JP2021089193A - 形状測定装置および形状測定方法 - Google Patents
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 175
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 37
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 14
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 14
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 7
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 230000002146 bilateral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
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Abstract
Description
物体を支持する支持部と、
前記物体の輪郭の一部を撮像する撮像部と、
前記撮像部の撮像方向と交差する方向を回転軸として、前記支持部を回転させる回転部と、
前記物体の輪郭に沿って、前記撮像部と前記支持部との相対位置を移動させる移動部と、
前記撮像部が撮像した画像を合成し、前記物体の輪郭を算出する処理部と、を有する形状測定装置が提供される。
物体の輪郭の一部を撮像する工程と、
前記物体を回転させる工程と、
前記物体の輪郭に沿って撮像領域を移動する工程と、
前記物体を撮像した画像を合成し、前記物体の輪郭を算出する工程と、を有する形状測定方法が提供される。
まず、発明者が得た知見について説明する。
次に、本発明の一実施形態を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
(1)形状測定装置10の構成
まず、本実施形態の形状測定装置10の構成について説明する。
次に、本実施形態の形状測定装置10を用いた形状測定方法について説明する。
まず、初期設定工程S101では、支持部11を用いて物体20を支持する。この際、支持部11が撮像部12による物体20の輪郭の撮像を妨げないように、物体20を支持することが好ましい。次に、例えば、撮像部12を移動し、撮像領域を初期位置に移動する。撮像領域の初期位置は、撮像領域内に物体20の輪郭の一部が存在するように設定する。好ましくは、撮像領域の初期位置は、撮像領域内に物体20の下部(つまり、支持部11が物体20と接触している面側)の輪郭の一部が存在するように設定する。これにより、支持部11の位置を基準として、物体20の輪郭を容易に見つけることができる。
撮像工程S102では、例えば、光源16を用いて物体20に対して撮像方向に平行な光を照射し、撮像部12を用いて物体20の輪郭の一部を撮像する。撮像部12が撮像した画像は、例えば、処理部15に送信される。
回転工程S103では、例えば、回転部13を用いて、支持部11と共に物体20を所定の角度φだけ回転させ、撮像角度θを角度φだけ増加させる。本明細書において、撮像角度θとは、物体20を撮像する角度を示し、その初期値は0°とする。また、撮像角度θは、例えば、初期設定工程S101における物体20の位置から、物体20が回転した角度と言い換えることができる。物体20の回転は、撮像方向と交差(または直交)する方向を回転軸Aとして行う。角度φは、例えば、0°超360°以下の範囲内で任意に設定することができる。
撮像角度判断工程S104では、物体20の撮像が1回転分完了したかどうかを判断する。具体的には、例えば、撮像角度θが360°以上かどうかを判断する。撮像角度θが360°以上の場合、物体20の撮像が1回転分完了したと判断し、次の工程は輪郭判断工程S105を行う。なお、輪郭判断工程S105を行う前に、撮像角度θを0°にリセットする。また、撮像角度θが360°を超えている場合は、例えば、回転部13を用いて物体20を初期位置(つまり、撮像角度θが0°の位置)に戻す。一方、撮像角度θが360°未満の場合、撮像角度θにおける物体20の輪郭を撮像するために、次の工程は撮像工程S102を再び行う。
撮像角度判断工程S104にて、撮像角度θが360°以上の場合、輪郭判断工程S105を行う。輪郭判断工程S105では、例えば、物体20の輪郭をすべて撮像したかどうかを判断する。具体的には、撮像部12が撮像した画像を合成した際に、物体20の輪郭がすべて示されているかどうかを判断する。物体20の輪郭がすべて示されているとは、例えば、合成した画像において物体20の輪郭線が閉じている場合等をいう。物体20の輪郭がすべて撮像されている場合、次の工程は画像処理工程S107を行う。一方、物体20の輪郭に撮像していない部分が残っている場合、まだ撮像していない部分の輪郭を撮像するため、次の工程は移動工程S106を行う。
輪郭判断工程S105にて、物体20の輪郭に撮像していない部分が残っていると判断した場合、移動工程S106を行う。移動工程S106では、例えば、移動部14を用いて、物体20の輪郭に沿って、所定の距離だけ撮像領域を移動する。
輪郭判断工程S105にて、物体20の輪郭をすべて撮像したと判断した場合、画像処理工程S107を行う。画像処理工程S107では、例えば、処理部15を用いて、物体20を撮像した画像を合成し、物体20の輪郭を算出する。処理部15は、算出した物体20の輪郭情報から、例えば、物体20の最大幅、最小幅、高さ等の特徴量を算出する。これにより、物体20の形状を正確に測定することができる。
本実施形態によれば、以下に示す1つまたは複数の効果を奏する。
上述の実施形態は、必要に応じて、以下に示す変形例のように変更することができる。以下、上述の実施形態と異なる要素についてのみ説明し、上述の実施形態で説明した要素と実質的に同一の要素には、同一の符号を付してその説明を省略する。
第1実施形態では、移動部14によって撮像部12が移動し、物体20の輪郭のすべてを複数回に分けて撮像していた。これに対し、本変形例の撮像部12は、物体20を撮像方向から見た際に、回転軸Aを境に物体20を2つの部分に分けたうちのいずれか一方の輪郭を撮像するように構成されている。本変形例の輪郭判断工程S105では、回転軸Aを境に物体20を2つの部分に分けたうちのいずれか一方の輪郭をすべて撮像したかどうかを判断する。また、本変形例の処理部15は、撮像部12が撮像した画像から、物体20の全体の輪郭を算出するように構成されている。
以上、本発明の実施形態について具体的に説明したが、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
以下、本発明の好ましい態様を付記する。
本発明の一態様によれば、
物体を支持する支持部と、
前記物体の輪郭の一部を撮像する撮像部と、
前記撮像部の撮像方向と交差する方向を回転軸として、前記支持部を回転させる回転部と、
前記物体の輪郭に沿って、前記撮像部と前記支持部との相対位置を移動させる移動部と、
前記撮像部が撮像した画像を合成し、前記物体の輪郭を算出する処理部と、を有する形状測定装置が提供される。
付記1に記載の形状測定装置であって、
前記撮像部は、散乱光を除去する除去部を有する。
付記1または付記2に記載の形状測定装置であって、
前記物体に対して、前記撮像方向に平行な光を照射する光源をさらに有し、
前記撮像部は、前記光源が照射する前記撮像方向に平行な光のみを通過させるレンズを有する。
好ましくは、前記撮像部は、両側テレセントリックレンズまたは物体側テレセントリックレンズの少なくとも一方を有する。
付記1から付記3のいずれか1つに記載の形状測定装置であって、
前記撮像部は、前記物体を前記撮像方向から見た際に、前記回転軸を境に前記物体を2つの部分に分けたうちのいずれか一方の輪郭を撮像し、
前記処理部は、前記撮像部が撮像した画像から、前記物体の全体の輪郭を算出する。
付記1から付記4のいずれか1つに記載の形状測定装置であって、
前記物体は、単結晶インゴットである。
本発明の他の態様によれば、
物体の輪郭の一部を撮像する工程と、
前記物体を回転させる工程と、
前記物体の輪郭に沿って撮像領域を移動する工程と、
前記物体を撮像した画像を合成し、前記物体の輪郭を算出する工程と、を有する形状測定方法が提供される。
11 支持部
12 撮像部
13 回転部
14 移動部
15 処理部
16 光源
20 物体
Z1 領域
Z2 領域
Z3 撮像領域
Z4 撮像領域
Z5 非撮像領域
S101 初期設定工程
S102 撮像工程
S103 回転工程
S104 撮像角度判断工程
S105 輪郭判断工程
S106 移動工程
S107 画像処理工程
Claims (6)
- 物体を支持する支持部と、
前記物体の輪郭の一部を撮像する撮像部と、
前記撮像部の撮像方向と交差する方向を回転軸として、前記支持部を回転させる回転部と、
前記物体の輪郭に沿って、前記撮像部と前記支持部との相対位置を移動させる移動部と、
前記撮像部が撮像した画像を合成し、前記物体の輪郭を算出する処理部と、を有する形状測定装置。 - 前記撮像部は、散乱光を除去する除去部を有する請求項1に記載の形状測定装置。
- 前記物体に対して、前記撮像方向に平行な光を照射する光源をさらに有し、
前記撮像部は、前記光源が照射する前記撮像方向に平行な光のみを通過させるレンズを有する請求項1または請求項2に記載の形状測定装置。 - 前記撮像部は、前記物体を前記撮像方向から見た際に、前記回転軸を境に前記物体を2つの部分に分けたうちのいずれか一方の輪郭を撮像し、
前記処理部は、前記撮像部が撮像した画像から、前記物体の全体の輪郭を算出する請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の形状測定装置。 - 前記物体は、単結晶インゴットである請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の形状測定装置。
- 物体の輪郭の一部を撮像する工程と、
前記物体を回転させる工程と、
前記物体の輪郭に沿って撮像領域を移動する工程と、
前記物体を撮像した画像を合成し、前記物体の輪郭を算出する工程と、を有する形状測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019219272A JP7434856B2 (ja) | 2019-12-04 | 2019-12-04 | 形状測定装置および形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021089193A true JP2021089193A (ja) | 2021-06-10 |
JP7434856B2 JP7434856B2 (ja) | 2024-02-21 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7434856B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06109439A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-19 | Nippon Steel Corp | 形状観測装置及びこの装置を用いたインゴット研削装置 |
JP2012007898A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Kobelco Kaken:Kk | 貼合わせ基板の位置ズレ検出装置およびそれを用いる半導体製造装置ならびに貼合わせ基板の位置ズレ検出方法 |
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JP2017053671A (ja) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | キヤノン株式会社 | 形状測定方法 |
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