JP2020115515A - 撮像装置及び電子機器 - Google Patents

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Abstract

【課題】フレアを低減することができる撮像装置及び電子機器を提供する。【解決手段】本開示の一実施の形態の撮像装置は、光電変換を行う複数の画素を有する受光部と、前記受光部の光入射側に、前記受光部の受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さいピッチで設けられた複数のオンチップレンズと、前記オンチップレンズの光入射側に設けられた透明基板とを備える。【選択図】図1

Description

本開示は、撮像装置及びそのような撮像装置を用いた電子機器に関する。
撮像装置において、光電変換を行う画素の光入射面にオンチップレンズが設けられた構成が知られている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。オンチップレンズは、受光部に入射する光を集光することにより受光部における光電変換効率を高めるものである。
特許文献1では、1つの画素上の同一平面内に複数のオンチップレンズを稠密に設けた撮像装置が開示されている。
特許文献2では、画素が配列された画素領域と、オンチップレンズと、画素の境界に形成された遮光膜とを有する撮像装置が開示されている。
特開2013−143431号公報 特開2010−186818号公報
このような撮像装置では、フレアを低減することが望まれている。フレアは、画素への入射光が周期的に配置されたオンチップレンズ等において反射する際に回折現象が起こり、入射光が垂直に近い反射から遠い方向への反射等、いろいろな角度で反射し、入射すべき画素から離れた画素に入射すること等により発生する。
フレアを低減することができる撮像装置及び電子機器を提供することが望ましい。
本開示の一実施の形態における撮像装置は、受光部と、複数のオンチップレンズと、透明基板とを備える。受光部は、光電変換を行う複数の画素を有する。オンチップレンズは、受光部の光入射側に、受光部の受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さいピッチで設けられている。透明基板は、オンチップレンズの光入射側に設けられている。
本開示の一実施の形態における電子機器は、光学系と、撮像装置と、信号処理回路とを備えたものであり、撮像装置として、上記本開示の一実施の形態の撮像装置を有する。
本開示の一実施の形態における撮像装置及び電子機器では、撮像装置の受光部の光入射側にオンチップレンズが設けられており、オンチップレンズのピッチは、受光部の受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さい構成である。これにより、撮像装置に入射する受光対象の光がオンチップレンズで反射する際に生じる虞のある回折現象を抑制する。
本開示の一実施の形態に係る撮像装置の平面構成の一例を表す図である。 図1の撮像装置のI−I’における断面構成の一例を表す図である。 図1に係る撮像装置における反射光の回折現象の一例を表す図である。 図3Aの要部の拡大図である。 図1の撮像装置の受光部の受光対象である波長領域を表す図である。 図1の撮像装置の製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図5AのII−II’における断面構成の一例を表す図である。 図5AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図5Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図6AのII−II’における断面構成の一例を表す図である。 図6AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図6Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図7AのII−II’における断面構成の一例を表す図である。 図7AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図7Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図8AのII−II’における断面構成の一例を表す図である。 図8AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図8Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図9AのII−II’における断面構成の一例を表す図である。 図9AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図9Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図10AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図10Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図11AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図11Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図12AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図12Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図13AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図13Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図14AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図14Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図15AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 参考形態に係る撮像装置における反射光の回折現象の一例を表す図である。 図16Aの要部の拡大図である。 変形例Aに係る撮像装置の製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図17AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図17Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図18AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図18Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図19AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図19Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図20AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 図20Aに続く製造過程の平面構成の一例を表す図である。 図21AのIII−III’における断面構成の一例を表す図である。 変形例Bに係る撮像装置の受光部の受光対象である波長領域を表す図である。 変形例Cに係る撮像装置の受光部の受光対象である波長領域を表す図である。 変形例Dに係る撮像装置の断面構成の一例を表す図である。 図24の撮像装置の受光部の受光対象である波長領域を表す図である。 変形例Dに係る撮像装置の他の一例の受光部の受光対象である波長領域を表す図である。 変形例Dに係る撮像装置の他の一例の受光部の受光対象である波長領域を表す図である。 変形例Eに係る撮像装置の断面構成の一例を表す図である。 上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置を備えた電子機器の概略構成の一例を示すブロック図である。 上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置を備えた撮像システムの概略構成の一例を表す図である。 図30の撮像システムにおける撮像手順の一例を表す図である。 車両制御システムの概略的な構成の一例を示すブロック図である。 車外情報検出部及び撮像部の設置位置の一例を示す説明図である。 内視鏡手術システムの概略的な構成の一例を示す図である。 カメラヘッド及びCCUの機能構成の一例を示すブロック図である。
以下、本開示の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
1.実施の形態(撮像装置)…図1〜図15B
オンチップレンズのピッチが受光部の受光対象である波長領域の最も
長波長側の波長の長さよりも小さい例
2.変形例(撮像装置)
変形例A:オンチップレンズをエッチバックにより形成する例…図17A〜21B
変形例B:受光部の受光対象が紫外領域の光である例…図22
変形例C:受光部の受光対象が赤外領域の光である例…図23
変形例D:外部の光学フィルタを有する例…図24〜図27
変形例E:内蔵光学フィルタを有する例…図28
3.適用例
適用例1:上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置を
電子機器に適用した例…図29
適用例2:上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置を
撮像システムに適用した例…図30、図31
4.応用例
応用例1:上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置を
移動体に応用した例…図32、図33
応用例2:上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置を
手術システムに応用した例…図34、図35
<1.実施の形態>
[構成例]
図1は、本開示の一実施の形態に係る撮像装置1の平面構成の一例を表したものである。図2は、図1の撮像装置1のX−X’における断面構成の一例を表したものである。図1では、オンチップレンズ34とカラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、及び青フィルタ32B)とのレイアウトを示すために、透明基板37、接着層36、埋め込み層35、及び平坦化膜33を省略して表している。
撮像装置1は、半導体基板10、配線層24、遮光膜30、平坦化膜31、カラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、青フィルタ32B)、平坦化膜33、オンチップレンズ34、埋め込み層35、接着層36、及び透明基板37を有する。オンチップレンズ34は、本開示の「オンチップレンズ」の一具体例である。透明基板37は、本開示の「透明基板」の一具体例である。半導体基板10には、n型半導体領域11とp型半導体領域12とから、光電変換を行うフォトダイオードPDが設けられている。フォトダイオードPDは、p型半導体領域12等により画素PX毎に区分されている。このように、半導体基板10には、光電変換を行う複数の画素PXを有する受光部10Cが設けられている。受光部10Cは、本開示の「受光部」の一具体例である。図1では、4×4の16画素に対応する平面構成が示されており、図2では、4画素に対応する断面構成が示されている。撮像装置1の受光部10Cの受光対象である波長領域は、可視領域(例えば400nm以上700nm以下)である。
半導体基板10の一方の面10Aには、各画素PXにおいてフォトダイオードPD中に発生して蓄積された信号電荷を取り出す転送ゲート21が設けられている。さらに、配線22と、配線22を埋め込むように設けられた絶縁層23とから配線層24が設けられている。各画素PXのフォトダイオードPDから取り出された信号電荷は、配線層24を介して接続された信号処理回路(不図示)によりCDS(correlated double sampling)処理等の信号処理が施され、デジタル信号に変換されて外部に出力されるように構成されている。
半導体基板10の他方の面10Bには、1つの画素PXと隣接する画素PXとの境界領域に遮光膜30が設けられている。遮光膜30は、例えばアルミニウムやタングステン等の遮光性の金属あるいは他の遮光性の材料により形成されている。遮光膜30を被覆して平坦化膜31が形成されている。平坦化膜31は、例えば酸化シリコンや酸化ハフニウム等の光透過性の絶縁材料により形成されている。
平坦化膜31の上層には、カラーフィルタ32が形成されている。カラーフィルタ32は、例えば、赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、及び青フィルタ32Bを含み、1つの画素PXに対して、赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、及び青フィルタ32Bから選択された1つのフィルタが設けられている。ここで、撮像装置1の受光対象の波長領域が可視領域(400nm以上700nm以下)であり、赤画素に赤フィルタ、緑画素に緑フィルタ、青画素に青フィルタが、それぞれ形成されている。カラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、及び青フィルタ32B)は、各色の色素を含有する感光性ネガレジスト材料等により形成されている。例えば、カラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、及び青フィルタ32B)はベイヤー配列で設けられている。ベイヤー配列では、任意の2×2の4画素において、一方の対角に配置された2つの画素PXのカラーフィルタがともに緑フィルタ32Gである。また、他方の対角に配置された2つの画素PXのカラーフィルタは、それぞれ赤フィルタ32R及び青フィルタ32Bである。カラーフィルタ32は、赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、及び青フィルタ32Bに限定されず、例えば、赤フィルタ、緑フィルタ、青フィルタ、イエローフィルタ、マゼンタフィルタ、シアンフィルタ、及びグレーフィルタの少なくとも1つを含む構成であってもよい。
カラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、青フィルタ32B)の上層には、平坦化膜33が形成されている。平坦化膜33は、例えばアクリル樹脂等の光透過性の材料により形成されている。
平坦化膜33の上層には、複数のオンチップレンズ34が形成されている。オンチップレンズ34は、例えば熱可塑性のポジ型感光性樹脂あるいは窒化シリコン(屈折率1.95)等の光透過性の材料により形成されている。オンチップレンズ34は、受光部10Cの受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さいピッチで設けられている。受光部10Cの受光対象である波長領域は400nm以上700nm以下であるので、オンチップレンズ34のピッチは700nmより小さい。好ましくは、オンチップレンズ34は、受光部10Cの受光対象である波長領域の最も短波長側の波長の長さ(400nm)よりも小さいピッチで設けられている。これにより、撮像装置に入射する受光対象の光がオンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。回折現象の抑制については後述する。
ここで、1つのオンチップレンズ34は複数の画素PXにまたがらないような配置とする。1つのオンチップレンズ34が複数の画素PXにまたがって配置されると、混色の原因となるからである。画素PXの画素ピッチP(画素サイズ)が例えば1μm程度である場合、オンチップレンズ34のピッチが700nmより小さい構成とするためには、例えばオンチップレンズ34のピッチを画素ピッチPの1/2以下、例えば、1/2あるいは1/3とすることで実現できる。オンチップレンズ34のピッチを画素ピッチPの1/4以下としてもよい。但し、画素ピッチPの1/4以下のオンチップレンズ34は、形成することが困難な小ささとなってくる。オンチップレンズ34のピッチが画素ピッチPの1/2である場合は、1つの画素PXに2×2の4個のオンチップレンズ34が配置された構成となる。また、オンチップレンズ34のピッチが画素ピッチPの1/3である場合は、1つの画素PXに3×3の9個のオンチップレンズ34が配置された構成となる。
好ましくは、オンチップレンズ34のピッチが400nmより小さい構成であり、例えばオンチップレンズ34のピッチを画素ピッチPの1/2あるいは1/3とすることで実現できる。オンチップレンズ34のピッチを画素ピッチPの1/4以下としてもよい。
オンチップレンズ34の上層には、オンチップレンズ34の表面を封止する埋め込み層35が形成されている。埋め込み層35の上層には、接着層36を介して透明基板37が接着されている。
撮像装置1では、オンチップレンズ34と透明基板37との間に埋め込み層35が設けられている。撮像装置1とは異なり、透明基板37がオンチップレンズ34から離間してホルダ等に保持された構成の場合は、オンチップレンズ34と透明基板37との間に空間(キャビティ)が存在し、そのような構造の撮像装置をキャビティ型の撮像装置と称する。撮像装置1では、オンチップレンズ34と透明基板37との間に空間(キャビティ)が存在しておらず、そのような構造の撮像装置をキャビティレス型の撮像装置と称する。
キャビティ型の撮像装置では、透明基板をホルダ等で保持して空間(キャビティ)を設けており、透明基板を保持する構成や空間(キャビティ)を有する構成のために装置の小型化が困難となっているが、キャビティレス構造の撮像装置ではさらなる装置の小型化が可能である。
埋め込み層35は、例えば中空シリカ含有樹脂あるいはフッ素含有シロキサン樹脂(屈折率1.41)等の、オンチップレンズ34よりも屈折率が小さい光透過性の材料により形成されている。接着層36は、例えばエポキシ系樹脂等の光透過性の接着剤により形成されている。透明基板37は、例えばガラス基板(屈折率1.5)である。
撮像装置1では、透明基板37の光入射側の表面は、空気(屈折率1.0)と接しており、透明基板37及びオンチップレンズ34の屈折率は空気の屈折率より高い構成である。例えば、透明基板37がガラス基板(屈折率1.5)であり、オンチップレンズ34は窒化シリコン(屈折率1.95)で形成されている。さらに、埋め込み層35の屈折率は、空気の屈折率より高い構成である。例えば、埋め込み層35はフッ素含有シロキサン樹脂(屈折率1.41)で形成されている。
上記の構成の撮像装置1は、オンチップレンズ34やカラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、青フィルタ32B)等の繰り返しパターンを有する。これらの繰り返しパターンに起因して発生する反射光の回折現象については詳細に後述する。撮像装置1では、受光対象である波長領域は可視領域(例えば400nm以上700nm以下)であり、オンチップレンズ34は、上記のように受光部10Cの受光対象である波長領域の最も長波長側の波長(700nm)の長さよりも小さいピッチで設けられている。このため、図3A及び図3Bに示すように、受光対象である可視領域(例えば400nm以上700nm以下)のうちのオンチップレンズ34のピッチ以上の波長の光がオンチップレンズ34で反射する際に、回折現象が生じることを抑制できる。これにより、撮像装置1ではフレアの発生を抑制することが可能となっている。回折現象の抑制とフレアの抑制については、詳細に後述する。
図4は撮像装置1の受光部10Cの受光対象である波長領域の一例を表したものである。撮像装置1の受光対象の波長領域RM1は400nm以上700nm以下である。ここで、撮像装置1のオンチップレンズ34のピッチが波長λ1の大きさに相当する場合、波長λ1より長波長側の波長領域R1の光について、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。波長λ1が受光対象の波長領域の最も長波長側の波長(700nm)より小さいことにより、受光対象の波長領域RM1(400nm以上700nm以下)のうちの少なくとも一部(λ1以上700nm以下の光)について反射回折光の発生を抑制できる。波長λ1は、好ましくは受光対象の波長領域の最も短波長側の波長(400nm)より小さく、この場合には受光対象の波長領域RM1(400nm以上700nm以下)の全領域で反射回折光の発生を抑制できる。
[製造方法]
次に、撮像装置1の製造方法について説明する。図5A〜図15Bは、撮像装置1の製造過程の一例を表したものである。
まず、図5A、図5B、及び図5Cに示したように、半導体基板10に、イオン注入等によりn型半導体領域11とp型半導体領域12とを形成し、光電変換を行うフォトダイオードPDを形成する。次に、半導体基板10の面10Bに、例えばスパッタリング等によりアルミニウム等の遮光性の材料を堆積し、1つの画素PXと隣接する画素PXとの境界領域に残すようにパターン加工して、遮光膜30を形成する。
続いて、図6A、図6B、及び図6Cに示したように、例えばCVD(Chemical Vapor Deposition)法等により、酸化シリコン等の光透過性の絶縁材料を堆積し、平坦化膜31を形成する。
次に、図7A、図7B、及び図7Cに示したように、緑画素における平坦化膜31の上層に、緑色素を含有する感光性ネガレジスト材料により緑フィルタ32Gを形成する。緑フィルタ32Gの形成方法としては、例えば、緑色素を含有する感光性ネガレジスト材料を塗布し、プリベーク処理を行う。次に、感光性ネガレジスト材料に、緑画素において残すパターンに露光処理を行い、現像処理を行い、ポストベーク処理を行う。
続いて、図8A、図8B、及び図8Cに示したように、赤画素における平坦化膜31の上層に、赤色素を含有する感光性ネガレジスト材料により、上記の緑フィルタ32Gの形成と同様にして、赤フィルタ32Rを形成する。
次に、図9A、図9B、及び図9Cに示したように、青画素における平坦化膜31の上層に、青色素を含有する感光性ネガレジスト材料により、上記の緑フィルタ32Gの形成と同様にして、青フィルタ32Bを形成する。次の工程以降においては、図9A中のII−II’における断面構成とIII−III’における断面構成は同様の構成となるので、II−II’における断面構成については省略する。
続いて、図10A及び図10Bに示したように、カラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、青フィルタ32B)の上層にアクリル樹脂等の光透過性の材料を塗布し、ベーク処理を施して、平坦化膜33を形成する。
次に、図11A及び図11Bに示したように、例えば熱可塑性のポジ型感光性樹脂等の光透過性の材料を塗布し、プリベーク処理を施す。続いて、後述の熱リフロー処理後に形成されるオンチップレンズ34のピッチが700nmよりも小さくなるようなパターンで、露光処理及び現像処理を施し、樹脂層34Aを形成する。ここで、700nmは、受光部10Cの受光対象である波長領域の最も長波長側の波長である。次に、必要に応じて、樹脂層34Aにブリーチング(脱色)露光処理を施す。これは、樹脂層34Aに含まれる感光材にナフトキノンジアジドが用いられた場合、ナフトキノンジアジドが可視領域に光吸収を有するので、露光により脱色(透明性を付与)するためである。
続いて、図12A及び図12Bに示したように、樹脂層34Aの熱軟化点以上の温度(例えば、120℃〜180℃)でベーク処理を施すことで、樹脂層34Aを軟化(リフロー)させ、レンズ形状とすることでオンチップレンズ34を形成する。樹脂層34Aを熱軟化点以上の温度で軟化することで、樹脂層34Aの表面は表面張力によりレンズ形状の曲面となる。ここで、オンチップレンズ34の間に隙間が生じた場合には、その隙間を埋め込むように(隙間を小さくするように)窒化シリコンや酸窒化シリコン等の無機材料を形成してもよい。隙間を小さくすることでオンチップレンズ34の有効面積が大きくなり、撮像装置の感度特性が向上する。
次に、図13A及び図13Bに示したように、オンチップレンズ34の上層に中空シリカ含有樹脂等のオンチップレンズ34より屈折率が小さい光透過性の材料を塗布し、ベーク処理を施して、埋め込み層35を形成する。
続いて、図14A及び図14Bに示したように、埋め込み層35の上層にエポキシ系樹脂を塗布し、80℃以上120℃以下の温度でベーク処理を施し、接着層36を形成する。
次に、図15A及び図15Bに示したように、接着層36にガラス基板等の透明基板37を貼り合わせ、130℃以上200℃以下の温度でベーク処理を施し、透明基板を固定する。また、配線22と絶縁層23とを含む配線層24については、フォトダイオードPDの形成の後、遮光膜30の形成の前等において、適宜形成することができる。このようにして、撮像装置1が製造される。
[動作]
撮像装置1では、半導体基板10に設けられたフォトダイオードPDに、光入射側(透明基板37側)から受光対象の波長の光が入射すると、信号電荷が発生し、蓄積される。信号電荷は、転送ゲート21を介して各画素PXのフォトダイオードPDから取り出され、配線層24を介して接続された信号処理回路(不図示)によりCDS(correlated double sampling)処理等の信号処理が施され、デジタル信号に変換されて外部に出力される。
[作用・効果]
本実施の形態の撮像装置1は、オンチップレンズ34及びカラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、青フィルタ32B)等の繰り返しパターンを有する。オンチップレンズ34及びカラーフィルタ32等の繰り返しパターンに起因して発生する反射光の回折現象について説明する。
図3Aは、撮像装置1における反射光の回折現象の一例を表したものである。図3Bは図3Aの要部の拡大図である。半導体基板10に、カラーフィルタ32、オンチップレンズ34、及び埋め込み層35が形成され、透明基板37が接着されている。図3A及び図3Bでは、簡略化のために、配線層24、遮光膜30、平坦化膜31、平坦化膜33、及び接着層36の表示を省略している。撮像装置1では、1個の画素PXに対して、1個のカラーフィルタ32と、2×2の4個のオンチップレンズ34とが設けられている。画素ピッチPに対して、上記のようにベイヤー配列で設けられているカラーフィルタ32のピッチは2Pとなる。また、オンチップレンズ34のピッチは1/2Pとなる。
格子間隔dの回折格子において光が反射したときの回折現象を考えると、回折光が強め合う条件はdsinθ=mλとなる。ここで、θは回折角であり、λは光の波長であり、mは回折次数である。入射光LIが撮像装置1に入射し、カラーフィルタ32で反射した光の回折の場合、d=2Pとなり、2Psinθ=mλを満たす複数の反射回折光DL2が生じる。図3A及び図3Bでは、0次〜±4次までの反射回折光DL2を破線の矢印で示している。
一方、オンチップレンズ34で反射した光の回折の場合、d=1/2Pとなる。反射回折光DL1の光が強め合う条件の式は1/2Psinθ=mλとなる。ここで、オンチップレンズ34のピッチ(1/2P)がλより小さい場合、必ず発生する0次光以外の反射回折光は生じない。図3A及び図3Bでは、0次の反射回折光DL1を実線の矢印で示している。
撮像装置1では、受光対象である波長領域は可視領域(例えば400nm以上700nm以下)であり、オンチップレンズ34は、上記のように受光部10Cの受光対象である波長領域の最も長波長側の波長(700nm)の長さよりも小さいピッチで設けられている。このため、受光対象である可視領域(例えば400nm以上700nm以下)のうちのオンチップレンズ34のピッチ以上の波長の光について、撮像装置1に入射する受光対象の光がオンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。例えば、オンチップレンズ34のピッチが400nmより小さい場合、可視領域(例えば400nm以上700nm以下)の全領域の波長の光について、撮像装置1に入射する受光対象の光がオンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。撮像装置1のフレアは、カラーフィルタ32からの反射回折光と、オンチップレンズ34からの反射回折光とが重なった回折光が大きな要因となるが、撮像装置1では0次光が重なるのみである。0次光からはフレアは発生しないので、撮像装置1ではフレアの発生を抑制することが可能となっている。
上記の作用効果について、参考形態を用いて説明する。図16Aは、参考形態の撮像装置100における反射光の回折現象の一例を表す図であり、図16Bは図16Aの要部の拡大図である。撮像装置100では、1個の画素PXに対して、1個のカラーフィルタ132と、1個のオンチップレンズ134とが設けられている。画素PXの画素ピッチPに対して、カラーフィルタ132のピッチは2Pとなり、オンチップレンズ134のピッチはPとなる。入射光LIが撮像装置100に入射し、カラーフィルタ132で反射した光の回折の場合、2Psinθ=mλを満たす複数の反射回折光DL2が生じる。図16A及び図16Bでは、0次〜±4次までの反射回折光DL2を破線の矢印で示している。また、オンチップレンズ134で反射した光の回折の場合、Psinθ=mλを満たす複数の反射回折光DL1が生じる。図16A及び図16Bでは、0次〜±2次までの反射回折光DL1を実線の矢印で示している。カラーフィルタ132からの反射回折光DL2のうちの0次、±2次、±4次の反射回折光DL2と、オンチップレンズ134からの反射回折光DL1のうちの0次、±1次、±2次の反射回折光DL1とは、重なって特に強い回折光となる。図16Aにおいて、例えば、オンチップレンズ134の屈折率は約1.95(窒化シリコン)であり、埋め込み層135の屈折率は1.41(フッ素含有シロキサン樹脂)であり、透明基板137の屈折率は1.5(ガラス)である。透明基板137の埋め込み層135と反対側の面は空気(屈折率1.0)が接している。上記の各屈折率の部材の構成では、回折光は、図16Aに示されるように進行する。0次光は、透明基板137と空気の界面に対して略垂直に進行する光であり、0次光からはフレアは発生しない。また、±1次の反射回折光DL1と±2次の反射回折光DL2とが重なった回折光は、一部が透明基板137と空気の界面で反射するが、多くは空気の側に透過していき、フレアの大きな要因ではない。±2次の反射回折光DL1と±4次の反射回折光DL2とが重なった回折光は、透明基板137と空気の界面にておい全反射する場合がある。例えば透明基板137がガラスの場合、透明基板137と空気の界面に対する入射角φが41.8°より大きいときに、±2次の反射回折光DL1と±4次の反射回折光DL2とが重なった回折光は全反射する。透明基板137と空気の界面等で全反射した回折光は、本来光が入射しようとしていた画素PXから離れた画素PXに入射することでフレアFを引き起こす。
図16A及び図16Bに示す参考形態の撮像装置100において、埋め込み層135の部分が空間(キャビティ)となっているキャビティ型の撮像装置の場合は、反射屈折光が透明基板137と空気の界面において全反射しない場合がある。これは、回折反射光が空間(キャビティ)の部分(空気、屈折率1.0)から透明基板37(屈折率1.5)に入射する際に入射光LIの入射方向に大きく屈折するためであり、これにより、透明基板137と空気の界面に対する入射角φが41.8°より大きくならないからである。しかしながら、図16A及び図16Bに示すように、キャビティ型の撮像装置における空間(キャビティ)の部分に埋め込み層135が設けられているキャビティレス型の撮像装置では、上記のように透明基板137と空気の界面において反射屈折光が全反射してしまう場合があるため、キャビティ型の撮像装置よりフレアが発生しやすくなっている。
本実施の形態の撮像装置1では、受光対象である波長領域は可視領域(例えば400nm以上700nm以下)であり、オンチップレンズ34は、上記のように受光部10Cの受光対象である波長領域の最も長波長側の波長(700nm)の長さよりも小さいピッチで設けられている。このため、受光対象である可視領域(例えば400nm以上700nm以下)のうちのオンチップレンズ34のピッチ以上の波長の光について、撮像装置1に入射する受光対象の光がオンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。撮像装置1のフレアは、カラーフィルタ32からの反射回折光と、オンチップレンズ34からの反射回折光とが重なった回折光が大きな要因となるが、撮像装置1では0次光が重なるのみであり、0次光からはフレアは発生しないので、撮像装置1ではフレアの発生を抑制することが可能となっている。
以上説明したように、本実施の形態の撮像装置1では、装置の小型化を実現できるキャビティレス型でありながら、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制し、これによりフレアの発生を抑制することできる。
<2.変形例>
以下に、上記実施の形態に係る撮像装置1の変形例について説明する。なお、以下の変形例において、上記実施の形態と共通の構成に対しては、同一の符号が付与されている。
[変形例A]
上記の実施の形態に記載の撮像装置の製造方法においては、パターン加工された樹脂層34Aをリフローさせてオンチップレンズ34を形成していたが、これに限定されず、オンチップレンズ母材層34Bを形成し、オンチップレンズ母材層34Bにオンチップレンズの形状を転写することで形成してもよい。
変形例Aとしての撮像装置1Aの製造方法について説明する。図17A〜図21Bは、撮像装置1Aの製造過程の一例を表したものである。図9A、図9B、及び図9Cに示したカラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、青フィルタ32B)を形成する工程までは、上記の実施の形態で説明した製造方法と同様にして行う。
次に、図17A及び図17Bに示したように、カラーフィルタ32(赤フィルタ32R、緑フィルタ32G、青フィルタ32B)の上層に、金属酸化物フィラー含有樹脂等の光透過性の材料を塗布する。続いて、ベーク処理を施して、オンチップレンズ母材層34Bを形成する。金属酸化物フィラーは、例えば、酸化亜鉛、酸化ジルコニウム、酸化ニオブ、酸化チタン、あるいは酸化スズである。あるいは、オンチップレンズ母材層34Bは、窒化シリコンや酸窒化シリコンにより形成してもよい。
次に、図18A及び図18Bに示したように、例えば熱可塑性のポジ型感光性樹脂等の材料を塗布し、プリベーク処理を施す。続いて、後述の熱リフロー処理後に形成されるオンチップレンズパターン部34Dのピッチが受光部10Cの受光対象である波長領域の最も長波長側の波長(700nm)の長さよりも小さくなるようなパターンで、露光処理及び現像処理を施し、樹脂層34Cを形成する。
次に、図19A及び図19Bに示したように、樹脂層34Cの熱軟化点以上の温度(例えば、120℃以上180℃以下)でベーク処理を施すことで、樹脂層34Cを軟化(リフロー)させ、レンズ形状とすることでオンチップレンズパターン部34Dを形成する。
続いて、図20A及び図20Bに示したように、ドライエッチング等のエッチング処理で全面にエッチバックを行い、オンチップレンズ母材層34Bにオンチップレンズパターン部34Dの形状を転写して、オンチップレンズ母材層34Bをオンチップレンズ34に加工する。エッチバックに伴い、オンチップレンズパターン部34Dは消失している。上記のドライエッチングは、例えば、マイクロ波プラズマ型エッチング装置、平行平板型反応性イオンエッチング(RIE:Reactive Ion Etching)装置、高圧狭ギャップ型プラズマエッチング装置、ECR(Electron Cyclotron Resonance)型エッチング装置、変成器結合プラズマ型エッチング装置、誘導結合プラズマ型エッチング装置、ヘリコン波プラズマ型エッチング装置、あるいはその他の高密度プラズマ型エッチング装置を用いて行うことができる。また、ドライエッチングに用いられるエッチングガスとしては、O2、CF4、Cl2、N2、Ar等を適宜調整して用いることができる。ここで、オンチップレンズ34の間に隙間が生じた場合には、その隙間を埋め込むように(隙間を小さくするように)窒化シリコンや酸窒化シリコン等の無機材料を形成してもよい。隙間を小さくすることでオンチップレンズ34の有効面積が大きくなり、撮像装置の感度特性が向上する。オンチップレンズ母材層34Bを窒化シリコンや酸窒化シリコンにより形成した場合においても、オンチップレンズ34の間に隙間が生じた場合には、その隙間を埋め込むように窒化シリコンや酸窒化シリコン等の無機材料を形成してもよい。
次に、図21A及び図21Bに示したように、オンチップレンズ34の上層に中空シリカ含有樹脂等のオンチップレンズ34より屈折率が小さい光透過性の材料を塗布し、ベーク処理を施して、埋め込み層35を形成する。続いて、埋め込み層35の上層にエポキシ系樹脂を塗布し、80℃以上120℃以下の温度でベーク処理を施し、接着層36を形成する。次に、接着層36にガラス基板等の透明基板37を貼り合わせ、130℃以上200℃以下の温度でベーク処理を施し、透明基板を固定する。上記を除いては、実施の形態に記載の撮像装置の製造方法と同様である。このようにして、撮像装置1Aが製造される。
撮像装置1Aでは、上記の実施の形態の効果に加えて、リフローによりレンズ形状に加工することが難しい材料を用いてオンチップレンズ34を形成することが可能となる。
[変形例B]
上記の実施の形態においては、受光部10Cの受光対象である波長領域が可視領域(400nm以上700nm以下)であったが、これに限らず、受光部の受光対象が紫外領域(400nm以下)であってもよい。変形例Bとしての撮像装置1Bは、実施の形態の撮像装置1と同様の構成を有するが、受光対象の波長領域が異なっている。また、受光対象の波長領域が可視領域ではないことに対応して、撮像装置1Bではカラーフィルタ32が設けられていない、あるいは、カラーフィルタ32の代わりに透明層が設けられている。
図22は、撮像装置1Bの受光部10Cの受光対象である波長領域の一例を表したものである。撮像装置1Bの受光対象の波長領域RM2は、例えば200nm以上400nm以下である。ここで、撮像装置1Bのオンチップレンズ34のピッチが波長λ2の大きさに相当する場合、波長λ2より長波長側の波長領域R2の光について、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。波長λ2が受光対象の波長領域の最も長波長側の波長(400nm)より小さいことにより、受光対象の波長領域RM2(200nm以上400nm以下)のうちの少なくとも一部(λ2以上400nm以下の光)について反射回折光の発生を抑制できる。波長λ2は、好ましくは受光対象の波長領域の最も短波長側の波長(200nm)より小さく、この場合には受光対象の波長領域RM2(200nm以上400nm以下)の全領域で反射回折光の発生を抑制できる。このように、オンチップレンズ34からの反射回折光を抑制することにより、フレアの発生を抑制することができる。
[変形例C]
上記の実施の形態においては、受光部10Cの受光対象である波長領域が可視領域(400nm以上700nm以下)であったが、これに限らず、受光部の受光対象が赤外領域(650nm以上)であってもよい。変形例Cとしての撮像装置1Cは、実施の形態の撮像装置1と同様の構成を有するが、受光対象の波長領域が異なっている。また、受光対象の波長領域が可視領域ではないことに対応して、撮像装置1Cではカラーフィルタ32が設けられていない、あるいは、カラーフィルタ32の代わりに透明層が設けられている。
図23は、撮像装置1Cの受光部10Cの受光対象である波長領域の一例を表したものである。撮像装置1Cの受光対象の波長領域RM3は、例えば650nm以上1200nm以下である。ここで、撮像装置1Cのオンチップレンズ34のピッチが波長λ3の大きさに相当する場合、波長λ3より長波長側の波長領域R3の光について、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。波長λ3が受光対象の波長領域の最も長波長側の波長(1200nm)より小さいことにより、受光対象の波長領域RM3(650nm以上1200nm以下)のうちの少なくとも一部(λ3以上1200nm以下の光)について反射回折光の発生を抑制できる。波長λ3は、好ましくは受光対象の波長領域の最も短波長側の波長(650nm)より小さく、この場合には受光対象の波長領域RM3(650nm以上1200nm以下)の全領域で反射回折光の発生を抑制できる。このように、オンチップレンズ34からの反射回折光を抑制することにより、フレアの発生を抑制することができる。
[変形例D]
上記の実施の形態においては、受光部10Cの受光対象である波長領域以外の光の透過を抑制する光学フィルタが設けられていないが、これに限らず、変形例Dとしての撮像装置1Dでは、受光対象の波長領域以外の光の透過を抑制する光学フィルタが設けられている点で上記の実施の形態と異なる。
図24は、撮像装置1Dの断面構成の一例を表したものである。撮像装置1Dの受光対象の波長領域は可視領域(400nm以上700nm以下)である。透明基板37の光入射側に離間して、光学フィルタ40が配置されている。撮像装置1Dは、撮像装置の外部に光学フィルタが設けられている(外部の光学フィルタを有する)例である。光学フィルタ40は、例えば、紫外線カットフィルタ(400nm以下の光の透過を抑制するフィルタ)、赤外線カットフィルタ(700nm以上の光の透過を抑制するフィルタ)、あるいはそれらの組み合わせである。撮像装置1Dは、光学フィルタ40が設けられていることを除いて、実施の形態の撮像装置1と同様の構成を有する。
図25は、撮像装置1Dの受光部10Cの受光対象である波長領域及び光学フィルタの光学特性の一例を表したものである。撮像装置1Dの受光対象の波長領域RM1は、例えば400nm以上700nm以下である。光学フィルタ40の透過特性は実線SF1で示されている。光学フィルタ40は、400nm以下の光及び700nm以上の光の透過を抑制するフィルタ(可視パスフィルタ)である。例えば、紫外カットフィルタ及び赤外カットフィルタを組み合わせて実現できる。ここで、撮像装置1Dのオンチップレンズ34のピッチが波長λ1の大きさに相当する場合、波長λ1より長波長側の波長領域R1の光について、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。波長λ1が受光対象の波長領域の最も長波長側の波長(700nm)より小さいことにより、受光対象の波長領域RM1(400nm以上700nm以下)のうちの少なくとも一部(λ1以上700nm以下の光)について反射回折光の発生を抑制できる。波長λ1は、好ましくは受光対象の波長領域の最も短波長側の波長(400nm)より小さく、この場合には受光対象の波長領域RM1(400nm以上700nm以下)の全領域で反射回折光の発生を抑制できる。さらに、撮像装置1Dでは、400nm以下の光及び700nm以上の光の透過を抑制する光学フィルタ40が設けられている。特に400nm以下の光の透過が抑制されていることにより、400nm以下の波長領域F1の光についても反射回折光の発生が抑制されている。このように、オンチップレンズ34からの反射回折光を抑制することにより、フレアの発生を抑制することができる。
また、受光対象である波長領域は紫外領域(400nm以下)であってもよい。図26は、撮像装置1Dの受光部10Cの受光対象である波長領域及び光学フィルタの光学特性の他の一例を表したものである。受光対象の波長領域RM2は、例えば200nm〜400nmである。光学フィルタ40の透過特性は実線SF2で示されている。光学フィルタ40は、200nm以下の光及び400nm以上700nm以下の光の透過を抑制するフィルタ(紫外パスフィルタ)である。例えば、真空紫外カットフィルタ(200nm以下をカット)及び可視カットフィルタを組み合わせて実現できる。さらに赤外カットフィルタを組み合わせてもよい。ここで、オンチップレンズ34のピッチが波長λ2の大きさに相当する場合、波長λ2より長波長側の波長領域R2の光について、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。波長λ2が受光対象の波長領域の最も長波長側の波長(400nm)より小さいことにより、受光対象の波長領域RM2(200nm以上400nm以下)のうちの少なくとも一部(λ2以上400nm以下の光)について反射回折光の発生を抑制できる。波長λ2は、好ましくは受光対象の波長領域の最も短波長側の波長(200nm)より小さく、この場合には受光対象の波長領域RM2(200nm以上400nm以下)の全領域で反射回折光の発生を抑制できる。さらに、200nm以下の光及び400nm以上700nm以下の光の透過を抑制する光学フィルタ40が設けられている。特に200nm以下の光の透過が抑制されていることにより、200nm以下の波長領域F2の光についても反射回折光の発生が抑制されている。このように、オンチップレンズ34からの反射回折光を抑制することにより、フレアの発生を抑制することができる。
また、受光対象である波長領域が赤外領域(650nm以上)であってもよい。図27は、撮像装置1Dの受光部10Cの受光対象である波長領域及び光学フィルタの光学特性の他の一例を表したものである。受光対象の波長領域RM3は、例えば650nm以上1200nm以下である。光学フィルタ40の透過特性は実線SF3で示されている。光学フィルタ40は、約650nm以下の光の透過を抑制するフィルタ(赤外パスフィルタ)である。例えば、紫外カットフィルタ及び可視カットフィルタを組み合わせて実現できる。ここで、オンチップレンズ34のピッチが波長λ3の大きさに相当する場合、波長λ3より長波長側の波長領域R3の光について、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることを抑制できる。波長λ3が受光対象の波長領域の最も長波長側の波長(1200nm)より小さいことにより、受光対象の波長領域RM3(650nm以上1200nm以下)のうちの少なくとも一部(λ3以上1200nm以下の光)について反射回折光の発生を抑制できる。波長λ3は、好ましくは受光対象の波長領域の最も短波長側の波長(650nm)より小さく、この場合には受光対象の波長領域RM3(650nm以上1200nm以下)の全領域で反射回折光の発生を抑制できる。さらに、650nm以下の光の透過を抑制する光学フィルタ40が設けられている。これにより、650nm以下の波長領域F3の光についても反射回折光の発生が抑制されている。このように、オンチップレンズ34からの反射回折光を抑制することにより、フレアの発生を抑制することができる。
[変形例E]
上記の撮像装置1Dにおいては、透明基板37の光入射側に離間して、光学フィルタ40が配置されている(外部の光学フィルタを有する)構成であるが、これに限らず、オンチップレンズ34及び透明基板37の間等に、内蔵光学フィルタ41が撮像装置1Eに内蔵された構成であってもよい。
図28は、変形例Eとしての撮像装置1Eの断面構成の一例を表したものである。撮像装置1Eは、埋め込み層35の上層に、内蔵光学フィルタ41、接着層36、及び透明基板37がこの順に設けられている。内蔵光学フィルタ41は、受光部10Cの受光対象の波長領域に対応して、撮像装置1Dの光学フィルタ40と同様の構成とすることができる。即ち、例えば、受光対象の波長領域が可視領域(400nm以上700nm以下)である場合、内蔵光学フィルタ41は、400nm以下の光及び700nm以上の光の透過を抑制するフィルタ(可視パスフィルタ)である。例えば、紫外カットフィルタ及び赤外カットフィルタを組み合わせて実現できる。あるいは、例えば、受光対象の波長領域が紫外領域(400nm以下)である場合、内蔵光学フィルタ41は、200nm以下の光及び400nm以上700nm以下の光の透過を抑制するフィルタ(紫外パスフィルタ)である。例えば、真空紫外カットフィルタ(200nm以下をカット)及び可視カットフィルタを組み合わせて実現できる。さらに赤外カットフィルタを組み合わせてもよい。あるいは、例えば、受光対象の波長領域が赤外領域(650nm以上)である場合、内蔵光学フィルタ41は、約650nm以下の光の透過を抑制するフィルタ(赤外パスフィルタ)である。例えば、紫外カットフィルタ及び可視カットフィルタを組み合わせて実現できる。
撮像装置1Eでは、オンチップレンズ34で反射する際に回折現象が生じることが抑制され、さらに受光対象以外の光の透過を抑制する内蔵光学フィルタ41が設けられていることにより、フレアの発生を抑制することができる。
<3.適用例>
[適用例1]
上述した撮像装置1、1A〜1E(代表して撮像装置1とする)は、例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ等のカメラ、撮像機能を備えた携帯電話機、または、撮像機能を備えた他の機器といった各種の電子機器に適用することができる。
図29は、上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置を備えた電子機器の概略構成の一例を示すブロック図である。
図29に示される電子機器201は、光学系202、シャッタ装置203、撮像装置1、駆動回路205、信号処理回路206、モニタ207、及びメモリ208を備えて構成され、静止画像及び動画像を撮像可能である。
光学系202は、1枚または複数枚のレンズを有して構成され、被写体からの光(入射光)を撮像装置1に導き、撮像装置1の受光面に結像させる。
シャッタ装置203は、光学系202及び撮像装置1の間に配置され、駆動回路205の制御に従って、撮像装置1への光照射期間及び遮光期間を制御する。
撮像装置1は、上述した撮像装置を含むパッケージにより構成される。撮像装置1は、光学系202及びシャッタ装置203を介して受光面に結像される光に応じて、一定期間、信号電荷を蓄積する。撮像装置1に蓄積された信号電荷は、駆動回路205から供給される駆動信号(タイミング信号)に従って転送される。
駆動回路205は、撮像装置1の転送動作、及びシャッタ装置203のシャッタ操作を制御する駆動信号を出力して、撮像装置1及びシャッタ装置203を駆動する。
信号処理回路206は、撮像装置1から出力された信号電荷に対して各種の信号処理を施す。信号処理回路206が信号処理を施すことにより得られた画像(画像データ)は、モニタ207に供給されて表示されたり、メモリ208に供給されて記憶(記録)されたりする。
上記のように構成されている電子機器201においても、撮像装置1を適用することにより、フレアを低減した撮像を実現することが可能となる。
[適用例2]
図30は、上記の撮像装置1、1A〜1Eを備えた撮像システム2の概略構成の一例を表したものである。図30では、撮像装置1、1A〜1Eを代表して撮像装置1が示されている。以下、撮像装置1、1A〜1Eを代表して撮像装置1とする。
撮像システム2は、例えば、デジタルスチルカメラやビデオカメラ等の撮像装置や、スマートフォンやタブレット型端末等の携帯端末装置などの電子機器である。撮像システム2は、例えば、上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置1、DSP回路141、フレームメモリ142、表示部143、記憶部144、操作部145、及び電源部146を備えている。撮像システム2において、上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置1、DSP回路141、フレームメモリ142、表示部143、記憶部144、操作部145、及び電源部146は、バスライン147を介して相互に接続されている。
上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置1は、入射光に応じた画像データを出力する。DSP回路141は、上記実施の形態及びその変形例1〜Wに係る撮像装置1から出力される信号(画像データ)を処理する信号処理回路である。フレームメモリ142は、DSP回路141により処理された画像データを、フレーム単位で一時的に保持する。表示部143は、例えば、液晶パネルや有機EL(Electro Luminescence)パネル等のパネル型表示装置からなり、上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置1で撮像された動画又は静止画を表示する。記憶部144は、上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置1で撮像された動画又は静止画の画像データを、半導体メモリやハードディスク等の記録媒体に記録する。操作部145は、ユーザによる操作に従い、撮像システム2が有する各種の機能についての操作指令を発する。電源部146は、上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置1、DSP回路141、フレームメモリ142、表示部143、記憶部144、及び操作部145の動作電源となる各種の電源を、これら供給対象に対して適宜供給する。
次に、撮像システム2における撮像手順について説明する。
図31は、撮像システム2における撮像動作のフローチャートの一例を表す。ユーザは、操作部145を操作することにより撮像開始を指示する(ステップS101)。すると、操作部145は、撮像指令を撮像装置1に送信する(ステップS102)。撮像装置1(具体的にはシステム制御回路)は、撮像指令を受けると、所定の撮像方式での撮像を実行する(ステップS103)。
撮像装置1は、撮像により得られた画像データをDSP回路141に出力する。ここで、画像データとは、フローティングディフュージョンFDに一時的に保持された電荷に基づいて生成された画素信号の全画素分のデータである。DSP回路141は、撮像装置1から入力された画像データに基づいて所定の信号処理(例えばノイズ低減処理など)を行う(ステップS104)。DSP回路141は、所定の信号処理がなされた画像データをフレームメモリ142に保持させ、フレームメモリ142は、画像データを記憶部144に記憶させる(ステップS105)。このようにして、撮像システム2における撮像が行われる。
本適用例では、上記実施の形態及びその変形例A〜Eに係る撮像装置1が撮像システム2に適用される。これにより、撮像装置1のフレアを低減することができるので、フレアを低減した撮像システム2を提供することができる。
<4.応用例>
[応用例1]
本開示に係る技術(本技術)は、様々な製品へ応用することができる。例えば、本開示に係る技術は、自動車、電気自動車、ハイブリッド電気自動車、自動二輪車、自転車、パーソナルモビリティ、飛行機、ドローン、船舶、ロボット等のいずれかの種類の移動体に搭載される装置として実現されてもよい。
図32は、本開示に係る技術が適用され得る移動体制御システムの一例である車両制御システムの概略的な構成例を示すブロック図である。
車両制御システム12000は、通信ネットワーク12001を介して接続された複数の電子制御ユニットを備える。図32に示した例では、車両制御システム12000は、駆動系制御ユニット12010、ボディ系制御ユニット12020、車外情報検出ユニット12030、車内情報検出ユニット12040、及び統合制御ユニット12050を備える。また、統合制御ユニット12050の機能構成として、マイクロコンピュータ12051、音声画像出力部12052、及び車載ネットワークI/F(interface)12053が図示されている。
駆動系制御ユニット12010は、各種プログラムにしたがって車両の駆動系に関連する装置の動作を制御する。例えば、駆動系制御ユニット12010は、内燃機関又は駆動用モータ等の車両の駆動力を発生させるための駆動力発生装置、駆動力を車輪に伝達するための駆動力伝達機構、車両の舵角を調節するステアリング機構、及び、車両の制動力を発生させる制動装置等の制御装置として機能する。
ボディ系制御ユニット12020は、各種プログラムにしたがって車体に装備された各種装置の動作を制御する。例えば、ボディ系制御ユニット12020は、キーレスエントリシステム、スマートキーシステム、パワーウィンドウ装置、あるいは、ヘッドランプ、バックランプ、ブレーキランプ、ウィンカー又はフォグランプ等の各種ランプの制御装置として機能する。この場合、ボディ系制御ユニット12020には、鍵を代替する携帯機から発信される電波又は各種スイッチの信号が入力され得る。ボディ系制御ユニット12020は、これらの電波又は信号の入力を受け付け、車両のドアロック装置、パワーウィンドウ装置、ランプ等を制御する。
車外情報検出ユニット12030は、車両制御システム12000を搭載した車両の外部の情報を検出する。例えば、車外情報検出ユニット12030には、撮像部12031が接続される。車外情報検出ユニット12030は、撮像部12031に車外の画像を撮像させるとともに、撮像された画像を受信する。車外情報検出ユニット12030は、受信した画像に基づいて、人、車、障害物、標識又は路面上の文字等の物体検出処理又は距離検出処理を行ってもよい。
撮像部12031は、光を受光し、その光の受光量に応じた電気信号を出力する光センサである。撮像部12031は、電気信号を画像として出力することもできるし、測距の情報として出力することもできる。また、撮像部12031が受光する光は、可視光であっても良いし、赤外線等の非可視光であっても良い。
車内情報検出ユニット12040は、車内の情報を検出する。車内情報検出ユニット12040には、例えば、運転者の状態を検出する運転者状態検出部12041が接続される。運転者状態検出部12041は、例えば運転者を撮像するカメラを含み、車内情報検出ユニット12040は、運転者状態検出部12041から入力される検出情報に基づいて、運転者の疲労度合い又は集中度合いを算出してもよいし、運転者が居眠りをしていないかを判別してもよい。
マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車内外の情報に基づいて、駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置の制御目標値を演算し、駆動系制御ユニット12010に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両の衝突回避あるいは衝撃緩和、車間距離に基づく追従走行、車速維持走行、車両の衝突警告、又は車両のレーン逸脱警告等を含むADAS(Advanced Driver Assistance System)の機能実現を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030又は車内情報検出ユニット12040で取得される車両の周囲の情報に基づいて駆動力発生装置、ステアリング機構又は制動装置等を制御することにより、運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
また、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で取得される車外の情報に基づいて、ボディ系制御ユニット12020に対して制御指令を出力することができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車外情報検出ユニット12030で検知した先行車又は対向車の位置に応じてヘッドランプを制御し、ハイビームをロービームに切り替える等の防眩を図ることを目的とした協調制御を行うことができる。
音声画像出力部12052は、車両の搭乗者又は車外に対して、視覚的又は聴覚的に情報を通知することが可能な出力装置へ音声及び画像のうちの少なくとも一方の出力信号を送信する。図32の例では、出力装置として、オーディオスピーカ12061、表示部12062及びインストルメントパネル12063が例示されている。表示部12062は、例えば、オンボードディスプレイ及びヘッドアップディスプレイの少なくとも一つを含んでいてもよい。
図33は、撮像部12031の設置位置の例を示す図である。
図33では、車両12100は、撮像部12031として、撮像部12101,12102,12103,12104,12105を有する。
撮像部12101,12102,12103,12104,12105は、例えば、車両12100のフロントノーズ、サイドミラー、リアバンパ、バックドア及び車室内のフロントガラスの上部等の位置に設けられる。フロントノーズに備えられる撮像部12101及び車室内のフロントガラスの上部に備えられる撮像部12105は、主として車両12100の前方の画像を取得する。サイドミラーに備えられる撮像部12102,12103は、主として車両12100の側方の画像を取得する。リアバンパ又はバックドアに備えられる撮像部12104は、主として車両12100の後方の画像を取得する。撮像部12101及び12105で取得される前方の画像は、主として先行車両又は、歩行者、障害物、信号機、交通標識又は車線等の検出に用いられる。
なお、図33には、撮像部12101ないし12104の撮影範囲の一例が示されている。撮像範囲12111は、フロントノーズに設けられた撮像部12101の撮像範囲を示し、撮像範囲12112,12113は、それぞれサイドミラーに設けられた撮像部12102,12103の撮像範囲を示し、撮像範囲12114は、リアバンパ又はバックドアに設けられた撮像部12104の撮像範囲を示す。例えば、撮像部12101ないし12104で撮像された画像データが重ね合わせられることにより、車両12100を上方から見た俯瞰画像が得られる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、距離情報を取得する機能を有していてもよい。例えば、撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、複数の撮像素子からなるステレオカメラであってもよいし、位相差検出用の画素を有する撮像素子であってもよい。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を基に、撮像範囲12111ないし12114内における各立体物までの距離と、この距離の時間的変化(車両12100に対する相対速度)を求めることにより、特に車両12100の進行路上にある最も近い立体物で、車両12100と略同じ方向に所定の速度(例えば、0km/h以上)で走行する立体物を先行車として抽出することができる。さらに、マイクロコンピュータ12051は、先行車の手前に予め確保すべき車間距離を設定し、自動ブレーキ制御(追従停止制御も含む)や自動加速制御(追従発進制御も含む)等を行うことができる。このように運転者の操作に拠らずに自律的に走行する自動運転等を目的とした協調制御を行うことができる。
例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104から得られた距離情報を元に、立体物に関する立体物データを、2輪車、普通車両、大型車両、歩行者、電柱等その他の立体物に分類して抽出し、障害物の自動回避に用いることができる。例えば、マイクロコンピュータ12051は、車両12100の周辺の障害物を、車両12100のドライバが視認可能な障害物と視認困難な障害物とに識別する。そして、マイクロコンピュータ12051は、各障害物との衝突の危険度を示す衝突リスクを判断し、衝突リスクが設定値以上で衝突可能性がある状況であるときには、オーディオスピーカ12061や表示部12062を介してドライバに警報を出力することや、駆動系制御ユニット12010を介して強制減速や回避操舵を行うことで、衝突回避のための運転支援を行うことができる。
撮像部12101ないし12104の少なくとも1つは、赤外線を検出する赤外線カメラであってもよい。例えば、マイクロコンピュータ12051は、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在するか否かを判定することで歩行者を認識することができる。かかる歩行者の認識は、例えば赤外線カメラとしての撮像部12101ないし12104の撮像画像における特徴点を抽出する手順と、物体の輪郭を示す一連の特徴点にパターンマッチング処理を行って歩行者か否かを判別する手順によって行われる。マイクロコンピュータ12051が、撮像部12101ないし12104の撮像画像中に歩行者が存在すると判定し、歩行者を認識すると、音声画像出力部12052は、当該認識された歩行者に強調のための方形輪郭線を重畳表示するように、表示部12062を制御する。また、音声画像出力部12052は、歩行者を示すアイコン等を所望の位置に表示するように表示部12062を制御してもよい。
以上、本開示に係る技術が適用され得る移動体制御システムの一例について説明した。本開示に係る技術は、以上説明した構成のうち、撮像部12031に適用され得る。具体的には、上記実施の形態及びその変形例に係る撮像装置1は、撮像部12031に適用することができる。撮像部12031に本開示に係る技術を適用することにより、フレアを低減した高精細な撮影画像を得ることができるので、移動体制御システムにおいて撮影画像を利用した高精度な制御を行うことができる。
[応用例2]
図34は、本開示に係る技術(本技術)が適用され得る内視鏡手術システムの概略的な構成の一例を示す図である。
図34では、術者(医師)11131が、内視鏡手術システム11000を用いて、患者ベッド11133上の患者11132に手術を行っている様子が図示されている。図示するように、内視鏡手術システム11000は、内視鏡11100と、気腹チューブ11111やエネルギー処置具11112等の、その他の術具11110と、内視鏡11100を支持する支持アーム装置11120と、内視鏡下手術のための各種の装置が搭載されたカート11200と、から構成される。
内視鏡11100は、先端から所定の長さの領域が患者11132の体腔内に挿入される鏡筒11101と、鏡筒11101の基端に接続されるカメラヘッド11102と、から構成される。図示する例では、硬性の鏡筒11101を有するいわゆる硬性鏡として構成される内視鏡11100を図示しているが、内視鏡11100は、軟性の鏡筒を有するいわゆる軟性鏡として構成されてもよい。
鏡筒11101の先端には、対物レンズが嵌め込まれた開口部が設けられている。内視鏡11100には光源装置11203が接続されており、当該光源装置11203によって生成された光が、鏡筒11101の内部に延設されるライトガイドによって当該鏡筒の先端まで導光され、対物レンズを介して患者11132の体腔内の観察対象に向かって照射される。なお、内視鏡11100は、直視鏡であってもよいし、斜視鏡又は側視鏡であってもよい。
カメラヘッド11102の内部には光学系及び撮像素子が設けられており、観察対象からの反射光(観察光)は当該光学系によって当該撮像素子に集光される。当該撮像素子によって観察光が光電変換され、観察光に対応する電気信号、すなわち観察像に対応する画像信号が生成される。当該画像信号は、RAWデータとしてカメラコントロールユニット(CCU: Camera Control Unit)11201に送信される。
CCU11201は、CPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics Processing Unit)等によって構成され、内視鏡11100及び表示装置11202の動作を統括的に制御する。さらに、CCU11201は、カメラヘッド11102から画像信号を受け取り、その画像信号に対して、例えば現像処理(デモザイク処理)等の、当該画像信号に基づく画像を表示するための各種の画像処理を施す。
表示装置11202は、CCU11201からの制御により、当該CCU11201によって画像処理が施された画像信号に基づく画像を表示する。
光源装置11203は、例えばLED(Light Emitting Diode)等の光源から構成され、術部等を撮影する際の照射光を内視鏡11100に供給する。
入力装置11204は、内視鏡手術システム11000に対する入力インタフェースである。ユーザは、入力装置11204を介して、内視鏡手術システム11000に対して各種の情報の入力や指示入力を行うことができる。例えば、ユーザは、内視鏡11100による撮像条件(照射光の種類、倍率及び焦点距離等)を変更する旨の指示等を入力する。
処置具制御装置11205は、組織の焼灼、切開又は血管の封止等のためのエネルギー処置具11112の駆動を制御する。気腹装置11206は、内視鏡11100による視野の確保及び術者の作業空間の確保の目的で、患者11132の体腔を膨らめるために、気腹チューブ11111を介して当該体腔内にガスを送り込む。レコーダ11207は、手術に関する各種の情報を記録可能な装置である。プリンタ11208は、手術に関する各種の情報を、テキスト、画像又はグラフ等各種の形式で印刷可能な装置である。
なお、内視鏡11100に術部を撮影する際の照射光を供給する光源装置11203は、例えばLED、レーザ光源又はこれらの組み合わせによって構成される白色光源から構成することができる。RGBレーザ光源の組み合わせにより白色光源が構成される場合には、各色(各波長)の出力強度及び出力タイミングを高精度に制御することができるため、光源装置11203において撮像画像のホワイトバランスの調整を行うことができる。また、この場合には、RGBレーザ光源それぞれからのレーザ光を時分割で観察対象に照射し、その照射タイミングに同期してカメラヘッド11102の撮像素子の駆動を制御することにより、RGBそれぞれに対応した画像を時分割で撮像することも可能である。当該方法によれば、当該撮像素子にカラーフィルタを設けなくても、カラー画像を得ることができる。
また、光源装置11203は、出力する光の強度を所定の時間ごとに変更するようにその駆動が制御されてもよい。その光の強度の変更のタイミングに同期してカメラヘッド11102の撮像素子の駆動を制御して時分割で画像を取得し、その画像を合成することにより、いわゆる黒つぶれ及び白とびのない高ダイナミックレンジの画像を生成することができる。
また、光源装置11203は、特殊光観察に対応した所定の波長帯域の光を供給可能に構成されてもよい。特殊光観察では、例えば、体組織における光の吸収の波長依存性を利用して、通常の観察時における照射光(すなわち、白色光)に比べて狭帯域の光を照射することにより、粘膜表層の血管等の所定の組織を高コントラストで撮影する、いわゆる狭帯域光観察(Narrow Band Imaging)が行われる。あるいは、特殊光観察では、励起光を照射することにより発生する蛍光により画像を得る蛍光観察が行われてもよい。蛍光観察では、体組織に励起光を照射し当該体組織からの蛍光を観察すること(自家蛍光観察)、又はインドシアニングリーン(ICG)等の試薬を体組織に局注するとともに当該体組織にその試薬の蛍光波長に対応した励起光を照射し蛍光像を得ること等を行うことができる。光源装置11203は、このような特殊光観察に対応した狭帯域光及び/又は励起光を供給可能に構成され得る。
図35は、図34に示すカメラヘッド11102及びCCU11201の機能構成の一例を示すブロック図である。
カメラヘッド11102は、レンズユニット11401と、撮像部11402と、駆動部11403と、通信部11404と、カメラヘッド制御部11405と、を有する。CCU11201は、通信部11411と、画像処理部11412と、制御部11413と、を有する。カメラヘッド11102とCCU11201とは、伝送ケーブル11400によって互いに通信可能に接続されている。
レンズユニット11401は、鏡筒11101との接続部に設けられる光学系である。鏡筒11101の先端から取り込まれた観察光は、カメラヘッド11102まで導光され、当該レンズユニット11401に入射する。レンズユニット11401は、ズームレンズ及びフォーカスレンズを含む複数のレンズが組み合わされて構成される。
撮像部11402は、撮像素子で構成される。撮像部11402を構成する撮像素子は、1つ(いわゆる単板式)であってもよいし、複数(いわゆる多板式)であってもよい。撮像部11402が多板式で構成される場合には、例えば各撮像素子によってRGBそれぞれに対応する画像信号が生成され、それらが合成されることによりカラー画像が得られてもよい。あるいは、撮像部11402は、3D(Dimensional)表示に対応する右目用及び左目用の画像信号をそれぞれ取得するための1対の撮像素子を有するように構成されてもよい。3D表示が行われることにより、術者11131は術部における生体組織の奥行きをより正確に把握することが可能になる。なお、撮像部11402が多板式で構成される場合には、各撮像素子に対応して、レンズユニット11401も複数系統設けられ得る。
また、撮像部11402は、必ずしもカメラヘッド11102に設けられなくてもよい。例えば、撮像部11402は、鏡筒11101の内部に、対物レンズの直後に設けられてもよい。
駆動部11403は、アクチュエータによって構成され、カメラヘッド制御部11405からの制御により、レンズユニット11401のズームレンズ及びフォーカスレンズを光軸に沿って所定の距離だけ移動させる。これにより、撮像部11402による撮像画像の倍率及び焦点が適宜調整され得る。
通信部11404は、CCU11201との間で各種の情報を送受信するための通信装置によって構成される。通信部11404は、撮像部11402から得た画像信号をRAWデータとして伝送ケーブル11400を介してCCU11201に送信する。
また、通信部11404は、CCU11201から、カメラヘッド11102の駆動を制御するための制御信号を受信し、カメラヘッド制御部11405に供給する。当該制御信号には、例えば、撮像画像のフレームレートを指定する旨の情報、撮像時の露出値を指定する旨の情報、並びに/又は撮像画像の倍率及び焦点を指定する旨の情報等、撮像条件に関する情報が含まれる。
なお、上記のフレームレートや露出値、倍率、焦点等の撮像条件は、ユーザによって適宜指定されてもよいし、取得された画像信号に基づいてCCU11201の制御部11413によって自動的に設定されてもよい。後者の場合には、いわゆるAE(Auto Exposure)機能、AF(Auto Focus)機能及びAWB(Auto White Balance)機能が内視鏡11100に搭載されていることになる。
カメラヘッド制御部11405は、通信部11404を介して受信したCCU11201からの制御信号に基づいて、カメラヘッド11102の駆動を制御する。
通信部11411は、カメラヘッド11102との間で各種の情報を送受信するための通信装置によって構成される。通信部11411は、カメラヘッド11102から、伝送ケーブル11400を介して送信される画像信号を受信する。
また、通信部11411は、カメラヘッド11102に対して、カメラヘッド11102の駆動を制御するための制御信号を送信する。画像信号や制御信号は、電気通信や光通信等によって送信することができる。
画像処理部11412は、カメラヘッド11102から送信されたRAWデータである画像信号に対して各種の画像処理を施す。
制御部11413は、内視鏡11100による術部等の撮像、及び、術部等の撮像により得られる撮像画像の表示に関する各種の制御を行う。例えば、制御部11413は、カメラヘッド11102の駆動を制御するための制御信号を生成する。
また、制御部11413は、画像処理部11412によって画像処理が施された画像信号に基づいて、術部等が映った撮像画像を表示装置11202に表示させる。この際、制御部11413は、各種の画像認識技術を用いて撮像画像内における各種の物体を認識してもよい。例えば、制御部11413は、撮像画像に含まれる物体のエッジの形状や色等を検出することにより、鉗子等の術具、特定の生体部位、出血、エネルギー処置具11112の使用時のミスト等を認識することができる。制御部11413は、表示装置11202に撮像画像を表示させる際に、その認識結果を用いて、各種の手術支援情報を当該術部の画像に重畳表示させてもよい。手術支援情報が重畳表示され、術者11131に提示されることにより、術者11131の負担を軽減することや、術者11131が確実に手術を進めることが可能になる。
カメラヘッド11102及びCCU11201を接続する伝送ケーブル11400は、電気信号の通信に対応した電気信号ケーブル、光通信に対応した光ファイバ、又はこれらの複合ケーブルである。
ここで、図示する例では、伝送ケーブル11400を用いて有線で通信が行われていたが、カメラヘッド11102とCCU11201との間の通信は無線で行われてもよい。
以上、本開示に係る技術が適用され得る内視鏡手術システムの一例について説明した。本開示に係る技術は、以上説明した構成のうち、内視鏡11100のカメラヘッド11102に設けられた撮像部11402に好適に適用され得る。撮像部11402に本開示に係る技術を適用することにより、フレアを低減して撮像部11402を小型化もしくは高精細化することができるので、フレアを低減した小型化もしくは高精細な内視鏡11100を提供することができる。
以上、実施の形態及びその変形例A〜E、適用例ならびに応用例を挙げて本開示を説明したが、本開示は上記実施の形態等に限定されるものではなく、種々変形が可能である。
上記実施の形態及び変形例では、可視領域、紫外領域、あるいは赤外領域を受光対象とする撮像装置の構成について説明したが、これに限定されるものではなく、これに代えて、可視領域、紫外領域、及び赤外領域を組み合わせた波長領域、あるいはその他の波長領域を受光対象とする構成にも適用できる。
なお、本明細書中に記載された効果は、あくまで例示である。本開示の効果は、本明細書中に記載された効果に限定されるものではない。本開示が、本明細書中に記載された効果以外の効果を持っていてもよい。
なお、本技術は以下のような構成とすることができる。以下の構成の本技術によれば、フレアを低減することができる。
(1)光電変換を行う複数の画素を有する受光部と、
前記受光部の光入射側に、前記受光部の受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さいピッチで設けられた複数のオンチップレンズと、
前記オンチップレンズの光入射側に設けられた透明基板と
を備えた撮像装置。
(2)前記ピッチは、前記波長領域の最も短波長側の波長の長さ以下である
前記(1)に記載の撮像装置。
(3)前記透明基板及び前記オンチップレンズの屈折率は空気の屈折率より高く、
前記透明基板の光入射側の表面は、空気と接している
前記(1)または(2)に記載の撮像装置。
(4)前記オンチップレンズと前記透明基板との間は、埋め込み層で埋められている
前記(1)から(3)のいずれかに記載の撮像装置。
(5)前記透明基板、前記埋め込み層、及び前記オンチップレンズの屈折率は、空気の屈折率より高い
前記(4)に記載の撮像装置。
(6)前記ピッチは、前記画素の画素ピッチの1/2以下である
前記(1)から(5)のいずれかに記載の撮像装置。
(7)前記波長領域は、400nm以上700nm以下の可視領域である
前記(1)から(6)のいずれかに記載の撮像装置。
(8)前記受光部と前記オンチップレンズとの間に、カラーフィルタがさらに設けられている
前記(7)に記載の撮像装置。
(9)前カラーフィルタは、1つの前記画素に対して1つ設けられている
前記(8)に記載の撮像装置。
(10)前記カラーフィルタは、赤フィルタ、緑フィルタ、青フィルタ、イエローフィルタ、マゼンタフィルタ、シアンフィルタ、及びグレーフィルタの少なくとも1つを含む
前記(8)に記載の撮像装置。
(11)前記カラーフィルタは、赤フィルタ、緑フィルタ、及び青フィルタを含む
前記(10)に記載の撮像装置。
(12)前記波長領域は、400nm以下の紫外領域である
前記(1)から(6)のいずれかに記載の撮像装置。
(13)前記波長領域は、650nm以上の赤外領域である
前記(1)から(6)のいずれかに記載の撮像装置。
(14)前記波長領域を除く波長の光の少なくとも一部を吸収または反射する光学フィルタがさらに設けられている
前記(1)から(13)のいずれかに記載の撮像装置。
(15)前記光学フィルタは、前記オンチップレンズと前記受光部との間に設けられている
前記(14)に記載の撮像装置。
(16)前記光学フィルタは、透明基板から離間して配置されている
前記(14)に記載の撮像装置。
(17)前記波長領域は、400nm以上700nm以下の可視領域であり、
前記光学フィルタは、400nm以下の光と700nm以上の光とのうちの少なくとも一部を吸収または反射する
前記(14)に記載の撮像装置。
(18)前記波長領域は、400nm以下の紫外領域であり、
前記光学フィルタは、前記波長領域の最も短波長側の波長以下の光の少なくとも一部を吸収または反射する
前記(14)に記載の撮像装置。
(19)前記波長領域は、650nm以上の赤外領域であり、
前記光学フィルタは、650nm以下の光の少なくとも一部を吸収または反射する
前記(14)に記載の撮像装置。
(20)光学系と、
撮像装置と、
信号処理回路とを備え、
前記撮像装置は、
光電変換を行う複数の画素を有する受光部と、
前記受光部の光入射側に、前記受光部の受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さいピッチで設けられた複数のオンチップレンズと、
前記オンチップレンズの光入射側に設けられた透明基板と
を有する電子機器。
1…撮像装置、10…半導体基板、10A…一方の面、10B…他方の面、10C…受光部、11…n型半導体領域、12…p型半導体領域、21…転送ゲート、22…配線、23…絶縁層、24…配線層、30…遮光膜、31…平坦化膜、32…カラーフィルタ、32R…赤フィルタ、32G…緑フィルタ、32B…青フィルタ、33…平坦化膜、34…オンチップレンズ、34A…樹脂層、34B…オンチップレンズ母材層、34C…樹脂層、34D…オンチップレンズパターン部、35…埋め込み層、36…接着層、37…透明基板、40…光学フィルタ、41…内蔵光学フィルタ、PX…画素、P…画素ピッチ。

Claims (20)

  1. 光電変換を行う複数の画素を有する受光部と、
    前記受光部の光入射側に、前記受光部の受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さいピッチで設けられた複数のオンチップレンズと、
    前記オンチップレンズの光入射側に設けられた透明基板と
    を備えた撮像装置。
  2. 前記ピッチは、前記波長領域の最も短波長側の波長の長さ以下である
    請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記透明基板及び前記オンチップレンズの屈折率は空気の屈折率より高く、
    前記透明基板の光入射側の表面は、空気と接している
    請求項1に記載の撮像装置。
  4. 前記オンチップレンズと前記透明基板との間は、埋め込み層で埋められている
    請求項1に記載の撮像装置。
  5. 前記透明基板、前記埋め込み層、及び前記オンチップレンズの屈折率は、空気の屈折率より高い
    請求項4に記載の撮像装置。
  6. 前記ピッチは、前記画素の画素ピッチの1/2以下である
    請求項1に記載の撮像装置。
  7. 前記波長領域は、400nm以上700nm以下の可視領域である
    請求項1に記載の撮像装置。
  8. 前記受光部と前記オンチップレンズとの間に、カラーフィルタがさらに設けられている
    請求項7に記載の撮像装置。
  9. 前カラーフィルタは、1つの前記画素に対して1つ設けられている
    請求項8に記載の撮像装置。
  10. 前記カラーフィルタは、赤フィルタ、緑フィルタ、青フィルタ、イエローフィルタ、マゼンタフィルタ、シアンフィルタ、及びグレーフィルタの少なくとも1つを含む
    請求項8に記載の撮像装置。
  11. 前記カラーフィルタは、赤フィルタ、緑フィルタ、及び青フィルタを含む
    請求項10に記載の撮像装置。
  12. 前記波長領域は、400nm以下の紫外領域である
    請求項1に記載の撮像装置。
  13. 前記波長領域は、650nm以上の赤外領域である
    請求項1に記載の撮像装置。
  14. 前記波長領域を除く波長の光の少なくとも一部を吸収または反射する光学フィルタがさらに設けられている
    請求項1に記載の撮像装置。
  15. 前記光学フィルタは、前記オンチップレンズと前記受光部との間に設けられている
    請求項14に記載の撮像装置。
  16. 前記光学フィルタは、透明基板から離間して配置されている
    請求項14に記載の撮像装置。
  17. 前記波長領域は、400nm以上700nm以下の可視領域であり、
    前記光学フィルタは、400nm以下の光と700nm以上の光とのうちの少なくとも一部を吸収または反射する
    請求項14に記載の撮像装置。
  18. 前記波長領域は、400nm以下の紫外領域であり、
    前記光学フィルタは、前記波長領域の最も短波長側の波長以下の光の少なくとも一部を吸収または反射する
    請求項14に記載の撮像装置。
  19. 前記波長領域は、650nm以上の赤外領域であり、
    前記光学フィルタは、650nm以下の光の少なくとも一部を吸収または反射する
    請求項14に記載の撮像装置。
  20. 光学系と、
    撮像装置と、
    信号処理回路とを備え、
    前記撮像装置は、
    光電変換を行う複数の画素を有する受光部と、
    前記受光部の光入射側に、前記受光部の受光対象である波長領域の最も長波長側の波長の長さよりも小さいピッチで設けられた複数のオンチップレンズと、
    前記オンチップレンズの光入射側に設けられた透明基板と
    を有する電子機器。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022080186A1 (ja) * 2020-10-13 2022-04-21 凸版印刷株式会社 光学構造
WO2023074136A1 (ja) * 2021-10-26 2023-05-04 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体装置、機器及び半導体装置の製造方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20220231074A1 (en) * 2021-01-19 2022-07-21 Visera Technologies Company Limited Image sensor
JP2024075806A (ja) * 2021-03-30 2024-06-05 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置
WO2023162651A1 (ja) * 2022-02-28 2023-08-31 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 受光素子、および電子機器

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09229763A (ja) 1996-02-22 1997-09-05 Osaka Gas Co Ltd 火炎センサ
JP2000068491A (ja) * 1998-08-24 2000-03-03 Nikon Corp 撮像素子、撮像素子の製造方法および露光装置
JP4551638B2 (ja) 2003-08-01 2010-09-29 富士フイルム株式会社 固体撮像装置の製造方法
JP5013788B2 (ja) 2006-09-11 2012-08-29 キヤノン株式会社 撮像装置及びその製造方法
JP4798232B2 (ja) 2009-02-10 2011-10-19 ソニー株式会社 固体撮像装置とその製造方法、及び電子機器
JP6035744B2 (ja) 2012-01-10 2016-11-30 凸版印刷株式会社 固体撮像素子
WO2013150742A1 (ja) * 2012-04-04 2013-10-10 パナソニック株式会社 光学素子、それを備えた撮像装置及び光学素子の製造方法
EP3007228B1 (en) 2013-05-21 2021-03-17 Photonic Sensors & Algorithms, S.L. Monolithic integration of plenoptic lenses on photosensor substrates
JP6138018B2 (ja) 2013-10-03 2017-05-31 三菱電機株式会社 赤外線固体撮像素子
CN105934478B (zh) 2014-01-29 2020-01-14 日立化成株式会社 树脂组合物、使用了树脂组合物的半导体装置的制造方法、以及固体摄像元件
KR20160114048A (ko) 2014-01-29 2016-10-04 히타치가세이가부시끼가이샤 접착제 조성물, 접착제 조성물을 사용한 반도체 장치의 제조 방법, 및 고체 촬상 소자
JP2015167219A (ja) * 2014-02-13 2015-09-24 ソニー株式会社 撮像素子、製造装置、電子機器
US9699393B2 (en) * 2014-06-26 2017-07-04 Semiconductor Components Industries, Llc Imaging systems for infrared and visible imaging with patterned infrared cutoff filters
JPWO2016052249A1 (ja) 2014-10-03 2017-07-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子および製造方法、並びに電子機器
WO2016055909A1 (en) 2014-10-10 2016-04-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Imaging device
JP2016122732A (ja) 2014-12-25 2016-07-07 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像装置
JP6746941B2 (ja) 2016-02-19 2020-08-26 大日本印刷株式会社 撮像モジュール、撮像装置
WO2017200007A1 (ja) 2016-05-19 2017-11-23 三菱電機株式会社 固体撮像装置およびイメージセンサー
JP2018064007A (ja) 2016-10-12 2018-04-19 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像素子、および電子装置
JP2018200423A (ja) 2017-05-29 2018-12-20 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置、および電子機器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022080186A1 (ja) * 2020-10-13 2022-04-21 凸版印刷株式会社 光学構造
WO2023074136A1 (ja) * 2021-10-26 2023-05-04 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 半導体装置、機器及び半導体装置の製造方法

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