JP2518320Y2 - 接合形fet入力バッファ - Google Patents

接合形fet入力バッファ

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JP2518320Y2
JP2518320Y2 JP3694990U JP3694990U JP2518320Y2 JP 2518320 Y2 JP2518320 Y2 JP 2518320Y2 JP 3694990 U JP3694990 U JP 3694990U JP 3694990 U JP3694990 U JP 3694990U JP 2518320 Y2 JP2518320 Y2 JP 2518320Y2
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fet
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gate
capacitance
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晴之 柴崎
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Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は例えばデジタル回路とアナログ回路とが混
在している半導体集積回路を試験する装置において、そ
の半導体集積回路の出力信号を高入力インピーダンスで
入力するために用いられ、ソースフオロワ接続された接
合形FETよりなる入力バッファに関する。
「従来の技術」 高入力インピーダンスを得るためには、接合形FETを
ソースフオロワで用いるのが一般的である。すなわち、
第5図に示すように、Nチャネル接合形FET11のドレイ
ンは電源12に接続され、ソースは定電流源13に接続され
ると共に出力端子14に接続され、ゲートは抵抗器15を通
じて信号源16に接続される。抵抗器15はFET11のゲート
から信号源16側を見た時の抵抗を示す。
このような入力バッファにおいて、FET11のドレイン
−ゲート間に容量Cgdが存在する。このため第5図の入
力バッファは第6図に示すように信号源16が抵抗器15を
通じてFET11の入力インピーダンス17に接続され、その
入力インピーダンス17は抵抗器と容量Cgdとの並列回路
で表わせる。従って信号源16側の抵抗器15と容量Cgd
で積分器が構成される。ドレイン−ゲート間の容量Cgd
はFET11のPN接合容量を含むため、FETのゲート電位、つ
まり入力信号振幅により容量Cgdの大きさが変化する。
よって抵抗器15と容量Cgdとの時定数が入力信号振幅に
より変化し、入出力の線形性が劣化する。
「課題を解決するための手段」 この考案によれば、ソースフオロワの接合形FET入力
バッファにおいて、そのFETのゲートに、PN接合を有す
る補償用素子が接続され、その補償用素子のPN接合はゲ
ートから見てFETのゲートおよびドレイン間のPN接合と
逆極性とされてあり、その補償用素子のPN接合に逆バイ
アスが与えられている。
「実施例」 第1図にこの考案の実施例を示し、第4図と対応する
部分に同一符号を付けてある。この考案においては、FE
T11のゲートに、PN接合を有する補償用素子としてPN接
合ダイオード18の陰極が接続され、ダイオード18の陽極
は電源19の負側に接続される。つまり、FET11のゲート
およびドレイン間のPN接合は、点線でダイオードを示す
ように、その陽極側がゲートで、陰極側がドレインであ
り、FET11のゲートから見て、ゲートおよびドレイン間
のPN接合と、ダイオード18のPN接合とは逆極性であり、
かつダイオード18のPN接合に電源19で逆バイアスが与え
られている。
この第1図の構成によれば、第6図に示した等価回路
において、第2図に示すようにドレイン−ゲート間容量
Cgdと並列にダイオード18のPN接合容量Cdが接続された
状態となり、FET11の電位変化に応じてドレイン−ゲー
ト間容量CgdとPN接合容量Cdとが逆に変化する。つま
り、例えばゲート電位が上昇すると、容量Cgdは大とな
り、容量Cdは逆に小となる。従って容量Cgdと容量Cd
の並列容量Cgd+Cdがほゞ一定になり、入力信号振幅に
より、信号源側抵抗器15と容量Cgd+Cdとの時定数はほ
とんど変化せず、少なくとも従来の入力バッファより変
化が小さくなり、入力信号振幅による非線形性が低減す
る。
PN接合を有する補償用素子としてはダイオードのみな
らず、第3図Aに示すように接合形FETのドレイン−ソ
ース間を短絡したもの、あるいは第3図Bに示すように
トランジスタのベース−コレクタ間を短絡したもの、ま
たは第3図Cに示すように、トランジスタのベース−エ
ミッタ間を短絡したものなどを用いてもよい。更に上述
ではFET11としてNチャネルのものを使用したが、Pチ
ャネルFETを使用した入力バッファにも、この考案を適
用できる。その例を第4図に第1図と対応する部分に同
一符号を付けて示し、重複説明を省略する。
「考案の効果」 以上述べたように、この考案によればソースフオロワ
の入力バッファにおけるFETのゲートに、そのゲート−
ドレイン間PN接合と、ゲート電圧変化に対し、逆に変化
するようにPN接合を有する補償用素子が接続されている
ため、入力信号振幅変化に対し、信号源側の抵抗とゲー
トの入力側の容量との時定数が従来のものよりも変化が
小さくなり、それだけ入出力特性の直接性がよくなる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の実施例を示す接続図、第2図はその
等価回路図、第3図は補償用素子の他の例を示す図、第
4図はこの考案の他の実施例を示す接続図、第5図は従
来の入力バッファを示す接続図、第6図はその等価回路
図である。

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】ソースフオロワの接合形FET入力バッファ
    において、 そのFETのゲートおよびドレイン間のPN接合と逆極性のP
    N接合を有する補償用素子が、上記FETのゲートに接続さ
    れ、 その補償用素子のPN接合に逆バイアスが与えられている
    ことを特徴とするソースフオロワの接合形FET入力バッ
    ファ。
JP3694990U 1990-04-04 1990-04-04 接合形fet入力バッファ Expired - Lifetime JP2518320Y2 (ja)

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JPH03128321U JPH03128321U (ja) 1991-12-24
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