JPH05323740A - 画像形成装置 - Google Patents
画像形成装置Info
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- JPH05323740A JPH05323740A JP4125841A JP12584192A JPH05323740A JP H05323740 A JPH05323740 A JP H05323740A JP 4125841 A JP4125841 A JP 4125841A JP 12584192 A JP12584192 A JP 12584192A JP H05323740 A JPH05323740 A JP H05323740A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoconductor
- image forming
- signal
- light
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- Prior art date
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- Pending
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- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
- Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
- Fax Reproducing Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は電子写真プロセスを利用した複写
機、ファクシミリに関するもので、特に感光体の劣化状
態を検出して感光体の劣化度に応じてレーザ光量の調整
を行い出力画像を制御して、常に良好な画像を保持でき
る画像形成装置を提供することを目的とする。 【構成】 感光体の表面状態を感光体に対する入射面が
感光体素管製造時に生じる削り方向（ヘアライン）と平
行となる発光素子と感光体表面の散乱光を検出する受光
素子を用いて感光体表面状態を検出し、感光体劣化度に
応じてレーザ光量の制御を行なうレーザ光量制御手段で
構成されている。複雑な手段をもちいることなく感光体
劣化度を検出して補正を行なうので、階調特性の良い高
画質な画像を安価に安定して得られる装置を提供するこ
とができる。
機、ファクシミリに関するもので、特に感光体の劣化状
態を検出して感光体の劣化度に応じてレーザ光量の調整
を行い出力画像を制御して、常に良好な画像を保持でき
る画像形成装置を提供することを目的とする。 【構成】 感光体の表面状態を感光体に対する入射面が
感光体素管製造時に生じる削り方向（ヘアライン）と平
行となる発光素子と感光体表面の散乱光を検出する受光
素子を用いて感光体表面状態を検出し、感光体劣化度に
応じてレーザ光量の制御を行なうレーザ光量制御手段で
構成されている。複雑な手段をもちいることなく感光体
劣化度を検出して補正を行なうので、階調特性の良い高
画質な画像を安価に安定して得られる装置を提供するこ
とができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ファクシミリ、ディジ
タル複写機等に利用する画像形成装置に関するものであ
る。
タル複写機等に利用する画像形成装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、画像形成装置は感光体の感光面を
一様に帯電する帯電装置、帯電された感光面に記録情報
に応じた静電潜像を形成する潜像形成装置、その静電潜
像を現像する現像装置、および、現像された顕像を記録
紙に転写する転写装置を備えてなり、感光面を移動させ
ながら遂次的に画像形成処理を行なっている。
一様に帯電する帯電装置、帯電された感光面に記録情報
に応じた静電潜像を形成する潜像形成装置、その静電潜
像を現像する現像装置、および、現像された顕像を記録
紙に転写する転写装置を備えてなり、感光面を移動させ
ながら遂次的に画像形成処理を行なっている。
【０００３】これにおいては、感光体の帯電の一様性お
よび感光体の劣化度が記録紙に再現される再現像の良否
に大きく影響する。そこで、感光体劣化度の監視が有効
とされている。
よび感光体の劣化度が記録紙に再現される再現像の良否
に大きく影響する。そこで、感光体劣化度の監視が有効
とされている。
【０００４】以下図面を参照しながら、上記した従来の
画像形成装置の一例について説明する。
画像形成装置の一例について説明する。
【０００５】図７は従来の画像形成装置の構成を示すも
のである。図７において、１は半導体レーザ、２はコリ
メートレンズ、３は回転多面鏡、４はｆθレンズ、５は
ミラー、６は感光体、７は帯電器、８は現像器、９は帯
電制御手段、１０は現像バイアス制御手段、１２は発光
素子、１３は受光素子、１４は制御部、１５はレーザ光
量制御手段、１６はレーザ駆動手段、１７画像読み取り
手段、１９は表面電位センサ、２０は表面電位検出手段
である。
のである。図７において、１は半導体レーザ、２はコリ
メートレンズ、３は回転多面鏡、４はｆθレンズ、５は
ミラー、６は感光体、７は帯電器、８は現像器、９は帯
電制御手段、１０は現像バイアス制御手段、１２は発光
素子、１３は受光素子、１４は制御部、１５はレーザ光
量制御手段、１６はレーザ駆動手段、１７画像読み取り
手段、１９は表面電位センサ、２０は表面電位検出手段
である。
【０００６】以上のように構成された画像形成装置につ
いて、以下図７を用いてその動作を説明する。
いて、以下図７を用いてその動作を説明する。
【０００７】まず、感光体６は帯電器７により一様に帯
電される。帯電された感光体１６は表面電位センサ１９
によって表面電位が検出される。検出された表面電位信
号ｎは暗部表面電位として表面電位検出手段２０に出力
する。表面電位検出手段２０はこの信号ｎをディジタル
信号ｏに変換して制御部１４に出力する。制御部１４で
は予め設定された暗部表面電位の基準値と信号ｎを比較
して、補正量の演算を行ない補正信号として信号ｃを帯
電制御手段９に出力する。帯電制御手段９は信号ｄを帯
電器７に出力して感光体６を再帯電する。再帯電された
感光体６は、後述する静電潜像形成手段により明部表面
電位が形成される。明部表面電位は暗部表面電位と同様
に表面電位センサ１９より検出される。検出された表面
電位信号ｎは明部表面電位として表面電位検出手段２０
に出力する。表面電位検出手段２０はこの信号ｎをディ
ジタル信号ｏに変換して制御部１４に出力する。制御部
１４では予め設定された明部表面電位の基準値と信号ｎ
を比較して、補正量の演算を行ない補正信号として信号
ｈ、ｂをそれぞれレーザ光量制御手段１５と現像バイア
ス制御手段１０に出力する。レーザ光量制御手段１５に
出力される信号ｈは、レーザ電流制御信号である。レー
ザ光量制御手段１５は信号ｈに基づいてレーザ１に流れ
る電流を定電流制御を行なうために信号ｉを出力する。
現像バイアス制御手段１０に出力される信号ｂは、現像
器８の帯電剤担持体に印加する電圧の制御を行なうため
の現像バイアス制御信号である。現像バイアス制御手段
１０は信号ｂに基づいて現像剤担持体に設定する現像バ
イアス電圧ｅを出力する。
電される。帯電された感光体１６は表面電位センサ１９
によって表面電位が検出される。検出された表面電位信
号ｎは暗部表面電位として表面電位検出手段２０に出力
する。表面電位検出手段２０はこの信号ｎをディジタル
信号ｏに変換して制御部１４に出力する。制御部１４で
は予め設定された暗部表面電位の基準値と信号ｎを比較
して、補正量の演算を行ない補正信号として信号ｃを帯
電制御手段９に出力する。帯電制御手段９は信号ｄを帯
電器７に出力して感光体６を再帯電する。再帯電された
感光体６は、後述する静電潜像形成手段により明部表面
電位が形成される。明部表面電位は暗部表面電位と同様
に表面電位センサ１９より検出される。検出された表面
電位信号ｎは明部表面電位として表面電位検出手段２０
に出力する。表面電位検出手段２０はこの信号ｎをディ
ジタル信号ｏに変換して制御部１４に出力する。制御部
１４では予め設定された明部表面電位の基準値と信号ｎ
を比較して、補正量の演算を行ない補正信号として信号
ｈ、ｂをそれぞれレーザ光量制御手段１５と現像バイア
ス制御手段１０に出力する。レーザ光量制御手段１５に
出力される信号ｈは、レーザ電流制御信号である。レー
ザ光量制御手段１５は信号ｈに基づいてレーザ１に流れ
る電流を定電流制御を行なうために信号ｉを出力する。
現像バイアス制御手段１０に出力される信号ｂは、現像
器８の帯電剤担持体に印加する電圧の制御を行なうため
の現像バイアス制御信号である。現像バイアス制御手段
１０は信号ｂに基づいて現像剤担持体に設定する現像バ
イアス電圧ｅを出力する。
【０００８】現像バイアス電圧ｅに設定された現像剤担
持体は現像剤を帯電させて後述する静電潜像形成手段に
よって形成された潜像を顕像化することができる。前記
信号ｉ、ｅは明部表面電位に基づいて制御される信号で
あり、表面電位センサ１９により検出された明部表面電
位は感光体の劣化、環境変動等に依存するためレーザの
光量及び現像バイアス電圧で調整を行ない現像のコント
ラスト電位を一定になるように制御を行なう。
持体は現像剤を帯電させて後述する静電潜像形成手段に
よって形成された潜像を顕像化することができる。前記
信号ｉ、ｅは明部表面電位に基づいて制御される信号で
あり、表面電位センサ１９により検出された明部表面電
位は感光体の劣化、環境変動等に依存するためレーザの
光量及び現像バイアス電圧で調整を行ない現像のコント
ラスト電位を一定になるように制御を行なう。
【０００９】制御部１４より出力する信号ｊはレーザ駆
動手段１６に出力を行なう。である。レーザ駆動手段１
６は信号ｈに基づいてレーザ１に流れる電流を定電流制
御を行なうため信号ｉを出力する。静電潜像形成手段で
あるレーザ１は、レーザ駆動手段１６の出力信号ｋに基
づいてレーザ光が発生する。レーザ１より出力されるレ
ーザ光はコリメータレンズ２よりレーザ光が平行光に変
換される。平行光に変換されたレーザ光は回転多面鏡３
により主走査を行ないＦθレンズ４より回転多面鏡３の
面倒れ等の光学的な歪が補正される。補正されたレーザ
光はミラー５より感光体６照射し静電潜像を形成するこ
とができる。静電潜像形成手段より感光体６上に形成さ
れた静電潜像は、現像器８によって顕像化され、公知電
子写真プロセスによって転写、定着される。
動手段１６に出力を行なう。である。レーザ駆動手段１
６は信号ｈに基づいてレーザ１に流れる電流を定電流制
御を行なうため信号ｉを出力する。静電潜像形成手段で
あるレーザ１は、レーザ駆動手段１６の出力信号ｋに基
づいてレーザ光が発生する。レーザ１より出力されるレ
ーザ光はコリメータレンズ２よりレーザ光が平行光に変
換される。平行光に変換されたレーザ光は回転多面鏡３
により主走査を行ないＦθレンズ４より回転多面鏡３の
面倒れ等の光学的な歪が補正される。補正されたレーザ
光はミラー５より感光体６照射し静電潜像を形成するこ
とができる。静電潜像形成手段より感光体６上に形成さ
れた静電潜像は、現像器８によって顕像化され、公知電
子写真プロセスによって転写、定着される。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな構成では、感光体の温度特性、湿度特性等の影響に
より表面電位が変動するため表面電位センサを用いて感
光体の劣化度を検出することはできないという問題点を
有していた。
うな構成では、感光体の温度特性、湿度特性等の影響に
より表面電位が変動するため表面電位センサを用いて感
光体の劣化度を検出することはできないという問題点を
有していた。
【００１１】本発明は上記問題点に鑑み、感光体表面の
劣化度を感光体劣化度検出手段より検出を行ない、感光
体劣化度に応じてプロセス条件を変えて安定性のよい画
像形成装置を提供するものである。
劣化度を感光体劣化度検出手段より検出を行ない、感光
体劣化度に応じてプロセス条件を変えて安定性のよい画
像形成装置を提供するものである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】感光体表面に光を照射す
る発光手段と、感光体表面の散乱光量を検出する受光手
段より感光体の劣化度を検出する感光体劣化度検出手段
と、前記感光体劣化度手段に基づいてレーザの光量を変
化させて出力画像を制御するレーザ光量制御手段を備え
たことを特徴する画像形成装置である。
る発光手段と、感光体表面の散乱光量を検出する受光手
段より感光体の劣化度を検出する感光体劣化度検出手段
と、前記感光体劣化度手段に基づいてレーザの光量を変
化させて出力画像を制御するレーザ光量制御手段を備え
たことを特徴する画像形成装置である。
【００１３】
【作用】本発明は上記した構成によって、簡単な構成で
感光体の劣化度を検出することができ、出力画像を常に
良好な濃度階調に保つこととなる。
感光体の劣化度を検出することができ、出力画像を常に
良好な濃度階調に保つこととなる。
【００１４】
【実施例】以下本発明の一実施例の画像形成装置につい
て、図面を参照しながら説明する。
て、図面を参照しながら説明する。
【００１５】図１は本発明の実施例における画像形成装
置の構成を示すものである。図１において、１は半導体
レーザ、２はコリメートレンズ、３は回転多面鏡、４は
ｆθレンズ、５はミラー、６は感光体、７は帯電器、８
は現像器、１１は感光体劣化度検出手段、１２は発光素
子、１３は受光素子、１４は制御部、１５はレーザ光量
制御手段、１６はレーザ駆動手段、１７は原稿読み取り
手段、１８は法線である。
置の構成を示すものである。図１において、１は半導体
レーザ、２はコリメートレンズ、３は回転多面鏡、４は
ｆθレンズ、５はミラー、６は感光体、７は帯電器、８
は現像器、１１は感光体劣化度検出手段、１２は発光素
子、１３は受光素子、１４は制御部、１５はレーザ光量
制御手段、１６はレーザ駆動手段、１７は原稿読み取り
手段、１８は法線である。
【００１６】以上のように構成された画像形成装置につ
いて、以下図１、図２、図３、図４、図５、及び図６を
用いてその動作を説明する。
いて、以下図１、図２、図３、図４、図５、及び図６を
用いてその動作を説明する。
【００１７】まず、画像形成装置すべての動作の制御を
行なう制御部１４から感光体６を回転駆動するモータに
回転指令を発すると、感光体６は時計方向に回転を行な
う。回転する感光体６の表面は、感光体劣化度検出手段
１１より出力される信号ｆのタイミングに応じて発光素
子１２が照射を行なう。照射された感光体６の表面の散
乱光は受光素子１３により受光されて信号ｇを感光体劣
化度検出手段１１に出力する。感光体劣化度検出手段１
１はアナログ信号である信号ｇをディジタル信号に変換
して制御部１４に信号ａとして出力する。制御部１４で
は信号ａに基づいて制御部内部に予め設定された基準信
号に基づき制御量の演算を行ないレーザ光量を決定す
る。決定されたレーザ光量は制御部１４よりレーザ光量
制御手段１５とレーザ駆動手段１６に信号ｊ、ｈをそれ
ぞれ出力する。レーザ光量制御手段１５に出力される信
号ｈは、レーザ電流制御信号である。レーザ光量制御手
段１５は信号ｈに基づいてレーザ１に流れる電流を定電
流制御を行なうため信号ｉを出力する。レーザ駆動手段
１６に出力される信号ｊは、信号ｉで設定された電流値
と原稿読み取り手段１７により読み取られた原稿画像信
号ｍに基づいて制御部１４で処理された信号である。レ
ーザ駆動手段１６は信号ｊに基づいてレーザ１をＯＮ、
ＯＦＦ変調するための信号ｋを出力する。
行なう制御部１４から感光体６を回転駆動するモータに
回転指令を発すると、感光体６は時計方向に回転を行な
う。回転する感光体６の表面は、感光体劣化度検出手段
１１より出力される信号ｆのタイミングに応じて発光素
子１２が照射を行なう。照射された感光体６の表面の散
乱光は受光素子１３により受光されて信号ｇを感光体劣
化度検出手段１１に出力する。感光体劣化度検出手段１
１はアナログ信号である信号ｇをディジタル信号に変換
して制御部１４に信号ａとして出力する。制御部１４で
は信号ａに基づいて制御部内部に予め設定された基準信
号に基づき制御量の演算を行ないレーザ光量を決定す
る。決定されたレーザ光量は制御部１４よりレーザ光量
制御手段１５とレーザ駆動手段１６に信号ｊ、ｈをそれ
ぞれ出力する。レーザ光量制御手段１５に出力される信
号ｈは、レーザ電流制御信号である。レーザ光量制御手
段１５は信号ｈに基づいてレーザ１に流れる電流を定電
流制御を行なうため信号ｉを出力する。レーザ駆動手段
１６に出力される信号ｊは、信号ｉで設定された電流値
と原稿読み取り手段１７により読み取られた原稿画像信
号ｍに基づいて制御部１４で処理された信号である。レ
ーザ駆動手段１６は信号ｊに基づいてレーザ１をＯＮ、
ＯＦＦ変調するための信号ｋを出力する。
【００１８】レーザ１は、レーザ駆動手段１６の出力信
号ｋに基づいてレーザ光が発生する。レーザ１より出力
されるレーザ光はコリメートレンズ２よりレーザ光が平
行光に変換される。平行光に変換されたレーザ光は回転
多面鏡３により主走査を行ないＦθレンズ４より回転多
面鏡３の面倒れ等の光学的な歪が補正される。補正され
たレーザ光はミラー５より帯電器７で帯電された感光体
６を照射して静電潜像を形成することができる。感光体
６上に形成された静電潜像は、現像器８によって顕像化
され、公知電子写真プロセスによって転写、定着され
る。
号ｋに基づいてレーザ光が発生する。レーザ１より出力
されるレーザ光はコリメートレンズ２よりレーザ光が平
行光に変換される。平行光に変換されたレーザ光は回転
多面鏡３により主走査を行ないＦθレンズ４より回転多
面鏡３の面倒れ等の光学的な歪が補正される。補正され
たレーザ光はミラー５より帯電器７で帯電された感光体
６を照射して静電潜像を形成することができる。感光体
６上に形成された静電潜像は、現像器８によって顕像化
され、公知電子写真プロセスによって転写、定着され
る。
【００１９】図２は、感光体劣化度検出手段の構成図で
ある。図２において、６は感光体、１２は発光素子、１
３は受光素子、１８は法線、２１は発光素子の光軸、２
２は受光素子の光軸である。法線１８よりθ0の角度の
光軸２１を持つ発光素子１２は、感光体６上を照射す
る。この時の感光体素管のヘアライン方向２３（感光体
素管製造時に生じる削り方向）は、発光素子の光軸方向
２２の入射面と平行である。照射された光は、感光体表
面によって反射される。反射された光は法線１８よりθ
1の角度２３を持つ受光素子１３によって受光する。両
素子の関係はθ1よりθ0の方が大きい関係であるので全
反射光は検出されず、散乱光が受光素子１１０により検
出される。
ある。図２において、６は感光体、１２は発光素子、１
３は受光素子、１８は法線、２１は発光素子の光軸、２
２は受光素子の光軸である。法線１８よりθ0の角度の
光軸２１を持つ発光素子１２は、感光体６上を照射す
る。この時の感光体素管のヘアライン方向２３（感光体
素管製造時に生じる削り方向）は、発光素子の光軸方向
２２の入射面と平行である。照射された光は、感光体表
面によって反射される。反射された光は法線１８よりθ
1の角度２３を持つ受光素子１３によって受光する。両
素子の関係はθ1よりθ0の方が大きい関係であるので全
反射光は検出されず、散乱光が受光素子１１０により検
出される。
【００２０】図３は、図２の感光体劣化度検出手段にお
ける受光素子の出力特性を示すものである。図３におい
て、横軸は感光体劣化度、縦軸は受光素子の出力電圧で
ある。感光体劣化度が増大すると受光素子の出力は低下
する。
ける受光素子の出力特性を示すものである。図３におい
て、横軸は感光体劣化度、縦軸は受光素子の出力電圧で
ある。感光体劣化度が増大すると受光素子の出力は低下
する。
【００２１】図４は、感光体劣化度と出力画像濃度の特
性を示すものである。図４において、横軸は感光体劣化
度、縦軸は出力画像濃度である。感光体劣化度が増大す
ると出力画像濃度は減少する。
性を示すものである。図４において、横軸は感光体劣化
度、縦軸は出力画像濃度である。感光体劣化度が増大す
ると出力画像濃度は減少する。
【００２２】図５は、レーザ光量と出力画像濃度の特性
を示すものである。図５において、横軸はレーザ光量、
縦軸は出力画像濃度である。レーザ光量を増大すると出
力画像も増大する。図４、図５より前記受光素子の出力
から感光体劣化度を検出し、感光体劣化度に応じて現像
バイアスを調整することで感光体劣化による画像濃度変
動を解消することができる。
を示すものである。図５において、横軸はレーザ光量、
縦軸は出力画像濃度である。レーザ光量を増大すると出
力画像も増大する。図４、図５より前記受光素子の出力
から感光体劣化度を検出し、感光体劣化度に応じて現像
バイアスを調整することで感光体劣化による画像濃度変
動を解消することができる。
【００２３】図６は、制御部の構成を示すものである。
図６において、６１はＲＯＭ、６２はＲＡＭ、６３はＣ
ＰＵ、６４は入力ポート、６５は出力インターフェース
である。感光体劣化度信号ａは入力インターフェースを
介してＣＰＵ６３に入力される。入力された信号ａはＲ
ＯＭ６１に内蔵されているアルゴリズムによってＲＡＭ
６２に記録される。ＲＡＭ６２に記録された信号ａはＲ
ＯＭ６１に予め設定されている基準値（感光体初期の出
力電圧）と比較して補正値を計算する。計算された補正
値は感光体劣化度としてＲＡＭ６２に記録する。記録さ
れた感光体劣化度は、さらにＲＯＭ６１に内蔵されてい
るアルゴリズムにより感光体劣化度に応じたレーザ光量
の計算を行ないレーザ光量制御信号ｈを決定する。決定
した信号ｈは出力インターフェース７５を介して出力さ
れる。
図６において、６１はＲＯＭ、６２はＲＡＭ、６３はＣ
ＰＵ、６４は入力ポート、６５は出力インターフェース
である。感光体劣化度信号ａは入力インターフェースを
介してＣＰＵ６３に入力される。入力された信号ａはＲ
ＯＭ６１に内蔵されているアルゴリズムによってＲＡＭ
６２に記録される。ＲＡＭ６２に記録された信号ａはＲ
ＯＭ６１に予め設定されている基準値（感光体初期の出
力電圧）と比較して補正値を計算する。計算された補正
値は感光体劣化度としてＲＡＭ６２に記録する。記録さ
れた感光体劣化度は、さらにＲＯＭ６１に内蔵されてい
るアルゴリズムにより感光体劣化度に応じたレーザ光量
の計算を行ないレーザ光量制御信号ｈを決定する。決定
した信号ｈは出力インターフェース７５を介して出力さ
れる。
【００２４】以上のように本実施例によれば、簡単な構
成で感光体の劣化度を検出し、レーザ光量を調整して出
力画像を制御することにより常に良好な状態に保つこと
ができる。
成で感光体の劣化度を検出し、レーザ光量を調整して出
力画像を制御することにより常に良好な状態に保つこと
ができる。
【００２５】
【発明の効果】以上のように本発明は、感光体表面によ
る光の散乱光量から感光体劣化度を検出し、発光手段の
入射面が感光体素管製造時に生じる削り方向と平行とな
ることを特徴とする感光体劣化度検出手段を設けること
により、複雑な手段をもちいることなく感光体劣化度を
検出し、現像電界を一定に保つようにレーザ光量の調整
を行ない、感光体の長寿命化と高画質な画像を安価に安
定して得られる装置を提供することができる。
る光の散乱光量から感光体劣化度を検出し、発光手段の
入射面が感光体素管製造時に生じる削り方向と平行とな
ることを特徴とする感光体劣化度検出手段を設けること
により、複雑な手段をもちいることなく感光体劣化度を
検出し、現像電界を一定に保つようにレーザ光量の調整
を行ない、感光体の長寿命化と高画質な画像を安価に安
定して得られる装置を提供することができる。
【図１】本発明の実施例における画像形成装置の構成図
【図２】本発明の実施例における感光体劣化度検出手段
の構成図
の構成図
【図３】図２における感光体劣化度と感光体劣化度検出
手段の受光素子の出力特性を示す図
手段の受光素子の出力特性を示す図
【図４】感光体劣化度と出力画像濃度の出力特性を示す
図
図
【図５】レーザ光量と出力画像濃度の出力特性を示す図
【図６】本発明の実施例における制御部の内部構成を示
す図
す図
【図７】従来の画像形成装置の構成図
１ 半導体レーザ ２ コリメートレンズ ３ 回転多面鏡 ４ ｆθレンズ ５ ミラー ６ 感光体 ７ 帯電器 ８ 現像器 ９ 帯電制御手段 １０ 現像バイアス制御手段 １１ 感光体劣化度検出手段 １２ 発光素子 １３ 受光素子 １４ 制御部 １５ レーザ光量制御手段 １６ レーザ駆動手段 １７ 原稿読み取り手段 １８ 法線 １９ 表面電位センサ ２０ 表面電位検出手段 ２１ 発光素子の光軸 ２２ 受光素子の光軸 ２３ ヘアライン方向 ６１ ＲＯＭ ６２ ＲＡＭ ６３ ＣＰＵ ６４ 入力ポート ６５ 出力ポート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０３Ｇ 21/00 １１８ Ｈ０４Ｎ 1/29 Ｚ 9186−5Ｃ
Claims (3)
- 【請求項１】感光体に帯電、露光、現像を繰り返して画
像を形成する画像形成装置において、感光体表面に光を
照射する発光手段と、感光体表面の散乱光量を検出する
受光手段より感光体の劣化度を検出する感光体劣化度検
出手段と、前記感光体劣化度手段に基づいてレーザの光
量を変化させて出力画像を制御するレーザ光量制御手段
を備えたことを特徴する画像形成装置。 - 【請求項２】前記発光手段は、感光体に対する入射面が
感光体素管製造時に生じる削り方向と平行となることを
特徴とする請求項１記載の画像形成装置。 - 【請求項３】前記発光手段の光軸と法線からのなす角度
をθ0とし、前記受光手段の光軸と法線からのなす角度
をθ1としたとき、θ1よりもθ2の方が大きいことを特
徴とする請求項１記載の画像形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4125841A JPH05323740A (ja) | 1992-05-19 | 1992-05-19 | 画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4125841A JPH05323740A (ja) | 1992-05-19 | 1992-05-19 | 画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05323740A true JPH05323740A (ja) | 1993-12-07 |
Family
ID=14920274
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4125841A Pending JPH05323740A (ja) | 1992-05-19 | 1992-05-19 | 画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05323740A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008256983A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
| US7920800B2 (en) | 2007-02-15 | 2011-04-05 | Ricoh Company Limited | Image forming apparatus and failure detection method therefor |
| US8064782B2 (en) | 2007-08-03 | 2011-11-22 | Ricoh Company, Ltd. | Management device of an image forming apparatus |
| US8190037B2 (en) | 2008-06-23 | 2012-05-29 | Ricoh Company, Limited | Fault prediction method, fault prediction system, and image forming apparatus |
| US8339637B2 (en) | 2007-08-03 | 2012-12-25 | Ricoh Company, Ltd. | Management apparatus, management system, operation status determination method, and image forming apparatus |
| US10788778B2 (en) | 2018-11-29 | 2020-09-29 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus with control circuitry to execute a refresh operation on latent image bearer |
-
1992
- 1992-05-19 JP JP4125841A patent/JPH05323740A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7920800B2 (en) | 2007-02-15 | 2011-04-05 | Ricoh Company Limited | Image forming apparatus and failure detection method therefor |
| JP2008256983A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
| US8064782B2 (en) | 2007-08-03 | 2011-11-22 | Ricoh Company, Ltd. | Management device of an image forming apparatus |
| US8339637B2 (en) | 2007-08-03 | 2012-12-25 | Ricoh Company, Ltd. | Management apparatus, management system, operation status determination method, and image forming apparatus |
| US8358941B2 (en) | 2007-08-03 | 2013-01-22 | Ricoh Company, Ltd. | Management device of an image forming apparatus |
| US8190037B2 (en) | 2008-06-23 | 2012-05-29 | Ricoh Company, Limited | Fault prediction method, fault prediction system, and image forming apparatus |
| US10788778B2 (en) | 2018-11-29 | 2020-09-29 | Ricoh Company, Ltd. | Image forming apparatus with control circuitry to execute a refresh operation on latent image bearer |
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