JP7395632B2 - 光学素子 - Google Patents

光学素子 Download PDF

Info

Publication number
JP7395632B2
JP7395632B2 JP2022026506A JP2022026506A JP7395632B2 JP 7395632 B2 JP7395632 B2 JP 7395632B2 JP 2022026506 A JP2022026506 A JP 2022026506A JP 2022026506 A JP2022026506 A JP 2022026506A JP 7395632 B2 JP7395632 B2 JP 7395632B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical structure
optical
region
substrate
glass transition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2022026506A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022145547A (ja
Inventor
信宏 郭
翰林 ▲呉▼
大庸 倪
慶強 ▲呉▼
宗儒 塗
育淇 張
鴻仁 蔡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
VisEra Technologies Co Ltd
Original Assignee
VisEra Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by VisEra Technologies Co Ltd filed Critical VisEra Technologies Co Ltd
Publication of JP2022145547A publication Critical patent/JP2022145547A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7395632B2 publication Critical patent/JP7395632B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • H01L27/1461Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements characterised by the photosensitive area
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • G02B3/0043Inhomogeneous or irregular arrays, e.g. varying shape, size, height
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14632Wafer-level processed structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0012Arrays characterised by the manufacturing method
    • G02B3/0018Reflow, i.e. characterized by the step of melting microstructures to form curved surfaces, e.g. manufacturing of moulds and surfaces for transfer etching
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0012Arrays characterised by the manufacturing method
    • G02B3/0031Replication or moulding, e.g. hot embossing, UV-casting, injection moulding
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • G02B3/0056Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along two different directions in a plane, e.g. honeycomb arrangement of lenses
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0075Arrays characterized by non-optical structures, e.g. having integrated holding or alignment means
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/02Simple or compound lenses with non-spherical faces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • H01L27/14605Structural or functional details relating to the position of the pixel elements, e.g. smaller pixel elements in the center of the imager compared to pixel elements at the periphery
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Treatment Of Fiber Materials (AREA)

Description

本発明は、光学素子に関するものであり、特に、デュアル光学マイクロ構造を有する光学素子に関するものである。
カメラモジュールのレンズからの光線がCMOSイメージセンサ(CIS)に入射したとき、CISの端部に広い主光線角度(CRA)が存在することになる。CISのフォトダイオードが効率的に光を受光できないため、低光量条件下では色性能と画質は悪くなる。
デュアル光学マイクロ構造を有する光学素子を提供する。
本発明の一実施形態による、光学素子が提供される。光学素子は、基板および複数の光学構造を含む。基板は、複数の光電変換素子を含む。光学構造は基板の上方に配置される。各光学構造は、1つの光電変換素子に対応する。各光学構造は、第1の部分および第2の部分を含む。第1の部分は、第1のガラス転移温度を有する。第2の部分は、第2のガラス転移温度を有する。第2の部分は、入射光を光電変換素子に導く。第1のガラス転移温度は、第2のガラス転移温度より高い。
いくつかの実施形態では、第1の部分および第2の部分は、同じ平面上に配置される。
いくつかの実施形態では、第1の部分の第1のガラス転移温度は、350℃以下、70℃以上である。いくつかの実施形態では、第2の部分の第2のガラス転移温度は、300℃以下、50℃以上である。いくつかの実施形態では、第1の部分は、2.9以下、且つ1以上の屈折率を有する。いくつかの実施形態では、第2の部分は、2.8以下、1.1以上の屈折率を有する。
いくつかの実施形態では、第1の部分は、断面視で長方形、三角形、等脚台形、または不規則な台形を含む。いくつかの実施形態では、第2の部分は、断面視で非球面を有する。いくつかの実施形態では、第2の部分は、断面視で、平坦面、凸面、または凹面を有する。
いくつかの実施形態では、第1の部分は第2の部分を囲む。いくつかの実施形態では、第1の部分は、上面視で閉環状を含む。いくつかの実施形態では、第1の部分が閉環状であるとき、第1の部分は、上面視で、円形の環状開口、正方形の環状開口、楕円形の環状開口、または非球面の環状開口を含む。いくつかの実施形態では、第2の部分は、第1の部分を部分的に覆う。
いくつかの実施形態では、第1の部分は、上面視でU字形、L字形、曲面を有する不規則な形状、長方形、または三角形を含む。
いくつかの実施形態では、第1の部分が柱状構造を含むとき、第2の部分は第1の部分を完全に覆う。いくつかの実施形態では、第1の部分は、円柱、円錐、単一の四角柱、または複数の四角柱を含む。いくつかの実施形態では、第1の部分は、複数の四角柱の積層、または複数の円柱の積層を含む。
いくつかの実施形態では、基板は、基板の中心から端部までの第1の領域、第2の領域、および第3の領域を含む。いくつかの実施形態では、第1の領域内に配置された各光学構造の第1の部分は第1の高さを有し、第2の領域内に配置された各光学構造の第1の部分は第2の高さを有し、第3の領域内に配置された各光学構造の第1の部分は第3の高さを有し、第3の高さは第2の高さより高く、第2の高さは第1の高さより高い。いくつかの実施形態では、各光学構造の第2の部分が球面を有するとき、第1の領域内に配置された各光学構造の第2の部分は、第1の曲率を有し、第2の領域内に配置された各光学構造の第2の部分は、第2の曲率を有し、第3の領域内に配置された各光学構造の第2の部分は第3の曲率を有し、第3の曲率は第2の曲率より大きく、第2の曲率は第1の曲率より大きい。いくつかの実施形態では、各光学構造の第2の部分が傾斜面を有するとき、第1の領域内に配置された各光学構造の第2の部分は、第1の傾斜を有し、第2の領域内に配置された各光学構造の第2の部分は、第2の傾斜を有し、第3の領域内に配置された各光学構造の第2の部分は、第3の傾斜を有し、第3の傾斜は第2の傾斜より大きく、第2の傾斜は第1の傾斜より大きい。
いくつかの実施形態では、光電変換素子は第1の端部を有し、最も外側の光学構造は第2の端部を有し、第1の端部および第2の端部はその間に距離を有する。
いくつかの実施形態では、光学素子は、基板と光学構造との間に配置された複数のカラーフィルタをさらに含む。いくつかの実施形態では、光学素子は、カラーフィルタと光学構造との間に配置された複数のマイクロレンズをさらに含む。
いくつかの実施形態では、角度ψは、上面視で基板の中心を画素の光学構造の質量の中心と接続する接続線と、基板の中心を通過する水平線との間の角度として定義される。いくつかの実施形態では、第1の部分が第2の部分を囲み、第1の部分が閉環状であるとき、角度ψが変わると、第1の部分は各画素で同じ相対位置を有し、第2の部分の位置は各画素で角度ψに伴って変わる。いくつかの実施形態では、第1の部分が柱状構造であり、第2の部分が第1の部分を完全に覆っているとき、角度ψが変わると、第1の部分と第2の部分は、各画素で角度ψに伴って異なる相対位置を有する。
本発明の一実施形態による、光学素子を製造する方法が提供される。製造方法は以下のステップを含む。基板が提供される。第1のガラス転移温度を有する第1の材料が基板の上方に形成される。第2のガラス転移温度を有する第2の材料が基板の上方に形成される。第1のガラス転移温度は、第2のガラス転移温度より高い。加熱プロセスが複数の光学構造を形成するように行なわれる。
いくつかの実施形態では、加熱プロセスは、ランプ照射、レーザー照射、電気伝導、または液体溶解を含む。いくつかの実施形態では、液体溶解は、物理的エッチングまたは化学的エッチングを含む。いくつかの実施形態では、製造方法は、加熱プロセスの前に第2の材料の体積または高さを調整するステップをさらに含む。いくつかの実施形態では、加熱プロセスは、異なるレベルの加熱エネルギーを適用するステップを含む。いくつかの実施形態では、製造方法は、加熱プロセスの後にエッチングプロセスを行うステップをさらに含む。
本発明では、特定のデュアル光学マイクロ構造(調整可能な位置、プロファイル、寸法、および構成要素の組み合わせを有する)が、CMOSイメージセンサ(CIS)の光電変換素子の上方に配置される。デュアル光学マイクロ構造は、CISの受光効率を向上させ、クロストークを低減することができる。
以下、添付の図面と併せて本開示の実施形態を詳細に説明する。
本発明は、添付の図面を参照しながら以下の詳細な説明から、より完全に理解することができる。
図1は、本発明の一実施形態による光学素子の断面図を示している。 図2は、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分のプロファイルの断面図を示している。 図3Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分のプロファイルの断面図を示している。 図3Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分のプロファイルの断面図を示している。 図3Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分のプロファイルの断面図を示している。 図3Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分のプロファイルの断面図を示している。 図4Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第2の部分のプロファイルの断面図を示している。 図4Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第2の部分のプロファイルの断面図を示している。 図4Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第2の部分のプロファイルの断面図を示している。 図4Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第2の部分のプロファイルの断面図を示している。 図4Eは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第2の部分のプロファイルの断面図を示している。 図5は、本発明の一実施形態による画素の光学構造の配置の上面図を示している。 図6Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図6Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図6Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図6Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図7Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図7Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図7Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図7Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図8Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図8Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の断面図を示している。 図9は、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図10Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図10Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図10Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図10Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図11Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図11Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図11Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図11Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図12Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図12Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図12Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図12Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図13Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図13Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図13Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図13Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図13Eは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図14Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図14Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図14Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図14Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図15Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図15Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図16Aは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図16Bは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図16Cは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図16Dは、本発明の様々な実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図17Aは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図17Bは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図17Cは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図18Aは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図18Bは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の断面図を示している。 図18Cは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図19Aは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図19Bは、本発明の一実施形態による光学構造の第1の部分および第2の部分の配置の上面図を示している。 図20は、本発明の一実施形態による光学素子の断面図を示している。 図21は、本発明の一実施形態による光学素子の断面図を示している。 図22は、本発明の一実施形態による光学素子の断面図を示している。 図23は、本発明の一実施形態による光学素子の断面図を示している。 図24は、本発明の一実施形態による光学素子を製造する方法の断面図を示している。 図25は、本発明の一実施形態による光学素子を製造する方法の断面図を示している。 図26は、リフロー後の光学構造のAFMプロファイルを示している。 図27は、リフロー後の光学構造のAFMプロファイルを示している。 図28は、リフロー後の光学構造のAFMプロファイルを示している。
本発明の光学素子は、以下の説明で詳述される。以下の詳細な説明では、説明のために、多数の特定の詳細および実施形態が本開示の完全な理解を提供するために明記されている。以下の発明を実施するための形態で説明された特定の構成要素および構造は、本開示を明瞭に説明するために記述されている。しかしながら、本明細書で記述される例示的な実施形態は、単に説明のために用いられることは明らかであり、発明の概念は、これらの例示的な実施形態に限定されることなく、種々の形態で実施することができる。また、異なる実施形態の図面では、本開示を明瞭に説明するために、類似の番号および/または対応の番号を用いて、類似の構成要素および/または対応の構成要素を示すことができる。しかしながら、異なる実施形態の図面では、類似の番号および/または対応の番号の使用は、異なる実施形態間の相関関係を示唆するものではない。また、この明細書では、例えば、「第2の材料層上/第2の材料層の上方に配置された第1の材料層」などの表現は、第1の材料層および第2の材料層の直接接触を指すか、または第1の材料層と第2の材料層との間の1つ以上の中間層との非接触状態を指している。上述の状況では、第1の材料層は、第2の材料層に直接接触しなくてもよい。
また、この明細書では、関連する表現が用いられる。例えば、「より低い」、「底部」、「より高い」、または「上部」は、もう1つに対する1つの構成要素の位置を説明するのに用いられる。仮に装置が上下反転された場合、「より低い」側の構成要素は、「より高い」側の構成要素となる、ということが了解されるべきである。
特に定義されない限り、本明細書で使用される全ての技術的および科学的用語は、本発明が属する技術分野の当業者によって一般的に理解されるのと同じ意味を有する。さらに、いずれの場合も、一般的に使用される辞書に定義されているような用語は、本開示の関連技術および本開示の背景または文脈における意味と一致する意味を有するものと解釈されるべきであり、本明細書で明示的に定義されていない限り、理想化された、または過度に形式的な意味で解釈されるべきではない。
説明において、相対的な用語、例えば“下方”“上方”“水平”“垂直”“上の”“下の”“上”“下”“上部”“底部”などと、その派生語(例えば“水平に”“下方に”“上方に”など)は、記述されるように、または、議論において図面に示されるように、方向を示すものとして解釈されるべきである。これらの関連用語は、説明の便宜上のためのものであり、装置が特定の方向で構成される、または動作されることを必要とするものではない。「接合された」または「相互接続された」などの接合、結合などに関連する用語は、特に記述されない限り、構造が直接または間接的に中間構造によって、互いに固定または接合された関係を示し、2つの構造が可動、または強固に接合された関係を示してもよい。
第1、第2、第3などの用語は、ここでは各種の素子、構成要素、領域、層、および/または部分を説明するのに用いられることができ、これらの素子、構成要素、領域、層、および/または部分は、これらの用語によって制限されてはならない。これらの用語は単に一素子、構成要素、領域、層、および/または部分を識別するのに用いられることは理解される。従って、第1の素子、構成要素、領域、層、および/または部分は、例示的な実施形態の技術から逸脱しない限りにおいては、第2の素子、構成要素、領域、層、および/または部分と呼ばれてもよい。
ここでは、「約」、「およそ」、および「実質的に」という用語は、一般的に、記載されている値または範囲の+/-20%を意味し、一般的に、記載されている値または範囲の+/-10%を意味し、一般的に、記載されている値または範囲の+/-5%を意味し、一般的に、記載されている値または範囲の+/-3%を意味し、一般的に、記載されている値または範囲の+/-2%を意味し、一般的に、記載されている値または範囲の+/-1%を意味し、且つ一般的に、記載されている値または範囲の+/-0.5%を意味する。本開示の記載値は、近似値である。即ち、「約」、「およそ」、および「実質的に」の具体的な説明がない場合は、「約」、「およそ」、および「実質的に」の意味が暗示され得る。
以下の説明は、本発明を実行するための最良の態様のものである。この説明は、本発明の一般的な原理を例示する目的のものであり、本発明を限定するものではない。本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲を参考にして決定される。
図1に示すように、本発明の一実施形態による光学素子10が提供される。図1は、光学素子10の断面図を示している。
図1に示されるように、光学素子10は、基板12および複数の光学構造14を含む。基板12は、複数の光電変換素子16を含む。光学構造14は、基板12の上方に配置される。各光学構造14は、1つの光電変換素子16に対応する。各光学構造14は、第1の部分18および第2の部分20を含む。第1の部分18は、第1のガラス転移温度を有する。第2の部分20は、第2のガラス転移温度を有する。第2の部分20は、入射光21を光電変換素子16に導く。第1のガラス転移温度は第2のガラス転移温度より高い。
いくつかの実施形態では、光学素子10は、基板12と光学構造14の間に配置された複数のカラーフィルタ22を任意に含む。いくつかの実施形態では、光学素子10は、カラーフィルタ22と光学構造14の間に配置された複数のマイクロレンズ24を任意に含む。いくつかの実施形態では、光学素子10は、マイクロレンズ24と光学構造14の間に配置された平坦化層26を任意に含む。
いくつかの実施形態では、第1の部分18および第2の部分20は同一平面上に配置され、例えば、第1の部分18および第2の部分20は平坦化層26上に配置される。
いくつかの実施形態では、第1の部分18の第1のガラス転移温度は、約350℃以下で約70℃以上である。いくつかの実施形態では、第2の部分20の第2のガラス転移温度は、約300℃以下で約50℃以上である。第1の部分18と第2の部分20の間のガラス転移温度が異なるため、第1の部分18の材料は、第2の部分20の材料とは異なる。いくつかの実施形態では、第1の部分18は、約2.9以下、約1以上の屈折率を有する。いくつかの実施形態では、第2の部分20は、約2.8以下、約1.1以上の屈折率を有する。
図2に示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18のプロファイルが提供される。図2は、光学構造14の第1の部分18のプロファイルの断面図を示している。光学構造14の第1の部分18のプロファイルと関連する寸法、例えば、上部幅、下部幅、高さ、および側壁と法線との間の角度との間の関係がこの図に示されている。
図2に示されるように、例えば、平坦化層26上に配置された第1の部分18は例示的なものである。第1の部分18の上部幅は「W1」として表される。第1の部分18の底部幅は「W2」として表される。第1の部分18の右側壁S1と平坦化層26の上面26’の法線Nとの間の角度は「α1」として表される。第1の部分18の左側壁S2と平坦化層26の上面26’の法線Nとの間の角度は「α2」として表される。第1の部分18の高さは「h」として表される。いくつかの実施形態では、第1の部分18の上部幅「W1」は、約500nm以下で約ゼロ以上である。いくつかの実施形態では、第1の部分18の底部幅「W2」は、約500nm以下で約10nm以上である。いくつかの実施形態では、第1の部分18の右側壁S1と平坦化層26の上面26’の法線Nとの間の角度「α1」は、約90度以下で約0度以上である。いくつかの実施形態では、第1の部分18の左側壁S2と平坦化層26の上面26’の法線Nとの間の角度「α2」は、約90度以下で約0度以上である。いくつかの実施形態では、第1の部分18の高さ「h」は、約50nm以上である。上記の寸法(即ち、上部幅、下部幅、高さ、および側壁と法線間の角度)は、第1の部分18のプロファイルを決定する。
図3A~図3Dに示すように、本発明の様々な実施形態による光学構造14の第1の部分18の様々なプロファイルが提供されている。図3A~図3Dは、光学構造14の第1の部分18のプロファイルの断面図を示している。
いくつかの実施形態では、W1=W2およびα1=α2=0のとき、第1の部分18は、図3Aに示されるように、断面視で長方形のプロファイルを示す。
いくつかの実施形態では、W1=0およびα1=α2のとき、第1の部分18は、図3Bに示されるように、断面視で三角形のプロファイルを示す。
いくつかの実施形態では、W2>W1>0およびα1=α2のとき、第1の部分18は、図3Cに示されるように、断面視で等脚台形のプロファイルを示す。
いくつかの実施形態では、W2>W1>0およびα1≠α2のとき、第1の部分18は、図3Dに示されるように、断面視で不規則な台形のプロファイルを示す。
図4A~図4Dに示されるように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第2の部分20の様々なプロファイルが提供される。図4A~図4Dは、光学構造14の第2の部分20のプロファイルの断面図を示す。
いくつかの実施形態では、図4Aに示されるように、第2の部分20は、断面図でより大きな曲率を有する非球面「Sa」(凸面)のプロファイルを有する。
いくつかの実施形態では、図4Bに示されるように、第2の部分20は、断面視で「Sa」に対してより小さな曲率を有する非球面「Sb」(凸面)のプロファイルを有する。即ち、第2の部分20は、異なる曲率を有する非球面を含む。
いくつかの実施形態では、図4Cに示されるように、第2の部分20は、断面視で傾斜面「Sc」のプロファイルを有する。
いくつかの実施形態では、図4Dに示されるように、第2の部分20は、断面視で凹面「Sd」のプロファイルを有する。
いくつかの実施形態では、図4Eに示されるように、第2の部分20は、断面視で平坦面「Se」のプロファイルを有する。
図5に示されるように、本発明の一実施形態によれば、画素(例えば、P1、P2、P3、P4、およびP5が例示的である)で光学構造(例えば、14a、14b、14c、14d、および14eが例示的である)の様々な配置が提供されている。図5は、画素の光学構造の配置の上面図を示している。
図5に示されるように、光学構造(14a、14b、14c、14dおよび14e)は、基板12上に配置される。画素P2は、角度ψを定義するための例示的なものである。角度ψは、基板12の中心12dを画素P2の光学構造14bの質量の中心Mcと接続する接続線Cと、基板12の中心12dを通過する水平線Hとの間の角度として定義される。図5では、第1の部分18は、第2の部分20を囲み、第1の部分18は、閉環状(closed ring)である。角度ψが変わると、光学構造(14a、14b、14c、14d、または14e)の第1の部分18は、各画素で同じ相対位置を有し、光学構造(14a、14b、14c、14d、または14e)の第2の部分20の位置は、各画素で角度ψに伴って変わる。例えば、画素P1では、角度ψは0度であり、光学構造14aは、ψ= 0°となるように配置されている。画素P2では、角度ψは45度であり、光学構造14bは、ψ=45°となるように配置されている。画素P3では、角度ψは90度であり、光学構造14cは、ψ=90°となるように配置されている。画素P4では、角度ψは135度であり、光学構造14dは、ψ=135°となるように配置されている。画素P5では、角度ψは180度であり、光学構造14eは、ψ=180°となるように配置されている。
いくつかの実施形態では、第1の部分が柱状構造であり、第2の部分が第1の部分を完全に覆ったとき、角度ψが変わると、光学構造の第1の部分と第2の部分は、各画素(図示せず)の角度ψとは異なる相対位置を有する。
図6A~図6Dに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の様々な配置が提供される。図6A~図6Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図6A~図6Dでは、第1の部分18は、第2の部分20を囲み、第1の部分18は、閉環状、例えば、正方形の環状開口18’を有する閉環状を含む。第2の部分20は、第1の部分18を部分的に覆う。
角度ψが0度のときの光学構造14の配置が図6Aに示される。 角度ψが増加すると、第2の部分20の位置が変わる。
角度ψが30度に増加されたときの光学構造14の配置が図6Bに示される。
角度ψが45度に増加されたときの光学構造14の配置が図6Cに示される。
角度ψが90度に増加されたときの光学構造14の配置が図6Dに示される。
図7A~図7Dに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の様々な配置が提供される。図7A~図7Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図7A~図7Dでは、第1の部分18は、第2の部分20を囲み、第1の部分18は、閉環状、例えば、円形の環状開口18’’を有する閉環状を含む。第2の部分20は、第1の部分18を部分的に覆う。
角度ψが0度のときの光学構造14の配置が図7Aに示される。 角度ψが増加すると、第2の部分20の位置が変わる。
角度ψが30度に増加されたときの光学構造14の配置が図7Bに示される。
角度ψが45度に増加されたときの光学構造14の配置が図7Cに示される。
角度ψが90度に増加されたときの光学構造14の配置が図7Dに示される。
いくつかの実施形態では、第1の部分18が閉環状を含むとき、その中に形成された他の開口の形状、例えば、楕円形の環状開口または非球面の環状開口も適用可能である。
図8Aおよび図8Bに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図8Aは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。図8Bは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の断面図を示している。
図8Aおよび図8Bでは、第1の部分18は、側壁S1およびS2を含む尖った構造(pointed structure)である。第1の部分18は、第2の部分20を囲み、第1の部分18は、閉環状、例えば、正方形の環状開口18’を有する閉環状を含む。第2の部分20は、第1の部分18を部分的に覆う。
図8Aは、光学構造14の配置を示しており、角度ψは90度である。
図9に示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図9は、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図9では、第1の部分18は、側壁S1およびS2を含む尖った構造である。第1の部分18は、第2の部分20を囲み、第1の部分18は、閉環状、例えば、円形の環状開口18”を有する閉環状を含む。第2の部分20は、第1の部分18を部分的に覆う。
図9は、光学構造14の配置を示しており、角度ψは90度である。
図10A~図10Dに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図10A~図10Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図10Aでは、第1の部分18はU字形を含み、角度ψは0度である。角度ψが増加すると、第1の部分18の形状および位置が変わる。例えば、図10Bでは、角度ψが30度に増加されたとき、第1の部分18はL字形に変わる。図10Cでは、角度ψが45度に増加されたとき、第1の部分18はL字形のままである。図10Dでは、角度ψが90度に増加されたとき、第1の部分18はU字形に戻る。
図11A~図11Dに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図11A~図11Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図11Aでは、第1の部分18は曲面を有する不規則な形状を含み、角度ψは0度である。角度ψが増加すると(例えば、ψ=30°、45°、および90°)、図11B(ψ=30°)、図11C(ψ=45°)、および図11D(ψ= 90°)に示すように、第1の部分18の形状および位置が変わる。
図12A~図12Dに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図12A~図12Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図12Aでは、第1の部分18は長方形を含み、角度ψは0度である。角度ψが増加すると、第1の部分18の形状および位置が変わる。例えば、図12Bでは、角度ψが330度に増加されたとき、第1の部分18は三角形に変わる。図12Cでは、角度ψが315度に増加されたとき、第1の部分18は三角形のままである。図12Dでは、角度ψが270度に増加されたとき、第1の部分18は長方形に戻る。
図13A~図13Eに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図13A~図13Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。図13Eは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の断面図を示している。
図13A~図13Eでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、円柱を含む。
角度ψが0度のときの光学構造14の配置が図13Aに示される。 角度ψが増加すると、第2の部分18および第2の部分20の位置が変わる。
角度ψが30度に増加されたときの光学構造14の配置が図13Bに示される。
角度ψが45度に増加されたときの光学構造14の配置が図13Cに示される。
角度ψが90度に増加されたときの光学構造14の配置が図13Dに示される。
図14A~図14Dに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の様々な配置が提供される。図14A~図14Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図14A~図14Dでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、単一の四角い柱を含む。
角度ψが0度のときの光学構造14の配置が図14Aに示される。 角度ψが増加すると、第2の部分18および第2の部分20の位置が変わる。
角度ψが30度に増加されたときの光学構造14の配置が図14Bに示される。
角度ψが45度に増加されたときの光学構造14の配置が図14Cに示される。
角度ψが90度に増加されたときの光学構造14の配置が図14Dに示される。
図15Aに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図15Aは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図15Aでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の四角柱を含む。四角柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図15Aでは、互いに接続された3つの四角柱(18a、18b、および18c)を含む第1の部分18は例示的なものである。第2の部分20は、リフロー前の四角柱構造を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図15Aに示され、角度ψは0度である。
図15Bに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図15Bは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図15Bでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆う。第1の部分18は、単一の四角柱を含む。第2の部分20は、リフロー前の複数の四角柱構造を含む(図示せず)。四角柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができ、例えば、3つの四角柱は互いに連結されている。リフロー後の光学構造14の配置は図15Bに示され、角度ψは0度である。
図16A~図16Dに示すように、本発明の様々な実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の様々な配置が提供される。図16A~図16Dは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図16A~図16Dでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、単一の四角い柱を含む。第2の部分20は、リフロー前の複数の分離された構造を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図16A~図16Dに示されている。
角度ψが0度のときの光学構造14の配置が図16Aに示される。 角度ψが増加すると、第2の部分18および第2の部分20の位置が変わる。
角度ψが30度に増加されたときの光学構造14の配置が図16Bに示される。
角度ψが45度に増加されたときの光学構造14の配置が図16Cに示される。
角度ψが90度に増加されたときの光学構造14の配置が図16Dに示される。
図17Aに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図17Aは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図17Aでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の四角柱を含む。四角柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図17Aでは、互いに分離された4つの四角柱(18a、18b、18c、および18d)を含む第1の部分18は例示的なものである。第2の部分20は、リフロー前の複数の分離された構造を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図17Aに示され、角度ψは0度である。
図17Bに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図17Bは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図17Bでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の四角柱を含む。四角柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図17Bでは、互いに分離された4つの四角柱(18a、18b、18c、および18d)を含む第1の部分18は例示的なものである。第2の部分20は、リフロー前のL字形を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図17Bに示され、角度ψは30度である。
図17Cに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図17Cは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図17Cでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の四角柱を含む。四角柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図17Cでは、互いに分離された4つの四角柱(18a、18b、18c、および18d)を含む第1の部分18は例示的なものである。第2の部分20は、リフロー前の2つの分離された長方形を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図17Cに示され、角度ψは45度である。
図18Aおよび図18Bに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図18Aは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。図18Bは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の断面図を示している。
図18Aおよび図18Bでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の四角柱の積層を含む。四角柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図18Aおよび図18Bでは、互いに積み重ねられた3つの四角柱(18a、18b、および18c)を含む第1の部分18は例示的なものである。3つの四角柱は、同じまたは異なる材料および屈折率を有し得る。第2の部分20は、リフロー前の四角柱構造を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図18Aに示され、角度ψは0度である。
図18Cに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図18Cは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図18Cでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の四角柱の積層を含む。四角柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図18Cでは、互いに積み重ねられた3つの四角柱(18a、18b、および18c)を含む第1の部分18は例示的なものである。3つの四角柱は、同じまたは異なる材料および屈折率を有し得る。第2の部分20は、リフロー前の円柱状構造を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図18Cに示され、角度ψは0度である。
図19Aに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図19Aは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図19Aでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の円柱の積層を含む。円柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図19Aでは、互いに積み重ねられた3つの円柱(18a、18b、および18c)を含む第1の部分18は例示的なものである。3つの円柱は、同じまたは異なる材料および屈折率を有し得る。第2の部分20は、リフロー前の四角柱構造を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図19Aに示され、角度ψは0度である。
図19Bに示すように、本発明の一実施形態によれば、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置が提供される。図19Bは、光学構造14の第1の部分18および第2の部分20の配置の上面図を示している。
図19Bでは、第2の部分20は、第1の部分18を完全に覆い、第1の部分18は、複数の円柱の積層を含む。円柱の数は、2つ、3つ、またはそれ以上であることができる。図19Bでは、互いに積み重ねられた3つの円柱(18a、18b、および18c)を含む第1の部分18は例示的なものである。3つの円柱は、同じまたは異なる材料および屈折率を有し得る。第2の部分20は、リフロー前の円柱状構造を含む(図示せず)。リフロー後の光学構造14の配置は図19Bに示され、角度ψは0度である。
図20に示すように、本発明の一実施形態によれば、光学素子10が提供される。図20は、光学素子10の断面図を示している。
いくつかの実施形態では、第1の部分18が柱状構造であるとき、第2の部分20は第1の部分18を完全に覆う。いくつかの実施形態では、柱状構造は、円柱、円錐、単一の四角柱、または複数の四角柱を含む。いくつかの実施形態では、柱状構造は、複数の四角柱の積層または複数の円柱の積層を含む。
図20に示されるように、基板12は、基板12の中心12dから端部12eまでの第1の領域12a、第2の領域12b、および第3の領域12cを含む。図20では、第1の領域12a内に配置された各光学構造14の第1の部分18は、第1の高さh1を有する。第2の領域12b内に配置された各光学構造14の第1の部分18は、第2の高さh2を有する。第3の領域12c内に配置された各光学構造14の第1の部分18は、第3の高さh3を有する。具体的には、第3の高さh3は第2の高さh2より高く、第2の高さh2は第1の高さh1より高い。
図21に示すように、本発明の一実施形態によれば、光学素子10が提供される。図21は、光学素子10の断面図を示している。
図21に示されるように、基板12は、基板12の中心12dから端部12eまでの第1の領域12a、第2の領域12b、および第3の領域12cを含む。図21では、第1の領域12a内に配置された各光学構造14の第2の部分20の球面Sa1は、第1の曲率c1を有する。第2の領域12b内に配置された各光学構造14の第2の部分20の球面Sa2は、第2の曲率c2を有する。第3の領域12c内に配置された各光学構造14の第2の部分20の球面Sa3は、第3の曲率c3を有する。具体的には、第3の曲率c3は第2の曲率c2より大きく、第2の曲率c2は第1の曲率c1より大きい。
図22に示すように、本発明の一実施形態によれば、光学素子10が提供される。図22は、光学素子10の断面図を示している。
図22に示されるように、基板12は、基板12の中心12dから端部12eまでの第1の領域12a、第2の領域12b、および第3の領域12cを含む。図22では、第1の領域12a内に配置された各光学構造14の第2の部分20の傾斜面Sc1は、第1の傾斜sp1を有する。第2の領域12b内に配置された各光学構造14の第2の部分20の傾斜面Sc2は、第2の傾斜sp2を有する。第3の領域12c内に配置された各光学構造14の第2の部分20の傾斜面Sc3は、第3の傾斜sp3を有する。具体的には、第3の傾斜sp3は第2の傾斜sp2より大きく、第2の傾斜sp2は第1の傾斜sp1より大きい。
図23に示すように、本発明の一実施形態によれば、光学素子10が提供される。図23は、光学素子10の断面図を示している。
図23では、ウェハの中心に最も近い光電変換素子16は、境界16eを有する。ウェハの中心に最も近い光学構造14は、境界14e1を有する。具体的には、ウェハの中心に最も近い光電変換素子16の境界16eと、ウェハの中心に最も近い光学構造14の境界14e1は、その間に距離D1を有する。
図24に示すように、本発明の一実施形態によれば、光学素子10を製造する方法が提供される。図24は、製造方法の断面図を示している。
図24に示されるように、基板12が提供される。次に、第1のガラス転移温度を有する第1の材料18が基板12の上方に形成される。次に、第2のガラス転移温度を有する第2の材料19が基板12の上方に形成される。第1のガラス転移温度は、第2のガラス転移温度より高い。次に、加熱プロセス28は、第1の部分18および第2の部分20を含む複数の光学構造14を形成するように行われる。このように、光学素子10の製造が完了する。
いくつかの実施形態では、加熱プロセス28は、ランプ照射、レーザー照射、電気伝導、または液体溶解を含む。いくつかの実施形態では、液体溶解は、物理的エッチングまたは化学的エッチングを含む。
いくつかの実施形態では、製造方法は、加熱プロセス28の前に第2の材料19の体積を調整するステップをさらに含む。いくつかの実施形態では、第2の材料19が同じ高さを有するとき、異なる体積を調整することにより、加熱プロセス28の後、異なる曲率を有する第2の部分20が得られる。例えば、体積が大きいほど曲率は小さくなる。
いくつかの実施形態では、製造方法は、加熱プロセス28の前に第2の材料19の高さを調整するステップをさらに含む。いくつかの実施形態では、第2の材料19が同じ体積を有するとき、異なる高さを調整することにより、加熱プロセス28の後、異なる曲率を有する第2の部分20が得られる。例えば、高さが低いほど曲率は小さくなる。
いくつかの実施形態では、加熱プロセス28は、異なるレベルの加熱エネルギーを適用するプロセスを含む。いくつかの実施形態では、第2の材料19が同じ高さおよび体積を有するとき、異なる加熱エネルギーを適用することにより、異なる曲率を有する第2の部分20が得られる。例えば、加熱エネルギーが大きいほど曲率は小さくなる。
図25に示すように、製造方法は、加熱プロセス28の後、エッチングプロセス30を行うステップをさらに含む。いくつかの実施形態では、加熱プロセス28の後、隣接する光学構造14の間に間隙dが存在する。エッチングプロセス30は間隙dをなくし、それにより隣接する光学構造14が接近し、最良の外観を有することができる。
実施例1
リフロー後の光学構造のAFMプロファイル(1)
実施例1のプロセスは、図24と同様であり、例えば、基板が提供される。次に、第1の材料が基板の上方に形成される。次に、第2の材料が基板の上方に形成される。次に、低温での加熱プロセス(即ち、リフロープロセス)が行なわれ、図26に示されるように、第1の部分18および第2の部分20を含む複数の光学構造14を形成する。図26は、リフロー後の光学構造14の原子間力顕微鏡(AFM)プロファイルを示している。図26(図4Bに匹敵)では、各光学構造14の第2の部分20の表面は、第1の曲率s1を有する。
実施例2
リフロー後の光学構造のAFMプロファイル(2)
実施例2のプロセスは、図24と同様であり、基板が提供された。次に、第1の材料が基板の上方に形成される。次に、第2の材料が基板の上方に形成される。次に、中温(即ち、実施例1より高い温度)での加熱プロセス(即ち、リフロープロセス)が行われ、図27に示されるように、第1の部分18および第2の部分20を含む複数の光学構造14を形成する。図27は、リフロー後の光学構造14の原子間力顕微鏡(AFM)プロファイルを示している。図27では、各光学構造14の第2の部分20の表面は、第2の曲率s2を有する。
実施例3
リフロー後の光学構造のAFMプロファイル(3)
実施例3のプロセスは、図24と同様であり、基板が提供された。次に、第1の材料が基板の上方に形成される。次に、第2の材料が基板の上方に形成される。次に、高温(即ち、実施例2より高い温度)での加熱プロセス(即ち、リフロープロセス)が行われ、図28に示されるように、第1の部分18および第2の部分20を含む複数の光学構造14を形成する。図28は、リフロー後の光学構造14の原子間力顕微鏡(AFM)プロファイルを示している。図28(図4Cに匹敵)では、各光学構造14の第2の部分20の表面は、第3の曲率s3を有する。その結果、第1の曲率s1(低温リフローで形成された)は第2の曲率s2(中温リフローで形成された)より大きく、第2の曲率s2は第3の曲率s3(高温リフローで形成された)より大きくなる。
本発明では、特定のデュアル光学マイクロ構造(調整可能な位置、プロファイル、寸法、および構成要素の組み合わせを有する)が、CMOSイメージセンサ(CIS)の光電変換素子の上方に配置される。デュアル光学マイクロ構造は、CISの受光効率を向上させ、クロストークを低減することができる。
本開示のいくつかの実施形態およびそれらの利点が詳細に記載されているが、添付の特許請求の範囲によって定義されるように、本開示の精神および範囲を逸脱せずに、本明細書において種々の変更、置換、および代替をすることができることを理解すべきである。例えば、本明細書で述べられる特徴、機能、プロセス、および材料の多くが本開示の範囲を逸脱することなく変更できることが当業者にとっては容易に理解されるだろう。また、本出願の範囲は、本明細書中に述べられたプロセス、機械、製造、物質の組成、手段、方法、および動作の特定の実施形態に限定されることを意図するものではない。当業者が本開示の開示から容易に理解するように、本明細書で述べられた対応する実施形態と、実質的に同様の機能を実行するか、または実質的に同様の結果を達成する、現存の、または後に開発される、開示、プロセス、機械、製造、物質の組成、手段、方法、または動作ステップが本開示に従って利用され得る。よって、添付の特許請求の範囲は、上述のプロセス、機械、製造、物質の組成、手段、方法、または動作を含むように意図される。
10 光学素子
12 基板
14 光学構造
16 光電変換素子
18 第1の部分
20 第2の部分
21 入射光
22 カラーフィルタ
24 マイクロレンズ
26 平坦化層
26’ 平坦化層の上面
W1 上部幅
W2 底部幅
S1 右側壁
S2 左側壁
N 法線
α1、α2 角度
h 高さ
Sa 非球面
Sb 非球面
Sc 傾斜面
Sd 凹面
Se 平坦面
P1、P2、P3、P4、P5 画素
14a、14b、14c、14d、14e 光学構造
ψ 角度
12d 基板の中心
Mc 質量の中心
C 接続線
H 水平線
18’ 環状開口
18” 環状開口
18a、18b、18c、18d 四角柱
12a 第1の領域
12b 第2の領域
12c 第3の領域
12e 端部
h1 第1の高さ
h2 第2の高さ
h3 第3の高さ
Sa1、Sa2、Sa3 球面
c1 第1の曲率
c2 第2の曲率
c3 第3の曲率
Sc1、Sc2、Sc3 傾斜面
sp1 第1の傾斜
sp2 第2の傾斜
sp3 第3の傾斜
D1 距離
14e1 境界
16e 境界
19 第2の材料
28 加熱プロセス
d 間隙
30 エッチングプロセス
s1 第1の曲率
s2 第2の曲率
s3 第3の曲率

Claims (14)

  1. 複数の光電変換素子を含む基板、および
    前記基板の上方に配置され、それぞれ1つの光電変換素子に対応する複数の光学構造を含み、各前記光学構造は、第1のガラス転移温度を有する第1の部分、および第2のガラス転移温度を有する第2の部分を含み、前記第1の部分は側面を有し、前記複数の光学構造の各々の間は、前記第1の部分の側面により画定され、前記第2の部分は前記第1の部分の側面に接触して設けられ、断面視で前記第1の部分の幅は前記第2の部分の幅より小さく、前記第2の部分は、入射光を前記光電変換素子に導き、前記第1のガラス転移温度は、前記第2のガラス転移温度より高い光学素子。
  2. 前記第1の部分および前記第2の部分は、同じ平面上に配置される請求項1に記載の光学素子。
  3. 前記第1のガラス転移温度は、350℃以下、70℃以上であり、前記第2のガラス転移温度は、300℃以下、50℃以上である請求項1に記載の光学素子。
  4. 前記第1の部分は、2.9以下、且つ1以上の屈折率を有し、前記第2の部分は、2.8以下、1.1以上の屈折率を有する請求項1に記載の光学素子。
  5. 前記第1の部分は、断面視で長方形、三角形、等脚台形、または不規則な台形を含み、前記第2の部分は、断面視で、平坦面、凸面、または凹面を有し、前記第1の部分は、上面視でU字形、L字形、曲面を有する不規則な形状、長方形、または三角形を含む請求項1に記載の光学素子。
  6. 前記第1の部分は前記第2の部分を囲み、前記第1の部分が、上面視で、円形の環状開口、正方形の環状開口、楕円形の環状開口、または非球面の環状開口を有する閉環状を含、前記第2の部分は、前記第1の部分を部分的に覆う請求項1に記載の光学素子。
  7. 前記基板は、前記基板の中心から端部までの第1の領域、第2の領域、および第3の領域を含み、前記第1の領域内に配置された各前記光学構造の前記第1の部分は第1の高さを有し、前記第2の領域内に配置された各前記光学構造の前記第1の部分は第2の高さを有し、前記第3の領域内に配置された各前記光学構造前記の第1の部分は第3の高さを有し、前記第3の高さは前記第2の高さより高く、前記第2の高さは前記第1の高さより高い請求項1に記載の光学素子。
  8. 前記基板は、前記基板の中心から端部までの第1の領域、第2の領域、および第3の領域を含み、各前記光学構造の前記第2の部分が球面を有するとき、前記第1の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第1の曲率を有し、前記第2の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第2の曲率を有し、前記第3の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は第3の曲率を有し、前記第3の曲率は前記第2の曲率より大きく、前記第2の曲率は前記第1の曲率より大きい請求項1に記載の光学素子。
  9. 前記基板は、前記基板の中心から端部までの第1の領域、第2の領域、および第3の領域を含み、各前記光学構造の前記第2の部分が傾斜面を有するとき、前記第1の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第1の傾斜を有し、前記第2の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第2の傾斜を有し、前記第3の領域内に配置された各前記光学構造の前記第2の部分は、第3の傾斜を有し、前記第3の傾斜は前記第2の傾斜より大きく、前記第2の傾斜は前記第1の傾斜より大きい請求項1に記載の光学素子。
  10. 複数のカラーフィルタおよびマイクロレンズをさらに含み、前記カラーフィルタは、前記基板と前記光学構造との間に配置され、前記マイクロレンズは、前記カラーフィルタと前記光学構造の間に配置され、前記基板の中心に最も近い前記光電変換素子は第1の境界を有し、前記基板の前記中心に最も近い前記光学構造は第2の境界を有し、前記第1の境界と前記第2の境界はその間に距離を有する請求項1に記載の光学素子。
  11. 複数の光電変換素子を含む基板、および
    前記基板の上方に配置され、それぞれ1つの光電変換素子に対応する複数の光学構造を含み、各前記光学構造は、第1のガラス転移温度を有する第1の部分、および第2のガラス転移温度を有する第2の部分を含み、前記第1の部分は側面を有し、前記複数の光学構造の各々の間は、前記第1の部分の側面により画定され、前記第2の部分は前記第1の部分の側面に接触して設けられ、断面視で前記第1の部分の幅は前記第2の部分の幅より小さく、前記第2の部分は、入射光を前記光電変換素子に導き、前記第1のガラス転移温度は、前記第2のガラス転移温度より高く、
    角度ψは、上面視で前記基板の中心を画素の前記光学構造の質量の中心と接続する接続線と、前記基板の中心を通過する水平線との間の角度として定義され、前記第1の部分が前記第2の部分を囲み、前記第1の部分が閉環状であるとき、前記角度ψが変わると、前記第1の部分は各画素で前記同じ相対位置を有し、前記第2の部分の位置は各画素で前記角度ψに伴って変わるイメージセンサ
  12. 基板を提供するステップ、
    前記基板の上方に第1のガラス転移温度を有する第1の材料を形成するステップ、
    前記基板の上方に前記第1のガラス転移温度が第2のガラス転移温度より高い、第2のガラス転移温度を有する第2の材料を形成するステップ、および
    加熱プロセスを行い、各々が前記第1のガラス材料からなる第1の部分と、前記第2のガラス材料からなる第2の部分を含む複数の光学構造であり、前記第1の部分は側面を有し、前記複数の光学構造の各々の間は、前記第1の部分の側面により画定され、前記第2の部分は前記第1の部分の側面に接触して設けられ、断面視で前記第1の部分の幅は前記第2の部分の幅より小さく、前記第2の部分は、入射光を前記光電変換素子に導く、複数の光学構造を形成するステップを含む光学素子を製造する方法。
  13. 前記加熱プロセスは、ランプ照射、レーザー照射を含み、前記加熱プロセスは、同じ高さおよび体積である前記第2の材料に対して、異なる曲率を有する前記第2の部分が作成されるように、異なるレベルの加熱エネルギーを適用するステップを含む請求項12に記載の光学素子を製造する方法。
  14. 前記加熱プロセスの前に前記第2の材料の体積または高さを調整し、前記加熱プロセスの後にエッチングプロセスを行うステップをさらに含む請求項12に記載の光学素子を製造する方法。
JP2022026506A 2021-03-18 2022-02-24 光学素子 Active JP7395632B2 (ja)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US202163162760P 2021-03-18 2021-03-18
US63/162,760 2021-03-18
US17/563,664 US20220302182A1 (en) 2021-03-18 2021-12-28 Optical devices
US17/563,664 2021-12-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2022145547A JP2022145547A (ja) 2022-10-04
JP7395632B2 true JP7395632B2 (ja) 2023-12-11

Family

ID=83284285

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022026506A Active JP7395632B2 (ja) 2021-03-18 2022-02-24 光学素子

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20220302182A1 (ja)
JP (1) JP7395632B2 (ja)
KR (1) KR102708921B1 (ja)
CN (1) CN115117102A (ja)
TW (1) TWI817376B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI831413B (zh) * 2022-10-12 2024-02-01 大陸商廣州立景創新科技有限公司 超穎透鏡以及影像感測器

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261261A (ja) 2001-02-28 2002-09-13 Toppan Printing Co Ltd 撮像素子及びその製造方法
JP2004140426A5 (ja) 2002-10-15 2005-10-13
JP2007208059A (ja) 2006-02-02 2007-08-16 Fujifilm Corp マイクロレンズ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子およびその製造方法
JP2007335723A (ja) 2006-06-16 2007-12-27 Fujifilm Corp 固体撮像素子用マイクロレンズ及びその製造方法
JP2009537032A (ja) 2006-05-12 2009-10-22 エーピーアイ ナノファブリケーション アンド リサーチ コーポレーション レンズアレイおよびその製造方法
JP2016118675A (ja) 2014-12-22 2016-06-30 キヤノン株式会社 マイクロレンズ及びその製造方法
WO2016190246A1 (ja) 2015-05-25 2016-12-01 凸版印刷株式会社 イメージセンサおよびその製造方法
WO2020145218A1 (ja) 2019-01-10 2020-07-16 富士フイルム株式会社 構造体、固体撮像素子および画像表示装置

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4694185A (en) * 1986-04-18 1987-09-15 Eastman Kodak Company Light sensing devices with lenticular pixels
JPH06326285A (ja) * 1993-05-17 1994-11-25 Sanyo Electric Co Ltd マイクロレンズの製造方法
US6660988B2 (en) * 2001-05-01 2003-12-09 Innovative Technology Licensing, Llc Detector selective FPA architecture for ultra-high FPA operability and fabrication method
JP2003229553A (ja) * 2002-02-05 2003-08-15 Sharp Corp 半導体装置及びその製造方法
JP4348062B2 (ja) 2002-10-15 2009-10-21 京セラ株式会社 固体撮像装置
US7375892B2 (en) * 2003-10-09 2008-05-20 Micron Technology, Inc. Ellipsoidal gapless microlens array and method of fabrication
US7227692B2 (en) * 2003-10-09 2007-06-05 Micron Technology, Inc Method and apparatus for balancing color response of imagers
US7372497B2 (en) * 2004-04-28 2008-05-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Effective method to improve sub-micron color filter sensitivity
US7012754B2 (en) * 2004-06-02 2006-03-14 Micron Technology, Inc. Apparatus and method for manufacturing tilted microlenses
US8599301B2 (en) * 2006-04-17 2013-12-03 Omnivision Technologies, Inc. Arrayed imaging systems having improved alignment and associated methods
US7978411B2 (en) * 2007-05-08 2011-07-12 Micron Technology, Inc. Tetraform microlenses and method of forming the same
US20090034083A1 (en) * 2007-07-30 2009-02-05 Micron Technology, Inc. Method of forming a microlens array and imaging device and system containing such a microlens array
US7623303B2 (en) * 2007-10-23 2009-11-24 National Tsing Hua University Solid tunable micro optical device and method
JP2009218341A (ja) * 2008-03-10 2009-09-24 Panasonic Corp 固体撮像装置とその製造方法
US7928527B2 (en) * 2008-06-04 2011-04-19 International Business Machines Corporation Delamination and crack resistant image sensor structures and methods
TWI370264B (en) * 2008-06-16 2012-08-11 Univ Nat Sun Yat Sen Method for manufacturing microlens array
US8889455B2 (en) * 2009-12-08 2014-11-18 Zena Technologies, Inc. Manufacturing nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
US8299554B2 (en) * 2009-08-31 2012-10-30 International Business Machines Corporation Image sensor, method and design structure including non-planar reflector
TWI636557B (zh) * 2013-03-15 2018-09-21 新力股份有限公司 Solid-state imaging device, manufacturing method thereof, and electronic device
TWI699023B (zh) * 2014-06-30 2020-07-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 發光裝置,模組,及電子裝置
US11231544B2 (en) * 2015-11-06 2022-01-25 Magic Leap, Inc. Metasurfaces for redirecting light and methods for fabricating
CN108476562B (zh) * 2015-12-10 2020-01-21 王子控股株式会社 基板、光学元件、模具、有机发光元件、有机薄膜太阳能电池、以及基板的制造方法
TW201800459A (zh) * 2015-12-18 2018-01-01 富士軟片股份有限公司 近紅外線吸收組成物、近紅外線截止濾波器、近紅外線截止濾波器的製造方法、固體攝像元件、照相機模組及圖像顯示裝置
WO2018061295A1 (ja) * 2016-09-28 2018-04-05 シャープ株式会社 光学機器およびカメラモジュール
KR20180074308A (ko) * 2016-12-23 2018-07-03 삼성전자주식회사 전자 소자 및 그 제조 방법
US10192916B2 (en) * 2017-06-08 2019-01-29 Visera Technologies Company Limited Methods of fabricating solid-state imaging devices having flat microlenses
KR102642282B1 (ko) * 2017-07-12 2024-02-28 호야 가부시키가이샤 도광판 및 화상 표시 장치
JP2020052395A (ja) * 2018-09-19 2020-04-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 光学素子、光学素子アレイ、レンズ群、電子機器、及び光学素子の製造方法
KR20220037069A (ko) * 2020-09-17 2022-03-24 삼성전자주식회사 반도체 패키지 및 그 제조 방법
US11569291B2 (en) * 2020-11-05 2023-01-31 Visera Technologies Company Limited Image sensor and method forming the same
CN112406014B (zh) * 2020-11-18 2022-12-20 Oppo(重庆)智能科技有限公司 镜片组的制造方法、镜片组、镜头、成像模组和电子装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261261A (ja) 2001-02-28 2002-09-13 Toppan Printing Co Ltd 撮像素子及びその製造方法
JP2004140426A5 (ja) 2002-10-15 2005-10-13
JP2007208059A (ja) 2006-02-02 2007-08-16 Fujifilm Corp マイクロレンズ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子およびその製造方法
JP2009537032A (ja) 2006-05-12 2009-10-22 エーピーアイ ナノファブリケーション アンド リサーチ コーポレーション レンズアレイおよびその製造方法
JP2007335723A (ja) 2006-06-16 2007-12-27 Fujifilm Corp 固体撮像素子用マイクロレンズ及びその製造方法
JP2016118675A (ja) 2014-12-22 2016-06-30 キヤノン株式会社 マイクロレンズ及びその製造方法
WO2016190246A1 (ja) 2015-05-25 2016-12-01 凸版印刷株式会社 イメージセンサおよびその製造方法
WO2020145218A1 (ja) 2019-01-10 2020-07-16 富士フイルム株式会社 構造体、固体撮像素子および画像表示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20220302182A1 (en) 2022-09-22
TW202238178A (zh) 2022-10-01
CN115117102A (zh) 2022-09-27
KR20220130585A (ko) 2022-09-27
JP2022145547A (ja) 2022-10-04
TWI817376B (zh) 2023-10-01
KR102708921B1 (ko) 2024-09-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20230062193A1 (en) Multilayered meta lens and optical apparatus including the same
US11217618B2 (en) Solid-state image pickup device, electronic apparatus, and manufacturing method
EP3812803A1 (en) Image sensor including color separating lens array and electronic apparatus including the image sensor
US11092815B2 (en) Metasurface lens assembly for chromatic separation
KR102278324B1 (ko) 반도체 이미지 센서
US7427798B2 (en) Photonic crystal-based lens elements for use in an image sensor
JP7395632B2 (ja) 光学素子
US20090141153A1 (en) Solid-state imaging device
US20060146412A1 (en) Image sensor having square microlens
US7868285B2 (en) Array-type light receiving device and light collection method
US20140375852A1 (en) Solid-state imaging apparatus, method of manufacturing the same, camera, imaging device, and imaging apparatus
WO2013021541A1 (ja) 固体撮像装置
JP2016118675A (ja) マイクロレンズ及びその製造方法
US8872091B2 (en) Solid-state imaging device
WO2022062589A1 (zh) 图像传感器、成像模组和电子装置
US20100259668A1 (en) Image sensor
CN107817548A (zh) 成像装置、成像设备和相机系统
US20230154958A1 (en) Image sensor, method of manufacturing image sensor, and electronic device including image sensor
CN114430467A (zh) 包括分色透镜阵列的图像传感器和包括该图像传感器的电子设备
TWI842410B (zh) 影像感測器
US11709348B2 (en) Lens module and camera
JP2005316111A (ja) マイクロレンズ及びこのマイクロレンズを備える固体撮像素子、液晶表示装置
TW201227936A (en) Method for manufacturing solid state imaging device and solid state imaging device
TWI462305B (zh) 光學膜層的製作方法及影像感測元件
JP2012186271A (ja) 固体撮像装置とその製造方法、および撮像モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220224

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230323

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230425

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230720

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20231114

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20231129

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7395632

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150