JP2021148531A - 光学装置、情報処理方法、および、プログラム - Google Patents

光学装置、情報処理方法、および、プログラム Download PDF

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Abstract

【課題】被検体の形状情報を高精度に導出する。【解決手段】光学装置1Aは、光選択部30と、撮像素子40と、導出部と、を備える。光選択部30は、照射された光線Rを互いに異なる波長領域の複数の分光光線Lに分光する。撮像素子40は、複数の分光光線Lを照射された被検体Bを撮像し、分光画像を取得する。導出部は、分光画像に含まれる複数の分光光線Lの各々の受光強度に基づいて、被検体Bにおける複数の分光光線Lの各々の照射領域Eを特定した特定結果から、被検体Bの表面性状または形状情報を導出する。【選択図】図1

Description

本発明の実施形態は、光学装置、情報処理方法、および、プログラムに関する。
様々な産業において、非接触での物体の形状測定が重要となっている。例えば、光を分光して物体に照明し、撮像素子で分光された画像を取得することで、物体の形状を取得する方法が開示されている。
米国特許第5675407号公報
しかし、従来では、光を分光して被検体に照射した場合の光の広がりによって、被検体の形状の計測精度が低下する場合があった。
実施形態の光学装置は、光選択部と、撮像素子と、導出部と、を備える。光選択部は、照射された光線を互いに異なる波長領域の複数の分光光線に分光する。撮像素子は、複数の分光光線を照射された被検体を撮像し、分光画像を取得する。導出部は、分光画像に含まれる複数の分光光線の各々の受光強度に基づいて、被検体における複数の分光光線の各々の照射領域を特定した特定結果から、被検体の表面性状または形状情報を導出する。
光学装置の模式図。 情報処理装置の機能的構成のブロック図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 情報処理の流れのフローチャート。 光学装置の模式図。 光学装置の模式図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 光学装置の模式図。 分光光線の強度分布を示す模式図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 照射領域の波長スペクトルを示す図。 光学装置の模式図。 投影像の強度分布を示す図。 投影像の強度分布を示す図。 ハードウェア構成図。
以下に添付図面を参照して、本実施形態の光学装置を詳細に説明する。
実施形態で説明に用いる図面は、模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付し、詳細な説明は適宜省略する。
(第1の実施形態)
図1は、本実施形態の光学装置1Aの一例を示す模式図である。
光学装置1Aは、光学装置の一例である。本実施形態および後述する実施形態の光学装置を総称して説明する場合には、単に、光学装置1と称して説明する場合がある。
光学装置1Aは、光源10と、光選択部30と、撮像素子40と、情報処理装置50と、を備える。撮像素子40と情報処理装置50とは、データまたは信号を授受可能に接続されている。
光源10は、光線Rを出射する。光線Rは、電磁波の一例である。
光源10は、発光面11が有限サイズであり、且つ、電磁波を発するものであればよい。発光面11とは、光源10における、光線Rの出射面である。発光面11が有限サイズであるとは、光学系において実質的に光源10が点光源よりも大きいことを意味する。
光源10が出射する光線Rは、例えば、可視光線、X線、赤外線、マイクロ波などである。また、光源10が出射する光線Rは、コヒーレント光、インコヒーレント光の何れであってもよい。コヒーレント光は、例えば、レーザ光である。インコヒーレント光は、例えば、発光ダイオード(LED:light emitting diode)である。
本実施形態では、光源10が、LEDである形態を一例として説明する。なお、光源10は、LEDに限らず、白熱電球、蛍光管、水銀灯等であってもよい。また、光源10は、レーザ、赤外線、または、X線などを照射する光源であってもよい。また、光源10から出射する光線Rに含まれる波長は、後述する光選択部30の波長選択性に応じて決定されればよい。
本実施形態では、光源10から照射される光線Rが電磁波であり、例えば、可視光である場合を一例として説明する。具体的には、本実施形態では、光源10から照射される光線Rが、400nmから800nmの可視光領域の波長の光線を含む場合を一例として説明する。なお、光線Rに含まれる波長は、この波長に限定されない。
また、本実施形態の光源10であるLEDは、有限サイズの発光面11を有するLEDであればよい。本実施形態では、発光面11のサイズが、0.2mm×0.2mmである場合を想定して説明する。なお、発光面11のサイズは、このサイズに限定されない。
被検体Bは、光学装置1Aにおける検査対象である。被検体Bは、後述する光選択部30を介して照射された光線Rを屈折または散乱させる対象であればよい。被検体Bは、例えば、生細胞、レーザ溶接領域を含む物体、などであるが、これらに限定されない。レーザ溶接領域は、レーザによって溶接された領域である。また、被検体Bは、固体、液体、気体、の何れであってもよい。本実施形態では、被検体Bが、固体である場合を一例として説明する。
光選択部30は、光源10から照射された光線Rを、互いに異なる波長領域の複数の分光に分光する。分光された光線Rを、分光光線Lと称して説明する。
本実施形態では、光選択部30は、光源10から照射された光線Rを、第1波長領域の第1分光光線L1、および、第2波長領域の第2分光光線L2、に分光する場合を一例として説明する。第1分光光線L1および第2分光光線L2は、分光光線Lの一例である。第1波長領域と第2波長領域とは、互いに異なる波長領域である。なお、光選択部30は、分光光線Lを、3以上の互いに異なる波長領域に分光する構成であってもよく、第1分光光線L1および第2分光光線L2に分光する形態に限定されない。
光選択部30は、互いに異なる波長領域の光線Rである第1分光光線L1および第2分光光線L2を、互いに異なる波長選択領域31から通過させる。なお、光選択部30は、第1分光光線L1および第2分光光線L2を互いに異なる方向に通過させる形態であってもよい。すなわち、光選択部30は、互いに異なる波長領域の複数の光線Rを、光選択部30における異なる位置、または、光選択部30から異なる方向に通過させる作用を有すればよい。
本実施形態では、光選択部30は、複数の波長選択領域31として、第1波長選択領域31Aおよび第2波長選択領域31Bを有する。
第1波長選択領域31Aおよび第2波長選択領域31Bは、光選択部30における光軸Zに直交する二次元平面における、互いに異なる位置に配置されている。第1波長選択領域31Aおよび第2波長選択領域31Bは、互いに異なる波長領域の光線Rを通過させる。
光線Rを通過させる、とは、光線Rを透過させる、および、光線Rを正反射させる、の少なくとも一方を意味する。透過および正反射の何れの場合であっても、後述する撮像素子40に到達する光の光路上を通る場合、透過および正反射の何れであっても“通過”と称して説明する。なお、本実施形態では、“通過”が“透過”を意味する場合を一例として説明する。
第1波長選択領域31Aは、第1波長領域の第1分光光線L1を通過させる。第2波長選択領域31Bは、第2波長領域の第2分光光線L2を通過させる。
例えば、第1波長領域の第1分光光線L1が、青色(例えば、波長450nm)の光線Rである場合を想定する。また、第2波長領域の第2分光光線L2が、赤色(例えば、波長650nm)の光線Rである場合を想定する。この場合、第1波長選択領域31Aは、照射された光線Rに含まれる青色の第1分光光線L1を通過させ、第2波長選択領域31Bは、光線Rに含まれる赤色の第2分光光線L2を通過させる。
第1波長選択領域31Aおよび第2波長選択領域31Bは、例えば、光選択部30に設けられた開口に、通過させる光線Rの波長領域に対応するバンドパスフィルタを配置することで実現すればよい。具体的には、第1波長選択領域31Aは、第1波長領域に対するバンドパスフィルタで構成し、第2波長選択領域31Bは、第2波長領域に対するバンドパスフィルタで構成すればよい。第1波長選択領域31Aおよび第2波長選択領域31Bの各々のバンドパスフィルタの幅は、例えば、0.1mmとすればよい。なお、バンドパスフィルタの幅は、この値に限定されない。
撮像素子40は、第1分光光線L1および第2分光光線L2を照射された被検体Bを撮像し、分光画像を取得する。分光画像とは、互いに異なる複数の波長領域に分光した撮像画である。本実施形態では、撮像素子40は、少なくとも第1波長領域および第2波長領域に分光した分光画像を撮像する。
撮像素子40は、例えば、CCD(Charge−Coupled Device)、CMOS(Complementary Metal−Oxide Semiconductor)等である。なお、撮像素子40には、少なくとも5つ以上の異なる波長領域を取得できるハイパースペクトルカメラを用いてもよい。
本実施形態では、撮像素子40が、画素ごとに光電変換素子(フォトダイオード)を配列した撮像素子である場合を、一例として説明する。撮像素子40は、複数の画素の各々において、少なくとも第1分光光線L1と第2分光光線L2とを分光して受光する。各画素で受光した光線Rの光強度は、受光強度、強度、または、画素値、と称される場合がある。以下、各画素で受光した光線Rの光強度を、画素値と称して説明する。
例えば、撮像素子40は、画素毎に複数枚の波長フィルタを備えた構成とすればよい。複数枚の波長フィルタは、互いに異なる波長の光線Rを選択的に透過するフィルタである。画素毎に複数枚の波長フィルタを備えた構成とすることで、撮像素子40は、各画素で分光することができる。すなわち、撮像素子40は、第1波長領域と第2波長領域とを分光した分光画像を同時期に撮像することができる。
次に、光学装置1Aにおける、光学的な作用を説明する。
光源10から照射された光線Rに含まれる第1波長領域の第1分光光線L1は、第1波長選択領域31Aを通過し、被検体Bに到達する。すなわち、被検体B表面の特定の照射領域EAが、第1分光光線L1によって照射される。第1分光光線L1による照射領域EAは、第1波長領域の光線Rの内、光源10の有限サイズの発光面11の端部から発せられ、且つ、第1波長選択領域31Aの端部を通過するエッジ光線G1を境界とする領域である。すなわち、第1分光光線L1による照射領域EAは、エッジ光線G1によって規定される領域である。
一方、光源10から照射された光線Rに含まれる第2波長領域の第2分光光線L2は、第2波長選択領域31Bを通過し、被検体Bに到達する。すなわち、被検体B表面の特定の照射領域EBが、第2分光光線L2によって照射される。第2分光光線L2による照射領域EBは、第2波長領域の光線Rの内、光源10の有限サイズの発光面11の端部から発せられ、且つ、第2波長選択領域31Bの端部を通過するエッジ光線G2を境界とする領域である。すなわち、第2分光光線L2による照射領域EBは、エッジ光線G2によって規定される領域である。
ここで、光源10の発光面11が点光源である場合、第1分光光線L1による照射領域EAと第2分光光線L2による照射領域EBとは、非重複となる。非重複の定義には、これらの照射領域EAと照射領域EBとの境界のみが重なる場合も含まれる。
一方、本実施形態の光源10は、上述したように、光源10の発光面11のサイズが有限サイズである。このため、第1分光光線L1による照射領域EAと、第2分光光線L2による照射領域EBと、には、重複する領域が存在する。
具体的には、図1に示すように、被検体Bにおける光線Rの照射領域Eは、第1照射領域E1と、第2照射領域E2と、第3照射領域E3と、に分類される。
第1照射領域E1は、被検体Bにおける、第1波長領域の第1分光光線L1のみが照射される領域である。第2照射領域E2は、被検体Bにおける、第1波長領域の第1分光光線L1と第2波長領域の第2分光光線L2とが重複して照射される領域である。第3照射領域E3は、被検体Bにおける、第2分光光線L2のみが照射される領域である。
撮像素子40は、第1分光光線L1および第2分光光線L2を照射されることで、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3が形成された被検体Bを撮像し、分光画像を得る。
次に、情報処理装置50について説明する。
情報処理装置50は、撮像素子40にデータまたは信号を授受可能に接続されている。情報処理装置50は、撮像素子40で撮像された分光画像を解析する。
図2は、情報処理装置50の機能的構成の一例を示すブロック図である。情報処理装置50は、処理部52と、記憶部54と、出力部56と、を備える。処理部52、記憶部54、および出力部56は、バス58を介してデータまたは信号を授受可能に接続されている。
記憶部54は、各種データを記憶する。記憶部54は、例えば、RAM、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等である。なお、記憶部54は、情報処理装置50の外部に設けられた記憶装置であってもよい。また、記憶部54は、記憶媒体であってもよい。具体的には、記憶媒体は、プログラムや各種情報を、LAN(Local Area Network)やインターネットなどを介してダウンロードして記憶または一時記憶したものであってもよい。また、記憶部54を、複数の記憶媒体から構成してもよい。
出力部56は、各種の情報を出力する。例えば、出力部56は、ディスプレイ、スピーカ、ネットワークを介して外部装置と通信する通信部、の少なくとも1つを備える。
処理部52は、取得部52Aと、導出部52Bと、出力制御部52Cと、を備える。取得部52A、導出部52B、および出力制御部52Cの少なくとも1つは、例えば、1または複数のプロセッサにより実現される。例えば、上記各部は、CPU(Central Processing Unit)などのプロセッサにプログラムを実行させること、すなわちソフトウェアにより実現してもよい。上記各部は、専用のIC(Integrated Circuit)などのプロセッサ、すなわちハードウェアにより実現してもよい。上記各部は、ソフトウェアおよびハードウェアを併用して実現してもよい。複数のプロセッサを用いる場合、各プロセッサは、各部のうち1つを実現してもよいし、各部のうち2以上を実現してもよい。
取得部52Aは、撮像素子40から分光画像を取得する。
導出部52Bは、取得部52Aで取得した分光画像に含まれる、複数の分光光線Lの各々の受光強度に基づいて、被検体Bにおける複数の分光光線Lの各々の照射領域Eを特定する。そして、導出部52Bは、この特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
本実施形態では、導出部52Bは、取得部52Aで取得した分光画像を解析することで、被検体Bにおける第1分光光線L1および第2分光光線L2の各々の照射領域Eを特定する。そして、該照射領域Eを特定した特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
詳細に説明する。
図3A〜図3Cは、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3の各々の波長スペクトルの一例を示す図である。図3A〜図3C中、横軸は波長を示し、縦軸は画素値を示す。画素値は、必要に応じて規格化してもよい。
図3Aは、第1照射領域E1の波長スペクトルの一例を示す図である。図3Bは、第2照射領域E2の波長スペクトルの一例を示す図である。図3Cは、第3照射領域E3の波長スペクトルの一例を示す図である。
図3A〜図3Cには、背景ノイズNを併せて示した。背景ノイズNとは、暗電流成分の一例である。本実施形態では、背景ノイズNは、光源10をオンにして光線Rを出射する前において、撮像素子40で得られた分光画像の画素値を意味する。言い換えると、背景ノイズNは、光源10をオフにしたときの分光画像の各画素の画素値である。
図3Aに示すように、第1照射領域E1については、第1波長領域S1の第1分光光線L1について、第1閾値以上の画素値が得られる。図3Bに示すように、第2照射領域E2については、第1波長領域S1および第2波長領域S2の双方に対して、第1閾値以上の画素値が得られる。また、図3Cに示すように、第3照射領域E3については、第2波長領域S2に対して、第1閾値以上の画素値が得られる。第1閾値は、光線Rの照射により受光したと判別可能な値を予め定めればよい。
図3A〜図3Cに示すように、第1波長領域S1と第2波長領域S2に対する画素値の双方を組み合わせることで、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができるといえる。
一方、第1波長領域S1に対する画素値のみを解析しても、第1照射領域E1と第2照射領域E2を区別することは出来ない(図3A参照)。また、第2波長領域S2に対する画素値のみを解析しても、第1照射領域E1と第2照射領域E2を区別することは出来ない(図3C参照)。すなわち、第1波長領域S1と第2波長領域S2の双方に対する画素値の組合せを用いることで、初めて、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができる。
図2に戻り説明を続ける。そこで、導出部52Bは、分光画像に含まれる、第1波長領域S1の第1画素値、および、第2波長領域S2の第2画素値に基づいて、被検体Bにおける第1分光光線L1および第2分光光線L2の各々の照射領域Eを特定する。第1画素値は、第1受光強度の一例である。第2画素値は、第2受光強度の一例である。
詳細には、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2に対する画素値の組合せを用いることで、分光画像における、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3、の各々を特定する。
言い換えると、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2に対する画素値の組合せを用いることで初めて、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3の各々を区別することができる。すなわち、導出部52Bは、照射領域Eをより細かく区別することができる。
そして、導出部52Bは、照射領域Eの特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
形状情報の導出には、位相シフト法、縞投影法、および、光切断法といった構造化照明を用いた三次元形状の算出で一般的に使用される計算手法などを用いればよい。ただし、ここで形状とは、表面の微細な形状、すなわち凹凸やキズなども含む。これらの表面の微細な形状は表面性状とも呼ばれる。すなわち、ここで述べる形状は表面性状も含むとする。
構造化照明を用いて形状情報を導出する場合、照射領域Eのパターンが細かいほど、形状情報の導出精度が向上する。本実施形態では、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2の画素値の組合せを用いることで、照射領域Eを、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3に区別して特定する。そして、導出部52Bは、特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
このため、第1波長領域S1と第2波長領域S2の画素値の組合せを用いない場合に比べて、導出部52Bは、被検体Bの形状情報を高精度に導出することができる。
また、本実施形態では、導出部52Bは、照射領域Eを、第1照射領域E1、第2照射領域E2、第3照射領域E3に細分化して特定することができる。これは、有限サイズの発光面11を有する光源10を用いることで、第1分光光線L1と第2分光光線L2による照射領域Eが重複する第2照射領域E2を被検体B上に形成したためである。このため、本実施形態では、有限サイズの発光面11を有する光源10を用い、且つ、第1波長領域S1と第2波長領域S2の画素値の組合せを用いることで、形状情報を更に高精度に導出することができる。
また、第1波長選択領域31Aと第2波長選択領域31Bのサイズを同じにすることにより、第1照射領域E1と第3照射領域E3をほぼ同じサイズにできる。これにより、第1照射領域E1と第3照射領域E3を特定し、形状情報を算出する際、それぞれの照射領域での形状精度をほぼ等しくできる。すなわち、形状精度のばらつきを低減できるという効果がある。
発光面11のサイズをS0とし、第1波長選択領域31AのサイズをS1とし、第2波長選択領域31BのサイズをS2とし、光選択部30から光源までの距離をD0とし、光選択部30から照射領域までの距離をD1とする。このとき、第1照射領域E1のサイズSE1、第2照射領域E2のサイズSE2、第3照射領域E3のサイズSE3は、それぞれ下記式(1)、式(2)、式(3)で表される。
SE1=S1×D1/D0 ・・・式(1)
SE2=S0×D1/D0 ・・・式(2)
SE3=S2×D1/D0 ・・・式(3)
このとき、発光面11のサイズS0を、下記式(4)で表すと、第1照射領域E1と第2照射領域E2をほぼ同じサイズにできる。
S0=S1 ・・・式(4)
これにより、第1照射領域E1と第2照射領域E2を特定し、形状情報を算出する際、それぞれの照射領域での形状精度をほぼ等しくできる。すなわち、形状精度のばらつきを低減できるという効果がある。
また、第1波長選択領域31Aのサイズと第2波長選択領域31Bのサイズを等しくし、発光面11のサイズS0をそれらよりも大きくするとき、すなわち、下記式(5)が成り立つとき、第1照射領域E1のサイズSE1と第2照射領域E2のサイズSE2を等しくできる。
S0>S1=S2 ・・・式(5)
さらに、発光面11が大きいのでより明るくできるという効果がある。明るいと、撮像時のS/N(信号雑音比)が向上する。すなわち、形状精度のばらつきを低減できるという効果がある。
なお、導出部52Bは、暗電流成分の一例である背景ノイズNを除去した後の、第1波長領域S1の第1画素値および第2波長領域S2の第2画素値に基づいて、形状情報を導出することが好ましい。
導出部52Bは、まず、第1波長領域S1と第2波長領域S2の画素値の組合せと、背景ノイズNと、を比較する。詳細には、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2の画素値の各々が、背景ノイズNの画素値より大きいか否を判断する。この判断処理により、導出部52Bは、例えば、第1照射領域E1に、第2分光光線L2の照射領域EBが存在する、とみなすことを抑制することができる。本実施形態では、導出部52Bは、第1波長領域S1および第2波長領域S2の各々の画素値から、背景ノイズNの画素値を除去する。背景ノイズNの画素値は、予め測定し、記憶部54へ記憶しておけばよい。そして、導出部52Bは、背景ノイズNを除去した後の第1波長領域S1および第2波長領域S2の各々の画素値の組合せを用いて、照射領域Eを特定する。
背景ノイズNを除去された、第1波長領域S1および第2波長領域S2の各々の画素値を用いて照射領域E(第1照射領域E1、第2照射領域E2、第3照射領域E3)を特定することで、照射領域Eの誤認識を低減することができる。また、この特定結果を用いて形状情報を導出することで、導出部52Bは、被検体Bの形状情報の導出誤差を低減することができる。
次に、出力制御部52Cについて説明する。出力制御部52Cは、導出部52Bによる形状情報の導出結果を出力部56へ出力する。
次に、情報処理装置50が実行する情報処理の流れの一例を説明する。図4は、情報処理装置50が実行する情報処理の流れの一例を示す、フローチャートである。
まず、取得部52Aが、撮像素子40から分光画像を取得する(ステップS100)。
導出部52Bは、ステップS100で取得した分光画像に含まれる第1波長領域S1の第1画素値および第2波長領域S2の第2画素値に基づいて、被検体Bにおける、第1分光光線L1および第2分光光線L2の各々の照射領域Eを特定する(ステップS102)。
導出部52Bは、ステップS102で特定された特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する(ステップS104)。
出力制御部52Cは、ステップS104の導出結果を出力部56へ出力する(ステップS106)。そして、本ルーチンを終了する。
以上説明したように、本実施形態の光学装置1Aは、光選択部30と、撮像素子40と、導出部52Bと、を備える。光選択部30は、照射された光線Rを互いに異なる波長領域の複数の分光光線Lに分光する。撮像素子40は、複数の分光光線Lを照射された被検体Bを撮像し、分光画像を取得する。導出部52Bは、分光画像に含まれる複数の分光光線Lの各々の受光強度に基づいて、被検体Bにおける複数の分光光線Lの各々の照射領域Eを特定した特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
このように、本実施形態の光学装置1Aは、光選択部30によって分光された互いに異なる複数の分光光線Lを被検体Bへ照射する。そして、導出部52Bは、撮像素子40によって撮像された被検体Bの撮像画像である分光K画像に基づいて、被検体Bにおける複数の分光光線Lの各々の照射領域Eを特定する。すなわち、導出部52Bは、互いに異なる波長領域の各々に対する画素値の組み合わせを用いることで、これらの複数の波長領域の分光光線Lによる照射領域Eをより細かく区別することができる。そして、導出部52Bは、照射領域Eの特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
従って、本実施形態の光学装置1Aは、被検体Bの形状情報を高精度に導出することができる。
(第2の実施形態)
本実施形態では、上記第1の実施形態の光学装置1Aの構成に加えて、光学素子を更に備えた構成を説明する。
図5は、本実施形態の光学装置1Bの一例を示す模式図である。光学装置1Bは、光学装置1Aの構成に、更に、レンズ60を備えた構成である。
レンズ60は、光学素子の一例である。光学素子は、光源10から出射された光線Rの発散角を縮小させる。具体的には、光学素子は、光源10から出射された光線Rである発散光を準平行光とする。
準平行光とは、光源10から出射された光線Rである発散光の発散全角を1mrad以下とした光を意味する。このため、準平行光には、平行光が含まれる。
本実施形態では、光学素子が、レンズ60である場合を一例として説明する。なお、光学素子として、レンズ60に代えて、凹面鏡を用いてもよい。
レンズ60は、光源10と光選択部30との間に配置されている。光源10は、第1の実施形態と同様に、LEDである場合を一例として説明する。
ここで、レンズ60は、焦点を有する。光源10は、レンズ60の焦点領域に配置されている。焦点領域とは、レンズ60の焦点、または、該焦点の近傍を意味する。光源10をこのように配置することで、光源10から照射された光線Rは、レンズ60を通過することで準平行光となり、光選択部30へ到る。
第1の実施形態で説明したように、光源10の発光面11は有限サイズである。このため、光源10から照射された光線Rは、やや発散光となる。この発散光の発散全角は、下記式(6)で表される。レンズ60に代えて凹面鏡を用いた場合にも、下記式(6)が成り立つ。
Θ=D/f ・・・式(6)
式(6)中、Θは、発散全角である。fは、レンズ60の焦点距離である。Dは、光源10の発光面11のサイズである。
例えば、焦点距離fが200mmである場合を想定すると、発散全角Θは、1mrad(ミリラジアン)となる。このため、レンズ60によって、発散光を準平行光とすることができるといえる。
次に、光学装置1Bにおける、光学的な作用を説明する。
LEDである光源10から出射される光線Rは、一般的に発散光であり、その配光分布は、ほぼランバーシアである。すなわち、光源10から出射される光線Rは、ファン光線である。ファン光線とは、扇状に広がった光線である事を意味する。本実施形態では、ファン光線である光線Rは、レンズ60を通過することで、わずかな発散角を持つ準平行光RPとなり、光選択部30を介して被検体Bへ到る。このため、ファン光線を被検体Bへ照射する場合に比べて、被検体Bに照射される照射領域Eを狭くすることができる。
第1の実施形態と同様に、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2に対する画素値の双方を組み合わせることで、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別する。すなわち、導出部52Bは、分光画像に含まれる、第1波長領域S1と第2波長領域S2に対する画素値の組合せを用いることで、分光画像における、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別して特定する。
導出部52Bが、このような構造化照明を用いて形状情報を導出する場合、照射領域Eのパターンが細かいほど、形状情報の導出精度が向上する。このため、本実施形態の光学装置1Bでは、上記実施形態と同様に、被検体Bの形状情報を高精度に導出することができる。
また、本実施形態の光学装置1Bでは、レンズ60による準平行光RPを、光選択部30を介して被検体Bへ照射する。このため、被検体Bにおける照射領域Eを、レンズ60を介さない場合に比べて狭くすることができる。このため、本実施形態の光学装置1Bでは、より細かいパターンの照射領域E(第1照射領域E1、第2照射領域E2、第3照射領域E3)を被検体B上に形成することができる。
従って、本実施形態の光学装置1Bでは、上記第1の実施形態の効果に加えて、被検体Bの形状情報を、更に高精度に導出することができる。
(第3の実施形態)
本実施形態では、上記第2の実施形態の光学装置1Bの光選択部30として、回折格子を用いる場合を説明する。
図6は、本実施形態の光学装置1Cの一例を示す模式図である。光学装置1Cは、上記第2の実施形態の光学装置1Bの光選択部30に代えて、回折格子34を備えた構成である。また、光学装置1Bは、更に、開口部材32を備える。また、光学装置1Cは、レンズ60に変えて、レンズ62を備える。
回折格子34は、光選択部の一例である。本実施形態では、回折格子34は、互いに異なる波長領域の光線Rを、互いに異なる方向に通過させる。
具体的には、回折格子34は、照射された光線Rを互いに異なる波長領域の複数の分光光線Lに分光する。本実施形態では、回折格子34は、照射された光線Rを、第1波長領域S1の第1分光光線L1、第2波長領域S2の第2分光光線L2、および、第3波長領域の第3分光光線L3に分光する場合を一例として説明する。なお、第1波長領域S1、第2波長領域S2、および第3波長領域は、互いに異なる波長領域である。
回折格子34は、例えば、平面状のガラス基板に等間隔のピッチHで凸部が形成されてなる。ただし、回折格子34は、回折格子としての機能を有する構成であればよく、この構成に限定されない。
開口部材32は、光源10とレンズ60との間に配置されている。本実施形態では、第1の実施形態と同様に、光源10がLEDである場合を一例として説明する。また、本実施形態では、光源10の発光面11のサイズが、0,1mm以下である場合を一例として説明する。具体的には、本実施形態では、光源10の発光面11のサイズが、0.1mm×0.1mmである場合を想定して説明する。なお、発光面11のサイズは、このサイズに限定されない。
開口部材32は、開口32Aを有する。開口32Aは、例えば、直径0.1mmのピンホールである場合を想定して説明する。なお、開口32Aのサイズは、このサイズに限定されない。
レンズ62は、第2の実施形態のレンズ60と同様である。レンズ62は、開口部材32と回折格子34との間に配置されている。第2の実施形態と同様に、レンズ62に代えて凹面鏡を用いてもよい。
開口部材32の開口32Aは、レンズ62の焦点位置、または、該焦点位置の実質的な近傍に配置する。このような配置とすることで、光源10から照射された光線Rは、開口32Aおよびレンズ62を通過することで準平行光RPとなり、回折格子34へ到る。
光源10から出射する光線Rである発散光の発散全角は、第2の実施形態で説明したように、上記式(6)で表される。本実施形態では、式(6)中、Dは、開口32Aのサイズである。
例えば、レンズ62の焦点距離fが500mmである場合を想定する。また、上述したように、本実施形態では、開口32Aのサイズが直径0.1mmである場合を想定する。この場合、発散全角Θは、0.2mrad(ミリラジアン)となる。このため、開口32Aおよびレンズ62によって、発散光を準平行光RPとすることができるといえる。
次に、光学装置1Cにおける、光学的な作用を説明する。
LEDである光源10から出射される光線Rは、一般的に発散光であり、その配光分布は、ほぼランバーシアである。すなわち、光源10から出射される光線Rは、ファン光線である。本実施形態では、ファン光線である光線Rは、開口32Aおよびレンズ62を通過することで、わずかな発散角を持つ準平行光RPとなり、回折格子34へ到る。
ここで、準平行光RPは、発光面11または開口32Aのサイズに対して、レンズ62の焦点距離が十分に大きいことで、生成される。レンズ62を通過することで準平行光RPとされた光線Rに含まれる、光軸Zに対して直交する方向に隣接する光線間の距離は、光軸Zに沿って略一定となる。すなわち、これらの隣接する光線は、互いに触れ合うことなく回折格子34へ到る。
本実施形態では、回折格子34によって、互いに異なる波長領域の複数の分光光線L(第1分光光線L1、第2分光光線L2、第3光線R3)が被検体Bへ照射される。このため、導出部52Bは、これらの複数の波長領域の各々に対する画素値を組み合わせることで、さらに複数の照射領域Eを区別するができる。
図6には、一例として、第1照射領域E1、第2照射領域E2、第3照射領域E3を示した。本実施形態では、第1照射領域E1は、被検体Bにおける、第1波長領域S1の第1分光光線L1のみが照射される領域である。第2照射領域E2は、被検体Bにおける、第1波長領域の第1分光光線L1と第2波長領域の第2分光光線L2とが重複して照射される領域である。第3照射領域E3は、被検体Bにおける、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第3波長領域S3とが重複して照射される領域である。
ここで、波長λの光線Rが、回折格子34のガラス基板の表面または裏面の法線に対して、入射角αで入射した場合を想定する。また、回折格子34を透過した光線Rである分光光線Lの光線方向の、該ガラス基板の表面または裏面の法線に対する角度を、βと想定する。すると、以下の式(7)が成り立つ。
sinβ−sinα=m×λ/H ・・・式(7)
式(7)中、Hは、回折格子34のピッチHである。また、mは、1以上の整数である。
本実施形態では、回折格子34には、準平行光RPが入射する。このため、入射角αは、実質的に0である。ここで、回折格子34に準平行光RP以外の光線Rが入射する場合、様々な角度の光線Rが回折格子34へ入射することとなる。この場合、上記式(7)に示されるように、様々な波長領域の光線Rが様々な方向に向かって透過し、混色された状態で被検体Bへ到ることとなる。このため、回折格子34に準平行光RP以外の光線Rが入射する場合、導出部52Bは、照射領域Eを波長に応じて区別することが困難となる。
一方、本実施形態では、開口32Aおよびレンズ62によって、回折格子34には、準平行光RPが入射する。このため、導出部52Bは、分光画像を波長に応じて解析することで、被検体Bにおける、互いに異なる波長領域の分光光線Lの各々の照射領域Eを特定することができる。すなわち、導出部52Bは、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を波長領域に応じて区別しやすくなる。
上述したように、回折格子34を通過した分光光線Lの角度βは、上記式(7)によって表される。上記式(7)中、mが1または−1である場合、強い回折格子34とすることができる。この回折格子34を通過する分光光線Lは、±1次回折光と称される。この±1次回折光の通過角度は、下記式(8)で表される。
sinβ=±λ/H ・・・式(8)
式(8)に示されるように、波長が大きくなるほど、回折格子34を透過する分光光線Lの角度が大きくなる。すなわち、回折格子34によって、分光光線Lの波長に応じて、分光光線Lの方向、すなわち角度を異ならせることができる。
例えば、回折格子34のピッチHを2μmとした場合を想定する。また、第1波長領域S1が650nmであり、第2波長領域S2が640nmであり、第3波長領域が640nmである場合を想定する。
図7A〜図7Cは、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3の各々の波長スペクトルの一例を示す図である。図7A〜図7C中、横軸は波長を示し、縦軸は画素値を示す。画素値は、必要に応じて規格化してもよい。
図7Aは、第1照射領域E1の波長スペクトルの一例を示す図である。図7Bは、第2照射領域E2の波長スペクトルの一例を示す図である。図7Cは、第3照射領域E3の波長スペクトルの一例を示す図である。
図7A〜図7Cに示すように、第1波長領域S1、第2波長領域S2、および第3波長領域S3に対する画素値を組み合わせることで、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができるといえる。
このため、本実施形態では、導出部52Bは、第1波長領域S1、第2波長領域S2、および第3波長領域S3の各々に対する画素値を組み合わせることで、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができるといえる。
一方、第1波長領域S1に対する画素値のみを解析しても、第1照射領域E1と、第2照射領域E2および第3照射領域E3と、を区別することは出来ない。また、第3波長領域S3に対する画素値のみを解析しても、第3照射領域E3と、第1照射領域E1および第2照射領域E2と、を区別することは出来ない。
すなわち、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第2波長領域S2の各々対する画素値の組合せを用いることで、初めて、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができる。
そこで、本実施形態では、導出部52Bは、分光画像に含まれる、第1波長領域S1の第1画素値、および、第2波長領域S2の第2画素値、および第3波長領域S3の第3画素値に基づいて、被検体Bにおける第1分光光線L1、第2分光光線L2、および第3光線R3の各々の照射領域Eを特定する。
詳細には、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第3波長領域S3の各々に対する画素値の組合せを用いることで、分光画像における、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を特定する。
言い換えると、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第3波長領域S3の各々に対する画素値の組合せを用いることで初めて、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3の各々を区別することができる。すなわち、導出部52Bは、照射領域Eをより細かく区別することができる。
そして、導出部52Bは、照射領域Eの特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。言い換えると、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2に対する画素値の組合せを用いることで初めて、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3の各々を区別することができる。すなわち、導出部52Bは、照射領域Eをより細かく区別することができる。そして、導出部52Bは、照射領域Eの特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
上述したように、導出部52Bが、このような構造化照明を用いて形状情報を導出する場合、照射領域Eのパターンが細かいほど、形状情報の導出精度が向上する。
本実施形態では、レンズ62を通過することで準平行光RPとされた光線Rに含まれる、光軸Zに対して直交する方向に隣接する光線は、互いに触れ合うことなく回折格子34を介して被検体Bへ到る。準平行光を作成することで、距離に依存しない繊細な構造化照明を実現することができる。このため、本実施形態では、より細かい構造の照明を作成することができ、上記実施形態に比べて、さらに細かい構造の照射領域Eの分布を実現することができる。
また、本実施形態では、導出部52Bが、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第3波長領域S3との画素値の組合せを用いることで、照射領域Eを、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3に区別して特定することができる。このため、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第3波長領域S3の画素値の組合せを用いない場合に比べて、導出部52Bは、形状情報を高精度に導出することができる。
従って、本実施形態の光学装置1Cは、上記実施形態の効果に加えて、被検体Bの形状情報を、更に高精度に導出することができる。
(第4の実施形態)
本実施形態では、上記第1の実施形態の光学装置1Aに加えて、特有の光学素子を更に備えた構成を説明する。
図8は、本実施形態の光学装置1Dの一例を示す模式図である。光学装置1Dは、光学装置1Aの構成に、更に、光学素子64およびレンズ66を備えた構成である。
レンズ66は、被検体Bで反射した光線Rを撮像素子40の受光面41へ結像させる。
光学素子64は、透明媒質で構成されている。透明とは、入射する光線Rに対して透明であることを意味する。透明媒質は、例えば、ガラス、樹脂、石英、サファイヤなどである。樹脂は、例えば、アクリル、ポリカーボネートなどである。本実施形態では、光学素子64を構成する透明媒質が、アクリルである場合を一例として説明する。
光学素子64は、透明媒質の外面に、反射面64Bと、入射面64Aと、出射面64Cと、を備える。
反射面64Bは、透明媒質の外面に設けられた、放物面状または準放物面状の反射面である。反射面64Bは、例えば、透明媒質の外面の一部を構成する放物面に、アルミ蒸着が施された面である。このため、反射面64Bは、光線Rを反射する反射面として機能する。本実施形態では、反射面64Bの焦点距離が、100mmである場合を想定して説明する。
入射面64Aは、反射面64Bに対向する平面状の面であり、光源10の発光面11に配置されている。入射面64Aは、放物面である反射面64Bの焦点位置近傍に設けられている。光源10の発光面11と、入射面64Aとは、対向配置されている。
出射面64Cは、光選択部30に対向配置されている。
本実施形態の光源10であるLEDは、発光面11のサイズが、0.1mm×0.1mmである場合を想定して説明する。
光源10から出射し、光学素子64の入射面64Aに入射した光線Rは、透明媒質による屈折作用により屈折し、透明媒質内部に入射する。そして、透明媒質内部に入射した光線Rのほぼ全てが、透明媒質内を導光し、導光した全ての光線Rは反射面64Bで正反射される。
ここで、透明媒質による屈折作用がない場合、光線Rは屈折されない。このため、光線Rはファン光線のように広がり、反射面64Bに当たらないでロスとなる光線Rが増加する。
一方、本実施形態では、光学素子64による導光作用により、コンパクトな放物面である反射面64Bによって、略全ての光線Rを、光選択部30を介して被検体Bへ向かって反射させることができる。
また、上述したように、光源10は、反射面64Bの焦点または焦点近傍に配置されている。このため、反射面64Bで反射された光線Rは、平行光RP’となる。すなわち、光学素子64を通過することで平行光RPとされた光線Rに含まれる、光軸Zに対して直交する方向に隣接する光線間の距離は、光軸Zに沿って略一定となる。すなわち、これらの隣接する光線は、互いに触れ合うことなく、光選択部30へ到る。
平行光RP’を作成することで、距離に依存しない繊細な構造化照明を実現することができる。このため、本実施形態では、より細かい構造の照明を作成することができ、上記実施形態に比べて、さらに細かい構造の照射領域Eの分布を実現することができる。
光選択部30へ照射された平行光RP’は、光選択部30を通過することで分光され、被検体Bへ到る。図9は、分光光線Lの光路上のある位置における、分光光線Lの強度分布Vの一例を示す模式図である。被検体Bに分光光線Lが照射され、撮像素子40による撮像が行われることで、撮像素子40は、分光画像を得る。
第1の実施形態と同様に、導出部52Bは、分光画像に含まれる互いに異なる波長領域の各々の画素値に基づいて、被検体Bにおける互いに異なる波長領域の光線Rの各々の照射領域Eを特定する。そして、特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
図10A〜図10Cは、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3の各々の波長スペクトルの一例を示す図である。図10A〜図10C中、横軸は波長を示し、縦軸は画素値を示す。画素値は、必要に応じて規格化してもよい。また、図10A〜図10Cには、背景ノイズNも併せて示した。
図10Aは、第1照射領域E1の波長スペクトルの一例を示す図である。図10Bは、第2照射領域E2の波長スペクトルの一例を示す図である。図10Cは、第3照射領域E3の波長スペクトルの一例を示す図である。
図10A〜図10Cに示すように、第1波長領域S1、第2波長領域S2、および第3波長領域S3に対する画素値を組み合わせることで、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができるといえる。
このため、本実施形態では、導出部52Bは、第1波長領域S1、第2波長領域S2、および第3波長領域S3の各々に対する画素値を組み合わせることで、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができるといえる。
一方、第1波長領域S1に対する画素値のみを解析しても、第1照射領域E1と、第2照射領域E2および第3照射領域E3と、を区別することは出来ない。また、第2波長領域S2に対する画素値のみを解析しても、第2照射領域E2と、第1照射領域E1および第3照射領域E3と、を区別することは出来ない。また、第3波長領域S3に対する画素値のみを解析しても、第3照射領域E3と、第1照射領域E1および第2照射領域E2と、を区別することは出来ない。
すなわち、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第2波長領域S2の各々に対する画素値の組合せを用いることで、初めて、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を区別することができる。
そこで、上記実施形態と同様に、導出部52Bは、分光画像に含まれる、第1波長領域S1の第1画素値、および、第2波長領域S2の第2画素値、および第3波長領域S3の第3画素値に基づいて、被検体Bにおける第1分光光線L1、第2分光光線L2、および第3光線R3の各々の照射領域Eを特定する。詳細には、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第3波長領域S3の各々に対する画素値の組合せを用いることで、分光画像における、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3を特定する。
言い換えると、導出部52Bは、第1波長領域S1と第2波長領域S2と第3波長領域S3の各々に対する画素値の組合せを用いることで初めて、第1照射領域E1、第2照射領域E2、および第3照射領域E3の各々を区別することができる。すなわち、導出部52Bは、照射領域Eをより細かく区別することができる。
そして、導出部52Bは、照射領域Eの特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
上述したように、導出部52Bが、このような構造化照明を用いて形状情報を導出する場合、照射領域Eのパターンが細かいほど、形状情報の導出精度が向上する。
従って、本実施形態の光学装置1Dは、上記第1の実施形態の効果に加えて、被検体Bの形状情報を、更に高精度に導出することができる。
なお、導出部52Bは、上記実施形態と同様に、背景ノイズNを除去した後の、第1波長領域S1の第1画素値、第2波長領域S2の第2画素値、および第3波長領域S3の第3画素値に基づいて、形状情報を導出することが好ましい。
(第5の実施形態)
本実施形態では、シリンドリカルレンズを更に備えた構成を説明する。
図11は、本実施形態の光学装置1Eの一例を示す模式図である。光学装置1Eは、上記第1の実施形態の光学装置1Aの構成に加えて、シリンドリカルレンズ68を更に備える。
図11は、本実施形態の光学装置1Eの一例を示す模式図である。光学装置1Eは、光学装置1Aの構成に、更に、シリンドリカルレンズ68を備えた構成である。
シリンドリカルレンズ68は、光学素子の一例である。シリンドリカルレンズ68は、光選択部30を通過した光線Rを被検体Bに結像させる。なお、光学装置1Eは、シリンドリカルレンズ68に代えて、凹面ミラーを備えた構成であってもよい。すなわち、本実施形態で用いる光学素子は、像面と被検体Bの物体面とが規定可能な光学素子であればよい。本実施形態では、光学素子として、シリンドリカルレンズ68を用いる形態を一例として説明する。
本実施形態の光源10であるLEDは、第1の実施形態と同様に、有限サイズの発光面11を有するLEDであればよい。本実施形態では、発光面11のサイズが、3mm×3mmである場合を想定して説明する。なお、発光面11のサイズは、このサイズに限定されない。
また、本実施形態では、光選択部30は、光源10とシリンドリカルレンズ68との間に配置されている。本実施形態では、光選択部30は、光源10の発光面11の近傍に対向配置されている。なお、光選択部30における波長選択領域31のサイズは、光源10の発光面11と略同じサイズであるものとする。
光選択部30の波長選択領域31は、シリンドリカルレンズ68の物体面に配置されている。このため、シリンドリカルレンズ68の像面に、波長選択領域31が投影(照明)されることとなる。
ここで、シリンドリカルレンズ68の像面よりシリンドリカルレンズ68側の位置では、波長選択領域31に含まれる第1波長選択領域31Aおよび第2波長選択領域31Bの各々の投影像は、重なって投影された投影像となる。
そして、よりシリンドリカルレンズ68に近い位置であるほど、この重なりは更に大きくなる。
図12Aは、図11中の位置A1における投影像の強度分布の一例を示す図である。図12Bは、図11中の位置A2における、投影像の強度分布の一例を示す図である。
図11、図12A、および図12Bに示すように、シリンドリカルレンズ68に近い位置であるほど、第1波長選択領域31Aを通過した第1分光光線L1による照射領域EAと、第2分光光線L2による照射領域EBと、の重なりが大きくなる。このため、第1波長選択領域31Aと第2波長選択領域31Bの各々に対応する照射領域EAと照射領域EBとの重なりの有無と、重なりの程度と、から、光軸Z方向の距離を推定することができる。
そこで、本実施形態の光学装置1Eでは、導出部52Bは、第1の実施形態と同様に、取得部52Aで取得した分光画像を解析することで、被検体Bにおける第1分光光線L1および第2分光光線L2の各々の照射領域Eを特定する。そして、該照射領域Eを特定した特定結果から、被検体Bの形状情報を導出する。
このとき、本実施形態では、導出部52Bは、更に、照射領域EAと照射領域EBとの重なりの有無と、重なりの程度と、から、光軸Z方向の距離を推定する。
このため、本実施形態では、導出部52Bは、被検体Bの三次元形状を推定することができる。
このような距離推定処理は、波長選択領域31によって分光された第1波長領域S1および第2波長領域S2の各々に対する画素値の両方の組み合わせを処理部52で保持し、導出部52Bがこの組み合わせを用いて距離を推定することで実現される。
すなわち、第1波長領域S1の第1分光光線L1が存在し且つ第2波長領域S2の第2分光光線L2が存在しない照射領域Eと、第2波長領域S2の第2分光光線L2が存在し且つ第1波長領域S1の第1分光光線L1が存在しない照射領域Eと、の2つのみで照射野(平面上の照明分布)が構成されるならば、照射野は結像面上にある。
一方、双方が重なる領域、つまり、第1波長領域S1の第1分光光線L1が存在し、且つ、第2波長領域S2の第2分光光線L2が存在する、照射領域Eがあれば、それは結像面よりもシリンドリカルレンズ68側(光学素子側)であるということが推定できる。
このため、本実施形態の光学装置1Eによれば、上記実施形態の効果に加えて、被検体Bの三次元形状を形状情報として導出することができる。
次に、上記実施形態における情報処理装置50の、ハードウェア構成の一例を説明する。
図13は、上記実施形態および変形例に係る情報処理装置50の、ハードウェア構成図の一例である。
情報処理装置50は、CPU86などの制御装置と、ROM(Read Only Memory)88やRAM(Random Access Memory)91やHDD(ハードディスクドライブ)92などの記憶装置と、各種機器とのインターフェースであるI/F部82と、出力情報などの各種情報を出力する出力部81と、ユーザによる操作を受付ける入力部94と、各部を接続するバス96とを備えており、通常のコンピュータを利用したハードウェア構成となっている。
情報処理装置50では、CPU86が、ROM88からプログラムをRAM91上に読み出して実行することにより、上記各部がコンピュータ上で実現される。
なお、情報処理装置50で実行される上記各処理を実行するためのプログラムは、HDD92に記憶されていてもよい。また、情報処理装置50で実行される上記各処理を実行するためのプログラムは、ROM88に予め組込まれて提供されていてもよい。
また、情報処理装置50で実行される上記処理を実行するためのプログラムは、インストール可能な形式または実行可能な形式のファイルでCD−ROM、CD−R、メモリカード、DVD(Digital Versatile Disk)、フレキシブルディスク(FD)等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されてコンピュータプログラムプロダクトとして提供されるようにしてもよい。また、情報処理装置50で実行される上記処理を実行するためのプログラムを、インターネットなどのネットワークに接続されたコンピュータ上に格納し、ネットワーク経由でダウンロードさせることにより提供するようにしてもよい。また、情報処理装置50で実行される上記処理を実行するためのプログラムを、インターネットなどのネットワーク経由で提供または配布するようにしてもよい。
なお、上記には、本発明の実施形態および変形例を説明したが、上記実施形態および変形例は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
1、1A、1B、1C、1D、1E 光学装置
10 光源
30 光選択部
32 開口部材
34 回折格子
40 撮像素子
52B 導出部
60 レンズ
62 レンズ
64 光学素子
68 シリンドリカルレンズ

Claims (17)

  1. 照射された光線を互いに異なる波長領域の複数の分光光線に分光する光選択部と、
    複数の前記分光光線を照射された被検体を撮像し、分光画像を取得する撮像素子と、
    前記分光画像に含まれる複数の前記分光光線の各々の受光強度に基づいて、前記被検体における複数の前記分光光線の各々の照射領域を特定した特定結果から、前記被検体の表面性状または形状情報を導出する導出部と、
    を備える光学装置。
  2. 前記光選択部は、
    照射された光線を第1波長領域の第1分光光線および第2波長領域の第2分光光線である前記分光光線に分光し、
    前記撮像素子は、
    少なくとも前記第1波長領域および前記第2波長領域に分光した前記分光画像を撮像し、
    前記導出部は、
    前記分光画像に含まれる前記第1波長領域の第1受光強度および前記第2波長領域の第2受光強度に基づいて、前記被検体における、前記第1分光光線および前記第2分光光線の各々の照射領域を特定した前記特定結果から、前記表面性状または前記形状情報を導出する、
    請求項1に記載の光学装置。
  3. 前記導出部は、
    前記被検体における、前記第1波長領域の第1分光光線のみの第1照射領域、前記第1分光光線および前記第2分光光線の第2照射領域、および、前記第2分光光線のみの第3照射領域、を特定した前記特定結果から、前記表面性状または前記形状情報を導出する、
    請求項2に記載の光学装置。
  4. 前記導出部は、
    暗電流成分を除去した後の、前記第1受光強度および前記第2受光強度に基づいて、前記表面性状または前記形状情報を導出する、
    請求項2または請求項3に記載の光学装置。
  5. 前記光選択部は、
    前記第1分光光線を通過させる第1波長選択領域と、前記第2分光光線を通過させる第2波長選択領域と、を有し、
    前記第1波長選択領域および前記第2波長選択領域は、互いに異なる位置に配置されてなる、
    請求項2〜請求項4の何れか1項に記載の光学装置。
  6. 光源と、
    前記光源から出射された前記光線の発散角を縮小させる光学素子と、
    を有する照射部を備える、
    請求項1〜請求項5の何れか1項に記載の光学装置。
  7. 前記光源は、
    有限サイズの発光面を有する、請求項6に記載の光学装置。
  8. 前記光学素子は、レンズであり、
    前記光源は、前記レンズの焦点領域に配置され、
    前記レンズは、前記光源から出射された前記光線を準平行光とする、
    請求項6または請求項7に記載の光学装置。
  9. 前記光学素子は、凹面鏡であり、
    前記光源は、前記凹面鏡の焦点領域に配置され、
    前記凹面鏡は、前記光源から出射された前記光線を準平行光とする、
    請求項8に記載の光学装置。
  10. 前記光選択部は、回折格子である、
    請求項8または請求項9に記載の光学装置。
  11. 前記光学素子は、
    透明媒質で構成され、
    前記透明媒質の外面に放物面状または準放物面状の反射面を備え、
    前記光源は、前記反射面の焦点領域に配置されてなる、
    請求項6に記載の光学装置。
  12. 前記光学素子は、
    前記反射面に対向する平面状の入射面を備え、
    前記入射面は、前記光源の発光面に対向配置されてなる、
    請求項11に記載の光学装置。
  13. 前記光学素子はレンズであり、
    前記光選択部は、前記光源と前記レンズとの間に配置され、
    前記レンズは、前記光選択部を通過した光線を前記被検体に結像する、
    請求項6に記載の光学装置。
  14. 前記光線を照射する光源の発光面のサイズと前記第1分光光線を通過させる第1波長選択領域のサイズとが実質的に等しい、
    請求項2に記載の光学装置。
  15. 前記光線を照射する光源の発光面のサイズが前記第1分光光線を通過させる第1波長選択領域のサイズよりも大きい、
    請求項2に記載の光学装置。
  16. 照射された光線を互いに異なる波長領域の複数の分光光線に分光するステップと、
    複数の前記分光光線を照射された被検体を撮像し、分光画像を取得するステップと、
    前記分光画像に含まれる複数の前記分光光線の各々の受光強度に基づいて、前記被検体における複数の前記分光光線の各々の照射領域を特定した特定結果から、前記被検体の表面性状または形状情報を導出する導出ステップと、
    を含む情報処理方法。
  17. 照射された光線を互いに異なる波長領域の複数の分光光線に分光する光選択部により分光された複数の前記分光光線を照射された被検体を撮像し、分光画像を取得する撮像素子と接続されるコンピュータに、
    前記分光画像に含まれる複数の前記分光光線の各々の受光強度に基づいて、前記被検体における複数の前記分光光線の各々の照射領域を特定した特定結果から、前記被検体の表面性状または形状情報を導出する導出ステップ、
    を実行させるためのプログラム。
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