JP2512292B2 - 画像形成方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、画像形成装置に関し、
より詳細には、電子写真装置を適用した画像形成方法に
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば、次の画像形成装置が知ら
れている。それは、所謂、電子写真方式と称されるもの
で、光導電性の感光体を原稿からの光像で露光すること
により静電潜像を得、然る後、この静電潜像に静電現像
方式によりトナーを付着させてトナー像を得、このトナ
ー像を記録紙上に転写し、定着工程を経て複写画像を得
るのである。

【０００３】上記において、画像濃度調整に関するパラ
メータとして、例えば露光光量を変える方式や現像バイ
アス電位を変える方式がある。前者の、露光光量を変え
る方式では、原稿を照射する露光ランプの光量を設定さ
れた可変幅の上下限の間で変えることにより、感光体上
での静電潜像電位を変えて画像濃度を調整するものであ
る。この方式では、画像品質の劣化、例えばコントラス
トの変化が少ないという利点があるものの、光量を上げ
たときの消費電力量の増加や温度上昇、ランプ寿命低下
等から光量の可変幅を大きくとれないという問題があ
る。これは特にランプ電圧を変えるとの濃度調整手段を
採用している場合において著しい。

【０００４】又、後者の、現像バイアス電位を変えると
の濃度調整手段を採用する場合では感光体と現像電極間
に現像バイアス電位を与えてトナーに電気的な力を作用
させ、静電潜像に対するトナーの付着を制御するもので
ある。この方式では、構造が簡単である反面、べた画像
部の濃度、特にコントラストの変化等、画像品質の劣化
が大きいという問題がある。特に、所謂、地肌を抜く操
作を行った場合に、べた画像部がかすれる等の副作用が
ある。

【０００５】その他、感光体に対する帯電電位を変えて
画像濃度を調整するという方法もあるが、コントラスト
の変化が激しく、又、地肌を抜く効果も小さい。

【０００６】図１において、上方向にのびる縦軸はパラ
メータの一つである露光ランプ電圧を示し、下方向にの
びる縦軸はパラメータの一つである現像バイアス電圧を
示している。又、横軸は操作盤に設けられた濃度調整手
段としてのキー操作に応じて移動するノッチ位置を示
し、目盛の数字が大きくなる、所謂、ノッチを上げるに
つれて画像濃度がうすくなることを示す。

【０００７】図において、直線Ａ，Ａ’は各々従来の画
像濃度調整方式におけるノッチ位置に対応して設定され
る露光ランプ電圧及び現像バイアス電圧を示す。これら
直線Ａ，Ａ’に従う画像濃度調整方式では、ノッチを上
げる（操作キーを画像濃度をうすくする指示方向へ移動
する）ことで露光ランプ電圧を上げていき、以って潜像
電位レベルを下げて画像濃度をうすくして目的を達す
る。

【０００８】又、画像濃度を上げるときに逆にノッチを
下げる（操作キーを画像濃度を濃くする指示方向へ移動
する）ことで目的を達する。なお、これら各々において
直線Ａ’で示す如く現像バイアス電圧は一定で変化しな
い。

【０００９】なお、この種の技術に関しては、 特開昭５８−６８７６６号公報、 特公昭５４−４１５０２号公報、 特開昭５４−９７４３２号公報、 特開昭５２−９３３４０号公報、 実願昭５４−５７８５０号（実開昭５５−１５９３４
４号）の願書に添付した明細書及び図面の内容を撮影し
たマイクロフィルム、 特開昭５８−１４１６３号公報、 などに開示された技術がある。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】しかし、前記した如
き、従来の技術では、ランプ電圧には上下限があり、高
過ぎたり低過ぎたりすると、特にハロゲンランプの場合
は共に寿命が低下すること等から振り幅に制限がある。
特に経時により光学系の汚れ、感光体感度の低下がある
場合はマスターボリウムで光量の中心値を上げることが
行われるが、その時はやはり、ランプ電圧の上限側の余
裕度が低下する。けだし、光学系の汚れ等に対しては本
来、その原因系である汚れを除くのが適切であるが、煩
雑なため、サービスの効率を上げるべくランプボリウム
の調整で行われることも多いからである。

【００１１】本発明は、前記パラメータの一つに可変幅
の限界があるときに、他のパラメータの変化を併用し
て、画像濃度調整域を拡大するとともに、濃度指示手段
による同一の指示レベルでは同一の画像濃度を得て常に
好条件の下で画像濃度調整を可能にする画像濃度調整方
法を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するため、感光体と、前記感光体の周囲に配設されて
いて、入力画像を当該感光体上に形成するための複数の
プロセス手段と、画像濃度を複数の段階中の何れかのレ
ベルで指定することのできる濃度指定手段と、前記濃度
指定手段により指定された画像濃度のレベルに応じて前
記複数のプロセス手段のうちの第１のプロセス手段の入
力値を第１の所定間隔で変位させることにより画像濃度
を調整する第１の濃度調整手段と、前記濃度指示手段に
よる任意の濃度の指定レベルに対応する前記第１のプロ
セス手段の中心入力値を変位させる中心値変位手段と、
を有する画像形成方法において、前記第１のプロセス手
段の入力値が当該プロセス手段固有の性能に応じて設定
される可変幅の上限値もしくは下限値に達したことを検
出する限界検出手段と、前記第１のプロセス手段と異な
る第２のプロセス手段の入力値を第２の所定間隔で変位
させることにより画像濃度を調整する第２の濃度調整手
段を設け、前記濃度指定手段による濃度の指定レベルに
応じた前記第１のプロセス手段の入力値として、前記第
１のプロセス手段の入力値可変幅の上限値もしくは下限
値が前記限界検出手段により検出された後は、前記第１
のプロセス手段の入力値を前記上限値もしくは前記下限
値で一定とし、前記第２のプロセス手段の入力値を変位
させて、前記第２の濃度調整手段により画像濃度を調整
するようにし、且つ、 前記第１の所定間隔と前記第２
の所定間隔を、略同等の画像濃度変化を生じささせる間
隔とした。

【００１３】

【作用】複数の作像プロセスのパラメータの一つに可変
幅の限界があるときに、他のパラメータの変化を併用し
て画像濃度調整域を広げることとなり、さらに、第１の
プロセス手段、第２のプロセス手段のいずれのプロセス
手段が用いられた場合であっても、第１の所定間隔と第
２の所定間隔を略同一の画像濃度変化を生じさせる間隔
としているので、濃度指定手段による濃度の指定レベル
について、前記第１のプロセス手段が用いられた場合、
前記第２のプロセス手段が用いられた場合、のいずれに
おいても、同一の指定レベルに対応して、同一の画像濃
度を得る。

【００１４】

【実施例】以下、本発明の一実施例に基づいて具体的に
説明する。本発明では、画像濃度を複数の段階中の何れ
かのレベルで指定することができる濃度指定手段とし
て、例えば、ノッチを有する。そして、このノッチの動
きに対し、第１のプロセス手段の露光ランプ電圧は曲線
Ｂに従わせ、第２のプロセス手段の入力値たる現像バイ
アス電圧については曲線Ｂ’に従わせて画像濃度を制御
する。

【００１５】すなわち、露光ランプ電圧については、ラ
ンプ上限電圧（例えば８４Ｖ）に達するノッチ位置まで
は第１の所定間隔に相当する一定比率で露光ランプ電圧
が上昇し、ランプ上限電圧に対応するノッチ位置「５」
を越えた場合にはノッチ位置を上げても露光ランプ電圧
は上昇しないように設定されている。

【００１６】又、現像バイアス電圧についは、上記ノッ
チ位置「１」から「５」までは一定の電圧であり、ノッ
チ位置「５」を越えた場合には第２の所定間隔に相当す
る一定比率で上昇するように設定されている。

【００１７】このとき１ノッチ位置あたりの現像バイア
ス電圧の変化ステップは例えば６０Ｖ毎となっており、
露光ランプ電圧の変化ステップである例えば３Ｖと略同
等の画像濃度、特に地肌を抜く効果が得られるようにし
てある。すなわち、前記第１の所定間隔と前記第２の所
定間隔を、略同等の画像濃度変化を生じさせる間隔とし
ている。

【００１８】上例で、曲線Ｂに従えば、ノッチ位置
「５」、「６」、「７」では露光ランプによる光量はラ
ンプ上限電圧である、例えば８４Ｖより変化せず、現像
バイアス電圧はノッチ位置「５」に対してノッチ位置
「６」では電圧差で６０Ｖ、同じくノッチ位置「５」に
対してノッチ位置「７」では電位差で１２０Ｖ上昇して
露光電圧が上昇しない分だけ現像バイアス電圧を高めて
以って、画像濃度をうすくする機能を補償している。従
って、所定のランプ上限電圧の下で画像濃度調整が可能
である。このようにして形成した画像は若干、コントラ
ストは低下するものの地肌を抜くという効果については
十分であった。

【００１９】本発明の他の実施例として、図１におい
て、ノッチの動きに対し、第１のプロセス手段の入力値
の一例たる露光ランプ電圧は曲線Ｃに従わせ、第２のプ
ロセス手段の入力値の一例たる現像バイアス電圧につい
ては曲線Ｃ’に従わせて制御する。

【００２０】すなわち、露光ランプ電圧については、ノ
ッチ位置が「１」，「２」，「３」まではランプ下限電
圧（例えば６０Ｖ）と一定であり、ノッチ位置「３」を
越えるとともに、第１の所定間隔に相当する一定比率で
上昇するようにしてある。

【００２１】又、現像バイアス電圧に関しては、ノッチ
位置が「３」，「２」，「１」と進むに従い、第２の所
定間隔に相当する一定比率で低下するようにしてあり、
露光ランプ電圧が上記ランプ下限電圧よりも下がらない
分だけ現像バイアス電圧を低めて画像濃度を濃くする機
能を補償している。

【００２２】上記曲線Ｂ，Ｂ’に従う制御を行うための
回路のブロック図である図２において、符号１は上記ノ
ッチ位置を変更するための濃度調整手段としてのボタン
を示す。このボタン１の操作に従うノッチ位置の変更に
伴い、制御プロセスの変更回路２では曲線Ｂ、及び曲線
Ｂ’に従う露光ランプ電圧、現像バイアス電圧を設定す
る。

【００２３】例えば、第１のプロセス手段の入力値とし
て露光ランプ電圧を選択した場合、この露光ランプ電圧
は上記制御プロセス変更回路２からの出力に基づき、第
１の濃度調整手段としての電圧制御回路３にて設定さ
れ、その値が第１のプロセス手段の入力値が限界に達し
たことを検出する限界検出手段としての上限電圧検知回
路４で検出され、予め設定されているランプ上限電圧未
満であればそのまま露光ランプ５に印加され、ランプ上
限電圧を越える値であれば、上限電圧制御回路６により
所定の上限電圧に調整されてから露光ランプ５に印加さ
れる。なお、電圧制御回路３へは露光ランプ電源６０に
より電圧レベルを調整する中心値変位手段としてのマス
ターボリウム７を介して電源が投入されるようになって
いる。

【００２４】一方、前記第１のプロセス手段の入力値と
異なる第２のプロセス手段の入力値として現像バイアス
電圧を選択した場合、この現像バイアス電圧に関して
は、上限電圧検知回路４の出力を入力した制御プロセス
変更回路２からの出力に基づき、曲線Ｂ’に従う電圧が
第２の濃度調整手段としてのバイアス制御回路８で設定
されて、現像バイアス電極９に印加される。なお、バイ
アス制御回路８へは現像バイアス電源１０からの電源が
投入されるようになっている。

【００２５】上記図２のブロック図ではランプ上限電圧
を規制する場合、つまり、画像濃度をうすくする場合の
実施例であるが、濃くする場合も上記例に準ずる。例え
ば、上記例における上限電圧制御回路６が下限電圧制御
回路に、限界検出手段としての上限電圧検知回路４が限
界検出手段としての下限電圧検知回路にそれぞれおきか
えられ、制御プロセス変更回路２で取り扱われる電圧制
御情報が上記曲線Ｃに従うように設定される。

【００２６】さらに、前記例ではパラメータとして、露
光光量と現像バイアス電圧の組合せについて説明した
が、これに限らず、上記例のいずれかと、帯電電位の変
化との組合せによることもできる。その他、現像バイア
スによる画像制御をメインにして不足分を光量で補う方
法もある。この方法では、バイアスをメインに調整する
ため高バイアス時のキャリア付着、バイアスリーク、低
バイアス時のキャリア付着等を防ぐことができる。

【００２７】このように本例では、画像品質の劣化の少
ない、例えば光量調整方式における濃度調整可変幅の限
界を、他の調整方式、例えば現像バイアス調整方式にか
かるパラメータを用いて広げることができる。又、上記
図２の例において、制御プロセス変更回路２によるラン
プの上下限電圧の設定があるのでサービスマンがユーザ
ー対応としてノッチ位置による濃度調整可変幅の中心に
対応する中心出力値に対応する露光ランプ５への中心入
力値を変化させる、つまり、所定のパラメータの中心値
を変化させる手段としてのマスターボリウム７を調整す
るだけで容易に、電子写真装置を適正な画像濃度を得る
状態に調整できる他、同様の理由により、製造段階での
ばらつきを補正できる。

【００２８】さらに、第１のプロセス手段、第２のプロ
セス手段のいずれのプロセス手段が用いられた場合であ
っても、第１の所定間隔と第２の所定間隔を略同一の画
像濃度変化を生じさせる間隔としているので、濃度指定
手段による濃度の指定レベルについて、前記第１のプロ
セス手段が用いられた場合、前記第２のプロセス手段が
用いられた場合、のいずれにおいても、同一の指定レベ
ルに対応して、同一の画像濃度を得る。

【００２９】

【発明の効果】本発明によれば、画像濃度調整にかかる
パラメータの一つに可変幅の限界があるときに、画像濃
度調整域の拡大をはかるとともに、第１のプロセス手段
に代えて第２のプロセス手段が用いられるようになった
場合でも、同一指定レベルに対応して同一の画像濃度を
得、常に好条件の下で画像濃度調整を可能にすることが
できる画像濃度調整方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例を従来技術とともに説明した画
像濃度にかかるパラメータの変化態様を説明したグラフ
である。

【図２】図１における曲線Ｂ，Ｂ’に従う画像濃度調整
を実施するための電気回路の一例を説明したブロック図
である。

【符号の説明】

３ （第１の濃度調整手段としての）電圧制御回路 ４ （限界検出手段としての）上限電圧検知回路 ５ （第１のプロセス手段としての）露光ランプ ７ （中心値変位手段としての）マスターボリウム ８ （第２の濃度調整手段としての）バイアス制御回路 ９ （第２のプロセス手段としての）現像バイアス電極

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】感光体と、 前記感光体の周囲に配設されていて、入力画像を当該感
   光体上に形成するための複数のプロセス手段と、 画像濃度を複数の段階中の何れかのレベルで指定するこ
   とのできる濃度指定手段と、 前記濃度指定手段により指定された画像濃度のレベルに
   応じて前記複数のプロセス手段のうちの第１のプロセス
   手段の入力値を第１の所定間隔で変位させることにより
   画像濃度を調整する第１の濃度調整手段と、 前記濃度指示手段による任意の濃度の指定レベルに対応
   する前記第１のプロセス手段の中心入力値を変位させる
   中心値変位手段と、を有する画像形成方法において、 前記第１のプロセス手段の入力値が当該プロセス手段固
   有の性能に応じて設定される可変幅の上限値もしくは下
   限値に達したことを検出する限界検出手段と、 前記第１のプロセス手段と異なる第２のプロセス手段の
   入力値を第２の所定間隔で変位させることにより画像濃
   度を調整する第２の濃度調整手段を設け、 前記濃度指定手段による濃度の指定レベルに応じた前記
   第１のプロセス手段の入力値として、前記第１のプロセ
   ス手段の入力値可変幅の上限値もしくは下限値が前記限
   界検出手段により検出された後は、前記第１のプロセス
   手段の入力値を前記上限値もしくは前記下限値で一定と
   し、前記第２のプロセス手段の入力値を変位させて、前
   記第２の濃度調整手段により画像濃度を調整するように
   し、且つ、 前記第１の所定間隔と前記第２の所定間隔
   を、略同等の画像濃度変化を生じささせる間隔としたこ
   とを特徴とする画像形成方法。