JP2022145547A - 光学素子 - Google Patents
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Abstract
Description
12 基板
14 光学構造
16 光電変換素子
18 第1の部分
20 第2の部分
21 入射光
22 カラーフィルタ
24 マイクロレンズ
26 平坦化層
26’ 平坦化層の上面
W1 上部幅
W2 底部幅
S1 右側壁
S2 左側壁
N 法線
α1、α2 角度
h 高さ
Sa 非球面
Sb 非球面
Sc 傾斜面
Sd 凹面
Se 平坦面
P1、P2、P3、P4、P5 画素
14a、14b、14c、14d、14e 光学構造
ψ 角度
12d 基板の中心
Mc 質量の中心
C 接続線
H 水平線
18’ 環状開口
18” 環状開口
18a、18b、18c、18d 四角柱
12a 第1の領域
12b 第2の領域
12c 第3の領域
12e 端部
h1 第1の高さ
h2 第2の高さ
h3 第3の高さ
Sa1、Sa2、Sa3 球面
c1 第1の曲率
c2 第2の曲率
c3 第3の曲率
Sc1、Sc2、Sc3 傾斜面
sp1 第1の傾斜
sp2 第2の傾斜
sp3 第3の傾斜
D1 距離
14e1 境界
16e 境界
19 第2の材料
28 加熱プロセス
d 間隙
30 エッチングプロセス
s1 第1の曲率
s2 第2の曲率
s3 第3の曲率
Claims (16)
- 複数の光電変換素子を含む基板、および
前記基板の上方に配置され、それぞれ1つの光電変換素子に対応する複数の光学構造を含み、各前記光学構造は、第1のガラス転移温度を有する第1の部分、および第2のガラス転移温度を有する第2の部分を含み、前記第2の部分は、入射光を前記光電変換素子に導き、前記第1のガラス転移温度は、前記第2のガラス転移温度より高い光学素子。 - 前記第1の部分および前記第2の部分は、同じ平面上に配置される請求項1に記載の光学素子。
- 前記第1のガラス転移温度は、350℃以下、70℃以上であり、前記第2のガラス転移温度は、300℃以下、50℃以上である請求項1に記載の光学素子。
- 前記第1の部分は、2.9以下、且つ1以上の屈折率を有し、前記第2の部分は、2.8以下、1.1以上の屈折率を有する請求項1に記載の光学素子。
- 前記第1の部分は、断面視で長方形、三角形、等脚台形、または不規則な台形を含み、前記第2の部分は、断面視で、平坦面、凸面、または凹面を有し、前記第1の部分は、上面視でU字形、L字形、曲面を有する不規則な形状、長方形、または三角形を含む請求項1に記載の光学素子。
- 前記第1の部分は前記第2の部分を囲み、前記第1の部分が、上面視で、円形の環状開口、正方形の環状開口、楕円形の環状開口、または非球面の環状開口を有する閉環状を含むとき、前記第2の部分は、前記第1の部分を部分的に覆う請求項1に記載の光学素子。
- 前記第1の部分が円柱、円錐、単一の四角柱、複数の四角柱、複数の四角柱の積層、または複数の円柱の積層を含むとき、前記第2の部分は前記第1の部分を完全に覆う請求項1に記載の光学素子。
- 前記基板は、前記基板の中心から端部までの第1の領域、第2の領域、および第3の領域を含み、前記第1の領域内に配置された各前記光学構造の前記第1の部分は第1の高さを有し、前記第2の領域内に配置された各前記光学構造の前記第1の部分は第2の高さを有し、前記第3の領域内に配置された各前記光学構造前記の第1の部分は第3の高さを有し、前記第3の高さは前記第2の高さより高く、前記第2の高さは前記第1の高さより高い請求項1に記載の光学素子。
- 前記基板は、前記基板の中心から端部までの第1の領域、第2の領域、および第3の領域を含み、各前記光学構造の前記第2の部分が球面を有するとき、前記第1の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第1の曲率を有し、前記第2の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第2の曲率を有し、前記第3の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は第3の曲率を有し、前記第3の曲率は前記第2の曲率より大きく、前記第2の曲率は前記第1の曲率より大きい請求項1に記載の光学素子。
- 前記基板は、前記基板の中心から端部までの第1の領域、第2の領域、および第3の領域を含み、各前記光学構造の前記第2の部分が傾斜面を有するとき、前記第1の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第1の傾斜を有し、前記第2の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第2の傾斜を有し、前記第3の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第3の傾斜を有し、前記第3の傾斜は前記第2の傾斜より大きく、前記第2の傾斜は前記第1の傾斜より大きい請求項1に記載の光学素子。
- 複数のカラーフィルタおよびマイクロレンズをさらに含み、前記カラーフィルタは、前記基板と前記光学構造との間に配置され、前記マイクロレンズは、前記カラーフィルタと前記光学構造の間に配置され、ウェハの中心に最も近い前記光電変換素子は第1の境界を有し、前記ウェハの前記中心に最も近い前記光学構造は第2の境界を有し、前記第1の境界と前記第2の境界はその間に距離を有する請求項1に記載の光学素子。
- 角度ψは、上面視で前記基板の中心を画素の前記光学構造の質量の中心と接続する接続線と、前記基板の中心を通過する水平線との間の角度として定義され、前記第1の部分が前記第2の部分を囲み、前記第1の部分が閉環状であるとき、前記角度ψが変わると、前記第1の部分は各画素で前記同じ相対位置を有し、前記第2の部分の位置は各画素で前記角度ψに伴って変わる請求項1に記載の光学素子。
- 角度ψは、上面視で前記基板の中心を画素の前記光学構造の質量の中心と接続する接続線と、前記前記基板の中心を通過する水平線との間の角度として定義され、前記第1の部分が柱状構造であり、前記第2の部分が前記第1の部分を完全に覆っているとき、前記角度ψが変わると、前記第1の部分と前記第2の部分は、各画素で前記角度ψに伴って異なる相対位置を有する請求項1に記載の光学素子。
- 基板を提供するステップ、
前記基板の上方に第1のガラス転移温度を有する第1の材料を形成するステップ、
前記基板の上方に前記第1のガラス転移温度が第2のガラス転移温度より高い、第2のガラス転移温度を有する第2の材料を形成するステップ、および
加熱プロセスを行い、複数の光学構造を形成するステップを含む光学素子を製造する方法。 - 前記加熱プロセスは、ランプ照射、レーザー照射、電気伝導、物理的エッチング、または化学的エッチングを含み、前記加熱プロセスは、異なるレベルの加熱エネルギーを適用するステップを含む請求項14に記載の光学素子を製造する方法。
- 前記加熱プロセスの前に前記第2の材料の体積または高さを調整し、前記加熱プロセスの後にエッチングプロセスを行うステップをさらに含む請求項14に記載の光学素子を製造する方法。
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TWI831413B (zh) * | 2022-10-12 | 2024-02-01 | 大陸商廣州立景創新科技有限公司 | 超穎透鏡以及影像感測器 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06326285A (ja) * | 1993-05-17 | 1994-11-25 | Sanyo Electric Co Ltd | マイクロレンズの製造方法 |
JP2002261261A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-13 | Toppan Printing Co Ltd | 撮像素子及びその製造方法 |
JP2004140426A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Kyocera Corp | 固体撮像装置 |
JP2007208059A (ja) * | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Fujifilm Corp | マイクロレンズ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子およびその製造方法 |
JP2007335723A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子用マイクロレンズ及びその製造方法 |
JP2009537032A (ja) * | 2006-05-12 | 2009-10-22 | エーピーアイ ナノファブリケーション アンド リサーチ コーポレーション | レンズアレイおよびその製造方法 |
JP2016118675A (ja) * | 2014-12-22 | 2016-06-30 | キヤノン株式会社 | マイクロレンズ及びその製造方法 |
WO2016190246A1 (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-01 | 凸版印刷株式会社 | イメージセンサおよびその製造方法 |
WO2020145218A1 (ja) * | 2019-01-10 | 2020-07-16 | 富士フイルム株式会社 | 構造体、固体撮像素子および画像表示装置 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4694185A (en) * | 1986-04-18 | 1987-09-15 | Eastman Kodak Company | Light sensing devices with lenticular pixels |
US6660988B2 (en) * | 2001-05-01 | 2003-12-09 | Innovative Technology Licensing, Llc | Detector selective FPA architecture for ultra-high FPA operability and fabrication method |
JP2003229553A (ja) * | 2002-02-05 | 2003-08-15 | Sharp Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
US7375892B2 (en) * | 2003-10-09 | 2008-05-20 | Micron Technology, Inc. | Ellipsoidal gapless microlens array and method of fabrication |
US7227692B2 (en) * | 2003-10-09 | 2007-06-05 | Micron Technology, Inc | Method and apparatus for balancing color response of imagers |
US7372497B2 (en) * | 2004-04-28 | 2008-05-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Effective method to improve sub-micron color filter sensitivity |
US7012754B2 (en) * | 2004-06-02 | 2006-03-14 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for manufacturing tilted microlenses |
US8599301B2 (en) * | 2006-04-17 | 2013-12-03 | Omnivision Technologies, Inc. | Arrayed imaging systems having improved alignment and associated methods |
US7978411B2 (en) * | 2007-05-08 | 2011-07-12 | Micron Technology, Inc. | Tetraform microlenses and method of forming the same |
US20090034083A1 (en) * | 2007-07-30 | 2009-02-05 | Micron Technology, Inc. | Method of forming a microlens array and imaging device and system containing such a microlens array |
US7623303B2 (en) * | 2007-10-23 | 2009-11-24 | National Tsing Hua University | Solid tunable micro optical device and method |
JP2009218341A (ja) * | 2008-03-10 | 2009-09-24 | Panasonic Corp | 固体撮像装置とその製造方法 |
US7928527B2 (en) * | 2008-06-04 | 2011-04-19 | International Business Machines Corporation | Delamination and crack resistant image sensor structures and methods |
TWI370264B (en) * | 2008-06-16 | 2012-08-11 | Univ Nat Sun Yat Sen | Method for manufacturing microlens array |
US8889455B2 (en) * | 2009-12-08 | 2014-11-18 | Zena Technologies, Inc. | Manufacturing nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor |
US8299554B2 (en) * | 2009-08-31 | 2012-10-30 | International Business Machines Corporation | Image sensor, method and design structure including non-planar reflector |
TWI636557B (zh) * | 2013-03-15 | 2018-09-21 | 新力股份有限公司 | Solid-state imaging device, manufacturing method thereof, and electronic device |
TWI699023B (zh) * | 2014-06-30 | 2020-07-11 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 發光裝置,模組,及電子裝置 |
US11231544B2 (en) * | 2015-11-06 | 2022-01-25 | Magic Leap, Inc. | Metasurfaces for redirecting light and methods for fabricating |
CN108476562B (zh) * | 2015-12-10 | 2020-01-21 | 王子控股株式会社 | 基板、光学元件、模具、有机发光元件、有机薄膜太阳能电池、以及基板的制造方法 |
TW201800459A (zh) * | 2015-12-18 | 2018-01-01 | 富士軟片股份有限公司 | 近紅外線吸收組成物、近紅外線截止濾波器、近紅外線截止濾波器的製造方法、固體攝像元件、照相機模組及圖像顯示裝置 |
WO2018061295A1 (ja) * | 2016-09-28 | 2018-04-05 | シャープ株式会社 | 光学機器およびカメラモジュール |
KR20180074308A (ko) * | 2016-12-23 | 2018-07-03 | 삼성전자주식회사 | 전자 소자 및 그 제조 방법 |
US10192916B2 (en) * | 2017-06-08 | 2019-01-29 | Visera Technologies Company Limited | Methods of fabricating solid-state imaging devices having flat microlenses |
KR102642282B1 (ko) * | 2017-07-12 | 2024-02-28 | 호야 가부시키가이샤 | 도광판 및 화상 표시 장치 |
JP2020052395A (ja) * | 2018-09-19 | 2020-04-02 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 光学素子、光学素子アレイ、レンズ群、電子機器、及び光学素子の製造方法 |
KR20220037069A (ko) * | 2020-09-17 | 2022-03-24 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
US11569291B2 (en) * | 2020-11-05 | 2023-01-31 | Visera Technologies Company Limited | Image sensor and method forming the same |
CN112406014B (zh) * | 2020-11-18 | 2022-12-20 | Oppo(重庆)智能科技有限公司 | 镜片组的制造方法、镜片组、镜头、成像模组和电子装置 |
-
2021
- 2021-12-28 US US17/563,664 patent/US20220302182A1/en active Pending
-
2022
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- 2022-03-08 TW TW111108331A patent/TWI817376B/zh active
- 2022-03-11 CN CN202210237921.4A patent/CN115117102A/zh active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06326285A (ja) * | 1993-05-17 | 1994-11-25 | Sanyo Electric Co Ltd | マイクロレンズの製造方法 |
JP2002261261A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-13 | Toppan Printing Co Ltd | 撮像素子及びその製造方法 |
JP2004140426A (ja) * | 2002-10-15 | 2004-05-13 | Kyocera Corp | 固体撮像装置 |
JP2007208059A (ja) * | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Fujifilm Corp | マイクロレンズ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子およびその製造方法 |
JP2009537032A (ja) * | 2006-05-12 | 2009-10-22 | エーピーアイ ナノファブリケーション アンド リサーチ コーポレーション | レンズアレイおよびその製造方法 |
JP2007335723A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Fujifilm Corp | 固体撮像素子用マイクロレンズ及びその製造方法 |
JP2016118675A (ja) * | 2014-12-22 | 2016-06-30 | キヤノン株式会社 | マイクロレンズ及びその製造方法 |
WO2016190246A1 (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-01 | 凸版印刷株式会社 | イメージセンサおよびその製造方法 |
WO2020145218A1 (ja) * | 2019-01-10 | 2020-07-16 | 富士フイルム株式会社 | 構造体、固体撮像素子および画像表示装置 |
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