JP2020197413A - プローブ及び太陽電池セル用測定装置 - Google Patents
プローブ及び太陽電池セル用測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2020197413A JP2020197413A JP2019102660A JP2019102660A JP2020197413A JP 2020197413 A JP2020197413 A JP 2020197413A JP 2019102660 A JP2019102660 A JP 2019102660A JP 2019102660 A JP2019102660 A JP 2019102660A JP 2020197413 A JP2020197413 A JP 2020197413A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pair
- probe
- thin plate
- solar cell
- contacts
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 66
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 7
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 7
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 5
- 230000036544 posture Effects 0.000 description 9
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 2
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 244000126211 Hericium coralloides Species 0.000 description 1
- 206010034719 Personality change Diseases 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/14—Measuring as part of the manufacturing process for electrical parameters, e.g. resistance, deep-levels, CV, diffusions by electrical means
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02S—GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
- H02S50/00—Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
- H02S50/10—Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
Description
3 ・・・プローブ
3A ・・・薄板体
31 ・・・本体部
32 ・・・接触子
33 ・・・ばね要素
3B ・・・カバー
34 ・・・固定部
35 ・・・開口部
36 ・・・倒れ規制部
37 ・・・平行板
38 ・・・凸部
Claims (11)
- 太陽電池セルの電気的特性の測定に用いられるプローブであって、
厚み方向に積層された複数の薄板体と、
前記複数の薄板体を外側から厚み方向に挟み込む一対のカバーと、を備え、
前記薄板体が、
長尺薄板状の本体部と、
前記本体部の長手方向に所定幅を有する薄板であり、幅方向が前記本体部の長手方向に沿って揃うように並べて設けられる複数の接触子と、
前記本体部と前記複数の接触子との間をそれぞれ接続する細線で形成されたばね要素と、を具備し、
前記一対のカバーが、
前記接触子を厚み方向に対して挟み込み、当該接触子の倒れを規制する一対の倒れ規制部を具備することを特徴とするプローブ。 - 前記一対の倒れ規制部が、一対の平行板を具備し、それらの内側面と前記接触子の面板部との間に隙間が形成されている請求項1記載のプローブ。
- 前記一対の倒れ規制部が、前記一対の平行板間に介在して前記一対の平行板の離間間隔を所定値に保つスペーサ構造を具備する請求項1記載のプローブ。
- 前記スペーサ構造が、一対の平行板から互いの対向面に対して突出する一対の凸部であり、前記一対の凸部同士が接触することで前記一対の平行板の離間間隔が所定値に保たれるように構成されている請求項3記載のプローブ。
- 前記複数の接触子の少なくとも一部に、前記凸部が挿通される穴、又は、前記凸部を迂回するための切り欠きが形成された請求項4記載のプローブ。
- 前記ばね要素が、前記本体部よりも外側に突出するように前記薄板体の厚み方向に対して湾曲しており、
前記一対のカバーが、
前記ばね要素の少なくとも一部を露出する開口部をさらに具備する請求項1記載のプローブ。 - 前記複数の接触子が、前記本体部の長手方向に沿って所定間隔ごとに設けられており、
少なくとも2つの薄板体における前記複数の接触子の設けられている周期がずれている請求項1記載のプローブ。 - 前記複数の接触子の配列方向の長さ寸法が、各フィンガー電極の設置間隔の2倍よりも小さく設定されている請求項7記載のプローブ。
- 前記所定間隔が、複数の前記接触子が1又は2のフィンガー電極と接触するように設定されている請求項7記載のプローブ。
- 厚み方向に対して重ね合わされた前記複数の薄板体のうち、少なくとも1つの前記薄板体が電圧測定用の薄板体であり、その他の前記薄板体が電流測定用の薄板体であり、
電圧測定用の前記薄板体と、電流測定用の前記薄板体との間に形成された絶縁層をさらに備えた請求項1記載のプローブ。 - 請求項1記載のプローブと、
前記プローブに接続された電流電圧測定機構と、を備えた太陽電池セル用測定装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019102660A JP7130247B2 (ja) | 2019-05-31 | 2019-05-31 | プローブ及び太陽電池セル用測定装置 |
KR1020200043873A KR102343192B1 (ko) | 2019-05-31 | 2020-04-10 | 프로브 및 태양전지 셀용 측정 장치 |
CN202010304414.9A CN112017982A (zh) | 2019-05-31 | 2020-04-17 | 探针和太阳能电池单元用测量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019102660A JP7130247B2 (ja) | 2019-05-31 | 2019-05-31 | プローブ及び太陽電池セル用測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020197413A true JP2020197413A (ja) | 2020-12-10 |
JP7130247B2 JP7130247B2 (ja) | 2022-09-05 |
Family
ID=73506831
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019102660A Active JP7130247B2 (ja) | 2019-05-31 | 2019-05-31 | プローブ及び太陽電池セル用測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7130247B2 (ja) |
KR (1) | KR102343192B1 (ja) |
CN (1) | CN112017982A (ja) |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0886812A (ja) * | 1994-07-21 | 1996-04-02 | Kiyota Seisakusho:Kk | 超微小ピッチ検査用積層プロ−ブコンタクト |
JP2003317888A (ja) * | 2002-04-24 | 2003-11-07 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2008122356A (ja) * | 2006-10-18 | 2008-05-29 | Isao Kimoto | プローブ |
JP2010181293A (ja) * | 2009-02-05 | 2010-08-19 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード |
JP2012021804A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Taiyo Kogyo Co Ltd | フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置 |
JP2012093127A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Advanced Systems Japan Inc | バーチカルプローブヘッド |
JP2012242178A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Advanced Systems Japan Inc | バーチカルプローブおよびそれを用いたプローブヘッド |
JP2013101091A (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-23 | Takeshi Kaneko | コンタクトプローブ装置 |
JP2013213795A (ja) * | 2012-04-04 | 2013-10-17 | Sharp Corp | 測定治具 |
JP2017215342A (ja) * | 2012-04-03 | 2017-12-07 | 大日本印刷株式会社 | 複数の突出した針を備える針体治具および針状物部材 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001324515A (ja) * | 2000-05-17 | 2001-11-22 | Suncall Corp | 電子部品検査用コンタクトプローブ装置 |
US6906540B2 (en) * | 2001-09-20 | 2005-06-14 | Wentworth Laboratories, Inc. | Method for chemically etching photo-defined micro electrical contacts |
KR200455080Y1 (ko) | 2010-04-29 | 2011-08-16 | 미르테크(주) | 태양전지 검사용 프로브 유닛 |
JP5911127B2 (ja) | 2010-12-07 | 2016-04-27 | デクセリアルズ株式会社 | 太陽電池セル用出力測定装置及び測定方法 |
DE102011008261A1 (de) | 2011-01-11 | 2012-07-12 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Schiene für die elektrische Kontaktierung eines elektrisch leitfähigen Substrates |
JP2015215328A (ja) * | 2014-04-21 | 2015-12-03 | 大熊 克則 | プローブピンおよびicソケット |
WO2015163160A1 (ja) * | 2014-04-21 | 2015-10-29 | オーキンス エレクトロニクス カンパニー,リミテッド | プローブピンおよびicソケット |
EP3361149B1 (en) | 2017-02-10 | 2020-07-08 | Harman Professional Denmark ApS | Method of reducing sound from light fixture with stepper motors |
-
2019
- 2019-05-31 JP JP2019102660A patent/JP7130247B2/ja active Active
-
2020
- 2020-04-10 KR KR1020200043873A patent/KR102343192B1/ko active IP Right Grant
- 2020-04-17 CN CN202010304414.9A patent/CN112017982A/zh active Pending
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0886812A (ja) * | 1994-07-21 | 1996-04-02 | Kiyota Seisakusho:Kk | 超微小ピッチ検査用積層プロ−ブコンタクト |
JP2003317888A (ja) * | 2002-04-24 | 2003-11-07 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
JP2008122356A (ja) * | 2006-10-18 | 2008-05-29 | Isao Kimoto | プローブ |
JP2010181293A (ja) * | 2009-02-05 | 2010-08-19 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード |
JP2012021804A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Taiyo Kogyo Co Ltd | フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置 |
JP2012093127A (ja) * | 2010-10-25 | 2012-05-17 | Advanced Systems Japan Inc | バーチカルプローブヘッド |
JP2012242178A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-10 | Advanced Systems Japan Inc | バーチカルプローブおよびそれを用いたプローブヘッド |
JP2013101091A (ja) * | 2011-11-07 | 2013-05-23 | Takeshi Kaneko | コンタクトプローブ装置 |
JP2017215342A (ja) * | 2012-04-03 | 2017-12-07 | 大日本印刷株式会社 | 複数の突出した針を備える針体治具および針状物部材 |
JP2013213795A (ja) * | 2012-04-04 | 2013-10-17 | Sharp Corp | 測定治具 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7130247B2 (ja) | 2022-09-05 |
KR20200137968A (ko) | 2020-12-09 |
KR102343192B1 (ko) | 2021-12-23 |
CN112017982A (zh) | 2020-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4866954B2 (ja) | 太陽電池セル測定用試料台 | |
TWI574020B (zh) | Method for measuring the output of a solar cell and a method for measuring the output of a solar cell | |
KR101023920B1 (ko) | 전지셀 전압 밸런싱 장치 | |
US20130200918A1 (en) | Testing apparatus for photovoltaic cells | |
JP7388673B2 (ja) | プローブ及び太陽電池セル用測定装置 | |
KR20150037989A (ko) | 시험기 | |
CN104124919A (zh) | 棒状探针和太阳能电池单元用测量装置 | |
WO2013115046A1 (ja) | 太陽電池セルの特性測定用プローブ装置 | |
CN103299198A (zh) | 用于电接触导电衬底的条棒 | |
JP6204152B2 (ja) | 太陽電池セル用出力測定治具及び太陽電池セルの出力測定方法 | |
CN111989858B (zh) | 用于在太阳能电池的电特性的测量过程中电接触太阳能电池的装置以及用于测量太阳能电池的电特性的方法 | |
JP2013213795A (ja) | 測定治具 | |
JP2020197413A (ja) | プローブ及び太陽電池セル用測定装置 | |
JP2013131668A (ja) | 測定治具 | |
CN208999529U (zh) | 叠瓦光伏组件电池片测试装置 | |
CN219799723U (zh) | 一种安规测试设备线路导通检测装置 | |
US20080286633A1 (en) | Circuit testing device for solid oxide fuel cell | |
TW201217805A (en) | Testing apparatus for photovoltaic cells | |
JP3502558B2 (ja) | 温度センサ付き電池ホルダ | |
TWI432752B (zh) | 太陽能晶片電性檢測裝置與方法 | |
JP2016072601A (ja) | 太陽電池の製造方法 | |
KR20220161553A (ko) | 태양 전지용 테스트 버스 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210108 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211028 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20211029 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211224 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20220308 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220428 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220802 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220817 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7130247 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |