JP2509632Y2 - Ｉｃ試験用搬送装置 - Google Patents
Ｉｃ試験用搬送装置Info
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Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案はIC（半導体集積回路）素子を試験するため
に、測定部へ送り、試験終了したIC素子を回収するため
に用いられるIC試験用搬送装置（ハンドラ）に関する。
に、測定部へ送り、試験終了したIC素子を回収するため
に用いられるIC試験用搬送装置（ハンドラ）に関する。
「従来の技術」 従来のIC試験用搬送装置の一部を第４図及び第５図に
示す。恒温槽11内に複数、例えば８本のIC供給列として
の傾斜した蓄積用トラック12が並列に設けられ、図に示
してないが、恒温槽11の上側外部から、IC供給手段によ
りIC素子が蓄積用トラック12内へ分配供給される。各蓄
積用トラック12の下端よりIC素子が１個づつ各方向転換
レール13により方向が変えられて、ぼぼ垂直の各コンタ
クトレール14へ供給される。各コンタクトレール14はそ
れぞれ複数、この例では４段の測定段15a〜15dが直列に
設けられ、この各測定段15a〜15dの下端にストッパ16a
〜16dが設けられ、各ストッパ16a〜16dに１個ずつIC素
子が受け止められて各測定段15a〜15dに１個ずつIC素子
が配される。各コンタクトレール14の各測定段15a〜15d
にIC素子がそれぞれ配されると、恒温槽11の側面に設け
られたソケット保持部17の各ICソケットに各IC素子が接
触され、外部のテストヘッド18と電気的に接続されて各
IC素子に対する試験が同時に行われる。試験が終了する
と、各コンタクトレール14の最下段の測定段14aのIC素
子から順に１個ずつ出口レール19を通じて方向転換レー
ル（オリエンタルレール）21へ供給され、方向転換レー
ル21で方向が変えられて蓄積レール22へそれぞれ供給さ
れる。蓄積レール22へIC素子が１個送られると、最下段
から２番目の測定段15eのIC素子がそれぞれ方向転換レ
ール21へ供給され、これより蓄積レール22へ供給され
る。このようにして各コンタクトレール14内の試験終了
後のIC素子をすべて排き出した後、つまりこの例では最
終測定段14dのIC素子が方向転換レール21へ供給された
後に、各蓄積用トラック12から各コンタクトレール14へ
のIC素子の供給が開始される。各蓄積レール22はこの例
では３個のIC素子をつらねる長さとされており、各蓄積
レール22のIC素子はソータ23により図に示していないが
試験結果に応じて異なるIC収納部へ分配供給される。恒
温槽11は設定した環境温度でIC素子を試験するためのも
のである。
示す。恒温槽11内に複数、例えば８本のIC供給列として
の傾斜した蓄積用トラック12が並列に設けられ、図に示
してないが、恒温槽11の上側外部から、IC供給手段によ
りIC素子が蓄積用トラック12内へ分配供給される。各蓄
積用トラック12の下端よりIC素子が１個づつ各方向転換
レール13により方向が変えられて、ぼぼ垂直の各コンタ
クトレール14へ供給される。各コンタクトレール14はそ
れぞれ複数、この例では４段の測定段15a〜15dが直列に
設けられ、この各測定段15a〜15dの下端にストッパ16a
〜16dが設けられ、各ストッパ16a〜16dに１個ずつIC素
子が受け止められて各測定段15a〜15dに１個ずつIC素子
が配される。各コンタクトレール14の各測定段15a〜15d
にIC素子がそれぞれ配されると、恒温槽11の側面に設け
られたソケット保持部17の各ICソケットに各IC素子が接
触され、外部のテストヘッド18と電気的に接続されて各
IC素子に対する試験が同時に行われる。試験が終了する
と、各コンタクトレール14の最下段の測定段14aのIC素
子から順に１個ずつ出口レール19を通じて方向転換レー
ル（オリエンタルレール）21へ供給され、方向転換レー
ル21で方向が変えられて蓄積レール22へそれぞれ供給さ
れる。蓄積レール22へIC素子が１個送られると、最下段
から２番目の測定段15eのIC素子がそれぞれ方向転換レ
ール21へ供給され、これより蓄積レール22へ供給され
る。このようにして各コンタクトレール14内の試験終了
後のIC素子をすべて排き出した後、つまりこの例では最
終測定段14dのIC素子が方向転換レール21へ供給された
後に、各蓄積用トラック12から各コンタクトレール14へ
のIC素子の供給が開始される。各蓄積レール22はこの例
では３個のIC素子をつらねる長さとされており、各蓄積
レール22のIC素子はソータ23により図に示していないが
試験結果に応じて異なるIC収納部へ分配供給される。恒
温槽11は設定した環境温度でIC素子を試験するためのも
のである。
「考案が解決しようとする課題」 以上述べたように従来の搬送装置では試験が終了した
時に、１個ずつIC素子を方向転換レール22へ供給し、そ
のレール22を回動してIC素子の搬送方向を転換して蓄積
レール23へ供給しているため、測定段が４段の場合は、
コンタクトレール14からすべてのIC素子を排出するまで
に、方向転換レール22を３回、往復回動させる必要があ
り、このために比較的長い時間がかかった。従って試験
を終了した時点から、次のIC素子を各測定段14a〜14dへ
供給して、そのIC素子に対する試験を開始する時点まで
の時間、いわゆるインデックスタイムが長くなり、例え
ば約12秒にもなっており、それだけ搬送装置の能力が低
いものとなっていた。
時に、１個ずつIC素子を方向転換レール22へ供給し、そ
のレール22を回動してIC素子の搬送方向を転換して蓄積
レール23へ供給しているため、測定段が４段の場合は、
コンタクトレール14からすべてのIC素子を排出するまで
に、方向転換レール22を３回、往復回動させる必要があ
り、このために比較的長い時間がかかった。従って試験
を終了した時点から、次のIC素子を各測定段14a〜14dへ
供給して、そのIC素子に対する試験を開始する時点まで
の時間、いわゆるインデックスタイムが長くなり、例え
ば約12秒にもなっており、それだけ搬送装置の能力が低
いものとなっていた。
また従来の搬送装置において、方向転換レール13を垂
直にしてもひっかかり（ジャム）によりそのレール13上
のIC素子がコンタクトレール14の所定の測定段に達しな
いことがある。この場合は恒温槽11の上ぶた24上に設け
られているコンタクトレール14の直上のジャム解除用栓
25を外して、その孔から棒を挿入して途中で引かかって
いるIC素子を下に押し込み、引かかり（ジャム）を解除
している。しかし試験終了後にコンタクトレール14から
方向転換レール21へIC素子を送る場合に下側のIC素子に
ひっかかりが生じると、上側にICがあるためジャム解除
用栓25を外してジャム解除を行うことができない。つま
りストッパ16a〜16dをすべて解除して上から棒で押す
と、ジャムは解除できても、IC素子を１個ずつ方向転換
レール21へ送ることができなくなる。このため従来にお
いては下側のIC素子にひっかかりが生じると、恒温槽11
を開けてひっかかりを解除する必要があった。例えば−
30℃の温度環境試験において恒温槽11を開けると、再び
その温度で試験ができるようになるまで約２時間もかか
る。従って試験の途中で恒温槽11を開けることは試験時
間を著しく長くすることになる。
直にしてもひっかかり（ジャム）によりそのレール13上
のIC素子がコンタクトレール14の所定の測定段に達しな
いことがある。この場合は恒温槽11の上ぶた24上に設け
られているコンタクトレール14の直上のジャム解除用栓
25を外して、その孔から棒を挿入して途中で引かかって
いるIC素子を下に押し込み、引かかり（ジャム）を解除
している。しかし試験終了後にコンタクトレール14から
方向転換レール21へIC素子を送る場合に下側のIC素子に
ひっかかりが生じると、上側にICがあるためジャム解除
用栓25を外してジャム解除を行うことができない。つま
りストッパ16a〜16dをすべて解除して上から棒で押す
と、ジャムは解除できても、IC素子を１個ずつ方向転換
レール21へ送ることができなくなる。このため従来にお
いては下側のIC素子にひっかかりが生じると、恒温槽11
を開けてひっかかりを解除する必要があった。例えば−
30℃の温度環境試験において恒温槽11を開けると、再び
その温度で試験ができるようになるまで約２時間もかか
る。従って試験の途中で恒温槽11を開けることは試験時
間を著しく長くすることになる。
「課題を解決するための手段」 この考案によればコンタクトレールの直下にほぼ垂直
な蓄積レールが設けられ、その蓄積レールの長さはコン
タクトレールの測定段の段数分のIC素子を直列につらね
ることができる長さとされ、蓄積レールに上記段数分の
IC素子を保持させるストッパが出入自在に設けられてい
る。
な蓄積レールが設けられ、その蓄積レールの長さはコン
タクトレールの測定段の段数分のIC素子を直列につらね
ることができる長さとされ、蓄積レールに上記段数分の
IC素子を保持させるストッパが出入自在に設けられてい
る。
「実施例」 第１図及び第２図にこの考案の実施例の要部を示し、
第４図，第５図と対応する部分に同一符号を付けてあ
る。この実施例においては各コンタクトレール14の直
下、この例では各出口レール21の直下にそれぞれほぼ垂
直き蓄積ルール26が設けられる。各蓄積レール26はコン
タクトレール14の測定段の段数分だけのIC素子を直列に
つらねることができる長さとされている。この例では蓄
積レール26の長さは測定段の段数４×１個のIC素子の長
さ以上とされる。各蓄積レール26に、測定段の段数分の
IC素子をつらねた状態でIC素子を保持できるようにスト
ッパ27が出入自在にそれぞれ設けられる。この例ではス
トッパ27は蓄積レール26の下端に設けられる。蓄積レー
ル26の下側にソータ23が配される。
第４図，第５図と対応する部分に同一符号を付けてあ
る。この実施例においては各コンタクトレール14の直
下、この例では各出口レール21の直下にそれぞれほぼ垂
直き蓄積ルール26が設けられる。各蓄積レール26はコン
タクトレール14の測定段の段数分だけのIC素子を直列に
つらねることができる長さとされている。この例では蓄
積レール26の長さは測定段の段数４×１個のIC素子の長
さ以上とされる。各蓄積レール26に、測定段の段数分の
IC素子をつらねた状態でIC素子を保持できるようにスト
ッパ27が出入自在にそれぞれ設けられる。この例ではス
トッパ27は蓄積レール26の下端に設けられる。蓄積レー
ル26の下側にソータ23が配される。
この構成によれば各コンタクトレール14の各IC素子の
試験が終了すると、各蓄積レール26の各ストッパ27を突
出させた状態で、ストッパ16a〜16dを順次解除して、最
下段の測定段15aのIC素子から順に、各コンタクトレー
ル14のIC素子を順次蓄積レール26へ供給する。すべての
測定段のIC素子を供給し終ると、各蓄積用トラック12か
ら次のIC素子を各コンタクトレール14へ供給する。これ
と同時に各蓄積レール26内のIC素子をソータ23により試
験結果に応じてIC収納部へ分配供給する。試験終了とな
ってIC素子を蓄積レール26へ供給するのはほぼ連続的に
行うことができ、従来装置において１個のIC素子を方向
転換レールへ送り、そのIC素子を方向転換して蓄積レー
ルへ送った後、方向転換レールを戻してこれに再び１個
のIC素子を送る場合と比較して、コンタクトレール14上
のすべてのIC素子を排き出す時間を著しく短くすること
ができる。
試験が終了すると、各蓄積レール26の各ストッパ27を突
出させた状態で、ストッパ16a〜16dを順次解除して、最
下段の測定段15aのIC素子から順に、各コンタクトレー
ル14のIC素子を順次蓄積レール26へ供給する。すべての
測定段のIC素子を供給し終ると、各蓄積用トラック12か
ら次のIC素子を各コンタクトレール14へ供給する。これ
と同時に各蓄積レール26内のIC素子をソータ23により試
験結果に応じてIC収納部へ分配供給する。試験終了とな
ってIC素子を蓄積レール26へ供給するのはほぼ連続的に
行うことができ、従来装置において１個のIC素子を方向
転換レールへ送り、そのIC素子を方向転換して蓄積レー
ルへ送った後、方向転換レールを戻してこれに再び１個
のIC素子を送る場合と比較して、コンタクトレール14上
のすべてのIC素子を排き出す時間を著しく短くすること
ができる。
また方向転換レール13からIC素子を所定の測定段へ供
給する途中でIC素子がひっかかった場合は、従来と同様
に、ジャム解除用栓25を外して、その孔から棒を挿入
し、その棒でひっかかったIC素子を押し込めばよい。
給する途中でIC素子がひっかかった場合は、従来と同様
に、ジャム解除用栓25を外して、その孔から棒を挿入
し、その棒でひっかかったIC素子を押し込めばよい。
コンタクトレール14からIC素子を蓄積レール26へ送る
際に途中でIC素子がひっかかった場合は、ストッパ16a
〜16dを順次解除し、最上段のストッパ16dを解除した
後、ジャム解除用栓25を外して、その孔から棒を挿入
し、最上のIC素子を下に押して全体のひっかかりを解除
する。
際に途中でIC素子がひっかかった場合は、ストッパ16a
〜16dを順次解除し、最上段のストッパ16dを解除した
後、ジャム解除用栓25を外して、その孔から棒を挿入
し、最上のIC素子を下に押して全体のひっかかりを解除
する。
試験終了したIC素子の搬送方向を変える場合は第１
図、第２図において各蓄積レール26とソータ23との間に
方向転換レールを設ければよい。この場合は第３図に示
すように、各蓄積レール26を上部蓄積レール26aと下部
蓄積レール26bとに分割し、下部蓄積レール26bを方向転
換用としてもよい。コンタクトレール14からIC素子を排
出する場合は、下部蓄積レール26bを垂直状態としてお
き、すべての測定段のIC素子を順次送出し、これらを、
下部蓄積レール26bに設けたストッパ27で受け止め、コ
ンタクトレール14からIC素子をすべて排出した後に、下
部蓄積レール26bを回動制御して、IC素子を１個ずつソ
ータ23へ供給する。この回動による下部蓄積レール26b
からソータ23へのIC素子の供給は比較的時間がかかる
が、次のIC素子の試験が終了するまでに、上部蓄積レー
ル26a及び下部蓄積レール26b内からすべてのIC素子を排
出すればよいから、全体の搬送動作に影響を与えない。
図、第２図において各蓄積レール26とソータ23との間に
方向転換レールを設ければよい。この場合は第３図に示
すように、各蓄積レール26を上部蓄積レール26aと下部
蓄積レール26bとに分割し、下部蓄積レール26bを方向転
換用としてもよい。コンタクトレール14からIC素子を排
出する場合は、下部蓄積レール26bを垂直状態としてお
き、すべての測定段のIC素子を順次送出し、これらを、
下部蓄積レール26bに設けたストッパ27で受け止め、コ
ンタクトレール14からIC素子をすべて排出した後に、下
部蓄積レール26bを回動制御して、IC素子を１個ずつソ
ータ23へ供給する。この回動による下部蓄積レール26b
からソータ23へのIC素子の供給は比較的時間がかかる
が、次のIC素子の試験が終了するまでに、上部蓄積レー
ル26a及び下部蓄積レール26b内からすべてのIC素子を排
出すればよいから、全体の搬送動作に影響を与えない。
「考案の効果」 以上述べたようにこの考案によれば試験が終了した時
にコンタクトレール14のIC素子を、方向転換レールを介
することなく蓄積レール26へすべて供給するようにした
ため、コンタクトレールからすべてのIC素子を短時間で
排出することができ、それだけインデックスタイムを短
かくすることができ、搬送装置の能力を向上させること
ができる。また、コンタクトレール14の延長線上に蓄積
レール26を配し、その蓄積レール26の長さをコンタクト
レール14の各測定段のIC素子をすべて収容できる長さと
しているため、IC素子を排出する際に下側のIC素子にひ
っかかりが生じても、各測定段のIC素子をすべて同時に
蓄積レール26に棒で押し込むことができ、恒温槽を開け
る必要はない。
にコンタクトレール14のIC素子を、方向転換レールを介
することなく蓄積レール26へすべて供給するようにした
ため、コンタクトレールからすべてのIC素子を短時間で
排出することができ、それだけインデックスタイムを短
かくすることができ、搬送装置の能力を向上させること
ができる。また、コンタクトレール14の延長線上に蓄積
レール26を配し、その蓄積レール26の長さをコンタクト
レール14の各測定段のIC素子をすべて収容できる長さと
しているため、IC素子を排出する際に下側のIC素子にひ
っかかりが生じても、各測定段のIC素子をすべて同時に
蓄積レール26に棒で押し込むことができ、恒温槽を開け
る必要はない。
第１図はこの考案の実施例の要部を示す側面図、第２図
はその平面図、第３図はこの考案の他の実施例の要部を
示す側面図、第４図は従来の搬送装置の一部を示す側面
図、第５図はその平面図である。
はその平面図、第３図はこの考案の他の実施例の要部を
示す側面図、第４図は従来の搬送装置の一部を示す側面
図、第５図はその平面図である。
Claims (1)
- 【請求項１】IC供給列からIC素子が、ほぼ垂直のコンタ
クトレールへ供給され、そのコンタクトレールには複数
の測定段が直列に設けられ、これら測定段にそれぞれ１
個のIC素子を供給した状態でこれらIC素子を同時に試験
するIC試験用搬送装置において、 上記コンタクトレールの直下に設けられ、ほぼ垂直で、
上記測定段の段数分のIC素子を直列につらねることがで
きる長さの蓄積レールと、 その蓄積レールに出入自在に設けられ、上記段数分のIC
素子を保持させることができるストッパとを具備するこ
とを特徴とするIC試験用搬送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14671089U JP2509632Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ｉｃ試験用搬送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14671089U JP2509632Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ｉｃ試験用搬送装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0385647U JPH0385647U (ja) | 1991-08-29 |
| JP2509632Y2 true JP2509632Y2 (ja) | 1996-09-04 |
Family
ID=31693257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14671089U Expired - Fee Related JP2509632Y2 (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | Ｉｃ試験用搬送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2509632Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019239498A1 (ja) * | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 大和製衡株式会社 | 物品供給装置 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP14671089U patent/JP2509632Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0385647U (ja) | 1991-08-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |