JP2012021804A - フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置 - Google Patents

フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012021804A
JP2012021804A JP2010157939A JP2010157939A JP2012021804A JP 2012021804 A JP2012021804 A JP 2012021804A JP 2010157939 A JP2010157939 A JP 2010157939A JP 2010157939 A JP2010157939 A JP 2010157939A JP 2012021804 A JP2012021804 A JP 2012021804A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
contactor
spring
flying
fixed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010157939A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuo Suzuki
靖雄 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiyo Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiyo Kogyo Co Ltd filed Critical Taiyo Kogyo Co Ltd
Priority to JP2010157939A priority Critical patent/JP2012021804A/ja
Publication of JP2012021804A publication Critical patent/JP2012021804A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

【課題】接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮できるようにする。
【解決手段】ガイド板24・26は、一対のバネ部22B・22Cの間に配置されており、側面視にて、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとは重なっていない。これにより、接触子20が中間板28及びガイド板24・26に対して上方へ移動した際に、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとの側面同士が接触しないので、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとの間での摩擦が生じず、一対のバネ部22B・22Cがスムーズに弾性変形する。これにより、接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮できる。
【選択図】図6

Description

本発明は、フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置に関するものである。
プリント基板の検査装置として、該プリント基板の複数の検査ポイントに、接触子としてのプローブを順次移動させ、移動先の検査ポイントにプローブを接触させることで導通検査を行う、所謂フライング検査装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。また、このようなフライング検査装置において、プローブを同軸配置したコイルスプリングによってプリント基板側に付勢したものが知られている(例えば、特許文献2参照)。この構成では、プローブが検査ポイントに接触した際の衝撃が、コイルスプリングによって吸収される。
特開2003−222649号公報 特開平7−92227号公報
ここで、コイルスプリングに替えて、線状のバネ部で接触子を支持する構成とすることも可能である。この構成においても、コイルスプリングの場合と同様に、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部が良好に発揮することが要求される。
本発明は、線状のバネ部で接触子を支持する構成において、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部が良好に発揮できるフライング検査用接触子の保持構造及びフライング検査装置を得ることを課題とする。
本発明の請求項1に係るフライング検査用接触子の保持構造は、検査ポイントに対して所定の接離方向へ接離される接触子と、前記接触子が固定された固定部又は前記接触子から前記接離方向に対して交差する交差方向へ延出され、自らの弾性変形により前記接触子を前記接離方向に移動可能に支持する線状のバネ部と、前記バネ部に対する前記接離方向の一方側又は前記バネ部に対する前記接離方向の他方側に配置され、前記接離方向及び前記バネ部の延出方向と直交する両側から前記接触子又は前記固定部を挟んでその両側への前記接触子の移動を規制するガイドと、を備える。
この構成によれば、接触子は、検査ポイントに対して所定の接離方向(例えば上下方向)へ接離される。すなわち、接触子は、接触方向(例えば下方)に移動することにより、検査ポイントに接触し、離間方向(例えば上方)に移動することにより、検査ポイントから離間する。
接触子が検査ポイントに接触されると、接触子はガイドによって、接離方向及びバネ部の延出方向と直交する両側(例えば、両側方)への移動が規制されながら、離間方向(例えば、上方)へ移動する。これにより、線状のバネ部が弾性変形し、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃が吸収される。
ここで、本発明の請求項1の構成では、ガイドは、バネ部に対する接離方向の一方側又はバネ部に対する接離方向の他方側、すなわち、バネ部に対して干渉しない位置に配置されている。これにより、ガイドとバネ部同士が接触しないので、ガイドとバネ部との間での摩擦が生じず、バネ部がスムーズに弾性変形する。これにより、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部が良好に発揮できる。
なお、所定の接離方向は、上下方向である場合に限られず、例えば、前後方向、左右方向であってもよく、任意の方向とすることができる。
本発明の請求項2に係るフライング検査用接触子の保持構造は、前記バネ部は、前記ガイドに対する前記接離方向の一方側及び他方側に一対配置され、前記ガイドは、前記一対のバネ部の間に配置されている。
この構成によれば、一対のバネ部で接触子を支持するので、単一のバネ部で支持する構成に比べて、接触子の多数の検査ポイントに対する接触に伴う繰り返し荷重に対する強度が高く、検査ポイントへの繰り返し接触に対する耐久性が向上する。
また、このように一対のバネ部を設けた構成においても、ガイドが一対のバネ部の間に配置されることにより、ガイドとバネ部同士が接触しないようになっている。このため、ガイドとバネ部との間での摩擦が生じず、バネ部がスムーズに弾性変形する。これにより、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部が良好に発揮できる。
本発明の請求項3に係るフライング検査用接触子の保持構造は、前記接触子が接着剤で固定された前記固定部と、前記固定部から前記交差方向へ線状に延出された前記バネ部と、前記接触子の固定部位と前記バネ部との間で前記固定部に形成され前記接着剤を逃がすための切欠部と、を有する固定板を備える。
この構成によれば、接触子を接着剤により固定部に固定する際に、バネ部側へ接着剤がはみ出した場合でも、切欠部によって、接着剤がバネ部に付着しにくい。これにより、接触剤がバネ部の弾性変形を妨げることがなく、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部が良好に発揮できる。
本発明の請求項4に係る回路基板のフライング検査装置は、被検査基板を保持する基板保持部と、請求項1〜3のいずれか1項に記載のフライング検査用接触子の保持構造における前記バネ部を介して前記接触子を支持し、前記接触子を移動して前記被検査基板における複数の検査ポイントに順次接触させる接触子駆動機構と、を備える。
この構成によれば、基板保持部に保持された回路基板の複数の検査ポイントに対し、接触子駆動機構によって駆動された接触子が順次移動して、接触することで、回路基板の検査がなされる。本フライング検査装置は、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能をバネ部が良好に発揮できる請求項1〜3のいずれか1項記載のフライング検査用接触子の保持構造を備えるので、信頼性が高い。
以上のように、本発明の構成によれば、接触子が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能をバネ部が良好に発揮できる。
本実施形態に係る接触子ユニットが適用されたプリント基板のフライング検査装置の要部を模式的に示す側面図である。 本実施形態に係るフライング検査装置において、プリント基板を吸着テーブルに保持した状態を示す斜視図である。 本実施形態に係る接触子ユニットを示す分解斜視図である。 本実施形態に係る接触子ユニットを示す斜視図である。 本実施形態に係る接触子ユニットを接触子駆動ユニットに保持した状態を示す斜視図である。 本実施形態に係る接触子ユニットを示す側面図である。 本実施形態に係る接触子ユニットにおいて、接触子が検査ポイントに接触した状態を示す側面図である。 本実施形態に係る接触子ユニットにおいて、接触子のガイド板に対する上方への移動がストッパ(被保持部)によって規制された状態を示す側面図である。 本実施形態に係る接触子ユニットにおいて、ストッパによって接触子のスルーホールへの落ち込みが規制された状態を示す側面図である。
以下に、本発明の実施形態に係るフライング検査用接触子の保持構造が適用された接触子ユニット10、該接触子ユニット10を備えたプリント基板のフライング検査装置11について、図面に基づいて説明する。先ず、フライング検査装置11の概略全体構成について説明し、次いで、本発明の要部である接触子ユニット10について説明する。
(プリント基板のフライング検査装置の全体構成)
図1には、プリント基板のフライング検査装置11の要部が模式的な側面図にて示されている。この図1に示すように、フライング検査装置11は、検査対象であるプリント基板(被検査基板)12における各検査ポイントの導通等を、後に詳述する接触子ユニット10を用いて検査する構成とされている。この実施形態では、フライング検査装置11は、プリント基板12に形成された導体パターンと基準電極との間の静電容量を測定し、その測定した静電容量に基づいて導体パターンの良否を検査するようになっている。以下、フライング検査装置11の具体的な構成について説明するが、検査(良否判定)原理については周知の方法を適用し得るので、説明を省略する。
フライング検査装置11は、図1に示すように、プリント基板12を保持する基板保持部としての吸着テーブル14と、接触子ユニット10と、接触子ユニット10を移動してプリント基板12における複数の検査ポイントに順次接触させる接触子駆動機構としての接触子駆動ユニット16と、図示しない測定部とを主要部として構成されている。本実施形態では、フライング検査装置11は、一組(2つ)の接触子ユニット10、接触子駆動ユニット16を備えて構成されている。
吸着テーブル14は、水平かつ鉛直方向の上側を向く基板載置面14Aを有し、複数の吸引孔14Bを通じて基板載置面14Aとは反対(下面)側から図示しない吸引装置にて真空引きすることで、基板載置面14A上にプリント基板12を吸着保持するようになっている。また、基板載置面14A上には、図1及び図2に示すように、プリント基板12を位置決めするための衝立部(凸部)14Cが設けられている。
接触子駆動ユニット16は、吸着テーブル14に対し接触子ユニット10をX方向(例えば、図1における左右方向)、Y方向(例えば、図1における前後方向)に駆動する水平駆動部と、接触子ユニット10をZ方向(上下方向)に駆動する鉛直駆動部と、を有して構成されている。これにより、フライング検査装置11では、接触子駆動ユニット16の水平駆動部によって接触子ユニット10(の接触子20)を検査ポイントの直上方に移動させた後、鉛直駆動部によって接触子ユニット10を降下させることで接触子20を検査ポイントに接触(コンタクト)させることで、測定部によって検査ポイントの検査が行われるようになっている。
また、フライング検査装置11では、接触子20が検査ポイントに接触している状態から鉛直駆動部によって接触子ユニット10を上昇させた後、水平駆動部によって接触子ユニット10を別の検査ポイントに移動させ、複数の検査ポイントの検査を行うようになっている。
なお、検査ポイントとしては、図1及び図2に示すように、例えば、スルーホール12Aに形成された導体パターン(ランド)12Bがある。この導体パターン12Bは、スルーホール12Aの外縁及びスルーホール12Aの内周壁に形成されている。
(接触子ユニット10の構成)
図3には、接触子ユニット10の分解斜視図が示されている。この図3に示すように、接触子ユニット10は、ブレード型の接触子20と、接触子20が固定された固定板22と、固定板22をその板厚方向に挟むように配置された一対のガイド板24・26と、ガイド板24と固定板22との間に配置された中間板28と、を備えている。
接触子20は、板状で、かつ、側面視にて平行四辺形状に形成されている(図6参照)。接触子20の材料としては、例えば、超硬合金やステンレス鋼(SUS)が用いられる。具体的には、接触子20として、例えば、市販のカッター刃を用いることができる。接触子20は、側面視において平行四辺形を構成する下辺が、検査ポイントへの接触部位となっている(図6参照)。すなわち、接触子20は、下端部が、検査ポイントに対して線状に接触可能となっている。
接触子20は、鋭角にされたエッジが最も鉛直方向下側(図6における左下側)に配置されており、接触部位としての上記の下辺が、水平方向に対して傾斜している。接触子20には、測定部と導通するための導線32がハンダ付け等によって接続されている(図5参照)。
固定板22は、水平方向(例えば、接触子駆動ユニット16のX方向)に長手の板状に形成されている。固定板22は、接触子20が固定された固定部22Aと、固定部22Aから側方(例えば、接触子駆動ユニット16のX方向)へ延出された線状の一対のバネ部22B・22Cと、一対のバネ部22B・22Cの間に配置され固定板22が接触子駆動ユニット16の接触子保持部16Aに保持される被保持部22Dと、を備えて構成されている。
固定部22Aは、固定板22における長手方向一端部(図6における左端部)をなしている。固定部22Aの一方の面には、接触子20の下端部が固定部22Aの下端から下方へ突出するように、接触子20が接着剤により固定されている。
固定部22Aにおける接触子20の固定部位とバネ部22Bとの間には、接触子20の固定用の接着剤を逃がすための切欠部22Eが形成されている。切欠部22Eは、固定板22の上端から上下方向略中央部に達するように形成されている。切欠部22Eには、接触子20の上部側の鋭角にされたエッジが突出している。
固定部22Aの下端には、検査ポイントとしてのスルーホール12A外縁の導体パターン12Bに接触子20が接触する際に、接触子20のスルーホール12Aへの落ち込みを規制するストッパ22Iが、切欠部22Eの下方位置に形成されている。
バネ部22Bは、具体的には、水平方向に長さを有しており、長さ方向一端部(図6における左端部)が固定部22Aの上部に連続すると共に、長さ方向他端部(図6における右端部)が、被保持部22Dの一端部(図6における右端部)の上側に連続して形成されている。バネ部22Cは、具体的には、水平方向に長さを有しており、長さ方向一端部(図6における左端部)が固定部22Aの下部に連続すると共に、長さ方向他端部(図6における右端部)が、被保持部22Dの一端部(図6における右端部)の下側に連続して形成されている。このように、バネ部22B・22Cは、接触子20(固定部22A)に対して、上下に一対配置されている。
一対のバネ部22B・22Cは、上下方向に撓むように、弾性変形可能に構成されており、自らの弾性により、固定部22Aを介して接触子20を上下方向に移動可能に支持している。
なお、バネ部22B・22Cの弾性力は、バネ部22B・22Cの幅W・長さL及び固定板22の板厚によって設定可能である。従って、バネ部22B・22Cの幅W及び固定板22の板厚の少なくとも一方のサイズを大きくし、又は、バネ部22B・22Cの長さLを短くすることにより、弾性力を高めることができる。また、後述のスリット22Hの幅を狭くし、又は、固定板22自体の幅を広くすることにより、バネ部22B・22Cの幅Wを大きくすることができる。なお、バネ部22B・22Cの幅Wは、例えば、0.1〜0.8mmに、長さLは5mm以上に、固定板22の板厚は、0.1mm以上に設定される。
被保持部22Dは、バネ部22Bの下側であって、かつ、バネ部22Cの上側であって、かつ、固定部22Aの側方に配置されている。この被保持部22Dと、一対のバネ部22B・22C及び固定部22Aと、を分離するコの字状のスリット22Hが、固定板22に形成されている。これにより、被保持部22Dは、バネ部22B、バネ部22C及び固定部22Aに対して間隔をおいて配置されている。
被保持部22Dには、接触子駆動ユニット16の接触子保持部16Aへの固定用のビス30が挿通される2つの透孔22Fが、固定板22における長手方向の略中央部に、該長手方向並列して形成されている。
また、被保持部22Dの固定部22A側(図8における左側)の下端は、バネ部22Cが所定量以上湾曲した際にバネ部22Cに当接し、固定部22Aの上方への移動を規制するストッパとして機能するようになっている。
ガイド板24は、固定板22と同様に、水平方向(例えば接触子駆動ユニット16のX方向)に長手の板状に形成されている。ガイド板24は、固定板22の接触子20が固定される固定面側に対して、中間板28を介して重ねられる。
ガイド板24は、固定板22に重ねられた状態において、長手方向一端及び他端が、それぞれ、固定板22の長手方向一端及び他端と略一致する形状とされている。また、ガイド板24の長手方向一端側(図6における左端側)には、固定板22に重ねられた状態において、固定板22の切欠部22Eと一致する切欠部24Eが形成されている。ガイド板24の長手方向中央部には、2つの透孔22Fと連通する透孔24Fが形成されている。
ガイド板26は、後述する凸部26Gを除いて、ガイド板24と略同一形状とされている。すなわち、ガイド板26は、水平方向に長手の板状に形成されると共に、切欠部26E(切欠部24Eに相当)、上縁26B(上縁24Bに相当)、下縁26C(下縁24Cに相当)及び透孔26F(透孔24Fに相当)を有している。
また、ガイド板26は、固定板22の接触子20が固定される固定面に対する裏面に重ねられている。すなわち、固定板22及び接触子20は、上下方向及びバネ部22B・22Cの延出方向と直交する側方の両側からガイド板24・26によって挟まれるようになっている。
ガイド板24・26は、側面視にて、上縁24B・26Bが下側に凸状となる(膨らむ)曲線で構成されている(図6参照)。これにより、固定板22に重ねられた状態において、側面視にてバネ部22Bが露出する(見える)ようになっている。すなわち、バネ部22Bは、ガイド板24・26の上方に配置されており、側面視にてガイド板24・26と重ならないようになっている。なお、ガイド板24・26の上縁24B・26Bと、バネ部22Bの下縁との間には、隙間が形成されている。
ガイド板24・26は、上縁24B・26Bと同様に、側面視にて、下縁24C・26Cが上側に凸状となる(膨らむ)曲線で構成されている(図6参照)。これにより、固定板22に重ねられた状態において、側面視にて、バネ部22C、ストッパ22I及び接触子20の下部が露出する(見える)ようになっている(図6参照)。すなわち、バネ部22C、ストッパ22I及び接触子20の下部は、ガイド板24・26の下方に配置されており、側面視にてガイド板24・26と重ならないようになっている。なお、ガイド板24・26の下縁24C・26Cと、バネ部22Cの上縁との間には、隙間が形成されている。
中間板28は、固定板22の接触子20が固定される固定面に重ねられている。すなわち、中間板28は、固定板22とガイド板24によって挟まれるようになっている。
また、中間板28は、ガイド板24において接触子20と対向する部分が欠けたものと略同一形状とされている。すなわち、中間板28は、固定板22の固定面に重ねられた状態において、接触子20と干渉しないようになっている。また、中間板28は、水平方向に長手の板状に形成されると共に、切欠部28E(切欠部24Eに相当)、上縁28B(上縁24Bに相当)、下縁28C(下縁24Cに相当)及び透孔28F(透孔24Fに相当)を有している。
中間板28は、接触子20と略同一の厚みとされている。これにより、固定板22とガイド板24との間に挟まれて固定板22とガイド板24とを平行な状態にするためのスペーサとして機能する。
接触子ユニット10では、図4に示すように、ガイド板24、中間板28、固定板22及びガイド板26が、上述のように、この順で板厚方向に重ね合わせられると共に、接着剤によって固定されている。
具体的には、ガイド板24は、中間板28に対して接着固定されている。ガイド板24は、接触子20の側面に対しては、固定されておらずに接触しており、接触子20がガイド板24に対して摺動するようになっている。
中間板28は、固定板22の被保持部22Dに対して接着固定されている。中間板28は、固定板22の固定部22Aに対しては、固定されておらずに接触しており、固定部22Aが中間板28に対して摺動するようになっている。
ガイド板26は、固定板22の被保持部22Dに対して接着固定されている。ガイド板26は、固定板22の固定部22Aに対しては、固定されておらずに接触しており、固定部22Aがガイド板26に対して摺動するようになっている。
なお、ガイド板24、中間板28、固定板22及びガイド板26には、それぞれ、重ね合わせる順を特定するための凸部24G・28G・22G・26Gが、長手方向他端部に形成されている。
また、ガイド板24、中間板28、固定板22及びガイド板26は、プリント基板材料であるガラスクロス入りの基板、より具体的にはFR4グレード(米国電機工業規格(NEMA)による)の耐熱性ガラス基材エポキシ樹脂積層板にて構成されている。
このように構成された接触子ユニット10は、図5に示すように、各板24・28・22・26の透孔24F・28F・22F・26Fに挿通されたビス30によって、接触子駆動ユニット16の接触子保持部16Aに締結固定されて保持されている。
なお、固定板22の被保持部22D、中間板28、ガイド板24及びガイド板26は、接触子ユニット10が接触子駆動ユニット16の接触子保持部16Aの保持された状態において、接触子保持部16Aに対して移動しない不動部として構成される。一方、固定板22の固定部22A及び一対のバネ部22B・22Cは、接触子ユニット10の保持状態において、接触子保持部16Aに対して移動する可動部として構成される。
(本実施形態の作用)
次に、本実施形態の作用を説明する。
上記構成の接触子ユニット10が適用されたフライング検査装置11では、プリント基板12の検査を行うにあたっては、先ず、吸着テーブル14の基板載置面14A上に、衝立部14Cで位置決めされるようにプリント基板12をセットする(図1及び図2参照)。次いで、吸着テーブル14の吸着装置を起動する。すると、フライング検査装置11では、複数の吸引孔14Bを通じた真空引きによってプリント基板12が基板載置面14Aに吸着される。
この状態から各接触子駆動ユニット16を起動させると、各接触子駆動ユニット16は水平駆動部によって接触子20を複数の検査ポイントの上方位置に水平方向へ移動させる(図6参照)。さらに、接触子駆動ユニット16の鉛直駆動部によって接触子ユニット10を下方(プリント基板12側)に移動させて、接触子20をプリント基板12の検査ポイントに接触させる(図7参照)。これにより、検査ポイントとフライング検査装置11の測定部とが導通され、プリント基板12の導体パターンの良否が判定される。フライング検査装置11は、以上の動作を検査ポイントの数だけ繰り返す。
本実施形態では、接触子20が検査ポイントに接触すると、一対のバネ部22B・22Cが下側へ凸状になるように湾曲し、接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収すると共に、接触子20は、弾性変形した一対のバネ部22B・22Cの弾性力により検査ポイントに対する所定の接触圧を得る。
このように、一対のバネ部22B・22Cが弾性変形することにより、接触子20及び固定板22の固定部22Aが、中間板28及びガイド板24・26に対して上方に移動する。
このとき、固定部22Aの固定面側に接触する中間板28、固定部22Aの裏面側に接触するガイド板26、接触子20に接触するガイド板24によって、接触子20は、板厚方向への移動が規制されると共に上方へ案内される。
さらに、図8に示すように、接触子20及び固定部22Aが、中間板28及びガイド板24・26に対して上方へ移動すると、バネ部22Cが被保持部22Dの下端に当接し、それ以上の上方への移動が規制される。
また、フライング検査装置11では、図9に示すように、検査ポイントとしてのスルーホール12A外縁の導体パターン12Bに接触子20が接触する際に、特に、スルーホール12Aの内径が接触子20の横幅よりも大きい場合では、接触子20がスルーホール12Aに落ち込みやすいが、ストッパ22Iがスルーホール12A外縁に当接し、接触子20がスルーホール12Aへの落ち込みが規制される。これにより、接触子20と導体パターン12Bとの良好な接触が得られる。
ここで、本実施形態では、水平方向に長さを有する一対のバネ部22B・22Cで接触子20を支持するので、接触子20の上側からコイルスプリングによって接触子20を下側のプリント基板12へ付勢する構成に比べて、上下方向における装置高さを小さくでき、装置の小型化が図られる。
このように、コイルスプリングでは無く、水平方向に長さを有する一対のバネ部22B・22Cで接触子20を支持するので、接触子20の大きさ(高さや幅)・接触子20の形状の選択の自由度が増し、本実施形態のように、ブレード型の接触子20とすることが可能となる。仮に、ブレード型の接触子20をコイルスプリングによってプリント基板側に付勢する構成とした場合では、装置高さが大型化してしまう。
また、本実施形態では、接触子20がブレード型をしているので、検査ポイントに対して線状に接触するため、点状に接触する針状の接触子20に比べて、検査ポイントに対して良好に接触する。特に、検査ポイントとしてのスルーホール12A外縁の導体パターン12Bに接触子20を接触させる場合には、点状に接触する針状の接触子20ではスルーホール12Aに接触子20が落ちて接点を取れない場合があるのに対して、ブレード型の接触子20では、より確実な接触を得ることができる。
また、本実施形態では、ガイド板24・26は、一対のバネ部22B・22Cの間に配置されており、側面視にて、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとは重なっていない。これにより、接触子20が中間板28及びガイド板24・26に対して上方へ移動した際に、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとの側面同士が接触しないので、ガイド板24・26と一対のバネ部22B・22Cとの間での摩擦が生じず、一対のバネ部22B・22Cがスムーズに弾性変形する。これにより、接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮できる。
このように、接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮するので、多数の検査ポイントへの接触に対する耐久性を確保することができる。
また、本実施形態では、一対のバネ部22B・22Cで接触子20を支持するので、単一のバネ部で支持する構成に比べて、接触子20の多数の検査ポイントに対する接触に伴う繰り返し荷重に対する強度が高く、検査ポイントへの繰り返し接触に対する耐久性が向上する。
また、本実施形態では、ガイド板24・26の下縁24C・26Cが円弧状に形成されているので、バネ部22Cが湾曲してガイド板24・26のガイド板24・26に接触したとしても、ガイド板24・26に引っ掛かりにくく、ガイド板24・26の間にスムーズに進入する。
また、本実施形態では、接触子20を接着剤により固定部22Aに固定する際に、バネ部B側へ接着剤がはみ出した場合でも、切欠部22Eによって、接着剤がバネ部に付着しにくい。これにより、接触剤がバネ部22Bの弾性変形を妨げることがなく、接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮できる。
このように、本実施形態に係るフライング検査装置11によれば、接触子20が検査ポイントに接触した際の衝撃を吸収する機能を、バネ部22B・22Cが良好に発揮できるので、信頼性が高い。
なお、上記した実施形態では、フライング検査装置11がプリント基板12に形成された導体パターンと基準電極との間の静電容量に基づいて導体パターンの良否を検査する例を示したが、本発明はこれに限定されず、例えば、プリント基板12の表裏から接触子20を接触させて直接的に導通を検査するフライング検査装置11に本発明を適用しても良い。
また、接触子20としては、ブレード型のものに限られず、針状のものであってよく、接触子20として機能する限りにおいて、接触子20の形状は、いずれの形状であっても良い。また、接触子20は、固定板22の固定部22Aに固定される構成に限られず、一対のバネ部22B・22Cに直接的に固定される構成であっても良い。
また、固定板22としては、一対のバネ部22B・22Cのいずれか一方のみが形成された構成であってもよい。また、接触子ユニット10は、2つのビス30によって、接触子駆動ユニット16の接触子保持部16Aに締結固定されていたが、ビス30は1つであっても良いし、3つ以上であっても良い。
また、本実施形態では、中間板28が固定部22Aの固定面側に接触して固定板22を上方へ案内するので、ガイド板24がない構成であってもよい。この構成においては、ガイド板26とで接触子20を挟むように、中間板28を接触子20側に延出させた構成であっても良い。
本発明は、上記の実施形態に限るものではなく、種々の変形、変更、改良が可能である。
10 接触子ユニット
11 フライング検査装置
12 プリント基板(被検査基板)
14 吸着テーブル(基板保持部)
16 接触子駆動ユニット(接触子駆動機構)
20 接触子
22 固定板
22A 固定部
22B バネ部
22C バネ部
22E 切欠部
24 ガイド板(ガイド)
26 ガイド板(ガイド)

Claims (4)

  1. 検査ポイントに対して所定の接離方向へ接離される接触子と、
    前記接触子が固定された固定部又は前記接触子から前記接離方向に対して交差する交差方向へ延出され、自らの弾性変形により前記接触子を前記接離方向に移動可能に支持する線状のバネ部と、
    前記バネ部に対する前記接離方向の一方側又は前記バネ部に対する前記接離方向の他方側に配置され、前記接離方向及び前記バネ部の延出方向と直交する両側から前記接触子又は前記固定部を挟んでその両側への前記接触子の移動を規制するガイドと、
    を備えるフライング検査用接触子の保持構造。
  2. 前記バネ部は、前記ガイドに対する前記接離方向の一方側及び他方側に一対配置され、
    前記ガイドは、前記一対のバネ部の間に配置されている請求項1に記載のフライング検査用接触子の保持構造。
  3. 前記接触子が接着剤で固定された前記固定部と、前記固定部から前記交差方向へ線状に延出された前記バネ部と、前記接触子の固定部位と前記バネ部との間で前記固定部に形成され前記接着剤を逃がすための切欠部と、を有する固定板を備える請求項1又は請求項2に記載のフライング検査用接触子の保持構造。
  4. 被検査基板を保持する基板保持部と、
    請求項1〜3のいずれか1項に記載のフライング検査用接触子の保持構造における前記バネ部を介して前記接触子を支持し、前記接触子を移動して前記被検査基板における複数の検査ポイントに順次接触させる接触子駆動機構と、
    を備える回路基板のフライング検査装置。
JP2010157939A 2010-07-12 2010-07-12 フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置 Pending JP2012021804A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010157939A JP2012021804A (ja) 2010-07-12 2010-07-12 フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010157939A JP2012021804A (ja) 2010-07-12 2010-07-12 フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012021804A true JP2012021804A (ja) 2012-02-02

Family

ID=45776211

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010157939A Pending JP2012021804A (ja) 2010-07-12 2010-07-12 フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2012021804A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020197413A (ja) * 2019-05-31 2020-12-10 共進電機株式会社 プローブ及び太陽電池セル用測定装置
JP2021510828A (ja) * 2018-01-18 2021-04-30 エクセラ コーポレイション プリント回路基板を検査するための検査ニードル、検査プローブ、及びフライングプローブテスタ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021510828A (ja) * 2018-01-18 2021-04-30 エクセラ コーポレイション プリント回路基板を検査するための検査ニードル、検査プローブ、及びフライングプローブテスタ
US11774495B2 (en) 2018-01-18 2023-10-03 Atg Luther & Maelzer Gmbh Capacitive test needle for measuring electrically conductive layers in printed circuit board holes
JP2020197413A (ja) * 2019-05-31 2020-12-10 共進電機株式会社 プローブ及び太陽電池セル用測定装置
JP7130247B2 (ja) 2019-05-31 2022-09-05 共進電機株式会社 プローブ及び太陽電池セル用測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5325085B2 (ja) 接続装置
JP7148212B2 (ja) 検査治具、及び基板検査装置
JP2008309787A (ja) プローブカード用プローブ組立体
JP5822042B1 (ja) 検査治具、基板検査装置、及び検査治具の製造方法
CN110389243B (zh) 探针卡装置
TW200639411A (en) Resilient probes for electrical testing
JP2008309786A (ja) プローブ及びプローブ組立体、並びにこれを有するプローブカード
TWI591347B (zh) A probe unit, a substrate inspection apparatus, and a probe unit manufacturing method
JP2012098141A (ja) フレキシブル配線板の曲げ性評価方法及び繰返し曲げ試験装置
JP6703159B2 (ja) プローブユニット、プローブユニット製造方法および検査方法
JP2020517914A (ja) 電子デバイスの試験装置用のプローブカード
KR20190011765A (ko) 전기적 접속장치 및 접촉자
US20190265276A1 (en) Inspection jig, substrate inspection device, and method for manufacturing inspection jig
JP2012021804A (ja) フライング検査用接触子の保持構造及び回路基板のフライング検査装置
TWI669511B (zh) 探針卡測試裝置及測試裝置
JP2007279009A (ja) 接触子組立体
KR101295759B1 (ko) 프로브 장치 및 프로브 유닛
KR20220043184A (ko) 전자 소자용 프로브 헤드 및 그에 상응하는 프로브 카드
JP5396104B2 (ja) プローブ組立体
CN110836985A (zh) 探针、探针模组、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备
JP2013015422A (ja) 配線検査治具及び配線検査装置
TWI434045B (zh) Probe assembly
JP5745926B2 (ja) プローブ装置
JP2022058205A (ja) 導通検査用治具とプリント配線板の検査方法
JP2017181477A (ja) コンタクトプローブ装置