安定に支持して移動させるのに必要な数のロ
ーラ手段を設けた場合でも、ローラ手段と流体ノズルと
の干渉を回避することができるから、処理の均一性及び
効率を実質的に損なうことなく、安定な基板支持及び基
板移動を達成することができる。したがって、機械的強
度が比較的弱い薄い基板の場合でも、確実に処理するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の実施例による流体処理装置を図
2の線1〜1に沿つて破断した平面図である。
【図2】図2は図1の線2〜2に沿つて破断した、図1
の流体処理装置全体の一部を示す断面図である。
【図3】図3は本発明の実施例における本発明において
用いられる2つの流体ノズル構造及びこれに結合したマ
ニホルドを拡大した斜視図である。
【図4】図4は処理される基板の第1の表面上に第1の
流体を方向付ける本発明の流体ノズルを部分的に示す断
面図であり、噴射流体がこれらの流体ノズルによつて最
適に供給されている。
【図5】図5は流体ノズル及びこの流体ノズルから流出
する噴射流体を部分的に示す断面図であり、この場合こ
の噴射流体とこれを取り囲む、集められた第1の流体と
が混ざつている。
【符号の説明】
10……流体処理装置、11……基板、15、15′…
…ローラ、17、17′……軸、19……駆動手段、2
1……電気モータ、23……滑車、25……ベルト、2
7……第1の表面、27′……第2の表面、31……堰
手段、33……第1の流体、35、35′、39……側
壁、41、41′……流体ノズル、43、43′……噴
射流体、51、73……開口、55……管のグループ、
61……貯水槽、63……ポンプ、65、67……管、
71……チヤンバ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジエフリー・ドナルド・ジヨーンズ アメリカ合衆国、ニユーヨーク州13811、 ニユアーク・バレイ、ボツクス137、ア ール・デイー3 (番地なし) (56)参考文献 特開 平4−267365(JP,A) 実公 昭58−31883(JP,Y2)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】処理されるべき基板を所定の走行方向に移
    動させるローラ手段と、 上記基板の少なくとも一方の表面の側に、基板表面に近
    接して設けられた複数の流体ノズル列とを有し、 各上記流体ノズル列は、基板表面に向けて基板処理用の
    流体を噴射させる複数の流体ノズルを含み、 上記流体ノズル列は、互いに平行に配列され且つ上記基
    板の上記走行方向に対して所定の鋭角をなすように配設
    され、 上記流体ノズル列は、互いに所定の間隔で分離された複
    数の流体ノズル列グループに分けられており、 上記ローラ手段は、上記基板の上記一方の表面の側に互
    いに平行に設けられた複数の第1の軸、上記第1の軸に
    取付けられた複数の第1のローラ、上記基板の他方の表
    面の側に互いに平行に設けられた複数の第2の軸、及び
    上記第2の軸に取付けられた複数の第2のローラを有
    し、 上記ローラ手段は、少なくとも上記第1のローラが上記
    流体ノズル列グループ間の上記間隔の領域において基板
    表面に接触するように配設されていることを特徴とする
    流体処理装置。
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