JP2021144185A - 画像形成装置 - Google Patents

Abstract

【課題】像担持体上のレーザ光の照射位置ずれ検知・補正に伴う画像形成装置の大型化、及びダウンタイムの発生を抑制すること。【解決手段】レーザ光を出射する光源３０２と、レーザ光を偏向する回転多面鏡３０５と、光源３０２及び回転多面鏡３０５を収納する筐体５００と、を有する走査光学装置２と、走査光学装置２からレーザ光が照射される感光ドラム１１と、走査光学装置２を制御するＣＰＵ８０と、感光ドラム１１に対向する位置に配置され、レーザ光を検知するラインセンサ３２２ｆ、３２２ｓが感光ドラム１１に反射されたレーザ光が入射したことを検知すると、レーザ光が入射した位置情報を出力するセンサユニット３２２と、を備え、ＣＰＵ８０は、センサユニット３２２が出力する位置情報に基づいて、レーザ光が感光ドラム１１上を照射する照射位置の位置ずれ量を算出し、走査光学装置２を制御して、レーザ光の照射位置の位置ずれを補正する。【選択図】図４

Description

本発明は、電子写真方式の画像形成装置に関する。

レーザビームプリンタのような電子写真方式の画像形成装置に用いられる走査光学装置では、画像信号に応じて光源から出射されるレーザ光は、回転多面鏡により光路を偏向される。そして、偏向されたレーザ光は、走査レンズを透過し、感光ドラムの表面を走査することにより、感光ドラム上に静電潜像が形成される。画像形成装置では、走査光学装置や画像形成装置内部の装置が稼働することにより、画像形成装置内部の温度が上昇する。これに伴い、走査光学装置から出射されたレーザ光が感光ドラムを照射する位置が、レーザ光の走査方向や、走査方向と直交する方向にずれることがある。レーザ光が感光ドラム上を照射する位置が変化すると、感光ドラム上に形成される静電潜像の位置も変化し、静電潜像をトナーで現像したトナー像の位置も変化し、記録材上に形成される画像位置も所定の位置からずれることになる。また、カラー画像の場合は、複数の色のトナー像を重ね合わせることでカラー画像が形成されている。ところが、それぞれの色のトナー像の位置が変化すると、形成されるカラー画像の色味が変化することになる。

そこで、このような課題を解決するために、例えば、特許文献１では、色ずれ検知パターン像を搬送体上に形成し、搬送体上に形成された位置ずれ検知パターン像をパターン検知手段で読み取って、位置ずれ量を演算する画像形成装置が提案されている。また、例えば特許文献２では、感光ドラムの感光面以外の場所にマーキング領域を設けて、感光ドラムの書き込み位置を検知し、レーザ光の書き込み位置を補正する補正手段により書き込み位置を補正する画像形成装置が提案されている。更に、例えば、特許文献３では、感光ドラムの有効走査領域に対応する位置検出センサを設け、感光ドラムに入射する光束をビームスプリッタで反射させて位置検出センサに入射させることで、光束の位置を検出する走査光学装置が提案されている。また、例えば、特許文献４には、ビーム間の位置ずれを適切に補正して、モアレ等の画像弊害の発生を抑制する画像形成装置が記載されている。

特開２００１−３１２１１６号公報 特開２００２−２７３９３４号公報 特開２０１１−２５７５７２号公報 特開２０１８−２２１６４号公報

しかしながら、上述した特許文献で提案されている画像形成装置は、以下のような課題を有している。例えば、特許文献１で提案された画像形成装置では、色ずれ検知パターン像を搬送体上に形成するため、色ずれ検知を行うたびにトナーが消費されてしまう。また、記録材に印刷を行っているときには、色ずれ検知パターンを搬送体上に形成することができない。そのため、色ずれ検知は印刷時以外のときに行う必要があるため、色ずれ検知を行っている間は、印刷を行うことができず、ダウンタイムが発生してしまうという課題が生じる。また、特許文献２で提案された画像形成装置は、感光面以外の場所にマーキング領域を設けておき、マーキング領域にレーザ光を照射して反射した戻り光の強度を検知することにより、レーザ光の書き込み位置を検知している。そのため、走査光学装置は画像領域外までレーザ光を出射させる必要がある。その結果、感光ドラムの長手方向の長さが長くなり、画像形成装置が大型化するという課題を有している。更に、特許文献３で提案された画像形成装置では、画像情報が書き込まれる領域に照射されるレーザ光をビームスプリッタで分離している。そのため、感光ドラム面上に照射される光量が減少してしまうため、より高出力の半導体レーザを用いる必要がある。そのため、ビームスプリッタや高出力の半導体レーザを使用することにより、コストアップを招いてしまう。また、特許文献４で提案された画像形成装置では、光源がマルチビームの場合に、曲率を有する感光ドラムに対してレーザ光の副走査方向の照射位置が変化することにより生じる、主走査方向のビーム間の位置ずれに関しては補正されていない。

本発明は、このような状況のもとでなされたもので、像担持体上のレーザ光の照射位置ずれ検知・補正に伴う画像形成装置の大型化、及びダウンタイムの発生を抑制することを目的とする。

上述した課題を解決するために、本発明では、以下の構成を備える。

（１）画像情報に応じたレーザ光を照射する走査光学装置であって、レーザ光を出射する光源と、前記レーザ光を偏向する回転多面鏡と、前記光源及び前記回転多面鏡を内部に収納する筐体と、を有する前記走査光学装置と、第１の方向に回転し、前記走査光学装置から前記第１の方向と直交する第２の方向にレーザ光が照射される感光体と、前記走査光学装置を制御する制御手段と、前記感光体に対向する位置に配置され、レーザ光を検知する検知部を有し、前記検知部は前記感光体に照射されたレーザ光が前記感光体に反射され、反射された前記レーザ光が入射したことを検知すると、前記レーザ光が前記検知部に入射した位置情報を出力する検知手段と、を備え、前記制御手段は、前記検知手段が出力する前記位置情報に基づいて、レーザ光が前記感光体上を照射する照射位置の位置ずれ量を算出し、前記走査光学装置を制御して、レーザ光の前記照射位置の位置ずれを補正することを特徴とする画像形成装置。

本発明によれば、像担持体上のレーザ光の照射位置ずれ検知・補正に伴う画像形成装置の大型化、及びダウンタイムの発生を抑制することができる。

実施例１〜３の画像形成装置の構成を示す断面図 実施例１〜３の走査光学装置の構成を示す斜視図 実施例１〜３の走査光学装置の構成を示す断面図 実施例１のセンサユニット、感光ドラム、レーザ光の関係を説明する図 実施例１、２の光路変更部材を説明する斜視図と平板ガラスの回転とレーザ光の変化との関係を説明する図 実施例１、２のＢＤの位置と、ラインセンサ上での設計上のスポット位置と実際のスポット位置との関係を説明する図 実施例２のセンサユニット、感光ドラム、レーザ光の関係を説明する図 実施例３のセンサユニット、感光ドラム、レーザ光の関係を説明する図 実施例３のセンサユニットを説明する図 実施例３の副走査方向と主走査方向の照射位置ずれを演算する制御シーケンスのフローチャート 実施例３の副走査方向の照射位置補正を説明する図 その他の実施例のマルチビームの場合の主走査方向の照射位置ずれを説明する図

以下に、図面を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。

［画像形成装置の構成］
図１は、実施例１の電子写真方式の画像形成装置であるレーザビームプリンタ１００（以下、プリンタ１００という）の構成を示す断面図である。プリンタ１００は、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）等の外部ホスト装置（不図示）から入力された画像情報に基づいて、記録媒体であるシートＳに画像形成を行う。プリンタ１００の装置本体内部には、トナーの色が異なる４つのプロセスカートリッジＰＹ・ＰＭ・ＰＣ・ＰＫが略水平方向に並べて配置されている。プロセスカートリッジＰＹ・ＰＭ・ＰＣ・ＰＫは、それぞれトナーの色がイエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、ブラック（Ｋ）のプロセスカートリッジである。また、図１において、部材に付された符号の末尾のｙ、ｍ、ｃ、ｋは、それぞれ該当部材がトナーの色がイエロー、マゼンタ、シアン、ブラックのプロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫに対応した部材であることを示している。また、各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの内部構成は同一であり、以下の説明では、特定の色のプロセスカートリッジの部材に関する説明を除き、符号の末尾のｙ、ｍ、ｃ、ｋは省略する。なお、図中の矢印は、該当部材の回転方向を示している。

各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫは、それぞれ、静電潜像が形成される感光体である感光ドラム１１と、感光ドラム１１上に形成された静電潜像にトナーを付着して現像し、トナー像を形成する現像ローラ１２等を一体的に組み付けたものである。また、各プロセスカートリッジＰＹ・ＰＭ・ＰＣ・ＰＫの上方には、走査光学装置２が配置されている。走査光学装置２は、レーザ光により各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの感光ドラム１１の表面を走査し、感光ドラム１１の表面に静電潜像を形成する。そして、感光ドラム１１上（感光体上）に形成された静電潜像は、現像ローラ１２により現像され、トナー像が形成される。

また、各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの下方には、中間転写ベルトユニット２０が配置されている。中間転写ベルトユニット２０では、中間転写ベルト２１が、駆動ローラ２２、テンションローラ２３、従動ローラ２４に張架され、図中矢印方向（時計回り方向）に回転する。各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの感光ドラム１１は、中間転写ベルト２１に接している。また、中間転写ベルト２１の内側には、各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの感光ドラム１１に対向する位置に、一次転写ローラ２５が配置されている。駆動ローラ２２は、中間転写ベルト２１を介して二次転写ローラ２６と当接している。二次転写ローラ２６の上部には、定着装置３０と排出装置４０が配置されている。プリンタ１００の外部上面には、排出されたシートＳが積載される積載トレイ５０が設けられている。定着装置３０は、定着フィルム３１と加圧ローラ３２を有している。また、排出装置４０は、排紙ローラ４１と排紙コロ４２を有している。

記録材を給送する給送装置６０は、シートＳが載置される給紙トレイ６１を有している。給紙トレイ６１内に載置されたシートＳは、リフトアップ機構６４により給送ローラ６２に当接し、図中矢印方向（時計回り方向）に回転する給送ローラ６２により給送される。また、重送したシートＳは分離ローラ６３によって分離され、二次転写ローラ２６へと搬送される。給送装置６０から給送されたシートＳは、駆動ローラ２２と二次転写ローラ２６とのニップ部へ搬送される。そして、感光ドラム１１上に形成され、中間転写ベルト２１に転写されたトナー像が、駆動ローラ２２と二次転写ローラ２６とのニップ部において、シートＳに転写される。その後、トナー像が転写されたシートＳは、定着装置３０へと搬送され、定着装置３０の定着フィルム３１及び加圧ローラ３２により加熱、加圧され、トナー像がシートＳに定着される。トナー像が定着されたシートＳは、排出装置４０へと搬送され、排紙ローラ４１と排紙コロ４２により、積載トレイ５０に排出される。なお、図１中に示す破線は、給送装置６０から給送されたシートＳが搬送される搬送経路を示している。また、給送装置６０には、用紙サイズ検知装置７０が配置されている。用紙サイズ検知装置７０は、用紙検知レバー７１、及び光学式センサ７２を有し、給紙トレイ６１内に載置されたシートＳのサイズを検知する。また、給紙トレイ６１は、プリンタ１００本体に対し着脱可能な構成となっている。

また、各カートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫ内には、それぞれ、走査光学装置２から感光ドラム１１に照射されたレーザ光が感光ドラム１１表面に反射した反射光を検知するセンサユニット３２２が配置されている。センサユニット３２２については後述する。

［走査光学装置の構成］
図２は、図１で示した走査光学装置２を上方向から見たときの内部構成を示す斜視図である。なお、図２では、走査光学装置２の内部構成を示すため、走査光学装置２の上部を覆うカバーを外した状態の斜視図である。一方、図３は、図２に示す走査光学装置２を図中長手方向に切断したときの断面図である。

図２において、光源部３０２ｙ、３０２ｍ、３０２ｃ、３０２ｋは、それぞれプロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの感光ドラム１１にレーザ光を照射する半導体レーザ（不図示）とコリメータレンズ（不図示）とを有している。複眼シリンダレンズ３０３は、各光源部３０２のコリメータレンズを透過したレーザ光を後述する回転多面鏡３０５に焦線状に結像させる。レーザ駆動回路基板３０４は、各光源部３０２の半導体レーザの駆動を制御する。回転多面鏡３０５は、各光源部３０２から出射されたレーザ光の光路を偏向する反射面を有している。偏向器３０６は、回転多面鏡３０５を回転駆動する。

ｆθレンズ３０７ａ、３０７ｂ、及び走査レンズ３０８ａ、３０８ｂは、回転多面鏡３０５の反射面によって偏向されたレーザ光が、各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの感光ドラム１１の表面上にスポットを形成するように集光する。また、ｆθレンズ３０７ａ、３０７ｂ、及び走査レンズ３０８ａ、３０８ｂは、感光ドラム１１上に形成されるスポットの走査速度が等速となるように設計されている。

反射ミラー３０９ｙは、光源部３０２ｙから出射されたレーザ光ＬｙをプロセスカートリッジＰＹの感光ドラム１１ｙへと導くためのミラーである。また、反射ミラー３０９ｍ１、３０９ｍ２、３０９ｍ３は、光源部３０２ｍから出射されたレーザ光ＬｍをプロセスカートリッジＰＭの感光ドラム１１ｍへと導くためのミラーである。更に、反射ミラー３０９ｃ１、３０９ｃ２、３０９ｃ３は、光源部３０２ｃから出射されたレーザ光ＬｃをプロセスカートリッジＰＣの感光ドラム１１ｃへと導くためのミラーである。また、反射ミラー３０９ｋは、光源部３０２ｋから出射されたレーザ光ＬｋをプロセスカートリッジＰＫの感光ドラム１１ｋへと導くためのミラーである。

集光レンズ３１０は、レーザ駆動回路基板３０４上に設けられた水平同期信号を出力するＢＤ（ビームディテクタ）３１６にレーザ光Ｌｙを導くためのレンズである。図３に示す光路変更部材３１１は、各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの感光ドラム１１を照射するレーザ光Ｌを透過する平板ガラス３１２（図５参照）を保持している。光学箱５００は、上述した走査光学装置２の走査光学系の各部材を収納する筐体である。光学箱５００には、上述した光学部品が組み込まれ、塵埃侵入防止の蓋（不図示）によって略密閉される。そして、図１に示すように、走査光学装置２は、プリンタ１００内部に搭載される。

以上に説明したように、走査光学装置２では、図２に示すように光源部３０２の半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌは、複眼シリンダレンズ３０３を通過し、図中矢印方向（反時計回り方向）に回転する回転多面鏡３０５によって光路を偏向される。

図３において、光源部３０２ｙの半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌｙは、回転多面鏡３０５によって偏向され、ｆθレンズ３０７ａ、走査レンズ３０８ａを透過して、反射ミラー３０９ｙによって光路を折り返される。そして、レーザ光Ｌｙは、光路変更部材３１１ｙの平板ガラス３１２ｙを透過して、プロセスカートリッジＰＹの感光ドラム１１ｙに照射される。

光源部３０２ｍの半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌｍは、回転多面鏡３０５によって偏向され、ｆθレンズ３０７ａ、走査レンズ３０８ａを透過して、反射ミラー３０９ｍ１、３０９ｍ２、３０９ｍ３によって光路を折り返される。そして、レーザ光Ｌｍは、光路変更部材３１１ｍの平板ガラス３１２ｍを透過して、プロセスカートリッジＰＭの感光ドラム１１ｍに照射される。

光源部３０２ｃの半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌｃは、回転多面鏡３０５によって偏向され、ｆθレンズ３０７ｂ、走査レンズ３０８ｂを透過して、反射ミラー３０９ｃ１、３０９ｃ２、３０９ｃ３によって光路を折り返される。そして、レーザ光Ｌｃは、光路変更部材３１１ｃの平板ガラス３１２ｃを透過して、プロセスカートリッジＰＣの感光ドラム１１ｃに照射される。

光源部３０２ｋの半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌｋは、回転多面鏡３０５によって偏向され、ｆθレンズ３０７ｂ、走査レンズ３０８ｂを透過して、反射ミラー３０９ｋによって光路を折り返される。そして、レーザ光Ｌｋは、光路変更部材３１１ｋの平板ガラス３１２ｋを透過して、プロセスカートリッジＰＫの感光ドラム１１ｋに照射される。

このように、走査光学系は、光源部３０２ｙ、３０２ｍ、３０２ｃ、３０２ｋから出射されたレーザ光Ｌｙ、Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋが、回転多面鏡３０５の回転方向に沿って感光ドラム１１ｙ、１１ｍ、１１ｃ、１１ｋを走査することで、走査線が形成される。このときの走査方向を主走査方向（第２の方向）という。また、各感光ドラム１１が回転することにより、感光ドラム１１上に静電潜像が形成される。このときの感光ドラム１１が回転する方向を副走査方向（第１の方向）という。

また、図２に示すように、光源部３０２ｙの半導体レーザから出射されたレーザ光Ｌｙは、回転多面鏡３０５により偏向され、偏向されたレーザ光Ｌｙは、ｆθレンズ３０７ａに入射する位置よりも上流側で集光レンズ３１０を通過する。そして、集光レンズ３１０を通過したレーザ光Ｌｙは、ＢＤ３１６に照射される。ＢＤ３１６は、レーザ光Ｌｙを検知することにより、レーザ光Ｌｙが感光ドラム１１ｙに照射されるタイミングを示す水平同期信号を出力する。なお、集光レンズ３１０及びＢＤ３１６は、光源部３０２ｙに対応した半導体レーザ側にのみ設けられている。他のトナーの色に対応した光源部３０２ｍ、３０２ｃ、３０２ｋの半導体レーザは、出射されるレーザ光Ｌｍ、Ｌｃ、Ｌｋが対応する感光ドラム１１ｍ、１１ｃ、１１ｋ上の所望の書き出し位置に照射するように出射タイミングを制御される。

［走査光学装置の制御］
図４（ａ）は、本実施例の走査光学装置の制御を行う制御系の構成を説明する図である。制御手段であるＣＰＵ８０は、記憶手段であるＲＯＭ８１及びＲＡＭ８２を有し、プリンタ１００の画像形成動作を制御する。また、ＣＰＵ８０は、時間を計測するタイマを有している。ＣＰＵ８０は、ＲＯＭ８１に格納されている制御プログラムに従って、画像形成制御を行う。また、ＲＯＭ８１には、各種制御に必要なデータやパラメータ等も格納されている。ＲＡＭ８２は、プリンタ１００内の各装置から取得した制御データを一時的に保存するとともに、制御プログラムの実行に伴う演算処理の作業領域としても用いられる。また、ＣＰＵ８０は、センサユニット３２２が検知した検知情報を取得する。ＣＰＵ８０は、センサユニット３２２から取得した検知情報に基づいて、光路変更部材３１１の角度補正を副走査照射位置制御部８５に指示する。なお、光路変更部材３１１の角度補正については後述する。

［センサユニットの構成］
次に、図４（ｂ）〜（ｄ）は、走査光学装置２から出射されるレーザ光の走査線位置を測定する検知手段であるセンサユニット３２２と感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。図４（ｂ）はセンサユニット３２２の内部に設けられた検知部であるラインセンサ３２２ｆ、３２２ｓの配置を説明する図である。図４（ｃ）は、プロセスカートリッジＰＹを感光ドラム１１ｙの回転軸に直交する面で切断したときの、センサユニット３２２と感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。図４（ｄ）は、プロセスカートリッジＰＹを感光ドラム１１ｙの回転軸に平行な面で切断したときの、センサユニット３２２と感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。上述したように、本実施例のプリンタ１００は、４つのプロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫを備えている。各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫにおいて、感光ドラム１１とセンサユニット３２２と感光ドラム１１に照射されるレーザ光Ｌの位置関係は同一である。以下では、代表としてプロセスカートリッジＰＹの場合について説明する。

図４（ｂ）に示すように、センサユニット３２２ｙは、ラインセンサ３２２ｆ、３２２ｓを有している。ラインセンサ３２２ｆ（第１のラインセンサ）は、レーザ光Ｌｙの感光ドラム１１ｙに対する副走査方向の照射位置を測定するラインセンサであり、長手方向がレーザ光の走査方向（主走査方向）に対して直交する副走査方向となるように配置されている。一方、ラインセンサ３２２ｓ（第２のラインセンサ）は、レーザ光Ｌｙの感光ドラム１１ｙに対する主走査方向の照射位置を測定するラインセンサであり、長手方向がレーザ光Ｌｙの走査方向（主走査方向）に対して平行になるように配置されている。

図４（ｃ）、（ｄ）に示すように、センサユニット３２２ｙは、感光ドラム１１ｙの主走査方向の中央部付近の、感光ドラム１１ｙの近傍に配置されている。図４（ｃ）において、レーザ光Ｌｙ１は、プリンタ１００の出荷時の走査光学装置２から感光ドラム１１ｙに照射されたレーザ光Ｌｙの光路を示している。一方、レーザ光Ｌｙ２は、プリンタ１００が稼動され所定の時間が経過したときの、走査光学装置２から感光ドラム１１ｙに照射されたレーザ光Ｌｙの光路を示している。図中、実線で示すレーザ光Ｌｙ１、Ｌｙ２は、感光ドラム１１ｙの表面で反射する前のレーザ光であり、破線で示すレーザ光Ｌｙ１、Ｌｙ２は、感光ドラム１１ｙの表面で反射した後のレーザ光である。感光ドラム表面で鏡面反射されたレーザ光Ｌｙ１、Ｌｙ２は、センサユニット３２２ｙのレーザ光Ｌｙ２の副走査方向の照射位置を測定するラインセンサ３２２ｆ、主走査方向の照射位置を測定するラインセンサ３２２ｓに入射する。本実施例では、まず、ラインセンサ３２２ｆにて検知したレーザ光Ｌｙ２の副走査方向の照射位置に基づいて、レーザ光Ｌｙ２の副走査方向の照射位置を補正する。その後、ラインセンサ３２２ｓにて検知したレーザ光Ｌｙ２の主走査方向の照射位置に基づいて、レーザ光Ｌｙの主走査方向の照射位置を補正する。なお、レーザ光Ｌの副走査方向と主走査方向の照射位置の補正方法については後述する。

最初にレーザ光Ｌの副走査方向の照射位置を補正するのは、センサユニット３２２のラインセンサ３２２ｆ、３２２ｓの配置位置によるものである。すなわち、レーザ光Ｌの副走査方向の照射位置を検知するラインセンサ３２２ｆは、レーザ光Ｌの走査方向に対して直交するように配置されている。そのため、レーザ光Ｌの主走査方向の軌跡である走査線の照射位置ずれが発生していたとしても、感光ドラム１１の表面で反射したレーザ光Ｌはラインセンサ３２２ｆに到達し、ラインセンサ３２２ｆにより検知される。一方、主走査方向のレーザ光Ｌの照射位置を検知するラインセンサ３２２ｓは、レーザ光Ｌの走査方向（主走査方向）に平行に配置されている。そのため、レーザ光Ｌの走査線が副走査方向に大きくずれていると検知することができないためである。

また、図４（ｃ）において、ずれ量ΔＬ１２は、感光ドラム１１ｙ上におけるレーザ光Ｌｙ２のレーザ光Ｌｙ１に対する照射位置ずれ量を示している。一方、ずれ量ΔＬ１２´は、センサユニット３２２ｙの副走査方向のラインセンサ３２２ｆ上でのレーザ光Ｌｙ２のレーザ光Ｌｙ１に対する照射位置ずれ量を示している。感光ドラム１１ｙは曲率を有している。そのため、図４（ｃ）に示すように、照射位置ずれ量ΔＬ１２´は、感光ドラム上の照射位置ずれ量ΔＬ１２と同じずれ量ではない。そこで、ＲＯＭ８１には、予め、ラインセンサ３２２ｆで検知したレーザ光Ｌの照射位置の基準となる照射位置に対する照射位置ずれ量ΔＬ１２´と、感光ドラム１１上での照射位置のずれ量ΔＬ１２とを対応させたデータの補正テーブルが格納されている。詳細には、プリンタ１００の出荷時の走査光学装置２から感光ドラム１１に照射されたレーザ光Ｌをラインセンサ３２２ｆが検知したときの検知位置を基準位置とする。そして、補正テーブルは、ラインセンサ３２２ｆで検知したレーザ光Ｌの照射位置に応じた、基準位置とのずれ量である照射位置ずれ量ΔＬ１２´と、感光ドラム１１上での照射位置のずれ量ΔＬ１２とを対応させたデータ（第１の情報）から構成されている。その結果、補正テーブルから、ラインセンサ３２２ｆで検知したレーザ光Ｌの照射位置に対応したデータを取得することにより、感光ドラム１１上での照射位置のずれ量ΔＬ１２を求めることができる。ＣＰＵ８０は、センサユニット３２２のラインセンサ３２２ｆにて検知したレーザ光Ｌの照射位置を取得し、補正テーブルのデータに基づいて感光ドラム１１上での照射位置のずれ量を求め、レーザ光Ｌの副走査方向の照射位置ずれを補正する。

［レーザ光の副走査方向の照射位置ずれの補正］
次に、図５を用いて、レーザ光Ｌの副走査方向の照射位置を補正する方法について説明する。図５（ａ）は、図３に示した、レーザ光Ｌの副走査方向の照射位置を変化させるための光路変更部材３１１の構成を説明する斜視図であり、光路変更部材３１１と、感光ドラム１１とセンサユニット３２２の位置関係を示している。図３に示したように、各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫの感光ドラム１１と走査光学装置２の反射ミラー３０９との間に、光路変更部材３１１ｙ、３１１ｍ、３１１ｃ、３１１ｋが配置されている。４つの光路変更部材３１１ｙ、３１１ｍ、３１１ｃ、３１１ｋは、同様の機構を有し、動作する。以下では、代表としてプロセスカートリッジＰＹの感光ドラム１１ｙに対応する光路変更部材３１１ｙについて説明する。

図５（ａ）に示すように、光路変更部材３１１ｙは、レーザ光Ｌｙを透過する平板ガラス３１２ｙと、平板ガラス３１２ｙを保持する保持部材３１３ｙで構成されている。保持部材３１３ｙの長手方向（主走査方向）の両端部に、保持部材３１３ｙを回転させる回転軸３１４ｙが設けられており、一端は走査光学装置２に保持され、他端は駆動部材であるステッピングモータ３１５ｙに回転可能に保持されている。そして、図４（ａ）に示す副走査照射位置制御部８５からの指示に応じて、ステッピングモータ３１５ｙが回転することにより、平板ガラス３１２ｙが回転し、レーザ光Ｌｙの感光ドラム１１ｙに対する照射位置を変更することができる。

図５（ｂ）は、光路変更部材３１１ｙに保持されている平板ガラス３１２ｙをステッピングモータ３１５ｙにより回転させた場合のレーザ光Ｌｙが照射する感光ドラム１１ｙの照射位置の変化を説明する図である。なお、図５（ｂ）は、ステッピングモータ３１５ｙ側から主走査方向に向かって平板ガラス３１２ｙを見たときの平板ガラス３１２ｙの状態を示した図である。本実施例では、副走査方向のレーザ光照射位置を全像高で一律に補正するものとしている。図５（ｂ）に示すように、平板ガラス３１２ｙのレーザ光Ｌｙが入射する面とレーザ光Ｌｙが出射する面とは平行である。そのため、実線で示す平板ガラス３１２を副走査方向（図中上下方向）に角度θだけ傾けると、破線で示す平板ガラス３１２ｙに入射したレーザ光Ｌｙは、平板ガラス３１２ｙの入射面から図中一点鎖線で示す角度θ傾いた方向に進む。そして、平板ガラス３１２ｙの出射面から出たレーザ光Ｌｙθは、平板ガラス３１２ｙへの入射したときのレーザ光Ｌｙに平行した光路を進む。その結果、図５（ｂ）に示すように、ステッピングモータ３１５ｙから見て平板ガラス３１２ｙを図中時計回り方向に角度θ傾けることにより、レーザ光Ｌｙが感光ドラム１１ｙを照射する位置をΔＬθだけ、感光ドラム１１ｙの回転軸方向にずらすことができる。そのため、ＣＰＵ８０のＲＯＭ８１には、感光ドラム１１上での照射位置のずれ量ΔＬ１２（図４（ｃ））と、ずれ量ΔＬ１２を補正するための平板ガラス３１２の変更すべき角度θとを対応付けたデータ（第２の情報）の補正テーブルが格納されている。

ＣＰＵ８０は、レーザ光Ｌの感光ドラム１１の副走査方向の照射位置を補正する場合には、まず、センサユニット３２２のラインセンサ３２２ｆで検知したレーザ光Ｌの検知位置を取得する。そして、ＣＰＵ８０は、ＲＯＭ８１に格納された補正テーブルを用いて、レーザ光Ｌのラインセンサ３２２ｆでの検知位置に基づく基準位置からのずれ量に応じた感光ドラム１１上の位置ずれ量を取得する。次に、ＣＰＵ８０は、取得した感光ドラム１１上の位置ずれ量を補正するために、平板ガラス３１２の変更すべき角度をＲＯＭ８１に格納された補正テーブルから取得する。そして、ＣＰＵ８０は、取得した平板ガラス３１２の変更すべき角度を副走査照射位置制御部８５に指示する。副走査照射位置制御部８５が、ステッピングモータ３１５を制御して、平板ガラス３１２の角度を指示された角度に変更することにより、レーザ光Ｌの副走査方向の補正が終了する。上述した補正動作を各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫについて行うことにより、レーザ光Ｌの副走査方向の補正が行われる。

また、ここでは、平板ガラス３１２の角度変更を行うステッピングモータ３１５の制御を副走査照射位置制御部８５が行っているが、ＣＰＵ８０が直接、ステッピングモータ３１５の制御を行うようにしてもよい。なお、シートＳの画像形成中に、ステッピングモータ３１５を駆動して平板ガラス３１２の角度変更を行うと、レーザ光Ｌが照射する感光ドラム１１上の照射位置がずれてしまい、形成される静電潜像が副走査方向に歪んでしまう。そのため、平板ガラス３１２の角度変更は、印刷を行っている場合には、シートＳとシートＳの紙間の画像形成が行われていないタイミングで行われる。そのため、照射位置ずれの検知及び補正に伴うダウンタイムが発生しない。

本実施例では、補正テーブルを用いて、レーザ光Ｌの副走査方向の照射位置ずれの補正を行っている。例えば、プリンタ１００の出荷時の走査光学装置２から感光ドラム１１に照射されたレーザ光Ｌをラインセンサ３２２ｆが検知したときの検知位置を、レーザ光Ｌの初期の照射位置としてＲＯＭ８１に格納しておく。そして、光路変更部材３１１の平板ガラス３１２の角度を一定の角度で変更して、レーザ光Ｌの感光ドラム１１上の照射位置を一定量ずつ変化させ、ラインセンサ３２２ｆが検知するレーザ光Ｌの検知位置を初期の照射位置に戻すように補正するようにしてもよい。

［レーザ光の主走査方向の照射位置ずれの補正］
続いて、レーザ光Ｌの主走査方向の照射位置の補正方法について説明する。図６（ａ）は、ＢＤ３１６にレーザ光Ｌが入射してから、スポット形成を行う感光ドラム１１の所望の主走査方向の位置までの時間Ｔｉを示している。また、図６（ｂ）は、センサユニット３２２のラインセンサ３２２ｓ上での、設計上のレーザ光が検知される所望の主走査位置と、実際にレーザ光が検知される主走査位置の関係を説明する図である。図６（ｂ）において、レーザ光Ｌの照射位置Ｌｉは、時間Ｔｉに基づいて算出される設計上のレーザ光Ｌの照射位置を示し、照射位置Ｌｒは、実際にラインセンサ３２２ｓにより検知されたレーザ光Ｌの照射位置を示している。また、位置ずれ量ΔＬｉｒは、ラインセンサ３２２ｓ上の、時間Ｔｉに基づいて算出される設計上のレーザ光Ｌの照射位置と、実際にラインセンサ３２２ｓにより検知されたレーザ光Ｌの照射位置との距離を示している。本実施例では、ＢＤ３１６がレーザ光を検知するタイミングを基準として、実際に感光ドラム１１上に形成される画像の主走査方向の照射位置ずれを補正する。

まず、ＣＰＵ８０は、図６（ａ）に示すように、印刷する画像データに基づいて、ラインセンサ３２２ｓが検知する所望のレーザ光Ｌの照射位置を決定する。そして、ＣＰＵ８０は、ＢＤ３１６がレーザ光Ｌを検知してから、決定したレーザ光Ｌがラインセンサ３２２ｓの照射位置に照射されるまでの設計上の時間Ｔｉを算出する。次に、ＣＰＵ８０は、算出した設計上の時間Ｔｉからレーザ光Ｌが検知されるラインセンサ３２２ｓ上の照射位置Ｌｉを求める。続いて、ＣＰＵ８０は、ＢＤ３１６がレーザ光Ｌを検知したタイミングを基準に、走査光学装置２から時間Ｔｉにレーザ光Ｌを照射させ、レーザ光Ｌをラインセンサ３２２ｓが検知した照射位置Ｌｒをセンサユニット３２２より取得する。ＣＰＵ８０は、センサユニット３２２のラインセンサ３２２ｓより取得した照射位置Ｌｒと、設計上のラインセンサ３２２ｓ上の照射位置Ｌｉとの位置ずれ量ΔＬｉｒを算出する。ＣＰＵ８０は、算出した位置ずれ量ΔＬｉｒをレーザ光Ｌが感光ドラム１１上を走査する速度で除することにより、位置ずれ量ΔＬｉｒに応じた走査ずれ時間ΔＴｉｒを算出する。なお、図６（ｂ）では、位置ずれ量ΔＬｉｒは、実際のレーザ光Ｌが主走査方向の下流側（図中、右側）にずれており、感光ドラム１１上を走査するタイミングが遅いことを示している。そこで、ＣＰＵ８０は、レーザ光Ｌの出射タイミングを走査ずれ時間ΔＴｉｒだけ早めたタイミングで実施するように、走査光学装置２を制御することにより、レーザ光Ｌの主走査方向の位置ずれを補正する。なお、ここでは、実際のレーザ光Ｌが主走査方向の下流側にずれている例について説明した。例えば実際のレーザ光Ｌが主走査方向の上流側（図４（ｂ）の左側）にずれている場合には、ＣＰＵ８０は、レーザ光Ｌのタイミングを走査ずれ時間ΔＴｉｒだけ遅らせたタイミングで実施することで、レーザ光Ｌの主走査方向の位置ずれを補正することができる。

以上のような構成によって、印刷時でも画像データを用いて、レーザ光の主走査方向及び副走査方向の照射位置ずれ量を検知することができる。更に、照射位置ずれの補正を印刷時の紙間のタイミングで行うことができるため、照射位置ずれの補正のためのダウンタイムが発生しないという効果を奏することができる。また、本実施例では、感光ドラム上の印刷対象である画像領域内に照射されるレーザ光を用いて照射位置ずれの検知を行うため、感光ドラムの主走査方向の長さを拡大させる必要はなく、その結果、画像形成装置の大型化を防止することができる。

以上説明したように、本実施例によれば、像担持体上のレーザ光の照射位置ずれ検知・補正に伴う画像形成装置の大型化、及びダウンタイムの発生を抑制することができる。

実施例１では、感光ドラムに反射したレーザ光を検知するセンサユニットは、感光ドラムの中央部に対向した位置に設けられていた。実施例２では、センサユニットが感光ドラムの両端部、及び中央部に対向した位置に設けられている場合の照射位置ずれの検知方法及び補正方法について説明する。

［センサユニットの構成］
次に、図７（ａ）、（ｂ）は、走査光学装置２から出射されるレーザ光Ｌの走査線位置を測定するセンサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒと感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。図７（ａ）は、プロセスカートリッジＰＹを感光ドラム１１ｙの回転軸に直交する面で切断したときの、センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒと感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。図７（ｂ）は、プロセスカートリッジＰＹを感光ドラム１１ｙの回転軸に平行な面で切断したときの、センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒと感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。本実施例の各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫにおいて、感光ドラム１１とセンサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒと感光ドラム１１に照射されるレーザ光Ｌの位置関係は同一である。以下では、代表としてプロセスカートリッジＰＹの場合について説明する。

本実施例では、１つの感光ドラム１１ｙに対して、３つのセンサユニット３２２Ｌｙ、３２２Ｃｙ、３２２Ｒｙが配置されている。センサユニット３２２Ｌｙ（第１の検知部）は、感光ドラム１１ｙの主走査方向の最上流、すなわち感光ドラム１１ｙ上にレーザ光が照射される最初の照射位置に対向する位置に配置されている。センサユニット３２２Ｃｙ（第２の検知部）は、感光ドラム１１ｙの主走査方向の中央部、すなわち感光ドラム１１ｙ上の中央部に対向する位置に配置されている。センサユニット３２２Ｒｙ（第３の検知部）は、感光ドラム１１ｙの主走査方向の最下流、すなわち感光ドラム１１ｙ上にレーザ光が照射される最後の照射位置に対向する位置に配置されている。各センサユニット３２２Ｌｙ、３２２Ｃｙ、３２２Ｒｙは、レーザ光Ｌｙの感光ドラム１１ｙに対する副走査方向の照射位置を測定するラインセンサ３２２ｓを有している。更に、各センサユニット３２２Ｌｙ、３２２Ｃｙ、３２２Ｒｙは、レーザ光Ｌの感光ドラム１１ｙに対する主走査方向の照射位置を測定するラインセンサ３２２ｓを有している。なお、各センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒにおけるラインセンサ３２２ｆ、及びラインセンサ３２２ｓの配置位置は、実施例１の図４（ｂ）と同様である。

［レーザ光の副走査方向の照射位置ずれの補正］
図７（ａ）、（ｂ）に示すように、感光ドラム１１ｙ表面で鏡面反射されたレーザ光Ｌｙは、センサユニット３２２Ｌｙ、３２２Ｃｙ、３２２Ｒｙに入射する。各センサユニット３２２Ｌｙ、３２２Ｃｙ、３２２Ｒｙに入射したレーザ光Ｌｙは、副走査方向のセンサであるラインセンサ３２２ｆに入射し、ラインセンサ３２２ｆにて、レーザ光Ｌｙの副走査方向の照射位置が検知される。本実施例でも、実施例１と同様に、ＣＰＵ８０は、ＲＯＭ８１に格納された補正テーブルを用いて、レーザ光Ｌのラインセンサ３２２ｆでの検知位置に基づく基準位置からのずれ量に応じた感光ドラム１１上の位置ずれ量を取得する。次に、ＣＰＵ８０は、取得した感光ドラム１１上の位置ずれ量を補正するために、平板ガラス３１２の変更すべき角度をＲＯＭ８１に格納された補正テーブルから取得する。そして、ＣＰＵ８０は、取得した平板ガラス３１２の変更すべき角度を副走査照射位置制御部８５に指示し、副走査照射位置制御部８５が平板ガラス３１２の角度を指示された角度に変更することにより、レーザ光Ｌの副走査方向の補正が終了する。なお、本実施例でも、実施例１と同様に、補正量を算出する際に、補正テーブルを用いている。また、実施例１で説明したように、本実施例においても、副走査方向の照射位置ずれの補正は、主走査方向の照射位置ずれの補正に先立って行われる。

また、本実施例では、センサユニット３２２が感光ドラム１１の中央部と両端部の合計３か所に配置されている。そのため、各センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒのラインセンサ３２２ｆにより検知された副走査方向の照射位置に基づいて、レーザ光Ｌの軌跡である走査線の湾曲と傾きを算出することができる。本実施例では、副走査方向の照射位置ずれの補正は、実施例１と同様、ステッピングモータ３１５を駆動して、光路変更部材３１１の平板ガラス３１２の角度を変更することにより行われる。そのため、平板ガラス３１２の両端部、及び中央部のそれぞれにおいて、角度を変更することはできない。そこで、本実施例では、各センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒのラインセンサ３２２ｆにより検知された副走査方向の照射位置に基づいて算出された副走査方向の照射位置ずれ量の平均値を算出し、算出した平均値に対応した位置ずれ補正を行っている。

［レーザ光の主走査方向の照射位置ずれの補正］
主走査方向の照射位置については、実施例１ではセンサユニット３２２が配置された感光ドラム１１の中央部におけるレーザ光Ｌの照射位置を検知していた。一方、本実施例では、センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒを感光ドラム１１の両端部と中央部に配置している。そのため、ＢＤ３１６でレーザ光Ｌを検知したタイミングを基準に、レーザ光Ｌが照射される感光ドラム１１の画像領域の最上流の位置、画像領域の中央部の位置、画像領域の最下流の位置におけるレーザ光の照射を検知することができる。なお、各センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒにおいて、レーザ光Ｌを検知する方法は、実施例１のセンサユニット３２２が１つの場合の方法と同じであり、説明を省略する。

本実施例においても、実施例１の図６と同様に、ＣＰＵ８０は、センサユニット３２２のラインセンサ３２２ｓより取得した照射位置Ｌｒと、設計上のラインセンサ３２２ｓ上の照射位置Ｌｉとの位置ずれ量ΔＬｉｒを算出する。ＣＰＵ８０は、算出した位置ずれ量ΔＬｉｒをレーザ光Ｌが感光ドラム１１上を走査する速度で除することにより、位置ずれ量ΔＬｉｒに応じた走査ずれ時間ΔＴｉｒを算出する。ＣＰＵ８０は、レーザ光Ｌの出射タイミングを走査ずれ時間ΔＴｉｒだけ調整したタイミングで実施するように、走査光学装置２を制御することにより、レーザ光Ｌの主走査方向の位置ずれを補正する。なお、本実施例では、各センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｃ、３２２Ｒにおいて、検知された主走査方向の照射位置ずれ量が異なる場合には、検知された照射位置ずれ量の平均値を算出する。そして、走査光学装置２からのレーザ光Ｌの出射を、算出した平均値に応じて補正したタイミングで行うようにしている。

また、本実施例では、センサユニット３２２Ｌ、３２２Ｒを感光ドラム１１の両端部に対向した位置にも追加しているため、上述したレーザ光の照射開始位置だけでなく、全体倍率や片倍率差の補正も行うことが可能である。そのため、実施例１よりも高精度の照射位置の補正を行うことができる。なお、全体倍率の補正は、次のような方法で行われる。すなわち、ＢＤ３１６でレーザ光Ｌを検知したタイミングを基準として、センサユニット３２２Ｌで検知された主走査方向の最上流の照射位置と、センサユニット３２２Ｒで検知された主走査方向の最下流の照射位置でのレーザ光Ｌの検知タイミングを取得する。次に、取得した検知タイミングに基づいて、レーザ光の走査速度を乗じることにより、画像書き始めの位置（主走査方向の最上流位置）から画像書き終わりの位置（主走査方向の最下流位置）までの距離を算出する。そして、算出した距離と、設計上の距離である設計値とを比較して、算出された距離が設計値を同じになるように、走査光学装置のレーザ光Ｌの発光タイミングを変更する。

また、片倍率差の補正は、次のような方法で行われる。すなわち、ＢＤ３１６でレーザ光Ｌを検知したタイミングを基準として、センサユニット３２２Ｌで検知された主走査方向の最上流の照射位置と、センサユニット３２２Ｃで検知された主走査方向の中央部の照射位置でのレーザ光Ｌの検知タイミングを取得する。更に、ＢＤ３１６でレーザ光Ｌを検知したタイミングを基準として、センサユニット３２２Ｒで検知された主走査方向の最下流の照射位置でのレーザ光Ｌの検知タイミングを取得する。次に、取得したレーザ光Ｌの検知タイミングに基づいて、主走査方向の最上流位置から主走査方向の中央部までの照射時間と設計上の照射時間の時間差、及び主走査方向の中央部から主走査方向の最上流位置までの照射時間と設計上の照射時間の時間差を算出する。主走査方向の上流側の照射時間の時間差（ずれ量）と下流側の照射時間の時間差（ずれ量）とを比較して、両者のずれ量が同じになるように、走査光学装置のレーザ光Ｌの発光タイミングを変更する。

以上説明したように、センサユニットを感光ドラム１１の両端部、及び中央部に対向する位置に設置することにより、より精度の高い照射位置ずれの検知及び補正が可能になる。本実施例においても、実施例１と同様に、ダウンタイムを発生させることなく、照射位置ずれの検知及び補正を印刷時においても実施することができる。また、本実施例においても、感光ドラム上の印刷対象である画像領域内に照射されるレーザ光を用いて照射位置ずれの検知を行うため、感光ドラムの主走査方向の長さを拡大させる必要はなく、その結果、画像形成装置の大型化を防止することができる。

以上説明したように、本実施例によれば、像担持体上のレーザ光の照射位置ずれ検知・補正に伴う画像形成装置の大型化、及びダウンタイムの発生を抑制することができる。

実施例１、２では、レーザ光を検知するセンサユニットにはラインセンサが設けられていた。実施例３では、レーザ光を検知するセンサユニットに、１つのセンサで副走査方向及び主走査方向のレーザ光の照射位置を検知可能なエリアセンサが設けられている場合の照射位置ずれの検知方向及び補正方法について説明する。

［走査光学装置の制御］
図８（ａ）は、本実施例の走査光学装置の制御を行う制御系の構成を説明する図である。図８（ａ）に示す図は、図４（ａ）に示す実施例１、２の場合の走査光学装置の制御を行う制御系の構成と比べて、副走査照射位置制御部８５、及び光路変更部材３１１が削除され、比較演算部９０が追加されている点が異なる。

本実施例では、センサユニット３２２はラインセンサでなく、エリアセンサを有しているため、１つのセンサでレーザ光Ｌの主走査方向及び副走査方向の照射位置を同時に検知することができる。また、実施例１、２では、主走査方向及び副走査方向のレーザ光Ｌの照射位置の位置ずれ量の算出をＣＰＵ８０が行っていた。一方、本実施例では、比較演算部９０が主走査方向及び副走査方向のレーザ光Ｌの照射位置の位置ずれ量の算出を行う。照射位置の位置ずれの算出方法の詳細については後述する。また、本実施例の構成では、副走査照射位置制御部８５、及び光路変更部材３１１を有していないため、副走査方向の位置ずれの補正は、位置ずれが生じている画像データに対する走査光学装置２のレーザ光Ｌの出射タイミングを変更することにより行われる。なお、本実施例のセンサユニット３２２の構成の詳細な説明は後述する。

［センサユニットの構成］
次に、図８（ｂ）、（ｃ）は、走査光学装置２から出射されるレーザ光Ｌの走査線位置を測定するセンサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒと感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。図８（ｂ）は、プロセスカートリッジＰＹを感光ドラム１１ｙの回転軸に直交する面で切断したときの、センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒと感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。図８（ｃ）は、プロセスカートリッジＰＹを感光ドラム１１ｙの回転軸に平行な面で切断したときの、センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒと感光ドラム１１とレーザ光Ｌの位置関係を説明する図である。本実施例の各プロセスカートリッジＰＹ、ＰＭ、ＰＣ、ＰＫにおいて、感光ドラム１１とセンサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒと感光ドラム１１に照射されるレーザ光Ｌの位置関係は同一である。以下では、代表としてプロセスカートリッジＰＹの場合について説明する。

本実施例では、１つの感光ドラム１１ｙに対して、３つのセンサユニット３２３Ｌｙ、３２３Ｃｙ、３２３Ｒｙが配置されている。センサユニット３２３Ｌｙは、感光ドラム１１ｙの主走査方向の最上流、すなわち感光ドラム１１ｙ上にレーザ光が照射される最初の照射位置に対向する位置に配置されている。センサユニット３２３Ｃｙは、感光ドラム１１ｙの主走査方向の中央部、すなわち感光ドラム１１ｙ上の中央部に対向する位置に配置されている。センサユニット３２３Ｒｙは、感光ドラム１１ｙの主走査方向の最下流、すなわち感光ドラム１１ｙ上にレーザ光が照射される最後の照射位置に対向する位置に配置されている。各センサユニット３２３Ｌｙ、３２３Ｃｙ、３２３Ｒｙは、レーザ光Ｌｙの感光ドラム１１ｙに対する副走査方向の照射位置、及び主走査方向の照射位置を同時に測定可能な二次元のエリアセンサ３２４（図９参照）を有している。なお、各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒにおけるエリアセンサ３２４を用いたレーザ光Ｌの照射位置を測定する方法は同じなので、以下では、代表してセンサユニット３２３Ｃを用いて説明することとする。

［エリアセンサ］
図９は、本実施例のセンサユニット３２３Ｃに設けられたエリアセンサ３２４Ｃを説明する模式図である。図９に示すように、センサユニット３２３Ｃには、大型のセンサパネルであるエリアセンサ３２４Ｃが設けられ、エリアセンサ３２４Ｃにより入射するレーザ光Ｌの副走査方向及び主走査方向の照射位置が同時に検知可能となっている。なお、図９において、図中上下方向は副走査方向を示し、図中左右方向は主走査方向を示している。

また、図９のエリアセンサ３２４Ｃ上の実線は、設計上のレーザ光Ｌが感光ドラム１１の表面で反射され、エリアセンサ３２４Ｃ上を照射するレーザ光Ｌをプロットした走査線（エリアセンサ３２４Ｃに入射するレーザ光Ｌの軌跡）を示している。一方、図９のエリアセンサ３２４Ｃ上の破線は、設計上のレーザ光Ｌと同じタイミングで出射された実際のレーザ光Ｌが、エリアセンサ３２４Ｃ上を照射する様子をプロットした走査線（エリアセンサ３２４Ｃに入射するレーザ光Ｌの軌跡）を示している。

図中、ΔＬｓは、設計上のレーザ光Ｌと実際のレーザ光Ｌとの主走査方向の照射位置ずれ量を示し、ΔＬｆは、設計上のレーザ光Ｌと実際のレーザ光Ｌとの副走査方向の照射位置ずれ量を示している。図９において、図中左側が主走査方向の上流側、図中右側は主走査方向の下流側となり、図中上側は副走査方向の上流側、図中下側が副走査方向の下流側となる。したがって、実際のレーザ光Ｌは、副走査方向も主走査方向も、設計上のレーザ光Ｌに比べて、早いタイミングで出射されていることが分かる。そのため、実際のレーザ光Ｌの走査線を設計上のレーザ光Ｌの走査線と一致させるためには、レーザ光Ｌの出射タイミングを、副走査方向には位置ずれ量ΔＬｆ、主走査方向には位置ずれ量ΔＬｓだけ遅いタイミングに補正すればよい。なお、上述した補正方法の説明は、センサユニット３２３Ｃについての説明であるが、センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｒについても同様である。また、上述したように、本実施例では、副走査方向の照射位置補正は、実施例１、２のようにレーザ光Ｌの光路そのものを変更するのではなく、画像データに対応するレーザ光Ｌの発光タイミングを調整することで行う。また、実施例１の場合には、センサユニット３２２が１つしかないため、副走査方向の照射位置を全像高で一律に補正していた。一方、本実施例では感光ドラム１１の両端部と中央部の合計３か所にセンサユニット３２３を配置しているため、副走査方向のレーザ光Ｌの照射位置について、レーザ光Ｌが照射される走査線の湾曲及び傾きについての補正値を算出することができる。

［照射位置ずれ量の算出］
図１０は、主走査方向及び副走査方向の照射位置ずれ量を算出する制御シーケンスを示すフローチャートである。照射位置ずれ量の算出は、感光ドラム１１に照射されたレーザ光Ｌが感光ドラム１１により反射されたレーザ光をセンサユニット３２３のエリアセンサ３２４が検知した照射位置情報に基づいて行われる。したがって、図１０に示す制御シーケンスは、画像形成が行われているときにも実施可能である。

ステップ（以下、Ｓという）１００では、ＣＰＵ８０は、画像形成を行う画像データから、走査光学装置２から出射されたレーザ光Ｌがエリアセンサ３２４にて検知される設計上の発光タイミング（以下、理想発光タイミングという）を決定する。理想発光タイミングは、ＢＤ３１６においてレーザ光Ｌを検知したタイミングを基準としている。Ｓ１０１では、ＣＰＵ８０は、Ｓ１００で決定したタイミングで、画像データに対応するレーザ光Ｌを出射するように、走査光学装置２に指示する。Ｓ１０２では、ＣＰＵ８０は理想発光タイミングで走査光学装置２からレーザ光Ｌが出射された場合の、各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒのエリアセンサ３２４が、照射されたレーザ光Ｌを検知する副走査方向及び主走査方向の照射位置を算出する。Ｓ１０３では、ＣＰＵ８０は、Ｓ１０２で算出した各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒのエリアセンサ３２４におけるレーザ光Ｌを検知する副走査方向及び主走査方向の照射位置情報（想定照射位置情報）を比較演算部９０に送信する。

Ｓ１０４では、走査光学装置２は、ＣＰＵ８０から指示されたタイミングで、画像データに応じたレーザ光Ｌを出射する。Ｓ１０５では、各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒのエリアセンサ３２４は、Ｓ１０４で走査光学装置２から出射されたレーザ光Ｌを検知する。Ｓ１０６では、各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒは、エリアセンサ３２４がレーザ光Ｌを検知した副走査方向及び主走査方向の照射位置情報（検知照射位置情報）を比較演算部９０に送信する。

Ｓ１０７では、比較演算部９０は、Ｓ１０３でＣＰＵ８０より送信された想定照射位置情報とＳ１０６で各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒより送信された検知照射位置情報とを比較する。これにより、比較演算部９０は、各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒのエリアセンサ３２４における副走査方向及び主走査方向の照射位置ずれ量を算出する。Ｓ１０８では、比較演算部９０は、Ｓ１０７で算出した副走査方向及び主走査方向の照射位置ずれ量をＣＰＵ８０に送信して、照射位置ずれ量の算出処理を終了する。

ここでは、副走査方向及び主走査方向の照射位置ずれ量の算出を比較演算部９０が行っている。例えば、ＣＰＵ８０が、各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒより検知照射位置情報を取得し、ＣＰＵ８０が予め算出した想定照射位置情報に基づいて、副走査方向及び主走査方向の照射位置ずれ量の算出を行うようにしてもよい。

［照射位置ずれの補正］
図１１は、レーザ光Ｌの副走査方向の位置ずれを補正する方法を説明する図である。図１１において、図中上下方向は副走査方向を示し、図中上側が副走査方向の上流側、図中下側が副走査方向の下流側を示している。一方、図中左右方向は主走査方向を示し、図中左側は主走査方向の上流側、図中右側は主走査方向の下流側を示している。

図中の実線で示す曲線ＳＬ１（以下、走査湾曲曲線ＳＬ１という）は、エリアセンサ３２４が検知した実際のレーザ光Ｌの軌跡を示す走査線を示しており、走査線が感光ドラム１１上で湾曲し傾きが発生していることを示している。なお、走査湾曲曲線ＳＬ１は、比較演算部９０から送信された各センサユニット３２３Ｌ、３２３Ｃ、３２３Ｒのエリアセンサ３２４における副走査方向及び主走査方向の位置ずれ量に基づいて、二次関数に近似させた曲線である。また、一点鎖線で示す理想線ＳＬｉは、理想発光タイミングで走査光学装置２から出射されたレーザ光Ｌの軌跡を示す走査線であり、設計上の走査線であるため、副走査方向及び主走査方向の位置ずれがない直線となっている。更に、破線で示す曲線ＳＬ２（以下、走査湾曲相殺曲線ＳＬ２）は、理想線ＳＬｉに対して、走査湾曲曲線ＳＬ１の線対称となる曲線である。図１１より、走査湾曲曲線ＳＬ１は、理想線ＳＬｉよりも副走査方向上流側に示されているため、副走査方向におけるレーザ光Ｌの出射タイミングが早いことが分かる。

また、図中、ΔＬｍは、走査湾曲曲線ＳＬ１の理想線ＳＬｉに対する主走査方向の照射位置ずれ量を示している。図１１より走査湾曲曲線ＳＬ１は、理想線ＳＬｉよりも主走査方向下流側にずれているため、主走査方向におけるレーザ光Ｌの出射タイミングが遅いことが分かる。

そのため、主走査方向の照射位置ずれ量については、ＣＰＵ８０が、位置ずれ量ΔＬｍを走査光学装置２のレーザ光Ｌの走査速度で除した時間だけ早いタイミングで、走査光学装置２にレーザ光Ｌの出射を指示することにより補正される。一方、副走査方向の位置ずれ量については、画像データごと、すなわち画像データが対応する主走査方向の位置ごとに、副走査方向の位置ずれ量に応じて、該当の画像データに応じたレーザ光Ｌの副走査方向の発光タイミングを変更する。詳細には、設計上のタイミングでは、同じ主走査方向のレーザ光Ｌで出射する画像データの信号を、副走査方向の位置ずれ量に応じて、例えば次の主走査方向のレーザ光で出射したり、更にその次の主走査方向のレーザ光で出射したりする。このように、主走査方向の画像位置に応じて、画像データの副走査方向の出射タイミングを変更する。これにより、上述した走査湾曲相殺曲線ＳＬ２を描くことが可能になり、副走査方向の照射位置ずれを補正することができる。なお、実施例２についても、本実施例と同様の方法で、副走査方向の照射位置ずれを補正することができる。

以上説明したように、センサユニットを感光ドラム１１の両端部、及び中央部に対向する位置に設置することにより、より精度の高い照射位置ずれの検知及び補正が可能になる。本実施例においても、実施例１と同様に、ダウンタイムを発生させることなく、照射位置ずれの検知及び補正を印刷時においても実施することができる。また、本実施例においても、感光ドラム上の印刷対象である画像領域内に照射されるレーザ光を用いて照射位置ずれの検知を行うため、感光ドラムの主走査方向の長さを拡大させる必要はなく、その結果、画像形成装置の大型化を防止することができる。また、本実施例では、画像データ自体を走査湾曲相殺曲線ＳＬ２の形状に沿って、感光ドラム１１上の照射位置に画像データの副走査方向の出射タイミングを変更している。これにより、変更した画像データを用いて印刷することにより。副走査方向の走査線湾曲と傾きを補正することができる。以上の補正方法により、レーザ光自体の光路を変更することなく、画像データの副走査方向の出射タイミングを変更することにより、照射位置ずれを低減することが可能となる。

以上説明したように、本実施例によれば、像担持体上のレーザ光の照射位置ずれ検知・補正に伴う画像形成装置の大型化、及びダウンタイムの発生を抑制することができる。

［その他の実施例］
ここでは、上述した実施例１〜３の構成を用いて、マルチビームの光源を用いた場合の照射位置ずれの補正について説明する。図１２（ａ）、（ｂ）は、光源部３０２の発光素子である半導体レーザに、２つのレーザ光Ｌ１、Ｌ２を出射する２ビームレーザ素子を用いた場合の感光ドラム１１の曲率と主走査方向のレーザ光の照射位置ずれの発生原因を説明する図である。図１２（ａ）は、感光ドラム１１の回転軸に直交する面で切断したときの、レーザ光Ｌ１、Ｌ２と感光ドラム１１との位置関係を説明する図である。図１２（ａ）において、実線で示すレーザ光はレーザ光Ｌ１であり、破線で示すレーザ光はレーザ光Ｌ２である。一方、図１２（ｂ）は、２つのレーザ光Ｌ１、Ｌ２で光路長差が発生する場合の感光ドラム１１上の主走査方向の照射位置ずれを示している。図１２（ｂ）において、実線で示すレーザ光はレーザ光Ｌ１であり、破線で示すレーザ光はレーザ光Ｌ２である。

図１２（ａ）に示すように、レーザ光が感光ドラム１１に照射される位置では、２つのレーザ光Ｌ１、Ｌ２は、感光ドラム１１と正対しないように、レーザ光Ｌ１、Ｌ２の光路が配置されている。２つのレーザ光Ｌ１、Ｌ２の間には間隔Δαが設けられた状態で、レーザ光Ｌ１、Ｌ２が感光ドラム１１上に照射される。そのため、レーザ光Ｌ１とレーザ光Ｌ２が、それぞれ感光ドラム１１の表面に到達するまでの光路長には、光路長の差分Δβが発生する。また、２つのレーザ光Ｌ１、Ｌ２が感光ドラム１１の表面と正対する位置から離れるほど、感光ドラム１１の曲率が大きくなり、その結果、レーザ光Ｌ１とレーザ光Ｌ２との間の光路長の差分Δβは大きくなる。

図１２（ｂ）は、感光ドラム１１の表面に照射されるレーザ光Ｌ１、Ｌ２を示した図である。レーザ光Ｌ１、Ｌ２は、感光ドラム１１の表面に対して間隔Δαを空けて照射されるが、感光ドラム１１の表面に対して同じ角度で照射される。そのため、図１２（ｂ）では、レーザ光Ｌ１、Ｌ２の光路は重なっている（図中では、レーザ光Ｌ２の光路（破線）は、レーザ光Ｌ１の光路（実線）に隠れている）。ところが、上述したように、レーザ光Ｌ２の光路長は、レーザ光Ｌ１の光路長よりもΔβ分だけ、長くなっている。その結果、レーザ光Ｌ２の主走査方向の長さは、レーザ光Ｌ１よりもΔγだけ長くなり、照射位置ずれが発生している。そして、レーザ光Ｌ１、Ｌ２の副走査方向の照射位置ずれが発生し、２つのレーザ光の光路長差Δベータが大きくなると、２つのレーザ光の主走査方向の照射位置ずれ量であるΔγが更に大きくなる。

そこで、上述した実施例１〜３の構成を用いて、レーザ光Ｌ１、Ｌ２の副走査方向の照射位置のずれを補正することにより、ドラム曲率と副走査方向のレーザ光照射位置の関係により発生する主走査方向のレーザ光の照射位置ずれΔγを低減することができる。これにより、モアレの発生を低減することが可能となる。なお、その他の実施例では、半導体レーザとして２ビームレーザ素子を用いたが、例えばビーム数の４ビームなどの半導体レーザの場合でも、同様にモアレの発生を低減することができる。

以上説明したように、その他の実施例によれば、像担持体上のレーザ光の照射位置ずれ検知・補正に伴う画像形成装置の大型化、及びダウンタイムの発生を抑制することができる。

２ 走査光学装置
１１ 感光ドラム
８０ ＣＰＵ
３０２ 光源
３２２ センサユニット
３２２ｆ ラインセンサ
３２２ｓ ラインセンサ

Claims (16)

1. 画像情報に応じたレーザ光を照射する走査光学装置であって、レーザ光を出射する光源と、前記レーザ光を偏向する回転多面鏡と、前記光源及び前記回転多面鏡を内部に収納する筐体と、を有する前記走査光学装置と、
   第１の方向に回転し、前記走査光学装置から前記第１の方向と直交する第２の方向にレーザ光が照射される感光体と、
   前記走査光学装置を制御する制御手段と、
   前記感光体に対向する位置に配置され、レーザ光を検知する検知部を有し、前記検知部は前記感光体に照射されたレーザ光が前記感光体に反射され、反射された前記レーザ光が入射したことを検知すると、前記レーザ光が前記検知部に入射した位置情報を出力する検知手段と、
   を備え、
   前記制御手段は、前記検知手段が出力する前記位置情報に基づいて、レーザ光が前記感光体上を照射する照射位置の位置ずれ量を算出し、前記走査光学装置を制御して、レーザ光の前記照射位置の位置ずれを補正することを特徴とする画像形成装置。
2. 前記制御手段は、前記レーザ光の前記感光体上の照射位置の位置ずれ量を、前記検知部が前記レーザ光を検知した位置と基準位置とのずれ量に基づいて算出することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
3. 前記基準位置は、前記走査光学装置の出荷時における、前記レーザ光が出射された同じタイミングで前記光源から出射されたレーザ光が前記検知部に入射する位置であることを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
4. 前記検知手段は、前記感光体の前記第２の方向の中央部に対向する位置に配置され、
   前記検知部は、前記第１の方向のレーザ光を検知する第１のラインセンサと、前記第２の方向のレーザ光を検知する第２のラインセンサと、を有することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
5. 前記制御手段は、前記第１のラインセンサが前記レーザ光を検知した位置と前記基準位置とのずれ量に基づいて算出した前記レーザ光の前記感光体上の前記第１の方向の照射位置の位置ずれ量を補正し、その後、前記第２のラインセンサが前記レーザ光を検知した位置と前記基準位置とのずれ量に基づいて算出した前記レーザ光の前記感光体上の前記第２の方向の照射位置の位置ずれ量を補正することを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
6. 前記第１のラインセンサが前記レーザ光を検知した位置と基準位置とのずれ量と、前記レーザ光の前記感光体上の前記第１の方向の照射位置の位置ずれ量とを対応づけた第１の情報を記憶する記憶手段を備え、
   前記制御手段は、前記記憶手段に記憶された前記第１の情報と、前記第１のラインセンサが前記レーザ光を検知した位置と基準位置とのずれ量と、に基づいて、前記レーザ光の前記感光体上の前記第１の方向の照射位置の位置ずれ量を算出することを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
7. 前記走査光学装置は、レーザ光の光路を変更する光路変更部を有し、
   前記光路変更部は、前記走査光学装置から出射されたレーザ光が入射する平板ガラスと、前記平板ガラスを回転させ、前記平板ガラスの角度を変更する駆動部材と、を有し、
   前記記憶手段は、前記平板ガラスの変更された角度と、前記平板ガラスを通過することによるレーザ光の前記第１の方向の位置ずれ量と、を対応づけた第２の情報を記憶し、
   前記制御手段は、前記記憶手段に記憶された前記第２の情報と、前記レーザ光の前記感光体上の前記第１の方向の照射位置の位置ずれ量と、に基づいて、前記平板ガラスを前記算出した角度に変更することにより、前記光路変更部の前記駆動部材を制御して、前記平板ガラスの角度を変更し、前記レーザ光の前記感光体上の前記第１の方向の照射位置の位置ずれを補正することを特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
8. 前記制御手段は、前記第２のラインセンサが前記レーザ光を検知した位置と前記基準位置とのずれ量を前記レーザ光の前記第２の方向の走査速度で除することによりずれ時間を求め、求めた前記ずれ時間に応じて前記走査光学装置の前記光源からのレーザ光の出射タイミングを補正することを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。
9. 前記検知手段は、前記感光体の前記第２の方向のレーザ光の照射が開始される最上流の位置に対向する位置に配置された第１の検知部と、前記感光体の前記第２の方向の中央の位置に対向する位置に配置された第２の検知部と、前記感光体の前記第２の方向のレーザ光の照射が終了する最下流の位置に対向する位置に配置された第３の検知部と、を有し、
   前記第１の検知部、前記第２の検知部、及び前記第３の検知部は、それぞれ、前記第１の方向のレーザ光を検知する第１のラインセンサと、前記第２の方向のレーザ光を検知する第２のラインセンサと、を有することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
10. 前記制御手段は、
    前記第１の検知部の前記第２のラインセンサが前記感光体の最上流の位置に照射されるレーザ光の入射を検知してから、前記第３の検知部の前記第２のラインセンサが前記感光体の最下流の位置に照射されるレーザ光の入射を検知するまでの前記レーザ光の前記感光体への照射時間が、前記走査光学装置の出荷時における前記感光体へのレーザ光の照射時間と等しくなるように、前記走査光学装置の前記光源のレーザ光の出射タイミングを補正することを特徴とする請求項９に記載の画像形成装置。
11. 前記制御手段は、
    前記第１の検知部の前記第２のラインセンサが前記感光体の最上流の位置に照射されるレーザ光の入射を検知したタイミング、前記第２の検知部の前記第２のラインセンサが前記感光体の中央の位置に照射されるレーザ光の入射を検知したタイミング、及び前記第３の検知部の前記第２のラインセンサが前記感光体の最下流の位置に照射されるレーザ光の入射を検知したタイミングと、に基づいて、
    算出したレーザ光が前記感光体の前記最上流の位置に照射されてから前記感光体の前記中央の位置に照射されるまでの時間と、前記走査光学装置の出荷時におけるレーザ光が前記感光体の前記最上流の位置に照射されてから前記感光体の前記中央の位置に照射されるまでの時間との時間差と、算出したレーザ光が前記感光体の前記中央の位置に照射されてから前記感光体の前記最下流の位置に照射されるまでの時間と、前記走査光学装置の出荷時におけるレーザ光が前記感光体の前記中央の位置に照射されてから前記感光体の前記最下流の位置に照射されるまでの時間との時間差と、が等しくなるように、前記走査光学装置の前記光源からのレーザ光の出射タイミングを補正することを特徴とする請求項９に記載の画像形成装置。
12. 前記検知手段は、前記感光体の前記第２の方向のレーザ光の照射が開始される最上流の位置に対向する位置に配置された第１の検知部と、前記感光体の前記第２の方向の中央の位置に対向する位置に配置された第２の検知部と、前記感光体の前記第２の方向のレーザ光の照射が終了する最下流の位置に対向する位置に配置された第３の検知部と、を有し、
    前記第１の検知部、前記第２の検知部、及び前記第３の検知部は、それぞれ、前記第１の方向のレーザ光、及び前記第２の方向のレーザ光を同時に検知可能なエリアセンサを有することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
13. 前記第１の検知部、前記第２の検知部、及び前記第３の検知部の前記エリアセンサにより検知された前記第１の方向及び前記第２の方向のレーザ光を検知した位置と、基準位置とを比較して、前記レーザ光の前記エリアセンサにより検知された位置と前記基準位置との位置ずれ量を出力する比較演算部を備え、
    前記制御手段は、前記比較演算部から取得した前記位置ずれ量に応じて、レーザ光の前記感光体上の前記第１の方向及び前記第２の方向の前記照射位置の位置ずれ量を補正することを特徴とする請求項１２に記載の画像形成装置。
14. 前記基準位置は、前記走査光学装置の出荷時における前記レーザ光が出射された同じタイミングで前記走査光学装置の前記光源から出射されたレーザ光が前記第１の検知部、前記第２の検知部、及び前記第３の検知部の前記エリアセンサに入射する位置であり、
    前記基準位置の情報は、前記制御手段が前記比較演算部に出力することを特徴とする請求項１３に記載の画像形成装置。
15. 前記制御手段は、前記比較演算部から取得した前記第２の方向の前記照射位置の位置ずれ量に基づいて、前記走査光学装置の前記光源のレーザ光の出射タイミングを補正することを特徴とする請求項１４に記載の画像形成装置。
16. 前記制御手段は、前記比較演算部から取得した前記第１の方向の前記照射位置の位置ずれ量に基づいて、前記画像情報に対応する前記レーザ光の前記第２の方向の出射タイミングを補正することを特徴とする請求項１４又は請求項１５に記載の画像形成装置。

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