JP2502897Y2 - イオン濃度自動分析装置 - Google Patents
イオン濃度自動分析装置Info
- Publication number
- JP2502897Y2 JP2502897Y2 JP1990108937U JP10893790U JP2502897Y2 JP 2502897 Y2 JP2502897 Y2 JP 2502897Y2 JP 1990108937 U JP1990108937 U JP 1990108937U JP 10893790 U JP10893790 U JP 10893790U JP 2502897 Y2 JP2502897 Y2 JP 2502897Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- measurement
- ion
- ion concentration
- measurement chamber
- Prior art date
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、血液や尿中のイオン濃度をイオン選択電極
を用いて定量するイオン濃度自動分析装置に関する。
を用いて定量するイオン濃度自動分析装置に関する。
従来、イオン選択電極をイオン濃度の測定素子として
用いる分析装置では、測定イオン１種類について１個の
イオン選択電極を用いているが、イオン選択電極の応答
速度の面から分析装置の処理速度が速く出来ないという
欠点があった。処理速度を速くする為に、測定イオン１
種類について複数個のイオン選択電極を用いる方法が一
般に用いられている。しかし、この方法はイオン濃度の
測定系が多数必要である為、分析装置が大型化するとい
った欠点があった。測定イオン１種類について複数個の
イオン選択電極を用いつつ、分析装置の大型化を少くす
る試みとして、実公昭62−8523号公報に開示されている
ように、試料吸入ノズルから、イオン選択電極を備えた
測定室迄を複数備えるが、それ以降、単一の演算・表示
部を使い複数の測定系からの信号を共通系で処理する構
成をもった分析装置も提案されている。しかし、分析装
置に於て、物理的に大きな容積を占め、かつ機構的に装
置を複雑にしている部位は、演算・表示部よりも、測定
室より前の部分である。すなわち、複数個の試料吸引ノ
ズルに加え、これらノズルを、試料が入った検体カップ
や、ノズルの洗浄部位等に移送する手段も、複数系必要
であり、さらに上記カップを順次、ノズル吸引位置に移
送する手段も、複数系必要である為、分析装置の大型化
は避けられない。
用いる分析装置では、測定イオン１種類について１個の
イオン選択電極を用いているが、イオン選択電極の応答
速度の面から分析装置の処理速度が速く出来ないという
欠点があった。処理速度を速くする為に、測定イオン１
種類について複数個のイオン選択電極を用いる方法が一
般に用いられている。しかし、この方法はイオン濃度の
測定系が多数必要である為、分析装置が大型化するとい
った欠点があった。測定イオン１種類について複数個の
イオン選択電極を用いつつ、分析装置の大型化を少くす
る試みとして、実公昭62−8523号公報に開示されている
ように、試料吸入ノズルから、イオン選択電極を備えた
測定室迄を複数備えるが、それ以降、単一の演算・表示
部を使い複数の測定系からの信号を共通系で処理する構
成をもった分析装置も提案されている。しかし、分析装
置に於て、物理的に大きな容積を占め、かつ機構的に装
置を複雑にしている部位は、演算・表示部よりも、測定
室より前の部分である。すなわち、複数個の試料吸引ノ
ズルに加え、これらノズルを、試料が入った検体カップ
や、ノズルの洗浄部位等に移送する手段も、複数系必要
であり、さらに上記カップを順次、ノズル吸引位置に移
送する手段も、複数系必要である為、分析装置の大型化
は避けられない。
上述の如く、測定イオン１種類について複数個の電極
を用いた分析装置は、装置が大型化するという欠点があ
った。本考案の目的は、測定イオン１種類について複数
個のイオン選択電極を用いても、装置を大型化すること
なく、効率的にイオン濃度を測定し得るイオン濃度自動
分析装置を提供することにある。
を用いた分析装置は、装置が大型化するという欠点があ
った。本考案の目的は、測定イオン１種類について複数
個のイオン選択電極を用いても、装置を大型化すること
なく、効率的にイオン濃度を測定し得るイオン濃度自動
分析装置を提供することにある。
上記目的を満足する本考案のイオン濃度自動分析装置
は測定イオン１種類について、それぞれイオン選択電極
を備えた複数の測定室と、試料容器から測定室に供給さ
れた試料についてイオン選択電極からの検知信号を演算
して測定結果を表示する演算表示部を備えたイオン濃度
自動分析装置において、上記複数の測定室に対し単一の
試料吸引ノズルを備え、上記試料吸引ノズルが分岐管ま
たは切換弁を介して、上記複数の測定室へ接続する手段
並びに試料容器から上記ノズルにより試料を供給室へ供
給し、排出する装置を備えたことを特徴とする。
は測定イオン１種類について、それぞれイオン選択電極
を備えた複数の測定室と、試料容器から測定室に供給さ
れた試料についてイオン選択電極からの検知信号を演算
して測定結果を表示する演算表示部を備えたイオン濃度
自動分析装置において、上記複数の測定室に対し単一の
試料吸引ノズルを備え、上記試料吸引ノズルが分岐管ま
たは切換弁を介して、上記複数の測定室へ接続する手段
並びに試料容器から上記ノズルにより試料を供給室へ供
給し、排出する装置を備えたことを特徴とする。
以下図面を参照して本考案を実施例により説明する。
実施例１ 第１図に実施例１のイオン濃度分析装置の配置を示
す。
す。
第１図に於て、試料容器12に入った試料13は、複数の
試料中の１個を示し、図示されない試料容器移送機構に
より、試料吸引ノズル１の下へ順次位置づけられる。ノ
ズル移送器11は試料吸引ノズル１を上下させる。試料吸
引ノズル１は、分岐管２を介して第１測定室３および第
２測定室４へ接続する。第１、第２測定室３、４はそれ
ぞれ同種のイオン選択電極5,7及び比較電極5,8を備えて
いる。第１測定室３は第１ポンプ９へ接続され、第１ポ
ンプ９を作動させる事によって、試料を第１測定室３へ
供給することができる。同様に第２測定室４は第２ポン
プ10に接続される。第１測定室３へ供給された試料は、
比較電極６に対しイオン選択電極５に電位を発生させ、
図示しない演算器へと接続され、イオン濃度が演算され
る。第２測定室４へ供給された試料についても、同様に
してイオン濃度が演算される。
試料中の１個を示し、図示されない試料容器移送機構に
より、試料吸引ノズル１の下へ順次位置づけられる。ノ
ズル移送器11は試料吸引ノズル１を上下させる。試料吸
引ノズル１は、分岐管２を介して第１測定室３および第
２測定室４へ接続する。第１、第２測定室３、４はそれ
ぞれ同種のイオン選択電極5,7及び比較電極5,8を備えて
いる。第１測定室３は第１ポンプ９へ接続され、第１ポ
ンプ９を作動させる事によって、試料を第１測定室３へ
供給することができる。同様に第２測定室４は第２ポン
プ10に接続される。第１測定室３へ供給された試料は、
比較電極６に対しイオン選択電極５に電位を発生させ、
図示しない演算器へと接続され、イオン濃度が演算され
る。第２測定室４へ供給された試料についても、同様に
してイオン濃度が演算される。
次に、測定の一連の動作を第２図のタイムチャートを
用いて説明する。上点にあるノズル１は、ノズル移送器
11により下げられ、第１番目の試料13の中へ入れられ
る。次に第１ポンプ９が作動し、第１番目の試料13を吸
引し第１測定室３へ供給する。供給後第１ポンプ９は停
止し、イオン選択電極５の電位応答待ちの為の、測定待
ち状態となる。この間、ノズル移送器11は上昇し、試料
吸引ノズル１の下には、第２番目の試料13が入った試料
容器12が、図示されてない試料容器移送機構にて移送さ
れる。次に、ノズル移送器11が下降するとともに、第２
ポンプ10が作動し、第２番目の試料13を吸引し第２測定
室４へ供給する。供給後第２ポンプ10は停止し、イオン
選択電極７の電位応答待ちの為の測定待ち状態となる。
一方、測定待ち状態にあった第１測定室では、イオン選
択電極５と比較電極６により、第１番目の試料の電位が
測定される。その後第３番目の試料についても、同様の
順序で、第１測定室３へ供給され、測定待ち状態にあっ
た第２測定室４では、第２番目の試料について電位測定
が行われる。以上、試料吸引ノズル１で吸引、供給され
る試料13は、第１測定室３と第２測定室４へ交互に導か
れ、試料電位の測定が行われる。
用いて説明する。上点にあるノズル１は、ノズル移送器
11により下げられ、第１番目の試料13の中へ入れられ
る。次に第１ポンプ９が作動し、第１番目の試料13を吸
引し第１測定室３へ供給する。供給後第１ポンプ９は停
止し、イオン選択電極５の電位応答待ちの為の、測定待
ち状態となる。この間、ノズル移送器11は上昇し、試料
吸引ノズル１の下には、第２番目の試料13が入った試料
容器12が、図示されてない試料容器移送機構にて移送さ
れる。次に、ノズル移送器11が下降するとともに、第２
ポンプ10が作動し、第２番目の試料13を吸引し第２測定
室４へ供給する。供給後第２ポンプ10は停止し、イオン
選択電極７の電位応答待ちの為の測定待ち状態となる。
一方、測定待ち状態にあった第１測定室では、イオン選
択電極５と比較電極６により、第１番目の試料の電位が
測定される。その後第３番目の試料についても、同様の
順序で、第１測定室３へ供給され、測定待ち状態にあっ
た第２測定室４では、第２番目の試料について電位測定
が行われる。以上、試料吸引ノズル１で吸引、供給され
る試料13は、第１測定室３と第２測定室４へ交互に導か
れ、試料電位の測定が行われる。
実施例２ 第３図に実施例２のイオン濃度分析装置の配置を示
す。試料吸引ノズル１は切換弁14のコモンポート（COM
と略す）へ接続される。切換弁14の他のポート、ノーマ
ルクローズド（NCと略す）は第１測定室３へ、ノーマル
オープン（NOと略す）は第２測定室４へ接続される。第
１測定室３及び第２測定室４はともにポンプ15へ接続さ
れ、切換弁14のNC−COM間が作動（ON）の時ポンプ15を
作動させると、試料を第１測定室３へ、また切換弁14の
NO−COM間が作動（ON）の時ポンプ15を作動させると試
料を第２測定室４へ各々導くことができる。その他の構
成は実施例１と同様である。また測定の動作も、試料を
第１測定室３または第２測定室４へ導く方法が異る他
は、全く同様である。
す。試料吸引ノズル１は切換弁14のコモンポート（COM
と略す）へ接続される。切換弁14の他のポート、ノーマ
ルクローズド（NCと略す）は第１測定室３へ、ノーマル
オープン（NOと略す）は第２測定室４へ接続される。第
１測定室３及び第２測定室４はともにポンプ15へ接続さ
れ、切換弁14のNC−COM間が作動（ON）の時ポンプ15を
作動させると、試料を第１測定室３へ、また切換弁14の
NO−COM間が作動（ON）の時ポンプ15を作動させると試
料を第２測定室４へ各々導くことができる。その他の構
成は実施例１と同様である。また測定の動作も、試料を
第１測定室３または第２測定室４へ導く方法が異る他
は、全く同様である。
以上、本考案の実施例について、測定室が２系統ある
場合について述べたか、更に３系統以上の構成も可能で
ある。
場合について述べたか、更に３系統以上の構成も可能で
ある。
また、試料13は直接の未知試料、希釈等処理をされた
間接の未知試料または、校正の為に用いられる、イオン
濃度既知の試料のいづれの試料にも適用される。
間接の未知試料または、校正の為に用いられる、イオン
濃度既知の試料のいづれの試料にも適用される。
以上説明してきたように、本考案によると、測定室を
複数用いても、試料吸引ノズル及びそれを駆動するノズ
ル移送器は１組しか必要としない。さらに、試料を試料
吸引ノズルの位置へ移送する試料容器移送器も、１系列
分だけしか必要とせず、効率的にイオン濃度を測定し得
るイオン濃度自動分析装置を、提供することがてきる。
複数用いても、試料吸引ノズル及びそれを駆動するノズ
ル移送器は１組しか必要としない。さらに、試料を試料
吸引ノズルの位置へ移送する試料容器移送器も、１系列
分だけしか必要とせず、効率的にイオン濃度を測定し得
るイオン濃度自動分析装置を、提供することがてきる。
第１図は実施例１のイオン濃度自動分析装置の配置図、 第２図は実施例１の分析装置のノズル移送器、第１ポン
プ、第２ポンプの動作および電位測定点を示す線図、 第３図は実施例２のイオン濃度自動分析装置の配置図、 第４図は実施例２の分析装置のノズル移送器、ポンプ、
切換弁の動作を示す線図である。 １……試料吸引ノズル、２……分岐管 ３……第１測定室、４……第２測定室 ５……イオン選択電極、６……比較電極 ７……イオン選択電極、８……比較電極 ９……第１ポンプ、10……第２ポンプ 11……ノズル移送器、12……試料容器 13……試料、14……切換弁 15……ポンプ
プ、第２ポンプの動作および電位測定点を示す線図、 第３図は実施例２のイオン濃度自動分析装置の配置図、 第４図は実施例２の分析装置のノズル移送器、ポンプ、
切換弁の動作を示す線図である。 １……試料吸引ノズル、２……分岐管 ３……第１測定室、４……第２測定室 ５……イオン選択電極、６……比較電極 ７……イオン選択電極、８……比較電極 ９……第１ポンプ、10……第２ポンプ 11……ノズル移送器、12……試料容器 13……試料、14……切換弁 15……ポンプ
Claims (1)
- 【請求項１】測定イオン１種類について、それぞれイオ
ン選択電極を備えた複数の測定室と、試料容器から測定
室に供給された試料についてイオン選択電極からの検知
信号を演算して測定結果を表示する演算表示部を備えた
イオン濃度自動分析装置において、上記複数の測定室に
対し単一の試料吸引ノズルを備え、上記試料吸引ノズル
が分岐管または切換弁を介して、上記複数の測定室へ接
続する手段並びに試料容器から上記ノズルにより試料を
供給室へ供給し、排出する装置を備えたことを特徴とす
るイオン濃度自動分析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990108937U JP2502897Y2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | イオン濃度自動分析装置 |
| US07/776,770 US5322610A (en) | 1990-10-19 | 1991-10-18 | Automatic ion concentration analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990108937U JP2502897Y2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | イオン濃度自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0466573U JPH0466573U (ja) | 1992-06-11 |
| JP2502897Y2 true JP2502897Y2 (ja) | 1996-06-26 |
Family
ID=14497434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990108937U Expired - Lifetime JP2502897Y2 (ja) | 1990-10-19 | 1990-10-19 | イオン濃度自動分析装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5322610A (ja) |
| JP (1) | JP2502897Y2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AUPO855897A0 (en) | 1997-08-13 | 1997-09-04 | Usf Filtration And Separations Group Inc. | Automatic analysing apparatus II |
| AU758963B2 (en) * | 1997-08-13 | 2003-04-03 | Lifescan, Inc. | Method and apparatus for automatic analysis |
| AU781184B2 (en) * | 1997-08-13 | 2005-05-12 | Lifescan, Inc. | Method and apparatus for automatic analysis |
| JP7378628B2 (ja) * | 2020-07-31 | 2023-11-13 | 株式会社日立ハイテク | 電解質分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT391950B (de) * | 1988-03-28 | 1990-12-27 | Avl Verbrennungskraft Messtech | Vorrichtung zur messung von in einer probe vorliegenden probenbestandteilen |
| US5046496A (en) * | 1989-04-26 | 1991-09-10 | Ppg Industries, Inc. | Sensor assembly for measuring analytes in fluids |
-
1990
- 1990-10-19 JP JP1990108937U patent/JP2502897Y2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-10-18 US US07/776,770 patent/US5322610A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5322610A (en) | 1994-06-21 |
| JPH0466573U (ja) | 1992-06-11 |
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