JP5573598B2 - レーダ装置 - Google Patents

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Description

本発明は、レーダ装置に関し、特に、光軸が互いに異なる2つの受光レンズを備えているレーダ装置に関する。
レーダ装置として、レーザ光を照射し、照射したレーザ光の反射光を、受光レンズによって受光素子アレイに集光して検出するものが広く知られている。この種のレーダ装置として、光軸が互いに異なる2つの受光レンズを備えているレーダ装置が知られている(例えば,特許文献1)。
光軸が互いに異なる2つの受光レンズを備えると、各受光レンズは、各々異なる視野を持つことから、各受光レンズの視野角は小さくてもよくなり、視野角が小さくてもよいことから、収差を小さくできる。そして、収差を小さくできることと、レーザ光の照射方位に対応した受光素子を選択的に検出可能状態とすることとにより、S/N比が向上する。
また、特許文献1のレーダ装置では、2つの受光レンズは、各受光レンズに反射光が入射したときに受光素子アレイ上に形成されるビームスポットの範囲の一部が重複している。これにより、互いに異なる入射方位からの反射光を、同一の受光素子に集光することができるので、受光素子アレイを小さくすることができる。
特開2010−133828号公報
ところで、レーザ光には漏れ光が存在する。特許文献1のレーダ装置は、この漏れ光に起因してゴーストを検出してしまう恐れがあった。なお、ゴーストを検出するとは、実際には存在しない方位に物体が存在すると判定することである。
ゴーストを検出してしまう理由の1つは、漏れ光の照射方位に反射強度が強い物体が存在する場合、レーザ光の照射方位には物体が存在しないにもかかわらず、漏れ光の反射光が受光素子アレイに集光されるからである。
前述のように、特許文献1のレーダ装置では、S/N比を向上させるために、レーザ光の照射方位に対応した受光素子を選択的に検出可能状態としている。換言すれば、レーザ光の照射方位に対応した受光素子以外は検出可能状態としない。漏れ光は、レーザ光の照射方位とは異なる照射方位であるから、漏れ光の反射光が受光素子アレイに集光されたとしても、その集光位置は、検出可能状態となっていない受光素子上であるはずである。
しかしながら、特許文献1では、受光素子アレイを小さくするために、一方の受光レンズに反射光が入射したときに受光素子アレイ上に形成されるビームスポットの範囲と、他方の受光レンズに反射光が入射したときに受光素子アレイ上に形成されるビームスポットの範囲とが重複するようにしている。
そのため、レーザ光の照射方位によっては、レーザ光の反射光を受光するために検出可能状態としている受光素子が、同時に、漏れ光の反射光が集光する位置の受光素子となってしまう場合があり、その結果、漏れ光に起因してゴーストを検出してしまう恐れがあった。
本発明は、この事情に基づいて成されたものであり、その目的とするところは、漏れ光に起因するゴーストを検出してしまうことを抑制できるレーダ装置を提供することにある。
その目的を達成するための請求項1および2記載の発明では、2つの受光レンズを備えており、これら2つの受光レンズは光軸が互いに異なることから、受光素子によっては、ある方位から到来する反射光が一方の受光レンズによって集光される位置となると同時に、他の方位から到来する反射光が他方の受光レンズによって集光される位置となる。そのため、受光素子アレイ制御手段が、レーザ光の照射方位に対応した受光素子を選択的に検出可能状態としても、その検出可能状態とした受光素子が漏れ光の反射光を受光してしまう可能性がある。
しかし、照射方位に基づいて定まる2つの受光素子の受光信号を考えた場合、照射方位に存在する物体からの反射光を受光している場合の2つの受光信号と、漏れ光の反射光を受光している場合の2つ受光信号とを比較すると、必ず違いが存在する。そこで、本発明の物体判定手段は、照射方位に基づいて定まる2つの受光素子の受光信号に基づいて、照射方位に物体が存在するか判定する。よって、漏れ光に起因するゴーストを検出してしまうことを抑制できる。
照射方位に存在する物体からの反射光を受光している場合の2つの受光信号と、漏れ光の反射光を受光している場合の2つ受光信号との違いは、具体的には、照射方位に物体が存在する場合に2つの受光素子がその物体からの反射光を受光する場合と、照射方位に物体が存在する場合に1つの受光素子のみがその物体からの反射光を受光する場合とで異なる。前者、すなわち、照射方位に物体が存在する場合に2つの受光素子がその物体からの反射光を受光する場合、漏れ光の反射光は、2つの受光素子のうちのいずれか一方しか受光しない。
よって、照射方位に物体が存在する場合に複数の受光素子のうちの2つがその物体からの反射光を受光する照射方位においては、請求項のように、照射方位に対応した2つの受光素子の受光信号強度が、ともに、物体が存在すると判定する強度以上であれば、照射方位に物体が存在すると判定し、それら2つの受光素子の受光信号強度のうちの少なくとも一方が、物体が存在すると判定する強度よりも低ければ、照射方位に物体が存在しないと判定する。これにより、漏れ光に起因するゴーストを検出してしまうことを抑制できる。
反対に、後者、すなわち、照射方位に物体が存在する場合に1つの受光素子のみがその物体からの反射光を受光する場合、照射方位に存在する物体からの反射光を受光する受光素子が漏れ光の反射光を受光することに加えて、他の照射方位においてその受光素子とともに物体からの反射光を受光する受光素子も、漏れ光の反射光を受光する。
よって、照射方位に物体が存在する場合に複数の受光素子のうちの1つがその物体からの反射光を受光する照射方位においては、請求項のように、照射方位に対応した第1受光素子の受光信号強度と、他の照射方位においてその照射方位に存在する物体からの反射光を第1受光素子とともに受光する第2受光素子の受光信号強度とを比較して、第1受光素子の受光信号強度が、第2受光素子の受光信号強度と等しいか、またはそれよりも低ければ、照射方位に物体は存在しないと判定することにより、漏れ光に起因するゴーストを検出してしまうことを抑制できる。
ここで、請求項のように、受光素子アレイは、複数の受光素子がそれぞれ検出する受光信号を同一の出力線により出力するようになっていることが好ましい。このようにすることで、装置構成を簡単にできるからである。ただし、このようにすると、複数の受光素子を同時に受光可能状態としてしまうと、各受光素子の受光信号を個別に検出することができない。そこで、請求項4のように、受光素子アレイ制御手段は、照射方位に基づいて定まる2つの受光素子を順番に切り替えて選択的に受光可能状態とする。これにより、受光素子アレイの出力線が一本であっても、各受光素子の受光信号を個別に検出することができる。
本発明の実施形態となるレーダ装置1の構成を示すブロック図である。 受光素子アレイの構成の詳細図である。 照射方位と、その照射方位において選択的にオンするスイッチSとの対応関係の一部を示す図である。 出射方位と漏れ光の強度との関係を示す図である。 照射方位が0〜10degの場合において演算部60が行う処理を説明する図である。 照射方位が10〜18degの場合において演算部60が行う処理を説明する図である。 演算部60が実行する物体判定処理を示すフローチャートである。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の実施形態となるレーダ装置1の構成を示すブロック図である。このレーダ装置1は、送信部10(請求項の照射部に相当)、LD駆動部20、受信部30、増幅部40、AD変換部50、演算部60を備えて構成されている。このレーダ装置1は、たとえば、車両に取り付けられて車両周囲の物体を検出するために用いられる。
送信部10は、所定の照射方位範囲にレーザ光を順次照射するものであり、レーザダイオード(以下、LD)12と、スキャナ14とを備えている。LD12はLD駆動部20に接続されており、このLD駆動部20からの駆動電流によりパルス状のレーザ光を発光する。
スキャナ14は、ポリゴンミラー16およびこのポリゴンミラー16を回転させるモータ(図示せず)を備えている。ポリゴンミラー16は鉛直の回転軸周りに回転可能に設けられている。LD12が発光したレーザ光は、図示しない発光レンズを介してポリゴンミラー16に照射され、ポリゴンミラー16によって反射される。そのため、ポリゴンミラー16の回転角によってレーザ光の照射範囲を制御することができる。なお、ポリゴンミラー16は前述のようにモータによって回転させられるので、モータの回転角は照射光の照射方位と対応する。そのため、モータの回転角を検出するモータ回転位置センサ(図示せず)が設けられ、このセンサの検出信号が方位信号として演算部60に入力される。
スキャナ14はこのようにポリゴンミラー16の回転角を制御しつつ、LD12をパルス状に発光させることで、水平方向の所定方位範囲にレーザ光を所定のステップ角度で順次照射する。
送信部10から照射されたレーザ光が物体によって反射されると、反射光がレーザ装置1へ入射する。受信部30はこの反射光を受光する部分であり、受光レンズ32と受光素子アレイ34とを備えている。
受光レンズ32は、受光素子アレイ34よりも反射光の到来方向に設けられており、互いに光軸が異なる2つの受光レンズ32A、32Bを備えている。これら2つの受光レンズ32A、32Bによって反射光を受光素子アレイ34に集光する。本実施形態におけるこれら2つの受光レンズ32A、32Bは、互いに同一形状の平凸レンズであって、図示していないが平面視形状は円形である。また、2つの受光レンズ32A、32Bは各レンズの主平面上の一点で互いに接している。また、2つの受光レンズ32A、32Bの光軸は互いに異なる位置となっている。それら光軸の位置は、詳しくは、受光素子アレイ34の配列方向の中央を通り、その受光素子アレイ34の配列方向に対して垂直な平面を平面について面対称となっている。さらに、2つの受光レンズ32の光軸は、いずれも、受光素子アレイ34の配列方向に対して垂直ではなく、受光素子アレイ34の配列方向に対して傾いている。
受光素子アレイ34は、照射光の走査方向(すなわち本実施形態では水平方向)に配列された複数の受光素子を備えており、図2に示すように、本実施形態では受光素子としてのフォトダイオード(以下、PD)が21個配列されている。なお、この21個のPDは、積層形成されたものであり、各PDをセルと呼ぶこともある。また、各PD1〜PD21には、抵抗RおよびスイッチS1〜S21が接続されており、これら抵抗R、スイッチSを介して、各PDは同一の出力線35に接続されている。また、スイッチS1〜S21は演算部60によってオンオフが制御される。スイッチS1〜S21の制御は、個別に行うことができ、1つのみをオンすることも、また、2つのスイッチを同時にオンすることもできる。そして、スイッチS1〜S21がオンされると、対応するPDが受光可能状態となる。
出力線35は増幅部40に接続されており、受光素子アレイ34によって受光された反射光の強度を示す受光信号は、増幅部40によって増幅され、さらに、AD変換部50によってデジタル信号に変換されて演算部60に入力される。
演算部60には、前述のように、方位信号および受光信号が入力される。この演算部60はCPU、ROM、RAM等を備えたコンピュータであり、上記方位信号にてレーザ光の照射方位を把握しつつ、LD12の発光期間を指示するLD駆動信号をLD駆動部20に出力する。
レーザ光の照射方位が定まれば反射光の入射方位およびその反射光が集光するPDは、受光レンズ32の光学特性、受光素子アレイ34に対する受光レンズ32の位置から光学的に定まる。よって、演算部60は、スイッチS1〜S21のうち、レーザ光の照射方位に応じて定まる1つまたは2つのスイッチSを選択的にオンにする。これによって、反射光の検出に用いるPDが選択されることになる。このように、レーザ光の照射方位に応じて定まるスイッチを選択的にオンすることにより、ノイズが低下することから、S/N比を高くすることができる。なお、このような作動を行うことから、演算部60は、特許請求の範囲の受光素子アレイ制御手段として機能する。
図3は、照射方位と、その照射方位において選択的にオンするスイッチSとの対応関係の一部を示す図である。なお、以降の説明では、照射方位範囲が−18〜+18degになっているものとして説明する。また、図3の照射模式図において、符号70はレーザ光を反射する物体を示している。
図3に示すように、本実施形態では、照射方位0degの場合にはスイッチS6とS15の2つのスイッチSをオンにし、照射方位が8degの場合にはスイッチS2とS10の2つのスイッチSをオンにする。これに対して、照射方位が16degの場合にはスイッチS6の1つのみをオンにする。その他の照射方位については図示しないが、本実施形態のレーダ装置1は、照射方位に物体が存在する場合、照射方位が−10deg〜10deg(±10deg含まない)の範囲では、その物体からの反射光が2つの受光レンズ32によって集光される2つの位置は両方ともPD上になるが、−18deg〜−10deg、10deg〜18deg(±10deg含む)の範囲では、その物体からの反射光が2つの受光レンズ32による集光される2つの位置のうち一方のみがPD上になる。このように、照射方位に応じて集光位置が定まることから、演算部60は照射方位に基づいて定まるPDを選択的にオンにする。なお、具体的に、どのPDをオンにするかは後述する。
照射方位に応じて選択されたPDからの受光信号は、演算部60に入力される。演算部60はその受光信号の強度に基づいてレーザ光の照射方位に物体が存在するか否かを判定する物体判定処理(特許請求の範囲の物体判定手段に相当)を行う。この物体判定処理の詳細は後述する。また、演算部60は、レーザ光を照射してから、そのレーザ光の反射光を受光するまでの時間に基づいて物体までの距離も測定する。
前述のように、演算部60は、受光信号の強度に基づいてレーザ光の照射方位に物体が存在するか否かを判定する。しかしながら、レーザ光は、主たる出射方向より強度は相当に弱いものの、漏れ光、すなわち、主たる出射方向からずれた方向に出射する光が存在する。なお、本明細書において、単にレーザ光という場合には、漏れ光は含まない主たる出射方向のレーザビームを指す。
図4は、出射方位と漏れ光の強度との関係を示す図である。この図に示すように、主たる出射方位(この図では0°〜数deg)以外にも、±数deg〜±30degの範囲にも、光が出射されている。これが漏れ光であり、その強度は主たる出射方位に対して10−3〜10−6程度である。
ところで、レーダ装置1の感度は、出射方位に存在する反射強度の低い物体も検出できるような感度に設定されている。すなわち、出射したレーザ光よりも相当に低い強度の反射光であっても検出可能なように設定されている。そのため、漏れ光自体は主たる出射方位のレーザ光よりも強度が10−3〜10−6程度も低くても、漏れ光を反射する物体が、例えば、道路やその周辺に設置された反射板などの反射率の高い物体である場合には、漏れ光が反射された反射光であっても、その反射光が受光素子アレイ34に受光された場合、受光信号の強度が、物体が存在すると判断する閾値を超えてしまうことがある。
ここで、仮に、漏れ光の反射光の強度が、物体が存在すると判断する強度を超えているとしても、漏れ光の反射光が集光するPDが検出可能状態でなければ、漏れ光の反射光によって、物体が存在すると判断してしまうことはない。しかも、演算部60は、照射方位(すなわち、主たる出射方位)に応じて定まるPDを選択的にオンにしており、漏れ光の出射方位に応じて定まるPDをオンにしているわけではない。
しかしながら、本実施形態のレーダ装置1は、受光素子アレイ34を構成する複数のPDのうちの一部は、異なる複数の照射方位においてオンされる。たとえば、図3の例では、PD6は、0degと16degの2つの照射方位においてオンされる。そのため、照射方位が0degの場合に、16degの方位に反射率の高い物体が存在すると、PD6に漏れ光の反射光が集光するので、0degには物体が存在しなくても、受光信号の強度が閾値を超える可能性がある。
よって、単純に、受光信号の強度が閾値を超えた場合に、照射方位に物体が存在すると判断してしまうと、実際には物体が存在しないのに、照射方位に物体が存在すると判断してしまう、すなわち、ゴーストを検出してしまう恐れがある。
そこで、演算部60は、各照射方位に対して、その照射方位に基づいて定まる2つのPDが受光した受光強度を個別に判断することで、実際に存在する物体とゴーストとを区別するようにしている。
次に、演算部60が行う測距処理と物体判定処理(検出した物体が実体かゴーストかを判定する処理)について説明する。物体判定処理は、照射方位に物体が存在する場合に、2つのPDが反射光を受光する場合と、1つのPDのみが反射光を受光する場合とで、処理内容が異なる。なお、前者は、照射方位が0〜10degまたは−10〜0degの場合であり、後者は、10〜18degまたは−18〜−10degの場合である。
まず、前者の場合における物体判定処理を説明する。図5は、照射方位が0〜10degの場合において演算部60が行う測距処理、物体判定処理を説明する図である。なお、照射方位が−10〜0degの場合も、0〜10degと全く処理である。
図5において、セル1は、照射方位に応じて定まる2つのPDのうちの一方を意味し、セル2は 照射方位に応じて定まる2つのPDのうちの他方を意味する。「オンするセル」の欄に示されるように、物体までの距離を測定する「測距」の場合にはセル1、セル2をともにオンする。この場合、「測距」の欄のケース1に示されるように、照射方位に物体が存在する場合には、セル1、セル2ともに物体からの反射光を受光する。しかしながら、照射方位に物体が存在しなくても、漏れ光が照射される範囲に物体が存在していれば、「測距」の欄のケース2に示されるように、一方のセル(図5ではセル1)が反射光を受光することがある。「測距」の欄のケース2の場合、実際には存在しない照射方位の物体(ゴースト)までの距離を測定してしまうことになる。
そこで、距離を測定した物体が実体であるのかゴーストであるのかを判定するために、物体判定処理を行う。物体判定処理では、「ゴースト検知受光1」と「ゴースト検知受光2」を順番に行う。なお、「ゴースト検知受光1」と「ゴースト検知受光2」の順番は、いずれが先でもよい。
前述のように、レーザ光の照射方位に物体が存在する場合には、セル1、2ともに反射光を受光する。これに対して、主たるレーザ光の照射方位には物体は存在しないが、漏れ光が照射される範囲に物体が存在する場合には、セル1は反射光を受光するが、セル2は反射光を受光しないか、反対に、セル2は反射光を受光するが、セル1は反射光を受光しない。なお、物体の位置によっては、セル1、2ともに反射光を受光しないこともある。この場合には、ゴーストを検知してしまうことはないので、図示は省略している。
このように、照射方位に物体が存在する場合には、セル1、2ともに反射光を受光するが、照射方位からずれた方位に物体が存在する場合には、セル1、2のうちの一方のみが反射光を受光するか、あるいは、セル1、2とも反射光を受光しない。
ここで、図2に示したように、受光素子アレイ34の出力ラインは1本となっている。そのため、セル1、セル2を両方ともオンにした場合には、セル1、2のいずれか一方のみが受光しているのか、あるいは、セル1、2の両方とも受光しているのかを判断することができない。
そこで、物体判定処理では、セル1のみをオンする「ゴースト検知受光1」、およびセル2のみをオンする「ゴースト検知受光2」を順番に行うことにより、セル1およびセル2に受光があるか否かを個別に判断する。
「ゴースト検知受光1」、「ゴースト検知受光2」を行った結果、セル1およびセル2がともに反射光を受光していると判断できた場合には、「照射方位/物体方位」の欄に示すように、照射方位と物体方位は一致していると判断でき、「判定」の欄に示すように、測距した物体は実体であると判定できる。一方、セル1は反射光を受光しているが、セル2は反射光を受光していないと判断できた場合には、「照射方位/物体方位」の欄に示すように、照射方位と物体方位は不一致であり、「判定」の欄に示すように、測距した物体はゴーストであったと判定できる。なお、セル2は反射光を受光しているが、セル1は反射光を受光していないと判断できた場合にも、測距した物体はゴーストであったと判定できる。
次に、照射方位に物体が存在する場合に、1つのPDのみが反射光を受光する場合、すなわち、照射方位が10〜18degまたは−18〜−10degの場合における物体判定処理を説明する。図6は、照射方位が10〜18degの場合において演算部60が行う測距処理、物体判定処理を説明する図である。なお、照射方位が−18〜−10degの場合も、10〜18degと全く処理である。
図6においては、セル1は、照射方位に応じて定まる1つのPDを意味し、、特許請求の範囲の第1受光素子に相当する。また、セル2は、他の照射方位において照射方位に存在する物体からの反射光をセル1とともに受光するセルであり、特許請求の範囲の第2受光素子に相当する。
照射方位が10〜18degの場合は、ケース1に示すように、照射方位に物体が存在する場合には、1つのセルのみが反射光を受光する。よって、「測距」においてはセル1のみをオンする。しかし、ケース3に示すように、照射方位に物体が存在しなくても、漏れ光が照射される範囲に物体80が存在していれば、ケース3に示されるように、セル1が反射光を受光することがある。ケース3の場合には、実際には存在しない照射方位の物体(ゴースト)までの距離を測定してしまうことになる。
そこで、距離を測定した物体が実体であるのかゴーストであるのかを判定するために、物体判定処理を行うのである。しかし、ケース2のように、セル1は、主たるレーザ光の照射方位に存在する物体からの反射光を受光するが、同時に、漏れ光の照射方位に存在する物体からの反射光も受光する場合を考慮する必要がある。そこで、照射方位が10〜18degの場合には、受光信号の強度の大きさの比較から実体かゴーストかの判定を行う。
図6の「測距」の欄のケース1に示した模式図から分かるように、レーザ光の照射方位に物体が存在する場合には、セル1は反射光を受光するが、セル2は反射光を受光しない。これに対して、主たるレーザ光の照射方位には物体は存在しないが、漏れ光が照射される範囲に物体80が存在する場合には、その物体80からの反射光をセル1が受光する可能性がある。しかし、この場合、「測距」の欄のケース3に示した模式図から分かるように、セル1のみではなく、セル2も反射光を受光する。なお、ケース3とは異なり、漏れ光が照射される範囲に物体が存在しても、その物体の位置によっては、セル1、2ともに反射光を受光しないこともある。この場合には、ゴーストを検知してしまうことはないので、図示は省略している。
さらに、「測距」の欄のケース2に示した模式図のように、レーザ光の照射方位に物体が存在するが、漏れ光が照射される範囲に存在する物体からも、反射光を受光する場合がある。この場合には、ケース3と同様に、セル1、2ともに反射光を受光することになり、セル1、2が反射光を受光しているか否かのみでは、ケース2とケース3とを区別することができない。
そこで、受光信号の強度(以下、受光強度)Eを比較する。ケース3の場合には、セル1もセル2も物体80からの反射光を受光するのみであるので、セル1の受光強度(以下、第1受光強度)E1とセル2の受光強度(以下、第2受光強度)E2は等しくなる(E1=E2)。一方、ケース2の場合には、セル2は物体80からの反射光のみを受光するが、セル1は物体80からの反射光に加えて、物体70からの反射光も受光する。そのため、ケース2の場合、E1>E2となる。
このように受光強度Eの違いから、ケース2とケース3とを区別することができる。そこで、受光強度がE1=E2である場合には、「照射方位/物体方位」の欄に示すように、照射物体と物体方位は不一致であり、「判定」の欄に示すように、測距した物体はゴーストであったと判定する。一方、受光強度がE1>E2である場合には、「照射方位/物体方位」の欄に示すように、照射物体と物体方位は一致しており、「判定」の欄に示すように、測距した物体は実体であったと判定する。なお、セル1、2とも受光信号強度が閾値を越えていることを条件として追加してもよい。
次に、演算部60が実行する物体判定処理の処理順序を図7を用いて説明する。この図7に示す処理は、レーザ光の照射方位毎に、測距を行った後に実行する。まず、ステップS1では、照射方位を判断する。照射方位が、−10deg〜10deg(±10degは含まない)の場合にはステップS2へ進み、−18deg〜−10degまたは10deg〜18deg(±10degを含む)の場合にはステップS7へ進む。
ステップS2では、セル1、セル2をオンにして受光し、受光強度E1、E2を保存する。続くステップS3では、セル1だけをオンにして、第1受光強度E1を保存する。次のステップS4では、反対に、セル2だけをオンにして、第2受光強度E2を保存する。ステップS5では、ステップS3で保存した第1受光強度E1およびステップS4で保存した第2受光強度E2の値を判断する。そして、受光強度E1、E2のいずれか一方のみがゼロの場合にはステップS6へ進む。なお、ここでの受光強度ゼロとは、実質的なゼロ、すなわち、物体が存在すると判断する閾値よりも受光強度が低いことを意味する。
照射方位が−10deg〜10degの場合には、図5のケース1に示したように、照射方位に物体が存在していれば、セル1、セル2ともに反射光を受光するはずである。そこで、受光強度E1、E2のいずれかがゼロの場合には、測距した物体はゴーストであると判断して、ステップS6では、受光結果(すなわち、ステップS1、S2で保存した受光強度E)を削除する処理を行う。一方、ステップS5において判断した受光強度E1、E2が、「いずれか一方のみがゼロ」以外の場合、すなわち、両方とも受光強度がゼロでないか、または両方とも受光強度がゼロの場合には、ステップS6を実行することなく、図7の処理を終了する。この場合、図示しないステップにおいて、両方とも受光強度がゼロの場合には照射方位に物体は存在しないと判定し、両方とも受光強度が0ではない場合には照射方位に物体が存在すると判定する。
次に、ステップS1で判断した照射方位が−18deg〜10degまたは10deg〜18degの場合に実行するステップS7以下を説明する。ステップS7では、セル1だけをオンにして、第1受光強度E1を保存する。続くステップS8では、セル2だけをオンにして、第2受光強度E2を保存する。そして、ステップS9では、ステップS7で保存した第1受光強度E1およびステップS8で保存した第2受光強度E2を比較する。そして、E1=E2、または、E1<E2である場合にはステップS10へ進む。
照射方位が−18deg〜−10degまたは10deg〜18degの場合には、図6に示したように、照射方位に物体が存在していれば、受光強度Eは、E1>E2のはずである(ケース1、2)。換言すれば、E1=E2あるいはE1<E2の場合には、ゴーストであると判断できる。そこで、E1=E2あるいはE1<E2の場合にはステップS10へ進み、受光結果を削除する処理を行う。一方、E1>E2の場合には、ステップS10を実行することなく、図7の処理を終了する。この場合、照射方位に物体が存在すると判定することになる。
以上、説明した本実施形態によれば、照射方位に基づいて定まる2つのPDの受光信号に基づいて、照射方位に物体が存在するか判定する。より詳しくは、照射方位が−10deg〜10degでは、照射方位に対応した2つのPDの受光強度Eが、ともに、物体が存在すると判定する強度以上であれば、照射方位に物体が存在すると判定し、それら2つのPDの受光強度のうちの少なくとも一方が、物体が存在すると判定する強度よりも低ければ、照射方位に物体が存在しないと判定している。また、照射方位が−18〜−10degまたは10〜18degでは、照射方位に対応しているセル1の第1受光強度E1と、他の照射方位においてセル1とともに照射方位に存在する物体からの反射光を受光するセル2の第2受光強度E2とを比較して、第1受光強度E1が、第2受光強度E2と等しいかまたはそれよりも低ければ、照射方位に物体は存在しないと判定している。これにより、漏れ光に起因するゴーストを検出してしまうことが抑制できる。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、次の実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
たとえば、前述の実施形態では、受光素子アレイ34の出力線35は、すべてのPDに共通の一本のみであったが、PD毎に出力線が設けられ、PD毎の受光強度が演算部60に入力されるようになっていてもよい。このようにすれば、照射方位に基づいて定まる2つのPDを順番に切り替えてオンにすることなく、2つのPDの受光強度E1、E2を検出することができる。
また、前述の実施形態では、測距の後に、測距した物体が実体であるかゴーストであるかを判定していたが、物体が実体であるかゴーストであるかを先に判定し、実体であると判定した物体について、距離を測定してもよい。
また、前述の実施形態では、2つの受光レンズ32A、32Bの光軸は、受光素子アレイ34の配列方向に対して傾いていたが、それら2つの受光レンズ32A、32Bは、受光素子アレイ34を構成する複数のPDのうちの少なくとも一部が、異なる2つの照射方位において反射光を受光可能なように集光スポットを形成しさえすれば、光軸の傾きや2つの受光レンズ32の位置は種々変更可能である。たとえば、2つの受光レンズ32A、32Bの光軸が、受光素子アレイ34の配列方向に対して垂直であってもよい。また、特許文献1の図9のように、2つの受光レンズの形状が、平面視形状が半円形となっており、各受光レンズは弦部分において互いに接する構成であってもよいし、また、特許文献1の図10のように、2つの受光レンズが、ともに、平面視形状が欠けた部分のない円形形状から他方の受光レンズに組み合わせられる部分のみが欠けた形状であってよい。
1:レーダ装置、 10:送信部(照射部)、 12:レーザダイオード、 14:スキャナ、 16:ポリゴンミラー、 20:LD駆動部、 30:受信部、 32:受光レンズ、 34:受光素子アレイ、 35:出力線、 40:増幅部、 50:AD変換部、 60:演算部(受光素子アレイ制御手段、物体判定手段)、 70:物体、 80:物体、 PD:フォトダイオード(受光素子)、 E:受光強度

Claims (3)

  1. 所定の照射方位範囲にレーザ光を順次照射する照射部と、
    前記レーザ光が物体に反射した反射光を受光するために複数の受光素子が配列されている受光素子アレイと、
    前記反射光を前記受光素子アレイに集光させる受光レンズであって、光軸が互いに異なる2つの受光レンズと、
    前記受光素子アレイを構成する複数の受光素子から選択的に受光素子を検出可能状態とする受光素子アレイ制御手段とを備え、
    前記受光素子アレイを構成する複数の受光素子のうちの少なくとも一部は、異なる2つの照射方位において反射光を受光可能となっており、
    前記受光素子アレイの受光信号に基づいて物体検出を行うレーダ装置であって、
    前記受光素子アレイ制御手段は、前記受光素子アレイを構成する複数の受光素子のうち、前記照射部から照射されるレーザ光の照射方位に基づいて定まる2つの受光素子を選択的に検出可能状態とし、
    照射方位に基づいて定まる2つの受光素子の受光信号に基づいて、照射方位に物体が存在するか判定する物体判定手段を備え
    照射方位に物体が存在する場合に前記複数の受光素子のうちの2つがその物体からの反射光を受光する照射方位である場合には、前記受光素子アレイ制御手段は、照射方位に対応した2つの受光素子を選択的に受光可能状態とし、
    前記物体判定手段は、前記受光素子アレイ制御手段によって検出可能状態とされた2つの受光素子の受光信号強度が、ともに、物体が存在すると判定する強度以上であれば、照射方位に物体が存在すると判定し、それら2つの受光素子の受光信号強度のうちの少なくとも一方が、物体が存在すると判定する強度よりも低ければ、照射方位に物体は存在しないと判定することを特徴とするレーダ装置。
  2. 所定の照射方位範囲にレーザ光を順次照射する照射部と、
    前記レーザ光が物体に反射した反射光を受光するために複数の受光素子が配列されている受光素子アレイと、
    前記反射光を前記受光素子アレイに集光させる受光レンズであって、光軸が互いに異なる2つの受光レンズと、
    前記受光素子アレイを構成する複数の受光素子から選択的に受光素子を検出可能状態とする受光素子アレイ制御手段とを備え、
    前記受光素子アレイを構成する複数の受光素子のうちの少なくとも一部は、異なる2つの照射方位において反射光を受光可能となっており、
    前記受光素子アレイの受光信号に基づいて物体検出を行うレーダ装置であって、
    前記受光素子アレイ制御手段は、前記受光素子アレイを構成する複数の受光素子のうち、前記照射部から照射されるレーザ光の照射方位に基づいて定まる2つの受光素子を選択的に検出可能状態とし、
    照射方位に基づいて定まる2つの受光素子の受光信号に基づいて、照射方位に物体が存在するか判定する物体判定手段を備え
    照射方位に物体が存在する場合に前記複数の受光素子のうちの1つがその物体からの反射光を受光する照射方位である場合には、前記受光素子アレイ制御手段は、照射方位に対応した第1受光素子、および、他の照射方位においてその照射方位に存在する物体からの反射光を第1受光素子とともに受光する第2受光素子を選択的に受光可能状態とし、
    前記物体判定手段は、前記第1受光素子の受光信号強度が、前記第2受光素子の受光信号強度と等しいか、またはそれよりも低ければ、照射方位に物体は存在しないと判定することを特徴とするレーダ装置。
  3. 請求項1または2において、
    前記受光素子アレイは、前記複数の受光素子がそれぞれ検出する受光信号を同一の出力線により出力するようになっており、
    前記受光素子アレイ制御手段は、前記照射方位に基づいて定まる2つの受光素子を順番に切り替えて選択的に受光可能状態とすることを特徴とするレーザ装置。
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