JP3497251B2 - Ic収納用トレイカセット構造 - Google Patents

Ic収納用トレイカセット構造

Info

Publication number
JP3497251B2
JP3497251B2 JP25436294A JP25436294A JP3497251B2 JP 3497251 B2 JP3497251 B2 JP 3497251B2 JP 25436294 A JP25436294 A JP 25436294A JP 25436294 A JP25436294 A JP 25436294A JP 3497251 B2 JP3497251 B2 JP 3497251B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tray
category
test
customer
stocker
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP25436294A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0897262A (ja
Inventor
義仁 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP25436294A priority Critical patent/JP3497251B2/ja
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to PCT/JP1995/001868 priority patent/WO1996009644A1/ja
Priority to US08/648,133 priority patent/US6070731A/en
Priority to KR1019960702708A priority patent/KR100270137B1/ko
Priority to DE19581661T priority patent/DE19581661C2/de
Priority to MYPI95002819A priority patent/MY114198A/en
Publication of JPH0897262A publication Critical patent/JPH0897262A/ja
Priority to US09/427,036 priority patent/US6354792B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3497251B2 publication Critical patent/JP3497251B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】この発明は、ICテスト・ハンド
ラから電気試験後に被試験ICが分類されて収容された
ストッカの分類識別を明確にする構造に関する。 【0002】 【従来の技術】従来技術のトレイ対応のICテスト・ハ
ンドラにおけるデバイス搬送機構によるカテゴリ分類方
式を図2と図3と図4を参照して説明する。ICテスト
・ハンドラの構成は、図2に示すように、ローダ部10
と、テスト・チャンバ部23と、アンローダ部12と、
ソーク・チャンバ15と、EXITチャンバ16で構成
される。 【0003】IC(被測定デバイス)29は、図3に示
すように、複数個単位でカスタマ・トレイ30に装着さ
れる。そのカスタマ・トレイ30は複数個を積み重ねた
状態でローダ用ストッカ部19に装着される。ローダ用
ストッカ部19のストッカは、スライド機構28を備え
た引き出し部に締結または保持されており、カスタマ・
トレイ30を装着の後、本体に収納される。カスタマ・
トレイ30はトランスファ・アーム17の搬送機構によ
りローダ部10のトレイのセッティング部22にセット
される。 【0004】IC29は、ローダ・キット11の吸着・
開放動作によりカスタマトレイ30からテストトレイ1
4に移され、予熱用のソーク・チャンバ15を経由して
下部にあるテスト・チャンバ部23へ移送されたあと、
試験が実行される。テスト済IC29は、除熱用のEX
ITチャンバ16経由でアンローダ部12に移送され、
アンローダ・キット13の吸着・開放動作によってテス
トトレイ14からカスタマトレイ30へ繰り返し移し替
えられる。このとき、IC29はテスト結果のカテゴリ
に基づいたアンローダ・キット13の選択的動作によっ
て所定のカテゴリのカスタマトレイ30に装着される。
このトレイは、必要に応じて空トレイ用ストッカ部21
からトランスファ・アーム17でアンローダ部12のト
レイのセッティング部22にセットされる。 【0005】つづいて、IC装着済トレイは、トランス
ファ・アーム17に把持され水平移動により、図4に示
すように、ストッカ収納部27のアンローダ用ストッカ
部20の所定カテゴリのストッカへ選択分類的に収納さ
れる。ここで、カテゴリとは、試験結果によって良否判
定や特性ランク別にデバイスを分類するための分類番
号、分類符号のことである。ストッカ収納部27の各ス
トッカのカテゴリは、ハンドラの前面24のカテゴリ・
パネル26のカテゴリ表示部25にカテゴリ番号が表示
されており、収納済トレイ内ICのカテゴリが確認でき
る。 【0006】 【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、テ
スト済ICのカテゴリは、ハンドラの前面24のカテゴ
リ表示部25の確認で行われていて、ハンドラ本体から
取り出し後、各トレイのカテゴリの識別はオペレータの
記憶に頼ることになる。このことは、ハンドラ本体から
取り出したあとの取扱い作業中に混在などの分類ミスを
発生する可能性が有り好ましくない。そこで、本発明が
解決しようとする課題は、テスト済ICのトレイのカテ
ゴリ別の識別を確実にして移動取扱いによるトラブルを
防止することを目的とする。 【0007】 【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、トレイカセット33の側面にI
C分類を示すカテゴリ識別表示器34を取り付け、トレ
イカセット33の上側からカスタマトレイ30を積層収
納して支持する箱形構造を設け、トレイカセット33の
下側からストッカ31に案内支持されてICテスト・ハ
ンドラのIC分類機構部に装着するトレイカセット33
を設ける構成手段にする。これにより、被試験ICを搭
載するカスタマトレイ30を使用して、ICテスト・ハ
ンドラの試験結果により分類するカスタマトレイ30の
カテゴリ識別表示と、カスタマトレイ30を安定に収容
する収納構造を実現する。 【0008】 【作用】トレイカセット33は、この側面にICカテゴ
リ識別表示器34を設け、予め決められたカテゴリ番号
札を取り付けておくことで、分類後のカスタマトレイ3
0の移動取扱いによるトラブルの防止機能になる。ま
た、このトレイカセット33により、多段積層したカス
タマトレイ30を安定した状態に収容する作用がある。 【0009】 【実施例】本発明例を図1を参照して説明する。トレイ
カセット33は、図1に示すようにオープンフレーム構
造で、上部から積み重ねられたカスタマトレイ30の出
し入れと、中にあるトレイ枚数の確認ができる形状であ
る。底面には、ストッカ31とのアタッチメント部35
と、トレイの昇降用エレベータが通過すために開口部3
6が設けられている。前面、または外部から確認できる
場所には、カテゴリ識別表示器34を設けて識別情報を
表示させる。例えば、収納されたトレイ内IC29のカ
テゴリを表示または表記させる。この側面には、運搬用
の把手32を設けてある。上記説明のようにトレイカセ
ット33を構成することで、ICのカテゴリ識別情報の
表示部を設けることが可能となり、表示内容は自由に表
現することができる。また、従来のように、トレイを積
み重ねた不安定な状態ではなく、トレイカセット33に
安定な収納状態となり、運搬取扱が容易となる。 【0010】上記、実施例の説明では、ICテスト・ハ
ンドラに使用する場合で説明していたが、その他のIC
リード曲り試験機やIC捺印装置等にも同様にして適用
できる。 【0011】 【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。ト
レイカセット33を設けて、この側面にICカテゴリ識
別表示器34を設け、予め決められたカテゴリ番号札を
取り付けておくことで、分類後のカスタマトレイ30の
移動取扱いによるトラブルを防止できる効果が得られ
る。また、このトレイカセット33により、カスタマト
レイ30を安定した状態に収容できる為、運搬取扱が容
易となる。 【0012】
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明のトレイカセット33の構造図である。 【図2】ICテスト・ハンドラ本体の上面図である。 【図3】従来のストッカによる構成図である。 【図4】ICテスト・ハンドラのストッカ収納部の概略
図である。 【符号の説明】 10 ローダ部 11 ローダ・キット 12 アンローダ部 13 アンローダ・キット 14 テストトレイ 15 ソーク・チャンバ 16 EXITチャンバ 17 ンスファ・アーム 19 ローダ用ストッカ部 20 アンローダ用ストッカ部 21 空トレイ用ストッカ部 22 トレイのセッティング部 23 テスト・チャンバ部 24 前面 25 カテゴリ表示部 26 パネル 27 ストッカ収納部 28 スライド機構 29 IC(被測定デバイス) 30 トレイ 31 ストッカ 32 把手 33 トレイカセット 34 カテゴリ識別表示器 35 アタッチメント部 36 開口部
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/66 G01R 31/26 H01L 21/68 B65D 85/86

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 被試験ICを搭載するカスタマトレイ
    (30)を使用して、ICテスト・ハンドラの試験結果
    により分類するカスタマトレイ(30)の収納構造にお
    いて、 トレイカセット(33)の側面にIC分類を示すカテゴ
    リ識別表示器(34)を取り付け、トレイカセット(3
    3)の上側からカスタマトレイ(30)を積層収納して
    支持する箱形構造を設け、トレイカセット(33)の下
    側からストッカ(31)に案内支持されてICテスト・
    ハンドラのIC分類機構部に装着するトレイカセット
    (33)を設け、 以上を具備していることを特徴としたIC収納用トレイ
    カセット構造。
JP25436294A 1994-09-22 1994-09-22 Ic収納用トレイカセット構造 Expired - Fee Related JP3497251B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25436294A JP3497251B2 (ja) 1994-09-22 1994-09-22 Ic収納用トレイカセット構造
US08/648,133 US6070731A (en) 1994-09-22 1995-09-20 IC receiving tray storage device and mounting apparatus for the same
KR1019960702708A KR100270137B1 (ko) 1994-09-22 1995-09-20 Ic 수납용 트레이수용장치 및 이 트레이수용장치의 장착대
DE19581661T DE19581661C2 (de) 1994-09-22 1995-09-20 Ic-Aufnahmeschalen-Lagervorrichtung und Montagevorrichtung für diese
PCT/JP1995/001868 WO1996009644A1 (fr) 1994-09-22 1995-09-20 Conteneur pour plateaux a circuits integres et sa plaque de base de montage
MYPI95002819A MY114198A (en) 1994-09-22 1995-09-22 Ic receiving tray storage device and mounting apparatus for the same
US09/427,036 US6354792B1 (en) 1994-09-22 1999-10-26 IC receiving tray storage device and mounting apparatus for the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25436294A JP3497251B2 (ja) 1994-09-22 1994-09-22 Ic収納用トレイカセット構造

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0897262A JPH0897262A (ja) 1996-04-12
JP3497251B2 true JP3497251B2 (ja) 2004-02-16

Family

ID=17263941

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25436294A Expired - Fee Related JP3497251B2 (ja) 1994-09-22 1994-09-22 Ic収納用トレイカセット構造

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3497251B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100361427B1 (ko) * 2000-06-22 2002-11-18 메카텍스 (주) 모듈아이씨 이송용 캐리어

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0897262A (ja) 1996-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6354792B1 (en) IC receiving tray storage device and mounting apparatus for the same
JP3226780B2 (ja) 半導体装置のテストハンドラ
JP2968406B2 (ja) オートマチックテストハンドラー
JP3016982B2 (ja) 自動テスト用ハンドラーのトレイを取り扱う装置およびその方法
US5906472A (en) Apparatus for removing and storing semiconductor device trays
US6066822A (en) Semiconductor device testing apparatus and semiconductor device testing system having a plurality of semiconductor device testing apparatus
JP2921937B2 (ja) Ic検査装置
TWI380395B (en) Test handler, method for unloading and manufacturing packaged chips and method for transferring test trays
WO1997005495A1 (fr) Testeur de dispositif a semi-conducteurs
KR101042655B1 (ko) 전자부품 이송방법 및 전자부품 핸들링 장치
WO1996009556A1 (fr) Procede et appareil d'inspection automatique de dispositifs semiconducteurs
JPH10199777A (ja) 半導体製造プロセス期間中の情報を格納するシステム、方法及び装置
TW200824032A (en) Customer tray and electronic component testing apparatus
US6237783B1 (en) Apparatus for storing customer trays
JP3497251B2 (ja) Ic収納用トレイカセット構造
JPH08150583A (ja) Ic移載装置つきオートハンドラ
JPH08262102A (ja) Icテスタ用ハンドラにおけるデバイス再検査方法
KR100295703B1 (ko) 반도체디바이스시험장치및복수의반도체디바이스시험장치를구비한반도체디바이스시험시스템
TWI490970B (zh) A pallet handling device, and an electronic component testing device provided with the device
JP3259497B2 (ja) 半導体製造装置
KR100189180B1 (ko) Ic 테스터용 분리형 핸들러 시스템
KR100893141B1 (ko) 테스트 핸들러
JP2000147056A (ja) テストハンドラシステムおよびその制御方法
KR100770756B1 (ko) 전자부품 핸들링 장치 및 전자부품 핸들링 장치에서의온도인가 방법
JPS6028222A (ja) Icハンドラにおける分類別収納法

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20031118

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees