JP2518775Y2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2518775Y2
JP2518775Y2 JP1989040167U JP4016789U JP2518775Y2 JP 2518775 Y2 JP2518775 Y2 JP 2518775Y2 JP 1989040167 U JP1989040167 U JP 1989040167U JP 4016789 U JP4016789 U JP 4016789U JP 2518775 Y2 JP2518775 Y2 JP 2518775Y2
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、パワーハイブリッドICなどを対象とした大
出力の半導体装置の構造に関する。
〔従来の技術〕
頭記したハイブリッドICの半導体装置は、モジュール
をパッケージ内に組み込んで構成されている。また、パ
ッケージにはモジュールを外部環境から保護する外装機
能の他に、モジュールの発生熱を外方へ放熱させるため
に高い放熱機能が要求される。特にパワーハイブリッド
ICなどの大出力の半導体装置では、パッケージの放熱性
を高めることが信頼性向上を図る上で重要な課題となっ
ている。
次に、パッケージの放熱性を考慮した従来における半
導体装置の構造例を第6図,第7図に示す。図におい
て、1は回路素子2を基板3に実装して組立てたモジュ
ール、4はモジュール1の外部接続リード、5はモジュ
ール1を組み込んだ外装ケースとしてのパッケージであ
る。
ここで、第6図の例は、パッケージ5がヒートシンク
を兼ねた金属製の底板6と樹脂製の周枠7と蓋8とを組
合せたケースとしてなり、かつモジュール1の基板3が
底板6に密着して装荷されており、さらに底板6の外壁
面上には放熱フィン6aが膨出形成されている。
一方、第7図の例は、モジュール1を収容した金属性
ケースとしてのパッケージ5の内部に熱伝導性の高いシ
リコーンなどの樹脂9をポッティングしてモジュール1
を封止するとともに、その放熱性を高めるようにしたも
のである。
〔考案が解決しようとする課題〕
ところで、昨今ではパワーハイブリッドICなど、半導
体装置の大出力化がますます進んでおり、このために前
記した従来構造では放熱性の面で十分な対応が困難とな
っている。つまり、第6図のヒートシンクを兼ねた金属
製の底板での放熱は、一方向のみの底板を介してだけの
放熱であり、第7図は熱伝導性の高い樹脂を介しての放
熱であり、共に小さな半導体装置で発熱の少ないものに
はよいが、半導体装置が大型であると放熱性が不十分で
ある。
本考案は上記の点にかんがみなされたものであり、従
来構造を改良することにより、より高い放熱性が得られ
るようにした半導体装置、特にそのパッケージ構造を提
供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記課題を解決するために、本考案による半導体装置
は、モジュールを組み込んだパッケージ内に熱伝導性の
高い樹脂を充填するとともに、パッケージに対してその
壁面より内外に突出する吸熱フィン,放熱フィンを設け
て構成したものである。
〔作用〕
上記の構成で、吸熱,放熱フィンは、パッケージが例
えばアルミダイキャスト品のような金属製ケースであれ
ばケースと一体に成形され、またパッケージが熱伝導性
の低い樹脂成形品である場合には、金属製のフィンが樹
脂製のケース壁を貫通して壁面の内外に突き出すように
インサートして装備される。また、パッケージ内に充填
される熱伝導性の高い樹脂としては、例えば熱伝導率を
2〜5×10-3cal/cm.sec.℃程度まで高めた放熱用ポッ
ティング材としてのシリコーン(トーレ・シリコーン
(株)製品)などが採用される。
かかる構成で、パッケージ内に突出する吸熱フィンは
パッケージ内に充填した樹脂に接して熱を取り込む伝熱
体として働き、パッケージより外方に突出する放熱フィ
ンは従来と同様にパッケージ自身の放熱性を高めるよう
に働く。したがってモジュールの発熱はその基板より直
接パッケージに伝熱する他、その周域より充填樹脂を介
して吸熱フィンに伝熱してパッケージ外方の放熱フィン
に達し、ここから周囲に放散される。つまり、充填樹脂
とパッケージの吸熱フィンとの組合せ効果により半導体
装置の放熱特性が大幅に高まる。なお、実施に際しては
吸熱フィンの伝熱面積をできるだけ大きくし、かつ発熱
源であるモジュールに近づけるよう構成するのが望まし
い。
〔実施例〕
第1図ないし第5図は本考案実施例の構造図であり、
第6図,第7図に対応する同一部材には同じ符号が付し
てある。
まず、第1図は第6図に対応する実施例であって、モ
ジュール1を組み込んだパッケージ5の内部には熱伝導
率が2×10-3〜5×10-3cal/cm.sec.℃のシリコーン樹
脂9が充填され、さらに金属製のパッケージ底板6に対
しては、外壁面側に形成した放熱フィン6aに加えて、さ
らに内壁面よりパッケージ内に向けて突出する複数条の
リブ状吸熱フィン6bが一体に形成されている。この吸熱
フィン6bはパッケージ内に充填した樹脂9の層内に突出
しており、モジュール1の周面から樹脂9に放散した熱
を取り込んで外方の放熱フィン6aに伝熱させる。
かかる構成により、モジュール1の発生熱は、基板2
を通じてパッケージ5の底板6に伝熱する他、モジュー
ル1の周面より樹脂9,吸熱フィン6bを経て底板6に至る
伝熱経路を通じて伝熱され、放熱フィン6aより周囲に熱
放散される。これにより半導体装置全体としての放熱性
が高まる。
第2図,第3図に示す実施例は、樹脂製のパッケージ
周枠7に対して符号10で示す金属製のフィンを埋設した
ものである。このフィン10は一枚のフィンに放熱フィン
10a,吸熱フィン10b,および連結部10cを形成し、連結部1
0cが周枠7を貫通するようにインサートして一体モール
ドされている。さらに第4図の実施例は、パッケージの
蓋8に対し、第2図,第3図の実施例と同様にフィン10
を設けたものであり、いずれの実施例でもパッケージの
内方に突出した吸熱フィン10bがパッケージ内に充填し
た樹脂(第1図参照)と接している。これにより第1図
の実施例と同等な放熱効果が得られる。なお、第4図の
応用例としてフィン10をモジュールの外部接続リードと
兼用させることも可能である。
また、第5図は例えばアルミダイキャスト品のように
金属製ケースとして作られたパッケージ5に対する実施
例であり、パッケージ5の底面には第1図における放熱
フィンと同様に外方に突出する放熱フィン5aを、また内
面側には周面に沿ってパッケージ内に突出する多数条の
吸熱フィン5bをパッケージ5と一体に形成したものであ
る。なお、金属製ケースのパッケージと比べて放熱性能
が多少低くなるが、樹脂製ケースとしてのパッケージに
対しても、第5図と同様に内外に突出する吸熱,放熱フ
ィンをパッケージと同じ材料で一体成形することによ
り、フィンなしのパッケージと比べて放熱性を改善でき
る。
〔考案の効果〕
本考案による半導体装置は、以上述べたように構成さ
れているので、次記の効果を奏する。
(1)ヒートシンクを兼ねた金属製の底板の他に、パッ
ケージ内に充填した高伝熱性の樹脂と、パッケージより
内外に突出するよう設けた吸熱,放熱フィンとの組合せ
により半導体装置の放熱性が従来の構造と比べて大幅に
向上する。
(2)したがってパワーハイブリッドICなど、出力の大
きな半導体装置に対する信頼性の向上が図れる。
【図面の簡単な説明】 第1図ないし第5図は本考案実施例の構成図、第6図,
第7図は従来における半導体装置の構成断面図である。
図において、 1:モジュール、5:パッケージ、6:底板、7:周枠、8:蓋、
9:充填樹脂、10:フィン、5a,6a,10a:放熱フィン、5b,6
b,10b:吸熱フィン。

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】金属製の底板上に回路素子を実装した基板
    を固着し、周枠,蓋および前記底板にてパッケージを形
    成してなるものにおいて、前記パッケージの内部に熱伝
    導率が2×10-3〜5×10-3cal/cm.sec.℃のシリコーン
    樹脂を充填するとともに、パッケージに対してその壁面
    より内外に突出する吸熱,放熱フィンを設けたことを特
    徴とする半導体装置。
JP1989040167U 1989-04-05 1989-04-05 半導体装置 Expired - Lifetime JP2518775Y2 (ja)

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JPH02131350U JPH02131350U (ja) 1990-10-31
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