JP2022034072A - 計測装置、設定装置、設定方法、修正方法、及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】計測装置における迷光の発生を抑制する。【解決手段】計測装置（２００）は、計測部（２０２）及び制御部（２０４）を有する。計測部（２０２）は、電磁波を照射し、照射した電磁波の反射波を受信することで、物体の走査を行う。制御部（２０４）は、計測部（２０２）による物体の走査を制御する。具体的には、制御部（２０４）は、計測部（２０２）において受信される電磁波の強さが所定レベル以上になる回数が、計測部（２０２）による１回の走査につき所定回数未満となるように、計測部（２０２）による電磁波の照射を制御する。【選択図】図１

Description

本発明は、電磁波を照射して計測を行う技術に関する。

電磁波を照射して物体を走査することで障害物などの検出を行う技術が開発されている。特許文献１は、自動車等に設置される装置において、レーザ光を照射して目標領域内でスキャンを行うことで、障害物などの検出を行う技術を開示している。また特許文献１では、自動車の操舵角度に応じて、スキャン領域の横方向の中心軸を変更する技術が開示されている。

特開２００６－２５８６０４号公報

計測装置の内部では、光源から照射された電磁波が光学系を通過する。この際、光学系によって電磁波の一部が反射されたりすることにより、迷光が発生することがある。このような迷光は、計測装置による計測の精度を下げる要因となる。

本発明は、上述の課題鑑みてなされたものであり、計測装置における迷光の発生を抑制する技術を提供することを一つの目的とする。

第１の発明は、計測装置の発明である。当該計測装置は、（１）光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、前記光源に前記電磁波を照射させるタイミングを光源駆動信号により制御し、且つ前記計測部から前記電磁波が照射される方向である照射方向を制御する制御部と、を有する。前記制御部は、前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に、前記電磁波を受信した前記照射方向において、前記電磁波を照射しないように前記光源が制御される前記光源駆動信号を生成する。

第２の発明は、計測装置の設定を行う設定装置の発明である。
前記計測装置は、
光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有する。
当該設定装置は、（１）所定の信号が前記駆動信号として設定された前記計測装置を動作させて、前記計測装置による計測結果を取得し、（２）前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記所定の駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にする。

第３の発明は、計測装置の設定方法の発明である。
前記計測装置は、光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有する。
当該設定方法は、（１）所定の信号が前記駆動信号として設定された前記計測装置を動作させて、前記計測装置による計測結果を取得するステップと、（２）前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記所定の駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にするステップと、を有する。

第４の発明は、請求項５に記載の設定方法の各ステップをコンピュータに実行させるプログラムの発明である。

第５の発明は、計測装置の発明である。
当該計測装置は、（１）光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、（２）駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、（３）前記駆動信号を修正する修正部と、を有する。
前記修正部は、前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にする。

第６の発明は、計測装置によって実行される修正方法の発明である。
計測装置によって実行される修正方法であって、
前記計測装置は、光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有する。
当該修正方法は、前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にするステップを有する。

第７の発明は、請求項１０に記載の修正方法の各ステップをコンピュータに実行させるプログラムの発明である。

第８の発明は、計測装置の発明である。
当該計測装置は、（１）光源と、前記光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信する受信部と、を有する計測部と、（２）前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有する。
前記制御部は、前記光源から照射された前記電磁波が前記光学系において反射された前記反射波を、前記受信部が所定以上の強さで受信した場合に、前記反射波となる前記電磁波を照射した照射タイミングを変更する。

第９の発明は、計測装置の発明である。
当該計測装置は、（１）光源と、前記光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信する受信部と、を有する計測部と、（２）前記受信部が前記光源から照射された前記電磁波が前記光学系にて反射された前記反射波を所定以上の強さで受信した場合に、前記反射波となる前記電磁波を照射した照射タイミングを変更する処理を実行する制御部と、を有する。
前記制御部は、当該計測装置の周辺であってなおかつ前記電磁波が照射される方向に、前記電磁波を反射する物体が存在しない状況下であると判断した場合に、前記処理を実行する。

上述した目的、およびその他の目的、特徴および利点は、以下に述べる好適な実施の形態、およびそれに付随する以下の図面によってさらに明らかになる。

実施形態１に係る計測装置を例示するブロック図である。 計測部による走査の様子を例示する図である。 受信器によって受信される迷光の強さを例示する図である。 制御部のハードウエア構成を例示する図である。 計測部のハードウエア構成を例示する図である。 光を照射する計測部のハードウエア構成を例示する図である。 光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第１のフローチャートである。 デフォルト信号を例示する図である。 迷光の発生源である電磁波の照射タイミングを特定する方法を説明するための図である。 制御部に設定する光源駆動信号とデフォルト信号を比較する図である。 光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第２のフローチャートである。 設定装置を実現するための計算機を例示する図である。 移動体に設置されている計測装置を例示する図である。 実施形態２の計測装置を例示するブロック図である。 光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第１のフローチャートである。 光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第２のフローチャートである。 図１５のフローチャートに示す動作を実行するのに適した場所を特定し、当該場所においてその動作を実行する機能を有する計測装置２００を例示するブロック図である。

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。

図１は、実施形態１に係る計測装置２００を例示するブロック図である。図１において、各ブロックは、ハードウエア単位の構成ではなく、機能単位の構成を表している。計測装置２００のハードウエア構成については、図４から図６を用いて後述する。

計測装置２００は、計測部２０２及び制御部２０４を有する。計測部２０２は、電磁波を照射し、照射した電磁波の反射波を受信することで、物体の走査を行う。制御部２０４は、計測部２０２による物体の走査を制御する。さらに制御部２０４は、計測部２０２によって電磁波が照射されてからその電磁波の反射波が受信されるまでの時間を測定する。

ここで計測部２０２は、高さ方向と横方向の２次元において電磁波の照射方向を変えながら、物体の走査を行う。なお、高さ方向は略鉛直方向を意味する。また、横方向は略水平方向を意味する。

図２は、計測部２０２による走査の様子を例示する図である。この例では、走査範囲２２４内でラスタスキャンが行われている。このラスタスキャンにおいて、主走査方向は横方向であり、副走査方向は高さ方向である。

軌跡１は、計測部２０２による走査の軌跡を表している。照射器１０による電磁波の照射方向は、軌跡１に沿って時間と共に変化する。各×印は、照射器１０から照射された電磁波が通過する位置を表している。つまり、照射器１０からは、各×印を通過するタイミングで電磁波が照射されている。

計測部２０２は、照射器１０、光学系２０、及び受信器５０を有する。照射器１０は、照射方向を変えながら電磁波を照射する。光学系２０は、照射器１０から照射された電磁波を収束させる。受信器５０は電磁波を受信する。

ここで、受信器５０は、計測部２０２から照射された電磁波が物体に反射されたもの（以下、反射波）を受信するために設けられている。しかし受信器５０が受信する電磁波には、計測部２０２から照射された電磁波の反射波以外も含まれうる。例えば受信器５０が受信する電磁波には、照射器１０から照射された電磁波が光学系２０の表面などで反射されたもの（いわゆる迷光）なども含まれうる。

受信器５０によって受信される迷光の強さは、照射器１０から電磁波が照射される方向によって異なる。照射器１０から電磁波が照射される方向により、電磁波が光学系２０に進入する角度や、電磁波が光学系２０に進入する位置などが異なるためである。

図３は、受信器５０によって受信される迷光の強さを例示する図である。照射器１０は、横方向を主走査方向とするラスタスキャンを行っている（図２参照）。また、照射器１０は電磁波を所定の間隔で（グラフ６０参照）発光している。さらに、計測装置２００の周囲に物体が存在しないとする。

グラフ６０は、照射器１０から電磁波が照射されるタイミングをパルス信号で表している。具体的には、グラフ６０において信号の値が０から１に変化するタイミングで、照射器１０から電磁波が照射される。グラフ６２は、受信器５０によって受信された電磁波の強さを表している。

計測装置２００の周囲に物体が存在しないため、物体によって反射された電磁波が受信器５０によって受信されることはほとんど無い。そのため、グラフ６２では、ほとんどの時点において、受信器５０によって受信される電磁波の強さがほぼゼロである。

ところが、いくつかの時点では、受信器５０によって受信される電磁波の強さが強くなっている。これは、特定のタイミングで照射される電磁波（特定の方向へ照射される電磁波）によって迷光が発生し、その迷光が受信器５０によって受信されたためである。

例えば時点 t1 において、受信器５０によって迷光が受信されている。この迷光は、時点 t2 において照射器１０から照射された電磁波によって発生したものであると言える。なぜなら、照射器１０と光学系２０との距離は短いため、迷光の原因となる照射器１０が照射されるタイミングと、その迷光が受信器５０によって受信されるタイミングとの時間差は短いと考えられるためである。

このように受信器５０によって迷光が受信されると、計測装置２００の計測結果が不正確になってしまう。例えば計測装置２００が、所定値以上の強さの電磁波を受信した場合に、物体によって反射された反射波を受信したと判定するとする。この場合、計測装置２００は、迷光を受信した場合に、物体によって反射された反射波を受信したと誤判定してしまう。

そこで本実施形態の計測装置２００では、迷光が発生するタイミングを避けて照射器１０から電磁波が照射されるように、照射器１０から電磁波が照射されるタイミングを制御する。具体的には、「どのタイミングで電磁波を照射すると迷光が発生してしまうか」を予め把握しておき、そのタイミングを避けて電磁波を照射するようにする。言い換えれば、「どの方向へ電磁波を照射すると迷光が発生してしまうか」を予め把握しておき、その方向には電磁波が照射されないようにする。

より具体的には、本実施形態の制御部２０４は、計測部２０２において受信される電磁波の強さが所定レベル以上になる回数が、計測部２０２による１回の走査（例えば１回のラスタスキャン）につき所定回数未満となるように、計測部２０２による電磁波の照射を制御する。

こうすることで、本実施形態の計測装置２００によれば、照射器１０から照射される電磁波によって迷光が発生することを防ぐことができる。よって、計測装置２００による計測の精度が向上する。

以下、本実施形態の計測装置２００についてさらに詳細に説明する。

＜計測装置２００のハードウエア構成の例＞

計測装置２００の各機能構成部は、各機能構成部を実現するハードウエア（例：ハードワイヤードされた電子回路など）で実現されてもよいし、ハードウエアとソフトウエアとの組み合わせ（例：電子回路とそれを制御するプログラムの組み合わせなど）で実現されてもよい。以下、計測装置２００の各機能構成部がハードウエアとソフトウエアとの組み合わせで実現される場合について、さらに説明する。

＜＜制御部２０４のハードウエア構成の例＞＞

図４は、制御部２０４のハードウエア構成を例示する図である。集積回路１００は、制御部２０４を実現する集積回路である。例えば、集積回路１００は SoC（System On Chip）である。

集積回路１００は、バス１０２、プロセッサ１０４、メモリ１０６、ストレージデバイス１０８、入出力インタフェース１１０、及びネットワークインタフェース１１２を有する。バス１０２は、プロセッサ１０４、メモリ１０６、ストレージデバイス１０８、入出力インタフェース１１０、及びネットワークインタフェース１１２が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ１０４などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。プロセッサ１０４は、マイクロプロセッサなどを用いて実現される演算処理装置である。メモリ１０６は、RAM（Random Access Memory）などを用いて実現される主記憶装置である。ストレージデバイス１０８は、ROM（Read Only Memory）やフラッシュメモリなどを用いて実現される補助記憶装置である。

入出力インタフェース１１０は、集積回路１００を周辺デバイスと接続するためのインタフェースである。図４において、入出力インタフェース１１０には照射器の駆動回路３０が接続されている。照射器の駆動回路３０については後述する。

ネットワークインタフェース１１２は、集積回路１００を通信網に接続するためのインタフェースである。この通信網は、例えば CAN（Controller Area Network）通信網である。なお、ネットワークインタフェース１１２が通信網に接続する方法は、無線接続であってもよいし、有線接続であってもよい。

ストレージデバイス１０８は、制御部２０４の機能を実現するためのプログラムモジュールを記憶している。プロセッサ１０４は、このプログラムモジュールをメモリ１０６に読み出して実行することで、制御部２０４の機能を実現する。

集積回路１００のハードウエア構成は図４に示した構成に限定されない。例えば、プログラムモジュールはメモリ１０６に格納されてもよい。この場合、集積回路１００は、ストレージデバイス１０８を備えていなくてもよい。

＜＜計測部２０２のハードウエア構成例＞＞

図５は、計測部２０２のハードウエア構成を例示する図である。計測部２０２は、照射器１０、光学系２０、照射器の駆動回路３０、及び受信器５０を有する。照射器１０は、物体の走査に用いる電磁波を照射する。ここで、照射器１０は照射方向が可変な構成となっており、様々な方向へ電磁波を照射することができる。照射器の駆動回路３０は、照射器１０を駆動させる回路である。より具体的には、照射器の駆動回路３０は、電磁波を照射する機構（例えば光源）を駆動する回路、及び照射器１０の照射方向を変更する機構（例えばミラー）を駆動する回路を含む。光学系２０は、照射器１０から照射された電磁波を収束させる。受信器５０は、計測装置２００の外部へ照射された電磁波の反射波を受信する。

制御部２０４は、受信器５０によって反射波が受信されたことを検出する。例えば受信器５０は、反射波を受信したことに応じて制御部２０４へ所定の信号を送信するように構成される。制御部２０４は、この所定の信号を受信することにより、受信器５０によって反射波が受信されたことを検出する。

制御部２０４は、照射器１０から電磁波が照射されてからその電磁波の反射波が受信器５０によって受信されるまでの経過時間を計測し、その計測時間を電磁波の照射方向（電磁波の照射タイミング）と対応づけて記憶装置（例えばストレージデバイス１０８）に記憶させる。この経過時間は、例えば照射器１０から電磁波が照射されてからその電磁波の反射波が受信されるまでの間にカウントされたクロック信号の数にクロック周期を乗算した値で表される。また例えば、この経過時間は、上記カウントされたクロック信号の数で表されてもよい。この経過時間に基づいて、例えば、走査された物体と計測装置２００との距離を算出することができる。

照射器１０によって照射される電磁波は、レーザ光などの光であってもよいし、ミリ波などの電波であってもよい。以下、照射器１０が光を照射する場合における計測部２０２のハードウエア構成について例示する。照射器１０が電磁波を照射する場合の計測部２０２についても、同様の構成を採用することが可能である。

図６は、光を照射する計測部２０２のハードウエア構成を例示する図である。図６の投光器１２及び投光器の駆動回路３２はそれぞれ、図５における照射器１０及び照射器の駆動回路３０の一例である。投光器１２は、光源１４及び可動反射部１６を有する。投光器の駆動回路３２は光源の駆動回路３４及び可動反射部の駆動回路３６を有する。

光源１４は、光を照射する任意の光源である。光源の駆動回路３４は、光源１４への電力の供給を制御することによって光源１４を駆動させる回路である。光源１４によって照射される光は、例えばレーザ光である。この場合、例えば光源１４は、レーザ光を照射する半導体レーザである。

可動反射部１６は、光源１４から照射された光を反射する。可動反射部１６によって反射された光は、レンズ２２を通過した後、計測装置２００の外部へ照射される。レンズ２２は、図５における光学系２０の一例である。

可動反射部の駆動回路３６は、可動反射部１６を駆動させる回路である。例えば可動反射部１６は、少なくとも高さ方向と横方向の２方向それぞれについて回転可能に構成されている１つのミラーを有する。このミラーは、例えば MEMS（Micro Electro Mechanical System）ミラーである。

可動反射部１６の構成は、図６に示す構成に限定されない。例えば可動反射部１６は、回転軸が互いに交わる２つのミラーで構成されていてもよい。

光源の駆動回路３４及び可動反射部の駆動回路３６の動作は、制御部２０４によって制御される。具体的には、制御部２０４は、光源の駆動回路３４に対し、光源１４の駆動を指示する駆動信号を送信する。この駆動信号は、例えばストレージデバイス１０８から読み出される。光源の駆動回路３４は、受信した駆動信号に基づいて、光源１４を駆動させる。例えば駆動信号がハイとローという２値で構成されるパルス信号である場合、光源の駆動回路３４は、パルス信号がローからハイに変化するタイミングで光源１４を駆動させる（光源１４から光を照射させる）。

同様に、制御部２０４は、可動反射部の駆動回路３６に対し、可動反射部１６の駆動を指示する駆動信号を送信する。この駆動信号も、例えばストレージデバイス１０８から読み出される。可動反射部の駆動回路３６は、この駆動信号に基づいて、可動反射部１６の姿勢を制御する。この制御により、光の照射方向が制御される。例えば光の照射方向は、図２の軌跡１のように制御される。

さらに計測部２０２は、受光器５２を有する。受光器５２は、図５における受信器５０の一例である。例えば受光器５２は、APD（Avalanche Photodiode）を用いて構成される。

なお、計測部２０２の構成は図５や図６に示す構成に限定されない。例えば図６において、計測部２０２は、光源１４から照射された光を可動反射部１６によって反射することにより、様々な方向へ光を照射できるように構成されている。しかし、様々な方向へ光を照射する構成は、図６に示す構成に限定されない。例えば、光源１４自体が、高さ方向及び横方向に回転する機構を有していてもよい。この場合、計測部２０２は、光源１４の姿勢を制御することによって様々な方向へ光を照射できる。またこの場合、計測部２０２は、可動反射部１６及び可動反射部の駆動回路３６を有さなくてもよい。さらにこの場合、光源の駆動回路３４は、光源１４に光を照射させる駆動回路と、光源１４の姿勢を変更する駆動回路とを含む。

なお、制御部２０４を実現するハードウエア（図４参照）と計測部２０２を実現するハードウエア（図５や図６参照）は、同一の筐体にパッケージされていてもよいし、別々の筐体にパッケージされていてもよい。

以下の説明では、特に断らない限り、計測部２０２のハードウエア構成が図６で表されるケースについて説明する。

＜計測部２０２が電磁波を照射するタイミングの決定方法について＞

前述したように、本実施形態の計測装置２００では、計測部２０２から電磁波が照射されるタイミングを予め適切に設定しておくことで、迷光の発生を抑制する。この設定は、例えば計測装置２００の運用開始前（例えば計測装置２００の出荷前）に行っておく。

上記設定は、光源の駆動回路３４に対して送信する駆動信号（以下、光源駆動信号）を適切に生成しておくことで実現する。生成した光源駆動信号は、例えばストレージデバイス１０８に記憶させておく。制御部２０４は、このように予め適切に生成しておいた光源駆動信号をストレージデバイス１０８から読み出し、光源の駆動回路３４へ送信する。こうすることで、迷光が発生しない適切なタイミングで照射器１０から電磁波が照射される。

以下、この光源駆動信号の生成方法を具体的に説明する。以下の説明において、計測部２０２はラスタスキャンを行うとする。また、光源の駆動回路３４に対して送信される光源駆動信号は、前述したパルス信号であるとする。

さらに以下の説明において、光源駆動信号の生成は、計算機によって行われる。光源駆動信号を生成する計算機を、設定装置３００と呼ぶ。設定装置３００は、PC（Personal Computer）、サーバ装置、又は携帯端末などの任意の計算機を用いて実現される。なお、光源駆動信号は、設定装置３００によって実行される一連の処理と同様の処理を人手で行うことで生成されてもよい。

光源駆動信号の生成は、計測装置２００をテスト環境で動作させることで行われる。テスト環境は、計測装置２００から照射される電磁波の反射波が受信器５０によって受信されない環境か、又は受信される反射波の強さが無視できる程度に小さい環境であることが好適である。

＜＜光源駆動信号を生成する手順の例１＞＞

図７は、光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第１のフローチャートである。設定装置３００は、制御部２０４が計測部２０２の制御に用いる光源駆動信号として、デフォルト信号を設定する（Ｓ１０２）。具体的には、設定装置３００は、制御部２０４が有するストレージデバイス１０８に、デフォルト信号を記憶させる。

デフォルト信号は、制御部２０４に初期設定を施すために予め定義されている任意の駆動信号である。例えばデフォルト信号は、１回の主走査（軌跡１における横方向１行の走査）で行われる複数回の電磁波の照射が、等しい時間間隔で行われるように定義されている。この時間間隔の長さを p クロックとおく（p は正の整数）。図８は、デフォルト信号を例示する図である。なお、デフォルト信号を定義する情報（デフォルト信号そのものでもよい）は、設定装置３００が有する記憶装置に予め記憶させておく。

設定装置３００は計測装置２００に計測を実行させる（Ｓ１０４）。ここでは、デフォルト信号に従って計測部２０２から電磁波が照射される。

設定装置３００は、計測装置２００による計測結果を取得し、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する（Ｓ１０６）。具体的には、まず設定装置３００は、受信器５０によって所定値以上の強さの電磁波（迷光）が受信された時点を特定する。そして設定装置３００は、その時点で受信された迷光の発生源である電磁波の照射タイミングを特定する。

図９は、迷光の発生源である電磁波の照射タイミングを特定する方法を説明するための図である。図９において、時点 c1 クロックで、所定値以上の強さの電磁波（迷光）が受信されている。そこで設定装置３００は、この迷光の発生源である電磁波の照射タイミングを特定する。

ここで、連続する２つの電磁波の照射タイミングの時間間隔である p クロックは、電磁波が照射器１０から照射された時点とその電磁波により生じた迷光が受信器５０によって受信される時点との時間間隔よりも十分長い。そのため、迷光の発生源である電磁波の照射タイミングは、迷光が受信された時点 c1 よりも前の照射タイミングのうち、最も遅い照射タイミングである時点 c2 クロックであると推定できる。

そこで設定装置３００は、迷光の発生源である電磁波の照射タイミングとして、c2 クロックを特定する。

なお、１回の走査（軌跡１で表される一連の電磁波の照射）で迷光が複数回発生する場合、「受信器５０によって所定値以上の強さの電磁波が受信された時点」が複数個存在する。この場合、設定装置３００は、これら複数個の時点それぞれから、迷光を発生させた複数の電磁波それぞれの照射タイミングを特定する。

設定装置３００は、Ｓ１０６において、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが１つ以上特定されたか否かを判定する（Ｓ１０８）。迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが１つも特定されていない場合（Ｓ１０８：ＮＯ）、図７の処理は終了する。よって、制御部２０４に設定される光源駆動信号は、デフォルト信号のままとなる。このケースでは、制御部２０４がデフォルト信号で計測部２０２を制御しても、迷光が発生していない。そのため、制御部２０４は、運用時においてもデフォルト信号を用いて計測部２０２を制御する。

一方、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが１つ以上特定された場合（Ｓ１０８：ＹＥＳ）、設定装置３００は、デフォルト信号の一部を変更することで、制御部２０４に設定する光源駆動信号を生成する（Ｓ１１０）。具体的には、設定装置３００は、デフォルト信号における電磁波の照射タイミングのうち、迷光が発生した電磁波の照射タイミングのみを変更することで、制御部２０４に設定する光源駆動信号を生成する。つまり、制御部２０４に設定する光源駆動信号は、（１）デフォルト信号において迷光を発生させた電磁波の照射タイミングについては、デフォルト信号における照射タイミングから所定クロック k ずれており、（２）それ以外の電磁波の照射タイミングについては、デフォルト信号における照射タイミングと一致している。

なお、図７の例では、Ｓ１０８において、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが１つでも特定されれば、デフォルト信号の変更が行われる。しかしながら、設定装置３００は、Ｓ１０８において、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングがＮ個（Ｎは２以上の整数）以上特定された場合に、デフォルト信号の一部を変更するように構成されてもよい。この場合、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングがＮ個未満であれば、迷光が計測に与える影響は小さいと判断し、デフォルトの信号から変更しないようにすることができる。

また、Ｓ１１０において、迷光が発生した電磁波の照射タイミングを変更することに変えて、当該迷光が発生した電磁波の照射タイミングにおいては、電磁波を照射しないようにすることとしてもよい。こうすることにより、より簡易な処理で迷光による影響を低減させることができる。なお、この方法では、デフォルト信号を用いる場合と比較して電磁波の照射回数が減るものの、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが多くなければ、実使用上においての影響は小さいと考えられる。

図１０は、制御部２０４に設定する光源駆動信号とデフォルト信号を比較する図である。図１０における受信波の強さとデフォルト信号の関係は、図９と同様である。そのため、デフォルト信号に従って照射器１０から電磁波を照射すると、時点 c2 クロックにおいて照射される電磁波によって迷光が発生する。そこで設定装置３００は、デフォルト信号において時点 c2 クロックで照射される電磁波の照射タイミングを、制御部２０４に設定する光源駆動信号においては時点 c2+k クロックに変更している。

ここで、電磁波の照射タイミングの時間間隔は p クロックであるため、所定クロック k は、-p/2 ≦ k ≦ p/2 を満たすように定めておく。なお、p/2 が整数でない場合、k の範囲の下限値を -p/2 以上の最小の整数とし、k の範囲の上限値を p/2 以下の最大の整数とする。

そして設定装置３００は、制御部２０４が計測部２０２の制御に用いる光源駆動信号として、Ｓ１１０で生成した光源駆動信号を設定する（Ｓ１１２）。具体的には、設定装置３００は、Ｓ１１０で生成した光源駆動信号を、制御部２０４が有するストレージデバイス１０８に記憶させる。

＜＜光源駆動信号を生成する手順の例２＞＞

この例において、設定装置３００は、デフォルト信号における電磁波の照射タイミングを全体的にシフトさせることで、制御部２０４に設定する光源駆動信号を生成する。例えばデフォルト信号を関数 f(t) と表すと、デフォルト信号を全体的に k クロックシフトさせた信号は f(t-k) で表される。

ただし、このようにデフォルト信号を全体的にシフトさせた信号を光源駆動信号にすると、デフォルト信号では迷光を発生させなかった電磁波によって、新たに迷光が発生するようになってしまう可能性がある。そこで設定装置３００は、例えば以下の手順で光源駆動信号を生成する。

図１１は、光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第２のフローチャートである。この処理において、設定装置３００は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値未満となる光源駆動信号を、制御部２０４に設定する。この所定値は、設定装置３００が有する記憶装置に予め記憶されているものとする。なお、図１１のＳ１０２及びＳ１０６はそれぞれ、図７のＳ１０２及びＳ１０４と同じ処理である。そこで、以下ではＳ２０２以降の処理について説明する。

設定装置３００は、シフト量を表す変数 i に初期値１を設定する（Ｓ２０２）。Ｓ２０４からＳ２２２は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上である間繰り返し実行されるループ処理Ａである。Ｓ２０４において、設定装置３００は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上であるか否かを判定する。迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上でない場合、図１１の処理は終了する。一方、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上である場合、図１１の処理はＳ２０６に進む。

Ｓ２０６において、設定装置３００は、デフォルト信号を全体的に +i クロックシフトさせた信号を、光源駆動信号として制御部２０４に設定する。設定装置３００は、計測装置２００に計測を実行させる（Ｓ２０８）。設定装置３００は、計測装置２００による計測結果を取得し、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する（Ｓ２１０）。

設定装置３００は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上であるか否かを判定する（Ｓ２１２）。迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上でない場合（Ｓ２１２：ＮＯ）、図１１の処理は終了する。一方、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上である場合（Ｓ２１２：ＹＥＳ）、図１１の処理はＳ２１４に進む。

Ｓ２１４において、設定装置３００は、デフォルト信号を全体的に -i クロックシフトさせた信号を、光源駆動信号として制御部２０４に設定する。設定装置３００は、計測装置２００を動作させる（Ｓ２１６）。設定装置３００は、計測装置２００による計測結果を取得し、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する（Ｓ２１８）。設定装置３００は、シフト量 i に１を加算する（Ｓ２２０）。

Ｓ２２２は、ループ処理Ａの終端である。そこで、図１１の処理はＳ２０４に進む。

＜設定装置３００のハードウエア構成の例＞

設定装置３００の各機能構成部は、各機能構成部を実現するハードウエア（例：ハードワイヤードされた電子回路など）で実現されてもよいし、ハードウエアとソフトウエアとの組み合わせ（例：電子回路とそれを制御するプログラムの組み合わせなど）で実現されてもよい。以下、設定装置３００の各機能構成部がハードウエアとソフトウエアとの組み合わせで実現される場合について、さらに説明する。

図１２は、設定装置３００を実現するための計算機４００を例示する図である。計算機４００は任意の計算機である。例えば計算機４００は、Personal Computer（PC）、サーバマシン、タブレット端末、又はスマートフォンなどである。計算機４００は、設定装置３００を実現するために設計された専用の計算機であってもよいし、汎用の計算機であってもよい。

計算機４００は、バス４０２、プロセッサ４０４、メモリ４０６、ストレージデバイス４０８、入出力インタフェース４１０、及びネットワークインタフェース１１２を有する。バス４０２は、プロセッサ４０４、メモリ４０６、ストレージデバイス４０８、入出力インタフェース４１０、及びネットワークインタフェース４１２が、相互にデータを送受信するためのデータ伝送路である。ただし、プロセッサ４０４などを互いに接続する方法は、バス接続に限定されない。プロセッサ４０４は、CPU（Central Processing Unit）や GPU（Graphics Processing Unit）などの演算装置である。メモリ４０６は、RAM（Random Access Memory）などを用いて実現される主記憶装置である。ストレージデバイス４０８は、ハードディスク、SSD（Solid State Drive）、メモリカード、又は ROM（Read Only Memory）などを用いて実現される補助記憶装置である。ただし、ストレージデバイス４０８は、RAM など、主記憶装置を構成するハードウエアと同様のハードウエアで構成されてもよい。

入出力インタフェース４１０は、計算機４００と入出力デバイスとを接続するためのインタフェースである。ネットワークインタフェース４１２は、計算機４００を通信網に接続するためのインタフェースである。この通信網は、例えば LAN（Local Area Network）や WAN（Wide Area Network）である。ネットワークインタフェース４１２が通信網に接続する方法は、無線接続であってもよいし、有線接続であってもよい。

例えば計算機４００は、入出力インタフェース４１０又はネットワークインタフェース４１２を介して、計測装置２００と接続されている。

ストレージデバイス４０８は、設定装置３００の各機能を実現するプログラムモジュールを記憶している。プロセッサ４０４は、このプログラムモジュールをメモリ４０６に読み出して実行することで、このプログラムモジュールに対応する機能を実現する。

＜計測装置２００の設置例＞

計測装置２００は、例えば自動車や電車などの移動体に設置される。移動体に設置される計測装置２００は、例えばライダ（LIDAR: Light Detection and Ranging）として実現される。

図１３は、移動体に設置されている計測装置２００を例示する図である。図１３において、計測装置２００は、移動体２４０の上部に固定されている。また、計測装置２００は制御装置２４４と接続されている。制御装置２４４は、移動体２４０を制御する制御装置である。例えば制御装置２４４は、ECU（Electronic Control Unit）である。

ここで制御部２０４は、移動体２４０を制御する制御装置２４４の一部として実現されてもよい。この場合、制御装置２４４が有するストレージデバイスに、前述した制御部２０４を実現するプログラムモジュールが記憶される。

なお、計測装置２００が設置される場所は移動体２４０の上部に限定されない。例えば計測装置２００は、移動体２４０の内部（例えば室内）に設置されてもよい。また計測装置２００は、移動しない物体に設置されてもよい。

［実施形態２］

図１４は、実施形態２の計測装置２００を例示するブロック図である。以下で説明する事項を除き、実施形態２の計測装置２００は、実施形態１の計測装置２００と同様の機能を有する。

実施形態２の計測装置２００は、計測装置２００の運用中、動的に電磁波の照射タイミングを変更することで、迷光の発生を抑制する。そのために、実施形態２の計測装置２００は修正部２０６を有する。

修正部２０６は、計測装置２００における迷光の発生を検出し、迷光の影響を抑制するように、照射器１０に電磁波を照射させるタイミングを変更する。具体的には、修正部２０６は、受信器５０によって所定以上の強さの電磁波が受信された場合に、照射器１０の照射タイミングを変更する。言い換えれば、修正部２０６は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングを特定し、特定した照射タイミングに基づいて、制御部２０４に設定されている光源駆動信号（ストレージデバイス１０８に記憶されている光源駆動信号）を修正する。

ここで、図７のフローチャートで説明したように受信器（受光器）の受信強度に基づいて迷光の発生源である電磁波の照射タイミングを特定する動作を実行する場合には、移動体２４０（又は計測装置２００）の周辺に、電磁波を反射する物体（例えば、地物や歩行者や他車両等）が存在しない状況下で実行することが望ましい。例えば、計測装置２００が計測可能は範囲内に、電磁波を反射する物体が存在しない状況下で実行することが望ましい。

従って、以下に記載するとおりに、図１５のフローチャートに示す動作を実行するのに適した場所を特定し、当該場所において図１５のフローチャートに示す動作を実行するようにしてもよい。図１７は、この場合における計測装置２００を例示するブロック図を図１７に示す。

現在位置取得部２０８は、例えば GPS（Global Positioning System）等で構成され、移動体２４０（又は計測装置２００）の現在位置に関する現在位置情報を取得する。なお、現在位置取得部は図示しない外部の装置から通信等により当該現在位置情報を取得するような構成であってもよい。

地図情報取得部２１０は、例えば通信によって、外部の地図情報配信サーバ等から地図情報を取得する。なお、計測装置２００は、当該取得した地図情報を記憶する地図情報記憶部を備えるようにしてもよい。また、地図情報記憶部は、予め所定の地図情報が記憶されるようにしてもよい。

ここで、地図情報記憶部が記憶する地図情報には、地物に関する様々な情報を含んだ地物情報が含まれる。また、当該地物情報は、地図情報とは別に管理・記憶されるような構成であってもよい。地物情報には、少なくとも、当該地物が存在する位置に関する情報が含まれている。

実行位置特定部２１２は、現在位置取得部２０８によって取得された現在位置情報と、地図情報取得部２１０が取得した地図情報に含まれる地物情報と、に基づいて、後述する「迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する処理」を実行するのに適した位置又は領域を特定する。具体的には、現在位置周辺であってなおかつ電磁波が照射される方向に、電磁波を反射する地物が存在しない位置を、当該処理を実行するのに適した位置又は領域として特定する。

ここで、修正部２０６が制御部２０４に設定されている光源駆動信号を修正する方法は、実施形態１の設定装置３００が制御部２０４に設定する光源駆動信号を生成する方法と同様である。以下、修正部２０６が光源駆動信号を修正する方法を例示する。

＜光源駆動信号を修正する方法の例１＞
図１５は、光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第１のフローチャートである。図１５のフローチャートに示す動作は、例えば所定の頻度（例えば１分間に１回の頻度）で繰り返し実行される。なお、図１５のフローチャートにおいて光源駆動信号を修正する方法は、図７のフローチャートにおいてデフォルト信号から制御部２０４に設定する光源駆動信号を生成する方法と同様である。

また、図１５のフローチャートに示す動作は、上述した実行位置特定部２１２によって特定された位置又は領域に移動体２４０（又は計測装置２００）が到達したときに、所定の頻度で繰り返し実行されるようにしてもよい。例えば、本動作を開始する前に、予め実行位置特定部２１２が「迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する処理」を実行するのに適した位置又は領域を特定しておき、現在位置取得部２０８が取得した現在位置情報が示す現在位置が、当該特定した位置と一致したとき（又は特定した領域内に含まれることとなったとき）に、図１５のフローチャートに示す動作を開始する。なお、計測装置２００は、現在位置が特定した位置又は領域外となった場合に、当該動作を停止するように構成されていてもよい。

修正部２０６は、計測装置２００による計測結果を取得し、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する（Ｓ３０２）。Ｓ３０２において修正部２０６が行う具体的な処理は、Ｓ１０６において設定装置３００が行う処理と同様である。

修正部２０６は、Ｓ３０２において、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが１つ以上特定されたか否かを判定する（Ｓ３０４）。迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが１つも特定されていない場合（Ｓ３０４：ＮＯ）、図１５の処理は終了する。このケースでは、現状の光源駆動信号を用いた制御において迷光が発生していない。そのため、光源駆動信号の修正は行われない。

一方、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングが１つ以上特定された場合（Ｓ３０４：ＹＥＳ）、修正部２０６は、現在制御部２０４に設定されている光源駆動信号の一部を修正する（Ｓ３０６）。具体的には、修正部２０６は、修正前の光源駆動信号における電磁波の照射タイミングのうち、迷光が発生した電磁波の照射タイミングのみを変更したものを、修正後の光源駆動信号とする。つまり、修正後の光源駆動信号は、（１）修正前の光源駆動信号において迷光を発生させた電磁波の照射タイミングについては、修正ませの光源駆動信号における照射タイミングから所定クロック k ずれており、（２）それ以外の電磁波の照射タイミングについては、修正前の光源駆動信号における照射タイミングと一致している。このように、Ｓ３０６における修正前の光源駆動信号と修正後の光源駆動信号との関係は、図７のＳ１１０におけるデフォルト信号と制御部２０４に設定する光源駆動信号との関係と同様である。

＜光源駆動信号を修正する方法の例２＞

図１６は、光源駆動信号を生成する手順の流れを例示する第２のフローチャートである。図１６のフローチャートに示す動作は、例えば所定の頻度（例えば１分間に１回の頻度）で繰り返し実行される。なお、図１６のフローチャートにおいて光源駆動信号を修正する方法は、図１１のフローチャートにおいてデフォルト信号から制御部２０４に設定する光源駆動信号を生成する方法と同様である。

修正部２０６は、計測装置２００による計測結果を取得し、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する（Ｓ４０２）。修正部２０６は、シフト量を表す変数 i に初期値１を設定する（Ｓ４０４）。Ｓ４０６からＳ４１８は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上である間繰り返し実行されるループ処理Ｂである。Ｓ４０６において、修正部２０６は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上であるか否かを判定する。迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上でない場合、図１６の処理は終了する。一方、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上である場合、図１６の処理はＳ４０８に進む。

Ｓ４０８において、修正部２０６は、修正前の光源駆動信号を全体的に +i クロックシフトさせた信号を、修正後の光源駆動信号として制御部２０４に設定する。修正部２０６は、上記光源駆動信号を用いて動作した計測装置２００による計測結果を取得し、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する（Ｓ４１０）。

修正部２０６は、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上であるか否かを判定する（Ｓ４１２）。迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上でない場合（Ｓ４１２：ＮＯ）、図１６の処理は終了する。一方、迷光を発生させる電磁波の照射タイミングの数が所定値以上である場合（Ｓ４１２：ＹＥＳ）、図１１の処理はＳ４１４に進む。

Ｓ４１４において、修正部２０６は、修正前の光源駆動信号を全体的に -i クロックシフトさせた信号を、修正後の光源駆動信号として制御部２０４に設定する。修正部２０６は、上記光源駆動信号を用いて動作した計測装置２００による計測結果を取得し、迷光を発生させた電磁波の照射タイミングを特定する（Ｓ４１６）。修正部２０６は、i に１を加算する（Ｓ４１８）。

Ｓ４２０は、ループ処理Ｂの終端である。そこで、図１１の処理はＳ４０６に進む。

本実施形態の計測装置２００によれば、計測装置２００の運用中（例えば自動運転モードで走行中の自動車において計測装置２００が利用されている最中）に、計測部２０２の内部で発生している迷光を抑制することができる。

ここで、計測装置２００の運用開始前に、迷光が発生しないように計測装置２００を適切に設定したとしても、計測装置２００を運用している間に、計測装置２００の内部で迷光が発生してしまう可能性がある。例えば、計測装置２００に加わる振動などの影響により、照射器１０と光学系２０との位置関係がずれてしまうことにより、迷光が発生しうる。

そこで本実施形態の計測装置２００は、計測装置２００の運用中に迷光の発生を検出して、光源駆動信号を修正する。こうすることで、計測装置２００の内部における迷光の発生をより確実に抑制することができる。また、当該修正を、移動体（計測装置）の周辺に地物がない状況下で行なうことで、適切な修正を行なうことが可能となる。

＜ハードウエア構成の例＞

実施形態２の計測装置２００のハードウエア構成は、実施形態１の計測装置２００のハードウエア構成と同様に、例えば図４から図６で表される。また本実施形態において、前述したストレージデバイス１０８に記憶されるプログラムモジュールには、本実施形態で説明した機能を実現するプログラムがさらに含まれる。

なお図１４において、修正部２０６と制御部２０４は別々の機能構成部として記載されているものの、修正部２０６は制御部２０４の内部に含まれる機能構成部であってもよい。この場合、前述した修正部２０６によって行われる処理は、制御部２０４によって行われる処理であるとも表現できる。

以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記各実施形態の組み合わせ、又は上記以外の様々な構成を採用することもできる。

この出願は、２０１６年１１月３０日に出願された日本出願特願２０１６－２３２１６２号を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。

Claims (14)

1. 光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、
   前記光源に前記電磁波を照射させるタイミングを光源駆動信号により制御し、且つ前記計測部から前記電磁波が照射される方向である照射方向を制御する制御部と、を有し、
   前記制御部は、前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に、前記電磁波を受信した前記照射方向において、前記電磁波を照射しないように前記光源が制御される前記光源駆動信号を生成する、計測装置。
2. 計測装置の設定を行う設定装置であって、
   前記計測装置は、
   光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、
   駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有し、
   当該設定装置は、
   所定の信号が前記駆動信号として設定された前記計測装置を動作させて、前記計測装置による計測結果を取得し、
   前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記所定の駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にする、設定装置。
3. 前記取得した計測結果を用いて、前記計測装置によって所定値以上の強さで受信される電磁波が前記計測装置によって照射されるタイミングを特定し、
   前記所定の信号に示される電磁波の照射タイミングのうち、前記特定されたタイミングのみを所定クロック前又は後ろに変更した信号を、前記駆動信号として前記制御部に設定する、請求項２に記載の設定装置。
4. 前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波を前記計測部が照射する回数が、所定回数以上であるか否かを判定し、
   前記回数が前記所定回数以上であると判定された場合に、前記所定の信号全体を所定クロック前又は後ろにシフトさせた信号を、前記駆動信号として前記制御部に設定する、請求項２に記載の設定装置。
5. 計測装置の設定方法であって、
   前記計測装置は、
   光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、
   駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有し、
   当該設定方法は、
   所定の信号が前記駆動信号として設定された前記計測装置を動作させて、前記計測装置による計測結果を取得するステップと、
   前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記所定の駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にするステップと、を有する設定方法。
6. 請求項５に記載の設定方法の各ステップをコンピュータに実行させるプログラム。
7. 光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、
   駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、
   前記駆動信号を修正する修正部と、を有し、
   前記修正部は、
   前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にする、計測装置。
8. 前記修正部は、前記駆動信号が示す照射タイミングのうち、前記計測部において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射タイミングのみを、所定クロック前又は後に変更する、請求項７に記載の計測装置。
9. 前記修正部は、前記駆動信号が示す電磁波の照射タイミング全てを所定クロック前又は後に変更する、請求項７に記載の計測装置。
10. 計測装置によって実行される修正方法であって、
    前記計測装置は、
    光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信することで走査を行う計測部と、
    駆動信号を用いて、前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有し、
    当該修正方法は、前記計測部から照射された前記電磁波の前記反射波以外の反射波を受信した場合に前記駆動信号が示す照射タイミングを変更することで、前記計測部による１回の走査において所定値以上の強さで受信される電磁波の照射回数を所定回数未満にするステップを有する、修正方法。
11. 請求項１０に記載の修正方法のステップをコンピュータに実行させるプログラム。
12. 光源と、前記光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信する受信部と、を有する計測部と、
    前記計測部から前記電磁波が照射される方向を制御する制御部と、を有し、
    前記制御部は、前記光源から照射された前記電磁波が前記光学系において反射された前記反射波を、前記受信部が所定以上の強さで受信した場合に、前記反射波となる前記電磁波を照射した照射タイミングを変更する、計測装置。
13. 前記取得した計測結果を用いて、前記計測装置によって所定値以上の強さで受信される電磁波が前記計測装置によって照射されるタイミングを特定し、
    前記制御部は、前記所定の信号に示される電磁波の照射タイミングのうち、前記特定されたタイミングでは前記光源から前記電磁波が照射されないように前記計測部を制御する、請求項２に記載の設定装置。
14. 光源と、前記光源から照射された電磁波が光学系を通過して外部へ照射され、反射物によって反射された反射波を受信する受信部と、を有する計測部と、
    前記受信部が前記光源から照射された前記電磁波が前記光学系にて反射された前記反射波を所定以上の強さで受信した場合に、前記反射波となる前記電磁波を照射した照射タイミングを変更する処理を実行する制御部と、
    を有し、
    前記制御部は、当該計測装置の周辺であってなおかつ前記電磁波が照射される方向に、前記電磁波を反射する物体が存在しない状況下であると判断した場合に、前記処理を実行する、計測装置。

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