JP2022013094A - 弾性波デバイスパッケージ - Google Patents

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Abstract

【課題】弾性波デバイスパッケージに、前記静電破壊を可及的に防止可能な構造を、適切且つ合理的に備える弾性波デバイスパッケージを提供する。【解決手段】弾性波デバイスパッケージDにおいて、弾性波デバイス1は、電極パターン1jと、封止樹脂3を備える。電極パターン1jは、弾性波デバイス1の外縁1eに向けて延びる延長部1nを備える。封止樹脂3は、弾性波デバイス1の外縁1e側において弾性波デバイス1とパッケージ基板との間に入り込んで延長部1nと電気的に接続された周回入り込み部3cを備える。封止樹脂3は、体積抵抗率を100Ωcm以上107Ωcm以下とする導電性を有する。【選択図】図4

Description

この発明は、封止樹脂で封止された中空構造を有する弾性波デバイスパッケージ、特に静電破壊を低減させる構造を備えた弾性波デバイスパッケージに関する。
表面弾性波を用いたフィルタ(弾性波デバイス)は携帯電話の送受信回路に広く用いられている。この基本構造は、すでに多くの解説書に述べられているように、タンタル酸リチウムやニオブ酸リチウム等の圧電基板上に櫛形電極が形成された共振子である。この共振子の電極ピッチは0.7ミクロンから2ミクロン程度と狭く、圧電基板は高抵抗であるため、帯電もしくは焦電効果によって電荷が蓄積されると高い電位差が生じ、静電破壊が起こりやすい。この静電破壊は弾性波デバイスをパッケージ基板に搭載してこのパッケージ基板と封止樹脂により弾性波デバイスをパッケージして弾性波デバイスパッケージを生成するパッケージング工程から、このように生成された弾性波デバイスパッケージをプリント基板上にハンダ付けする工程までの間で発生しやすい。
一方、弾性波デバイスには中空構造が必須である。この中空構造を実現するため、従来はセラミックパッケージが一般的であったが、最近では低コスト化のためにモールド樹脂で封止されたパッケージが増えてきている。
ここで、弾性波デバイスの静電破壊を防止する方法としては、圧電基板であるタンタル酸リチウムやニオブ酸リチウム等にわずかな導電性を持たせる方法がよく知られている。還元処理または鉄をドープする方法である(特許文献1、特許文献2)。しかし、この方法はウェーハプロセス中の帯電を防ぐには効果があるものの、より激しく帯電する環境に置かれるパッケージング工程からハンダ付けする工程向けの対策としては不十分である。
また、導電性樹脂を表面上に塗布する等の方法で静電対策を行う方法も提案されているが、工程が増えるという欠点があった(特許文献3~5)。
特開2004-254114号公報 特開2005-206444号公報 特開2006-033053号公報 特開平9-116364号公報 特開平9-172349号公報
この発明が解決しようとする主たる問題点は、弾性波デバイスパッケージに、前記パッケージング工程から弾性波デバイスパッケージをプリント基板上にハンダ付けする工程までの間において、前記静電破壊を可及的に防止可能な構造を、適切且つ合理的に備えさせるようにする点にある。
前記課題を達成するために、この発明にあっては、弾性波デバイスパッケージを、圧電基板の一面に櫛形電極を含んだ電極パターンを形成してなる弾性波デバイスと、
前記弾性波デバイスの前記一面との間に隙間を形成させた状態で前記弾性波デバイスを搭載するパッケージ基板と、
前記パッケージ基板の前記搭載側に形成される前記弾性波デバイスの封止樹脂とを備えてなる、弾性波デバイスパッケージであって、
前記電極パターンは、前記弾性波デバイスの外縁に向けて延びる延長部を備えており、
前記封止樹脂は、前記弾性波デバイスの外縁側において前記弾性波デバイスと前記パッケージ基板との間に入り込んで前記延長部と電気的に接続された周回入り込み部を備えていると共に、
前記封止樹脂に、体積抵抗率を100Ωcm以上107Ωcm以下とする導電性を付加させてなる、ものとした。
前記延長部により、前記電極パターンにおける全ての独立電位点と前記封止樹脂とを電気的に接続させるようにすることが、この発明の形態の一つとされる。
また、前記延長部により、前記電極パターンにおける一部の独立電位点と前記封止樹脂とを電気的に接続させると共に、その余の独立電位点を前記封止樹脂に電気的に接続させないようにすることが、この発明の形態の一つとされる。
また、前記電極パターンにおける少なくとも一つの独立電位点と前記封止樹脂とを、複数の前記延長部によって電気的に接続させるようにすることが、この発明の形態の一つとされる。
この発明によれば、弾性波デバイスパッケージに、前記パッケージング工程から弾性波デバイスパッケージをプリント基板上にハンダ付けする工程までの間において、前記静電破壊を可及的に防止可能な構造を、適切且つ合理的に備えさせることができる。
図1は、この発明の一実施の形態にかかる弾性波デバイスパッケージを構成する弾性波デバイス(第一例)の底面構成図である。 図2は、前記弾性波デバイス(第一例)の要部底面構成図である。 図3は、前記弾性波デバイスパッケージの縦断面構成図である。 図4は、図3におけるA-A線位置での断面構成図である。 図5は、弾性表面波デバイスの他の構成例(第二例)を示した要部底面構成図である。 図6は、弾性表面波デバイスの他の構成例(第三例)を示した要部底面構成図である。 図7は、弾性表面波デバイスの他の構成例(第四例)を示した要部底面構成図である。 図8は、弾性表面波デバイスの他の構成例(第五例)を示した要部底面構成図である。
以下、図1~図8に基づいて、この発明の典型的な実施の形態について、説明する。この実施の形態にかかる弾性波デバイスパッケージDは、弾性波デバイス1(チップ)と、パッケージ基板2と、封止樹脂3(モールドレジン)とを備える。
(弾性波デバイス1)
弾性波デバイス1は、圧電基板1aの一面1bに、金属膜によって櫛形電極1k(IDT)を含んだ電極パターン1jを形成させてなる。すなわち、弾性波デバイス1は、板状をなし、また、その一面1bを前記電極パターン1jの形成面としている。
また、弾性波デバイス1は、前記櫛形電極1kの形成面と反対の他面1cを有すると共に、その厚さ方向に沿った端面1dとを備える。
前記一面1bと端面1dとの間の隅部が弾性波デバイス1の外縁1eとなる。
また、前記電極パターン1jは、前記弾性波デバイス1の外縁1eに向けて延びる延長部1nを備えている。
図1はその典型的な構成例を示している。前記電極パターン1jには、複数の櫛形電極1kと配線1mと延長部1nとが含まれている。各図においては、便宜上、櫛形電極1kの形成箇所に実線の斜線を付し、配線1mの形成箇所に破線の斜線を付し、後述のパッド電極1pの形成箇所に一点鎖線の斜線を付し、延長部1n中の絶縁膜が取り除かれた後述の露出箇所1oにクロスハッチングを付している。
弾性波デバイス1は、四角形の輪郭形状を持っている。配線1mと弾性波デバイス1の外縁1eとの間には、弾性波デバイス1のいずれの辺(図1における上辺1f、下辺1g、左辺1h、右辺1i)においても、所定の距離L(図2参照)が開けられている。
図1に示される例では、前記延長部1nは、前記配線1mと前記外縁1eとの間に亘って、形成されている。各延長部1nは、各配線1mにおける隣接する辺側に位置される外郭に直交する向きに配線1mから延び出し前記外縁1eに至るように形成されている。この例では、延長部1nの延び出し先端1n’はダイシング工程での切断位置と一致することとなる。
なお、図5に示されるように、前記延長部1nは、その延び出し先端1n’と前記外縁1eとの間に間隔を開けるように、形成させても良い。
また、図示の例では、前記延長部1nは、前記電極パターン1jにおける独立電位点E(ノード)の数分形成されている。すなわち、一つの独立電位点Eとなる配線1mに一つの延長部1nが接続されている。
ただし、全ての独立電位点Eに延長部1nを接続する必要がない場合もある。電荷が蓄積されやすい箇所、およびその蓄積された電荷による高い電位差によって静電破壊されやすい櫛形電極1kの箇所は、個々の弾性波デバイス1の設計に応じて一様ではないために、一般化することは困難ではあるが、別途の方法により静電破壊が起こりにくいことが判明した櫛形電極1kに接続される延長部1nは省略することが可能である。
図示は省略するが、この場合は、弾性波デバイスパッケージDは、前記延長部1nにより、前記電極パターン1jにおける一部の独立電位点Eと前記封止樹脂3とを電気的に接続させると共に、その余の独立電位点Eを前記封止樹脂3に電気的に接続させないようにしたものとなる。
同様に、別途の方法により静電破壊が起こりやすいことが判明した櫛形電極1kに接続される延長部1nは、その幅を太くする、または、図6に示されるように、一つの独立電位点Eが複数の延長部1nを持つことで、より効果を大きくすることができる。
前記別途の方法とは、実際に高電圧を複数の弾性波デバイス1に印加して破壊箇所を統計的に調べることで可能であり、また櫛形電極1kの電極間隔等の設計情報から予測できることもある。
ここで、本明細書において前記独立電位点Eとは、前記電極パターン1jを構成する配線1mのうち、櫛形電極1kによって分断されて他の配線部分から独立した配線部分を意味する。
前記電極パターン1jは、絶縁膜で被覆されるが、前記延長部1nについては、少なくともその延び出し先端1n’側ではこの絶縁膜が取り除かれてこれを構成する金属膜を露出させている。図1及び図2に示される例では、この露出箇所1oは弾性波デバイス1の外縁1eまで続いている。
なお、図7に示されるように、前記露出箇所1oは弾性波デバイス1の外縁1eのやや手前で終わっていても良い。
また、図8のように、前記延長部1nが、その延び出し先端1n’と前記外縁1eとの間に間隔を開けるように形成されており、かつ前記露出箇所1oがその延び出し先端1n’のやや手前で終わっていても良い。
(パッケージ基板2)
パッケージ基板2は、前記弾性波デバイス1の前記一面1bとの間に隙間Gを形成させた状態で前記弾性波デバイス1を搭載する構成となっている。
パッケージ基板2は、絶縁性を備えた板状の材料から構成されている。パッケージ基板2は、前記弾性波デバイス1の搭載側の表面2aと、この搭載側の表面2aと反対の裏面2bと、厚さ方向に沿った端面2cとを備える。
パッケージ基板2は、弾性波デバイス1の端面1dの外側にパッケージ基板2の端面2cを、弾性波デバイス1の中心を巡るいずれの位置においても位置させる大きさに形成されている。
弾性波デバイス1は、典型的には、弾性波デバイス1の前記一面1bに形成されたパッド電極1pと、パッケージ基板2の表面2aに形成させたパッド電極2dとを、パッケージ基板2側に先に形成させたバンプ4を介して一体化させた状態でパッケージ基板2の前記表面2a上に載置される。前記バンプ4は、ワイヤーボンディングのファーストボンドによって形成される、金スタッドバンプが典型例である。バンプ4と弾性波デバイス1のパッド電極1pとは超音波溶着などの公知の手法により固着される。
弾性波デバイス1の一面1bと、パッケージ基板2の表面2aとの間には、前記バンプ4、及び、パッド電極1p、2dの厚さ分の隙間Gが、弾性波デバイス1の前記一面1bのいずれの箇所においても形成されている。
パッケージ基板2の裏面2bには外部接続端子2eが形成されている。パッケージ基板2に前記のように搭載された弾性波デバイス1はその櫛形電極1kの少なくとも一部を前記配線1mを介してこの外部接続端子2eに電気的に接続させており、この外部接続端子2eによって弾性波デバイスパッケージDと外部とが電気的に接続されるようになっている。
(封止樹脂3)
封止樹脂3は、前記パッケージ基板2の前記搭載側に形成されて、前記パッケージ基板2と協働して、前記弾性波デバイス1を気密状態に収める。この封止樹脂3によって、前記パッケージ基板2と前記弾性波デバイス1との間に前記櫛形電極1k及び配線1mを囲む中空部5が形成される。
封止樹脂3は、弾性波デバイス1の他面1c上に位置する上面部3aと、弾性波デバイス1の端面1dの外側に位置すると共に前記パッケージ基板2の端面2cと外面を面一とする側面部3bとを備える。
また、前記封止樹脂3は、前記弾性波デバイス1の外縁1e側において前記弾性波デバイス1と前記パッケージ基板2との間に入り込んで前記延長部1nと電気的に接続された周回入り込み部3cを備えている。
すなわち、前記封止樹脂3の側面部3bは、前記弾性波デバイス1の端面1dを覆って下端を前記パッケージ基板2の表面2bに密着させると共に、その内側に前記周回入り込み部3cを備えている。
図示の例では、前記周回入り込み部3cは、前記所定の距離L内において、複数の独立電位点Eにそれぞれ備えられた前記延長部1nの全てに接し、前記配線1mに接しないように、形成されている(図4参照)。また、前記周回入り込み部3cはバンプ4にも接しないことが望ましい。
それと共に、前記封止樹脂3には、体積抵抗率を100Ωcm以上107Ωcm以下とする導電性が付加されている。
前記独立電位点E間の電気抵抗値は、その部分の回路インピーダンスに対して十分に大きい必要があり、小さすぎると高周波のロスが発生する。具体的には、回路インピーダンスが100Ωの場合、それよりも1000倍以上大きい100キロΩ以上であればほとんど高周波特性に影響を与えない。さらに、通常の弾性波フィルタ製品では端子間の電気抵抗値として1メガΩ以上、または10メガΩ以上と規定されていることが多いのでこれを考慮する必要もある。
また、あまりにも電気抵抗値が高いと、帯電した電荷を逃がすのに時間がかかりすぎるために、静電破壊防止の効果が出なくなる。通常、前記独立電位点E間の静電容量は0.1から1ピコファラド程度であるため、抵抗値が100ギガΩ以下であれば放電時間は100ミリ秒程度以下となり、帯電した電荷を逃がすことができる。
ここで、実際の抵抗値と体積抵抗率との関係を導出する。より現実的な値として、たとえば、延長部1nと封止樹脂3との接触面積が10ミクロン×10ミクロン、隣り合う延長部1nとの間隔を100ミクロンとする。これは簡略化すれば、断面積が10ミクロン×10ミクロン、長さが100ミクロンの直方体の抵抗体と近似したものとみることができる。この場合、1メガΩの抵抗値は100Ωcmの体積抵抗率となる。同様に、100ギガΩの抵抗値は107Ωcmの体積抵抗率となる。
以上のことから、前記封止樹脂3には、体積抵抗率を100Ωcm以上107Ωcm以下とする導電性を付加することが適切となる。
この程度の体積抵抗値は、封止樹脂3を構成する樹脂材料中にカーボン粉末あるいは導電性を有する粉末を混入されること等によって実現することができる。
この体積抵抗値に関しては、上記で示した値の範囲であればどのような値でも同様の効果があるわけではなく、延長部と導電性樹脂との接触面積や樹脂の回り込み形状、製造工程での帯電の発生強度等によって最適の値を選ぶべきである。
以上に説明した弾性波デバイスパッケージでは、弾性波デバイス1の電極パターン1jに追加パターンとして前記延長部1nが形成され、封止樹脂3に導電性が付与されているものの、その構成各要素は在来の弾性波デバイスパッケージと変わるところがないことから、その製造にあたり在来の工程にない追加の工程を必要としない。すなわち、以上に説明した弾性波デバイスパッケージは在来の工程により製造可能である。
なお、当然のことながら、本発明は以上に説明した実施態様に限定されるものではなく、本発明の目的を達成し得るすべての実施態様を含むものである。
D 弾性波デバイスパッケージ
L 距離
G 隙間
E 独立電位点
1 弾性波デバイス
1a 圧電基板
1b 一面
1c 他面
1d 端面
1e 外縁
1f 上辺
1g 下辺
1h 左辺
1i 右辺
1j 電極パターン
1k 櫛形電極
1m 配線
1n 延長部
1n’ 延び出し先端
1o 露出箇所
1p パッド電極
2 パッケージ基板
2a 表面
2b 裏面
2c 端面
2d パッド電極
2e 外部接続端子
3 封止樹脂
3a 上面部
3b 側面部
3c 周回入り込み部
4 バンプ
5 中空部

Claims (4)

  1. 圧電基板の一面に櫛形電極を含んだ電極パターンを形成してなる弾性波デバイスと、
    前記弾性波デバイスの前記一面との間に隙間を形成させた状態で前記弾性波デバイスを搭載するパッケージ基板と、
    前記パッケージ基板の前記搭載側に形成される前記弾性波デバイスの封止樹脂とを備えてなる、弾性波デバイスパッケージであって、
    前記電極パターンは、前記弾性波デバイスの外縁に向けて延びる延長部を備えており、
    前記封止樹脂は、前記弾性波デバイスの外縁側において前記弾性波デバイスと前記パッケージ基板との間に入り込んで前記延長部と電気的に接続された周回入り込み部を備えていると共に、
    前記封止樹脂に、体積抵抗率を100Ωcm以上107Ωcm以下とする導電性を付加させてなる、弾性波デバイスパッケージ。
  2. 前記延長部により、前記電極パターンにおける全ての独立電位点と前記封止樹脂とを電気的に接続させてなる、請求項1に記載の弾性波デバイスパッケージ。
  3. 前記延長部により、前記電極パターンにおける一部の独立電位点と前記封止樹脂とを電気的に接続させると共に、その余の独立電位点を前記封止樹脂に電気的に接続させないようにしてなる、請求項1に記載の弾性波デバイスパッケージ。
  4. 前記電極パターンにおける少なくとも一つの独立電位点と前記封止樹脂とを、複数の前記延長部によって電気的に接続させてなる、請求項1に記載の弾性波デバイスパッケージ。
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