JP7378628B2 - 電解質分析装置 - Google Patents
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Description
本発明の第1の実施の形態を図1~図5を参照しつつ詳細に説明する。
プローブ部22bが希釈槽23aまで下降し、試料を分注する。
本発明の第2の実施の形態を図6を参照しつつ説明する。
本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内の様々な変形例や組み合わせが含まれる。
なお、本発明は、上記の実施の形態で説明した全ての構成を備えるものに限定されず、その構成の一部を削除したものも含まれる。また、上記の各構成、機能等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等により実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。
Claims (5)
- サンプルプローブにより分注された試料を希釈する希釈槽と、前記希釈槽で希釈された試料中の特定のイオン濃度を測定するイオン選択性電極とをそれぞれ有する複数の電極部ユニットを備え、
前記複数の電極部ユニットのうち少なくとも1つの電極部ユニットは、
前記サンプルプローブの動作範囲の下方において前記希釈槽の上方にプローブ部が前記希釈槽まで下降するために設けられた開口部を有する着脱可能に配置された第1のカバーと、
前記第1のカバーとは別体で設けられ、前記サンプルプローブの動作範囲の下方とならない範囲において前記イオン選択性電極の上方を覆うように着脱可能に配置された第2のカバーとを有することを特徴とする電解質分析装置。 - 請求項1記載の電解質分析装置において、
前記複数の電極部ユニットは、前記試料を収容した検体容器から前記電極部ユニットに前記試料を分注する前記サンプルプローブの動線に沿って前記希釈槽が位置するように配置され、
前記複数の電極部ユニットのうち少なくとも前記検体容器に最も近い位置に配置された前記電極部ユニットは、前記第1のカバーと前記第2のカバーとを有することを特徴とする電解質分析装置。 - 請求項2記載の電解質分析装置において、
前記複数の電極部ユニットは、それぞれ前記第1のカバーと前記第2のカバーとを有することを特徴とする電解質分析装置。 - 請求項2記載の電解質分析装置において、
前記複数の電極部ユニットのうち前記検体容器から最も離れた位置に配置された前記電極部ユニットは、前記希釈槽と前記イオン選択性電極との上方に
プローブ部が前記希釈槽まで下降するために設けられた開口部を有し、その他の部分を一体的に覆うように配置された第3のカバーを有することを特徴とする電解質分析装置。 - 請求項2記載の電解質分析装置において、
前記サンプルプローブおよび前記電極部ユニットの動作を制御する制御装置を備え、
前記少なくとも1つの電極部ユニットは、前記第2のカバーを前記電極部ユニットに対して固定可能なインターロックを有し、
前記制御装置は、前記少なくとも1つの電極部ユニットが測定を停止している場合に、前記第2のカバーの前記電極部ユニットからの取り外しを許容するように前記インターロックを制御することを特徴とする電解質分析装置。
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