JP2021099893A - パルス幅制御プログラミング方式を用いた論理互換フラッシュメモリ - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、「正確なシナプスプログラミング方法」という表題で2019年11月30日に提出された米国仮出願第62/942,086号の優先権を主張する。
Claims (13)
- メモリアレイ内の非揮発性メモリセルをプログラミングする方法であって、
プログラミングされる選択されたメモリセル及び非選択メモリセルにプログラミングパルスを印加するステップであって、前記プログラミングパルスは、特定された範囲内で前記非選択メモリセルの変更を許容する、ステップと、
前記非選択メモリセルの領域をブーストするステップと、
前記プログラミングパルスの閾時間を設定するステップとを含み、前記閾時間は、前記非選択メモリセルのフローティングゲートと前記非選択メモリセルのブーストされた領域との間の電圧差の絶対大きさが定義された閾値に到達するときに定義される、プログラミングする方法。 - 前記閾時間まで前記アレイ内の前記非選択メモリセルにプログラミングパルスを印加するステップと、
前記閾時間まで前記非選択メモリセルの電圧電位をブーストするステップとをさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記プログラミングパルスは、前記閾時間又はその近傍で接地電位に下降し始める、請求項2に記載の方法。
- 前記閾値は、前記非選択メモリセルの望まないプログラミングを防止するための前記非選択メモリセルのフローティングゲートと前記非選択メモリセルのブーストされた領域との間の最大電圧差である、請求項1に記載の方法。
- 前記プログラミングパルスは、前記選択されたメモリセルと前記非選択メモリセルとを接続するゲートラインに印加される、請求項1に記載の方法。
- 前記非選択メモリセルの前記ブーストされた領域は、当該基板に形成されるソース領域、ドレイン領域、及び前記非選択メモリセルのソース領域とドレイン領域との間のチャネル領域を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記ブーストされた領域は、前記非選択メモリセルのフローティングゲート上の電圧電位によって特定の電圧レベルにブーストされる、請求項6に記載の方法。
- 前記プログラミングパルスの電圧レベルは、前記選択されたメモリセルがプログラミングされる間に、前記非選択メモリセルのフローティングゲートとブーストされたノードとの間の電圧差が前記非選択メモリセルのプログラミングを抑制するのに十分に低くなるように十分に低く設定される、請求項1に記載の方法。
- 前記プログラミングパルスの持続時間は、前記予め定義されたプログラミングパルスが前記閾時間又はその近傍で接地電位又はその近傍に低くなる限り、上昇の後及び下降の前に十分に長く維持される、請求項1に記載の方法。
- 前記選択されたメモリセルのプログラミングによって前記非選択メモリセルが妨害を受ける程度は、前記メモリアレイ内の前記セルに接続された感知増幅器回路が正確な値を出力できる範囲内に制限されるか、または減少する、請求項1に記載の方法。
- 非揮発性メモリ素子であって、
予め定義されたプログラミングパルスを印加する電圧信号パルス発生器と、
非揮発性メモリセルアレイとを含む、非揮発性メモリ素子。 - 前記電圧信号パルス発生器は、プログラミングされる選択されたメモリセルと、前記選択されたメモリセルのプログラミングによって決定された許容範囲内で変更される非選択メモリセルとの両方に対して、予め定義されたプログラミングパルスを使用してメモリアレイ内の非揮発性メモリセルに信号を生成するように構成される、請求項11に記載の非揮発性メモリ素子。
- 前記電圧信号パルス発生器は、前記予め定義されたプログラミングパルスの閾時間を設定するようにさらに構成され、前記閾時間は、前記非選択メモリセルのフローティングゲートと前記非選択メモリセルのブーストされた領域との間の電圧差の絶対大きさが定義された閾値に到達するときに定義される、請求項12に記載の非揮発性メモリ素子。
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