JP2020507813A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020507813A5 JP2020507813A5 JP2019543248A JP2019543248A JP2020507813A5 JP 2020507813 A5 JP2020507813 A5 JP 2020507813A5 JP 2019543248 A JP2019543248 A JP 2019543248A JP 2019543248 A JP2019543248 A JP 2019543248A JP 2020507813 A5 JP2020507813 A5 JP 2020507813A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image sensor
- distance
- measuring
- rotating
- specimen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 10
- 239000012491 analyte Substances 0.000 claims 5
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2022020249A JP7428406B2 (ja) | 2017-02-10 | 2022-02-14 | 顕微鏡検査において大面積の撮像を容易にするためのカメラと検体の整列 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201762457470P | 2017-02-10 | 2017-02-10 | |
| US62/457,470 | 2017-02-10 | ||
| PCT/US2017/032826 WO2018147888A1 (en) | 2017-02-10 | 2017-05-16 | Camera and specimen alignment to facilitate large area imaging in microscopy |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022020249A Division JP7428406B2 (ja) | 2017-02-10 | 2022-02-14 | 顕微鏡検査において大面積の撮像を容易にするためのカメラと検体の整列 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2020507813A JP2020507813A (ja) | 2020-03-12 |
| JP2020507813A5 true JP2020507813A5 (enExample) | 2020-06-18 |
| JP7029821B2 JP7029821B2 (ja) | 2022-03-04 |
Family
ID=58779353
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2019543248A Active JP7029821B2 (ja) | 2017-02-10 | 2017-05-16 | 顕微鏡検査において大面積の撮像を容易にするためのカメラと検体の整列 |
| JP2022020249A Active JP7428406B2 (ja) | 2017-02-10 | 2022-02-14 | 顕微鏡検査において大面積の撮像を容易にするためのカメラと検体の整列 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022020249A Active JP7428406B2 (ja) | 2017-02-10 | 2022-02-14 | 顕微鏡検査において大面積の撮像を容易にするためのカメラと検体の整列 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (4) | US10048477B1 (enExample) |
| EP (1) | EP3580599B1 (enExample) |
| JP (2) | JP7029821B2 (enExample) |
| KR (2) | KR102414312B1 (enExample) |
| CN (1) | CN110291438A (enExample) |
| TW (3) | TWI764786B (enExample) |
| WO (1) | WO2018147888A1 (enExample) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017170698A1 (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | キヤノン株式会社 | アダプタ、顕微鏡調節方法、顕微鏡システム及びプログラム。 |
| KR102414312B1 (ko) | 2017-02-10 | 2022-06-28 | 나노트로닉스 이미징, 인코포레이티드 | 현미경 검사에서 대 영역 이미징을 용이하게 하는 카메라 및 표본 정렬 |
| US10545096B1 (en) * | 2018-10-11 | 2020-01-28 | Nanotronics Imaging, Inc. | Marco inspection systems, apparatus and methods |
| US10481379B1 (en) | 2018-10-19 | 2019-11-19 | Nanotronics Imaging, Inc. | Method and system for automatically mapping fluid objects on a substrate |
| US11294162B2 (en) | 2019-02-07 | 2022-04-05 | Nanotronics Imaging, Inc. | Fluorescence microscopy inspection systems, apparatus and methods with darkfield channel |
| CN109752832B (zh) * | 2019-03-25 | 2024-10-22 | 南京泰立瑞信息科技有限公司 | 一种显微镜镜筒在z轴上的运动控制方法及自动显微镜 |
| US11593919B2 (en) | 2019-08-07 | 2023-02-28 | Nanotronics Imaging, Inc. | System, method and apparatus for macroscopic inspection of reflective specimens |
| US10915992B1 (en) | 2019-08-07 | 2021-02-09 | Nanotronics Imaging, Inc. | System, method and apparatus for macroscopic inspection of reflective specimens |
| CN110996002B (zh) * | 2019-12-16 | 2021-08-24 | 深圳市瑞图生物技术有限公司 | 显微镜聚焦方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| CN112469984B (zh) * | 2019-12-31 | 2024-04-09 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种图像分析装置及其成像方法 |
| DE102020113454A1 (de) | 2020-05-19 | 2021-11-25 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren zum Erzeugen eines aus mehreren mikroskopischen Einzelbildern zusammengesetzten Bildes |
| US11748871B2 (en) * | 2020-09-28 | 2023-09-05 | KLA Corp. | Alignment of a specimen for inspection and other processes |
| DE102021101439A1 (de) * | 2021-01-22 | 2022-07-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskopiesystem und verfahren zur rotationsüberprüfung einer mikroskopkamera |
| EP4063709A1 (en) * | 2021-03-22 | 2022-09-28 | Roche Diagnostics GmbH | Laboratory system and corresponding method of operation |
| CN115020270B (zh) * | 2021-07-06 | 2025-05-16 | 深圳市森美协尔科技有限公司 | 晶圆测试设备及测试方法 |
| EP4177662A1 (en) * | 2021-11-09 | 2023-05-10 | Roche Diagnostics GmbH | Instrument for automatically dissecting a biological specimen on a slide |
| CN116263539A (zh) * | 2022-08-11 | 2023-06-16 | 上海睿钰生物科技有限公司 | 一种显微成像系统 |
| DE102023114945B3 (de) | 2023-06-07 | 2024-11-21 | Carl Zeiss Meditec Ag | Computerimplementiertes Bildgebungsverfahren und optisches Beobachtungsgerät |
| KR102852898B1 (ko) * | 2023-12-15 | 2025-09-02 | (주)코셈 | 다중창 박막을 이용한 대기압 전자현미경 |
| CN119846827B (zh) * | 2025-03-21 | 2025-06-13 | 浙江荷湖科技有限公司 | 一种针对电缸驱动的超大视野显微镜的视野调平方法 |
Family Cites Families (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2681722B2 (ja) * | 1990-11-29 | 1997-11-26 | ハウス食品株式会社 | 方向性のある物品の充填装置 |
| JP3620884B2 (ja) | 1995-03-01 | 2005-02-16 | 富士機械製造株式会社 | 画像処理装置 |
| JPH1048527A (ja) * | 1996-08-01 | 1998-02-20 | Olympus Optical Co Ltd | イメージローテータ装置及び走査型光学顕微鏡 |
| JPH10103924A (ja) * | 1996-09-27 | 1998-04-24 | Olympus Optical Co Ltd | 微少寸法測定装置 |
| US6107637A (en) * | 1997-08-11 | 2000-08-22 | Hitachi, Ltd. | Electron beam exposure or system inspection or measurement apparatus and its method and height detection apparatus |
| WO2002086416A2 (en) * | 2001-04-25 | 2002-10-31 | Amnis Corporation | Method and apparatus for correcting crosstalk and spatial resolution for multichannel imaging |
| JP4048265B2 (ja) * | 2002-08-26 | 2008-02-20 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 一細胞長期観察装置 |
| JP2006349762A (ja) | 2005-06-13 | 2006-12-28 | Olympus Corp | 測定顕微鏡装置 |
| JP2007114547A (ja) | 2005-10-21 | 2007-05-10 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
| US20110169936A1 (en) | 2010-01-14 | 2011-07-14 | Olympus Corporation | Microscope |
| JP2011145470A (ja) | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
| EP3151052B1 (en) * | 2010-02-01 | 2025-03-26 | Illumina, Inc. | Focusing methods and optical systems and assemblies using the same |
| FR2963093B1 (fr) * | 2010-07-26 | 2012-08-03 | Vit | Installation d'inspection optique 3d de circuits electroniques |
| US8175452B1 (en) * | 2010-10-26 | 2012-05-08 | Complete Genomics, Inc. | Method and system for imaging high density biochemical arrays with sub-pixel alignment |
| JP5700797B2 (ja) | 2011-01-24 | 2015-04-15 | 株式会社キーエンス | 共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラム |
| JP5963453B2 (ja) * | 2011-03-15 | 2016-08-03 | 株式会社荏原製作所 | 検査装置 |
| US20130077892A1 (en) * | 2011-09-27 | 2013-03-28 | Yasunori Ikeno | Scan Order Optimization and Virtual Slide Stitching |
| JP5841398B2 (ja) * | 2011-10-07 | 2016-01-13 | 株式会社キーエンス | 拡大観察装置 |
| JP5896725B2 (ja) * | 2011-12-20 | 2016-03-30 | オリンパス株式会社 | 撮像装置 |
| JP2014130221A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Canon Inc | 画像処理装置、その制御方法、画像処理システム、及びプログラム |
| JP6562627B2 (ja) | 2014-12-10 | 2019-08-21 | キヤノン株式会社 | 顕微鏡システム |
| JP6560490B2 (ja) | 2014-12-10 | 2019-08-14 | キヤノン株式会社 | 顕微鏡システム |
| KR102414312B1 (ko) | 2017-02-10 | 2022-06-28 | 나노트로닉스 이미징, 인코포레이티드 | 현미경 검사에서 대 영역 이미징을 용이하게 하는 카메라 및 표본 정렬 |
-
2017
- 2017-05-16 KR KR1020197025718A patent/KR102414312B1/ko active Active
- 2017-05-16 EP EP17726165.8A patent/EP3580599B1/en active Active
- 2017-05-16 WO PCT/US2017/032826 patent/WO2018147888A1/en not_active Ceased
- 2017-05-16 KR KR1020227021558A patent/KR102668955B1/ko active Active
- 2017-05-16 JP JP2019543248A patent/JP7029821B2/ja active Active
- 2017-05-16 US US15/596,352 patent/US10048477B1/en active Active
- 2017-05-16 CN CN201780086206.2A patent/CN110291438A/zh active Pending
-
2018
- 2018-01-30 TW TW110126589A patent/TWI764786B/zh active
- 2018-01-30 TW TW111117109A patent/TWI849418B/zh active
- 2018-01-30 TW TW107103241A patent/TWI734891B/zh active
- 2018-06-29 US US16/023,308 patent/US10416426B2/en active Active
- 2018-06-29 US US16/023,219 patent/US10698191B2/en active Active
-
2020
- 2020-06-29 US US16/915,057 patent/US11099368B2/en active Active
-
2022
- 2022-02-14 JP JP2022020249A patent/JP7428406B2/ja active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2020507813A5 (enExample) | ||
| TWI734891B (zh) | 沿著試樣之期望的ｘ'方向成像該試樣的方法及顯微鏡系統 | |
| JP4943946B2 (ja) | 偏芯量測定装置 | |
| US11954844B2 (en) | Fatigue crack detection in civil infrastructure | |
| US20030142862A1 (en) | Stereoscopic three-dimensional metrology system and method | |
| US9253449B2 (en) | Mosaic picture generation | |
| KR101850320B1 (ko) | 단층 촬영 장치 및 오차 제거 방법 | |
| JP2016534550A5 (enExample) | ||
| CN103593663B (zh) | 一种钞券印版的图像定位方法 | |
| US20140098213A1 (en) | Imaging system and control method for same | |
| KR20100091837A (ko) | 바이오칩 스캐닝 방법 | |
| TW202232933A (zh) | 測試圖卡、相機製造裝置、相機的製造方法以及焦點檢測程序 | |
| JP2013170831A (ja) | ひずみ計測装置及びひずみ計測方法 | |
| JP6029293B2 (ja) | 走査型電子顕微鏡の画像処理装置、および、走査方法 | |
| JP2019047841A5 (enExample) | ||
| CN103411561B (zh) | 基于角谱扫描照明的微结构成像方法 | |
| WO2018098833A1 (zh) | 显微镜载玻片曲面高度值的测算方法以及一种显微镜 | |
| JP6746968B2 (ja) | ラジアルころ軸受のスキュー角度計測方法及びラジアルころ軸受のスキュー角度計測装置 | |
| CN116452668A (zh) | 一种相机安装角度的校正方法 | |
| JP2016080517A (ja) | 表面検査装置 | |
| JP5461377B2 (ja) | 角度測定装置、角度の測定方法、及びプログラム | |
| JP5761061B2 (ja) | 撮像装置及び顕微鏡、並びに、これらに用いられるプログラム | |
| JP2012068761A (ja) | 画像処理装置 | |
| KR20250047441A (ko) | 펠리클 내벽면 이미지의 광학 검사장치, 광학검사 시스템 및 이를 이용한 펠리클 내벽면 이미지의 광학 검사방법 | |
| JP6485064B2 (ja) | 球体位置計測方法 |